JPS5855779A - 極低放射能濃度測定用試料濃縮装置 - Google Patents
極低放射能濃度測定用試料濃縮装置Info
- Publication number
- JPS5855779A JPS5855779A JP15361781A JP15361781A JPS5855779A JP S5855779 A JPS5855779 A JP S5855779A JP 15361781 A JP15361781 A JP 15361781A JP 15361781 A JP15361781 A JP 15361781A JP S5855779 A JPS5855779 A JP S5855779A
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- JP
- Japan
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- radioactivity
- density
- concentration
- water
- sample
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
- G01T7/02—Collecting means for receiving or storing samples to be investigated and possibly directly transporting the samples to the measuring arrangement; particularly for investigating radioactive fluids
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、極低放射能濃度分析用試料濃縮装置に係シ、
特に原子力発電所に於ける純水化した処理水を分析する
のに好適な極低放射能濃度測定用試料濃縮装置に関する
。
特に原子力発電所に於ける純水化した処理水を分析する
のに好適な極低放射能濃度測定用試料濃縮装置に関する
。
原子力発電所に於いては、系外への放出放射能濃度を極
力抑える為、放射性廃液処理液をさらに処理し純水化す
ることによりプラント一般用水として再使用することを
計画している。この場合には、放射能濃度測定器検出限
界以下となる為、試料濃縮後測定することが必要である
。従来、この種の分析には、試料採取点にて採取した後
、実験室にて濃縮し、測定する方法が用いられていた。
力抑える為、放射性廃液処理液をさらに処理し純水化す
ることによりプラント一般用水として再使用することを
計画している。この場合には、放射能濃度測定器検出限
界以下となる為、試料濃縮後測定することが必要である
。従来、この種の分析には、試料採取点にて採取した後
、実験室にて濃縮し、測定する方法が用いられていた。
しかし、大量に試料採取せねばならず結果が出るまでに
多大な時間と労力がかかるという欠点があった。
多大な時間と労力がかかるという欠点があった。
本発明の目的は、上記した従来方法の問題をなくし、効
率よく、短時間で放射能濃度測定を行なう為の極低放射
能濃度分析用の試料濃縮装置及び方法を提供することに
ある。
率よく、短時間で放射能濃度測定を行なう為の極低放射
能濃度分析用の試料濃縮装置及び方法を提供することに
ある。
本発明は、試料採取後、すぐに放射能濃度を測定可能な
様に、放射性廃液処理液を純水化する為、さらに処理し
た再処理液のサンプルタンクに於いて、循環ラインから
の試料採取点よシ濃縮装置に供給後、濃縮し、検出限界
以上まで濃縮するものである。
様に、放射性廃液処理液を純水化する為、さらに処理し
た再処理液のサンプルタンクに於いて、循環ラインから
の試料採取点よシ濃縮装置に供給後、濃縮し、検出限界
以上まで濃縮するものである。
以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。
原子力発電所において発生した床ドレン等は、放射能濃
度１０−′μｃ／ｃｃｍ度まで処理され、さらに純水化
する為、ＬＯ−”μＣ／ＣＣまで再処理される。
度１０−′μｃ／ｃｃｍ度まで処理され、さらに純水化
する為、ＬＯ−”μＣ／ＣＣまで再処理される。
再処理水１は、サンプルタンク２に集められ、ポンプ３
と循環ライン４を用いて均一に攪拌される。
と循環ライン４を用いて均一に攪拌される。
均一濃度になった時点で弁５を開け、サンプリングしよ
うと思う液を濃縮タンク６に受は入れ、ポンプ７、逆浸
透膜８により循環濃縮を行なう。このとき、濃縮倍率は
逆浸透膜８の処理容量と処理時間及び濃縮タンク６内の
残留液量より算出する。
うと思う液を濃縮タンク６に受は入れ、ポンプ７、逆浸
透膜８により循環濃縮を行なう。このとき、濃縮倍率は
逆浸透膜８の処理容量と処理時間及び濃縮タンク６内の
残留液量より算出する。
再処理水１は、約１００倍濃縮を行なうと放射能濃度測
定器にて直接測定することが可能となる。
定器にて直接測定することが可能となる。
又、濃縮倍率と放射能濃度との関係は、逆浸透膜８の補
集効率（クラッド分１００チ、コバルト及びマンガン９
５％以上）と再処理水の濃縮倍率から算出する。
集効率（クラッド分１００チ、コバルト及びマンガン９
５％以上）と再処理水の濃縮倍率から算出する。
第２図は本発明の他の実施例を示すもので、第１図と異
なるのは、濃縮装置に逆浸透膜８を使用するのでなく、
蒸留器１１を使用することにある。
なるのは、濃縮装置に逆浸透膜８を使用するのでなく、
蒸留器１１を使用することにある。
又、逆浸透膜８の場合に比べ、ポンプ７、濃縮タンク６
が削除できる。この実施例では、付帯機器の低減の効果
がある。
が削除できる。この実施例では、付帯機器の低減の効果
がある。
本発明によれば、原子力発電所に於いて、放射性廃液処
理液を純水化する為、再処理した液の。
理液を純水化する為、再処理した液の。
放射能濃度測定を著しく向上させることができる。
第１図は本発明の好適な一実施例に用いられる濃縮装置
に逆浸透膜を使用した場合のフロー図、第２図は本発明
の他の実施例を示すフロー図である。 ■・・・再処理水、２・・−サンプルタンク、３・・・
ポンプ、４・・・循環ライン、５・・・弁、６・・・濃
縮タンク、７・・・ポンプ、８・・・逆浸透膜、９・・
・弁、１０・・・弁、１１＄Ｉ 目 第２ 口
に逆浸透膜を使用した場合のフロー図、第２図は本発明
の他の実施例を示すフロー図である。 ■・・・再処理水、２・・−サンプルタンク、３・・・
ポンプ、４・・・循環ライン、５・・・弁、６・・・濃
縮タンク、７・・・ポンプ、８・・・逆浸透膜、９・・
・弁、１０・・・弁、１１＄Ｉ 目 第２ 口
Claims (1)
- １、原子力発電所等に於ける放射能濃度測定器検出限界
以下の様な極低放射能濃度液を、試料採取点下流に試料
濃縮装置を設けることにより、検出限界以上まで濃縮し
た後試料採取し放射能濃度測定を行なえる様にしたこと
を特徴とする極低放射、能濃度測定用試料濃縮装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15361781A JPS5855779A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 極低放射能濃度測定用試料濃縮装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15361781A JPS5855779A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 極低放射能濃度測定用試料濃縮装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5855779A true JPS5855779A (ja) | 1983-04-02 |
Family
ID=15566400
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15361781A Pending JPS5855779A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 極低放射能濃度測定用試料濃縮装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5855779A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63100346A (ja) * | 1986-10-17 | 1988-05-02 | Nikkiso Co Ltd | 逆浸透膜法による水溶液中の微量成分の濃縮制御方法 |
| JPS63203144A (ja) * | 1987-02-17 | 1988-08-23 | ベン・アレン・ア−ノルド | 骨のミネラル測定のための量的コンピュ−タ断層写真システムのための較正ファントム |
| JP2020079713A (ja) * | 2018-11-12 | 2020-05-28 | 株式会社島津テクノリサーチ | 分析装置及び該分析装置に用いられる濃縮装置 |
-
1981
- 1981-09-30 JP JP15361781A patent/JPS5855779A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63100346A (ja) * | 1986-10-17 | 1988-05-02 | Nikkiso Co Ltd | 逆浸透膜法による水溶液中の微量成分の濃縮制御方法 |
| JPS63203144A (ja) * | 1987-02-17 | 1988-08-23 | ベン・アレン・ア−ノルド | 骨のミネラル測定のための量的コンピュ−タ断層写真システムのための較正ファントム |
| JP2020079713A (ja) * | 2018-11-12 | 2020-05-28 | 株式会社島津テクノリサーチ | 分析装置及び該分析装置に用いられる濃縮装置 |
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