JPS58217414A - 新規アモルフアスシリコンカ−バイド - Google Patents
新規アモルフアスシリコンカ−バイドInfo
- Publication number
- JPS58217414A JPS58217414A JP58044692A JP4469283A JPS58217414A JP S58217414 A JPS58217414 A JP S58217414A JP 58044692 A JP58044692 A JP 58044692A JP 4469283 A JP4469283 A JP 4469283A JP S58217414 A JPS58217414 A JP S58217414A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- type
- amorphous silicon
- silicon carbide
- glow discharge
- atom
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/32—Carbides
- C23C16/325—Silicon carbide
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、新規なアモルファスシリコンカーバイトに関
する。
する。
Vラン(sta、)Oプラズマ分解法で得られる7モμ
フ?Vリコンは、W 、 N 、J>ear 等によっ
て、PH,やB、H6でドープする事によシ、その伝導
度を大きく変える事ができることが発見され(1976
年)、DJ、0ar180n等によってアモ/I/7ア
スシリコンを用いた太陽電池が試作(1976年)され
て以来注目を集め、7モルフ1スVリコン薄膜太陽電池
の効率を数倍する研究が活発に行なわれている。
フ?Vリコンは、W 、 N 、J>ear 等によっ
て、PH,やB、H6でドープする事によシ、その伝導
度を大きく変える事ができることが発見され(1976
年)、DJ、0ar180n等によってアモ/I/7ア
スシリコンを用いた太陽電池が試作(1976年)され
て以来注目を集め、7モルフ1スVリコン薄膜太陽電池
の効率を数倍する研究が活発に行なわれている。
これまでの研究によシ、アモルファスシリフン薄膜光電
素子の構造としてはショットキーバリヤー型、pin型
、M工8型、ペテロ接合型があ枚そのうち前五者が高効
率太陽電池として有望、視されている。すなわちVヨツ
トキーパリヤー型で5.5%(D、E、カールソン他、
1977年)、M工8型で4.8%(r、工、B、ウィ
μソン他、1978)、pin型で4゜5%(浜用圭弘
1978)の変換効率が達成されている。
素子の構造としてはショットキーバリヤー型、pin型
、M工8型、ペテロ接合型があ枚そのうち前五者が高効
率太陽電池として有望、視されている。すなわちVヨツ
トキーパリヤー型で5.5%(D、E、カールソン他、
1977年)、M工8型で4.8%(r、工、B、ウィ
μソン他、1978)、pin型で4゜5%(浜用圭弘
1978)の変換効率が達成されている。
pi、nジャクジョン型太陽電池の場合、p型又はn型
アモルファスシリコンではキャリヤーの寿命が短かく、
有効なキャリヤーにならず、また光の吸収係数が1mに
、比べて大きい事からp層での光の吸収ロスが大きい点
に問題があった。
アモルファスシリコンではキャリヤーの寿命が短かく、
有効なキャリヤーにならず、また光の吸収係数が1mに
、比べて大きい事からp層での光の吸収ロスが大きい点
に問題があった。
このような欠点を改良する為にインバーティドルミ。n
型の光電素子が提案されている。すなわちn型ア七μフ
ァ7シリコン側から光を照射する素子である。この素子
はpmに比べると光の吸収係数が比較的小さい為にやや
有利と考えられる。しかしこのn型アモルファスシリコ
ンでも光の吸収ロスがある点ではp型と変シない。
型の光電素子が提案されている。すなわちn型ア七μフ
ァ7シリコン側から光を照射する素子である。この素子
はpmに比べると光の吸収係数が比較的小さい為にやや
有利と考えられる。しかしこのn型アモルファスシリコ
ンでも光の吸収ロスがある点ではp型と変シない。
為に鋭意研究した結果、シフン又はその誘導木フッ化シ
フン又はその誘導体から選ばれる少なくとも一種以上の
ガスと、ハイドロカーボン、フッ化ハイドロカーボン、
アμキ/I/Vフン又はフッ化アμキIvVフン又はそ
の誘導体から選ばれる少なくとも一種以上のガスとの混
合物をプラズマ分解して得られるア七μフ17−ジリコ
ンカーバイドのドープ薄膜をpi、n接合光電素子のp
又はnMの少なくとも一方に用いる事によシ効率を大巾
に改善できることを見い出したもので、太陽電池や光ス
ィッチ等の光電素子として用いることができる。以下に
その詳細を説明する。
フン又はその誘導体から選ばれる少なくとも一種以上の
ガスと、ハイドロカーボン、フッ化ハイドロカーボン、
アμキ/I/Vフン又はフッ化アμキIvVフン又はそ
の誘導体から選ばれる少なくとも一種以上のガスとの混
合物をプラズマ分解して得られるア七μフ17−ジリコ
ンカーバイドのドープ薄膜をpi、n接合光電素子のp
又はnMの少なくとも一方に用いる事によシ効率を大巾
に改善できることを見い出したもので、太陽電池や光ス
ィッチ等の光電素子として用いることができる。以下に
その詳細を説明する。
アモルファスシリコンは、Vラン−(S1a4)又はそ
の誘導体又はフッ化シヲン又はその誘導倣又はこれらの
混合物と、水素又は水素で希釈したアルゴン、ヘリウム
等の不活性ガスとの混合ガスを、容量結合法又は誘導結
合法による高周波グロー分解又は直流グロー放電分解す
ることによ如得られる。混合ガス中にVランの濃度は、
通常0.5〜50%、好ましくは1〜20%である。
の誘導体又はフッ化シヲン又はその誘導倣又はこれらの
混合物と、水素又は水素で希釈したアルゴン、ヘリウム
等の不活性ガスとの混合ガスを、容量結合法又は誘導結
合法による高周波グロー分解又は直流グロー放電分解す
ることによ如得られる。混合ガス中にVランの濃度は、
通常0.5〜50%、好ましくは1〜20%である。
基板の温度は200〜300℃が好ましく、透、明N、
極(工’ro、5no2尋)を蒸着したガラスや高分子
フィルム、金属等、太陽電池の構成に必要なあらゆる基
板が含まれる。
極(工’ro、5no2尋)を蒸着したガラスや高分子
フィルム、金属等、太陽電池の構成に必要なあらゆる基
板が含まれる。
太陽電池の基本構成は、図−1の戟)、(紛に代表例が
示される。(alはp型から光、を照射するタイプで、
例えばガラス−透明電極・−p−1−n−AI−の構成
、し)はn側から光を照射するタイプで、例えばステン
レス−p−1−n−透明電極の構成である。その他、p
層と透明電極の間に薄い絶縁層をつけたジ、薄い金属層
をつけた構造でもよい。要はp −i −n接合を基本
とするものであればいかなる構成でもよい。
示される。(alはp型から光、を照射するタイプで、
例えばガラス−透明電極・−p−1−n−AI−の構成
、し)はn側から光を照射するタイプで、例えばステン
レス−p−1−n−透明電極の構成である。その他、p
層と透明電極の間に薄い絶縁層をつけたジ、薄い金属層
をつけた構造でもよい。要はp −i −n接合を基本
とするものであればいかなる構成でもよい。
Vラン若しくはその誘導体、又は7ツ化Vフン若しくは
その誘導体、又はこれらの混合物の7 グロー放電分解で得られる約10 秒以上のキャリヤー
寿命で約10C11tev 以下の局在準位密度および
i Q ’ 7m’/ y以上の易動度をもつ真性アモ
ルファスシリコン(以下、1型a−8iという)を1層
として、p型とn型ドープ半導体で接合したpin接合
構造にするわけであるが、本発明ではpm!又はn層の
少なくとも一方、すなわち光を照射する側にア七μ′7
1スシリコンカーバイドを用いる事を特徴とする。p層
とn層の両方に用いてもよい。又ブー1!:/I/フ1
スシリコンカーバイドを用いないドープ層は、上記1型
a−3iをp型で用いる場合は周期率表■族の元素でド
ープし、n型で用いる場合は周期率V族の元素でドープ
すればよい。
その誘導体、又はこれらの混合物の7 グロー放電分解で得られる約10 秒以上のキャリヤー
寿命で約10C11tev 以下の局在準位密度および
i Q ’ 7m’/ y以上の易動度をもつ真性アモ
ルファスシリコン(以下、1型a−8iという)を1層
として、p型とn型ドープ半導体で接合したpin接合
構造にするわけであるが、本発明ではpm!又はn層の
少なくとも一方、すなわち光を照射する側にア七μ′7
1スシリコンカーバイドを用いる事を特徴とする。p層
とn層の両方に用いてもよい。又ブー1!:/I/フ1
スシリコンカーバイドを用いないドープ層は、上記1型
a−3iをp型で用いる場合は周期率表■族の元素でド
ープし、n型で用いる場合は周期率V族の元素でドープ
すればよい。
本発明のアモルファスシリコンカーバイド1シフン又は
その誘導体、フッ化シフン又はその誘導体から選ばれる
少なくとも一種以上のガスと、ハイドロカーボン、フッ
化ノへイドロカーボン、アpキfi/Vラン又はフッ化
アμキμシラン又はその誘導体から選ばれる少なくとも
一種以上のガスとの混合物をプラズマ分解、好ましくは
グロー放電分解して得られる。上記のシリコン化合物と
してはVフン5in4又は8’nH2n+2で示される
シフン銹導体、又は5ill、 H4−H4−0(〜4
)で示される誘導体および81.nIF♂2n↓2−m
で示される誘導体で代表されるyy−ンの水素及び/又
はフッ化物などがある。次素化合物として〜はフッ化メ
タンOr 又はOl−2n4:t−0で 1 示されるフロロハイドロカーボン誘導体、又はその不飽
和誘導体がある。ハイドロカーボンとしては、飽和脂肪
族ハイドロカーボン(orIH2n半2)、不飽和脂肪
族ハイドロカーボン(例えばエチレン、プロピレン等の
一般弐c11H2n)がある。
その誘導体、フッ化シフン又はその誘導体から選ばれる
少なくとも一種以上のガスと、ハイドロカーボン、フッ
化ノへイドロカーボン、アpキfi/Vラン又はフッ化
アμキμシラン又はその誘導体から選ばれる少なくとも
一種以上のガスとの混合物をプラズマ分解、好ましくは
グロー放電分解して得られる。上記のシリコン化合物と
してはVフン5in4又は8’nH2n+2で示される
シフン銹導体、又は5ill、 H4−H4−0(〜4
)で示される誘導体および81.nIF♂2n↓2−m
で示される誘導体で代表されるyy−ンの水素及び/又
はフッ化物などがある。次素化合物として〜はフッ化メ
タンOr 又はOl−2n4:t−0で 1 示されるフロロハイドロカーボン誘導体、又はその不飽
和誘導体がある。ハイドロカーボンとしては、飽和脂肪
族ハイドロカーボン(orIH2n半2)、不飽和脂肪
族ハイドロカーボン(例えばエチレン、プロピレン等の
一般弐c11H2n)がある。
要はアモルファスグリコンカーバイドt−iるためのシ
リコン源としては、slは水素及び/又はフッ素誘導体
で蒸気圧のあるもの、また次素源としては、Cの水素及
び/又はフッ素誘導体で蒸気圧のあるものであシさえす
ればいかなるものでもよいのである。Vリコンカーバイ
ドの組成については、グロー放電分解して得られる膜の
組成を用いS1原子数とC原子数の比a −8i(、x
)○、工)で示す。例えば、膜中の0原子ど81 原子
の割合が1=1の場合a”(o、s) (o、s)と示
す。膜中のC原子やS1原子の組成比は工MA。
リコン源としては、slは水素及び/又はフッ素誘導体
で蒸気圧のあるもの、また次素源としては、Cの水素及
び/又はフッ素誘導体で蒸気圧のあるものであシさえす
ればいかなるものでもよいのである。Vリコンカーバイ
ドの組成については、グロー放電分解して得られる膜の
組成を用いS1原子数とC原子数の比a −8i(、x
)○、工)で示す。例えば、膜中の0原子ど81 原子
の割合が1=1の場合a”(o、s) (o、s)と示
す。膜中のC原子やS1原子の組成比は工MA。
8工MS 、オージェ、エスカ、等の電子分光によっ
て求める事ができる。
て求める事ができる。
本発明ではa Si(、go(X)のアトミックフフク
ションXが約0.05から約0.95でアル事が好まし
い。本発明ではa、si(、−〇)C(工)をドーピン
グしてn型又はp型として用いるが、n型ではリン等の
周期率表Y族の元素でドーピングする。具体的には、a
−8i (、−□)’(X)を作る際にPH1を、例え
ばVフン、メタンと共に混合してグロー放電分解して得
られる。ドーピング濃度については、室温での電気伝導
率が約10(Ω−cyt ) 以上、好ましくは10
(Ω−apt )以上になるようにコントロールすれ
ば良い。通常はa 31(、−X)o(x)中に約0
、001 atom%から10 atom%好ましくは
0 、005 atom%から2 、 Oatom%が
用いられる。p型の場合はボロン等の周期率表■族の元
素でドーピングする。具体的には、B2H6を、例えば
Vラン、メタンと共に混合してグロー放電分解して得ら
れる。ドーピング濃度は室温での!気伝導率が約10(
Ω、 att ) 以上好ましくは10 (Ω・α)
以上になるようにコントロールすればよい。通常はa
’ i (、x )O(x )中に約0 、001 a
tom 96から−10atom%好ましくはO、OO
5atom%から2 、 Oatom%が用いられる。
ションXが約0.05から約0.95でアル事が好まし
い。本発明ではa、si(、−〇)C(工)をドーピン
グしてn型又はp型として用いるが、n型ではリン等の
周期率表Y族の元素でドーピングする。具体的には、a
−8i (、−□)’(X)を作る際にPH1を、例え
ばVフン、メタンと共に混合してグロー放電分解して得
られる。ドーピング濃度については、室温での電気伝導
率が約10(Ω−cyt ) 以上、好ましくは10
(Ω−apt )以上になるようにコントロールすれ
ば良い。通常はa 31(、−X)o(x)中に約0
、001 atom%から10 atom%好ましくは
0 、005 atom%から2 、 Oatom%が
用いられる。p型の場合はボロン等の周期率表■族の元
素でドーピングする。具体的には、B2H6を、例えば
Vラン、メタンと共に混合してグロー放電分解して得ら
れる。ドーピング濃度は室温での!気伝導率が約10(
Ω、 att ) 以上好ましくは10 (Ω・α)
以上になるようにコントロールすればよい。通常はa
’ i (、x )O(x )中に約0 、001 a
tom 96から−10atom%好ましくはO、OO
5atom%から2 、 Oatom%が用いられる。
本発明のa−s i (、x )O(x )においても
H又は!が重要な役割をしている。7ツ化Vフン、シフ
ンのグロー放電分解で得られるア七μファスシリコン中
のH又は1と同様に、ダングリングボンドのターミネー
タ−として働らく為と考えられる。H及び/又はFの濃
度は基板温度等の製作条件で大きく変わるが、本発明で
は基板温度は200℃〜350℃が好ましく、この場合
、3atom%から約20 atom%が膜中に含まれ
る。
H又は!が重要な役割をしている。7ツ化Vフン、シフ
ンのグロー放電分解で得られるア七μファスシリコン中
のH又は1と同様に、ダングリングボンドのターミネー
タ−として働らく為と考えられる。H及び/又はFの濃
度は基板温度等の製作条件で大きく変わるが、本発明で
は基板温度は200℃〜350℃が好ましく、この場合
、3atom%から約20 atom%が膜中に含まれ
る。
上述したja−3i(、−x)o(x)とa−8iのへ
テロ接合光電累子について以下に具体的に説明すると、
次の通りである。代表的な構造は透明電極/p型’−8
’(1−X)”(X)”型a−81/ n ma−81
/電極の構造で、透明電極側から光を照射する。透明電
極は工TOやS。Ol特にS□0.が好ましく、ガラス
基板にあらかじめ蒸着して用いたDpp型−81(1−
X)C(X)上に直接蒸着してもよい。
テロ接合光電累子について以下に具体的に説明すると、
次の通りである。代表的な構造は透明電極/p型’−8
’(1−X)”(X)”型a−81/ n ma−81
/電極の構造で、透明電極側から光を照射する。透明電
極は工TOやS。Ol特にS□0.が好ましく、ガラス
基板にあらかじめ蒸着して用いたDpp型−81(1−
X)C(X)上に直接蒸着してもよい。
p型、’−81(1x) (X) Hの厚みは約5OA
から30OA好ましくは50Xから200λ、1型a−
81層の厚みは本発明の場合限定されないが約2500
〜10000^が用いられる。n型a−8i 層はオ
ーミックコンタクトをとるための層で厚みは限定されな
いが約150λ〜600又が用いられる。又とのn型a
−8j−の代わシに本発明のn型a Eli、(、−x
)o(X)を用いてもよい。
から30OA好ましくは50Xから200λ、1型a−
81層の厚みは本発明の場合限定されないが約2500
〜10000^が用いられる。n型a−8i 層はオ
ーミックコンタクトをとるための層で厚みは限定されな
いが約150λ〜600又が用いられる。又とのn型a
−8j−の代わシに本発明のn型a Eli、(、−x
)o(X)を用いてもよい。
もう、1つの代表的な構造は
透明N W / n ’Jjj a 91(1gC(x
)/ j−型a−si/p型a 81 / [極の構造
で、透明を極側から光を照射する。n2!!1a−81
(、−x)C(X)の厚みは約3OAから30OA好ま
しくは50A〜200A。
)/ j−型a−si/p型a 81 / [極の構造
で、透明を極側から光を照射する。n2!!1a−81
(、−x)C(X)の厚みは約3OAから30OA好ま
しくは50A〜200A。
1型a−8’i、 層の厚みは限定されないが約25
00A〜1QOOOAが通常用いられる。p 5 a−
81層の厚みは限定されないが約150f〜600λが
用いられる。又このフ型a−87の代わ多に本発明のp
型a−810−〇)O(X)を用いても良い。透明xi
の素材及び蒸着法については前同様である。
00A〜1QOOOAが通常用いられる。p 5 a−
81層の厚みは限定されないが約150f〜600λが
用いられる。又このフ型a−87の代わ多に本発明のp
型a−810−〇)O(X)を用いても良い。透明xi
の素材及び蒸着法については前同様である。
次に実施例によシ本発明の効果について説明する。′−
内径11fflの石英反応管を用い14.56MHzの
高周波でグロー放電分解を行う。1型a−81は、水素
で希釈したシランをt〜1 a ’rorrでグレー放
電分解して得られる。n型a−+31は水素で希釈した
シランとフォスフイン(PH,XPH3/31)I4=
0 、5モル%)を同様にグロー放電分解して得られ
る。p型a−81(、−〇)C(X)は水素で希釈した
シラン、メタン(OH4人ジボラン(E、F16) (
E/(81+O) = 0.10 atom%)を同様
にグロー放電分解して得られる。ここでa 81(、−
x)O(1)は、グロー放電時のガス組成を変量してそ
のアトミツクララクシ5ンXが0.85〜0・05にな
るようにした。
内径11fflの石英反応管を用い14.56MHzの
高周波でグロー放電分解を行う。1型a−81は、水素
で希釈したシランをt〜1 a ’rorrでグレー放
電分解して得られる。n型a−+31は水素で希釈した
シランとフォスフイン(PH,XPH3/31)I4=
0 、5モル%)を同様にグロー放電分解して得られ
る。p型a−81(、−〇)C(X)は水素で希釈した
シラン、メタン(OH4人ジボラン(E、F16) (
E/(81+O) = 0.10 atom%)を同様
にグロー放電分解して得られる。ここでa 81(、−
x)O(1)は、グロー放電時のガス組成を変量してそ
のアトミツクララクシ5ンXが0.85〜0・05にな
るようにした。
太陽電池の構成は、25Ω/口”の8n02薄膜のつい
たガラう基板の5nO7面にp型11.81(1g’o
(、天1型a−8’h、n型a−31の順に堆積し最後
に3.3−のアルミニウムを蒸着してAM 1 (10
0mW/jlj)のソーラーV:LミV−ターで太陽電
池特性を調べた。グロー放電時の基板温度は250℃で
行った。又、1hIJは5000A、n層は500 A
。
たガラう基板の5nO7面にp型11.81(1g’o
(、天1型a−8’h、n型a−31の順に堆積し最後
に3.3−のアルミニウムを蒸着してAM 1 (10
0mW/jlj)のソーラーV:LミV−ターで太陽電
池特性を調べた。グロー放電時の基板温度は250℃で
行った。又、1hIJは5000A、n層は500 A
。
p型a−8iO層の厚みは135Aである。
(1−X) (X)
p型& 81(1go(x)の膜組成による太陽電池特
性を図−2に示す。この図から判るようにシラン100
%(81,Oo)の場合、変換効率(以下、ηという)
4.6%であるのに対して本発明のa 81(、−x〕
o(X)を用いるとXe=0 、05でもη;5・4%
と増加し、X=0.2ではη=7.1%にも改善される
。X=0.4ではη;7.2%にも達しシラン100%
の時に比し極めて高い値が得られる。
性を図−2に示す。この図から判るようにシラン100
%(81,Oo)の場合、変換効率(以下、ηという)
4.6%であるのに対して本発明のa 81(、−x〕
o(X)を用いるとXe=0 、05でもη;5・4%
と増加し、X=0.2ではη=7.1%にも改善される
。X=0.4ではη;7.2%にも達しシラン100%
の時に比し極めて高い値が得られる。
Xが0.5以上で効率は低下傾向を示すが、これはp型
a−810の抵抗が大きくなる(1−x) (X) 事によるフィルファクター(以下yyと言う)の低下で
あ)、短絡電流(以下Jsoという)はほとんど変)な
く、本発明のa Si(、−X)0<X)を用いる事に
よって、pMでの光吸収ロスの減少による。Tsoの増
加と開放電圧(以下、vooという)の増加により、効
率の改良ができたものと考えられる。
a−810の抵抗が大きくなる(1−x) (X) 事によるフィルファクター(以下yyと言う)の低下で
あ)、短絡電流(以下Jsoという)はほとんど変)な
く、本発明のa Si(、−X)0<X)を用いる事に
よって、pMでの光吸収ロスの減少による。Tsoの増
加と開放電圧(以下、vooという)の増加により、効
率の改良ができたものと考えられる。
これらの結果は81FAとOH4を用いても全く同様で
あった。
あった。
次に’−8’(0,6) (0,4)の組成でBのドー
プ量をB/(Si+O)で0 、 OO5atom%か
ら2.Oatom% と変えて太陽電池を作シ同様の測
定を行った。(図−3)。又p型a−81(0,6)
(0,4)の室温における電気伝導率のボロンドープ量
依存性の変化は図−4に示されている。
プ量をB/(Si+O)で0 、 OO5atom%か
ら2.Oatom% と変えて太陽電池を作シ同様の測
定を行った。(図−3)。又p型a−81(0,6)
(0,4)の室温における電気伝導率のボロンドープ量
依存性の変化は図−4に示されている。
ド・−プ景が少ない時はFFとvoeが低いがp型a−
81の時よシもはるかに良い効率(η)を示す。
81の時よシもはるかに良い効率(η)を示す。
又ドーグ量が0.5%以上になるとJsaが低下する。
これはBを高濃度にドープすると光の吸収係数が増大す
る為である。以上の太陽電池特性とp型a 81(。、
6)、。、4)膜の電気伝導率(図−4)を比、較して
判るようにボロンのドープ量はp型a 5i(o、s)
(0,5)の伝導度が10 (Ω・α)−1以上にな
るようにドープするのが好ましい。
る為である。以上の太陽電池特性とp型a 81(。、
6)、。、4)膜の電気伝導率(図−4)を比、較して
判るようにボロンのドープ量はp型a 5i(o、s)
(0,5)の伝導度が10 (Ω・α)−1以上にな
るようにドープするのが好ましい。
次にn型a−81Of:用いる実施例につ(1−x)
(X) いて説明する。ステンレス基板上にE2H6を1モル%
ドープしたp型a−8iを20 OA、その上に1型a
−81,f:’500口λさらにPH5でドープしたn
型a S 1(、−x )O(x)を100Aグロー放
電分解して堆積させる。a−81はシラン81H4を、
a−81(、−エ)O(X)は81H4とOH4を夫々
用いてグロー放電分解した。さらに工TOを電子ビーふ
蒸着して同様に太陽電池特性を調べた。n型& ’31
(、x)CCX) のPのドープ量をP/(S1+o
) == 0 、5atom%としてアトミックフフク
ションXを0.05から0.85まで変量した場合の太
陽電池特性を図−5に示す。°Xが0.5まではほぼ連
続的にJsaが増加し、FP、Tooも増加する。一方
FFはX>0.5で低下している為にηも低下するがX
=0.5では変換効率は7.3%にも改良されている。
(X) いて説明する。ステンレス基板上にE2H6を1モル%
ドープしたp型a−8iを20 OA、その上に1型a
−81,f:’500口λさらにPH5でドープしたn
型a S 1(、−x )O(x)を100Aグロー放
電分解して堆積させる。a−81はシラン81H4を、
a−81(、−エ)O(X)は81H4とOH4を夫々
用いてグロー放電分解した。さらに工TOを電子ビーふ
蒸着して同様に太陽電池特性を調べた。n型& ’31
(、x)CCX) のPのドープ量をP/(S1+o
) == 0 、5atom%としてアトミックフフク
ションXを0.05から0.85まで変量した場合の太
陽電池特性を図−5に示す。°Xが0.5まではほぼ連
続的にJsaが増加し、FP、Tooも増加する。一方
FFはX>0.5で低下している為にηも低下するがX
=0.5では変換効率は7.3%にも改良されている。
n ff a−3i C図5中でx=0)の場合η=4
.9%であシX=0 、05〜0゜95の間で著しい改
良を示す。n型a Si(。、6)’(0,4)での刀
のドープ量をP/(81+C)=O,Q 05〜2 a
tom%まで変えた時の太陽電池特性を図−6に示す。
.9%であシX=0 、05〜0゜95の間で著しい改
良を示す。n型a Si(。、6)’(0,4)での刀
のドープ量をP/(81+C)=O,Q 05〜2 a
tom%まで変えた時の太陽電池特性を図−6に示す。
ドープ量の増加と共に、r8Q、FF’。
YOQが増加しているのが判かる。n型a””(0,6
)0、。、4)の室温での!気伝導率のドープ量依存性
(−−4)からPのドープ量は電気伝導率が10、’(
Ω・菌)−1以上であるようにするのが好ましいと言え
る。
)0、。、4)の室温での!気伝導率のドープ量依存性
(−−4)からPのドープ量は電気伝導率が10、’(
Ω・菌)−1以上であるようにするのが好ましいと言え
る。
シランのグロー放電分解でメタン、エタン等のハイドロ
カーボンを混合してグロー放電分解してアモルファスシ
リコンカーパイFの得うれる事は既に知られている〔例
えばp、A、Andersonand W、に、8pe
ar、Ph11.Mag、 35,1 (1977))
。
カーボンを混合してグロー放電分解してアモルファスシ
リコンカーパイFの得うれる事は既に知られている〔例
えばp、A、Andersonand W、に、8pe
ar、Ph11.Mag、 35,1 (1977))
。
しかしながら、シランとメタンで得られるa S 11
x Oxを真性領域に用いた大腸電池は、D、IL 0
arl−sonらの実験によりメタンを含まない場合2
.27%の効率が、10%のメタンを含むと1゜4%に
低下し、さらに30%のメタンを含む場合、0.08%
と極端に低下してしまう事が知られていた(例えばTo
pics j−n AppliedPhysios V
ol 56.Amorphous Sem1oondu
otors P= 3 1 1 (M、H,Brod
sky、8pring−verlag BerlinH
eidelberg 刊1979年)。従って、従来は
メタン等のハイドロカーボンは不純物として好ましくな
いとされていた。
x Oxを真性領域に用いた大腸電池は、D、IL 0
arl−sonらの実験によりメタンを含まない場合2
.27%の効率が、10%のメタンを含むと1゜4%に
低下し、さらに30%のメタンを含む場合、0.08%
と極端に低下してしまう事が知られていた(例えばTo
pics j−n AppliedPhysios V
ol 56.Amorphous Sem1oondu
otors P= 3 1 1 (M、H,Brod
sky、8pring−verlag BerlinH
eidelberg 刊1979年)。従って、従来は
メタン等のハイドロカーボンは不純物として好ましくな
いとされていた。
本発明者ハ、アモルファスシリコンカーバイドをp型又
はn型にドープしpi、n接合光電素子の窓材料に利用
して大巾な効率を改善したものであシ、その効果は驚く
べきものである。
はn型にドープしpi、n接合光電素子の窓材料に利用
して大巾な効率を改善したものであシ、その効果は驚く
べきものである。
図−1(alはp層側から光を照射するタイプの光電素
子を示す構造図であって、図中19はガラス、20は透
明電極、21はp型a Si (、−x )C(x)、
22は1型a−81,23はn型半導体(例えばn型a
−8:L)、24は電極である。同(′b)はn層側か
ら光を照射するタイプを示す構造図で、25は電極基板
、26はp型a−31,27は1型a−81,28はn
、M a Si(、−X)O(x)、29は透明電極
である。図−2はp型a−8i、(、go(x) /1
−na−81へテロ接合光電素子において、Bのドープ
量をB / (Silo) = 0 、1at、om%
とした時のXの変化による太陽電池特性を示すグラフで
ある。このグラフにおいて、1は短絡電流、Tea<m
Ayai )、2はフイμファクターyν、3は開放電
圧Voc(Volts)、4は変換効率η(%)である
。 図−λ1はp型a Si(。6 )O(g 、 4 )
/ i−n a−s iヘテロ接合光電素子において、
Bのドープ量を(81+c)に対してO、OO5〜2
、0 atom%と変えた時の太陽電池特性を示すグラ
フである。5はJsQ、6はFF、 7はWoo、8は
ηである。 図−4は、a−8’(0,’6)C(0,4)膜におい
てP又はBのドープ量変化による室温での電気伝導率の
変化を示すグラフである。9はボロン伸)ドープ、10
はリン(PIドープの場合である。図−5は、n型a−
8’(t−x)C(x) ” ” ’−”へテロ接合光
電素子においてリンCP)のドープ量をP/(S1+o
) = 0 、5 atom%とした時のXによる太陽
電池特性、の変化を示すグラフである。11は、rsc
、 12はFF、 13はvoo、 14はηを示す。 図−6は、 n fJi a−81(,6,(o、s)
″/4−pa−8ixテロ接合光買素子においてリン便
)のドープ量を(s1+a) に対して0 、005
〜2 、0atom%変化させた時の太陽電池特性を示
すグラフである。15は、rso、16はFF、 17
はWoo、 18はηを示す。 特許出願人 鐘淵化学工業株式会社・浜川圭弘代理人弁
理士 内田敏彦 図−1 00,51,0
子を示す構造図であって、図中19はガラス、20は透
明電極、21はp型a Si (、−x )C(x)、
22は1型a−81,23はn型半導体(例えばn型a
−8:L)、24は電極である。同(′b)はn層側か
ら光を照射するタイプを示す構造図で、25は電極基板
、26はp型a−31,27は1型a−81,28はn
、M a Si(、−X)O(x)、29は透明電極
である。図−2はp型a−8i、(、go(x) /1
−na−81へテロ接合光電素子において、Bのドープ
量をB / (Silo) = 0 、1at、om%
とした時のXの変化による太陽電池特性を示すグラフで
ある。このグラフにおいて、1は短絡電流、Tea<m
Ayai )、2はフイμファクターyν、3は開放電
圧Voc(Volts)、4は変換効率η(%)である
。 図−λ1はp型a Si(。6 )O(g 、 4 )
/ i−n a−s iヘテロ接合光電素子において、
Bのドープ量を(81+c)に対してO、OO5〜2
、0 atom%と変えた時の太陽電池特性を示すグラ
フである。5はJsQ、6はFF、 7はWoo、8は
ηである。 図−4は、a−8’(0,’6)C(0,4)膜におい
てP又はBのドープ量変化による室温での電気伝導率の
変化を示すグラフである。9はボロン伸)ドープ、10
はリン(PIドープの場合である。図−5は、n型a−
8’(t−x)C(x) ” ” ’−”へテロ接合光
電素子においてリンCP)のドープ量をP/(S1+o
) = 0 、5 atom%とした時のXによる太陽
電池特性、の変化を示すグラフである。11は、rsc
、 12はFF、 13はvoo、 14はηを示す。 図−6は、 n fJi a−81(,6,(o、s)
″/4−pa−8ixテロ接合光買素子においてリン便
)のドープ量を(s1+a) に対して0 、005
〜2 、0atom%変化させた時の太陽電池特性を示
すグラフである。15は、rso、16はFF、 17
はWoo、 18はηを示す。 特許出願人 鐘淵化学工業株式会社・浜川圭弘代理人弁
理士 内田敏彦 図−1 00,51,0
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、p型またはn型ドーバン)を含有し、その電゛気伝
導度が10 (Ω・aII) 以上であることを特徴
とするアモルファスシリコンカーバイト。 2、前記アモルファスシリコンカーバイトがVリコンと
炭素を含有する化合物のグロー放電分解法によシ得られ
たものであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載のアモルファスシリコンカーバイト。 3、 前記炭素がメタンによシ供給されることを特徴と
する特許請求の範囲第2項記載のアモルファスシリコン
カーバイド。 4、 前記アモルファスシリコンカーバイトがp型であ
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のアモル
ファスシリコンカーバイト1 アーIe/L/フ1スV
リコンカーバイドがn型であることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のアモルファスシリコンカーバイト
。 瓜 前記アモルファスシリコンカーバイトがアモルファ
スシリコンとへテロ接合を構成り、”cいることを特徴
とする特許請求の範囲第1項、第2項、第3項、第4項
または第5項記載のアモルファスシリコンカーバイト。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58044692A JPS58217414A (ja) | 1983-03-16 | 1983-03-16 | 新規アモルフアスシリコンカ−バイド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58044692A JPS58217414A (ja) | 1983-03-16 | 1983-03-16 | 新規アモルフアスシリコンカ−バイド |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56012313A Division JPS57126175A (en) | 1980-12-03 | 1981-01-29 | Amorphous silicon carbide/amorophous silicon hetero junction optoelectric element |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58217414A true JPS58217414A (ja) | 1983-12-17 |
JPH041511B2 JPH041511B2 (ja) | 1992-01-13 |
Family
ID=12698467
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58044692A Granted JPS58217414A (ja) | 1983-03-16 | 1983-03-16 | 新規アモルフアスシリコンカ−バイド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58217414A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4109271A (en) * | 1977-05-27 | 1978-08-22 | Rca Corporation | Amorphous silicon-amorphous silicon carbide photovoltaic device |
-
1983
- 1983-03-16 JP JP58044692A patent/JPS58217414A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4109271A (en) * | 1977-05-27 | 1978-08-22 | Rca Corporation | Amorphous silicon-amorphous silicon carbide photovoltaic device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH041511B2 (ja) | 1992-01-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4385199A (en) | Photovoltaic cell having a hetero junction of amorphous silicon carbide and amorphous silicon | |
US4409605A (en) | Amorphous semiconductors equivalent to crystalline semiconductors | |
US4521447A (en) | Method and apparatus for making layered amorphous semiconductor alloys using microwave energy | |
US4598164A (en) | Solar cell made from amorphous superlattice material | |
Nakamura et al. | The Influence of the Si-H2 Bond on the Light-Induced Effect in a-Si Films and a-Si Solar Cells | |
JPH09512665A (ja) | 高水素希釈低温プラズマ沈着によって製造される非晶質珪素ベースの器具の向上せしめられた安定化特性 | |
EP0106698A2 (en) | Method and apparatus for making layered amorphous semiconductor alloys using microwave energy | |
JPH0434314B2 (ja) | ||
KR890000478B1 (ko) | 비정질합금의 제조방법 | |
US4520380A (en) | Amorphous semiconductors equivalent to crystalline semiconductors | |
US4710786A (en) | Wide band gap semiconductor alloy material | |
JP2692091B2 (ja) | 炭化ケイ素半導体膜およびその製造方法 | |
US4839312A (en) | Fluorinated precursors from which to fabricate amorphous semiconductor material | |
JPH0544198B2 (ja) | ||
US4703336A (en) | Photodetection and current control devices | |
JPH0340515B2 (ja) | ||
JPS58217414A (ja) | 新規アモルフアスシリコンカ−バイド | |
JPH0122991B2 (ja) | ||
JPH0363229B2 (ja) | ||
US5445992A (en) | Process for forming a silicon carbide film | |
JPH0447453B2 (ja) | ||
JPH0364973A (ja) | 光起電力素子 | |
JPH0554272B2 (ja) | ||
JP2784820B2 (ja) | 光起電力素子 | |
Thompson et al. | Hydrogenated amorphous silicon schottky solar cells: The effects of contamination by dopants in the undoped layer |