JPS58191955A - 比色装置 - Google Patents
比色装置Info
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- JPS58191955A JPS58191955A JP7604882A JP7604882A JPS58191955A JP S58191955 A JPS58191955 A JP S58191955A JP 7604882 A JP7604882 A JP 7604882A JP 7604882 A JP7604882 A JP 7604882A JP S58191955 A JPS58191955 A JP S58191955A
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- light
- test
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
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- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
歯のう蝕の罹患性ないし活動性を予測する歯のう１ｔ４
１活動性試験として、［−１腔内細菌の糖利用による酸
の産性をう蝕活動性の指標とした試験法かある。この試
験法の代表的なものとして、スナイダー法、カリオスラ
ット法などがある。
１活動性試験として、［−１腔内細菌の糖利用による酸
の産性をう蝕活動性の指標とした試験法かある。この試
験法の代表的なものとして、スナイダー法、カリオスラ
ット法などがある。
カリオスラット法は、綿棒で採取したサンプルである歯
垢を適切な培地であるｌ）＋１指示薬を含む試験液中で
２４時間乃至４８時間培養することにより、歯垢のう蝕
誘発性細菌による酸の産生量を指示薬の色の変化を観察
することによって判定する。
垢を適切な培地であるｌ）＋１指示薬を含む試験液中で
２４時間乃至４８時間培養することにより、歯垢のう蝕
誘発性細菌による酸の産生量を指示薬の色の変化を観察
することによって判定する。
これらの方法は、試験液の色の変化を目視（こよって観
察して、酸の産生量を判定するので、試験液の色の変化
が微妙な場合、観察を行なう部屋の明るさや個人差によ
って判定が不ＩＦ確になるという難点かあった。
察して、酸の産生量を判定するので、試験液の色の変化
が微妙な場合、観察を行なう部屋の明るさや個人差によ
って判定が不ＩＦ確になるという難点かあった。
この種の比色装置において、色の変化を自動的に測定す
るため（こ、試験液を貯留した試験管の両側に投、受光
器を設けて、受光器の出力から透光度を検出するように
した場合、透光度検出用の光源は白熱灯或いは重水素ラ
ンプなとのフィラメントランプを用いる必要があるか、
この種のランプは常時点灯しておくと、寿命か短かくな
るという問題かある。
るため（こ、試験液を貯留した試験管の両側に投、受光
器を設けて、受光器の出力から透光度を検出するように
した場合、透光度検出用の光源は白熱灯或いは重水素ラ
ンプなとのフィラメントランプを用いる必要があるか、
この種のランプは常時点灯しておくと、寿命か短かくな
るという問題かある。
この発明は上述の問題を解決するためになされたもので
あって、所定の容器かセットされたかとうかを光学的に
検出するための第１の投光器と、試験液の透光度を検出
するための第２の投光器とを設け、容器が所定位置にセ
ットされてから第２の投光器を点灯することによりフィ
ラメントランプの寿命を延長するとともに、両投光器に
対して共】角の受光素子を設けること（こより、装置Ｎ
を小型化し得るようにした自動比色装置を提供すること
を目的とするものである。
あって、所定の容器かセットされたかとうかを光学的に
検出するための第１の投光器と、試験液の透光度を検出
するための第２の投光器とを設け、容器が所定位置にセ
ットされてから第２の投光器を点灯することによりフィ
ラメントランプの寿命を延長するとともに、両投光器に
対して共】角の受光素子を設けること（こより、装置Ｎ
を小型化し得るようにした自動比色装置を提供すること
を目的とするものである。
以下、本発明の一実施例について図面にもとついて説明
する。
する。
第１図に示すように、１は透明な容器例えは試験管であ
り、この試験管１に試験ｅ、２か貯溜される。さらに、
この試験管ｌの−１一部には弾性を有する材料で形成さ
れたキャップ３をイ１脱自在に嵌合しており、試験管１
か密閉される。−り述のキャップ３の中心部には綿棒４
を着脱自在に垂下支持するための円管状の支持部材３ａ
か設けられており、を嵌入した状態でキャップ３を試験
管１の上部＋３■口部に嵌合させると、綿棒４は試験管
１とほぼ同軸状に支持されるとともに、綿棒４の下端の
サンプルが採取された細部４ｂか試験液２に浸漬される
よう１こなっている。また、上記のようにして綿棒４を
装着したとき、綿棒４の細部４ｂの下端は試験管１の底
から一定の間隔を隔てて垂下されるように綿棒４の長さ
が定められる。
り、この試験管１に試験ｅ、２か貯溜される。さらに、
この試験管ｌの−１一部には弾性を有する材料で形成さ
れたキャップ３をイ１脱自在に嵌合しており、試験管１
か密閉される。−り述のキャップ３の中心部には綿棒４
を着脱自在に垂下支持するための円管状の支持部材３ａ
か設けられており、を嵌入した状態でキャップ３を試験
管１の上部＋３■口部に嵌合させると、綿棒４は試験管
１とほぼ同軸状に支持されるとともに、綿棒４の下端の
サンプルが採取された細部４ｂか試験液２に浸漬される
よう１こなっている。また、上記のようにして綿棒４を
装着したとき、綿棒４の細部４ｂの下端は試験管１の底
から一定の間隔を隔てて垂下されるように綿棒４の長さ
が定められる。
上記キャップ３の支持部材３ａの孔３Ｃの内周には、
、−−−支持部材 ３ａの軸方向に延在する断面形状かほぼ３角形の突条
を形成し、かつその突条、）の高さを変化して綿棒４
の一ヒ端部を−Ｌ記突条、 で弾力的にクランプするよ
うになっている。
、−−−支持部材 ３ａの軸方向に延在する断面形状かほぼ３角形の突条
を形成し、かつその突条、）の高さを変化して綿棒４
の一ヒ端部を−Ｌ記突条、 で弾力的にクランプするよ
うになっている。
このように構成することによって、後述のように、綿棒
４の細部４ｂが試験管１の底より上方に位置するように
装着できる。
４の細部４ｂが試験管１の底より上方に位置するように
装着できる。
なお、突条、 を設ける代りにす÷←→孕亭→−−−支
持部材３ａｉこ軸方向のスリット１．を形成して該支持
部Ｈ３ａに弾力性をもたせて、孔３Ｃに挿入される綿棒
４をクランプするようにし°Ｃもよい。
持部材３ａｉこ軸方向のスリット１．を形成して該支持
部Ｈ３ａに弾力性をもたせて、孔３Ｃに挿入される綿棒
４をクランプするようにし°Ｃもよい。
５は上述の試験管１を垂下して支持する歯車であり、こ
の歯車５の中心部には該歯車のｆ面から延在する軸５ａ
を有し、且つ試験管１を通すための貫通孔５ｂを有して
いる。
の歯車５の中心部には該歯車のｆ面から延在する軸５ａ
を有し、且つ試験管１を通すための貫通孔５ｂを有して
いる。
この歯車５は上記試験管１を収納する空間６ａを有する
概略円管状のベース６の上面に設けた孔７に上記軸５ａ
を嵌入することにより、該歯車５の上面５Ｃか水平にな
るようにかつ回転自在に枢支される。
概略円管状のベース６の上面に設けた孔７に上記軸５ａ
を嵌入することにより、該歯車５の上面５Ｃか水平にな
るようにかつ回転自在に枢支される。
」−記歯屯５はその歯に噛合するピニオン９を介してモ
ータ１０に連結されている。
ータ１０に連結されている。
ｔｉａは試験管１検出用の第１投光器であり、たとえば
発光ダイオードか用いられる。ｌｌｂは試験液２の透光
度検出用の第２投光器であり、たとえは白熱ランプ又は
重水素ランプ等のフィラメントランプか用いられる。１
２は両投光器１１ａ。
発光ダイオードか用いられる。ｌｌｂは試験液２の透光
度検出用の第２投光器であり、たとえは白熱ランプ又は
重水素ランプ等のフィラメントランプか用いられる。１
２は両投光器１１ａ。
１１ｂの光を共に受光できる位置に設けた受光素子であ
る。
る。
第１投光器１１ａ、第２投光器１１ｂ、受光素子１２は
、歯車５の孔５ｂに嵌入された試験管１の下部１ｂをは
さんで互いに相対向するよう（こかつ第１投光器１１ａ
が第２投光器１１ｂの下側となるように、ベース６の下
部に設けた孔１３ａ。
、歯車５の孔５ｂに嵌入された試験管１の下部１ｂをは
さんで互いに相対向するよう（こかつ第１投光器１１ａ
が第２投光器１１ｂの下側となるように、ベース６の下
部に設けた孔１３ａ。
１３ｂ、１４に嵌込まれて支持される。そして、第１投
光器１１ａ、第２投光器１１ｂの発光は試験管１の内部
の綿棒４の細部４ｂと試験管ｌの底部１ａとの間の部分
の試験液２を透過して受光素子１２に入射するように構
成される。
光器１１ａ、第２投光器１１ｂの発光は試験管１の内部
の綿棒４の細部４ｂと試験管ｌの底部１ａとの間の部分
の試験液２を透過して受光素子１２に入射するように構
成される。
第２図は第１図の装置と共に用いられる制御回路を示し
ており、２０は適宜な周期のパルスを出力するパルス発
振器、２１．２２はアンドゲートであり、各アンドゲー
トの一方の入力端子は発振器２０の出力パルスを受ける
とともに、各他方の入力端子は、どちらの投光器を点灯
するかを選択するフリップフロップ２３のＱ出力端子と
Ｑ出力端子にそれぞれ接続される。゛ 各アントゲ−）２１．２２の出力端子はそれそれ、投光
器用の駆動回路２４．２５を介して第１投光器１１ａ、
第２投光器１ ］、 ｂに接続されており、フリップフ
ロップ２３がリセットされＱ出力か”１″であるときは
、アンドゲート２１はオフとなり、かつアンドゲート２
２は発振器２ｏの出力パルスを駆動回路２５に与えて、
第１投光器１１ａを所定のパルス間隔で点滅し、一方フ
リップフロップ２３がセットされ、Ｑ出力か１”である
ときは、アンドゲート２２はオフとなり、かつアンドゲ
ート２１は、発振器２０の出力パルスを駆動［１３回路
２４に与えて、第２投光器１１ｂを所定のパルス間隔て
点滅する。
ており、２０は適宜な周期のパルスを出力するパルス発
振器、２１．２２はアンドゲートであり、各アンドゲー
トの一方の入力端子は発振器２０の出力パルスを受ける
とともに、各他方の入力端子は、どちらの投光器を点灯
するかを選択するフリップフロップ２３のＱ出力端子と
Ｑ出力端子にそれぞれ接続される。゛ 各アントゲ−）２１．２２の出力端子はそれそれ、投光
器用の駆動回路２４．２５を介して第１投光器１１ａ、
第２投光器１ ］、 ｂに接続されており、フリップフ
ロップ２３がリセットされＱ出力か”１″であるときは
、アンドゲート２１はオフとなり、かつアンドゲート２
２は発振器２ｏの出力パルスを駆動回路２５に与えて、
第１投光器１１ａを所定のパルス間隔で点滅し、一方フ
リップフロップ２３がセットされ、Ｑ出力か１”である
ときは、アンドゲート２２はオフとなり、かつアンドゲ
ート２１は、発振器２０の出力パルスを駆動［１３回路
２４に与えて、第２投光器１１ｂを所定のパルス間隔て
点滅する。
２６は受光素子１２の光電出力を適宜なレベルの信号に
変換する光電変挽回路、２７は光電変換回路２６の出力
のうちの交流成分、即ちパルス点灯される投光器１１ａ
、ｌｌｂから受光した光信号を増幅する交流増幅器、２
８は交流増幅器２７の出力を、前記発振器２０からのパ
ルスに同期して整流する同期整流器であって、受光素子
１２か受光した光信号に対応した値の直流出力を生しる
。
変換する光電変挽回路、２７は光電変換回路２６の出力
のうちの交流成分、即ちパルス点灯される投光器１１ａ
、ｌｌｂから受光した光信号を増幅する交流増幅器、２
８は交流増幅器２７の出力を、前記発振器２０からのパ
ルスに同期して整流する同期整流器であって、受光素子
１２か受光した光信号に対応した値の直流出力を生しる
。
２９は試験管検知用のコンパレータてあって、同期整流
器２８の出力端子に接続されており、第１投光器１１ａ
と受光素子１２との間に試験管１が挿入されていないと
き、即ち受光素子１２の出力が大であるとき、さらに云
いかえると同期整流器２８の出力レベルか高いときは、
コンパレータ２９の出力は°０”、試験管ｌか定位置（
こセットされたとき、即ち受光素子１２に入射する光が
、試験管１内の試験液によりさえきられて、受光素子１
２の出力が小さくなり、同期整流器２８の出力レベルか
所定値よりも低くなったときは、コンパレータ２９の出
力は°１”となるように構成される。
器２８の出力端子に接続されており、第１投光器１１ａ
と受光素子１２との間に試験管１が挿入されていないと
き、即ち受光素子１２の出力が大であるとき、さらに云
いかえると同期整流器２８の出力レベルか高いときは、
コンパレータ２９の出力は°０”、試験管ｌか定位置（
こセットされたとき、即ち受光素子１２に入射する光が
、試験管１内の試験液によりさえきられて、受光素子１
２の出力が小さくなり、同期整流器２８の出力レベルか
所定値よりも低くなったときは、コンパレータ２９の出
力は°１”となるように構成される。
３０．３１．３２は試験液の種々の透光度に対して各別
に検出信号を生じる第１ないし第３コンパレータである
。
に検出信号を生じる第１ないし第３コンパレータである
。
第１ないし第３コンパレータ３０ 、３１ 、３２の判
定レベル■１．■２．■３はたとえば■１〉Ｖ２〉ｖ３
の順に設定されている。
定レベル■１．■２．■３はたとえば■１〉Ｖ２〉ｖ３
の順に設定されている。
３４は第１ないし第３コンパレータ３０，３１゜３２の
うちの出力の１つだけを出力する選択回路、３５は選択
回路３４の出力を記憶するランチ回路、３６．３７，３
８．３９はそれぞれ試験液の透光度を各別に示す、発光
ダイオードにてなる第１ないし第４透光度表示器であり
、第１透光度表示器３６は選択回路３４の出力３４ａか
信号を生じたとき点灯し、第２透光度表示器３７は選択
回路３４の出力３４ｂが信号を生じたとき点灯する。第
３、第４透光度表示器３８．３９はそれぞれ選択回路３
４の出力３４Ｃ，３４ｄに信号か生じたとき点灯する。
うちの出力の１つだけを出力する選択回路、３５は選択
回路３４の出力を記憶するランチ回路、３６．３７，３
８．３９はそれぞれ試験液の透光度を各別に示す、発光
ダイオードにてなる第１ないし第４透光度表示器であり
、第１透光度表示器３６は選択回路３４の出力３４ａか
信号を生じたとき点灯し、第２透光度表示器３７は選択
回路３４の出力３４ｂが信号を生じたとき点灯する。第
３、第４透光度表示器３８．３９はそれぞれ選択回路３
４の出力３４Ｃ，３４ｄに信号か生じたとき点灯する。
４０は試験管検知用のコンパレータ２９の出力信号でセ
ットされるフリップフロップであり、そのセット出力Ｑ
はアンドゲート４１の一方の入力端子に接続され、また
アンドゲート４１の他方の入力端子には所定のクロック
信号が印加され、アンドゲート４１の出力端子から生じ
るクロック信号はタイマ４２のクロック入力端子４２ａ
に印加されるよう番こなっている。
ットされるフリップフロップであり、そのセット出力Ｑ
はアンドゲート４１の一方の入力端子に接続され、また
アンドゲート４１の他方の入力端子には所定のクロック
信号が印加され、アンドゲート４１の出力端子から生じ
るクロック信号はタイマ４２のクロック入力端子４２ａ
に印加されるよう番こなっている。
９ イア４２［Ｔ１．１’２．Ｔ３の３−Ｄ（Ｄ出力ｇ
子を有し、第３図に示すように端子Ｔｔ ＋こはアンド
ゲート４１からクロック信号が印加されタイマか起動し
てから時間ｔ□（たとえば３０分−８秒）経過後出力を
生じ、端子Ｔ２には【２（たとえは８秒間）経過後出力
を生じ、端子１゛３は上記時間【２の経過後、さらに適
宜時間【：３（たとえば８秒）が経過した後にパルスを
生じる。
子を有し、第３図に示すように端子Ｔｔ ＋こはアンド
ゲート４１からクロック信号が印加されタイマか起動し
てから時間ｔ□（たとえば３０分−８秒）経過後出力を
生じ、端子Ｔ２には【２（たとえは８秒間）経過後出力
を生じ、端子１゛３は上記時間【２の経過後、さらに適
宜時間【：３（たとえば８秒）が経過した後にパルスを
生じる。
端子Ｔ１はフリップフロップ２３のセット入力端子に接
続され、端子Ｔ２はラッチ回路３５のセット入力端子に
接続され、端子Ｔ３はオアゲート４３の一方の入力端子
に接続される。オアゲート４３の他方の入力端子にはパ
ワーオンリセット信号ＰＯか印加され、オアゲート４３
の出力端子はフリップ７０ツブ２３．４０のリセット入
力端子に接続される。
続され、端子Ｔ２はラッチ回路３５のセット入力端子に
接続され、端子Ｔ３はオアゲート４３の一方の入力端子
に接続される。オアゲート４３の他方の入力端子にはパ
ワーオンリセット信号ＰＯか印加され、オアゲート４３
の出力端子はフリップ７０ツブ２３．４０のリセット入
力端子に接続される。
パワーオンリセット信号Ｐｏはまたオアゲート４４を介
してラッチ回路３５のリセット入力端子に接続される。
してラッチ回路３５のリセット入力端子に接続される。
オアゲート（４３こはコンパレータ２９の出力信号が印
加されるようになっている。
加されるようになっている。
第４図は選択回路３４の詳細を示し、４５．４６４７は
インバータ、４８．４９はアンドゲートであり、第１コ
ンパレータ３０の出力端子は端子３４ａとインバータ４
５に接続され、インバータ４５の出力端子はアンドゲー
ト４８の一方の入力端子に接続され、アンドゲート４８
の他方の入力端子は第２コンパレータ３１の出力端子に
接続され、アンドゲート４８の出力端子は端子３４ｂに
接続される。アンドゲート４９、インバータ４６．４７
についても同様の構成であり、同期整流回路２８の出力
Ｖｓが判定レベル■３より低いときはインバータ４７の
出力したかって端子：３４ｄのみか°１”、Ｖ Ｓ ＞
Ｖ ３のときはアンドゲート４９の出力したかって端
子３４Ｃのみが°１”ｖＳ＞ｖρときアンドゲート４８
の出力したかって端子３４ｂのみか°１′：Ｖ ｓ ＞
Ｖ １のとき端子３４ ａのみが“１”となるよう番
こ構成されている。
インバータ、４８．４９はアンドゲートであり、第１コ
ンパレータ３０の出力端子は端子３４ａとインバータ４
５に接続され、インバータ４５の出力端子はアンドゲー
ト４８の一方の入力端子に接続され、アンドゲート４８
の他方の入力端子は第２コンパレータ３１の出力端子に
接続され、アンドゲート４８の出力端子は端子３４ｂに
接続される。アンドゲート４９、インバータ４６．４７
についても同様の構成であり、同期整流回路２８の出力
Ｖｓが判定レベル■３より低いときはインバータ４７の
出力したかって端子：３４ｄのみか°１”、Ｖ Ｓ ＞
Ｖ ３のときはアンドゲート４９の出力したかって端
子３４Ｃのみが°１”ｖＳ＞ｖρときアンドゲート４８
の出力したかって端子３４ｂのみか°１′：Ｖ ｓ ＞
Ｖ １のとき端子３４ ａのみが“１”となるよう番
こ構成されている。
次に上記のよう１こ構成された装置の動作について説明
する。
する。
」−記のように構成した測定装置において、たとえばサ
ンテスター等の試験液２を試験管１に適宜量注入する一
方、歯垢などのサンプルを細部４ｂヤップ３に綿棒４を
装着し、この綿棒４を試験管１内に挿入し、該キャップ
３を試験管１の上端開口部に嵌着すると、綿棒４の細部
４ｂは試験液２に浸漬され、かつ試験管１の底１ａから
間隔Ｉ）を隔てて上方に位置するよう（こかっ試験管ｌ
とほぼ同軸になるように吊り掛けられる。
ンテスター等の試験液２を試験管１に適宜量注入する一
方、歯垢などのサンプルを細部４ｂヤップ３に綿棒４を
装着し、この綿棒４を試験管１内に挿入し、該キャップ
３を試験管１の上端開口部に嵌着すると、綿棒４の細部
４ｂは試験液２に浸漬され、かつ試験管１の底１ａから
間隔Ｉ）を隔てて上方に位置するよう（こかっ試験管ｌ
とほぼ同軸になるように吊り掛けられる。
一方、電源投入時にパワーオンリセット信号Ｐ。
によりフリップフロップ２３，４０．ラッチ回路３５は
リセットされ、フリップフロップ２３のＱ出力はアンド
ゲート２２に印加され、該アンドゲート２２は発振器２
０のパルス列を駆動回路２５に供給して、第１投光器１
１ａをパルス点灯する。
リセットされ、フリップフロップ２３のＱ出力はアンド
ゲート２２に印加され、該アンドゲート２２は発振器２
０のパルス列を駆動回路２５に供給して、第１投光器１
１ａをパルス点灯する。
なお第２投光器１１ｂは消灯している。
試験管１か挿入されていないときは、受光素子１２は第
１投光器１１ａの光を直接に受けるので、該受光素子１
２は高い出力を生じる。受光素子１２から生じる交流出
力は増幅器２７て交流増幅され、同期整流器２８で整流
され、各コンパレータ２９ないし３２に印加される。な
おこの時点てはラッチ回路３５はリセットされているの
で、該ラッチ回路３５の出力端子３５ａ 、３５ｂ 、
３５Ｃ，３５ｄはいずれも出力かなく、透光度表示器３
６．３７゜３８．３９はいずれも消灯している。
１投光器１１ａの光を直接に受けるので、該受光素子１
２は高い出力を生じる。受光素子１２から生じる交流出
力は増幅器２７て交流増幅され、同期整流器２８で整流
され、各コンパレータ２９ないし３２に印加される。な
おこの時点てはラッチ回路３５はリセットされているの
で、該ラッチ回路３５の出力端子３５ａ 、３５ｂ 、
３５Ｃ，３５ｄはいずれも出力かなく、透光度表示器３
６．３７゜３８．３９はいずれも消灯している。
また同期整流器２８の出力レベルが高いのてコンパレー
タ２９の出力は“０”である。
タ２９の出力は“０”である。
いま試験管１を歯車５の孔５ｂに挿入して、所定位置に
セットすると、第１投光器１１ａの光は試験液によりし
ゃ断されるか大きく減衰して、受光素子１２に到達する
光度は低くなる。
セットすると、第１投光器１１ａの光は試験液によりし
ゃ断されるか大きく減衰して、受光素子１２に到達する
光度は低くなる。
したかって同期整流器２８の出力は低くなりコンパレー
タ２９の出力は６１′となって、フリップフロップ４０
かセットされる。そして、フリップフロップ４０の出力
はアンドゲート４１に印加され、該アンドゲートを作動
状態として、クロックパルスをタイマ４２に供給尼で該
タイマ４２をスタートする。
タ２９の出力は６１′となって、フリップフロップ４０
かセットされる。そして、フリップフロップ４０の出力
はアンドゲート４１に印加され、該アンドゲートを作動
状態として、クロックパルスをタイマ４２に供給尼で該
タイマ４２をスタートする。
一方、モータ１０を適宜に起動して、歯車５を回転する
と、試験管１が、その軸を中心として回転して試験液２
が攪拌され、一方、梵光素子１１３゜の発光が試験管１
中の試験液２を透過して受光素子１２に入射する。時間
の経過と試験液２の攪拌によって綿棒４に採集されたサ
ンプルと試験液２とが反応して試験液２の色変化か生し
る。
と、試験管１が、その軸を中心として回転して試験液２
が攪拌され、一方、梵光素子１１３゜の発光が試験管１
中の試験液２を透過して受光素子１２に入射する。時間
の経過と試験液２の攪拌によって綿棒４に採集されたサ
ンプルと試験液２とが反応して試験液２の色変化か生し
る。
タイマ４２がスタートしてから、たとえば：３０分−８
秒経過すると、タイマ４２の端子］゛ｌに出力パルスが
生じてフリップフロップ２３をセットし、アンドゲート
２２を不作動とする一方、２１を作動して、発振器２０
のパルス列を駆動回路２４に供給する。その結果、第２
投光器１１ｂを点灯、第１投光器１１ａを消灯する。そ
して受光素子１２は第２投光器１１ｂの光を受光するよ
うになる。
秒経過すると、タイマ４２の端子］゛ｌに出力パルスが
生じてフリップフロップ２３をセットし、アンドゲート
２２を不作動とする一方、２１を作動して、発振器２０
のパルス列を駆動回路２４に供給する。その結果、第２
投光器１１ｂを点灯、第１投光器１１ａを消灯する。そ
して受光素子１２は第２投光器１１ｂの光を受光するよ
うになる。
試験液２の色変化によって透光度が大きくなると、受光
素子１２の出力レベルも制くなり、同期整流器２８の出
力も高くなる。
素子１２の出力レベルも制くなり、同期整流器２８の出
力も高くなる。
そして第１ないし第３コンパレータ：３０，３１゜３２
は同期整流器２８の出力電圧Ｖｓの大きさと判定レベル
Ｖ １． Ｖ ２ 、 Ｖ ３とそれぞれ比較し、Ｖｓ
か が判定レベルを越えたコンパレータ出力゛ｌ°′を生△ し、この出力は選択回路３４に印加される。
は同期整流器２８の出力電圧Ｖｓの大きさと判定レベル
Ｖ １． Ｖ ２ 、 Ｖ ３とそれぞれ比較し、Ｖｓ
か が判定レベルを越えたコンパレータ出力゛ｌ°′を生△ し、この出力は選択回路３４に印加される。
いまたとえば、時間【、か経過した時点で、同期整流器
２８の出力電圧Ｖｓが■３〈■５〈■２であったとする
と、コンパレータ３２の出力か“１″、他のコンパレー
タ３０，３１は０”である。
２８の出力電圧Ｖｓが■３〈■５〈■２であったとする
と、コンパレータ３２の出力か“１″、他のコンパレー
タ３０，３１は０”である。
したがって、選択回路３４の端子：３４Ｃのみ１、他は
”０″である。
”０″である。
時間（２かさらに経過すると、タイマ４２の出力端子Ｔ
２か“１”となり、ラッチ回路３５はセットされ、端子
３４Ｃの出力゛１”を該ラッチ回路３５に読み込み、そ
の結果、端子：３５Ｃに出力か生して、第３透光度表示
器３８か点灯する。
２か“１”となり、ラッチ回路３５はセットされ、端子
３４Ｃの出力゛１”を該ラッチ回路３５に読み込み、そ
の結果、端子：３５Ｃに出力か生して、第３透光度表示
器３８か点灯する。
時Ｉｉ、ｉｊ 【２経過後（乙タイマ４２の出力端子′
Ｉ′２が０”となると、ラッチ回路３５は選択回路３４
からの出力の読み込みを中止する。
Ｉ′２が０”となると、ラッチ回路３５は選択回路３４
からの出力の読み込みを中止する。
これによって、時間【１経過時における試験液の透光度
が保持され、それ以後の透光度の変化はラッチ回路３５
には読み込まれず、表示器の表示か遷移することは防１
）−される。
が保持され、それ以後の透光度の変化はラッチ回路３５
には読み込まれず、表示器の表示か遷移することは防１
）−される。
−１−記の動作によって、点灯されている表示器から時
間【、経過後の試験液の変化を読みとることができる。
間【、経過後の試験液の変化を読みとることができる。
なお所定時間ｔ３経過後タイマ４２の出力端子１゛３が
“１”となり、この“１”信号はオアゲート４３を介し
てフリップフロップ２３．４０をリセットし、アンドゲ
ート４１を不作動にしてタイマ４２を停止する。一方ア
ンドゲート２１を不作動にして第２投光器１１ｂを消灯
する一方、アンドゲート２２を作動にして、第１投光器
１１ａをパルス点灯して、次の試験液の試験に備える。
“１”となり、この“１”信号はオアゲート４３を介し
てフリップフロップ２３．４０をリセットし、アンドゲ
ート４１を不作動にしてタイマ４２を停止する。一方ア
ンドゲート２１を不作動にして第２投光器１１ｂを消灯
する一方、アンドゲート２２を作動にして、第１投光器
１１ａをパルス点灯して、次の試験液の試験に備える。
以」−詳述したように、この発明は比色装ｊ市（こむい
て、容器検出用の第１投光器と比色試験用の第２投光器
とを設けて、容器か正しく設定された後に第２投光器を
点灯するようにしたから、フィラメントランプ等を使用
する第２投光器の点灯時間を短縮することかできるので
、投光器の長）ｆ白化に有効であり、かつ両投光器に共
通の受光素ｒ−を設けたので装置全体を小型かつ安価に
構成することかできる。
て、容器検出用の第１投光器と比色試験用の第２投光器
とを設けて、容器か正しく設定された後に第２投光器を
点灯するようにしたから、フィラメントランプ等を使用
する第２投光器の点灯時間を短縮することかできるので
、投光器の長）ｆ白化に有効であり、かつ両投光器に共
通の受光素ｒ−を設けたので装置全体を小型かつ安価に
構成することかできる。
第１図はこの発明に係る比色装置の一実施例を示す断面
図、第２図は第１図の比色装置に用いられる制御装置の
一例を示す回路図、第３図は第２図の制動装置における
タイマの出力を示すタイムチャート、第４図は第２図の
制御装置における選択回路の詳細な回路図である。 １・・・試験管、２・・・試験液、４・・・綿棒、５・
・・南東、１１ａ・・・第１投光器（容器検出用）、ｌ
ｌｂ・・・第２投光器（比色用）、１２・・・受光素子
、２０・・・発振器、２３・・・フリップ７０ツブ、２
９〜：３２・・・コンパレータ。 特（ｒ１出願人 サンスター技ａ（株式会社代 理 人
〕Ｔ坤士 ｆｌｌ−１ｆ 葆 外１６第１ 図 一
図、第２図は第１図の比色装置に用いられる制御装置の
一例を示す回路図、第３図は第２図の制動装置における
タイマの出力を示すタイムチャート、第４図は第２図の
制御装置における選択回路の詳細な回路図である。 １・・・試験管、２・・・試験液、４・・・綿棒、５・
・・南東、１１ａ・・・第１投光器（容器検出用）、ｌ
ｌｂ・・・第２投光器（比色用）、１２・・・受光素子
、２０・・・発振器、２３・・・フリップ７０ツブ、２
９〜：３２・・・コンパレータ。 特（ｒ１出願人 サンスター技ａ（株式会社代 理 人
〕Ｔ坤士 ｆｌｌ−１ｆ 葆 外１６第１ 図 一
Claims (1)
- （１）容器検出用の第１投光器と、比色用の光を容器に
投光する第２投光器と、両投光器の光を共（こ受光する
１つの受光素子と、容器が所定位置に設定される迄は第
１の投光器を点灯し、容器か所定位置にされた後は第２
の投光器を点灯するように制御する点灯制御回路と、受
光素子の出力をレベル判別して、容器に貯留された試験
液の透光度を検出する判別回路とを備えたことを特徴と
する比色装置。 （２１各投光器はパルス点灯されるものである特許請求
の範囲第１項記載の比色装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7604882A JPS58191955A (ja) | 1982-05-06 | 1982-05-06 | 比色装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7604882A JPS58191955A (ja) | 1982-05-06 | 1982-05-06 | 比色装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58191955A true JPS58191955A (ja) | 1983-11-09 |
| JPH0148497B2 JPH0148497B2 (ja) | 1989-10-19 |
Family
ID=13593896
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7604882A Granted JPS58191955A (ja) | 1982-05-06 | 1982-05-06 | 比色装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58191955A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0494846A2 (en) * | 1991-01-10 | 1992-07-15 | DIESSE DIAGNOSTICA SENESE s.r.l. | Test tube for biological analyses, provided with a device for checking efficiency and position, for photometric readings |
| WO2005094977A1 (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-13 | Giovanni Passoni | Test-tube agitation device, comprising means for the optical detection of a test-tube |
-
1982
- 1982-05-06 JP JP7604882A patent/JPS58191955A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0494846A2 (en) * | 1991-01-10 | 1992-07-15 | DIESSE DIAGNOSTICA SENESE s.r.l. | Test tube for biological analyses, provided with a device for checking efficiency and position, for photometric readings |
| WO2005094977A1 (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-13 | Giovanni Passoni | Test-tube agitation device, comprising means for the optical detection of a test-tube |
| JP2007530272A (ja) * | 2004-03-31 | 2007-11-01 | パツソーニ，ジヨバンニ | 試験管の光学的検出手段を含む試験管攪拌装置 |
| JP4866838B2 (ja) * | 2004-03-31 | 2012-02-01 | パツソーニ，ジヨバンニ | 試験管の光学的検出手段を含む試験管攪拌装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0148497B2 (ja) | 1989-10-19 |
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