JPS5829013A - 安全保護系の試験回路 - Google Patents
安全保護系の試験回路Info
- Publication number
- JPS5829013A JPS5829013A JP56127102A JP12710281A JPS5829013A JP S5829013 A JPS5829013 A JP S5829013A JP 56127102 A JP56127102 A JP 56127102A JP 12710281 A JP12710281 A JP 12710281A JP S5829013 A JPS5829013 A JP S5829013A
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- JP
- Japan
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- output
- test
- channel
- trip
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B9/00—Safety arrangements
- G05B9/02—Safety arrangements electric
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、安全保護系の試験回路に関する・更に詳しく
は１主として原子力発電所の原子炉運転中に用いられる
バイパス管理用の試験回路に関すゐ・ 原子力発電所ＫｓＰいては、その性質上安全保験系の管
理は極めて厳重に行われている。具体的には、原子力委
員会による「発電用軽水１１Ｊ［子炉施設に関する安全
設計審査指針」における下記指針指針鰺 安全保温系の
多重性 指針父 安全保護系の独立性 指針お 安全保護系の試験可能性 によって、その機能を原子炉運転中に定期的に試験でき
為とともに、運転中における機能試験の実施中において
もその機能自体が維持されていると同時に不必要な動作
は発生しないように規定されている。
は１主として原子力発電所の原子炉運転中に用いられる
バイパス管理用の試験回路に関すゐ・ 原子力発電所ＫｓＰいては、その性質上安全保験系の管
理は極めて厳重に行われている。具体的には、原子力委
員会による「発電用軽水１１Ｊ［子炉施設に関する安全
設計審査指針」における下記指針指針鰺 安全保温系の
多重性 指針父 安全保護系の独立性 指針お 安全保護系の試験可能性 によって、その機能を原子炉運転中に定期的に試験でき
為とともに、運転中における機能試験の実施中において
もその機能自体が維持されていると同時に不必要な動作
は発生しないように規定されている。
第１図は、上記要件を満たす従来の安全保護系の試験回
路の一実施例を示す構成図である。同図は６重化された
安全保護系を示し、３重化されたうちの１チヤネルを試
験することができるようＫなっている。同図において、
Ｔ１乃至Ｔ３は伝送器でらるｍ ８１乃至８３はテスト
スイッチ、ＴＪ１ｐＪ至ＴＪ３はテストジャックである
・Ｃ１乃至Ｃ３紘変換器、Ｂ□乃至Ｂ３は比較−である
・該比較器は、変換器の出力と設定値とを比較する。そ
して、変換器出力が設定値よシ大きくなった時に、警報
信号を出力す為、との比較器の出力を、バイスティプル
信号と称する。ＢＳよ乃至Ｂ８ｓは各比較器の出力を受
ける切換スイッチである。Ｌｌ乃至Ｌ３はランプである
・Ｘは、ｓつのチャネルのうち２つ以上のチャネルでバ
イスティプル信号が発生したとＩＫ、原子炉停止信号（
所謂トリップ信号）を発生する制御回路である。このよ
うな制御回路を、！アウトオブ葛園路と称する。とのよ
うに構成された回路の動作を説明すると、以下のとシシ
である。
路の一実施例を示す構成図である。同図は６重化された
安全保護系を示し、３重化されたうちの１チヤネルを試
験することができるようＫなっている。同図において、
Ｔ１乃至Ｔ３は伝送器でらるｍ ８１乃至８３はテスト
スイッチ、ＴＪ１ｐＪ至ＴＪ３はテストジャックである
・Ｃ１乃至Ｃ３紘変換器、Ｂ□乃至Ｂ３は比較−である
・該比較器は、変換器の出力と設定値とを比較する。そ
して、変換器出力が設定値よシ大きくなった時に、警報
信号を出力す為、との比較器の出力を、バイスティプル
信号と称する。ＢＳよ乃至Ｂ８ｓは各比較器の出力を受
ける切換スイッチである。Ｌｌ乃至Ｌ３はランプである
・Ｘは、ｓつのチャネルのうち２つ以上のチャネルでバ
イスティプル信号が発生したとＩＫ、原子炉停止信号（
所謂トリップ信号）を発生する制御回路である。このよ
うな制御回路を、！アウトオブ葛園路と称する。とのよ
うに構成された回路の動作を説明すると、以下のとシシ
である。
伝送器Ｔ１のチャネルを試験する場合について説明する
。切換スイッチＢ８１をＴＩＩＫ設定する・次にテスト
スイｙ？８１をＴ側に設定する。これＫよ）チャネルは
テストジャックＴＪ工と接続される。
。切換スイッチＢ８１をＴＩＩＫ設定する・次にテスト
スイｙ？８１をＴ側に設定する。これＫよ）チャネルは
テストジャックＴＪ工と接続される。
この状態では、Ｔ１０チヤネルは完全に系から切離１れ
て試験チャネルとなる。切換スイッチＢｉ９工がＴ＠に
設定されると、Ｔ□クチャルからバイスティプル信号が
発生しこの情報が制御回路ＸＫ伝えられる。テストジャ
ックＴＪ１からは、擬似信号が入力堪れる。歪の動作が
完全に正常であるかどうか前記したように、１チヤネル
を試験しているときには、そのチャネルが異常状態にあ
るという信号を制御回路Ｘに伝える。この時、残シの２
チヤネルが正常に動作しておればトリップ機能は保持さ
れ、不必要な動作も起きない。残シ２チャネルのうち、
１つのチャネルがプルセス異常を検出すると、！アウト
回路３回路Ｘが動作してトリップとなる。即ち、１チヤ
ネルを試験しているときには、実際には１アウトオブ２
動作をすることになる。従って、試験状態にない残り２
チヤネルのうち１チヤネルが故障してプ■セス異常を出
力すると、制御回路Ｘは・２アウトオブＳ動作をしてト
リップ信号を出力する。しかしながら、このトリップ信
号は熊ドリップ信号である。このような、誤トリップに
よりプランＦを停止するとプラントの稼動率が低下して
しまう。
て試験チャネルとなる。切換スイッチＢｉ９工がＴ＠に
設定されると、Ｔ□クチャルからバイスティプル信号が
発生しこの情報が制御回路ＸＫ伝えられる。テストジャ
ックＴＪ１からは、擬似信号が入力堪れる。歪の動作が
完全に正常であるかどうか前記したように、１チヤネル
を試験しているときには、そのチャネルが異常状態にあ
るという信号を制御回路Ｘに伝える。この時、残シの２
チヤネルが正常に動作しておればトリップ機能は保持さ
れ、不必要な動作も起きない。残シ２チャネルのうち、
１つのチャネルがプルセス異常を検出すると、！アウト
回路３回路Ｘが動作してトリップとなる。即ち、１チヤ
ネルを試験しているときには、実際には１アウトオブ２
動作をすることになる。従って、試験状態にない残り２
チヤネルのうち１チヤネルが故障してプ■セス異常を出
力すると、制御回路Ｘは・２アウトオブＳ動作をしてト
リップ信号を出力する。しかしながら、このトリップ信
号は熊ドリップ信号である。このような、誤トリップに
よりプランＦを停止するとプラントの稼動率が低下して
しまう。
本発明は、とのような点に鑑みてなされたもので、シス
テムを４重化構成にし、通常運転時は２アウトオブ４動
作、１チャネル試験時には残〉纂チャネルで２アウトオ
ブＳ動作、更に第２のチャネルも試験すゐときには１ア
ウトオブ２動作をさせるようにして、誤トリップによる
プラント停止の危険性を従来装置よりも少くしてプラン
トの稼動率を上げることができる安全保腰系の試験回路
を実現したものである。以下１図面を参照して本発明の
詳細な説明する。
テムを４重化構成にし、通常運転時は２アウトオブ４動
作、１チャネル試験時には残〉纂チャネルで２アウトオ
ブＳ動作、更に第２のチャネルも試験すゐときには１ア
ウトオブ２動作をさせるようにして、誤トリップによる
プラント停止の危険性を従来装置よりも少くしてプラン
トの稼動率を上げることができる安全保腰系の試験回路
を実現したものである。以下１図面を参照して本発明の
詳細な説明する。
第２図は、本発明の一実施例を示す電気的接続図である
。同図において、１はチャネル１のバイパス状態を試験
するときのバイパス指令スイッチである。２は、チャネ
ｆｉ／（以下単にＣＨと略す）２０％１ｔｉＣＨ３の、
４はＣＨ４のノントリップバイパス（以下単ＫＮ′ｒＢ
と略す）である、ここで、酊Ｂを傭の３０Ｈがバイパス
状態にないとき、パイノ（ス指令によりて該轟バイステ
ィプルの出力をノントリップ信号にするバイパスと定義
する。ＳはＣＨＩのトリップバイパス（以下単にＴＢ
と略す）である、ここで、詔を他の３０Ｈのうち何れ
かがバイパス状態にあるとき、バイパス指令により咳当
バイスティプルの出力をトリップ状態にするバイパスと
定義する。
。同図において、１はチャネル１のバイパス状態を試験
するときのバイパス指令スイッチである。２は、チャネ
ｆｉ／（以下単にＣＨと略す）２０％１ｔｉＣＨ３の、
４はＣＨ４のノントリップバイパス（以下単ＫＮ′ｒＢ
と略す）である、ここで、酊Ｂを傭の３０Ｈがバイパス
状態にないとき、パイノ（ス指令によりて該轟バイステ
ィプルの出力をノントリップ信号にするバイパスと定義
する。ＳはＣＨＩのトリップバイパス（以下単にＴＢ
と略す）である、ここで、詔を他の３０Ｈのうち何れ
かがバイパス状態にあるとき、バイパス指令により咳当
バイスティプルの出力をトリップ状態にするバイパスと
定義する。
′Ｇ工は、ＮＴＢ２〜５の出力を受けるオアゲート、Ｇ
２は該オアゲートの出力を受けるインバータ、Ｇ３ｅ１
該インバータ出力と前記バイパス指令スイッチ１の出力
を受けるアンドゲートである。６は各バイスティプル単
位に設けられたテストスイッチである。該テストスイッ
チにより各バイスティプル単位に試験状態が設定され石
・Ｇ、は、該テストスイッチ６とアンドゲートＧ３の出
力を受けるアンドゲートである。Ｇ５は、誼アンドゲー
ト出力を反転するインバータである。Ｇ６は、テストス
イッチ６とＴＢＳ出力を受けるアンドゲートである。Ｇ
７は、該アントゲ−）出力と１−１バイスティプル信号
を受けるオアゲートである。Ｇ８は、該オアゲートとイ
ンバータＧ５の出力を受けるアンドゲートである。
２は該オアゲートの出力を受けるインバータ、Ｇ３ｅ１
該インバータ出力と前記バイパス指令スイッチ１の出力
を受けるアンドゲートである。６は各バイスティプル単
位に設けられたテストスイッチである。該テストスイッ
チにより各バイスティプル単位に試験状態が設定され石
・Ｇ、は、該テストスイッチ６とアンドゲートＧ３の出
力を受けるアンドゲートである。Ｇ５は、誼アンドゲー
ト出力を反転するインバータである。Ｇ６は、テストス
イッチ６とＴＢＳ出力を受けるアンドゲートである。Ｇ
７は、該アントゲ−）出力と１−１バイスティプル信号
を受けるオアゲートである。Ｇ８は、該オアゲートとイ
ンバータＧ５の出力を受けるアンドゲートである。
該アンドゲートの出力ｖｏ１が、バイスティプル１−１
の出力である。この出力Ｖ。１は、トリップ信号或いは
ノントリップ信号の何れＫもなシ得る。
の出力である。この出力Ｖ。１は、トリップ信号或いは
ノントリップ信号の何れＫもなシ得る。
一方、１つのチャネルには＾表り九種類のバイスティプ
ルが複数個存在しうる。７は、＃Ｅ ”ｌ Ｉ目Ｏテス
トスイッチ、Ｃ９”１０”１３はアンドゲート、Ｇ１１
”インバータ、Ｇ１゜はオアゲートである・Ｃ９は０
４に１ ＧｌｏはＧ６に、Ｇ□１はＯｓ Ｋ ％ Ｇ
１２はＣ７に、Ｇ１３はＧａ Ｋそれぞれ対応している
。そして、アンドゲートＧ１３の出力Ｖ。ｎが、第ｎ番
目の出力となる・ Ｌｌｏ乃至”１４は、ランプである
。尚咳２ンプＯ接続される信号線が゛°１°゛状態のと
きに点灯するようＫなっている。通常、図のＡ点よシ左
儒の部分は中央盤の中に入りており、１点よシ右側の部
分線キュービクルの中に入っている。そして、ム点と１
点間はケーブルで結ばれる。
ルが複数個存在しうる。７は、＃Ｅ ”ｌ Ｉ目Ｏテス
トスイッチ、Ｃ９”１０”１３はアンドゲート、Ｇ１１
”インバータ、Ｇ１゜はオアゲートである・Ｃ９は０
４に１ ＧｌｏはＧ６に、Ｇ□１はＯｓ Ｋ ％ Ｇ
１２はＣ７に、Ｇ１３はＧａ Ｋそれぞれ対応している
。そして、アンドゲートＧ１３の出力Ｖ。ｎが、第ｎ番
目の出力となる・ Ｌｌｏ乃至”１４は、ランプである
。尚咳２ンプＯ接続される信号線が゛°１°゛状態のと
きに点灯するようＫなっている。通常、図のＡ点よシ左
儒の部分は中央盤の中に入りており、１点よシ右側の部
分線キュービクルの中に入っている。そして、ム点と１
点間はケーブルで結ばれる。
以上説明した回路１００は、１チャネル分即ちＣＨＩ
Ｋついての試験回路であシ、ＣＨ２，ＣＨ３及びＣ１１
［４についてそれでれ同様の回路２００．３００．４０
０が設けられている・ 口は、前記バイパス指令スイッチ１の出力を受は為Ｃ１
１ｌバイパスである。９は、前記オアゲートＧ１の出力
を受けるＣＨ１以外のＮＴＢである。Ｇ１４は、トリッ
プバイパスＲ，Ｆ、 Ｇを受けるオアゲートである。Ｇ
１５は該オアゲーＦ出力を受けるインバータである。０
１６は、該インバータ出力、ＣＨＩバイパス６及び■９
出力を受けるアンドゲートである。
Ｋついての試験回路であシ、ＣＨ２，ＣＨ３及びＣ１１
［４についてそれでれ同様の回路２００．３００．４０
０が設けられている・ 口は、前記バイパス指令スイッチ１の出力を受は為Ｃ１
１ｌバイパスである。９は、前記オアゲートＧ１の出力
を受けるＣＨ１以外のＮＴＢである。Ｇ１４は、トリッ
プバイパスＲ，Ｆ、 Ｇを受けるオアゲートである。Ｇ
１５は該オアゲーＦ出力を受けるインバータである。０
１６は、該インバータ出力、ＣＨＩバイパス６及び■９
出力を受けるアンドゲートである。
該
１０は、咳アンドゲート出力を受けるＴＢである。１出
力は、前記ＴＢ５に接続される。以上、説明した回路１
５０はＣＨｌ分についてのものであり、ＣＨ２乃至ＣＨ
４Ｋついても同様の回路２５０．３５０．４５０が設け
られている。このように構成された回路の動作を説明す
ると以下のとお９である。
力は、前記ＴＢ５に接続される。以上、説明した回路１
５０はＣＨｌ分についてのものであり、ＣＨ２乃至ＣＨ
４Ｋついても同様の回路２５０．３５０．４５０が設け
られている。このように構成された回路の動作を説明す
ると以下のとお９である。
先ず、ＣＨｌのみ試験する場合について説明する。
試験をする前は、２アウトオブ４回路（図示せず）は、
図に示す試験回路の出力を受けて２アクトオプ４動作を
行う、ここで、バイパス指令スイッチ１を押すと、ＣＨ
Ｉは試験モードに設定される。仁のとき、指令スイッチ
１の出力はｕ １ ｕレベルになゐ、一方、残りのＣＨ
は全て正常動作状態にあるのでＮＴＢ ２〜４出力は全
てＩＩ Ｑ ＋＋となる。このときＧ１出力はＩＩ Ｑ
１１％Ｇ２出力は°嘗１”となる・従りて、Ｇ３出力
は＋＋ １ ＋＋となりてＧ４に入る。
図に示す試験回路の出力を受けて２アクトオプ４動作を
行う、ここで、バイパス指令スイッチ１を押すと、ＣＨ
Ｉは試験モードに設定される。仁のとき、指令スイッチ
１の出力はｕ １ ｕレベルになゐ、一方、残りのＣＨ
は全て正常動作状態にあるのでＮＴＢ ２〜４出力は全
てＩＩ Ｑ ＋＋となる。このときＧ１出力はＩＩ Ｑ
１１％Ｇ２出力は°嘗１”となる・従りて、Ｇ３出力
は＋＋ １ ＋＋となりてＧ４に入る。
ここで、各バイスティプルととに設けられたテストスイ
ッチ６を押すとその出力は＋＋ １ ＋＋となる。
ッチ６を押すとその出力は＋＋ １ ＋＋となる。
従りて、Ｇ出力は“′１°“、Ｇ５出力は°°０°“と
なる。アンドゲートＧ８は、その一方に０“°入力を受
けるのでその出力ｖｏ１は常に°０°“即ち、ノントリ
ップ状態となる・ところで、テストスイッチ６を押さな
い場合には、ゲートＧ、、Ｇ６は閉じた１１であシ、通
常の１−１バイスティプル信号が０７．Ｃ８を介して出
力されるととＫなる。 ＣＨＩは、ｎ個のバイスティプ
ルから構成されているが、試験状態にないバイスティプ
ルについては、全て試験状態にするよ〉も通常のバイス
ティプル信号を出力した方が便５Ｎ＊場合が多い、この
ような事情に鑑みて、各バイスティプルごとにテストス
イッチを設けている。
なる。アンドゲートＧ８は、その一方に０“°入力を受
けるのでその出力ｖｏ１は常に°０°“即ち、ノントリ
ップ状態となる・ところで、テストスイッチ６を押さな
い場合には、ゲートＧ、、Ｇ６は閉じた１１であシ、通
常の１−１バイスティプル信号が０７．Ｃ８を介して出
力されるととＫなる。 ＣＨＩは、ｎ個のバイスティプ
ルから構成されているが、試験状態にないバイスティプ
ルについては、全て試験状態にするよ〉も通常のバイス
ティプル信号を出力した方が便５Ｎ＊場合が多い、この
ような事情に鑑みて、各バイスティプルごとにテストス
イッチを設けている。
ＣＨＩの試験状態では、２アウトオブ４回路（図示せず
）は、各バイスティプルごとの出力信号ｖｏ１〜ｖｏｎ
を受けて、ＣＨＩは正常状態にあると判断する自かく判
断した後は、プラントがシリツブであ為かどうかは残り
の３ＣＨで判断する。即ち、こＯ場合は２アウトオブ４
回路は２アウトオブ５回路として動作する。
）は、各バイスティプルごとの出力信号ｖｏ１〜ｖｏｎ
を受けて、ＣＨＩは正常状態にあると判断する自かく判
断した後は、プラントがシリツブであ為かどうかは残り
の３ＣＨで判断する。即ち、こＯ場合は２アウトオブ４
回路は２アウトオブ５回路として動作する。
次に、ＣＨＩに先立りてＣＨ２が試験毫−ドにありた場
合即ち、ＣＨ２が試験中Ｋ ＣＨＩも試験する場合につ
いて考える。 ＮＴＢ２の出力が１１“°になるのでＧ
□小出力°“１１１になる。この結果、Ｇ２出力がＩＱ
ＩＩ 、 Ｇ３出力もｎ □ ＋＋となりてＧ４に入る
。Ｇ、出力も°“Ｑ ＋＋となるので０５出力はＩＩ
ｌ ＋＋になる。一方、ＣＨ，バイパス８の出力ＩＩ
ｌ ＩＩ、ＮＴＢ ９の出力＋＋ｌｌｌ、 ｇ、 Ｉ
Ｐ、 Ｑ出力共にＩＩ Ｑ １１であるので０１４出力
ＩＴ Ｑ １１、従りてＧ工５出力はｕｌ＋“となる。
合即ち、ＣＨ２が試験中Ｋ ＣＨＩも試験する場合につ
いて考える。 ＮＴＢ２の出力が１１“°になるのでＧ
□小出力°“１１１になる。この結果、Ｇ２出力がＩＱ
ＩＩ 、 Ｇ３出力もｎ □ ＋＋となりてＧ４に入る
。Ｇ、出力も°“Ｑ ＋＋となるので０５出力はＩＩ
ｌ ＋＋になる。一方、ＣＨ，バイパス８の出力ＩＩ
ｌ ＩＩ、ＮＴＢ ９の出力＋＋ｌｌｌ、 ｇ、 Ｉ
Ｐ、 Ｑ出力共にＩＩ Ｑ １１であるので０１４出力
ＩＴ Ｑ １１、従りてＧ工５出力はｕｌ＋“となる。
この結果、アンドゲートＧ１６出力は１°１ｎとなシＴ
Ｂ １０に入る。ＴＢＩＯ出力はＴＢ５に入力する。Ｔ
Ｂ５出力は°′１１′の状態でＧ、に入る。テストスイ
ッチ６を押した状態では、Ｇ６出力は°°１°゛、従り
てＣ７出力は常に＋＋ １ ｕとなる。アンドゲートＧ
８の両人力は共Ｋ ＩＩ ｌ ＩＩとなるので、Ｃ８出
力Ｖ。１は常に＋＋ １ ＋＋、即ちトリップ信号とな
る。
Ｂ １０に入る。ＴＢＩＯ出力はＴＢ５に入力する。Ｔ
Ｂ５出力は°′１１′の状態でＧ、に入る。テストスイ
ッチ６を押した状態では、Ｇ６出力は°°１°゛、従り
てＣ７出力は常に＋＋ １ ｕとなる。アンドゲートＧ
８の両人力は共Ｋ ＩＩ ｌ ＩＩとなるので、Ｃ８出
力Ｖ。１は常に＋＋ １ ＋＋、即ちトリップ信号とな
る。
以上の結果、Ｃ１１１はトリップ状態、ＣＨ２はノント
リップ状態となる。２アウトオブ４回路（図示せず）は
、ＣＨＩ、 ＣＨ２の出力信号を受けてこれら２ＣＨの
うち１ｃＨが異常状態にあると判断する・従って、残〕
の２ＣＨのうちＩＣＨＫ異常が生じるとプラントがトリ
ップしたと判断する。即ち、この場台は、実質的に１ア
ウトオブ２動作となる６以上、主としてＣＨＩとＣＨ２
の動作について説明したが、む０間の事情はＣＨ３，Ｃ
ｌ１４ Ｋついても同様である。
リップ状態となる。２アウトオブ４回路（図示せず）は
、ＣＨＩ、 ＣＨ２の出力信号を受けてこれら２ＣＨの
うち１ｃＨが異常状態にあると判断する・従って、残〕
の２ＣＨのうちＩＣＨＫ異常が生じるとプラントがトリ
ップしたと判断する。即ち、この場台は、実質的に１ア
ウトオブ２動作となる６以上、主としてＣＨＩとＣＨ２
の動作について説明したが、む０間の事情はＣＨ３，Ｃ
ｌ１４ Ｋついても同様である。
このような構成にすることにより、°１チャネル試験中
でも２アウトオブ５動作をすることができるＯで、第１
図に示す従来例よりも保護回路の信頼性が増す・従って
、プラントの稼動率を上げることがで自る・また、２チ
ャネル同時に試験してい為場合でも、少くとも従来装置
と同程度の信頼性で試験を行うことができる。ｔた、本
発明は原子力発電のプラントにのみ用いなければならな
いものではない、信頼性が特にきびしく要求されるよう
なプラントであれば、同様に適用することかで自る。
でも２アウトオブ５動作をすることができるＯで、第１
図に示す従来例よりも保護回路の信頼性が増す・従って
、プラントの稼動率を上げることがで自る・また、２チ
ャネル同時に試験してい為場合でも、少くとも従来装置
と同程度の信頼性で試験を行うことができる。ｔた、本
発明は原子力発電のプラントにのみ用いなければならな
いものではない、信頼性が特にきびしく要求されるよう
なプラントであれば、同様に適用することかで自る。
以上、詳細に説明したように、本発明によればＶステム
を４重化構成にし、通常運転時は２アウトオブ４動作、
１チャネル試験時には２アウトオブＳ動作、２チャネル
同時に試験しているときには１アウトオブ２動作をさせ
るようＫして、誤トリップによるプラント停止の危険性
を少くしてプラントの稼動率を上げることができる安全
保護系の試験回路を実現することができる。
を４重化構成にし、通常運転時は２アウトオブ４動作、
１チャネル試験時には２アウトオブＳ動作、２チャネル
同時に試験しているときには１アウトオブ２動作をさせ
るようＫして、誤トリップによるプラント停止の危険性
を少くしてプラントの稼動率を上げることができる安全
保護系の試験回路を実現することができる。
第１図は、従来の試験回路の実施例を示す構成図、第２
図は本発明の一実施例を示す電気的接続図である。 Ｔ１〜Ｔ３”−伝送器、Ｃ１〜Ｃ３・・・変換器、Ｂ□
〜Ｂ３・・・比較器、８１〜８３−・・テストスイッチ
、ＴＪｘ〜ＴＪ３・−テストジャック、ＢＳ１〜Ｂ５３
−切換スイッチ、Ｘ−・２アウトオブ５回路、１・・・
バイパス指令スイッチ、２〜４−、・ＮＴＢ 、 ５
−ＴＢ、 ６．７−テストスイッチ、８・・ＣＨＩバイ
パス、？ −ＣＨ１以外のＮＴＢ、 １０・・・ＴＢ。 Ｇｌｅ Ｇ７． Ｇ１２． Ｇ１４”６オアグ） ｓ
ＧＢｓ Ｇ４＊ ＧＢｓ ＧＢｓ Ｇｇ＊Ｇ１０”１３
”１６ ”’アンドグー ） ％ Ｇ２． Ｇ５＃ Ｇ
１１ｔ Ｇ１５””インバータ、”１０〜Ｌ１４−ラン
プ。
図は本発明の一実施例を示す電気的接続図である。 Ｔ１〜Ｔ３”−伝送器、Ｃ１〜Ｃ３・・・変換器、Ｂ□
〜Ｂ３・・・比較器、８１〜８３−・・テストスイッチ
、ＴＪｘ〜ＴＪ３・−テストジャック、ＢＳ１〜Ｂ５３
−切換スイッチ、Ｘ−・２アウトオブ５回路、１・・・
バイパス指令スイッチ、２〜４−、・ＮＴＢ 、 ５
−ＴＢ、 ６．７−テストスイッチ、８・・ＣＨＩバイ
パス、？ −ＣＨ１以外のＮＴＢ、 １０・・・ＴＢ。 Ｇｌｅ Ｇ７． Ｇ１２． Ｇ１４”６オアグ） ｓ
ＧＢｓ Ｇ４＊ ＧＢｓ ＧＢｓ Ｇｇ＊Ｇ１０”１３
”１６ ”’アンドグー ） ％ Ｇ２． Ｇ５＃ Ｇ
１１ｔ Ｇ１５””インバータ、”１０〜Ｌ１４−ラン
プ。
Claims (1)
- 特定のチャネルのバイパス状ｇ ４ ＃験する第１のス
イッチと、各バイスティプル単位に試験状馳を設定する
第２のスイッチと、前記第１のスイッチの出力を受けて
誼第２のスイッチ出力とバイスティプル信号のうち何れ
か一方を選択して出力する選択回路と、轟誼チャネルの
み試験状態のときはノンシリツブ信号をｍ咳チャネルに
先立つ他のチャネルが試験状態にあるときはトリップ信
号を出力する制御回路とＫよシ構成されてなる安全保−
系の試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56127102A JPS5829013A (ja) | 1981-08-13 | 1981-08-13 | 安全保護系の試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56127102A JPS5829013A (ja) | 1981-08-13 | 1981-08-13 | 安全保護系の試験回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5829013A true JPS5829013A (ja) | 1983-02-21 |
Family
ID=14951639
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56127102A Pending JPS5829013A (ja) | 1981-08-13 | 1981-08-13 | 安全保護系の試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5829013A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6298403A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-05-07 | ウエスチングハウス エレクトリック コ−ポレ−ション | プロセス制御用アナログ，システムの検査方法及び装置 |
| JPS63281093A (ja) * | 1987-05-13 | 1988-11-17 | Toshiba Corp | プラントの緊急停止装置 |
-
1981
- 1981-08-13 JP JP56127102A patent/JPS5829013A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6298403A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-05-07 | ウエスチングハウス エレクトリック コ−ポレ−ション | プロセス制御用アナログ，システムの検査方法及び装置 |
| JPS63281093A (ja) * | 1987-05-13 | 1988-11-17 | Toshiba Corp | プラントの緊急停止装置 |
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