JPS5851621B2 - mass spectrometer - Google Patents

mass spectrometer

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JPS5851621B2
JPS5851621B2 JP52131340A JP13134077A JPS5851621B2 JP S5851621 B2 JPS5851621 B2 JP S5851621B2 JP 52131340 A JP52131340 A JP 52131340A JP 13134077 A JP13134077 A JP 13134077A JP S5851621 B2 JPS5851621 B2 JP S5851621B2
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JP
Japan
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mass
converter
signal
ion intensity
intensity signal
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JP52131340A
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Japanese (ja)
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JPS5463890A (en
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俊也 窪寺
治二 清水
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Shimadzu Seisakusho Ltd
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Shimadzu Seisakusho Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は質量分析計に関し、特に直交磁場単集束型質
量分析計を用いてそのイオン強度信号をA−D変換後デ
ータ処理装置で演算処理して、質量スペクトル等をうる
装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a mass spectrometer, and in particular, uses an orthogonal magnetic field single focusing mass spectrometer to perform arithmetic processing on the ion intensity signal in a data processing device after A-D conversion to obtain a mass spectrum, etc. This relates to a water-cooling device.

質量分析計のイオン強度信号をA−D変換後データ処理
装置で演算処理しようとする場合、低質量域ではイオン
強度信号がシャープな立上りを示すので質量スペクトル
としてのピーク(以下ピークと記す)の検出は容易であ
るが、高質量域ではブロードな信号となるためにピーク
の立上りを見つけるのが困難となり、ピーク検出がむつ
かしく、この不都合を解消することが要請されている。
When trying to process the ion intensity signal from a mass spectrometer using a data processing device after A-D conversion, the ion intensity signal shows a sharp rise in the low mass region, so the peak as a mass spectrum (hereinafter referred to as peak) is Detection is easy, but in a high mass range, the signal is broad, making it difficult to detect the rise of the peak, making peak detection difficult, and there is a need to eliminate this inconvenience.

従来はイオン強度信号を質量軸の走査に合せておこなう
A−D変換器のサンプリング周期は低質量域から高質量
域まで画一的におこなっていたが、この発明のものは上
記の不都合を解消するために質量軸信号、換言すれば質
量数に応じてA−D変換器のサンプリング周期を変化さ
せ、高質量域1こおいてもピークの立上りを充分に検出
できるようにしたものである。
Conventionally, the sampling period of the A-D converter, which synchronizes the ion intensity signal with the scanning of the mass axis, was uniform from the low mass region to the high mass region, but this invention eliminates the above-mentioned disadvantages. In order to do this, the sampling period of the A-D converter is changed in accordance with the mass axis signal, in other words, the mass number, so that the rise of the peak can be sufficiently detected even in the high mass region 1.

以下図についてこの発明の1実施例を説明する。An embodiment of the invention will be described below with reference to the figures.

第1図はこの発明の1実施例の質量分析計のブロック図
で、直交磁場を発生する電磁石1に設けられたホール素
子2の検出信号は増幅器3を介して、質量軸信号4とし
てA−D変換器5に加えられ、A−D変換後、質量数(
マスナンバー)としてデータ処理装置14の入力となり
演算される。
FIG. 1 is a block diagram of a mass spectrometer according to an embodiment of the present invention, in which a detection signal from a Hall element 2 provided in an electromagnet 1 that generates an orthogonal magnetic field is transmitted as a mass axis signal 4 through an amplifier 3 to A- It is added to the D converter 5, and after A-D conversion, the mass number (
It is input to the data processing device 14 as a mass number) and is calculated.

第2図はホール素子2の出力電圧(磁場の強さ・縦軸)
と質量数(横軸)との関係を示した信号特性図表である
Figure 2 shows the output voltage of Hall element 2 (strength of magnetic field, vertical axis)
It is a signal characteristic chart showing the relationship between and mass number (horizontal axis).

他方分析管6の検出器1の出力信号は増幅器8を介し、
イオン強度信号9として前記のA−D変換器5に加えら
れ、A−D変換後データ処理装置の入力となる。
On the other hand, the output signal of the detector 1 of the analysis tube 6 is passed through the amplifier 8,
The signal is added as an ion intensity signal 9 to the A/D converter 5, and becomes an input to the data processing device after the A/D conversion.

第3図は直交磁場が変化された際のイオン強度信号(縦
軸)と質量数(横軸)との関係を示す特性図表(質量ス
ペクトル)である。
FIG. 3 is a characteristic chart (mass spectrum) showing the relationship between the ion intensity signal (vertical axis) and mass number (horizontal axis) when the orthogonal magnetic field is changed.

この第3図において、Aは低質量域での例えば矢印で示
すイオン強度信号の拡大図でシャープな波形であり、B
は同じく高質量域でのイオン強度信号の拡大図でブロー
ドな波形である。
In this Figure 3, A is an enlarged view of the ion intensity signal in the low mass region, indicated by the arrow, and has a sharp waveform, and B
is also an enlarged view of the ion intensity signal in the high mass region and has a broad waveform.

この場合、同一のサンプリング周期でA−D変換器5を
動作させると、低質量域のピークの立上りの部分でのイ
オン強度信号dh1と、その次にサンプリングしたイオ
ン強度信号dh2との差d1は充分検出できるが、高質
量域のピークの立上り部分でのイオン強度信号dh3と
その次にサンプリングしたイオン強度信号dh4との差
d2は検出には不充分である。
In this case, when the A-D converter 5 is operated at the same sampling period, the difference d1 between the ion intensity signal dh1 at the rising edge of the peak in the low mass region and the next sampled ion intensity signal dh2 is Although sufficient detection is possible, the difference d2 between the ion intensity signal dh3 at the rising edge of the peak in the high mass region and the next sampled ion intensity signal dh4 is insufficient for detection.

この発明では、この質量軸信号4をレベル弁別回路10
に入ると、レベル弁別回路10は、第4図の弁別回路特
性図表のように、あらかじめ設定された数点の電圧値に
達するとマーカー信号11をA−C変換制御部12に送
る。
In this invention, this mass axis signal 4 is converted into a level discrimination circuit 10.
When the level discriminator circuit 10 reaches several preset voltage values as shown in the discriminator circuit characteristic chart of FIG.

A−D変換制御部12はマーカー信号11により(質量
数が増加するに従い)サンプリング周期を段階的に下げ
て(サンプリング周期が長くなる方向)、A−D変換器
5をA−Dスタート信号13により始動してサンプリン
グをおこない第3図Bにおけるピークの立上りのdh3
とdh4との差d2を大きくして検出を容易にする。
The A-D conversion control unit 12 lowers the sampling period step by step (in the direction of increasing the sampling period) using the marker signal 11 (as the mass number increases), and controls the A-D converter 5 using the A-D start signal 13. dh3 of the rising edge of the peak in Figure 3B.
The difference d2 between and dh4 is increased to facilitate detection.

なお第1図において14はデータ処理装置、15は制御
信号、16はA−D変換器5のデジタル出力値で質量ス
ペクトルのプリントアウト等の処理をおこなうものであ
り、図の実施例はクロマトグラフ質量分析計を例示した
もので17は分析管6のイオン源、18はセパレータ、
19は試料分取用ガスクロマトグラフ、20は試料であ
る。
In FIG. 1, 14 is a data processing device, 15 is a control signal, and 16 is a digital output value of the A-D converter 5, which performs processing such as printing out a mass spectrum. This is an example of a mass spectrometer, where 17 is an ion source of the analysis tube 6, 18 is a separator,
19 is a gas chromatograph for sample collection, and 20 is a sample.

上記の実施例においてはレベル弁別器10によってA−
D変換制御部を制御したが、データ処理装置14からの
制御信号15によってA−Dスタート信号13のインタ
ーバルを変化させても実施例と同様の効果をうろことが
できる。
In the above embodiment, the level discriminator 10
Although the D conversion control section is controlled, the same effect as in the embodiment can be obtained even if the interval of the A-D start signal 13 is changed by the control signal 15 from the data processing device 14.

この発明の効果は、上述のように直交磁場の変化あるい
はイオン強度の変化に対応してA−D変換器のサンプリ
ング周期を調整し、高質量域ででも秀れたピーク検出能
力を備えた質量分析計を実現しうるものである。
The effect of this invention is that the sampling period of the A-D converter can be adjusted in response to changes in the orthogonal magnetic field or ion intensity, as described above, and the mass It is possible to realize an analyzer.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は発明の一実施例の質量分析計のブロック図、第
2図はホール素子の出力電圧と質量数との特性図表、第
3図はイオン強度信号と質量数との特性図表、第4図は
弁別回路の特性図表である。 1・・・・・・電磁石、2・・・・・・ホール素子、4
・・・・・・質量軸信号、5・・・・・・A−D変換器
、6・・・・・・分析管、7・・・・・・検出器、9・
・・・・・イオン強度信号、10・・・・・・レベル弁
別回路、11・・・・・・マーカー信号、12・・・・
・・A−D変換制御部、13・・・・・・A−Dスター
ト信号、14・・・・・・データ処理装置。
Fig. 1 is a block diagram of a mass spectrometer according to an embodiment of the invention, Fig. 2 is a characteristic chart of the output voltage of the Hall element and mass number, and Fig. 3 is a characteristic chart of ion intensity signal and mass number. Figure 4 is a characteristic chart of the discrimination circuit. 1...Electromagnet, 2...Hall element, 4
... Mass axis signal, 5 ... A-D converter, 6 ... Analysis tube, 7 ... Detector, 9.
... Ion intensity signal, 10 ... Level discrimination circuit, 11 ... Marker signal, 12 ...
...A-D conversion control unit, 13...A-D start signal, 14...data processing device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 試料をイオン化して、磁気的に走査しながら質量数
に対応したイオン強度信号を検出するものにおいて、イ
オン強度信号をディジタル信号に変換するA−D変換器
と、この変換器出力を演算処理するデータ処理装置と、
磁気的走査にともなう質量軸信号により上記A−D変換
器を動作させる周期を制御する手段とを備えるとともに
質量数の増加と共に上記A−D変換器を動作させる周期
を長くし、立上りのブロードな高質量域のピークの検出
を容易lこしたことを特徴とする質量分析計。
1 In a device that ionizes a sample and detects an ion intensity signal corresponding to the mass number while magnetically scanning the sample, an A-D converter that converts the ion intensity signal into a digital signal and arithmetic processing of the output of this converter are used. a data processing device that
and a means for controlling the period of operation of the A-D converter by a mass axis signal accompanying magnetic scanning, and the period of operation of the A-D converter is lengthened as the mass number increases, and the period of operation of the A-D converter is lengthened to prevent a broad rise. A mass spectrometer characterized by easy detection of peaks in a high mass range.
JP52131340A 1977-10-31 1977-10-31 mass spectrometer Expired JPS5851621B2 (en)

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JPS5463890A JPS5463890A (en) 1979-05-23
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