JPS5853756A - 鋼管の欠陥弁別方法 - Google Patents
鋼管の欠陥弁別方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本郷明は超音波を用いた鋼管の非破壊検査に訃いて、１
対の＊ｍ子を数組準備して斜角法、菖斜＠、ａｍ波法等
の探傷モードで個別的Ｋｊｌｌ管の欠陥探傷を行ない、
これらの探傷結果の令書傷モードＫｓ？ける１対の探触
子の検出レベル差９反射パルｘ＠及び会書傷モーＶのビ
ーム路５ａｔ−総合的−に４１１斯して欠陥の弁別を行
なう！５ＫＬ、た鋼管の火ｌＩ＆介舅方法に関すｈ％の
である。
対の＊ｍ子を数組準備して斜角法、菖斜＠、ａｍ波法等
の探傷モードで個別的Ｋｊｌｌ管の欠陥探傷を行ない、
これらの探傷結果の令書傷モードＫｓ？ける１対の探触
子の検出レベル差９反射パルｘ＠及び会書傷モーＶのビ
ーム路５ａｔ−総合的−に４１１斯して欠陥の弁別を行
なう！５ＫＬ、た鋼管の火ｌＩ＆介舅方法に関すｈ％の
である。
従来の一音波を用％／％几鋼管の非破壊検査ＫＴｏって
は、鋼管の食画、食ｉＩ＆にわたりて探傷が可能τ６為
が、これもの探傷結果は単に設定レベル値と比較されて
、設定レベル値以上であれば（（ＩＧＩＩ設定レベル値
以下であれば’ｏｘ５１の判定をされるの拳である。従
って、欠陥の反射エフ−がどの−分から反射してきたも
のなのか灯不明であ？、また欠陥が溶接ワレ、フックク
ラック或％／％はへアークラック、ベネトレーＩ４Ｉの
欠陥のうちの何ルな種―の欠陥であるかの弁別も不可能
であった。
は、鋼管の食画、食ｉＩ＆にわたりて探傷が可能τ６為
が、これもの探傷結果は単に設定レベル値と比較されて
、設定レベル値以上であれば（（ＩＧＩＩ設定レベル値
以下であれば’ｏｘ５１の判定をされるの拳である。従
って、欠陥の反射エフ−がどの−分から反射してきたも
のなのか灯不明であ？、また欠陥が溶接ワレ、フックク
ラック或％／％はへアークラック、ベネトレーＩ４Ｉの
欠陥のうちの何ルな種―の欠陥であるかの弁別も不可能
であった。
１究を杏金鋼による電縫鋼管にあっては、製管−ＫＯｒ
、舅Ｏなどの酸化物によるペネトレーＩが発生すること
がある。このベネトレータの検出とその＊５ｉｉｓの欠
陥の弁別は品質管理上重畳なことであゐ、しかしながら
、ペネトレータは極めて小さな欠陥であるため、これを
検出するためＫｔｊＩｌ馳子の感度をト１ノツチが検出
できる工うな高感ｌｌ！にすゐ必要があり、 ＣＦ）Ｉ
ｆ−１ノツチ′で欠陥の探傷を行なうと無害な表面かき
疵、母材欠ｌ＆等の無視て−る１ｍ［の欠＠を含む全て
の欠陥を検出し、本質的に０不棗でないものについても
不良の多発を招来し、却って生産ラインを１＆糺させる
虞れが多分にあった。
、舅Ｏなどの酸化物によるペネトレーＩが発生すること
がある。このベネトレータの検出とその＊５ｉｉｓの欠
陥の弁別は品質管理上重畳なことであゐ、しかしながら
、ペネトレータは極めて小さな欠陥であるため、これを
検出するためＫｔｊＩｌ馳子の感度をト１ノツチが検出
できる工うな高感ｌｌ！にすゐ必要があり、 ＣＦ）Ｉ
ｆ−１ノツチ′で欠陥の探傷を行なうと無害な表面かき
疵、母材欠ｌ＆等の無視て−る１ｍ［の欠＠を含む全て
の欠陥を検出し、本質的に０不棗でないものについても
不良の多発を招来し、却って生産ラインを１＆糺させる
虞れが多分にあった。
本発明灯従来の上記欠点に鑑みてこれを改良除去したも
のであって、鋼管の管軸方向の基準となる個所を中心に
して両側に等距離宛振り分けてなる１対の探触子を数組
配置して、これらの各組の探触子の探傷モードを斜角法
、直射法１表面波法等に分けて設定し、各組ごとＫｋ％
／％で１対の探触子エリ得られる探傷結果の検出レベル
差９反射パルス数を測定し、これらの測定結果と蓋びに
ビーム路１１４１を総合的に判断して鋼重の欠陥を弁別
する方法を提供せんとするものである。
のであって、鋼管の管軸方向の基準となる個所を中心に
して両側に等距離宛振り分けてなる１対の探触子を数組
配置して、これらの各組の探触子の探傷モードを斜角法
、直射法１表面波法等に分けて設定し、各組ごとＫｋ％
／％で１対の探触子エリ得られる探傷結果の検出レベル
差９反射パルス数を測定し、これらの測定結果と蓋びに
ビーム路１１４１を総合的に判断して鋼重の欠陥を弁別
する方法を提供せんとするものである。
以下に本発明の方法を電鋳鋼管の溶接欠陥を弁別する楊
４に適用した実施例に基づいて図面を参照して説明する
と次の通りである。
４に適用した実施例に基づいて図面を参照して説明する
と次の通りである。
第１図ね本発明の方法を適用した実施ａｍ置の置に＆）
ては、鋼管展造ラインのｆｌｉ接ステージ曹ン（円２外
−のビード切ｓｒｓを含む）直後にシーム検出器ｌを配
置し、このシーム検出器１の下ＲＩＩＪＫ■音波探傷機
２を配置して、切断前の鋼管３をツイン上で連続探傷す
る！５Ｋｌ、ている。シーム検出器１ｆｌ、第２図に示
す工うに鋼管３のシーム４の位置が変化するとこれに追
従して鋼管３０屑方向［１１１１するシーム追従装置５
を備えている。
ては、鋼管展造ラインのｆｌｉ接ステージ曹ン（円２外
−のビード切ｓｒｓを含む）直後にシーム検出器ｌを配
置し、このシーム検出器１の下ＲＩＩＪＫ■音波探傷機
２を配置して、切断前の鋼管３をツイン上で連続探傷す
る！５Ｋｌ、ている。シーム検出器１ｆｌ、第２図に示
す工うに鋼管３のシーム４の位置が変化するとこれに追
従して鋼管３０屑方向［１１１１するシーム追従装置５
を備えている。
一方、超音波探傷機２ｒ！、シーム４を中心にして両側
Ｋｑｌ距離宛振り分けられた１対の探触子を数組有する
０図＠に示す実施例は、３組の探触子５ｍ。
Ｋｑｌ距離宛振り分けられた１対の探触子を数組有する
０図＠に示す実施例は、３組の探触子５ｍ。
６ｂと７ｍ、７ｂ及び８ｍ、８ｂを設けた鳩舎で、探触
子６ｍ、６ｂは例えば七の探傷モードを斜角法に設定さ
れ、探触子７ａ、７ｂ汀直射法に％探触子’ｌ１ｍ、８
１１＊表面波法に設定されている。これらの各探触子６
ａ、６ｂ乃至８ａ、ｇｂ灯、第３ｍ１ＩＫ示すようにホ
ルダー９を介して円弧状アーム１０に固定支持さｈ１円
弧状のアーム１０が上記シーム検出器１と連−する毫−
タ１１に接続されている。また上記円弧状アーム１０の
中心は、鋼管３の中心線軸で ある、従って、上＠＋＊
ａｉ子ｓ ａ ｅ ６ ｋ 乃至８ｍ、１１’ｂ６、シ
ー五極出器ｌで検出されｔ信号に基づいて時間的な這ｈ
ｔ＊慮した上で同期してシーム４の変動に追従動作する
。
子６ｍ、６ｂは例えば七の探傷モードを斜角法に設定さ
れ、探触子７ａ、７ｂ汀直射法に％探触子’ｌ１ｍ、８
１１＊表面波法に設定されている。これらの各探触子６
ａ、６ｂ乃至８ａ、ｇｂ灯、第３ｍ１ＩＫ示すようにホ
ルダー９を介して円弧状アーム１０に固定支持さｈ１円
弧状のアーム１０が上記シーム検出器１と連−する毫−
タ１１に接続されている。また上記円弧状アーム１０の
中心は、鋼管３の中心線軸で ある、従って、上＠＋＊
ａｉ子ｓ ａ ｅ ６ ｋ 乃至８ｍ、１１’ｂ６、シ
ー五極出器ｌで検出されｔ信号に基づいて時間的な這ｈ
ｔ＊慮した上で同期してシーム４の変動に追従動作する
。
ＩＺｕ超音液を伝播する媒体としての水を貯留する水槽
である。
である。
第４図は上記の如く構成された実施例装置のブロック図
である。同図に示ナエうに、本実施例装置では、先づシ
ーム検出器ｌで得られた信号ａＫ工す円弧状アーム１０
がシーム４の動きに同期して追従する。そして、探触子
ホルダー９に＠定支持され九各探触子６１Ｌ、６″ｂ乃
至８ｍ、８ｂ＊夫々の探傷モードで欠陥の探傷を行ない
、その結果コンピュータ１３に出力する。マイク −コンピュータ１３に、これ゛らの探傷結果並びに各探
傷モードのビーム路程とから、後述する要領で欠陥の弁
別を行ない、表示器１４に！！示すると共に、マーキン
グ装置１５４Ｉに出力するものである― 次に第５！！３を参照して欠陥の弁別方法を詳述すみ、
この種電縫鋼管３の有害な溶接欠陥ｌｈ同＠に示す工う
に１酸化不純物であるベネシレータ１６、ｓ＊ワレ１７
．欠陥部分が分離しているフッククラック１８．欠陥部
分が分離してないヘアークラック等がある。ベネトレー
タ１６と溶接ワレ１７は主に帯鋼の１！き合せ端間部溶
！Ｉ纏上に現われ、フックタラツク１８とへアクラック
ｌｌｆ１ＭＩＪＫｌａ−で示すメタルフロー２０に沿っ
て現われる。従って、フッククラック１８とへアークラ
ック１９の場合灯方向性を持っており、例えば第５ｅｅ
ｒ示すフッククラック１８の場合灯、斜角法によるＩＩ
ＩＩｌｌｌＩ子６ａからの探傷ではフッククラック１８
の方向と超音液の進行方向が同一であるため欠陥の反射
エコーが少なく見逃すことがあるが。
である。同図に示ナエうに、本実施例装置では、先づシ
ーム検出器ｌで得られた信号ａＫ工す円弧状アーム１０
がシーム４の動きに同期して追従する。そして、探触子
ホルダー９に＠定支持され九各探触子６１Ｌ、６″ｂ乃
至８ｍ、８ｂ＊夫々の探傷モードで欠陥の探傷を行ない
、その結果コンピュータ１３に出力する。マイク −コンピュータ１３に、これ゛らの探傷結果並びに各探
傷モードのビーム路程とから、後述する要領で欠陥の弁
別を行ない、表示器１４に！！示すると共に、マーキン
グ装置１５４Ｉに出力するものである― 次に第５！！３を参照して欠陥の弁別方法を詳述すみ、
この種電縫鋼管３の有害な溶接欠陥ｌｈ同＠に示す工う
に１酸化不純物であるベネシレータ１６、ｓ＊ワレ１７
．欠陥部分が分離しているフッククラック１８．欠陥部
分が分離してないヘアークラック等がある。ベネトレー
タ１６と溶接ワレ１７は主に帯鋼の１！き合せ端間部溶
！Ｉ纏上に現われ、フックタラツク１８とへアクラック
ｌｌｆ１ＭＩＪＫｌａ−で示すメタルフロー２０に沿っ
て現われる。従って、フッククラック１８とへアークラ
ック１９の場合灯方向性を持っており、例えば第５ｅｅ
ｒ示すフッククラック１８の場合灯、斜角法によるＩＩ
ＩＩｌｌｌＩ子６ａからの探傷ではフッククラック１８
の方向と超音液の進行方向が同一であるため欠陥の反射
エコーが少なく見逃すことがあるが。
−触子６ｂからの探傷では大きな反射エコーが得られ、
確＊＊ｖｉ＊が可能である。
確＊＊ｖｉ＊が可能である。
画して、上記各探触子６ｍ、６に乃至８ｍ、８１：Ｉで
得もねる反射エコーは！イクａプンビューメ１３にシｉ
て、次の１５に比較弁別される。尚、説明の都合上、探
触子６亀、７ａ、Ｉｌｍのある方を＋、探触子６ｂ、７
）、８ｍ）のある方を−とする。すなわち、ｉイクロコ
ンピエータ１３灯、先づ各探傷モードＫｊ？ける１対の
探触子、例えば斜角法における探触子６ａと６１１で得
られる欠陥反射エコーの検出レベル差及び正逆（＋ 、
−）レベル差ヲ観定する。欠陥が１１５図に示すような
ものであれば、その弁別は次に示す表−１の通りである
。
得もねる反射エコーは！イクａプンビューメ１３にシｉ
て、次の１５に比較弁別される。尚、説明の都合上、探
触子６亀、７ａ、Ｉｌｍのある方を＋、探触子６ｂ、７
）、８ｍ）のある方を−とする。すなわち、ｉイクロコ
ンピエータ１３灯、先づ各探傷モードＫｊ？ける１対の
探触子、例えば斜角法における探触子６ａと６１１で得
られる欠陥反射エコーの検出レベル差及び正逆（＋ 、
−）レベル差ヲ観定する。欠陥が１１５図に示すような
ものであれば、その弁別は次に示す表−１の通りである
。
表−１
Ｏ：検出レベル大
Δ：今小
Ｘ゛： ※ 極小又Ｕ無し
この表−１から明らかな工うに１同図のベネトレータ１
６の場合はベネトレーメ１６が鋼［３１１’）６表面と
内表面との中間位置に位置してｈるため。
６の場合はベネトレーメ１６が鋼［３１１’）６表面と
内表面との中間位置に位置してｈるため。
表面波法による探触子８ｍ、８ｂに反射エコーはない、
シｔ）−％、このペネトレータ１６Ｆｉ帯鋼の央き合
せ端面上（溶接線上）にあり、その大きさも極めて小さ
いので、斜角法と直射法による探触子６ａ、６ｂと７ｍ
、７ｂとに表われる反射エコーの検出レベルは小さく、
また各探傷モードにお社る１対の探触子間の正逆レベル
差（斜角法の場合ｒｒ＊触子６ａと６ｂの検出レベル差
、直射法の場合汀探触子７１と７ｂの検出レベル差）は
ない。
シｔ）−％、このペネトレータ１６Ｆｉ帯鋼の央き合
せ端面上（溶接線上）にあり、その大きさも極めて小さ
いので、斜角法と直射法による探触子６ａ、６ｂと７ｍ
、７ｂとに表われる反射エコーの検出レベルは小さく、
また各探傷モードにお社る１対の探触子間の正逆レベル
差（斜角法の場合ｒｒ＊触子６ａと６ｂの検出レベル差
、直射法の場合汀探触子７１と７ｂの検出レベル差）は
ない。
われる反射エコーの横用レベルはすべて大きく、しかも
この溶接ワレ１７はベネトレータ１６の場合と同様に溶
接線上にあるので、各探傷モードにおける１対の探触子
間の正逆レベル差はない。
この溶接ワレ１７はベネトレータ１６の場合と同様に溶
接線上にあるので、各探傷モードにおける１対の探触子
間の正逆レベル差はない。
フックタラツク１８の場合は、方向性をもっており、
ＬｔＰ％１ｌｉ１線上工りズした位置に、ｌ、るので！
ＩＩＩｌｍドにシける＋＠からの探傷では、反射エコー
の車用レベルは小さいか％若しく灯極小又は無しで、−
側からの探傷では検出レベルは大である。この工うにフ
ッククラック１８の場合は、各探傷セードの正逆におい
てレベル差がある。
ＬｔＰ％１ｌｉ１線上工りズした位置に、ｌ、るので！
ＩＩＩｌｍドにシける＋＠からの探傷では、反射エコー
の車用レベルは小さいか％若しく灯極小又は無しで、−
側からの探傷では検出レベルは大である。この工うにフ
ッククラック１８の場合は、各探傷セードの正逆におい
てレベル差がある。
ヘアクラック１９の場合は、反射エコーのｊｌｂれ方が
上記７ツクカツク１８の場合と全（逆の結果を示す、但
しヘアークラッタ１９は内表面寄りのため、表面波法で
は検出するξとがてきない。
上記７ツクカツク１８の場合と全（逆の結果を示す、但
しヘアークラッタ１９は内表面寄りのため、表面波法で
は検出するξとがてきない。
′ｔ７ｔマイクロコンピシメ１３ｔｊ、 各探ＩＩモー
Ｆの探触子にシけるビーム路＠（時間軸）を測定し、欠
陥弁別の資料の１つとしている。ベネトレーメ１６と溶
接ワレ１７の場合は、溶接線上ＫＴｏるため反射エコー
の時間的な経過ハ＋、側と一側とで同じである。しかし
ながら、第５図に示すフッタクラック１８の場合は、ｗ
！大欠陥溶接線上１り＋側にズしている几め、＋側に位
置する各探触子６１゜７＆、８＆に入る反射エコーの時
間的な応答は。
Ｆの探触子にシけるビーム路＠（時間軸）を測定し、欠
陥弁別の資料の１つとしている。ベネトレーメ１６と溶
接ワレ１７の場合は、溶接線上ＫＴｏるため反射エコー
の時間的な経過ハ＋、側と一側とで同じである。しかし
ながら、第５図に示すフッタクラック１８の場合は、ｗ
！大欠陥溶接線上１り＋側にズしている几め、＋側に位
置する各探触子６１゜７＆、８＆に入る反射エコーの時
間的な応答は。
−＠に位置する各探触子６１１，７１１．８ｔｌＫ入る
反射エコーの時間的な応答上りも短かく々る。ヘアーク
ラック１９の楊４！ｔは、溶接線上よりｍ−にある几め
、上記フッククツツク１８の場合トは食（逆の結果が得
られる。
反射エコーの時間的な応答上りも短かく々る。ヘアーク
ラック１９の楊４！ｔは、溶接線上よりｍ−にある几め
、上記フッククツツク１８の場合トは食（逆の結果が得
られる。
ＩＫマイタ四コンビエータ１３は、各探触子６１゜６１
乃至ｊｌａ、ｊｌｂで得られる欠陥反射エコーのパルス
数を一定し、これも欠陥弁別の資料の１つとしている。
乃至ｊｌａ、ｊｌｂで得られる欠陥反射エコーのパルス
数を一定し、これも欠陥弁別の資料の１つとしている。
この側室結果によれば、欠陥との関係ｔｉ概ね次のｊＩ
Ｉりである。すなわち、ペネトレー−１６は軸方向の長
さが０．５〜ｌ■程度であり、その反射エコーのパルス
カウント数灯少ない、フッタクラック１８及びヘアーク
ラック１９の場合社、軸方向の長さが数ｓｍ〜３０■の
長さＫなるので、反射エコーのパルスカウント数は多い
、′１１たＳ＊ワレ１７の場合は、軸方向の長さが短い
のてｊＥ射エコーのパルスカウント数は少ないが、上記
イネトレータ１６の場合エリ％多い。
Ｉりである。すなわち、ペネトレー−１６は軸方向の長
さが０．５〜ｌ■程度であり、その反射エコーのパルス
カウント数灯少ない、フッタクラック１８及びヘアーク
ラック１９の場合社、軸方向の長さが数ｓｍ〜３０■の
長さＫなるので、反射エコーのパルスカウント数は多い
、′１１たＳ＊ワレ１７の場合は、軸方向の長さが短い
のてｊＥ射エコーのパルスカウント数は少ないが、上記
イネトレータ１６の場合エリ％多い。
マイクＷフンビエータ１３ｆｌ、以上の１うにして一定
された欠陥反射エコーの検出レベル差及び正逆レベル差
、パルス数及びビーム路程の結果を総会的に判断し、欠
陥の弁別を行なう、このように多数の情゛報をもって欠
陥の弁別を行なうことｋより、確実な弁別が可能となり
、［Ｉ［性も高いも ゛のが得られる。
された欠陥反射エコーの検出レベル差及び正逆レベル差
、パルス数及びビーム路程の結果を総会的に判断し、欠
陥の弁別を行なう、このように多数の情゛報をもって欠
陥の弁別を行なうことｋより、確実な弁別が可能となり
、［Ｉ［性も高いも ゛のが得られる。
５ｓｔｓａマイクロフンビ具−タ１３の弁別要領を具体
的な信号ｌ＆理例に基づいて、これを系統的に表わした
ブロック図である。各超音波探触子６ｍ。
的な信号ｌ＆理例に基づいて、これを系統的に表わした
ブロック図である。各超音波探触子６ｍ。
６に７）至ｌｅｍ、８１で得られる反射エコーの検出レ
ベルのうち、先づ規準値以上（例えば菫−１）７０ｆ３
％ｆ）をレベル読取部２１で取り出し、そのパルス数を
カウンター２２でカウントする。そしてこのカウント数
と反射エコーの検出レベルとを次の判断ｆ１２８に入力
させる０判断部！３は、前述した各種欠陥とパルスカウ
ント数との傾向及びペネトレーメの１つ検出レベルの傾
向とを考慮して無害な欠陥及びペネトレーＩとそれ以外
の欠陥とに弁別する。ｃｈａ反射エコーのパルスカウン
ト数と検出レベルが所定ノツチ以上（例えば夏−５ノツ
チ以上）であるかどうかを判断する仁とによ）可能であ
る。反射エコーのパルスカウント数が少な（、）Ｉ−５
ノツチ以下であればその欠陥はベネトレータか無視でき
る程度の無害な−のである。ｔたパルスカウント数がベ
ネトレーメの場合よやも多（、シか％Ｍ−Ｓノツチ以下
であれと、連綴ワレかフッククラック若しくはヘアーク
ラックである。
ベルのうち、先づ規準値以上（例えば菫−１）７０ｆ３
％ｆ）をレベル読取部２１で取り出し、そのパルス数を
カウンター２２でカウントする。そしてこのカウント数
と反射エコーの検出レベルとを次の判断ｆ１２８に入力
させる０判断部！３は、前述した各種欠陥とパルスカウ
ント数との傾向及びペネトレーメの１つ検出レベルの傾
向とを考慮して無害な欠陥及びペネトレーＩとそれ以外
の欠陥とに弁別する。ｃｈａ反射エコーのパルスカウン
ト数と検出レベルが所定ノツチ以上（例えば夏−５ノツ
チ以上）であるかどうかを判断する仁とによ）可能であ
る。反射エコーのパルスカウント数が少な（、）Ｉ−５
ノツチ以下であればその欠陥はベネトレータか無視でき
る程度の無害な−のである。ｔたパルスカウント数がベ
ネトレーメの場合よやも多（、シか％Ｍ−Ｓノツチ以下
であれと、連綴ワレかフッククラック若しくはヘアーク
ラックである。
上記４１１断藝２３の判断が１′夏６３３であれば、居
射エコーの信号は次の無害、な欠陥とペネトレータとを
弁別するビーム路ＩＩ―断ＩＩ！４に送られる。骸’ｆ
＠＃ｆｌｌＡ２４は反射ニー−の時間的な経過が十伺と
一側の探触子に訃りで同じであるかどうかを判断ｆｈ＠
％Ｌ、ペネトレータであれば前述したところから明も
ｔＰｌにように％反射エコーの時間的１ｋｌｉ！過は＋
側と一側とで同じであり、判断ｗＡ２４の答えは糎１８
Ｊ′である。それ以外の反射エコー（（／１０３Ｉの場
合）は無視できる１１度の無害な欠陥からのものでｓｌ
す、ｃｌ＃′Ｌは合格とする。
射エコーの信号は次の無害、な欠陥とペネトレータとを
弁別するビーム路ＩＩ―断ＩＩ！４に送られる。骸’ｆ
＠＃ｆｌｌＡ２４は反射ニー−の時間的な経過が十伺と
一側の探触子に訃りで同じであるかどうかを判断ｆｈ＠
％Ｌ、ペネトレータであれば前述したところから明も
ｔＰｌにように％反射エコーの時間的１ｋｌｉ！過は＋
側と一側とで同じであり、判断ｗＡ２４の答えは糎１８
Ｊ′である。それ以外の反射エコー（（／１０３Ｉの場
合）は無視できる１１度の無害な欠陥からのものでｓｌ
す、ｃｌ＃′Ｌは合格とする。
上記ビーム路＠判断８２４でベネトレーＩと判断された
反射エコーは、ベネトレーＩ弁別Ｗ＊２５に送られる。
反射エコーは、ベネトレーＩ弁別Ｗ＊２５に送られる。
該弁別５ｚｓｔｘ反射ニブ−が各探傷毫−ドのどれによ
って探知されたか、すなわち斜角法、直射法０表面波法
のとの探触子によって探知されたｔのなのかＫよって、
鋼管３の外表面にあるベネトレーメであるか、内嵌１ｉ
ｌｉＫあるペネトレータなのか、或いは内１１画と外表
面との間の内部にあるベネトレータなのかを判断する。
って探知されたか、すなわち斜角法、直射法０表面波法
のとの探触子によって探知されたｔのなのかＫよって、
鋼管３の外表面にあるベネトレーメであるか、内嵌１ｉ
ｌｉＫあるペネトレータなのか、或いは内１１画と外表
面との間の内部にあるベネトレータなのかを判断する。
更に詳しく説明すると、斜角法ムで＠ ｗ ｏ Ｗ、＜
探知されない）。
探知されない）。
直射法ＢでＹ１Ｂ”（探知された）であれば、こ九は内
部のペネトレーメｇである。斜角法ムでＭＯ”、直射法
ＢでもＭＯ”であるか、若しくｔｊ斜角法ムで“１１げ
、表面波＠Ｃで“ＮＯ”であれば、これは鋼管３の内嵌
＠にあるペネトレータ・である。また斜角法ムとＩ！面
波法Ｃが共Ｋ“ｌｅ８”であれば、これは外表ｊｌＫあ
るベネトレータである。
部のペネトレーメｇである。斜角法ムでＭＯ”、直射法
ＢでもＭＯ”であるか、若しくｔｊ斜角法ムで“１１げ
、表面波＠Ｃで“ＮＯ”であれば、これは鋼管３の内嵌
＠にあるペネトレータ・である。また斜角法ムとＩ！面
波法Ｃが共Ｋ“ｌｅ８”であれば、これは外表ｊｌＫあ
るベネトレータである。
次に溶接ワレとフッククラック若しくＦｉへアークラッ
クの弁別要領を説明する。前述し九判断部２３で“！罵
Ｂ”と判断されたものの中ＫＦｉ、これらの全ての欠陥
が含まれているの！：、先づ溶接フレと、フッククラッ
ク若しくはヘアークラックとを弁別する。これはビーム
路＠判断部２６で、反射エコーの時間的なビーム路薯が
＋側と一側とで同じであるかどうかを判断すれば１．１
！易に可能である。すなわち、溶接ワレの欠陥は、Ｓ接
線上に楓われる欠陥であるため、上記判断部＝６の答え
は“０１１”となり、フッククラック及びヘアークラッ
クは源振線上よりズした位置に現われる欠陥であるため
、４％ｌ断部２６の答えは“１ｒである。
クの弁別要領を説明する。前述し九判断部２３で“！罵
Ｂ”と判断されたものの中ＫＦｉ、これらの全ての欠陥
が含まれているの！：、先づ溶接フレと、フッククラッ
ク若しくはヘアークラックとを弁別する。これはビーム
路＠判断部２６で、反射エコーの時間的なビーム路薯が
＋側と一側とで同じであるかどうかを判断すれば１．１
！易に可能である。すなわち、溶接ワレの欠陥は、Ｓ接
線上に楓われる欠陥であるため、上記判断部＝６の答え
は“０１１”となり、フッククラック及びヘアークラッ
クは源振線上よりズした位置に現われる欠陥であるため
、４％ｌ断部２６の答えは“１ｒである。
上記判断１１２６で“Ｙｌｇ”と判断されｔｔｆｌｌ接
ワレの反射エコーは、次に＃接ワレ弁別ｌＩ２７に送ら
れ、ここで鋼管３０内部、外表面、内ｌｌ！面のどの位
置にあるかの弁別がなされる。弁別の要領は前記ベネト
レータ弁別部２５の場合と同じであり、これＫより内部
の溶装ワレｈ、外表面のＳ＊ワレｊ、内表面の溶接ワレ
ＩＨＩＩＥ明らかＫなる。
ワレの反射エコーは、次に＃接ワレ弁別ｌＩ２７に送ら
れ、ここで鋼管３０内部、外表面、内ｌｌ！面のどの位
置にあるかの弁別がなされる。弁別の要領は前記ベネト
レータ弁別部２５の場合と同じであり、これＫより内部
の溶装ワレｈ、外表面のＳ＊ワレｊ、内表面の溶接ワレ
ＩＨＩＩＥ明らかＫなる。
一方、上記判断部２６で“ＭＯ”と判断されたフックク
ラック又はへアークラックは、その弁別部２８に送られ
、内部のもの１１外表面のもの鳳、内表面の％ ｆ）
Ｉｋの弁別がなされる。弁別の費領灯ペネトレーメ及び
＊＊ワレの場合と同じであゐのでＣξでの説明は省略す
る。
ラック又はへアークラックは、その弁別部２８に送られ
、内部のもの１１外表面のもの鳳、内表面の％ ｆ）
Ｉｋの弁別がなされる。弁別の費領灯ペネトレーメ及び
＊＊ワレの場合と同じであゐのでＣξでの説明は省略す
る。
このよう虻、この第６＠に示す信号鶏理によれば、欠勤
のＩＩＪＩＩＩ及びその位置を容ＪＫ弁別することが可
能である。
のＩＩＪＩＩＩ及びその位置を容ＪＫ弁別することが可
能である。
崗１本発明の方法は上記１１６図の信号鶏理例に限定さ
れるものでになく、適宜変更が可能である仁とは言うま
でもない。またシームレス鋼管中漕弧溶接鋼管への適用
も可能である。
れるものでになく、適宜変更が可能である仁とは言うま
でもない。またシームレス鋼管中漕弧溶接鋼管への適用
も可能である。
以上説明し７ｔ↓うに本発明は、鋼管の溶接部等の管軸
方向の基準となる個所を中心にして両＠に勢距離宛振り
分けてなる１対の探触子を数組配置し、これら各組の探
触子Ｋｔｊ斜角法、直射法１表面波法等の探傷を行なわ
せると共にそれぞれ別個の探傷モードを設定し、上記各
組ととにおいて１対の探触子より得られる探傷結果の検
出レベル差。
方向の基準となる個所を中心にして両＠に勢距離宛振り
分けてなる１対の探触子を数組配置し、これら各組の探
触子Ｋｔｊ斜角法、直射法１表面波法等の探傷を行なわ
せると共にそれぞれ別個の探傷モードを設定し、上記各
組ととにおいて１対の探触子より得られる探傷結果の検
出レベル差。
反射パルス数を側室し、これらの測定結果と上記各探傷
モードのビーム路＠等を総合的に判断して鋼管の欠陥を
弁別する！５Ｋしたから、従来なし得がかりた鋼管の溶
接部に発止する溶接ワレ、ペネトレータ、フッククラッ
ク及びヘアークラック等の欠陥の弁別とその位置を検出
することが可能である。またこの弁別のための情報量が
多（、正確な弁別が得られる。
モードのビーム路＠等を総合的に判断して鋼管の欠陥を
弁別する！５Ｋしたから、従来なし得がかりた鋼管の溶
接部に発止する溶接ワレ、ペネトレータ、フッククラッ
ク及びヘアークラック等の欠陥の弁別とその位置を検出
することが可能である。またこの弁別のための情報量が
多（、正確な弁別が得られる。
第１図は本発明の方法を適用した実施例装置の配置を示
す概略平面図、第２図は第１＠ｆ）Ｘ−Ｘ線断面図、第
３図ｔ！第１図の！−τ線断面図、第４＠轄第１図に示
す製置のシステム図、第５＠は本発明方法を説明するた
めの鋼管の溶接部附近断面図、第ａ＠は本発明方法の信
号４６１１例を示すブロック図である。 ３・・・鋼管 ４・・・シーム（溶接部）６ａ、６ｂ乃
至８ａ、８ｂ・・−探触子特許出願人 住東金属工業株
式会社 代理人弁理士内田敏廖 第１図 Ｙｒｘ □□−−−コ 第２図 第３図 第４図
す概略平面図、第２図は第１＠ｆ）Ｘ−Ｘ線断面図、第
３図ｔ！第１図の！−τ線断面図、第４＠轄第１図に示
す製置のシステム図、第５＠は本発明方法を説明するた
めの鋼管の溶接部附近断面図、第ａ＠は本発明方法の信
号４６１１例を示すブロック図である。 ３・・・鋼管 ４・・・シーム（溶接部）６ａ、６ｂ乃
至８ａ、８ｂ・・−探触子特許出願人 住東金属工業株
式会社 代理人弁理士内田敏廖 第１図 Ｙｒｘ □□−−−コ 第２図 第３図 第４図
Claims (1)
- ｌ 鋼管の溶接部等の管軸方向の基準となる個所を中心
にして両側に４１距離宛振り分けて＊Ｊｚｌ対のＩＩＩ
ＮＩＩ子を数組配置し、これらの各組の探触子には斜角
法、直射法９表面波法等の探傷を行なわせると共にそれ
ぞｈ別個の探傷毫−ドを設定し、上記各組ととにおいて
１対の探触子より得られる探傷結果の検出レベル差９反
射パルス数を測定し、これらの測定結果と上記各探傷毫
−ドのビーム路＠吟を総合的に判断して鋼管の欠陥を弁
別するようＫした鋼管の欠陥弁別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56152472A JPS5853756A (ja) | 1981-09-25 | 1981-09-25 | 鋼管の欠陥弁別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56152472A JPS5853756A (ja) | 1981-09-25 | 1981-09-25 | 鋼管の欠陥弁別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5853756A true JPS5853756A (ja) | 1983-03-30 |
| JPS6410777B2 JPS6410777B2 (ja) | 1989-02-22 |
Family
ID=15541258
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56152472A Granted JPS5853756A (ja) | 1981-09-25 | 1981-09-25 | 鋼管の欠陥弁別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5853756A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0236349A (ja) * | 1988-07-26 | 1990-02-06 | Kawasaki Steel Corp | 電縫鋼管の継目溶接部の超音波探傷における欠陥判定方法 |
| JPH03160362A (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-10 | Jgc Corp | 超音波探傷法 |
| WO2011021564A1 (ja) * | 2009-08-21 | 2011-02-24 | 三菱重工業株式会社 | 超音波検査用探触子および超音波検査装置 |
-
1981
- 1981-09-25 JP JP56152472A patent/JPS5853756A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0236349A (ja) * | 1988-07-26 | 1990-02-06 | Kawasaki Steel Corp | 電縫鋼管の継目溶接部の超音波探傷における欠陥判定方法 |
| JPH03160362A (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-10 | Jgc Corp | 超音波探傷法 |
| WO2011021564A1 (ja) * | 2009-08-21 | 2011-02-24 | 三菱重工業株式会社 | 超音波検査用探触子および超音波検査装置 |
| JP2011043407A (ja) * | 2009-08-21 | 2011-03-03 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 超音波検査用探触子および超音波検査装置 |
| US8783111B2 (en) | 2009-08-21 | 2014-07-22 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Ultrasonic testing probe and ultrasonic testing apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6410777B2 (ja) | 1989-02-22 |
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