JPS58501443A - Inverted microscope with transmitted and/or epi-illumination - Google Patents

Inverted microscope with transmitted and/or epi-illumination

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JPS58501443A
JPS58501443A JP50263282A JP50263282A JPS58501443A JP S58501443 A JPS58501443 A JP S58501443A JP 50263282 A JP50263282 A JP 50263282A JP 50263282 A JP50263282 A JP 50263282A JP S58501443 A JPS58501443 A JP S58501443A
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JP
Japan
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inverted microscope
microscope
arm
illumination
reflector
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Pending
Application number
JP50263282A
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Japanese (ja)
Inventor
ラインハイマー・ギユンター
ガウル・ノルベルト
Original Assignee
エルンスト ライツ ヴエツラ− ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング
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Publication date
Application filed by エルンスト ライツ ヴエツラ− ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング filed Critical エルンスト ライツ ヴエツラ− ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング
Publication of JPS58501443A publication Critical patent/JPS58501443A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。 (57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 透過照明および/または落射照明式倒立顕微鏡本発明は透過、照明、落射照明又 は透過および落射照明の組み合わせを行うことができる倒立顕微鏡に関する。[Detailed description of the invention] The present invention relates to an inverted microscope with transmitted illumination and/or epi-illumination. relates to an inverted microscope capable of performing a combination of transmitted and epi-illumination.

ルシャテリエ(Le Chatelier)の構成による顕微鏡、いわゆる「逆 転」又は「倒立」顕微鏡はすでに公知のものである。即ちライン社の印刷物、[ ウムゲケールテスアウフリヒト ミクロスコップ ライノ エピフェルト(Um gekehrtes Auflicht−Mikroskop LEITZ E PllRT)j (目録番号111.520.036b、 1978年6月)の 中に、落射照明で検鏡するための倒立顕微鏡が記載され図示されており、この顕 微鏡の本体は、上面に取付けられた対物レンズレボルバ−を有する台足、該台足 に垂直に組立てられ、上下に調節可能な載物テーブルが付設されている担持台、 該担持台に取付けられた双眼プリズム容器並びに台足の正面に取付は可能なラン プハウスから成シ立っている。Microscope based on Le Chatelier's configuration, the so-called "inverse" "Inverted" or "inverted" microscopes are already known. That is, Rhine's printed matter, [ Um Gekertes Aufricht Mikloskop Rhino Epifelt (Um gekehrtes Aufricht-Mikroskop LEITZ E PllRT)j (Inventory number 111.520.036b, June 1978) Inside, an inverted microscope for examining the microscope with epi-illumination is described and illustrated. The main body of the microscope consists of a pedestal having an objective lens revolver attached to the top surface, and the pedestal. a carrying platform assembled vertically to the top and equipped with a vertically adjustable loading table; A binocular prism container is attached to the support base, and a lamp can be attached to the front of the base. It is made up of a house.

西ドイツ国実用新案第7628471号明細書によってもすでに倒立的構成の光 学顕微鏡が公知になっており、該顕微鏡は[U]字形の本体から成り立ち、その 際[U]字形の一力の脚部には双眼プリズム容器が取付けられ、該容器の取付面 は載物テーブルの高さと同じ高さに設けられており、そしてrUJ字形の別の脚 部には上下に位置調節可能な透過照明装置が傾倒可能な如く取付けられている。West German Utility Model No. 7628471 has already introduced a light with an inverted structure. A scientific microscope has become known, which consists of a [U]-shaped body; A binocular prism container is attached to the single leg of the [U] shape, and the mounting surface of the container is is provided at the same height as the loading table, and another rUJ-shaped leg A transmissive illumination device whose position can be adjusted vertically is attached to the section so as to be tiltable.

対物レンズレボルバ−が1−Uj字形の脚の間に位置しそして位置固定して保持 されている載物テーブルに対して変位可能な位置に置かれている。The objective lens revolver is located between the 1-Uj-shaped legs and held in a fixed position. It is placed in a position that allows it to be displaced relative to the loading table.

更にツアイス(イエナ)社の印刷物「テラパル(置AVAL)j(IV 114 −48A 29/166/69 9830) により透過照明倒立顕y1鏡が公 知におってお9、該顕@鏡のrL1字形の本体は、−力の側に取付けられた対物 レンズレボルバ−と別の側に取付けられた垂直の担持台を有する台足から成り立 ち、その際担持台の上面には双眼プリズム容器と照明装置の保持装置が取付けら れている。載物テーブルは上下に調節可能な如く担持台に配置されている。In addition, Zeiss (Jena)'s printed matter ``Terapal (AVAL) j (IV 114) -48A 29/166/69 9830), the transmitted illumination inverted microscope y1 mirror was made public. As we know, the rL1-shaped body of the microscope is an objective mounted on the force side. Consists of a pedestal with a lens revolver and a vertical carrier mounted on the other side At this time, the holding device for the binocular prism container and illumination device is attached to the top surface of the carrier. It is. The loading table is arranged on a carrier so that it can be adjusted up and down.

またライヘルド社の印刷物「ビオフェル) (BIOVERT)J(23,11 1,BIOVERT K I−II D 4/71)Kヨリ透過照明倒立顕微鏡 が公知になっており、該顕微鏡は台足板に固定された小型で直方体状の本体、か ら成り立ち、該本体の閉鎖された上面には写真−双眼接眼筒が配置されており、 この接眼筒の取付面は載物テーブルの面とほぼ同じ高さにある。In addition, Reiheld's printed matter ``BIOVERT'' J (23, 11 1, BIOVERT K I-II D 4/71) K-yori transmitted illumination inverted microscope has become publicly known, and the microscope consists of a small rectangular parallelepiped body fixed to a base plate, a photographic binocular eyepiece tube is disposed on the closed top surface of the main body; The mounting surface of this eyepiece tube is approximately at the same height as the surface of the object table.

最後にオリンパス社の印刷物[オリンパス インバーテツド ティシュ カルチ ャー ミクロスコープIMT(OLYMPUS Inverted Ti5su e Cu1ture Microscope IMT)J (M35E−676 B)によれば、桐成上の原理的概念がすでに前記した如き公知のw4倣鏡の形式 に大体において合致する装置が公知になっている。Finally, Olympus's printed matter [Olympus Inverted Tissue Culture] Microscope IMT (OLYMPUS Inverted Ti5su eCu1ture Microscope IMT)J (M35E-676 According to B), the fundamental concept of Kirinari is the form of the well-known W4 imitation mirror as already mentioned above. Devices are known which largely correspond to the above.

これらの公知の倒立顕微鏡は次に挙げる欠点全組み合わせて又は個々に所有して いる。These known inverted microscopes possess all of the following drawbacks in combination or individually: There is.

(1)観察者は作業位置において、検鏡中のプレパラート又は対象物の平面を展 望することが公知の構成原理による装置の幾何学的配置により、例えば(al  双眼プリズム容器(オリンパス、ライン)の配置によジ、 b)双眼プリズム容器に設けられている写真撮影付属装置(ライヘルド)の配置 により、或いはC)担持台に組付けられる透過照明装置の保持装置(ツアイスー イエナ)の配置によp1或いはdi ffl持台それ自体(ライン、ツアイスー イエナ)の配置により拒まれ又は少くとも困難になっている。(1) In the working position, the observer should unfold the plane of the specimen or object being examined using a microscope. Due to the desired geometry of the device according to known construction principles, for example (al Depending on the placement of the binocular prism container (Olympus, Line), b) Arrangement of the photographic auxiliary device (Reicheld) installed in the binocular prism container or C) the holding device of the transmitted illumination device assembled to the carrier depending on the arrangement of the p1 or diffl stand itself (line, Jena) is rejected or at least made difficult by the arrangement of

(2)検鏡している対象物を観察者側の方向から直接操作し又は対象物に処置を 加える可能性が存在していない。(2) Directly manipulate the object being examined from the observer's side or perform treatment on the object. There is no possibility to add.

(3)差込むことにより又は傾倒することで照明することが可能な透過照明装置 又は付着して取付けることが可能な落射照明装置は、それらが観察者および/ま たは検鏡する対象物に比較的近く配置された位置に存在しており、そのことは特 に日常作業的な長時間の検鏡作業全困難にしそして更に、特殊な生物学的プレパ ラート(培養等)に、熱の発生により、望ましくない影響を与える可能性があり 、或いはま友上記照明装置は、観察者の力に向っている装置全体の足部に側力か ら差込まれており、そのことは観察者の人間工学的に正しい自由な検鏡位置、特 に連続作業の検鏡位置を著しく制限し且つ対象物に処置を加えそして対象物を操 作するのを妨害し或いは通寓の顕微鏡操作機能を日常作業的に実施するのを妨害 する。(3) Transmissive illumination device that can illuminate by inserting or tilting Epi-illumination devices that can be attached or attached to the or located relatively close to the object to be examined; This makes daily microscopic work difficult and requires specialized biological preparations. (cultures, etc.) due to the generation of heat. , or the illumination device described above has a side force on the foot of the entire device that is directed toward the observer's force. This allows the observer a free and ergonomically correct speculum position, The position of the speculum in continuous operation is significantly restricted and the object cannot be treated or manipulated. or interfere with the routine operation of the microscope. do.

本発明の目的は、万能的に使用可能でありそして新しい種類の装置概念に基づい て透過照明又は落射照明又は透過および落射照明の組み合わせを行うことができ る倒立顕微鏡金nlJ成することであり、該顕微鏡は検鏡位置にある観察者に、 対象物を妨げられることなく直接減望(Blick)すること全可能ならしめ並 びに対象物を観察者側から妨げられずに直接操作し又は対象物に直接処置を加え ることを可能ならしめるものである。The object of the invention is to be universally usable and based on a new kind of device concept. Transmitted or epi-illumination or a combination of transmitted and epi-illumination can be performed using The objective is to construct an inverted microscope, which allows the observer in the speculum position to It is possible to Blick the object directly without being hindered. and the object can be directly manipulated or treated directly from the observer's side without obstruction. It is something that makes it possible.

上記の目的は、特許請求の範囲第1又は2項の上部概念に記載された種類の、透 過照明、落射照明及びその組み合わせを行うことができる倒立顕微鏡において次 の様にして達成される。即ち、担持台は台足と張出した台腕と共に「C」字形の 顕微鏡本体を形成すること、この顕微鏡本体の自由に開放された部分は観察者に 向けられていることおよびコンデンサー又は対物レンズ韮ひに対象物によす足め られる顕微鏡の光軸は、双眼プリズム容器を載せて取付ける面の中心を貫通する ことにより達成されるか、又は担持台は台足と張出した台腕と一緒に「C」字形 の顕微鏡本体を形成し、この顕微鏡本体の自由に開放された部分は観察者に向け られ、台腕の張出しは大体において台足の張出しに等しく、双成フリスム容器ノ 取付面は側面取付面として形成されそして観察者の力を向いている台腕の正面に 設けられ、台腕を通過する結像光線束が該取付面の中心を貫通することにエリ達 成される。The above object is achieved by a transparent material of the kind stated in the preamble of claim 1 or 2. In an inverted microscope that can perform over-illumination, epi-illumination, and a combination thereof, the following This is achieved in the following way. In other words, the carrier is shaped like a "C" with its legs and protruding arms. Forming a microscope body, the freely open part of this microscope body is open to the observer. Make sure that the condenser or objective lens is aimed at the object. The optical axis of the microscope to be mounted passes through the center of the surface on which the binocular prism container is mounted. This can be achieved by, or the carrier is shaped like a “C” with the platform feet and overhanging platform arms. The freely open part of this microscope body faces the observer. The overhang of the base arm is approximately equal to the overhang of the base foot, and the overhang of the base arm is approximately equal to the overhang of the base foot. The mounting surface is formed as a side mounting surface and is located in front of the platform arm facing the observer's force. The imaging light beam passing through the stand arm passes through the center of the mounting surface. will be accomplished.

特許請求の範囲第3項の上部概念に記載した種類の落射照明式倒立顕微鏡では上 記の目的は次の様にして達成される。即ち担持台は台足と張出した台腕と一緒に 「C」字形の顕微鏡本体を形成し、この顕微鏡本体の自由に開放された部分は観 察者に向けられ、台腕の張出しは台足の張出しよりも少なく、双眼プリズム容器 の取付面は側面取付面として形成されそして観察者の力を向いている台腕の正面 に設けられ、斯くして対物レンズ並びに対象物により定められる顕微鏡の光軸は 双眼プリズム容器の中心を貫通することにより達成される。本発明の上記とは別 の形成は特許請求の範囲第4乃至30項に記載されている。In an epi-illuminated inverted microscope of the type described in the upper concept of claim 3, The stated purpose is achieved as follows. In other words, the support stand is made up of the stand legs and the overhanging stand arms. It forms a “C” shaped microscope body, and the freely open part of this microscope body is The binocular prism container is directed toward the viewer, and the overhang of the base arm is less than the overhang of the base foot. The mounting surface is formed as a side mounting surface and faces the front of the platform arm towards the observer's force. The optical axis of the microscope, defined by the objective lens and the object, is This is accomplished by penetrating the center of the binocular prism container. Apart from the above of the present invention The formation of is described in claims 4 to 30.

添附図には本発明の若干の実施例が略図により示されている。即ち 第1a図二垂庫な光軸内に位置する双眼プリズム容器を載せて取付けた透過照明 又は落射照明およびその組み合わせを行うことができる倒立顕微鏡の「C」字形 の本体の側面概略図、 第11)図:垂直な光軸外に位置する双眼プリズム容器を側面取付面で取付けた 透過照明又は落射照明およびその組合わせを行うことができる倒立顕微鏡の「C 」字形の本体の側面概略図、第1c図:垂直な光軸内に位置する。双眼プリズム 容器を側面取付面で取付けた落射照明倒立顕微鏡の「C」字形本体の側面概略図 、 第 2 図二本発明により、透過照明又は落射照明およびその組合わせを行うこ とができる倒立顕微鏡の構成原理と光学的構成を示し、 第 3 図:%殊なコンデンサーと第一の取付は構成部材とを有する透過照明の 変形、 第4 図:第二の取付は構成部材を有する透過照明の別の変形、 第5a図、第5b図:旋回可能な上方部分を有する透過照明又は落射照明および その組合わせを行うことができる倒立顕微鏡をそ几の2つの作業位置で示し、 第6a図:台足内部に配置さ几た螢光照明装置の構成群の細部側面略図、 第6b図:第6a図に対応する細部平面図をレボルバ−を取除いた状態で示し、 第6c図:挿入調整基準体を示す。Some embodiments of the invention are shown diagrammatically in the accompanying drawings, in which: FIG. That is, Figure 1a Transmitted illumination mounted with a binocular prism container located within the optical axis or the “C” shape of an inverted microscope capable of epi-illumination and combinations thereof. Side schematic diagram of the main body of Figure 11): The binocular prism container located off the vertical optical axis is mounted on the side mounting surface. "C" is an inverted microscope that can perform transmitted illumination or epi-illumination, and a combination thereof. 1c: Side schematic view of the body in the shape of a ``'', located in the vertical optical axis. binocular prism Schematic side view of the “C” shaped body of an epi-illumination inverted microscope with a container mounted on the side mounting surface. , Figure 2: According to the present invention, it is possible to perform transmitted illumination or epi-illumination and a combination thereof. We show the construction principle and optical configuration of an inverted microscope that can Figure 3: Transmitted illumination with special condenser and first mounting component deformation, Figure 4: The second installation is another variant of transmitted illumination with components, Figures 5a, 5b: Transmitted or epi-illumination with pivotable upper part and An inverted microscope capable of carrying out the combination is shown in two working positions in its structure, Figure 6a: Detailed side schematic view of the components of the fluorescent illumination device arranged inside the pedestal, Figure 6b: A detailed plan view corresponding to Figure 6a with the revolver removed; Figure 6c: shows the insertion adjustment reference body.

第1a図には、台足F1担持台Tおよび台腕Aから成り立っている顕微鏡本体G が示さ几、該本体は側面から見几ば折り曲げら几た「C」の形状全示している。FIG. 1a shows a microscope main body G consisting of a support leg F1 and a support T and a support arm A. When viewed from the side, the main body shows the shape of a bent "C".

本体Gの自由に開放さ几た部分Ofは観察者Bに向けら几でいる。載物テーブル 26がそ几自体公知り態様で、担持台T又は台足F(第3図参照)に上下に推移 する如く保持さ几ている。載物テーブル26を取・り付けると、顕微鏡本体を横 から見た概観はほとんど「E」字形を示す。The freely open and recessed portion Of of the main body G is directed toward the observer B. loading table 26 moves up and down on the carrier T or stand F (see Figure 3) in a manner known to the public. It is well maintained. When the loading table 26 is installed, the microscope body can be placed horizontally. The general appearance seen from above shows an "E" shape.

第1a〜IC図において顕微鏡本体Gは、担持台Tと台足F又は台腕Aとの間の 角度が直角に形成さ几ているけ几ども、本体Gの個々の要素T、F、Aの間[i j:、丸めら几た部分又は僅かな弧状部分或いは900とは異なる角度が存在す ることも可能である。また、担持台Tと台足Fとは相互に平行な面内に位置する ことは必ずしも必要ではない。しかし人間工学的な理由および特に構成上(安定 上)の理由から、本体Gi特に水平な台足Fと垂直な担持台Tと水平方向に張出 した台腕Aから成り立っている。この際本体Gid一体として(第1a、lc図 )形成さ几ること、或いは2つの構成単位(F、T+A;第2〜4図参照)又は 3つの構成単位CF、T、A)から成り立つことが可能である。また担持台Tは 台足Fの上面(第4図)に配置さ几るが或いは一部が台足の内部にそして一部が 台足の表面に配置さnることも可能である。同様なことが担持台Tと台腕Aとの 間の取付は範囲にも当嵌る。In FIGS. 1a to 1C, the microscope main body G is located between the carrier table T and the table foot F or the table arm A. Between the individual elements T, F, A of the body G [i j: There is a rounded part or a slight arcuate part or an angle different from 900 It is also possible to Further, the support table T and the base foot F are located in mutually parallel planes. That is not necessarily necessary. However, for ergonomic reasons and especially due to construction (stability) For the reason above), the main body Gi, especially the horizontal pedestal F and the vertical support T, are extended in the horizontal direction. It consists of a base arm A. At this time, the main body Gid is integrated (Fig. 1a, lc) ), or two structural units (F, T+A; see Figures 2 to 4), or It is possible to consist of three building blocks CF, T, A). Also, the carrier T is It is placed on the top surface of the pedestal F (Fig. 4), or part of it is inside the pedestal and part of it is placed on the top surface of the pedestal F (Figure 4). It is also possible to arrange it on the surface of the pedestal. The same thing applies to the support table T and the table arm A. The attachment between also applies to the range.

第]aおよび]0図により示さ几た、構成部材の配置に関する原理的に新しい思 想は、対物レンズ1および中央に位置する検鏡対象物3により定めら几る顕微鏡 の特に垂直位置の光軸4上にコンデンサー2(第1a図:倒立透過照明のための 変形又は倒立透過照明/落射照明の組み合わせのための変形)も位置しているこ とである。A fundamentally new idea regarding the arrangement of component parts, as shown in Figures ]a and ]0. The concept is a microscope defined by an objective lens 1 and an object to be examined 3 located in the center. A condenser 2 (Fig. 1a: for inverted transmitted illumination) is placed on the optical axis 4 in a particularly vertical position. variant or variant for an inverted transmitted illumination/epi-illumination combination) may also be located. That is.

19aで示さルている光学的中心点は、双眼プリズム容器5の中に到達した結像 光線束の一部(第3図)又は全部が(第2,4図)、−場合によっては必要な− もう一回の全反射の後、本来の接眼鏡筒(双眼接眼鏡筒)に到達するために最初 に反射さ几る点である。透過照明のための又は透過照明と落射照明の組み合わせ のための変形のすぐ几た実施形態(第1a図)では、次の列(下から上へ):対 物レンズl−検鏡対象物3−コンデンサー2に更に双眼プリズム容器5が付加的 に配置さ几、シかも該双眼プリズム容器の光学的中心点19a又は載せて取付け る而6の中心点が顕微鏡の光軸4に沿ってコンデンサー2の上部に配置さ几てい る。The optical center point indicated by 19a is the center point of the image that has reached the binocular prism container 5. Part (Fig. 3) or all (Figs. 2, 4) of the ray bundle - as the case may be - After one more total internal reflection, the first It is a point of reflection. For transmitted illumination or a combination of transmitted illumination and epi-illumination In a simple embodiment of the variant for (Fig. 1a), the following columns (from bottom to top): A binocular prism container 5 is additionally added to the object lens l - speculum object 3 - condenser 2 The binocular prism can be placed at the optical center point 19a of the binocular prism container or placed on top. The center point of the condenser 6 is placed above the condenser 2 along the optical axis 4 of the microscope. Ru.

第1 b図は原理的に可能な変形を示し、この際側面取付面7は、図示さ几てい ない結像光線束にエリ中心部を貫通さn、でいる1、3つの変形(第1a〜10 図)はすべて、双眼プリズム容器5が載物テーブル26の平面の上部に配置さ几 そして観察者Bは人間工学的に最も適合した着生位置において、双眼接眼鏡5の 中の顕微鏡Vrcよる像又は載物テーブル26上の検鏡対象物3を、彼が一度採 った検鏡姿勢を彼にとって都合が悪い状態に変化させることなく、交互に観察す ることができる様に形成さ几ている。その上特に重要なことは、プレパラートに 攪拌し、物質をプレパラートに付加又はプレパラ−ドア・ら取除き、物質の混合 物を選択し、対象物の細部にマークを付け、キューベットの内部の貫流を直接観 察し、日常的な研究の際にプレパラート全す速く交換し、溶離現象および水溶液 中の結晶過程を直接観察し、犬なる容積のプレパラート容器を載物テーブル3上 です速く位置決めする等の操作を、装置を用いおよび手動によりプレパラ−トラ 操作することも、自由に開放さ几た部分Ofから観察者B自身により、彼の人間 工学的な着生位置を撥棄すること又は変更することなしに実施することが可能に なっていることである。Figure 1b shows a possible modification in principle, in which the side mounting surface 7 is There are three variants (1a to 10) in which no imaging ray bundle penetrates the center of the area n, ), the binocular prism container 5 is placed above the flat surface of the loading table 26. Then, observer B holds the binocular eyepiece 5 in the most ergonomically suitable position. Once he has taken the image from the microscope Vrc inside or the microscopic object 3 on the specimen table 26. He took turns observing the speculum without changing the speculum position to one that was not convenient for him. It is formed so that it can be used. Moreover, what is especially important is that Mixing of substances by stirring and adding or removing substances from the preparation Select an object, mark the details of the object and directly observe the flow inside the cuvette. During routine research, all preparations should be quickly exchanged to avoid elution phenomena and aqueous solutions. Directly observe the crystallization process inside, and place the prepared container with the same volume on table 3. Operations such as quick positioning can be performed using equipment or manually using pre-parameters. It can also be manipulated by observer B himself from the open part of his human body. Can be carried out without abandoning or changing the engineered settlement position This is what is happening.

第2図には、透過照明のための変形および落射照明のための変形において用いら nる照明光線路並びに結像光線路が略図により示さ几ている。この際、光線路の 断面を変化させるための重要な構成部材および光線の方向を変化させる構成部材 のみが示さ几ている。図示さ几ている部材の代りに同じ作用を持つ要素を備える ことも当然可能である。このことは例えばその他の点でに同様な光(10) 線路?有する第2〜4図に略図により示さ几ている。第2図でに、観察者Bから 遠く離nた担持台Tの上部又は台腕Aの背後の部分に透過照明単位27が、観察 者から遠く離nた差込み位置31を介して、機械的および/または電気的に本体 Gと結合している。図示さ几ていない光源から放射さ几る照明光線束8ば、完全 反射鏡として形成さ几、顕微鏡の垂直な光軸上にあって45°の角度で傾いてい る方向変換要素9vc衝き当fc、す、そしてそこがら台腕Aの下側に取付けら 几たコノデンサ−2を通過して載物テーブル26の上面に位置する対象物3に到 達する。対象物3から出発する結像光線束は、対物レンズlを通過した後で、落 射照明光線路10を方向変換させるための第一の半透明反射鏡11i通過し、そ してその後で、硝子プリズム又は完全反射鏡12a (第3図)として形成さ几 ることが可能な第二の方向変換要素12により、記号38で示さ几た部分の方向 に台足Fの内部で導か几、そ几から、図示さ几た硝子プリズムの代りに完全反射 鏡14a(第3図)又はベンタグリズム14b (第4図)であることも可能な 第三の方向変換要素14によって再び方向変換さ几た後で、担持台Tの中を通過 する。担持台の中では、半透明反射鏡24(第3図)又は完全反射鏡16a(第 4図)であることも可能な第四の方向変換要素16により、結像光線路が再び折 り曲げら几、光軸4上に配置さ几ている第五の方向変換要素18の方向に向けら ルる。ここで次のことを指摘して置かなけ几ばならな(11) Vf表昭58− 501443(7)い。即ち、(第2図では)構成要素12,14.16お工び 18が配置さ几ている結像光線路が折り曲げら几ている点のうちの唯1つの点に 、ペンタプリズム(第2図でに18の位置、第4図では14.bの位置)又はそ 几と同じ作用を持つ反射鏡の組み合わせ(第3図における第六および第七の方向 変換要素20+21)k設けることが必要である。Figure 2 shows the variants used in the variants for transmitted illumination and for epi-illumination. The illumination beam path and the imaging beam path are shown schematically. At this time, the optical path Important components for changing the cross section and components for changing the direction of light rays Only the following are shown. In place of the parts shown in the diagram, elements with the same function are provided. Of course, this is also possible. This means, for example, that otherwise similar light (10) line? This is schematically shown in FIGS. 2-4. In Figure 2, from observer B A transmitted illumination unit 27 is placed on the upper part of the support table T or the back part of the table arm A, which is far away. mechanically and/or electrically via a plug-in position 31 remote from the user. It is combined with G. The illumination ray bundle 8 emitted from the dim light source shown is completely A mirror formed as a reflector, located on the vertical optical axis of the microscope and tilted at an angle of 45°. Direction changing element 9vc, abutment fc, It passes through the compact condenser 2 and reaches the object 3 located on the upper surface of the loading table 26. reach The imaging ray bundle starting from the object 3 passes through the objective lens l and then falls off. It passes through a first semi-transparent reflecting mirror 11i for changing the direction of the illumination light path 10. After that, it is formed as a glass prism or perfect reflecting mirror 12a (FIG. 3). The direction of the part indicated by symbol 38 is changed by the second direction changing element 12 which can In the inside of the pedestal F, there is a complete reflection light instead of the glass prism shown in the figure. It can also be a mirror 14a (Fig. 3) or a Ventagrism 14b (Fig. 4). After being changed direction again by the third direction changing element 14, it passes through the carrier T. do. Inside the carrier, there is a semitransparent reflector 24 (Fig. 3) or a fully reflective mirror 16a (Fig. 3). 4), the imaging beam path is folded again. The bending element 18 is oriented in the direction of the fifth direction changing element 18 arranged on the optical axis 4. Ruru. I must point out the following here (11) Vf table 1978- 501443(7) Yes. That is, components 12, 14, and 16 (in Figure 2) 18 is arranged at the only point among the points where the imaging optical path is bent and arranged. , a pentaprism (position 18 in Figure 2, position 14.b in Figure 4) or A combination of reflectors that have the same effect as that of a mirror (sixth and seventh directions in Figure 3) It is necessary to provide conversion elements 20+21)k.

結像光線束が一図示の場合には垂直になっている一光軸4の方向に90°だけ方 向変換さ几た後で、該光線束は双眼プリズム容器5を載せて取付ける面6の中央 を通過しそして方向変換プリズムJ9の直角を挾む大なる面で完全反射しく「中 心点J19a)、斜面で再び反射した後で本来の双眼接眼鏡筒の中に入る。双眼 接眼鏡筒5が写真鏡筒5ak備えそI〜で顕微鏡写真又は顕微鏡的像の測光評価 を意図する場合VCは、方向変換プリズム19の直角を挾む大なる面で完全反射 する代りに光線分割が行なわ几る。The imaging ray bundle is oriented by 90° in the direction of one optical axis 4, which in the case shown is perpendicular. After the direction change, the light beam is directed to the center of the surface 6 on which the binocular prism container 5 is mounted. , and completely reflected on the large surface sandwiching the right angle of the direction changing prism J9. At center point J19a), it enters the original binocular eyepiece tube after being reflected again on the slope. binocular The eyepiece barrel 5 is equipped with a photographic lens barrel 5ak for photometric evaluation of microscopic photographs or microscopic images. When intending to Instead, ray splitting is performed.

第1bおよび10図に示さ几ている倒立顕微鏡の変形では、方向変換要素16又 は16a又は24′ff:経過した結像光線束は、台腕Aの観察者側の正面の双 眼プリズム容器5の側面取付は而7の中心を貫通しそして、図示さ几てぃない方 向変換要素を介して双眼接眼筒の中に導が几る。In the inverted microscope variant shown in FIGS. 1b and 10, the deflection element 16 or is 16a or 24'ff: The elapsed imaging ray bundle is The side attachment of the eye prism container 5 passes through the center of the eye prism container 5, and is not shown in the figure. A guide is directed into the binocular eyepiece via the direction changing element.

落射照明光線束は、観察者から遠く離几た差込み位置32金介して顕微鏡本体G に機械的および電気的に結合(12) している照明単位28の中にある図示さ几ていない光源から放射さnる。2つの 照明単位27および28は交換可能な如く取付けら几でおりそして、例えば西ド イツ国特許公開第2902961号公報に記載の如く、内部又は外部からエネル ギーを供給さ几る。落射照明光線束10は光軸4上に配置さ几ている第一の半透 明反射鏡11i介して対物レンズ1の中に導か几そしてそこから対象物3の表面 に導かn、る。The epi-illumination light beam is delivered to the microscope body G via a 32-carat gold insertion point that is far away from the observer. mechanically and electrically coupled to (12) The light is emitted from a light source, not shown, which is located within the illumination unit 28. two The lighting units 27 and 28 are mounted interchangeably and are installed, for example, in the west door. As described in Italian Patent Publication No. 2902961, energy can be supplied internally or externally. It is supplied with ghee. The epi-illumination ray bundle 10 is arranged on the optical axis 4 of a first semi-transparent beam. The light is guided through the bright reflector 11i into the objective lens 1 and from there the surface of the object 3. Guided by n,ru.

落射照明光線束10の中には、そ几自体公知の態様で絞り(例えば明視野絞り5 8)、光学部材(例えば1個の光学部材59)および挿入さ几た°フィルター( 図示せず)が存在している。また、第一の半透明反射鏡11と第二の方向変換要 素12との間にアナライザー又は干渉コントラストラ実現するための構成要素を 挿入する可能性が設けら几ることも可能である。同様にして、透過照明光線束8 の中に上記に対応して挿入さ几るフィルター8a(第2図参照)並びに絞りおよ び光学部材(図示せ1 ず)が配置さ几そ(−で、一方では構成要素12 、1 2a。In the epi-illumination beam bundle 10, a diaphragm (for example, a bright field diaphragm 5) is provided in a manner known per se. 8), an optical element (for example one optical element 59) and an inserted filter ( (not shown) exists. In addition, the first semi-transparent reflecting mirror 11 and the second direction changing element are connected to each other. between the element 12 and the analyzer or interference contrastor. It is also possible that the possibility of insertion is not provided. Similarly, transmitted illumination light beam 8 The filter 8a (see Fig. 2) and the diaphragm and and optical elements (1 not shown) are arranged (-, on the other hand, the components 12, 1 2a.

他方では構成要素18 、18a 、 20の間に位置する結像光線路全体に亘 って光学部材]、 3 、15および17が適宜な態様で配置さ几ることか可能 であり必要である0第3図から明らかな様に、担持台Tの内部を走行している結 像光線路の延長上に付属カメラ23が光学的に連結1す能てあり、その場合には 第四の方向変換要素I6又は162の代りに九線路の中に挿入可能な第二の半透 明反(13) 射鏡2,4が用いら几る。この様なことが別の場所、例えば方向変換要素16a および18aの間でも可能であること(1明らかである。第4図に示さ几ている 実施例の場合には旋回可能に配置さ几ている半透明反射鏡25により結像光線束 の一部分が投影付属品22の内部に分割反射さ几、該投影付属品のスクリーン板 22aid、観察者Bにとって前同様に、人間工学的に最も都合のよい検鏡位置 を変えることなく、直接にそして妨害さ几ることなくのぞき込むことが可能であ る。On the other hand, over the entire imaging beam path located between the components 18, 18a, 20 3, 15 and 17 can be arranged in an appropriate manner. As is clear from Fig. 3, it is necessary to An attached camera 23 can be optically connected on the extension of the image beam path, and in that case, A second semi-transparent element insertable into the nine track instead of the fourth direction changing element I6 or 162 Akira (13) Shooting mirrors 2 and 4 are no longer in use. This may occur at another location, such as the direction changing element 16a. and 18a (1 is obvious, as shown in Fig. 4). In the case of the embodiment, the imaging light beam is formed by a translucent reflector 25 which is arranged so as to be able to rotate. A portion of the screen is reflected inside the projection accessory 22, and a screen plate of the projection accessory 22 aid, as before, the most ergonomically convenient speculum position for observer B. It is possible to look directly and unobstructed without changing the Ru.

第3および4図に示さ几ている光線分割点(24又は25の位置)の代りに、別 の又は付加的な反射により取り出す分割点又は反射により付加する分割点を設け ることも可能である。例えば−第4図に示さ几ている様に一顕微鏡の構成が倒立 透過照明のための変形としてのみ形成さ几ている場合には、結像光線路38の延 長上の、観察者Bとは反対側の台足Fの側面に別のカメラ構成群(フィルムカメ ラ、瞬間現像カメラ等)が取付けら几ることか可能である。更にまた担持台Tの 垂直部分にテレビカメラのための光学的分割装置を設けることが可能である。し かし何れの場合でも、観察者の近くの範囲で側方に取付ける単位(Ansatz module ) ’z設けることは人間工学的理由によって厳重に避けるべき である。Instead of the ray splitting point (position 24 or 25) shown in Figures 3 and 4, A dividing point to be taken out by additional reflection or a dividing point to be added by reflection is provided. It is also possible to For example - as shown in Figure 4, the configuration of a microscope is inverted. If it is designed only as a modification for transmitted illumination, the extension of the imaging beam path 38 is Another camera configuration group (film camera) is installed on the side of the platform F on the opposite side from the observer B. It is possible to install cameras such as cameras, instant development cameras, etc. Furthermore, the carrier T It is possible to provide an optical splitting device for a television camera in the vertical part. death However, in either case, a side-mounted unit (Ansatz module)’z should be strictly avoided for ergonomic reasons. It is.

第3図においては、第2図および第4図において示さルている取り外し可能に保 持さ几ている簡単な概観用コ(14) る開口数を有する特殊なコンデンサー23が示さ几、該コンデンサーに担持台T 又は載物テーブル26VC取付けらn、た付加的な、保持装置に固着さ几ている 。こ几まで構成群5は双眼プリズム容器として表現さ几ているけ几ども、その代 りに単眼プリズム容器又は3眼プリズム容器、或いは討論用連結接眼鏡(Dis kussionsbrucke )又は、観察光線路がそこから双眼プリズム容 器の方向に出て行く中間容器等を用いることも可能であり、こ几らi何几もそ几 ぞ几の取付は而又はそ几ぞn、の光学的中心点が合致しているものである。FIG. 3 shows the removable storage shown in FIGS. 2 and 4. A simple overview of what I have (14) A special capacitor 23 having a numerical aperture of Or, if the load table 26VC is attached, it is fixed to an additional holding device. . Up to this point, component group 5 has been expressed as a binocular prism container. A monocular prism container or a trinocular prism container or a discussion eyepiece (Dis cussionsbrucke) or from which the observation beam path leads to the binocular prism volume. It is also possible to use an intermediate container etc. that goes out in the direction of the container, and it is possible to use any number of containers. The optical center points of the mounting plate and the mounting plate coincide with each other.

第5a図から判明する様に、本発明による倒立顕微鏡の新しい概念によ几ば、犬 なるプレパラート容器に適する高い載物テーブル上の空間が利用可能であり、こ のことvcよりすでl/i:前記した如き基本的な特徴を断念しなけり、ばなら ないことは生起しない。しかし極端な方法を持ったプレパラート容器、例えばペ ニシリンのびん3a。As can be seen from FIG. 5a, the new concept of the inverted microscope according to the present invention allows Space is available on a high loading table suitable for preparation containers; It is already l/i from vc: If we do not give up the basic characteristics as mentioned above, What does not exist does not occur. However, preparation containers with extreme methods, such as plastic containers, Herring bottle 3a.

−1−ルV 7 マイヤーのフラノ−7(Erlenmeyer flask  ) 3 b等でも載物テーブル上に立て又は載せることが可能にするため一第5 aおよび5b図から明らかな様に一本発明による装置に、少くとも台腕Aが、担 持台Ti貫通している結像光線束の部分の光軸と合致している軸29のまわりに 旋回することができる様になっている。図示の場合には旋回面は台腕Aと担持台 Tの間の切断面30に位置する。切断面はまた顕微鏡本体Gの位置固定した゛) ゛方部分と、担持台Tの範囲に位置する旋回可能な上方(15) 特表昭58− 501443(8)部分との間に位置することも可能であり、この際旋回可能な 部分の下方の限Wけ、対物レンズ1に微小距離を隔てて設定さ1.ている載物テ ーブル26により、寸た上方の限界は透過照明単位27の差込み位置31により 決定さ几る。-1-Le V 7 Meyer's Flask-7 (Erlenmeyer flask) ) In order to make it possible to stand or place items on the table even in 3.b etc. As is clear from figures a and 5b, in one device according to the invention, at least the platform arm A is around the axis 29 that coincides with the optical axis of the portion of the imaging beam passing through the holder Ti. It is designed to be able to rotate. In the case shown, the rotating surface is the platform arm A and the carrier platform. It is located at the cutting plane 30 between T. The cut surface was also fixed in position on the microscope body G゛) Rotatable upper part (15) located within the range of the ゛ side part and the carrier T 501443(8), and in this case it is possible to The lower limit W of the part is set at a minute distance from the objective lens 1. The contents listed The upper limit of the dimension is determined by the insertion position 31 of the transmitted illumination unit 27 by the cable 26. It has been decided.

第5a図においては、第2図および第4図に示さ几でいる配置とは原理的に差異 がない基本的配置が示さ几ているが、第5b図においては台腕Aが180°旋回 したところが示さ几ている。差込み位置31. [は間隔腕33が差込ま几、こ の間隔腕は透過照明単位27と同様な機械的および電気的連結機構を所有してい る。間隔腕33にはオプチカルペンテの態様により上下に変位可能な特殊の透過 照明装置35が取付けらル、該装置は光源37、光線の方向変換要素および締付 けねじ36を使有しそして該装置には第二のコンデンサー34が配置さ几ている 。In Figure 5a, there is a difference in principle from the arrangement shown in Figures 2 and 4. Although the basic arrangement with no It shows what was done. Insertion position 31. [is the spacer arm 33 inserted here. The spacing arm possesses a mechanical and electrical linkage similar to that of the transillumination unit 27. Ru. The spacing arm 33 has a special transmission that can be moved up and down in the form of an optical pen. An illumination device 35 is installed, which device includes a light source 37, a light beam redirection element and a clamping device. A screw 36 is used and a second capacitor 34 is disposed in the device. .

第5b図に示さ几た場合(透過照明のための変形)ても(下方から上方に向う) 列:対物レンズ1一対象物3b−−−コンデンサ−34が維持さ几ている。若し 落射照明のための変形のみをこの装置で実現しようとするならば、旋回可能な上 方部分は僅かに旋回するだけで十分である。Even in the case shown in Figure 5b (modified for transillumination) (from below to above) Column: objective lens 1 - object 3b --- condenser 34 is maintained. young If you want to use this device only to transform it for epi-illumination, you should use a rotatable top. A slight pivoting of the side part is sufficient.

何故ならばこの場合V?−はコンデンサー34は不要となりそしてコンデンサー として作用する対物レンズ1がその代りに用いら1.ることになるからである。Because in this case V? - capacitor 34 is no longer needed and the capacitor An objective lens 1 acting as 1. This is because

旋回可能な上部が僅かに旋回させら几ることによって、好都合にも対象物3a又 は3bi直接観察することが完全に可能とな(J6) り且つあらゆる通常のプレパラート操作と対象物の処置が観察者VCより直接実 施可能になる。The object 3a or It is completely possible to observe 3bi directly (J6) All normal preparation operations and object treatments can be performed directly by the observer VC. becomes available.

台足Fの内部VCハ螢光落射照明配置が付加的に実現可能である。このことは第 6aお↓び6b図で詳細に説明さn、る。A fluorescent epi-illumination arrangement on the internal VC of the pedestal F can additionally be realized. This is the first This is explained in detail in Figures 6a and 6b.

第63図Fは、対物レンズレボルバ−を載せ、その上部に載物テーブル26が配 置さ几ている台足Fの観察者側の部分が側面図で示さ几ている。例えば駆動ノジ 44又は図示さn−でいない把子を用いて観察者の方向(矢印39aの方向)K 台足Fから引き出すことが可能なひき出l−として形成さn、た保持装置39の 中に、構成単位および機能単位として形成−3n−た螢光単位(Fluoren zeinheiten)42又は43を正しい位置に収容しそして推移させる( 矢印41bの方向)手段が設けら几ている。こ几らの手段は駆動ノブ44のほか に、この駆動ノブと軸44a’を介して結合し、ラック41aと協働する駆動歯 車45を包括し、該ランクは、案内棒46上で横方向に推移可能に配置さ几てい る収容保持器4]Vc結合さ几ている。収容保持器41には更に、垂直に位置す る光軸4に平行に配置さn、た少くとも3個のアリ溝が設けら庇ており、該アリ 溝の中には立方体状の螢光単位42.43が交換可能な如く差込み可能になって いる。こ几らの螢光単位にそ几ぞT1−1励起フイルター48又は49.45° VC傾斜配置さノ1.たダイクロマチック分割反射鏡50又はbi並びに阻11  ’−、’イルター52(螢尤単Q 43 vC所属する阻止フィル(17) ターは図示さ几ていない)から成り立っている。In Fig. 63F, an objective lens revolver is mounted, and a mounting table 26 is arranged above it. The part of the placed foot F on the viewer's side is shown in a side view. For example, the drive nozzle 44 or the direction of the observer (direction of arrow 39a) K using a grip not shown in the n- The holding device 39 is formed as a drawer that can be pulled out from the base F. Among them, -3n-fluorescent units are formed as structural and functional units. 42 or 43 in the correct position and transition ( In the direction of arrow 41b) means are provided. These means include the drive knob 44 and others. A drive tooth is connected to the drive knob via the shaft 44a' and cooperates with the rack 41a. The rank includes a car 45, and the rank is arranged so as to be movable laterally on a guide rod 46. The housing cage 4] is connected to Vc. The storage holder 41 further includes a At least three dovetail grooves are arranged parallel to the optical axis 4, and the dovetail Cubic fluorescent units 42 and 43 can be inserted into the grooves so that they can be replaced. There is. The T1-1 excitation filter 48 or 49.45° is used for this fluorescent unit. VC inclined arrangement No. 1. dichromatic split reflector 50 or bi and barrier 11 '-,' Ilter 52 (Hotakudan Q 43 Blocking Phil belonging to vC (17) (not shown).

第6b図では螢光単位42が顕微鏡の光軸4に中心が合致し正確に調整さn、た 位置にある。螢光単位42.43の正確な位置決めは、図示さn、でいないクリ ックストップにエリ実現さルる。多重螢光発色技術において必要である様に、相 前後して一定波長に同調させらn、た別の螢光単位を光線路10(および一部は 4)の中に挿入しようとするならば、そのことは保持装置39を矢印i9aの方 向に引出すことで達成さ几、保持装置はこのクリックストップ40.40a’i z備えており、そして対応する螢光立方体全簡単にす速く交換すること°により 達成さn、る。In FIG. 6b, the fluorescent unit 42 is centered on the optical axis 4 of the microscope and adjusted accurately. in position. Accurate positioning of the fluorescent units 42, 43 is possible using a clip not shown. It is realized that the clock stops. As required in multiple fluorescent color technology, Tuned back and forth to a constant wavelength, different fluorescent units are connected to the optical line 10 (and some 4), it means that the retaining device 39 should be inserted in the direction of arrow i9a. This is achieved by pulling the retainer in the direction of this click stop 40.40a’i Equipped with compatible fluorescent cubes for easy and quick replacement Achieved.

保持装置39はそ几から再び衝き当て縁47の所まで台足Fの中に差込まn、る ことか可能であり、そのことにより顕微鏡の光軸4に対して正しい位置に付設さ nることが保証さfる。The holding device 39 is inserted into the base foot F again from the stand up to the abutting edge 47. This makes it possible to attach the lens to the correct position relative to the optical axis 4 of the microscope. It is guaranteed that this will happen.

通常の落射照明単位28の代りに差込み位置32に差込ま几ることか可能な特殊 な螢光照明単位を調整するため、挿入調整基準体53が用いら几、該挿入調整基 準体は収容保持器41に設けら几たアリ溝の1つに交換可能な如く挿入さ几るか 又はその位置に定常的に取付けら几ることか可能である。挿入調整基準体53は 第6C図に示さ几ている。該挿入体の外側の空間形状は螢光単位42゜43に同 じである。励起フィルター48又は49の代りvc t i弱めるフィルター5 5がありそしてダイクロマチック分割反射鏡50又は51の代りに(完全)反射 鏡56(18) がある。対物レンズ側の蓋を中心マーク57を備えた摺り硝子板54が形成して いる。螢光光源6oから放射さ几そして軸10に泪って走行する照明光束は、明 視野絞り58を通過した後で、明視野絞り58ff:対象物3の所に結像させる 光学部材59を通過する。光源60のランプのフィラメント又は電弧は中心マー ク57の所に結像さ1.る。光を弱めるフィルター55は、場合によって過剰の 光を避けるのに役立つ。観察者Bは光源60ゐ調整を、保持装置39を引出した 位置で、摺り硝子板54を直接見ながら調整の不足を補償することで実施する。A special type that can be inserted into the insertion position 32 instead of the normal epi-illumination unit 28. In order to adjust the fluorescent illumination unit, an insertion adjustment reference body 53 is used. The quasi-body is inserted into one of the dovetail grooves provided in the storage holder 41 so as to be replaceable. Or it can be permanently installed in that position. The insertion adjustment reference body 53 is This is shown in Figure 6C. The outer spatial shape of the insert is the same as the fluorescent unit 42°43. It is the same. vc t i weakening filter 5 instead of excitation filter 48 or 49 5 and instead of a dichromatic segmented reflector 50 or 51 (full) reflection Mirror 56 (18) There is. A rubbed glass plate 54 with a center mark 57 forms the lid on the objective lens side. There is. The illumination light flux emitted from the fluorescent light source 6o and traveling along the axis 10 is bright. After passing through the field diaphragm 58, the bright field diaphragm 58ff: focuses the image on the object 3. It passes through an optical member 59. The lamp filament or arc of light source 60 is centered The image is formed at point 57.1. Ru. The filter 55 that weakens the light may Helps avoid light. Observer B adjusted the light source 60° and pulled out the holding device 39. This is done by directly looking at the glass plate 54 at the correct position and compensating for any lack of adjustment.

このため先づ挿入調整基準体53を光@10にエリ定めらn、る位置に挿入する ことが必要なことは当然である。For this purpose, first insert the insertion adjustment reference body 53 into the light @ 10 at the defined position. Of course, this is necessary.

倒立顕微鏡における上記の如き螢光配置のすぐ几た点は%に、螢光を発する対象 物が一人間工学的に都合がよい観察者Bの検鏡位置に関しm−非常に深い位置に 置か庇でいるということである。公知になっている倒立顕微鏡では(西ドイツ国 実用新案第7628471号明細書)対象物担持体に螢光装置を取付けることは 可能であるけ几ども、載物テーブルは、選択さ几た構成によって、非常に高い所 に取付けら几でおり、そのことは使用者にとっては人間工学的な見地から最良の 解決と認めら几ない。The bright spot of the fluorescent light arrangement as shown above on an inverted microscope is %, the object that emits the fluorescent light. If the object is located at a very deep position with respect to the ergonomically convenient speculum position of observer B. It means being under the shelter. In the publicly known inverted microscope (West Germany) Utility Model No. 7628471) Attaching a fluorescent device to an object carrier Although possible, the load table may be placed in very high places depending on the chosen configuration. from an ergonomic point of view for the user. I can't accept it as a solution.

公知になっているその他の倒立顕微鏡の構造においては−とに角−螢光研究のた めの装備変更は、費用がかかる機械的および光学的な変形を実施することによっ てのみ達成さn、る。即ち例えば、対象物担持体を複雑な螢光照明装置と交換し そして載物テーブルをより高く配置することが必要であり、そのことにより例え ば調節さ几た対象物の位置が視野から失わ几ることになる。Other known structures of inverted microscopes include one for fluorescence research. Re-equipment for Only this can be achieved. That is, for example, by replacing the object carrier with a complex fluorescent illumination device. And it is necessary to place the loading table higher, which makes it easier to In this case, the adjusted object's position will disappear from the field of view.

上記した如き欠点のすべては本発明により、螢光照明部分と結像光線路の一部と 全台足Fの中に統合することにより避けら几る。All of the above-mentioned drawbacks can be solved by the invention, since the fluorescent illumination part and part of the imaging beam path are This can be avoided by integrating the entire platform into the foot F.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 t(a)J&せて取付けられ又は嵌込まれた対物レンズレボルバ−1 (b) 光学構成部材を取付ける手段を有する担持台、(c) Jmせて取付は 又は側面で取付けることが可能な接眼プリズム容器を有し、下側の面に取付けら れ又は嵌込まれるコンデンサー系統を有する台腕、fd) 台足又は担持台に付 設された載物テーブル、を包括している蕩過照明および/または落射照明倒立顕 微鏡において、 fe) 担持台(T)は台足(F)と張出した台腕(A)と共に「C」字形の顕 微鏡本体(G)を形成すること、は観察1 (B)に向けられていることおよび (g) コンデンサー(2,2a)又は対物レンズ(1)並びに対象物(3,5 a、3b)により定められる顕微鏡の光軸(4)は、双眼プリズム容器(5)を 載せて取付ける而(6)の中心を貫通すること(第1a図)を特徴ごとする、a a照明および/または落射照明倒立顕微鏡。 2、(A) &せて取付けられ又は嵌込まれた対物レンズレボルバ−1 (b) を学li&部材を取付ける手段を有する担持台、(c) 側面で取付け ることが可能な接眼プリズム容器を57 L、下側の面に取付けられ又は嵌込ま れるフンデ(21) ンサー系統を有する台腕、 (dl 台足又は担持台に付設された載物テーブル、を包括している透過照明お よび/または落射照明倒立顕微鏡において、 (e)担持台(T)は台足(F)と張出した台腕(A)と共に「C」字形の顕微 鏡本体(G)を形成すること、察者(B)に向けられていること、 (g) 台腕(A)の張出しは大体において台足(F゛)の張出しに等しいこと 、 (h) 双眼プリズム容器(5)の取付面は側面取付面(7)として形成されそ して観察者(B)の方を向いている台腕(A)の正面に設けられ、台腕(A)を 通過する結像光線束が該取付面の中心を貫通すること(第1b図)を特徴とする 、透過照明および/または落射照明倒立顕微鏡。 3(a)載せて取付けられ又は嵌込まれた対物レンズレボルバ−1 (b) 光学構成部材を取付ける手段を有する担持台、(c)側面で取付けるこ とが可能な接眼プリズム容器を有する台腕および (d) 台足又は担持台に付設された載物テーブル、を包括している落射照明倒 立顕微鏡において、(e)担持台(T)は台足(F)と張出した台腕(A)と共 にrCJ字形の顕微鏡本体(G)を形成すること、(22) 察者(B)に向けられていること、 (g) 台腕(A)、の張出しは台足(F)の張出しよりも少ないこと、 (h) 双眼プリズム容器(5)の取付面は側面取付面(7)として形成されそ して観察者(B)の方を向いている台腕(A)の正面に設けられ、斯くして対物 レンズ(1)並びに対象物(3,3a、3b)により定められる゛顕微鏡の光軸 (4)は双眼プリズム容器(5)の中心を貫通すること(第1c図)を特徴とす る、落射照明倒立顕微鏡。 4、 担持台(T)並びに光軸(4)は大体においてそれぞれ垂直でありそして 台足(F)並びに張出した台腕(A)は大体においてそれぞれ水平になっている ことおよび顕−微鏡本体(G)は側面から見れば折り曲げられた「C」字形にな っていることを特徴とする特許請求の範囲第1項から第3項までに記載の倒立顕 微鏡。 5 載せて取付ける而又は側面取付面(6又は7)を有する双眼プリズム容器( 5)の代りに、これと同様な載せて取付ける面又は側面取付面を有し、双眼プリ ズム容器(5)に連結する手段を備えた中間容器が取付けられることを特徴とす る特許請求の範囲第1項から第4項までの少くとも一つに記載の倒立顕微鏡。 6 台腕(A)の内部を走行する透過照明のための光線束(8)は、顕微鏡の光 軸(4)上に配置され、光軸に対しく23) 狩衣Hg58−501443 ( 2)で特に45°に傾斜している第一の方向変換要素(9)を介してコンデンサ ー(2又は2a)に導かれること(第2図)を特徴とする特許請求の範囲第1又 は2項並びに第4および5項記載の倒立顕微鏡。 Z 台足(F)の内部を走行する落射照明のための光線束(10)は、顕微鏡の 光軸(4)上に配置され、光軸に対して特に45°に傾斜している半透明反射鏡 (11)を介して対物レンズ(1)に導かれること(第2図)を特徴とする特許 請求の範囲第1項から第5項までの少くとも一つに記載の倒立顕微鏡。 8、 対象物(3,3a、5b)から出発する結像光線束は、対物レンズ(1) と半透明反射鏡(11)を通過した後で、台足(F)の内部に存在しそして顕微 鏡の光軸(4)上に配置されている第二の方向変換要素(12又は12a)に衝 き当たり、それから第一の光学部材(13)を通過した後で第三の方向変換要素 (14又は14a又は14b)に衝き当たり、光束はここから担持台(T)に沿 い、第二の光学部材(15)を経て、台腕(A)の内部に存在する第四の方向変 換要素(16又は16a)に導かれ、そして第三の光学部材(17)を通過した 後で、双眼プリズム容器(5)を載せて取付ける面(6)と第一の方向変換要素 (9)との間の光軸(4)上に位置する第五の方向変換要素(18又は18a) を介して双眼プリズム容器(5)の中にある方向変換プリズム(19)の中に導 かれることを特徴とする特許請求の範囲第1項から第5項(24) までの少くとも一つに記載の倒立顕微鏡。 9 第五の方向変換要素(18又は18a)の代りに第六の方向変換、要素(2 0)が顕微鏡の光軸(4)外に配置され、結像光束は該要素から第七の方向変換 要素(21)に入射し、この要素は、第一の方向変換要素(9)と′9.眼ブI J スム容器(5)を載せて取付ける面(6)との間の光軸(4)上に、光軸( 4)に対して例えば67.5°の角度をなして配置されていること(第3図)を 特徴とする特許請求の範囲第8項記載の倒立顕微鏡。 10 第一の半透明反射鏡(11)と双眼プリズム容器(5)との間の結像光線 路内に、結像光線束の一部分を光学的に分岐させる手段が設けられ並びに、例え ば投影付属品(22)、カメラ付属品(23)等の別々の構成単位および機能単 位を連結する手段が顕微鏡本体(G)の側面又は上面に配置されていることを特 徴とする特許請求の範囲第1項から第9項までの一つに記載の倒立顕微鏡。 11 光学的に分岐させる手段は少くとも1つの半透明反射鏡(24又は25) を包括し、該半透明反射鏡は結像光線路の中に付加的に傾倒可能又は挿入可能に なっていることを特徴とする特許請求の範囲第10項記載の倒立顕微鏡。 12 上面又は側面に取付は可能な構成単位および機能単位を連結4゛る手段が 台腕(A)又は担持台(T)の上面又は側面に配置されていることおよびこれら の構成単位45よび機能?を位は、第四の方向変換要素(16又は16a)(2 5) と顕微鏡光軸(4)上に位置する方向変換要素(18又は18a又は21)との 間の結像光線束の中に挿入可能な光線分割器としての移動可能な半透明鏡(25 )を介して顕微鏡の光線路に光学的に結合されること(第4図)を特徴とする特 許請求の範囲第10項および第11項の一つに記載の倒立顕微鏡。 13 結像光線束の一部分を分岐するのは半透明反射鏡(24)を用いて行われ 、この半透明反射鏡は、分岐゛が行われない場合には第四の方向変換要素(16 又は16a)が配置されている、垂直な担持台(T)と水平な台腕(4)の交叉 する位置に交換可能な如く位置決めされていること(第3図)を特徴とする特許 請求の範囲第10項から第12項までの一つに記載の倒立顕微鏡。 14 結像光線束の一部を分岐するのは担持台(T)の範囲で、特に第三と第四 の方向変換要素(14,14a、14bおよび16.?6a)の間で行われるこ とを特徴とする特許請求の範囲第10項から第12項までの一つに記載の倒立顕 微鏡。 15、担持台(T)は台腕(A)と一体に形成されていることを特徴とする特許 請求の範囲第1項から第5項までの少くとも一つに記載の倒立顕微鏡。 16 台足(F)、担持台(T)および台腕(A)を包括している顕微鏡本体( G)は一体に形成されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項から第5項 までの少くとも一つに記載の倒立顕微鏡。 (26) 17 載物テーブル(26)と対物レンズ(1)との間の相対的な距離を変化さ せるための手段が存在していることを特徴とする特許請求の範囲第1項から第1 6項までの一つに記載の倒S’Z顕微鏡。 18 台腕(A)には差込むことが可能な透過照明単位が配置されそして台足( F)には差込むことが可能な落射照明単位が配置されていることを特徴とする特 許請求の範囲第1項から第17項までの少くとも一つに゛記載の倒立顕微鏡。 19 照明単位には内部からエネルギーを供給する手段が付設されていることを 特徴とする特許 18項記載の倒立顕微鏡。 20 取付けられた照明単位には外部からエネルギーを供給する手段が付設され ていることを特徴とする、特許請求の範囲第18項記載の倒立顕微鏡。 21 担持台(T)の上方並びに下方部分には、特に観察者(B)から遠く離れ た担持台の背後に、それぞれ1つの照明単位(27又は28)を取付けるための 電気的および7士たは機械的手段(61又は32)が設けられていること(第2 図)を特徴とする、特許請求の範囲第1項から第20項までの少くとも一つに記 載の倒立顕微鏡。 22 台腕(A)は1つの軸線(29)のまわりに旋回可能に支承されており、 該軸線は担持台(T)を貫通する結像光線束の軸線に合致していること(第5a ,5b図)を特徴とする、特許請求の範囲第1項から第21項まで゛の少くとも 一つに記載の倒立顕微鏡。 23 顕微鏡本体(G)の位置固定した動かない下方部分と該本体の旋回可能な 上方部分との間の切断面(60)は、下方の限界が対物レンズ(1)に対して微 小の距離に設定された載物テーブル(26)により、そして上方の限界が透過照 明単位(27)の嵌込まれる位置(61)により定められる担持台(T)の範囲 内に位置することを特徴゛とする、特許請求の範囲第22項記載の倒立顕微鏡。 24、載物テーブル(26)は台足(F)上に上下に調節可能な如く直接保持さ れていること(第6図)を特徴とする、特許請求の範囲第1項から第26項まで の少くとも一つに記載の倒立顕微鏡。 25 切断面(30)が台足(F)の上面に位置することを特徴とする、特許請 求の範囲第23および24項の一つに記載の倒立顕微鏡。 26、透過照明単位(27)を嵌込む位置(31)に、間隔腕(63)を所有し そして第二のコンデンサー(34)を含む透過照明装置(35)が差込み可能に なっていること(第5b図)を特徴とする、特許請求の範囲第1項から第25項 までの少くとも一つに記載の倒立顕微鏡。 2Z 透過照明装置(35)には特に、第二のコンデンサー(34)と載物テー ブル(26)との間の距離を変化させるための手段(36)が設けられているこ と(第5b図)を特徴とする、特許請求の範囲第26項記載の倒立顕微鏡。 (28) 28 透過照明装置(35)の中にある光源(67)のために内部からエネルギ ーを供給する手段が設けられていることを特徴とする、特許請求の範囲第26お よび27項の少くとも一つに記載の倒立顕微鏡。 29 台足(F)の内部には台足から引出すことが可能な保持装置(39)が設 けられ、該保持装置には、構成単位および機能単位として形成された蛍光単位( 42又は43)を正しい位置に収容しそして推移させるための手゛段(41,4 1a,44.44a,45.46)が付設されていること(第6b図)を特徴と する、特許請求の範囲第1項から第28項までの一つに記載の倒立顕微鏡。 30 蛍光単位(42又は46)は、光を弱めるフィルタ− (55)、反射鏡 (56)および中心マーク(57)を備えた摺り硝P板(54)を所有している 挿入調整基準体(53)と共に、光軸(4)に対し横方向に推移する(4+b) 様に支承されている収容保持器(41)に交換可能な如く保持されていることを 特徴とする、特許請求の範囲第29項記載の倒立顕微鏡。 参照記号又は参照番号の表 G 顕微硯本体( T+F+A ) δf 自由に開放された(本体)部分 B 観察者 2a 特殊なコンデンサー ろ、 3a, 3b 対象物 4 顕微鏡の光軸 5 双眼プリズム容器 5a 写真鏡筒 6 載せて取付ける面 7 側面取付面 8 透過照明光線束 8a 7イルター 9 第一の方向変換要素 10 落射照明光線束 11 第一の半透明反射鏡 12 第二の方向変換要素(方向変換プリズム)12a 第二の方向変換要素( 反射鏡)13 第一の光学部材 14 第三の方向変換要X(方向変換プリズム)(60) 14a 第三の方向変換要素(反射鏡)i4b 第三の方向変換要素(ペンタプ リズム)15 第二の光学部材 16 第四の方向変換要素(方向変換プリズム)16a 第四の方向変換要素( ゛反射鏡)17 第三の光学部材 18 第五の方向変換要素(ペンタプリズム)18a 第五の方向変換要素(反 射鏡)19 (s)の中の方向変換プリズム 19 a (5)の光学的中心点 20 第六の方向変換要素 21 第七の方向変換要素 22 投影付属品 22 a (22)の摺り硝子板 26 カメラ付属品 24 半透明反射鏡(第二の分岐反射鏡)25 傾倒半透明反射鏡(第三の分岐 反射鏡)26 載物テーブル 27 透過照明単位 28 落射照明単位 29 台腕(A)の旋回軸線 30 切断面 31 (27)を嵌込む位置 32 (28)を嵌込む位置 33 間隔腕 64 第二のコンデンサー 65 透過照明装置 66 距離を変化させるための手段(拘留ねじ)37 (35)内の光源 3 s (F)内の結像光線 69 保持装置(引出し) 39a 矢印((39)を引出す方向)40、40a クリックストップ 41 収容保持器 41a ランク 41b 矢印((41)の推移方向) 42.43 蛍光単位 44 駆動ノブ 44a軸 45 駆動歯車 46 案内棒 47 衝き当て縁 48.49 励起フィルター 50.51 グイクロマチック分割反射鏡52 阻止フィルター 53 挿入調整基準体 54 摺り硝子板 55 光を弱めるフィルター(灰色フィルター)56 反射鏡 57 中心マーク (32) 58 明視野絞り 59 光学部材 60 蛍光光源 [Scope of Claims] t (a) objective lens revolver 1 mounted or fitted in J&; (b) a carrier having means for attaching optical components; (c) J  mounted or fitted on the side; It has an eyepiece prism container that can be attached to the lower surface. (fd) a platform arm with a capacitor system that is attached or fitted into the platform; An inverted microscope with over-illuminated and/or epi-illuminated In the microscope, the carrier table (T), together with the table foot (F) and the protruding table arm (A), form a "C"-shaped microscope. forming a microscopic body (G), directed towards observation 1 (B) and (g) a condenser (2, 2a) or an objective lens (1) and an object (3, 5a, 3b); The optical axis (4) of the microscope, defined by Inverted microscope. 2. (A) & mounted or fitted objective lens revolver - 1 (b) carrying stand with means for attaching parts; (c) mounted on the side; The eyepiece prism container 57 L, which can be attached to the lower surface of the eyepiece prism container, has a funda (21) sensor system attached to or fitted into the lower surface. Comprehensive transmitted illumination and and/or in an epi-illuminated inverted microscope; forming a mirror body (G), directed towards the observer (B); (g) the extension of the platform arm (A) being approximately equal to the extension of the platform foot (F゛); (h) The mounting surface of the binocular prism container (5) is formed as a side mounting surface (7). and is provided in front of the stand arm (A) facing the observer (B), so that the imaging light beam passing through the stand arm (A) passes through the center of the mounting surface (see Fig. 1b). ), a transmitted-illumination and/or epi-illumination inverted microscope. 3 (a) mounted or fitted objective lens revolver 1; (b) carrier with means for mounting optical components; (c) side mounting; and (d) a load table attached to the platform foot or carrier. In an upright microscope, (e) the carrier table (T) together with the table foot (F) and the protruding table arm (A) (22) to be directed toward the observer (B); (g) the protrusion of the base arm (A) to be larger than the protrusion of the base foot (F); (h) the mounting surface of the binocular prism container (5) is formed as a side mounting surface (7); The optical axis of the microscope is provided in front of the stand arm (A) facing towards the observer (B) and thus defined by the objective lens (1) and the object (3, 3a, 3b). (4) is characterized by passing through the center of the binocular prism container (5) (Fig. 1c). An epi-illumination inverted microscope. 4. The carrier table (T) and the optical axis (4) are each approximately vertical, and the table feet (F) and the protruding table arm (A) are each approximately horizontal, and the microscope body. (G) looks like a bent “C” when viewed from the side. The inverted microscope described in claims 1 to 3 is characterized in that: Microscope. 5 Instead of the binocular prism container (5) having a mounting surface or side mounting surface (6 or 7), a binocular prism container having a similar mounting surface or side mounting surface (6 or 7) may be used. characterized in that an intermediate container is fitted with means for connecting to the zum container (5). An inverted microscope according to at least one of claims 1 to 4. 6 The light beam (8) for transmitted illumination traveling inside the stand arm (A) is placed on the optical axis (4) of the microscope, and is directed toward the optical axis23). In particular the capacitor via the first deflection element (9) inclined at 45° -(2 or 2a) (FIG. 2) is an inverted microscope according to item 2 and items 4 and 5. The beam bundle (10) for epi-illumination running inside the Z-pedestal (F) is arranged on the optical axis (4) of the microscope and is made of a translucent light beam inclined at an angle of 45° to the optical axis. An inverted microscope according to at least one of claims 1 to 5, characterized in that it is guided to an objective lens (1) via a reflecting mirror (11) (FIG. 2). 8. The imaging ray bundle starting from the object (3, 3a, 5b) is present inside the pedestal (F) after passing through the objective lens (1) and the semi-transparent reflector (11), and Microscope impact on the second direction changing element (12 or 12a) located on the optical axis (4) of the mirror. then, after passing through the first optical member (13), it hits the third deflection element (14 or 14a or 14b), from where the light beam travels along the carrier (T). Then, the fourth direction change existing inside the platform arm (A) passes through the second optical member (15). after passing through the third optical element (17), the surface (6) on which the binocular prism container (5) is mounted and the first direction-changing element (9) into the redirecting prism (19) located in the binocular prism container (5) via a fifth redirecting element (18 or 18a) located on the optical axis (4) between the An inverted microscope according to at least one of claims 1 to 5 (24). 9 Instead of the fifth deflection element (18 or 18a), a sixth deflection element (20) is arranged outside the optical axis (4) of the microscope, and the imaging light flux is directed from said element in the seventh direction. transformation element (21), which transforms the first direction transformation element (9) and '9. It is placed on the optical axis (4) between it and the surface (6) on which the eyelid container (5) is placed and attached, forming an angle of, for example, 67.5° with respect to the optical axis (4). 9. The inverted microscope according to claim 8, characterized in that: (FIG. 3) 10 In the imaging beam path between the first translucent reflector (11) and the binocular prism container (5), means are provided for optically branching a portion of the imaging beam bundle, and For example, separate structural units and functional units such as projection accessories (22), camera accessories (23), etc. Particularly, the means for connecting the positions is arranged on the side or top surface of the microscope body (G). An inverted microscope according to one of claims 1 to 9. 11. The optical branching means comprises at least one translucent reflector (24 or 25), which is additionally tiltable or insertable into the imaging beam path. An inverted microscope according to claim 10, characterized in that: 12. Means for connecting structural units and functional units that can be mounted on the top or side surfaces shall be arranged on the top or side surfaces of the platform arm (A) or carrier (T), and these structural units 45 and their functions. ? The position is in the imaging ray bundle between the fourth direction changing element (16 or 16a) (25) and the direction changing element (18 or 18a or 21) located on the microscope optical axis (4). (FIG. 4) characterized in that it is optically coupled to the beam path of the microscope via a movable semi-transparent mirror (25) as a beam splitter which can be inserted into the microscope. An inverted microscope according to one of claims 10 and 11. 13 The splitting of a portion of the imaging ray bundle is carried out using a semi-transparent reflector (24) which, if no splitting takes place, is connected to a fourth deflection element (16 or 16a) is exchangeably positioned at the intersection of the vertical support (T) and the horizontal support arm (4) (FIG. 3). Claims: The inverted microscope according to one of paragraphs 10 to 12. 14 The splitting of a part of the imaging beam bundle takes place in the region of the carrier (T), in particular between the third and fourth deflection elements (14, 14a, 14b and 16.6a). An inverted microscope according to one of claims 10 to 12, characterized in that: Microscope. 15. An inverted microscope according to at least one of claims 1 to 5, characterized in that the support table (T) is formed integrally with the table arm (A). 16 Claims 1 to 5, characterized in that the microscope main body (G) that includes the base leg (F), the support base (T), and the base arm (A) is integrally formed. The inverted microscope described in at least one of the preceding paragraphs. (26) 17 Change the relative distance between the object table (26) and the objective lens (1). An inverted S'Z microscope according to one of claims 1 to 16, characterized in that there is a means for adjusting the angle. 18 A feature characterized in that a transmitted illumination unit that can be inserted is arranged on the base arm (A), and an epi-illumination unit that can be inserted on the base foot (F). An inverted microscope according to at least one of claims 1 to 17. 19. The inverted microscope described in patent item 18, characterized in that the illumination unit is provided with means for supplying energy from within. 20. The inverted microscope according to claim 18, characterized in that the attached illumination unit is provided with means for supplying energy from the outside. 21 In the upper and lower parts of the carrier (T) there are electrical and mechanical connections for installing one illumination unit (27 or 28) in each case, especially behind the carrier far from the observer (B). according to at least one of claims 1 to 20, characterized in that mechanical means (61 or 32) are provided (FIG. 2). An inverted microscope. 22 The stand arm (A) is supported so as to be pivotable about one axis (29), which axis coincides with the axis of the imaging beam passing through the carrier stand (T) (5a). , 5b).The inverted microscope according to at least one of claims 1 to 21. 23 The cut plane (60) between the fixed and immovable lower part of the microscope body (G) and the pivotable upper part of the body has a lower limit that is slightly smaller than the objective lens (1). With the load table (26) set at a distance of The inverted microscope according to claim 22, characterized in that the inverted microscope is located within the range of the support base (T) defined by the position (61) into which the light unit (27) is fitted. 24. The loading table (26) is directly held on the pedestal (F) so that it can be adjusted up and down. An inverted microscope according to at least one of claims 1 to 26, characterized in that: (FIG. 6) 25 The patent application is characterized in that the cutting surface (30) is located on the upper surface of the pedestal (F). An inverted microscope according to one of claims 23 and 24. 26. It has a spacing arm (63) in the position (31) where the transmitted illumination unit (27) is inserted, and the transmitted illumination device (35) including the second condenser (34) can be inserted ( 5b)). An inverted microscope according to at least one of claims 1 to 25, characterized in that: In particular, the 2Z transmitted illumination device (35) includes a second condenser (34) and a loading table. Means (36) are provided for varying the distance between the The inverted microscope according to claim 26, characterized in that (FIG. 5b). (28) 28 Energy is supplied from within for the light source (67) in the transmitted illumination device (35). Claims 26 and 26 are characterized in that they are provided with means for supplying and the inverted microscope according to at least one of Item 27. 29 A holding device (39) that can be pulled out from the pedestal is installed inside the pedestal (F). The holding device has means (41, 41a, 44, 44a, 45) for receiving and moving the fluorescent unit (42 or 43) formed as a structural and functional unit into the correct position. .46) (Fig. 6b). 30 The fluorescent unit (42 or 46) has a ground glass P plate (54) with a light attenuating filter (55), a reflector (56) and a center mark (57). An insertion adjustment reference body ( 53) and is exchangeably held in a receiving holder (41) which is supported in a (4+b) manner and which moves transversely to the optical axis (4). The inverted microscope according to item 29. Table of reference symbols or reference numbers G Microscope body (T+F+A) δf Freely open (body) part B Observer 2a Special condenser L, 3a, 3b Object 4 Optical axis of the microscope 5 Binocular prism container 5a Photo mirror Tube 6 Mounting surface 7 Side mounting surface 8 Transmitted illumination beam bundle 8a 7 Ilter 9 First direction conversion element 10 Epi-illumination beam beam 11 First translucent reflecting mirror 12 Second direction conversion element (direction conversion prism) 12a Second direction conversion element (reflector) 13 First optical member 14 Third direction conversion element X (direction conversion prism) (60) 14a Third direction conversion element (reflector) i4b Third direction conversion Element (pentap) Rhythm) 15 Second optical member 16 Fourth direction conversion element (direction conversion prism) 16a Fourth direction conversion element ( ゛Reflector) 17 Third optical member 18 Fifth direction conversion element (pentaprism) 18a Fifth direction conversion element (reflector) 18a Fifth direction conversion element (pentaprism) 18a (projection mirror) 19 Direction converting prism in (s) 19 a Optical center point of (5) 20 Sixth direction converting element 21 Seventh direction converting element 22 Projection accessories 22 a Glass plate in (22) 26 Camera accessories 24 Semi-transparent reflector (second branch reflector) 25 Tilting semi-transparent reflector (third branch reflector) 26 Loading table 27 Transmitted illumination unit 28 Epi-illumination unit 29 Base arm (A) Swivel axis 30 Cutting surface 31 Position to fit (27) 32 Position to fit (28) 33 Spacing arm 64 Second condenser 65 Transmitted illumination device 66 Means for changing distance (retention screw) 37 Inside (35) Light source 3 s Imaging light beam in (F) 69 Holding device (drawer) 39a Arrow (direction to pull out (39)) 40, 40a Click stop 41 Accommodation holder 41a Rank 41b Arrow (transition direction of (41)) 42 .43 Fluorescence unit 44 Drive knob 44a axis 45 Drive gear 46 Guide rod 47 Abutting edge 48.49 Excitation filter 50.51 Gychromatic split reflector 52 Blocking filter 53 Insertion adjustment reference body 54 Grinded glass plate 55 Light weakening filter ( Gray filter) 56 Reflector 57 Center mark (32) 58 Bright field diaphragm 59 Optical member 60 Fluorescent light source
JP50263282A 1981-08-26 1982-08-25 Inverted microscope with transmitted and/or epi-illumination Pending JPS58501443A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0285414U (en) * 1988-12-21 1990-07-04
JP2005208521A (en) * 2004-01-26 2005-08-04 Olympus Corp Lens-barrel optical system
JP2016099281A (en) * 2014-11-25 2016-05-30 高電工業株式会社 Specimen inspection device and specimen inspection system

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