JPS58184644U - 光学検査装置 - Google Patents

光学検査装置

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Publication number
JPS58184644U
JPS58184644U JP8234082U JP8234082U JPS58184644U JP S58184644 U JPS58184644 U JP S58184644U JP 8234082 U JP8234082 U JP 8234082U JP 8234082 U JP8234082 U JP 8234082U JP S58184644 U JPS58184644 U JP S58184644U
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JP
Japan
Prior art keywords
test pattern
pedestal
optical inspection
inspection equipment
measuring
Prior art date
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Pending
Application number
JP8234082U
Other languages
English (en)
Inventor
忠 加藤
Original Assignee
株式会社リコー
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Publication date
Application filed by 株式会社リコー filed Critical 株式会社リコー
Priority to JP8234082U priority Critical patent/JPS58184644U/ja
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案装置の一実施例を示す側面図、第２図は
同平面図である。 １・・・プラスチック製プリズム、２・・・スタンド、
３・・・支柱、４・・・ねじ溝、５，１３・・・架台、
７゜１５・・・リングねじ、８・・・Ｘ−Ｙテーブル、
１０・・・プリズム固定治具、１２・・・距離測定尺、
１６・・・テストパターン、１８・・・照明器具、１９
・・・テストパターン装置箱、２０・・・目盛、２１・
・・カメラ、２２・・・レンズ、２３・・・接写リング
、２４・・・接眼部、２５・・・フィルム、２６・・・
ピント調節機構。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 基台に立設した支柱に上部架台および下部架台を支持し
    てその少くとも一方を上下位置調整可能に形成し、上部
    架台上には前後左右方向微調整可能としたＸ−Ｙテーブ
    ル、およびその上に回転可能とした被測定光学部材固定
    治具を載装し、前記下部架台にはテストパターンおよび
    光源を含むテストパターン装置箱を設置し、前記テスト
    パターンからの光路上に目視観察および撮影可能なカメ
    ラを設け、前記上下架台間には両者の間隔を計測し得る
    計測手段を付設してなる光学検査装置。
JP8234082U 1982-06-04 1982-06-04 光学検査装置 Pending JPS58184644U (ja)

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JP8234082U JPS58184644U (ja) 1982-06-04 1982-06-04 光学検査装置

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JP8234082U JPS58184644U (ja) 1982-06-04 1982-06-04 光学検査装置

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JPS58184644U true JPS58184644U (ja) 1983-12-08

Family

ID=30091411

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JP8234082U Pending JPS58184644U (ja) 1982-06-04 1982-06-04 光学検査装置

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