JPS5847372A - 画像走査記録装置における鮮鋭度向上方法 - Google Patents
画像走査記録装置における鮮鋭度向上方法Info
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- JPS5847372A JPS5847372A JP56147481A JP14748181A JPS5847372A JP S5847372 A JPS5847372 A JP S5847372A JP 56147481 A JP56147481 A JP 56147481A JP 14748181 A JP14748181 A JP 14748181A JP S5847372 A JPS5847372 A JP S5847372A
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- JP
- Japan
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- 241000282979 Alces alces Species 0.000 abstract 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 101700004678 SLIT3 Proteins 0.000 description 5
- 102100027339 Slit homolog 3 protein Human genes 0.000 description 5
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/40—Picture signal circuits
- H04N1/409—Edge or detail enhancement; Noise or error suppression
- H04N1/4092—Edge or detail enhancement
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、スキャナ、ファクシミリなどの画像走査記録
装置における複製画像の鮮鋭度向上方法に関する。
装置における複製画像の鮮鋭度向上方法に関する。
従来、製版用カラースキャナなどの画像走査記録装置に
おいて、原画のディテール部分に対応して複製画像の鮮
鋭度を向上させる方法としては、電気光学的なアンシャ
ープマスキングやディファレンシャルマスキング、電気
的なりリスピングやピーキングによる方法がとられてい
た。第１図は、かかる鮮鋭度向上方法の１つであるアン
シャープマスキングを実施するための従来の１例を示す
もので、原画１のある１点を透過した走査光束は、ハー
フミラ−２によって二つめ光束に分割され、原画１の画
素に対応する小さな開口部を有するメインスリット３を
通過して光電変換素子４で光電変換され、他方はそれよ
りも大きい開口部を有するサブスリット５を通過して、
光電変換素子６で光電変換される。そして、前者の光電
変換素子４からメイン信号（画像信号）Ｍが増幅器１ｏ
を介して得られ、後者の光電変換素子６か、らアンシャ
ープ信号Ｕが増幅器１１を介して得られる。
おいて、原画のディテール部分に対応して複製画像の鮮
鋭度を向上させる方法としては、電気光学的なアンシャ
ープマスキングやディファレンシャルマスキング、電気
的なりリスピングやピーキングによる方法がとられてい
た。第１図は、かかる鮮鋭度向上方法の１つであるアン
シャープマスキングを実施するための従来の１例を示す
もので、原画１のある１点を透過した走査光束は、ハー
フミラ−２によって二つめ光束に分割され、原画１の画
素に対応する小さな開口部を有するメインスリット３を
通過して光電変換素子４で光電変換され、他方はそれよ
りも大きい開口部を有するサブスリット５を通過して、
光電変換素子６で光電変換される。そして、前者の光電
変換素子４からメイン信号（画像信号）Ｍが増幅器１ｏ
を介して得られ、後者の光電変換素子６か、らアンシャ
ープ信号Ｕが増幅器１１を介して得られる。
かかるメイン信号Ｍとアンシャープ信号Ｕを使用して、
原画のディテール部に対応する複製画像の鮮鋭度を向上
する従来方法について、第２図の各信号波形を参照しな
がら簡単に説明する。すなわら、第２図（Ａ）の実線で
示す如き波形を有するメイン信号Ｍと、同図（Ａ）の破
線で示す如き波形を有するアンシャープ信号Ｕは、次に
差動増幅器１２に入力されて両信号の差（Ｍ−Ｕ）がと
られ、第２図（Ｂ）に示す如きアンシャープマスク信号
ＵＳＭが出力される。
原画のディテール部に対応する複製画像の鮮鋭度を向上
する従来方法について、第２図の各信号波形を参照しな
がら簡単に説明する。すなわら、第２図（Ａ）の実線で
示す如き波形を有するメイン信号Ｍと、同図（Ａ）の破
線で示す如き波形を有するアンシャープ信号Ｕは、次に
差動増幅器１２に入力されて両信号の差（Ｍ−Ｕ）がと
られ、第２図（Ｂ）に示す如きアンシャープマスク信号
ＵＳＭが出力される。
かかるアンシャープマスク信号ＵＳＭは、次に加算器１
３においてメイン信号Ｍに加算され、最終的に第２図（
Ｃ）に示す如き、ディテール部の強調されたメイン信号
が加算器１３から出力される。
３においてメイン信号Ｍに加算され、最終的に第２図（
Ｃ）に示す如き、ディテール部の強調されたメイン信号
が加算器１３から出力される。
また、かかるアンシャープ信号を作成するための別の公
゛知の手段としては、例えば第３図に示すものがある。
゛知の手段としては、例えば第３図に示すものがある。
すなわら、反射鏡８を、原画１からの光束の結像点に配
置するとともに、それに第１図のメインスリット３に相
当する開口部を設け、該開口部を通過した光束に基づい
てメイン信号Ｍを形成するとともに、当該開口部周縁で
反射され、サブスリット５を通過した光束に基づいてア
ンシャープ信号Ｕを形成する様にしたもので、各光束は
それぞれ第４図に示す如き断面形状を有する。
置するとともに、それに第１図のメインスリット３に相
当する開口部を設け、該開口部を通過した光束に基づい
てメイン信号Ｍを形成するとともに、当該開口部周縁で
反射され、サブスリット５を通過した光束に基づいてア
ンシャープ信号Ｕを形成する様にしたもので、各光束は
それぞれ第４図に示す如き断面形状を有する。
さて、これらアンシャープマスク信号ＵＳＭを形成する
２つの実施例において、暗から明に移る境界線部におけ
るメイン信号Ｍとアンシャープ信号Ｕの各光量の立上り
状態を比較してみると、例えば第５図のようになる。す
なわち、第５図は、横方向にスリット位置をとり、縦方
向に光量をとったグラフであり、同図のＡＢ間はメイン
スリット３の主走査方向の長さに相当し、ＯＤ間はサブ
スリット５の主走査方向の長さに相当している。
２つの実施例において、暗から明に移る境界線部におけ
るメイン信号Ｍとアンシャープ信号Ｕの各光量の立上り
状態を比較してみると、例えば第５図のようになる。す
なわち、第５図は、横方向にスリット位置をとり、縦方
向に光量をとったグラフであり、同図のＡＢ間はメイン
スリット３の主走査方向の長さに相当し、ＯＤ間はサブ
スリット５の主走査方向の長さに相当している。
また、同図の実線はメイン信号Ｍの光量の立上り状態を
表わし、点線は第３図に示す反射ミラー８の開口部周縁
で反射され、サブスリット５を通過した光束のＵ光量の
立上り状態を示し、ＡＢ間では第１図のメインスリット
３に相当する開口部があるため、その勾配がゆるやかに
なっている。さらに、同図１点鎖線は第１図で示すハー
フミラ−２で反射され、メインスリット３より大きなサ
ブスリット５を通過した光束のＵ光量の立上り状態を示
し、００間では一定の勾配で立上っている。
表わし、点線は第３図に示す反射ミラー８の開口部周縁
で反射され、サブスリット５を通過した光束のＵ光量の
立上り状態を示し、ＡＢ間では第１図のメインスリット
３に相当する開口部があるため、その勾配がゆるやかに
なっている。さらに、同図１点鎖線は第１図で示すハー
フミラ−２で反射され、メインスリット３より大きなサ
ブスリット５を通過した光束のＵ光量の立上り状態を示
し、００間では一定の勾配で立上っている。
但し、これらＵ光量およびＭ光量は共に同じ太きさとし
ている。
ている。
この第５図からも明らかなように、第１図の場合と第３
図の場合とにメイン信号Ｍとアンシャープ信号Ｕの差（
Ｍ−Ｕ）を比較してみると、メインスリット３のＡ点お
よびＢ点位置てのピーク値（第２図（Ｃ）に相当するも
の）は、第３図に示す場合の方が、第１図の場合より大
きいことがわかる。
図の場合とにメイン信号Ｍとアンシャープ信号Ｕの差（
Ｍ−Ｕ）を比較してみると、メインスリット３のＡ点お
よびＢ点位置てのピーク値（第２図（Ｃ）に相当するも
の）は、第３図に示す場合の方が、第１図の場合より大
きいことがわかる。
すなわら、本発明者は、アンシャープマスク信号のピー
ク値は、アンシャープ信号Ｕを得るために使用されるス
リットの形状如何によって変化することを見出した。
ク値は、アンシャープ信号Ｕを得るために使用されるス
リットの形状如何によって変化することを見出した。
そこで本発明は、かかる知見に基づいてアンシャープ信
号Ｕを得るためのスリットの形状を改良することにより
、複製画像の鮮鋭度を向上することを目的とするもので
ある。
号Ｕを得るためのスリットの形状を改良することにより
、複製画像の鮮鋭度を向上することを目的とするもので
ある。
前記したように、アンシャープマスク信号のピーク値を
大きくしようとすれば、第５図のＡ点におけるアンシャ
ープ信号の光量を増し、Ｂ点における光量を減らせば良
いことがわかる。
大きくしようとすれば、第５図のＡ点におけるアンシャ
ープ信号の光量を増し、Ｂ点における光量を減らせば良
いことがわかる。
これを実施するため、第３図に示すような開口部付きミ
ラー利用方式の場合には第６図（Ａ）に示す如く、メイ
ンスリットの開口部３の周縁に不透光部分９を設け、第
１図に示す場合は、同図（Ｂ）に示す如く、サブスリッ
ト５の中央部に不透光部分９を設けることにより、アン
シャープマスク信号のピーク値を大きくすることができ
る。
ラー利用方式の場合には第６図（Ａ）に示す如く、メイ
ンスリットの開口部３の周縁に不透光部分９を設け、第
１図に示す場合は、同図（Ｂ）に示す如く、サブスリッ
ト５の中央部に不透光部分９を設けることにより、アン
シャープマスク信号のピーク値を大きくすることができ
る。
かかることは、以下に記述する如く、数式的にも立証し
得るところである。第７図（Ａ）に示す如＜、第１図の
バー７ミラ一方式の場合のアンシャープ信号に対応する
Ｕ光量の立上り直線をＦｌ＋第３図の場合のアンシャー
プ信号に対応するＵ光量の立上り折線をＦ２とし、第７
図で示す如く、スリットに不透光部分９を設けた場合の
アンシャープ信号に対応するＵ光量の立上り折線をＦ、
として、まず、各直（折）線Ｆ１ ｍ ’２ ｓ Ｆ３
を数式で表わせば、次のようになる。なお、横軸は第５
図と同様、スリットの位置関係を示し、これらは、同図
（Ｂ）で詳細δζ定義されている。すなゎら１Ｏ−Ｄｌ
はアンシャープ信号用のスリット（第３図の場合にはサ
ブスリット）の主走査方向の大きさく第５図では品に相
当する）、ｌ １．Ａｏ−ＬＢｏｌはメイン信号用のス
リットの主査方向の大きさく第５図ではＡＢに相当する
）、ｌＬＡ、−ＬＢＩｌはスリットに設けた不透光部分
の主走査方向における大きさをそれぞれ表わしている。
得るところである。第７図（Ａ）に示す如＜、第１図の
バー７ミラ一方式の場合のアンシャープ信号に対応する
Ｕ光量の立上り直線をＦｌ＋第３図の場合のアンシャー
プ信号に対応するＵ光量の立上り折線をＦ２とし、第７
図で示す如く、スリットに不透光部分９を設けた場合の
アンシャープ信号に対応するＵ光量の立上り折線をＦ、
として、まず、各直（折）線Ｆ１ ｍ ’２ ｓ Ｆ３
を数式で表わせば、次のようになる。なお、横軸は第５
図と同様、スリットの位置関係を示し、これらは、同図
（Ｂ）で詳細δζ定義されている。すなゎら１Ｏ−Ｄｌ
はアンシャープ信号用のスリット（第３図の場合にはサ
ブスリット）の主走査方向の大きさく第５図では品に相
当する）、ｌ １．Ａｏ−ＬＢｏｌはメイン信号用のス
リットの主査方向の大きさく第５図ではＡＢに相当する
）、ｌＬＡ、−ＬＢＩｌはスリットに設けた不透光部分
の主走査方向における大きさをそれぞれ表わしている。
先ず、”１ ＋ Ｆ２ の式を示せば、１） ＦＩ
の直線式 ％式％（１） 但し、Ｌはスリットの任意の位置に対応する変数を示し
、ｉｏは立上り後のＵ光量の大きさを示す。
の直線式 ％式％（１） 但し、Ｌはスリットの任意の位置に対応する変数を示し
、ｉｏは立上り後のＵ光量の大きさを示す。
２）Ｆ２の折線を表わす式
第７図中のＡ１点は
ｌ ＬＤ
＝２ ’ ＬＤ＋（ＬＢｆＬＡｏ） ’ ”・−−−−
−−−−−１２１で示すことができ、 同様Ｂ１点は、次の如くなる。
−−−−−１２１で示すことができ、 同様Ｂ１点は、次の如くなる。
したがって、
点０から点ＬＡｏ間のＦ２式は次の１４）式の如くなり
、 ×Ｌ 点しＡｏから点Ｆ８ｏ間のＦ２ 式は、次の（５）式の
如くなる。
、 ×Ｌ 点しＡｏから点Ｆ８ｏ間のＦ２ 式は、次の（５）式の
如くなる。
３）Ｆ３の折線を表わす式は、（Ｆ２を求めたものと同
様にすれば） 点Ｏから点ＬＡ、間の１３式は次の（６１式の如くなり
、 点ＬＡ１から点ＬＢ、間の１３式は次の（７）式の如く
なる。
様にすれば） 点Ｏから点ＬＡ、間の１３式は次の（６１式の如くなり
、 点ＬＡ１から点ＬＢ、間の１３式は次の（７）式の如く
なる。
よって、点Ａ３は、前記１７）式にＬ ＝ ＬＡｏ を
代入して、 となる。
代入して、 となる。
更に（８）式に
として代入すれば、点Ａ３は、
ＬＤ＋２Ｘ
Ａｓ＝１／２ （） ｉｏ ＝−＝・（９）ＸＯ＋Ｌ
Ｄ＋２に 但し、Ｘｏ＞０ 、ＬＤ）Ｑ 、ＬＤ）ｘｏで且つ、Ｘ
の範囲を１７２（ＬＤ−Ｘｏ）＞ｘ＞。
Ｄ＋２に 但し、Ｘｏ＞０ 、ＬＤ）Ｑ 、ＬＤ）ｘｏで且つ、Ｘ
の範囲を１７２（ＬＤ−Ｘｏ）＞ｘ＞。
で表わされる。
この点Ａ３の位置変化による光量の変化を調べるため、
点Ａ３と光量ＩＯの関係をグラフで表わせば、第８図の
ようになる。
点Ａ３と光量ＩＯの関係をグラフで表わせば、第８図の
ようになる。
すなわら、この第８図は縦軸に光量、横軸に不透光部分
９の大きさをとっているが、これより明らかなように、
前記Ｕ光量を得るスリットの形状において、不透光部分
９の主走査方向の巾の値であるＸの値を１／２（ＬＤ−
Ｘｏ）に近づける程、点Ａ３は１／２１ ｏに近づくこ
とになる。換言すれば、当該スリットにおいて、不透光
部分９を大きくずれはする程、第２図（Ｂ）に相当する
アンシャープマスク信号のピーク値が増大し、その結果
、鮮鋭度が向上することがわかる。
９の大きさをとっているが、これより明らかなように、
前記Ｕ光量を得るスリットの形状において、不透光部分
９の主走査方向の巾の値であるＸの値を１／２（ＬＤ−
Ｘｏ）に近づける程、点Ａ３は１／２１ ｏに近づくこ
とになる。換言すれば、当該スリットにおいて、不透光
部分９を大きくずれはする程、第２図（Ｂ）に相当する
アンシャープマスク信号のピーク値が増大し、その結果
、鮮鋭度が向上することがわかる。
一方、カラースキャナなどの画像走査記録装置では、光
電変換手段として、通常光電子増倍管が使用されている
ので、Ｕ光量をある程度以上必要とする。そのため、当
該不透光部分９は、その光電子増倍管の感度によって規
制、される。したがって、実用上の不透光部分９の大き
さは、光電子増倍管の感度との兼ね合いで決定されるこ
とになる。
電変換手段として、通常光電子増倍管が使用されている
ので、Ｕ光量をある程度以上必要とする。そのため、当
該不透光部分９は、その光電子増倍管の感度によって規
制、される。したがって、実用上の不透光部分９の大き
さは、光電子増倍管の感度との兼ね合いで決定されるこ
とになる。
以上要するに本発明にかかる方法は、原画を走査して得
た光束を二分割し、一方からメイン信号を、他方からア
ンシャープ信号を得、これら信号を適宜加減算処理する
ことにより、複製画像の鮮鋭度を向上させるアンシャー
プマスク信号を形成するに際し、前記アンシャープ信号
を得るためのスリットの中心部に、不透光部分を設ける
ことにより、アンシャープマスク信号のピーク値を増大
させるようにした画像走査記録装置における鮮鋭度向上
方法であるから、次の効果を奏する。
た光束を二分割し、一方からメイン信号を、他方からア
ンシャープ信号を得、これら信号を適宜加減算処理する
ことにより、複製画像の鮮鋭度を向上させるアンシャー
プマスク信号を形成するに際し、前記アンシャープ信号
を得るためのスリットの中心部に、不透光部分を設ける
ことにより、アンシャープマスク信号のピーク値を増大
させるようにした画像走査記録装置における鮮鋭度向上
方法であるから、次の効果を奏する。
■ アンシャープ信号を得るスリットの部分に、光を透
過しない不透光部分を設けるだけで、複製画像の鮮鋭度
を向上させることができ、シかもその手段が簡単である
ため、既存のものにも容易かつ安価に適用することがで
きる。
過しない不透光部分を設けるだけで、複製画像の鮮鋭度
を向上させることができ、シかもその手段が簡単である
ため、既存のものにも容易かつ安価に適用することがで
きる。
■ アンシャープ信号のピーク値が大きいため、所定の
値と比較することにより、ノイズ信号を容易に除去する
ことができ、光電変換素子におけるＳ／Ｎ比を改良する
ことができる。
値と比較することにより、ノイズ信号を容易に除去する
ことができ、光電変換素子におけるＳ／Ｎ比を改良する
ことができる。
なお、上記した実施例では、説明の都合上、スリットの
開口部の形状が正方形の場合について記述したが、かか
るスリットの開口部の形状は、円形、矩形などでもよい
。
開口部の形状が正方形の場合について記述したが、かか
るスリットの開口部の形状は、円形、矩形などでもよい
。
第１図は光電的なアンシャープマスキングの１例を示す
概略図、第１図は第１図の実施例に舶ける信号波形図、
第３図はアンシャープマスキングの他の１例を示す光学
系、第４図は第３図における各光束の断面図を示し、第
５図はメイン信号、アンシャープ信号に対応する光量の
立上り状態を示す拡大図、第６図１は本発明にかかるス
リットの１実施例を示す正面図、第７図は本発明にかか
る方法を数式的に説明するため、第５図と同様の拡大図
、第８図はスリット上に形成される不透光部分の主走査
方向における巾と光量との関係を示すグラフである。 １・・・原画、３・・・メインスリット、５・・・サブ
スリット、４，６・・・光電変換素子、９・・・不透光
部分代理人 弁理士 岡 部 吉 彦 シ 第２図 第３図 第４図 手続補正書 １．事件の表示 昭和５６年特許 願第１４７４８１号２、発明の名称 ３、 補Ｂ１ｆｔ６者画像走査記録装置における鮮鋭
度向上方法事件との関係 特許出願人 （１）明細書第１２頁第１６行の［第１図は第１図の１
を１第２図は第１図の」と補正する。 以 −ヒ
概略図、第１図は第１図の実施例に舶ける信号波形図、
第３図はアンシャープマスキングの他の１例を示す光学
系、第４図は第３図における各光束の断面図を示し、第
５図はメイン信号、アンシャープ信号に対応する光量の
立上り状態を示す拡大図、第６図１は本発明にかかるス
リットの１実施例を示す正面図、第７図は本発明にかか
る方法を数式的に説明するため、第５図と同様の拡大図
、第８図はスリット上に形成される不透光部分の主走査
方向における巾と光量との関係を示すグラフである。 １・・・原画、３・・・メインスリット、５・・・サブ
スリット、４，６・・・光電変換素子、９・・・不透光
部分代理人 弁理士 岡 部 吉 彦 シ 第２図 第３図 第４図 手続補正書 １．事件の表示 昭和５６年特許 願第１４７４８１号２、発明の名称 ３、 補Ｂ１ｆｔ６者画像走査記録装置における鮮鋭
度向上方法事件との関係 特許出願人 （１）明細書第１２頁第１６行の［第１図は第１図の１
を１第２図は第１図の」と補正する。 以 −ヒ
Claims (1)
- 原画を走査して得た光束を二分割し、一方からメイン信
号を、他方からアンシャープ信号を得、これらの信号を
適宜加減算処理することにより、複製画像の鮮鋭度を向
上させるアンシャープマスク信号を形成するに際し、前
記アンシャープ信号を得るためのスリットの中心部に、
不透光部分を設けることにより、アンシャープマスク信
号のピーク値を増大させるようにしたことを特徴とする
画像走査記録装置における鮮鋭度向上方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56147481A JPS5847372A (ja) | 1981-09-17 | 1981-09-17 | 画像走査記録装置における鮮鋭度向上方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56147481A JPS5847372A (ja) | 1981-09-17 | 1981-09-17 | 画像走査記録装置における鮮鋭度向上方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5847372A true JPS5847372A (ja) | 1983-03-19 |
Family
ID=15431365
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56147481A Pending JPS5847372A (ja) | 1981-09-17 | 1981-09-17 | 画像走査記録装置における鮮鋭度向上方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5847372A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1158004A (ja) * | 1997-05-19 | 1999-03-02 | Illinois Tool Works Inc <Itw> | スタンドアロン型溶接用電源 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5383801A (en) * | 1976-12-28 | 1978-07-24 | Dainippon Screen Mfg | Mask plate for improving brightness of figure for use in device for scanning and recording figure |
| JPS5429201A (en) * | 1977-08-05 | 1979-03-05 | Dainippon Screen Mfg | Method of taking out sharpnesssheightened signal |
-
1981
- 1981-09-17 JP JP56147481A patent/JPS5847372A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5383801A (en) * | 1976-12-28 | 1978-07-24 | Dainippon Screen Mfg | Mask plate for improving brightness of figure for use in device for scanning and recording figure |
| JPS5429201A (en) * | 1977-08-05 | 1979-03-05 | Dainippon Screen Mfg | Method of taking out sharpnesssheightened signal |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1158004A (ja) * | 1997-05-19 | 1999-03-02 | Illinois Tool Works Inc <Itw> | スタンドアロン型溶接用電源 |
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