JPS58189976U - Dip形電子部品の検査治具 - Google Patents

Dip形電子部品の検査治具

Info

Publication number
JPS58189976U
JPS58189976U JP8770382U JP8770382U JPS58189976U JP S58189976 U JPS58189976 U JP S58189976U JP 8770382 U JP8770382 U JP 8770382U JP 8770382 U JP8770382 U JP 8770382U JP S58189976 U JPS58189976 U JP S58189976U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
type electronic
dip type
inspection jig
electronic components
electronic component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8770382U
Other languages
English (en)
Inventor
丹羽 史幸
Original Assignee
日本電気ホームエレクトロニクス株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 filed Critical 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社
Priority to JP8770382U priority Critical patent/JPS58189976U/ja
Publication of JPS58189976U publication Critical patent/JPS58189976U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本案の一実施例を示す平面図、第2図は側面図
、第3図はDIP形電子部品の移し替え作業を説明する
ための要部破断平面図、第4図はセット状態を示す側面
図、第5図は本案の他の実施例を示す平面図である。 図中、1は基板部、la、ibは端部、1cは側部、′
3aは載置部、4,41は溝部、5は内部電極、7は外
部電極、AはDIP形電子部品、Bはリードである。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 一側部に外部回路との接続用の外部端子を有する基板部
    に、それの少くとも一方の端部に開口する一対の溝部を
    複数対形成し、この溝部に内部端子を形成すると共に、
    外部端子に接続してなり、上記対をなす溝部間にDIP
    形電子部品を、それのリードが溝部の内部端子に接触す
    るように押せ押せの状態で載置した上で特性検査するこ
    とを特徴とするDIP形電子部品の検査治具。
JP8770382U 1982-06-11 1982-06-11 Dip形電子部品の検査治具 Pending JPS58189976U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8770382U JPS58189976U (ja) 1982-06-11 1982-06-11 Dip形電子部品の検査治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8770382U JPS58189976U (ja) 1982-06-11 1982-06-11 Dip形電子部品の検査治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58189976U true JPS58189976U (ja) 1983-12-16

Family

ID=30096402

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8770382U Pending JPS58189976U (ja) 1982-06-11 1982-06-11 Dip形電子部品の検査治具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58189976U (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS58189976U (ja) Dip形電子部品の検査治具
JPS59189229U (ja) チツプ部品の組立体
JPS60183390U (ja) リ−ドレス集積回路パツケ−ジ用ソケツト
JPS6121975U (ja) テスト端子用シヨ−トバ−
JPS58191637U (ja) 半導体装置用内部接続端子
JPS59134070U (ja) プリント基板検査用コンタクトプロ−ブピン
JPS58109015U (ja) ポテンシヨメ−タ
JPS59135681U (ja) ケ−ス付電子部品の接触構造
JPS58125880U (ja) 半導体装置測定治具
JPS58160362U (ja) 半導体装置の特性試験治具
JPS5896276U (ja) 集積回路用測定治具
JPS58160431U (ja) スイツチの電極パタ−ン
JPS59119001U (ja) 電子部品の電極
JPS59101425U (ja) 電子部品
JPS6090845U (ja) 半導体装置
JPS58193602U (ja) サ−ミスタ
JPS59185853U (ja) マイクロ波集積回路用金属パツケ−ジ
JPS5936591U (ja) 集積回路部品ソケツト
JPS5992867U (ja) Icテストクリツプ
JPS593477U (ja) 端子構造
JPS6061742U (ja) 集積回路装置
JPS593556U (ja) 半導体装置
JPS5858328U (ja) 電子部品
JPS60147191U (ja) シングル・イン・ライン・パツケ−ジ型部品のエ−ジング用ソケツト
JPS594601U (ja) チツプ部品