JPS58213235A - ガス検出方式 - Google Patents
ガス検出方式Info
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- JPS58213235A JPS58213235A JP9666782A JP9666782A JPS58213235A JP S58213235 A JPS58213235 A JP S58213235A JP 9666782 A JP9666782 A JP 9666782A JP 9666782 A JP9666782 A JP 9666782A JP S58213235 A JPS58213235 A JP S58213235A
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- light
- mirror
- plane mirror
- reciprocating
- scanning
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/39—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using tunable lasers
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分骨
本発明は半導体レーザのような光源を用いた長光路ガス
検知装置にかかり、特に大気中に浮遊するガス等を早期
にかつ正確に検知するべく、設定された複数の光路に対
して光学系を用い、該光学系でレーザビームを走査する
ことにより光路を切替えて、各光路内の被測定ガスを検
出する方式に関する。
検知装置にかかり、特に大気中に浮遊するガス等を早期
にかつ正確に検知するべく、設定された複数の光路に対
して光学系を用い、該光学系でレーザビームを走査する
ことにより光路を切替えて、各光路内の被測定ガスを検
出する方式に関する。
(b) 技術の背景
近年、大気中の広範囲にわたっての有害ガスを高感度で
検出する技術の開発が広く要求されて来ている。ところ
が従来のこの種ガス検出手段としては、所定の観測点ご
とに被観測ガスを吸入サンプリングして測定する定点観
測方式のものしかなかった。そのために検出装置の所要
数が増大して6価となるばかりでなく、リアルタイムの
観測が不可能であり、しかも保守に多大の労力を要する
ほか、観測システム全体としての信頼性も低いという問
題をかかえていた。
検出する技術の開発が広く要求されて来ている。ところ
が従来のこの種ガス検出手段としては、所定の観測点ご
とに被観測ガスを吸入サンプリングして測定する定点観
測方式のものしかなかった。そのために検出装置の所要
数が増大して6価となるばかりでなく、リアルタイムの
観測が不可能であり、しかも保守に多大の労力を要する
ほか、観測システム全体としての信頼性も低いという問
題をかかえていた。
<(3) 発明の目的
本発明は上記従来の欠点に鑑みてなされたもので大気中
のガスを広範囲にわたって早期に検出できる経済的なが
ス検出装置の提供を目的とするものであ゛る ((1) 発明の構成 そしてこの目的は、本発明によれば、光送受共用手段と
しての平面鏡を走査可能なものと腰当該平面鏡の走査範
囲内に所定の距離をへだてて複数の往復反射鏡を配設”
し、光送出手段としての光源からの光を上記平面鏡を介
して射出すると共に往復反射輪との間に構成された往復
光路を通して帰って来た光を上記平面鏡を介して受光手
段としての受光素子で受光する形の構成において、前記
平面鏡を回転走査して行く間の各往復反射鏡対応位置毎
に得られた受光出力から、各光路におけるガス濃度を検
出するようにしたガス検出方式を提供することによって
達成される。
のガスを広範囲にわたって早期に検出できる経済的なが
ス検出装置の提供を目的とするものであ゛る ((1) 発明の構成 そしてこの目的は、本発明によれば、光送受共用手段と
しての平面鏡を走査可能なものと腰当該平面鏡の走査範
囲内に所定の距離をへだてて複数の往復反射鏡を配設”
し、光送出手段としての光源からの光を上記平面鏡を介
して射出すると共に往復反射輪との間に構成された往復
光路を通して帰って来た光を上記平面鏡を介して受光手
段としての受光素子で受光する形の構成において、前記
平面鏡を回転走査して行く間の各往復反射鏡対応位置毎
に得られた受光出力から、各光路におけるガス濃度を検
出するようにしたガス検出方式を提供することによって
達成される。
この場合、」二記平面鏡からの射出光が往復反射鏡をは
ずれる間は前記平面鏡を大なる速度で回転走査させ、上
記射出光が往復反射鏡に当たる期間は平面鏡を小なる速
度で走査させるよう走査速度を制御すれは一層好都合で
ある。
ずれる間は前記平面鏡を大なる速度で回転走査させ、上
記射出光が往復反射鏡に当たる期間は平面鏡を小なる速
度で走査させるよう走査速度を制御すれは一層好都合で
ある。
また、さらに上記平面鏡からの射出光で各往復反射鏡面
を走査する間、一旦反射鏡全面を走査させた後に上記受
光出力が最大となった位置にまで走査用の平面鏡を逆走
査させて一時的に伴出させ当該停止期間中に上記ガス濃
度の検出を行なうようにすることも効果的である。
を走査する間、一旦反射鏡全面を走査させた後に上記受
光出力が最大となった位置にまで走査用の平面鏡を逆走
査させて一時的に伴出させ当該停止期間中に上記ガス濃
度の検出を行なうようにすることも効果的である。
(e) 発明の実施例
以下本発明の実施例を図面によって詳述する。
第1図および第2図は本発明にかかる光学系を主とする
系統図および電気回路系を主とする系統図である。
系統図および電気回路系を主とする系統図である。
まず第1図について述べる。今、制御装置50の端子0
8から微小交流電流が重畳された駆動電流1が光送出手
段としての光源オなわら半導体レーザLに供給されると
、このレーザLは上記電流■で定まる波長の光を射出す
るのであるが、その光はある程度のひろがりを有してい
るために、送光コリメート鏡1によって平行光とされ、
矢印イで示した方向に放射され、折り返し反射鏡2の透
光孔■を通過する。
8から微小交流電流が重畳された駆動電流1が光送出手
段としての光源オなわら半導体レーザLに供給されると
、このレーザLは上記電流■で定まる波長の光を射出す
るのであるが、その光はある程度のひろがりを有してい
るために、送光コリメート鏡1によって平行光とされ、
矢印イで示した方向に放射され、折り返し反射鏡2の透
光孔■を通過する。
ここで光送受共用手段としての走査平面鏡SMが一点鎖
線2よりもさらに傾いて位置しておれば上記光は一点鎖
線りの方向に放射されるが、この方向には往復反射鏡が
ないために折り返し反射されて帰って来る光はなく、そ
のために受光素子りの出力は零である。
線2よりもさらに傾いて位置しておれば上記光は一点鎖
線りの方向に放射されるが、この方向には往復反射鏡が
ないために折り返し反射されて帰って来る光はなく、そ
のために受光素子りの出力は零である。
しかし今、走査平面鏡8Mが一点鎖線2の位置にまで回
転して光路がヌ方向に振れて実線で示した状態に位置し
たとすると、前記平面[8Mによって反射された平行光
は第1の往復反射鏡(レトロリフレクタ) it it
]によって折り返し反射されここに往復光路が設定さ
れる。そしてその光は矢印凸方向に進んで再び平面鏡8
Mに当たって矢印二方向に進む。このために平面鏡8M
は光の送受両用として用いられると言える。ところでこ
の矢印二方向に進んだ光は折り返し反射鏡2によってそ
の進行方向を矢印小方向に変えられた後に、放物面鏡8
によって集光された後、受光素子りに入射する。このよ
うになればこの入射光は上記受光素子りによって光電変
換されて、その電気的出力は増幅器4で増幅された後、
2つのロックイン増幅器LAI、LA2に入力される。
転して光路がヌ方向に振れて実線で示した状態に位置し
たとすると、前記平面[8Mによって反射された平行光
は第1の往復反射鏡(レトロリフレクタ) it it
]によって折り返し反射されここに往復光路が設定さ
れる。そしてその光は矢印凸方向に進んで再び平面鏡8
Mに当たって矢印二方向に進む。このために平面鏡8M
は光の送受両用として用いられると言える。ところでこ
の矢印二方向に進んだ光は折り返し反射鏡2によってそ
の進行方向を矢印小方向に変えられた後に、放物面鏡8
によって集光された後、受光素子りに入射する。このよ
うになればこの入射光は上記受光素子りによって光電変
換されて、その電気的出力は増幅器4で増幅された後、
2つのロックイン増幅器LAI、LA2に入力される。
ところがロックイン増幅器LA2の方には1点鎖線へで
示したように、矢印イ方向の光を断続するチョッパe1
tからの参照信号が供給されているので、ロックイン増
幅器LA2の出力には受光パワーPが現れるのであるが
、これは制御装置50の端子02に入力される。これに
対してロックイン増幅器LA1の方には制御装置50内
の、後述するレーザ駆m電源(第2図参照)からの参照
信゛ 号が供給されているので、微分モードで働く
ことになり、該ロックイン増幅器LA1の出力には微分
受光パワーyが現れ、これは制御装置50の端子O1に
人力される。ところが走査平面鏡8Mによる反射光軸が
さらに矢印チ方向に動いて該光軸が例えば一点鎖線夕の
方向を向けば再び上記光は往復反射鏡で折り返し反射さ
れて帰って来なくなるために、受光素子りの出力は再び
零となる。
示したように、矢印イ方向の光を断続するチョッパe1
tからの参照信号が供給されているので、ロックイン増
幅器LA2の出力には受光パワーPが現れるのであるが
、これは制御装置50の端子02に入力される。これに
対してロックイン増幅器LA1の方には制御装置50内
の、後述するレーザ駆m電源(第2図参照)からの参照
信゛ 号が供給されているので、微分モードで働く
ことになり、該ロックイン増幅器LA1の出力には微分
受光パワーyが現れ、これは制御装置50の端子O1に
人力される。ところが走査平面鏡8Mによる反射光軸が
さらに矢印チ方向に動いて該光軸が例えば一点鎖線夕の
方向を向けば再び上記光は往復反射鏡で折り返し反射さ
れて帰って来なくなるために、受光素子りの出力は再び
零となる。
しかし上記光軸がさらに矢印チ方向に移り、走査平面鏡
8Mの角度が先に示した1点鎖線2よりθだけ移動した
とすると、この方向には再び往復反射鏡RR2が配置さ
れているので、前記光は折り返されて帰って来て、その
結果受光素子りは光電変換を行ない、出力を増幅器4に
入力することができるようにな゛る。
8Mの角度が先に示した1点鎖線2よりθだけ移動した
とすると、この方向には再び往復反射鏡RR2が配置さ
れているので、前記光は折り返されて帰って来て、その
結果受光素子りは光電変換を行ない、出力を増幅器4に
入力することができるようにな゛る。
この第1図では便宜上、往復反射鏡が2個の場合を示し
たが、該往復反射鏡は複数個が走査平面鏡8Mのまわり
、あるいはその一部に所定の距離をおいて配設されてお
り、該複数の往復反射鏡と走査平面鏡8Mとの間の空間
に浮遊するガス等を例えば数161’13nの桁で検出
しつる。
たが、該往復反射鏡は複数個が走査平面鏡8Mのまわり
、あるいはその一部に所定の距離をおいて配設されてお
り、該複数の往復反射鏡と走査平面鏡8Mとの間の空間
に浮遊するガス等を例えば数161’13nの桁で検出
しつる。
なお上記平向@8MはパルスモータPMによって駆動さ
れて微小角度△θずつその傾きを変えて走査されるもの
であることは言うまでもない。
れて微小角度△θずつその傾きを変えて走査されるもの
であることは言うまでもない。
次に第2図について説明する。平面鏡8Mからの光路が
まず第1図中の1点鎖線すのようで、あって、該光路を
たどる光がどの往復反射鏡にも当たらない場合には受光
素子りの出力は零である。この時にはロックイン増幅器
1および2の出力yならびにPも当然零であるので、第
2図中のAlD鮒換器(A/ D)x 、(A/ i)
)#の出力もまた零となる。
まず第1図中の1点鎖線すのようで、あって、該光路を
たどる光がどの往復反射鏡にも当たらない場合には受光
素子りの出力は零である。この時にはロックイン増幅器
1および2の出力yならびにPも当然零であるので、第
2図中のAlD鮒換器(A/ D)x 、(A/ i)
)#の出力もまた零となる。
この場合、制御装置50内の点Yからレベル検出回路6
に伝わる受光パワーPに対応する電圧)はやはり零であ
るので、当該レベル検出回路6からの出力信号■l・v
llは共に低レベルLにある。このためパルスモータレ
ート発生器は第3図(a)に示したような速いし〜トの
パルス電圧Vl’xを制御装ff50の端子06を介し
て第1図のパルスモータPMに加えられ、これを駆動す
る。
に伝わる受光パワーPに対応する電圧)はやはり零であ
るので、当該レベル検出回路6からの出力信号■l・v
llは共に低レベルLにある。このためパルスモータレ
ート発生器は第3図(a)に示したような速いし〜トの
パルス電圧Vl’xを制御装ff50の端子06を介し
て第1図のパルスモータPMに加えられ、これを駆動す
る。
こうすれば第1図中の走査平面鏡8Mは大なる速度で矢
印チ方向への回転走査を行なう。そして該平面鏡8Mか
らの光軸が往復反射鏡RRIの右端に達すれば射出光は
折り返し反射を始めるのであるがこの場合の角度が第4
図(1%)(b)の01に対応する。
印チ方向への回転走査を行なう。そして該平面鏡8Mか
らの光軸が往復反射鏡RRIの右端に達すれば射出光は
折り返し反射を始めるのであるがこの場合の角度が第4
図(1%)(b)の01に対応する。
ところで制御装置50の端子07を介しては外部からし
きい値電圧Vthがレベル検出回路6に入力されており
、前記点Yからの受光ノfワーに対応する電圧Vpはこ
のしきい値電圧vthと比較され、両者が一致した角度
θIより以後では受光t< r) −Pに対応した電圧
Vpの方が大きくなるので上記レベル検出回路6の出力
電圧V、 、 V、は第4図(b)に示したように高レ
ベルHに転する。
きい値電圧Vthがレベル検出回路6に入力されており
、前記点Yからの受光ノfワーに対応する電圧Vpはこ
のしきい値電圧vthと比較され、両者が一致した角度
θIより以後では受光t< r) −Pに対応した電圧
Vpの方が大きくなるので上記レベル検出回路6の出力
電圧V、 、 V、は第4図(b)に示したように高レ
ベルHに転する。
こうなればまずパルスモータレート発生器7は第8図(
lすに示したような遅いレートの/fルス電圧■]1!
を端子05を介して第1図のパルスモータ朧に加えるよ
うに切替えられ、当該パルスモータ捏を駆動しはじめる
。
lすに示したような遅いレートの/fルス電圧■]1!
を端子05を介して第1図のパルスモータ朧に加えるよ
うに切替えられ、当該パルスモータ捏を駆動しはじめる
。
こうすれば第1図中の走査平面鏡8Mは小なる速度に回
転走査速度を落すのであるが、同時に第2図中の制御用
マイクロコンピュータ(以下マイコンと略称する)8中
では2つのA〜−L)変換器(A/D)■、(A/ D
)sからのそれぞれの受光出力Pおよび微分受光出力y
の論理演算(割算)を行ない始め、第4図中の微小区間
でごとにその割算結果りる17Pの値を当該マイコン8
中のメモリー9中に片端から格納して行く。
転走査速度を落すのであるが、同時に第2図中の制御用
マイクロコンピュータ(以下マイコンと略称する)8中
では2つのA〜−L)変換器(A/D)■、(A/ D
)sからのそれぞれの受光出力Pおよび微分受光出力y
の論理演算(割算)を行ない始め、第4図中の微小区間
でごとにその割算結果りる17Pの値を当該マイコン8
中のメモリー9中に片端から格納して行く。
そしてこの操作は、走査ミラーSMからの光軸が往復反
射鏡IL IL 1の端を今や外れようとする時すなわ
ち第4図K) 、 (1))中の角度θ−こ至るまで継
続するので当然どの角度においてP7が最大値となった
かは上記メモリーによって自動的に記憶されるO そしてレベル検出回路6において受光パワーPに相当す
る電圧Vpが低丁して来てしきい値電圧vthがこのm
圧Vpと一致した時点においては、受光素子りの出力す
なわち受光パワーPの最大点は第4図(a) 、 (’
))中の角度01!における点部ではなく、角度θ8に
おける点qであることが制御用マイコン8によって判別
されるから、ここでパルスモータ1’Mにはレート発生
器7から、回転走査鏡8Mを逆走査してる方向の遅いレ
ートパルスVPmが送られ、平面鏡8Mは第4図(B)
、 (b)中の角度a−)らθ3まで戻されて角度θ
8において一時的に走査は停止される。
射鏡IL IL 1の端を今や外れようとする時すなわ
ち第4図K) 、 (1))中の角度θ−こ至るまで継
続するので当然どの角度においてP7が最大値となった
かは上記メモリーによって自動的に記憶されるO そしてレベル検出回路6において受光パワーPに相当す
る電圧Vpが低丁して来てしきい値電圧vthがこのm
圧Vpと一致した時点においては、受光素子りの出力す
なわち受光パワーPの最大点は第4図(a) 、 (’
))中の角度01!における点部ではなく、角度θ8に
おける点qであることが制御用マイコン8によって判別
されるから、ここでパルスモータ1’Mにはレート発生
器7から、回転走査鏡8Mを逆走査してる方向の遅いレ
ートパルスVPmが送られ、平面鏡8Mは第4図(B)
、 (b)中の角度a−)らθ3まで戻されて角度θ
8において一時的に走査は停止される。
この結果、光軸は第1図中の往復反射鏡RR1と走査平
面鏡8Mとが作る最も感度が高い所に一旦停止され、制
御用マイコン8はその間に往復反射鏡Rfilと走査平
面鏡との間の空間に浮遊するガスの濃度の検出同定を完
了する。
面鏡8Mとが作る最も感度が高い所に一旦停止され、制
御用マイコン8はその間に往復反射鏡Rfilと走査平
面鏡との間の空間に浮遊するガスの濃度の検出同定を完
了する。
そしてこれが完了した後は走査平面鏡8Mは第1図中の
矢印チ方向へいくらか移動し、角度らから再び角度0番
にまで移る。
矢印チ方向へいくらか移動し、角度らから再び角度0番
にまで移る。
ここに至れば受光パワーPに対応する電圧Vpはしきい
値電圧vthを下端ることになるので第2図中のレベル
検出回路6の出力電圧v1.−は再び低レベルLに転す
る。こうなればパルスモータレート発生器7からの出力
は再び第8図(1m)のような速いレートパルス電圧■
p1に転じるから走査平面鏡8Mは往復反射鏡RRIよ
りRR2に至るまで大なる速度で回転する。
値電圧vthを下端ることになるので第2図中のレベル
検出回路6の出力電圧v1.−は再び低レベルLに転す
る。こうなればパルスモータレート発生器7からの出力
は再び第8図(1m)のような速いレートパルス電圧■
p1に転じるから走査平面鏡8Mは往復反射鏡RRIよ
りRR2に至るまで大なる速度で回転する。
そして光軸が往復反射鏡RIt 2の右端から左端まで
走査する間は走査平面鏡8Mの速度を決める電圧Vpは
再び第8図(lりに図示の遅いレートパルス■p1に変
化させられ、角度へ〜θ7に至るまでゆっくりと往復反
射鏡lL几2の面を走査する。そして走査平面鏡8Mと
往復反射鏡几R2との間18作られる光路上に浮遊ガス
がある場合には該ガスを検知同定するために平面鏡8M
はθ7なる角度まで一度走査するが受光素子出力が最大
となるθ6なる角度にまで再び戻されて、この点Q3に
おいて一旦停止し、その間にマイコン8によって該ガス
の検出同定を遂行する。
走査する間は走査平面鏡8Mの速度を決める電圧Vpは
再び第8図(lりに図示の遅いレートパルス■p1に変
化させられ、角度へ〜θ7に至るまでゆっくりと往復反
射鏡lL几2の面を走査する。そして走査平面鏡8Mと
往復反射鏡几R2との間18作られる光路上に浮遊ガス
がある場合には該ガスを検知同定するために平面鏡8M
はθ7なる角度まで一度走査するが受光素子出力が最大
となるθ6なる角度にまで再び戻されて、この点Q3に
おいて一旦停止し、その間にマイコン8によって該ガス
の検出同定を遂行する。
ちなみに第2図中における10はレーザ駆動電源であっ
て、これは制御用マイコン8によって制御されるもので
ある。またレベル検出回路6から電圧■1を制御用マイ
、コン8へ送る経路ルは受光パワーPに対応する電圧V
pが低い値からしきい値電圧vthに一致した時刻にマ
イコン8中で論理演算を開始させる信号の送出ルートで
あると共に、電圧VPが高い値から低くなってしきい値
電圧vthに一致した時刻にマイコン8中での上記論理
演算を停止させる信号を送るルートでもある。
て、これは制御用マイコン8によって制御されるもので
ある。またレベル検出回路6から電圧■1を制御用マイ
、コン8へ送る経路ルは受光パワーPに対応する電圧V
pが低い値からしきい値電圧vthに一致した時刻にマ
イコン8中で論理演算を開始させる信号の送出ルートで
あると共に、電圧VPが高い値から低くなってしきい値
電圧vthに一致した時刻にマイコン8中での上記論理
演算を停止させる信号を送るルートでもある。
このようにして平面鏡8Mと各往復反射鏡との間に光軸
が形成され、受光パワーPの最大値において大気中に浮
遊するガスの検出同定が行なオ〕しるたびに得られる結
果としての出力■oはマイコン8から端子06を介して
制御装置60の外に矢印オで示したように出力され、図
示しない表示装置に導入されて表示されることになる。
が形成され、受光パワーPの最大値において大気中に浮
遊するガスの検出同定が行なオ〕しるたびに得られる結
果としての出力■oはマイコン8から端子06を介して
制御装置60の外に矢印オで示したように出力され、図
示しない表示装置に導入されて表示されることになる。
(f) 発明の効果
以上、詳細に説明したように本発明に係るガス検出装置
を用いれば、走査平面鏡8Mが設置されている位置を基
準または中心として複数の測定光路が設定できるので、
光送受装置が1個あれば、あとは往復反射鏡の設置数を
所定の数だけ増やすことにより広範囲な敷地にわたって
のガスのモニターが安価にできるようになり、しかも多
大の労力を必要とせず、リアルタイムで行なえることと
なるために実用上極めて多大の効果が期待できる。
を用いれば、走査平面鏡8Mが設置されている位置を基
準または中心として複数の測定光路が設定できるので、
光送受装置が1個あれば、あとは往復反射鏡の設置数を
所定の数だけ増やすことにより広範囲な敷地にわたって
のガスのモニターが安価にできるようになり、しかも多
大の労力を必要とせず、リアルタイムで行なえることと
なるために実用上極めて多大の効果が期待できる。
第1図、第2図はそれぞれ本発明に係るガス検出方式の
光学系、ならびに電気回路系を主とした系統図、第8図
(a) 、 (b)は第2図中のパルスモータレート発
生器出力の波形を示す図、第4図(a) 、 (b)は
上記系統の装置によって検出される受光素子出力および
レベル検出回路の出力電圧の波形である。 図において、1は送光コリメート鏡ン2は折り返し反射
鏡、8は放物面鏡、4は増幅器、(11はチョッパ、D
は5e光素子、’LA1 、Li2はロックイン増幅器
、PMはパルスモータ、8Mは走査・平面鏡をそれぞれ
示す。 第1頁の続き ■出 願 人 東京電力株式会社 東京都千代田区内幸町1丁目1 番3号
光学系、ならびに電気回路系を主とした系統図、第8図
(a) 、 (b)は第2図中のパルスモータレート発
生器出力の波形を示す図、第4図(a) 、 (b)は
上記系統の装置によって検出される受光素子出力および
レベル検出回路の出力電圧の波形である。 図において、1は送光コリメート鏡ン2は折り返し反射
鏡、8は放物面鏡、4は増幅器、(11はチョッパ、D
は5e光素子、’LA1 、Li2はロックイン増幅器
、PMはパルスモータ、8Mは走査・平面鏡をそれぞれ
示す。 第1頁の続き ■出 願 人 東京電力株式会社 東京都千代田区内幸町1丁目1 番3号
Claims (3)
- (1) 光送受共用手段としての平面鏡を走査可能な
ものとし、当該平面鏡の走査範囲内に所定の距離をへだ
てて複数の往復反射鏡を配設し、光送出手段としての光
源からの光を上記平面鏡を介して射出すると共に往復反
射鏡との間に編成された往復光路を通して帰って来た光
を上記平面鏡を介して受光手段としての受光素子で受光
する形の構成において、前記平面鏡を回転走査して行く
間の各往復反射鏡対応位置毎に得られた受光出力から、
各光路におけるガス伽度を検出するようにしたガス検出
方式。 - (2)上記平面鏡からの射出光が往復反射鏡をはずれる
間は前記平面鏡を大なる速度で回転走査させ上記射出光
が往復反射鏡に当たる期間は平面鏡を小なる速度で走査
させるよう走査速度を制御することを特徴とする特許請
求の範囲第(1)項に記載のガス検出方式。 - (3) 上記平面鏡からの射出光で各往復反射鏡面を
走査する間、一旦反射鏡全面を走査させた後に上記受光
出力が最大となった位置にまで走査ノーの平面鏡を逆走
査させて一時的に停止させ、当該停止期間中に上記ガス
濃度の検出を行なうようにしたことを特徴とする特許請
求の範囲第(1)項または第(2)項に記載のガス検出
方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9666782A JPS58213235A (ja) | 1982-06-04 | 1982-06-04 | ガス検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9666782A JPS58213235A (ja) | 1982-06-04 | 1982-06-04 | ガス検出方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58213235A true JPS58213235A (ja) | 1983-12-12 |
Family
ID=14171157
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9666782A Pending JPS58213235A (ja) | 1982-06-04 | 1982-06-04 | ガス検出方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58213235A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62201334A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-05 | Nippon Steel Corp | 気体の濃度および分圧測定方法およびその装置 |
JPH0251045A (ja) * | 1988-08-12 | 1990-02-21 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 環境測定方法及び環境測定装置 |
WO1992009877A2 (en) * | 1990-07-16 | 1992-06-11 | Mda Scientific, Inc. | Ftir remote sensor apparatus and method |
CN103185706A (zh) * | 2011-12-27 | 2013-07-03 | 中国科学院城市环境研究所 | 无组织排放颗粒物烟羽不透光度的激光测量方法和装置 |
JP2015516575A (ja) * | 2012-04-19 | 2015-06-11 | ゾロ テクノロジーズ,インコーポレイティド | 方向可変の波長可変ダイオードレーザ吸収分光計を有する炉内再帰反射体 |
WO2018111113A1 (en) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | Neo Monitors As | Gas monitor |
-
1982
- 1982-06-04 JP JP9666782A patent/JPS58213235A/ja active Pending
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62201334A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-05 | Nippon Steel Corp | 気体の濃度および分圧測定方法およびその装置 |
JPH0565023B2 (ja) * | 1986-02-28 | 1993-09-16 | Nippon Steel Corp | |
JPH0251045A (ja) * | 1988-08-12 | 1990-02-21 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 環境測定方法及び環境測定装置 |
WO1992009877A2 (en) * | 1990-07-16 | 1992-06-11 | Mda Scientific, Inc. | Ftir remote sensor apparatus and method |
WO1992009877A3 (en) * | 1990-07-16 | 1993-01-21 | Mda Scient Inc | Ftir remote sensor apparatus and method |
CN103185706A (zh) * | 2011-12-27 | 2013-07-03 | 中国科学院城市环境研究所 | 无组织排放颗粒物烟羽不透光度的激光测量方法和装置 |
JP2015516575A (ja) * | 2012-04-19 | 2015-06-11 | ゾロ テクノロジーズ,インコーポレイティド | 方向可変の波長可変ダイオードレーザ吸収分光計を有する炉内再帰反射体 |
EP2839265A4 (en) * | 2012-04-19 | 2015-12-30 | Zolo Technologies Inc | REFLECTIVE REFLECTORS IN AN OVEN WITH A STEERING AND ADJUSTABLE DIODE LASER ABSORPTION SPECTROMETER |
US9366621B2 (en) | 2012-04-19 | 2016-06-14 | Zolo Technologies, Inc. | In-furnace retro-reflectors with steerable tunable diode laser absorption spectrometer |
WO2018111113A1 (en) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | Neo Monitors As | Gas monitor |
KR20190095365A (ko) * | 2016-12-12 | 2019-08-14 | 네오 모니터스 에이에스 | 가스 모니터 |
CN110325839A (zh) * | 2016-12-12 | 2019-10-11 | 恩伊欧监测设备有限公司 | 气体监测器 |
US11002674B2 (en) | 2016-12-12 | 2021-05-11 | Neo Monitors As | Gas monitor |
CN110325839B (zh) * | 2016-12-12 | 2022-06-14 | 恩伊欧监测设备有限公司 | 气体监测器 |
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