JPS5831625B2 - 時定数可変積分器 - Google Patents

時定数可変積分器

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JPS5831625B2
JPS5831625B2 JP904177A JP904177A JPS5831625B2 JP S5831625 B2 JPS5831625 B2 JP S5831625B2 JP 904177 A JP904177 A JP 904177A JP 904177 A JP904177 A JP 904177A JP S5831625 B2 JPS5831625 B2 JP S5831625B2
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JP
Japan
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integrator
time constant
variable time
changes
radiation
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Expired
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JP904177A
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English (en)
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JPS5394151A (en
Inventor
秀明 高殿
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は放射線応用測定機器などに使用する積分器に
関するものである。
放射線応用測定機器は、放射線と被測定物との相互作用
によって得られる放射線の数又は強度を測定する事によ
って、被測定物に関する情報を得るものである。
この時得られる放射線の数をNとすると、放射線発生の
偶然性から、Nは、標準偏差JRをもつ。
この標準偏差aによる誤差を統計誤差と称する。
相対的な統計誤差は標準偏差J□を放射線の数Nで除し
たものであり1/Jマで与えられ、実質的な統計誤差を
示している。
Nは単位時間あたりの放射線数nと、測定時間tとの積
であるから、相対的統計誤差は1/ψnで与えられる。
高精度の放射線応用測定機器に於いては、相対的統計誤
差を小さくする為、ntの値を大きくする必要があるが
nを大きくするには限界があり、−力、tを長くすると
、測定する物理量の時間的変化に対する対応性が悪くな
る。
この欠点は、特にアナログ積分器を使用する放射線応用
測定機器について重要である。
この発明はこのような欠点を解消するため、なされたも
ので、応答性が良く、シかも相対的統計誤差の小さい時
定数可変積分器を提供するものである。
以下第1図に示すこの発明の一実施例について説明する
第1図に於いて入力einは、加算器2及び減算器3に
接続され、加算器2の出力e2は積分器1に、積分器1
の出力e。
utは減算器3に、減算器3の出力e1は加算器2に各
々接続されている。
1は最も一般的な積分器であって、その入出力の関係は
次の微分方程式で与えられる。
CsR1/(1+α)に置き換えたものであるから、第
1図の回路は、時定数CI Rt/ (1+α)を持つ
積分器と等価であり、しかもαはelの値によって、第
4式に従って変化する。
einがステップ状に変化する場合のe。
utの変化を第2図に示す。時刻t1に於いて■、であ
ったe。
utは、eout〈■2−βである間は時定数C1R1
/10の速さで■2−βに到達する。
■2−β〈eou、<■2+βの範囲内では、時定数は
、C1R1と長くなる。
第3図に、この発明の放射線応用測定機器への応用例を
示す。
第3図に於いて、放射線信号は、最初に前置積分器4(
時定数τ)によって積分され、次に時定数可変積分器5
によって積分される。
時定数可変積分器5は第1図に示したものと同一であり
、その時定数C1R1はτに比べて十分太きいものとす
る。
被測定物理量がステップ状に変化する場合の各信号の変
化を第4図に示す。
放射線信号は一般にランダムなパルス列として観測され
る。
物理量の変化は平均パルス頻度の変化としてあられれる
だから放射線信号を積分することによって、被測定物理
量を、アナログ電気信号に変換する事が出来る。
積分器の時定数が短かい場合は、effinのグラフの
如く、被測定物理量の変化に対する応答性は良いが統計
誤差は大きくなる。
一方、積分器の時定数が長い場合はe。
utのグラフの内、破線によって示す如く、統計誤差は
小さくなるが、反答性が悪い。
一力、第2図について述べた様に、時定数可変積分器で
は、einが大きく変化する場合は時定数が短かく、e
inが小さく変化する場合には時定数が長くなるから、
eoutは、第4図の実線で示した如く変化する。
すなわち、速い応答性と小さい統計誤差とを両立させる
事が出来る。
次に第5図に示すこの発明の他の一実施例について説明
する。
第5図に於いて、積分器1、加算器2、減算器3は、各
々演算増幅器を中心に構成されている。
又、反転増幅器4が加算器2と、積分器1との間にそう
人されている。
減算器3の出力は次式で与えられる。
反転増幅器4は加算器2と組合されて、−個の加算器を
構成し、その出力e2は次式で与えられる。
の関数である。
ダイオードDI、D2が順電圧0.6V、順方向の動作
抵抗がゼロ、逆電流がゼロであると仮定すると、f (
ein p eou t)は第6図の如きグラフとなる
第9式を次の様に変形する。第7図の如きグラフとなる
第10式を第2式、第3式と対比すると、α(ein、
eout)は第3式のαに対応しているから、第5図の
回路は時定数C1Rt/(1+α)を持つ積分器であり
、しかもαはeins eoutの値によって第7図
の如く変化する。
第8図に、第4式に基づくαのグラフを示す。
第7@と第8図を比較すれば、入力のステップ状の変化
に対し、第5図の回路が第1図の回路と同様の効果を持
つ事が理解できる。
なお、以上は放射線応用測定機器の場合について説明し
たが、この発明はこ机に限らず、速い応答性と長い時定
数とを必要とする積分器が要求される他の分野に使用し
てもよい。
以上のように、この発明に係る時定数可変積分器では、
入出力の差によって、時定数を変化させる事によって、
速い応答性と小さい統計誤差とを両立させる効果を有す
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す回路図、第2図は第
1図の回路の動作説明図、第3図は、この発明の放射線
応用測定機器への応用例の回路図、第4図は第3図の回
路の動作説明図、第5図はこの発明の他の一実施例を示
す回路図、第6図、第7図、第8図は第5図の回路の動
作説明図である。 図中、1は積分器、2は加算器、3は減算器、4は前置
積分器、5は時定数可変積分器、なお図中、同一あるい
は相当部分には同一符号を付して示しである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 積分器と全体の入力信号と積分器の出力信号との差
    を算出する手段と、この差にある増幅率をかけたものと
    全体の入力信号との和を算出して積分器の入力信号とす
    る手段と、全体の入力信号と積分器の出力信号との差の
    値によって、前記増幅率を変化させる手段とを持ち、積
    分器の出力信号を全体の出力信号とする事を特徴とする
    時定数可変積分器。
JP904177A 1977-01-28 1977-01-28 時定数可変積分器 Expired JPS5831625B2 (ja)

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JP904177A JPS5831625B2 (ja) 1977-01-28 1977-01-28 時定数可変積分器

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Publication Number Publication Date
JPS5394151A JPS5394151A (en) 1978-08-17
JPS5831625B2 true JPS5831625B2 (ja) 1983-07-07

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ID=11709550

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