JPS5830550B2

JPS5830550B2 - トクセイソクテイヨウデンゲンノセツゾクホウホウ

Info

Publication number: JPS5830550B2
Application number: JP50114454A
Authority: JP
Inventors: 彰会田
Original assignee: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1975-09-22
Filing date: 1975-09-22
Publication date: 1983-06-29
Also published as: JPS5238243A

Description

【発明の詳細な説明】この発明はたとえばダイオードを複数個組込んだ数字表
示用の発光素子アレイなどの検査を円滑に行なうための
特性測定用電源の接続方法に関する。

第１図は発光ダイオードＤ１〜Ｄ８をアレイ化した発光
装置１の特性測定用電源２との接続方法を示す図である
。

この発光装置１はダイオードＤ１〜Ｄ８のカソードを共
通にして共通端子ＴＣに接続され、アノードはそれぞれ
導出端子Ｔ１〜Ｔ８に接続されており、たとえば「日の
字型」にパターンが形成されて樹脂などでモールドされ
たものである。

このようにカソードコモンアレイとして形成された回路
ユニットに対しては、電源２の一端を共通端子ＴＯと接
続しかつ他端をたとえば電磁リレーの接点８１〜Ｓ８を
介して上記導出端子Ｔ１〜Ｔ８に接続することにより、
８個の発行ダイオードＤ１〜Ｄ８が順次に連続して電源
と接続されうる。

第２図は上記接点８１〜Ｓ８を順次オンするための論理
順序回路の一構成例を示すものである。

ここで、３゜〜３８はＪ−にフリップフロップ、４はナ
ンド回路、５はノット回路であり、これらはシフトレジ
スタを構成していてＪ−にフリップフロップ３．〜３８
のＱ出力端子に順次信号があられれる。

この出力端子Ｑに接続されたリレードライバ６１〜６８
はそれぞれリレー回路Ｒ１〜Ｒ８を駆動し、これによっ
て上記接点８１〜Ｓ８をクロックパルスに同期して順次
にオンするようになる。

なお、共通端子Ｔｃに８個のダイオードのアノードが共
通に接続されたアノードコモンアレイとして回路ユニッ
トが形成されている場合であっても、電源２の特性を反
転させ同様に検査することができる。

ところがダイオードアレイには上述したようなカソード
コモン・アノードコモンのものたけでなく、たとえばカ
メラ用回路ユニットとして第３図に示す様な直列型アレ
イで形成したものがあって、このような回路ユニット７
は上記論理順序回路によって測定用電源を各素子に接続
していくことはできず、その接続方法は第３図に示す様
に電源２の極性切換用スイッチとして上記接点８１〜Ｓ
８の他に４個の接点８９〜Ｓ１゜が必要となる。

接点が増加すると電源との間の接続方法が複雑になるこ
と、また論理順序回路の回路構成もゲートが増加し接点
８９〜Ｓ１２を所定のタイミングでオンせしめる信号を
取出さなければならないこと、そして第１図の並列型、
第３図の直列型それぞれに別々の試験装置が必要とされ
るからコストの点からも問題とされている。

この発明は上記事情に鑑みなされたもので、直列型アレ
イ、並列型アレイともに同一の論理順序回路を用いた試
験装置で検査を行なうことができ、しかも特定測定用電
源と被測定回路ユニットの端子との間の接続を簡単化し
て円滑に検査を行ないうる特性測定用電源の接続方法を
提供することを目的としている。

以下、図面を参照してこの発明方法の一実施例を説明す
る。

第４図ａ、ｂにおいて。それぞれ１１゜１２は第１図、
第３図に示した回路ユニット１゜７と同一のものである
。

すなわち、回路ユニット１１は８個のダイオードＤ１〜
Ｄ８をカソードコモンアレイとして構成し、共通端子Ｔ
ｃと各ダイオードＤ１〜Ｄ８のそれぞれに対応する導出
端子Ｔ１〜Ｔ２を具備している。

また、回路ユニット１２は８個のダイオードＤ１〜Ｄ８
を直列接続してダイオードＤ８のカソードを共通端子Ｔ
Ｏとし、導出端子Ｔ１〜Ｔ８は各ダイオードＤ１〜Ｄ８
のアノードとそれぞれ接続して構成されている。

上記回路ユニット１１゜１２の各端子Ｔ１〜Ｔ８．Ｔｃ
はいずれの場合も電源２に対して同一の接続がなされて
いることは、図から明らかである。

すなわち、電源２の一端２ａは上記共通端子Ｔｏと接続
され、他端２ｂは順次オンするリレー接点８１〜Ｓ８を
介して上記導出端子Ｔ１〜Ｔ８と接続され、しかも上記
リレー接点ａ〜Ｓ８はトランスファーリレーであるから
、電源端子２ｂたとえば導出端子Ｔ１とがリレー接点Ｓ
１にによって接続されているときには、残りのリレー接
点８２〜Ｓ８を介して各導出端子Ｔ２〜Ｔ８は共通端子
ＴＯと接続される。

したがって第４図ａにおいて、並列接続されたダイオー
ドＤ１〜Ｄ８のうちから接点Ｓ１がオンされることによ
ってダイオードＤＩが選択され測定用電源２と接続され
るし、また第４図すにおいても、直列接続されたダイオ
ードＤ１〜Ｄ８のうちから接点Ｓ１がオンされることに
よってダイオードＤ１が選択され測定用電源２と接続さ
れる。

そして、次に上記接点Ｓ１がオフしＳ２がオンしたとき
には第４図ａ、ｂいずれのものもダイオードＤ２と測定
用電源２とが接続される。

ただし、このとき直列接続されたダイオードＤ１は逆極
性で電源２と接続されることになるが、測定電流はダイ
オードＤ２のみに流れるから不都合はない。

こうして順次接点Ｓ３．Ｓ４・・・Ｓ８と切換えられて
オンしていくことによって、上記並列型、直列型いずれ
の回路ユニツ１ｌＬ１２について各素子毎に連続測定が
行なえ、前記第２図に示す簡単な論理順序回路でもって
リレー接点８１〜Ｓ８の制御を両者共通に実行すること
ができる。

なお上記実施例では８個の発光ダイオードから構成した
回路ユニット１Ｌ１２について測定する場合の接続方法
を説明したが、８個のトランスファースイッチを用いず
に１６個のａ接点あるいはｂ接点によって接続すること
も可能である。

１個のトランスファースイッチは、２個のａ接点の並列
接続によっておきかえることができるからである。

上記接続方法では、１個の特性測定用電源と複数の素子
で構成した回路ユニットとの接続が、素子の配列が直列
、並列を問わず全く同一に行なうことができ、したがっ
て接点（リレー接点に限らないが）を順次に駆動する論
理順序回路に変更を要せず、簡単に端子数Ｎの増加に対
処しうる。

したがって測定装置内の回路構成が簡素化するばかりで
なく、測定装置のソケットに被測定回路ユニットを嵌込
むときの接触片が摩耗して、ここに生じる金属粉が隣接
する端子間を短絡した場合、あるいは被測定回路ユニッ
ト内部で素子とピンとの間をつなぐワイヤがボンディン
グミスによってピン間で短絡状態となっている場合など
についても検出することができる。

なお、この発明方法は被測定回路ユニットが発光ダイオ
ードを構成素子とするものでなくてもよく、通常のダイ
オード、抵抗などで構成した回路ユニットについても適
用することができる。

以上述べた通りこの発明によれば試験装置の統一がはか
れ、しかも特性測定用電源と被測定回路ユニットとの間
を簡単に接続して円滑な検査を行なうことができる特性
測定用電源の接続方法を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の特性測定用電源の接続方法の一例を示す
回路図、第２図は第１図中の接点を順次に駆動する論理
順序回路の一実施例を示す回路構成図、第３図は直列型
回路ユニットと特性測定用電源とを接続するための従来
回路図、第４図ａ。ｂはこの発明方法の一実施例を示す回路構成図である。１１．１２・・・・・・被測定回路ユニット、２・・・
・・・特性測定用電源、ＴＯ・・・・・・共通端子、Ｔ
１〜Ｔ８・・・・・・導出端子、Ｓ１〜Ｓ８・・・・・
・接点。

Claims

【特許請求の範囲】

１複数の素子を直列に接続しこの直例回路の各直列接
続点および一端を導出端子Ｔ１〜ＴＮとし他端を共通端
子ＴＯとする発光素子アレイもしくは複数の素子の一端
を共通に接続して共通端子ＴＯとし他端をそれぞれ導出
端子Ｔ１〜ＴＮとした発光素子アレイの各素子を順次に
特性測定用電源と接続することによって連続測定するも
のにおいで、上記電源の一端は上記共通端子Ｔｃに接続
するとともにこの電源の他端は順次オンするリレー接点
８１〜ＳＮによって上記導出端子Ｔ１〜ＴＮと接続され
、しかも対応するリレー接点がオンしていない期間には
導出端子Ｔ１〜ＴＮはいずれも上記共通端子Ｔｃと接続
するようにしたことを特徴とする特性測定用電源の接続
方法。