JPS5852513Y2 - ガス濃度計 - Google Patents

ガス濃度計

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JPS5852513Y2
JPS5852513Y2 JP1977179018U JP17901877U JPS5852513Y2 JP S5852513 Y2 JPS5852513 Y2 JP S5852513Y2 JP 1977179018 U JP1977179018 U JP 1977179018U JP 17901877 U JP17901877 U JP 17901877U JP S5852513 Y2 JPS5852513 Y2 JP S5852513Y2
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JP
Japan
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cell
gas
sulfuric acid
concentration meter
gas concentration
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Expired
Application number
JP1977179018U
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JPS54103277U (ja
Inventor
譲 宇野沢
孝 小堺
明義 森
泰而 中村
Original Assignee
三菱電機株式会社
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、被測定ガス中に含1れるガス成分の濃度を
測定するガス濃度計の改良に関するものである。
従来、被測定ガス中のガス成分の濃度を測定する計測器
として、紫外線吸収方式、赤外線吸収方式、°化学発光
方式などが知られている。
−伊すとして、紫外線吸収方式の動作原理の概要につい
て説明する。
今、長さlの吸収セルに濃度がNの被測定ガスを導入し
、波長λで強度I。
の紫外線を照射すると、吸収セルを通過した透過光の強
度■は良く知られたランベルト・ベール(Lwrber
t−Beer )の法則から次のように表わされる。
I(λ)−IO(λ)exp(−Ncr(λ)/ )
−・−・(1)ここで、σ(λ)は波長λにお
ける被測定ガスの吸収断面続であらかじめ知ることがで
きる定数である。
上記第(1)式を変形して次に示す第(2)式を得るこ
とができる。
従って、第(2)式中のσ(λ)およびlが既知の定数
であるので、透過率T(λ)を測定することにより試料
ガスの濃度が求められる。
第1図は、従来の紫外線吸収方式の概略構成図であり、
以下、第1図について説明をする。
紫外線域に連続発光スペクトルをもつ光源1からの光は
、半透鏡等で測定セル2を通過する試料光3と、測定セ
ル2を通過しない参照光4とに分割されてから波長選択
フィルターあるいは回折格子等の分光装置5に入射する
測定セル2の光が照射する面はセル窓6で、紫外線透過
率の良い石英ガラス板などを使用する。
分光装置5へはチョッパー7で試料光3と参照光4が一
定間隔で交互に入射するようになっている。
分光装置5では導かれた光を最適な波長に選択あるいは
分光し、それぞれの光は、光電子増倍管などの光検出器
8に入射し電気信号に変換される。
次に、同期検波器9にてチョッパー7からの同期信号を
受け、すでに電気信号に変換された試料光と参照光とを
分離し検出する。
さらに、対数演算回路10は、電気信号に変換されたそ
れぞれの試斜光と参照光の比、っ捷り透過率Tとその対
数計算を行なう。
このようにして求められた試料ガスの成分濃度は、最終
的に指示計11に表示される。
しかし、試料ガス中の水分や硫酸□スト等の除去が不十
分な場合、上記物質が測定セル中に導入され、セル窓に
付着することがある。
上記物質がセル窓に付着すると、光の透過がさまたげら
れ、(1) ? (2)式にふ−ける試料光の強度1が
小さくなり、試料ガス中の成分の濃度Nが見掛上太きく
なったと等価な指示をすることがある。
このような現象をドリフトと呼んでいる。
上記物質のうち、特に硫酸ミストは、非常に小さな微粒
子であり、0.2μ程度のフィルタでは阻止することが
不可能である。
ミストとの接触頻度を増すため、多孔質物質を充てんし
た層の中を通すことによりミストを吸着させる方法があ
るが、完全にミストを阻止し得ない欠点がある。
この考案は、このような点に鑑みてなされたもので、水
分や硫酸□ストの付着を低減し、ドリフトの少ない安定
した測定ができるガス濃度計を提供するものである。
以下第2図にこの考案の概略構成図を示し、この考案の
一実施例について説明する。
試料ガスを測定セル2に導入するが、測定セル2のセル
窓6には、直接加熱装置12を付加し、セル窓6の表面
温度を高温にしている。
分光装置5、対数演算回路10等、他の測定系、釦よび
原理については従来の方法と全く変りないので省略する
ここで、上記加熱装置12は、セル窓6を50℃以上に
加温できる加熱器であり、上記装置の付加により、セル
窓6に付着する水分や硫酸□ストの付着が低減でき、ド
リフトする量も低減される。
一例として、セル窓6を150℃以上にすると、試料ガ
ス中に含1れる硫酸ミストの酸露点以上になり、セル窓
6に付着する硫酸ミストの量はかなり低減できる。
なお上記硫酸□ストの酸露点ハ硫酸□ストの量により異
なり、硫酸□ストの量が多い場合には酸露点は高く、硫
酸ミストの量が少ない場合には酸露点は低くなる。
従って、加熱装置による加熱の温度は酸露点になるよう
に設定される。
また実施例では、紫外線吸収方式の濃度計について説明
したが、他の方式、例えば、赤外線吸収方式、化学発光
方式の濃度計についても、測定セルに加熱装置を設ける
ことができ、同様の効果をあげることができる。
以上のようにこの考案によれば、水分や硫酸ミストの付
着を低減し、ドリフトの少ない安定した測定をすること
が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の紫外線吸収方式を用いたガス濃度計の概
略構成図、第2図はこの考案によるガス濃度計の一実施
例を示す概略構成図であり、1・・・・・・光源、2・
・・・・・測定セル、3・・・・・・試料光、4・・・
・・・参照光、5・・・・・・分光装置、6・・・・・
・セル窓、7・・・・・・チョッパー、8・・・・・・
光検出器、9・・・・・・同期検波器、10・・・・・
・対数演算回路、11・・・・・・指示計、12・・・
・・・加熱装置である。 なお図中同一あるいは相当部分には同一符号を付して示
しである。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 測定セルと、この測定セルに設けられた光を透過するセ
    ル窓とを有するガス濃度計において、被測定ガス中に含
    1れる硫酸ミストの酸露点になるような温度で上記セル
    窓を加熱する加熱装置を上記セル窓に設け、上記セル窓
    への硫酸ミストの付着を低減するようにしたことを特徴
    とするガス濃度計。
JP1977179018U 1977-12-28 1977-12-28 ガス濃度計 Expired JPS5852513Y2 (ja)

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JP1977179018U JPS5852513Y2 (ja) 1977-12-28 1977-12-28 ガス濃度計

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Publication Number Publication Date
JPS54103277U JPS54103277U (ja) 1979-07-20
JPS5852513Y2 true JPS5852513Y2 (ja) 1983-11-30

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ID=29190036

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7586580B2 (en) 2005-12-21 2009-09-08 Infovision Optoelectronics Holdings Limited Liquid crystal display device and method for manufacturing liquid crystal device
US7609355B2 (en) 2005-12-22 2009-10-27 Infovision Optoelectronics Holdings Limited Curved liquid-crystal display device, and method for the forming and installation of reflective plate/sheet for curved liquid-crystal display device

Citations (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3067327A (en) * 1957-06-21 1962-12-04 Engelhard Hanovia Inc Measuring device

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JPS54103277U (ja) 1979-07-20

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