JPS5836535A - 超音波診断装置 - Google Patents

超音波診断装置

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JPS5836535A
JPS5836535A JP56132747A JP13274781A JPS5836535A JP S5836535 A JPS5836535 A JP S5836535A JP 56132747 A JP56132747 A JP 56132747A JP 13274781 A JP13274781 A JP 13274781A JP S5836535 A JPS5836535 A JP S5836535A
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JP
Japan
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transducer array
circuit
moving means
scanning
ultrasonic
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JP56132747A
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JPS6355936B2 (ja
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昌徳 野口
井上 誉恒
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Yokogawa Electric Works Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、超音波ビームを生体のような被検体に投射し
て、生体組織内の状況を診断する超音波診断装置に関す
るものである。更に詳しくは、本発明は、超音波振動素
子の巾をせまくすることなく走査線密度を増加させるこ
とのできる超音波診断装置に関するものである。
超音波ビームのリニア走査は、一般に、N個の超音波振
動子を一列に並べて構成されるプローブにおいて、N個
の振動子のうちのn個(n < N )を1組とし、こ
れを1個づつ移動させながら駆動することによって行な
われる。この場合の走査線の総数は、No+1本となる
。例えば、N=128、n=8の場合、121本の走査
線数となる。この走査線数を増加、すなわち、振動子の
数Nを増加させれば、高解偉度、高品質の断層僚を得る
ことができるが、Nを増大させると、振動子の巾が狭く
なり、製造上の困難が加わったり、また駆動が困難とな
ったりする。
従来、走査線数を増大させるのに、特開昭52−687
75号公報や、特開昭52−152785号公報にみら
れるように、同時に駆動する振動子の数口を、一定周期
ごと[1個又は奇数側増減するようにしたものも提案さ
れている。しかしながら、これによって増大される走査
線の数は、せいぜい2倍であって、これ以上にすること
はできないし、また、駆動回路が複数となる欠点を有し
ている。
ここにおいて、本発明は、簡単な構成で、容易に走査線
本数の増大を行なうことができ、高解像度、高品質の断
層儂を得ることのできる超音波診断装置を実現しようと
するものである。
本発明に係る装置は、複数個の振動子を配列した超音波
振動子アレイを機械的に僅かづつ移動させつつ、超音波
ビームをリニア走査するようにした点にひとつの4I徽
がある。
第1図は本発明に係る装置に用いられるプローブ(探触
子)の−例を示す構成斜視図、@2図は本発明に係る装
置の一実施例を示す構成ブロック図である。
これらの図において、1はプローブケース、2は本体と
プローブとを結ぶケーブルである。
プローブケース1内には、複数個の超音波振動子a1、
l、−5・・・snが配列して構成され、かつ、プロー
ブケース1に対して機械的に移動可能なように設置され
た振動子アレイ11と、この振動子アレイ11の駆動回
路(スキャナ)12、振動子アレイ11に機械的に結合
し、この振動子アレイ11を振動子の配列方向(走査方
向)に、僅かづつ機械的に移動させる移動手段13及び
この移動手段15の駆動回路14とが収容されている。
なお、駆動回路12及び駆動回路14は、本体側に設置
しでもよい。
第3図は、振動子アレイ15を機械的に僅かづつ移動さ
せる移動手段14の一例を示す構成図である。
この移動手段14は、圧電素子の伸縮変位を利用したも
のであって、電極板を有する圧電材料基板b1、b2、
bsvbaを絶縁シートを介して複数枚(ここでは4枚
)積層して構成したものである。ここで、圧電材料基板
b1、b2・・・とじては、チタン酸バリウム(BaT
l og )系、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)系の
磁器、あるいはポリフッ化ビニリデンのような高分子系
の圧電材料を用いることができる。
このよ5に構成した移動手段において、各圧電材料基板
b+、b2・・・K1スイッチ1、s2・・・を介して
駆動電圧Eを順次印加すると、一端の移動量(変位量)
を、ひとつの圧電材料基板の厚さの伸びΔ!を最小単位
とし、2・4ノ、5・ツノ・川・・のよう順次増大させ
ることができる。
第1図及び第2図に戻り、15は駆動回路12と振動子
アレイ11とを結ぶフレキシブルワイヤ、16はプロー
ブケース1において、被検体との接触面に設置すた音響
レンズ、17は振動子7レイ11と音響レンズ16との
間に介在されたゲル剤で、振動子からの超音波ビームは
、このゲル剤17、音響レンズ16を介して、被検体l
IK出射するようKなっている。
3はクロックパルス発生器、4はこのクロックパルス発
生器3からのクロックパルスを入力とする制御回路であ
る。この制御回路4は、スキャナとしての機能をもつ駆
動回路12及び駆動回路14に制御信号を送出し、各駆
動回路12.14は、後述するよ5に各振動子、及び移
動手段13を所定の順番で順次駆動することKよって、
超音波ビームをリニア走査させる。
5は遅延回路、61は送信回路、62は受信回路、7は
Bモード用の輝度変調信号を発生する電圧発生回路、8
はブラウン管のような表示器、9はクロック信号発生器
3からのクロック信号を入力とする走査回路である。遅
延回路5は、複数個のそれぞれ遅延時間の異なった遅延
素子を含んでおり、送信回路61からの信号あるいはス
キャナとしての機能をもつ駆動回路12を介して印加す
る各振動子からの受信信号に遅延時間を与えて電子フォ
ーカス等を行う。表示器8は、電圧発生回路7からの信
号が輝度変調情報として与えられ、また、走査回路9か
らの信号が偏向信号として与えられている。
このよう忙構成した装置の動作を次に第4図及び第5図
を参照しながら説明する。
クロックパルス発生器3からは、第4図(イ)K示すよ
うな一定周期のクロックパルス(時間軸が図の縦方向に
ある)を発生している。このクロックパルスの周期は、
診断距離との関係で決められる。
制御回路4は、例えばマイクロプロセッサを含んで構成
されており、はじめに駆動回路12を介して、第4図■
に示すよ5K、多数の振動子a1〜a口までを、振動子
1〜a5、a2〜麿6、a5〜畠ア・・・・・・のよう
に順次1個づつずらせて駆動し、リニア走査を行なう。
ここでは、振動子をひとつだけずらせつつ5測量時に駆
動しているが、同時に駆動する振動子の数は5個以外の
他の数でもよい。各振動子から出た超音波ビームは、ゲ
ル剤17、音響レンズ16を通って被検体く投射され、
被検体内においてふたつの組織の境界面で反射し、この
反射パルスが、音響レンズ16、ゲル剤17を通って同
じ振動子によって受信される。各振動子からの受信信号
は、フォーカス回路としての役目をする遅鷺回路5を介
した後、受信回路62で受信され、信号処理がなされ、
電圧発生回路7に印加される。走査回路9は、クロック
パルスの周期ごとに診断距離に応じた信号および各振動
子からの超音波ビーム中心位置に応じた信号を発生する
。表示器8は、電圧発生回路7からの信号を輝度変調情
報として、また走査回路9からの各信号を偏向信号とし
てそれぞれ入力し、Bモード表示を行なう、このような
、リニア走査は従来のリニア走査と変るところはない。
次に、制御回路4は、第4図■に示すように駆動回路1
4を介して、移動手段13の例えば圧電材料基板b+に
電圧を加え、この状態で、各振動子を順次、ll〜ms
 、  12〜86、as A−a7 ””’のように
順次1個づつずらせて駆動し、リニア走査を行う。
ここで、移動手段14において、圧電材料基板bl[電
圧が印加されると、その厚さが例えばd15(dは各振
動子間の距離)だけ伸び、これKよって振動子アレイ1
1が矢印O方向に、機械的にd15だけずれた位置に移
動し、との状態でリニア走査が行なわれる。したがって
、この状態での各超音波ビームの中心位置は、第5図破
線■に示すよ5に前記■の状態での超音波ビームの中心
位置(第5図実線の)K対して、d15だ1すずれるこ
ととなる。
次に、制御回路4は、第4図■に示すように駆動回路1
4を介して、移動手段1jの圧電材料基板b1、b2に
電圧を加え、振動子アレイ11を■の状態から2d15
だけ移動させた状態で、各振動子を順次1側づつずらせ
て駆動し、リニア走査を行う。この状態での各超音波ビ
ームの中心位置は、第5図一点鎖線■に示すように前記
■の状態での超音波ビームの中心位置に対して2d15
、前記■の状態での超音波ビームの中心位置に対しては
d15だけずれることとなる。
以下、同じよ51Cして、移動手段14の圧電材料基板
b+〜blに電圧を加えた状It(第4図■参照)、移
動手段14の圧電材料基板b1〜baK電圧を加えた状
態(第4図■参照)で、それぞれリニア走査を実施する
以後、前記■〜■を繰返しながら、リニア走査を行う。
なお、ここでは、各振動子1〜麿、を−通り駆動するこ
とによって、−回のリニア走査を完了し、この−回のl
Iニア走査ととに振動子アレイを僅かづつ移動させたも
ので、これKよって、振動子アレイの機械的な移動回数
を減少させるとともに、一枚の画儂をで會るだけ早く得
られるようKしたものであるが、これらを考慮する必要
のない場合には、振動子1〜16を5回駆動し、この間
圧振動子アレイを互〜4dまで順次移動させ1次5 に振動子1〜麿6を5回駆動し、同じように振動子アレ
イをA〜ん移動させるような駆動手法とし5 てもよい。
このようK、振動子アレイを機械的に僅かづつ移動させ
、リニア走査を行わせると、各超音波ビームの中心位置
の相互間隔は、第5図に示すように振動子の相互間隔d
より狭い間隔(この実施例ではTd )とすることがで
き、走査線総数を増大(この実施例では5倍)させるこ
とができる。
振動子7レイを機械的に僅かづつ移動させ、リニア走査
をして得られる各画儂は、表示器8の残光あるいは目の
残光による合成、また、必要(応じてメモリ手段等を用
いて行なわれる合成によって、高解僚度、高品質の断層
儂を得ることができる。
なお、上記の実施例では、振動子アレイ11の移動手段
をll[にひとつだけ設けたものであるが、振動子アレ
イの残りの側面にも移動手段を設置してもよい。また、
この移動手段は、圧電材料基板の厚味方向伸びを利用し
たが、印加する電圧の極性を変え、縮み、あるいは伸び
と縮みの組合せを利用してもよい。移動手段として、こ
こに示した圧電材料基板を用いると、全体の構成及びそ
の駆動回路をフンバクトにできるが、これに代えて、ツ
ーオースコイルやリニアステップモータ等を用いてもよ
い。
以上説明したように、本発明によれば、簡単な構成で、
容易に走査線本数の増大を行うことができ、高解像度、
高品質の断層儂を得ることのできる超音波診断装置が実
現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る装置に用いられるプローブの一例
を示す構成斜視図、第2図は本発明に係る装置の一実施
例を示す構成ブロック図、第5図は第1図に使用されて
いる移動手段の一例を示す構成図、第4図は第2図装置
の動作の一例を説明するための説明図、第5図は超音波
ビームの走査例を示す説明図である。 1・・・プループケース、2・・・ケーブル、11・・
・振動子7レイ、烏1.12、ms・・・超音波振動子
、12・・・駆動回路(スキャナ)、13・・・移動手
段、14・・・駆動回路、16・・・音響レンズ、17
・・・ゲル剤、3・・・クロックパルス発生器、4・・
・制御回路、5・・・遅延回路、61・・送信回路、6
2・・・受信回路、7・・・電圧発生回路、8・・・表
示器、9・・・走査回路。 オ  3[21] オ   5   区

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  複数個の超音波振動子を配列して構成される
    振動子アレイと、この振動子アレイに結合し前記超音波
    振動子の配列方向であって超音波振動子の配列間隔より
    小さい僅かな距離を単位としてこの振動子アレイを機械
    的に移動させる移動手段とを真値し、前記振動子アレイ
    を超音波振動子の配列方向に前記僅かな距離を単位とし
    て移動させつつ、超音波ビームをリニア走査するように
    した超音波診断装置。
  2. (2) 移動手段として、複数個の圧電材料基板を積層
    して構成されるものを用い、前記圧電材料基板の伸縮に
    よる変位を利用して振動子7レイを移動させるようKし
    た特許請求の範囲第1項記載の超音波診断装置。 a>リニア走査を実施するごとに振動子アレイを僅かな
    距離づつ移動させるようにした特許請求の範囲第1項記
    載の超音波診断装置。
JP56132747A 1981-08-26 1981-08-26 超音波診断装置 Granted JPS5836535A (ja)

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JP56132747A JPS5836535A (ja) 1981-08-26 1981-08-26 超音波診断装置

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JPS6355936B2 JPS6355936B2 (ja) 1988-11-04

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60158846A (ja) * 1984-01-28 1985-08-20 株式会社島津製作所 超音波診断装置における超音波ビ−ムの走査方法
JPS60165544A (ja) * 1984-02-08 1985-08-28 Hitachi Ltd アレイ型超音波プロ−ブ

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60158846A (ja) * 1984-01-28 1985-08-20 株式会社島津製作所 超音波診断装置における超音波ビ−ムの走査方法
JPS60165544A (ja) * 1984-02-08 1985-08-28 Hitachi Ltd アレイ型超音波プロ−ブ
JPH0434697B2 (ja) * 1984-02-08 1992-06-08 Hitachi Ltd

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JPS6355936B2 (ja) 1988-11-04

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