JPS5844323A - 圧力センサ - Google Patents
圧力センサInfo
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- JPS5844323A JPS5844323A JP56141852A JP14185281A JPS5844323A JP S5844323 A JPS5844323 A JP S5844323A JP 56141852 A JP56141852 A JP 56141852A JP 14185281 A JP14185281 A JP 14185281A JP S5844323 A JPS5844323 A JP S5844323A
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- pressure sensor
- pressure
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
- G01L9/0051—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in ohmic resistance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/02—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning
- G01L9/04—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning of resistance-strain gauges
- G01L9/045—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning of resistance-strain gauges with electric temperature compensating means
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は流体圧力を電気信号に変換する圧力センサに関
し、特に、流体圧をダイアフラムで受けてダイアフラム
のひずみを電気信号に変換する方式の圧力センサに関す
る。
し、特に、流体圧をダイアフラムで受けてダイアフラム
のひずみを電気信号に変換する方式の圧力センサに関す
る。
この種の圧力センサは一般に、流体の圧力変化をダイア
フラムの変形でとらえ、これに取付けたひずみゲージで
出力を得る構造になっている。そして、従来のものにお
いてはひずみゲージとして金属抵抗線(Ni−Cu系等
)またはピエゾ抵抗形や拡散形の半導体によるものが実
用化されている。
フラムの変形でとらえ、これに取付けたひずみゲージで
出力を得る構造になっている。そして、従来のものにお
いてはひずみゲージとして金属抵抗線(Ni−Cu系等
)またはピエゾ抵抗形や拡散形の半導体によるものが実
用化されている。
しかしながら金属抵抗線ストレインゲージは温度安定性
が高い反面、出力電圧が小さい(8ff!V以下)、最
高使用温度が低い(80℃程度)、最大抗張力が小さく
過大ひずみにより破壊され易い、などの問題点があり、
半導体ストレインゲージにおいては感度(ゲージ率)が
高い反面、温度安定性が低い〔0,1%FS(フルスケ
ール:以下ゝFSと記載する)/℃以上〕、最高使用温
度が低い (100℃)、衝撃力に弱く保護対策が必要
、などの問題点が存在するため、このゲージの特性によ
り圧力センサの応用範囲がかなり制限されているのが現
状である。
が高い反面、出力電圧が小さい(8ff!V以下)、最
高使用温度が低い(80℃程度)、最大抗張力が小さく
過大ひずみにより破壊され易い、などの問題点があり、
半導体ストレインゲージにおいては感度(ゲージ率)が
高い反面、温度安定性が低い〔0,1%FS(フルスケ
ール:以下ゝFSと記載する)/℃以上〕、最高使用温
度が低い (100℃)、衝撃力に弱く保護対策が必要
、などの問題点が存在するため、このゲージの特性によ
り圧力センサの応用範囲がかなり制限されているのが現
状である。
本発明の目的は使用範囲が広く使い易い圧力センサを提
供することである。
供することである。
この目的を達成するため本発明においては、ストレイン
ゲージの材料としてアモーファス金属材料を用いる。こ
のアモーファス金属材料からなる抵抗体は少なくとも4
素子を使用し、各2素子毎の2つのグループは、互いに
直交するダイアフラムの放射方向(中心と円周を結ぶ線
の方向)の線上に、すべての抵抗体を実質上同一の方向
に向けて配置する。各抵抗体はブリッジ回路の各辺を構
成可能とし、そのブリッジ回路の出力から圧力に対応す
る信号を得る。このような構成により圧力をアモーファ
ス金属材料の抵抗値変化として電気信号・に変換しうる
。
ゲージの材料としてアモーファス金属材料を用いる。こ
のアモーファス金属材料からなる抵抗体は少なくとも4
素子を使用し、各2素子毎の2つのグループは、互いに
直交するダイアフラムの放射方向(中心と円周を結ぶ線
の方向)の線上に、すべての抵抗体を実質上同一の方向
に向けて配置する。各抵抗体はブリッジ回路の各辺を構
成可能とし、そのブリッジ回路の出力から圧力に対応す
る信号を得る。このような構成により圧力をアモーファ
ス金属材料の抵抗値変化として電気信号・に変換しうる
。
アモーファス金属材料は、
−4(1)応力に対する電気抵抗の変化が線形でありし
かも応力の増減に対するヒステリシスがほとんどない。
かも応力の増減に対するヒステリシスがほとんどない。
(11)電気抵抗の変化率の最大値(飽和値)が5〜6
96と高く、しかも抵抗率(比抵抗)が結晶質材料の数
倍〔160〜190(μΩ・cPn)〕と高いので応力
に対する抵抗変化の絶対値が著しく高い。
96と高く、しかも抵抗率(比抵抗)が結晶質材料の数
倍〔160〜190(μΩ・cPn)〕と高いので応力
に対する抵抗変化の絶対値が著しく高い。
(11)最大抗張力が著しく高い(200,〜400に
9/M)強靭弾性体であるため過大応力に対する信頼性
が高い。
9/M)強靭弾性体であるため過大応力に対する信頼性
が高い。
(ivl 結晶化温度が500℃程度と高いため最高
使用温度も200℃程度と高い。
使用温度も200℃程度と高い。
M・細薄帯形状のものを容易に得られる(たとえば幅2
0μm、厚さ30μm)ので設計を容易に行ないうる。
0μm、厚さ30μm)ので設計を容易に行ないうる。
という特徴があり、また特にCr元素を少量加えたもの
は弾性ひずみ率が大きく耐食性にも優れるという特性を
有する。
は弾性ひずみ率が大きく耐食性にも優れるという特性を
有する。
このようなアモーファス金属材料をダイアフラムの変形
検出に使用するので圧力センサとしこ応用範囲の広いも
のを提供できる。
検出に使用するので圧力センサとしこ応用範囲の広いも
のを提供できる。
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1a図は一実施例の縦断面図、第1b図はそのIB−
IB線線入大断面図ある。これらにおいて、電気絶縁性
のダイアフラム1はケーシング2の本体2aとキャップ
2bの間に挟まれ支持されている。ダイアフラム1の裏
面(第1a図の下方)にはあらかじめアモーファス薄板
(FevsCrsC8i B)1G)を貼着しそれをエ
ツチング加工して4つの短形波状抵抗体3a、3b、3
cおよび3dを形成しである。各抵抗体3a、3b、3
Cおよび3dは、全て同一の方向(矢印A方向)に向け
られ、ダイアフラム1の中心を囲むようにその中心に対
して3aと3bおよび3cと3dがそれぞれほぼ対称に
配置されている。また各抵抗体3a、3b、3Cおよび
3dはそれぞれその全長に対して矢印B方向に向かう長
さの成分が大きな割合いを占める形状とされ、圧力を受
けない状態において各′抵抗体の電気的特性が実質的に
同一となるように構成されている。抵抗体3aと3Cの
接続箇所にはリード線4aが、抵抗体3Cと3bの接続
箇所にはリード線4bが、抵抗体3bと3dの接続箇所
にはリード線4Cがそれぞれ接続され、抵抗体3aと3
dの一端は、ダイアフラム1とケーシング本体2aに挟
まれたアモーファス薄板3の残りのパターンに接続され
、これを介してケーシング本体2aと接続されている。
IB線線入大断面図ある。これらにおいて、電気絶縁性
のダイアフラム1はケーシング2の本体2aとキャップ
2bの間に挟まれ支持されている。ダイアフラム1の裏
面(第1a図の下方)にはあらかじめアモーファス薄板
(FevsCrsC8i B)1G)を貼着しそれをエ
ツチング加工して4つの短形波状抵抗体3a、3b、3
cおよび3dを形成しである。各抵抗体3a、3b、3
Cおよび3dは、全て同一の方向(矢印A方向)に向け
られ、ダイアフラム1の中心を囲むようにその中心に対
して3aと3bおよび3cと3dがそれぞれほぼ対称に
配置されている。また各抵抗体3a、3b、3Cおよび
3dはそれぞれその全長に対して矢印B方向に向かう長
さの成分が大きな割合いを占める形状とされ、圧力を受
けない状態において各′抵抗体の電気的特性が実質的に
同一となるように構成されている。抵抗体3aと3Cの
接続箇所にはリード線4aが、抵抗体3Cと3bの接続
箇所にはリード線4bが、抵抗体3bと3dの接続箇所
にはリード線4Cがそれぞれ接続され、抵抗体3aと3
dの一端は、ダイアフラム1とケーシング本体2aに挟
まれたアモーファス薄板3の残りのパターンに接続され
、これを介してケーシング本体2aと接続されている。
キャップ2bの内面のリング状の構にはOリング5が挿
入されており、キャップ2bとダイアフラム1とで形成
される空間6が気密にされている。7はキャップ2bに
形成された、空間6に連通する流体圧印加ポートである
。なお各リード線4a、4bおよび4Cはダイアフラム
1の変形を妨げない十分に柔らかいものである。
入されており、キャップ2bとダイアフラム1とで形成
される空間6が気密にされている。7はキャップ2bに
形成された、空間6に連通する流体圧印加ポートである
。なお各リード線4a、4bおよび4Cはダイアフラム
1の変形を妨げない十分に柔らかいものである。
この実施例の動作、を説明する前に、基本原理すなわち
アモーファス金属材料の張力に対する抵抗値変化につい
て述べる。
アモーファス金属材料の張力に対する抵抗値変化につい
て述べる。
長さlのアモーファス薄帯の抵抗値をR〔Ω〕 とする
と、張力によって生ずる抵抗値の変化ΔRはほとんどア
モーファス薄帯ののびΔlのみに関係し、薄帯の抵抗率
およびその体積はのびΔeにかかわらず一定であり次式
が成立する。
と、張力によって生ずる抵抗値の変化ΔRはほとんどア
モーファス薄帯ののびΔlのみに関係し、薄帯の抵抗率
およびその体積はのびΔeにかかわらず一定であり次式
が成立する。
したがってアモーファス金属材料においては、Δl/1
は最大で3%程度であるから最大の抵抗変化率ΔR/R
は6%程度となる。この値(696)は結晶質金属抵抗
線の場合よりも大きく、また同二形状(長さおよび断面
積)試料の抵抗変化の絶対値は、抵抗率に比例するから
結晶質金属抵抗線の場合の数倍である。さらにヤング率
についてみるとアモーファス金属材料は10’Ky/−
程度で結晶質材料よりも20〜b 応力に対するのびの効率が高い。
は最大で3%程度であるから最大の抵抗変化率ΔR/R
は6%程度となる。この値(696)は結晶質金属抵抗
線の場合よりも大きく、また同二形状(長さおよび断面
積)試料の抵抗変化の絶対値は、抵抗率に比例するから
結晶質金属抵抗線の場合の数倍である。さらにヤング率
についてみるとアモーファス金属材料は10’Ky/−
程度で結晶質材料よりも20〜b 応力に対するのびの効率が高い。
第3図は第2図に示す実験回路のように、Fe78Cr
3(Si−B)t9のアモ−77ス薄帯(輻lux、厚
さ35μm、長さ10(1m11)を真鍮の圧着端子に
装着して10mAの直流定電流を流し、加重Qを印加し
て圧着端子間の電圧を測定した結果番示す張力−抵抗変
化率(ΔR/R’)特性のグラフである。この測定にお
いては荷重Qを、0〜7 KPまで増加した後OKPま
で徐々に減少させたが、抵抗値変化ΔR/Hのヒステリ
シスは最大で0.6796FSであり、また4、 5
KPの荷重(ΔR/Rは約3%)までの直線性は0.6
96FS以下と良好であった。なおこの測定においては
薄帯にあらかじめ4 KPの荷重を400回印加して応
力分布を定常化しである。
3(Si−B)t9のアモ−77ス薄帯(輻lux、厚
さ35μm、長さ10(1m11)を真鍮の圧着端子に
装着して10mAの直流定電流を流し、加重Qを印加し
て圧着端子間の電圧を測定した結果番示す張力−抵抗変
化率(ΔR/R’)特性のグラフである。この測定にお
いては荷重Qを、0〜7 KPまで増加した後OKPま
で徐々に減少させたが、抵抗値変化ΔR/Hのヒステリ
シスは最大で0.6796FSであり、また4、 5
KPの荷重(ΔR/Rは約3%)までの直線性は0.6
96FS以下と良好であった。なおこの測定においては
薄帯にあらかじめ4 KPの荷重を400回印加して応
力分布を定常化しである。
第4図は荷重を4 KPとしてその印加回数に対する端
子間電圧の変化を測定した結果を示すグラフである。こ
の測定においては印加回数約100回以上で出力電圧の
変化がな(なり定常状態に達した。
子間電圧の変化を測定した結果を示すグラフである。こ
の測定においては印加回数約100回以上で出力電圧の
変化がな(なり定常状態に達した。
第5図は上記のものと同一のアモーファス薄帯を350
℃の温度で2分間加熱急冷して4 KPの荷重5Qを4
00回印加した後に、4 KPの荷重Qを印加して抵抗
変化率ΔR/Rを周囲温度(T)を変化させて測定した
結果を示すグラフである。この測定においては、T二1
95℃以下ではΔR〆Rはほとんど一定(0,5%FS
以下)でありT ) 200℃でΔR/Rが増大する傾
向にあった。
℃の温度で2分間加熱急冷して4 KPの荷重5Qを4
00回印加した後に、4 KPの荷重Qを印加して抵抗
変化率ΔR/Rを周囲温度(T)を変化させて測定した
結果を示すグラフである。この測定においては、T二1
95℃以下ではΔR〆Rはほとんど一定(0,5%FS
以下)でありT ) 200℃でΔR/Rが増大する傾
向にあった。
第6図は第1b図の抵抗体3aの部分拡大平面図である
。
。
第1a図に示す流体圧印加ボート7に圧力が印加される
と空間6内の圧力が上昇してダイアフラム1が変形する
。このときダイアフラム1にはその放射方向に張力が加
わり、この張力は各抵抗体3a。
と空間6内の圧力が上昇してダイアフラム1が変形する
。このときダイアフラム1にはその放射方向に張力が加
わり、この張力は各抵抗体3a。
3b、3cおよび3dにも印加される。そこで第6図を
参照して抵抗体3aについてみると、抵抗体3aには矢
印B方向の張力が印加されるので矢印B方向の長さLl
がL’tにのびることになる。一方、抵抗体3Cについ
てみると、張力の方向は矢印A方向となるので矢印A方
向の長さL2がL’2にのびることになるが、このパタ
ーンの形状はLl)L2となっているのでΔL2(L’
+ L2)はΔLx (L’t −Lt )に対して
無視しうる。抵抗体3bは3aと同じ(大きなのびを生
じ、抵抗体3dは3Cと同じくほとんど長さが変化しな
い。ところで、前記したようにアモーファス金属材料(
薄帯)の抵抗値はその・長さ (のび)によって変化す
るので、抵抗体3aおよび3bは張力を受けるとそれに
応じて抵抗値が変化する。
参照して抵抗体3aについてみると、抵抗体3aには矢
印B方向の張力が印加されるので矢印B方向の長さLl
がL’tにのびることになる。一方、抵抗体3Cについ
てみると、張力の方向は矢印A方向となるので矢印A方
向の長さL2がL’2にのびることになるが、このパタ
ーンの形状はLl)L2となっているのでΔL2(L’
+ L2)はΔLx (L’t −Lt )に対して
無視しうる。抵抗体3bは3aと同じ(大きなのびを生
じ、抵抗体3dは3Cと同じくほとんど長さが変化しな
い。ところで、前記したようにアモーファス金属材料(
薄帯)の抵抗値はその・長さ (のび)によって変化す
るので、抵抗体3aおよび3bは張力を受けるとそれに
応じて抵抗値が変化する。
第7図は第1a図の等価回路を示す回路図である。
抵抗体3a、3b、3cおよび3dはブリッジ接続され
ており、リード線4bとケーシング2の間に電圧(直流
または交流)が印加された状態において、圧力がボート
7に印加されないときにはブリッジは平衡して出力(リ
ード線4a、4C間)には電圧が現われない。すなわち
、抵抗体3a。
ており、リード線4bとケーシング2の間に電圧(直流
または交流)が印加された状態において、圧力がボート
7に印加されないときにはブリッジは平衡して出力(リ
ード線4a、4C間)には電圧が現われない。すなわち
、抵抗体3a。
3b、3cおよび3dの抵抗値をそれぞれRat Rb
。
。
RcおよびRdとすると、ブリッジの平衡条件RaRb
=Rc Rdが成立している。ボート7に圧力が印加さ
れると抵抗体3aおよび3bの抵抗値は、それに応じて
変化してそれぞれR’aおよびR() (Ra>Ra。
=Rc Rdが成立している。ボート7に圧力が印加さ
れると抵抗体3aおよび3bの抵抗値は、それに応じて
変化してそれぞれR’aおよびR() (Ra>Ra。
Rd>Rb’)となる。したがってブリッジは平衡がく
ずれ、出力には印加された圧力に対応する電圧が現われ
る。周囲温度が変化するとき、各抵抗体3a、3b、3
cおよび3dはすべて同一の抵抗値変化を生ずるので、
ブリッジ全体の特性は温度の影響を受けない。
ずれ、出力には印加された圧力に対応する電圧が現われ
る。周囲温度が変化するとき、各抵抗体3a、3b、3
cおよび3dはすべて同一の抵抗値変化を生ずるので、
ブリッジ全体の特性は温度の影響を受けない。
第8図は本発明のもう1つの実施例を示!ダイアフラム
1の平面図である。この実施例において抵抗体3a、3
b、3cおよび3dは、それぞれにおいて主体となる部
分が実質上同一の方向(矢印B方、向)に揃えであるが
、厳密には抵抗体3aおよび3bではダイアフラム1の
放射方向、抵抗体3cおよび3dではその放射方向と直
交する円周方向に揃えである。
1の平面図である。この実施例において抵抗体3a、3
b、3cおよび3dは、それぞれにおいて主体となる部
分が実質上同一の方向(矢印B方、向)に揃えであるが
、厳密には抵抗体3aおよび3bではダイアフラム1の
放射方向、抵抗体3cおよび3dではその放射方向と直
交する円周方向に揃えである。
以上のとおり本発明の圧力センサは、ダイアプラムの変
形(ひずみ)を電気信号に変換する手段がアモーファス
金属材料で構成されるので、アモーファス金属材料の有
する数多くの長所により広い範囲に応用でき、しかも、
各抵抗体はブリッジ接続されるため出力には温度変化に
対するドリフトが生じない。
形(ひずみ)を電気信号に変換する手段がアモーファス
金属材料で構成されるので、アモーファス金属材料の有
する数多くの長所により広い範囲に応用でき、しかも、
各抵抗体はブリッジ接続されるため出力には温度変化に
対するドリフトが生じない。
第1a図は本発明の一実施例を示す圧力センサの縦断面
図、第1b図はそのIB−IB線拡大断面図である。第
2図はアモーファス薄帯の電気的特性を測定するための
構成を示す回路図、第3図。 第4図および第5図はそれぞれアモーファス薄帯の荷重
−抵抗変化率特性、荷重印加回数一端子間電圧特性およ
び温度−抵抗変化率特性を示すグラフである。第6図は
抵抗体3aの部分拡大平面図。 第7図は第1図に示す実施例の等価回路図、第8図は本
発明のもう1つの実施例を示すダイアフラムと抵抗体の
平面図である。 1:ダイアフラム 2:ケーシング2a:本 体
2b:キャップ3:アモーファス薄板 3
a、3b、3c、3d :抵抗体4a、4b、4c :
リード線 5:Oリング6:空 間
7:流体圧印加ボート′1PJG図 1・ 列8図 第7図 C 8
図、第1b図はそのIB−IB線拡大断面図である。第
2図はアモーファス薄帯の電気的特性を測定するための
構成を示す回路図、第3図。 第4図および第5図はそれぞれアモーファス薄帯の荷重
−抵抗変化率特性、荷重印加回数一端子間電圧特性およ
び温度−抵抗変化率特性を示すグラフである。第6図は
抵抗体3aの部分拡大平面図。 第7図は第1図に示す実施例の等価回路図、第8図は本
発明のもう1つの実施例を示すダイアフラムと抵抗体の
平面図である。 1:ダイアフラム 2:ケーシング2a:本 体
2b:キャップ3:アモーファス薄板 3
a、3b、3c、3d :抵抗体4a、4b、4c :
リード線 5:Oリング6:空 間
7:流体圧印加ボート′1PJG図 1・ 列8図 第7図 C 8
Claims (3)
- (1)圧力を受けて放射方向に張力を生ずるダイアフラ
ム; ダイアフラムを支持するケーシング;および、互いに直
交するダイアフラムの放射方向上の位置に少なくともそ
れぞれ2つ同一の方向に向けてダイアフラム上に配置さ
れたアモーファス金属材料からなる抵抗体; を備え、各抵抗体はその全体の長さに対して大きな割合
いを占める部分が実質上同一の方向に揃ルてあり、それ
らの抵抗体は、ダイアフラムの放射方向が直交する位置
にあるものを互いに隣り合う辺とするブリッジ回路の接
続としうる構成とした圧力センサ。 - (2)抵抗体は4つであり、それらの電気的特性は定常
状態において全て等しいものとした前記特許請求の範囲
第(1)項記載の圧力センサ。 - (3)抵抗体は短形波状のパターンとした前記特許請求
の範囲第(1)項または第(2)項記載の圧力センサ。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56141852A JPS5844323A (ja) | 1981-09-09 | 1981-09-09 | 圧力センサ |
DE3233356A DE3233356C2 (de) | 1981-09-09 | 1982-09-08 | Druckmeßfühler |
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