JPS58182565A - Indicating device of inspection - Google Patents

Indicating device of inspection

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Publication number
JPS58182565A
JPS58182565A JP6407082A JP6407082A JPS58182565A JP S58182565 A JPS58182565 A JP S58182565A JP 6407082 A JP6407082 A JP 6407082A JP 6407082 A JP6407082 A JP 6407082A JP S58182565 A JPS58182565 A JP S58182565A
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JP
Japan
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inspection
work
display
information
procedure
Prior art date
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Pending
Application number
JP6407082A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tsutomu Takahashi
勉 高橋
Takemasa Iwasaki
岩崎 武正
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS58182565A publication Critical patent/JPS58182565A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

PURPOSE:To display a necessary additional operation and to indicate adequately to each number of operation automatically by reading information on the inspection procedure of an object to be inspected, etc., and making a decision on an inspected result. CONSTITUTION:When the bar code BCD of an optional inspection unit IU is read by an input device 20 by the intervention of an operator, a control processor 40 reads relative operation history information out of a storage device to detect uninspected operations and also select an operation to be done firstly, and further displays the contents of the corresponding inspection procedure on a display 11 in selection format through a display controller 16. The operator confirms it through the transparent panel 12 of a touch panel type tablet to perform input operation as reguired. The control processor 40 indicates the addition of an inspection procedure, etc., according to the input data. Thus, this device indicates adequately to each operation number operating different inspection.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、複雑なロット処理を必要とする検査工程にお
いて、作業者に適切な検査手順を指示するだめの検査作
業指示装置に関するものでめる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an inspection work instruction device for instructing an operator on an appropriate inspection procedure in an inspection process that requires complicated lot processing.

例えば、複雑な1・β業手順が要求される半導体製品等
の検査作業は、その対象となるロット(検査ロット)の
品種名、検査項目または作業履歴により、それぞれ異な
った自答のものとなる。
For example, inspection work for semiconductor products that requires complex 1/β work procedures will require different answers depending on the product name, inspection items, or work history of the target lot (inspection lot). .

また、この種の検査作業は、多くの場合、抜取横歪方式
によっているので、す/ブリフグ裟ケ卦よびサンプル当
りの測定回数(点数ンなとも、)b去の夕1]定結果に
基づいて推定された平均的な当該品質により、逐次に変
更しなければならないものである。
In addition, since this type of inspection work is often carried out by the sampling transverse strain method, it is based on the detailed results and the number of measurements per sample (number of points). The quality must be changed sequentially based on the estimated average quality.

したがって、この種の検査作業には、作業能率の向上お
よび作業誤りの防止などの観点から、適確な作業指示が
強く要求されている。
Therefore, for this type of inspection work, accurate work instructions are strongly required from the viewpoint of improving work efficiency and preventing work errors.

そのため従来から種々の検査作業結果装;4が開発・実
用されており、これを大別すると、作業指示票による指
示方式および作業手順のみのCII、 T(陰極線管)
表示、音声出力による指示方式の2方式があるが、いず
iもサツシリング数およびサンプル当りの測定回数(点
数)ならびに検査作業単位(サンプリング等によって決
定された検査対象の単位として検査作業をすべき1−!
たは複数の被検査物品)の処理(合否など)を決定する
判定基準は、あらかじめ1通りに固定されていて、融通
性がなく必ずしも適確なものではなかった。
For this reason, various inspection work result instruments have been developed and put into practice, and these can be roughly divided into those that use work instruction sheets, CII that uses only work procedures, and T (cathode ray tube).
There are two methods of instruction, one by display and one by voice output, but both require the number of saturations, the number of measurements per sample (score), and the unit of inspection work (the unit of inspection object determined by sampling, etc.). 1-!
The criteria for determining the processing (pass/fail, etc.) of a product (or a plurality of items to be inspected) are fixed in advance, are inflexible, and are not necessarily accurate.

なお、作業指示票による指示方式では、品種名。In addition, in the instruction method using a work instruction sheet, the product name.

検査項目または作業履歴別に作成された手順表を探した
シ、その内容を読んで一部分だけを実施するという作業
などが必要となるので、作業能率が低いとともに作業誤
りも多いという問題もある。
Since it is necessary to search for procedure charts created for each inspection item or work history, read the contents, and carry out only a part of the procedure, there is a problem that work efficiency is low and there are many errors in work.

また、作業手順のみのCfl、T表示、音声出力による
指示方式では、それまでの検査結果の判定によっては適
宜に表示画面の読み飛ばしや音声指示の聞き飛ばしが必
要となったり、検査結果の判定を作業者自身が行わなけ
ればならなかったりする。
In addition, with the instruction method using Cfl, T display, and voice output for only work procedures, depending on the judgment of the test results up to that point, it may be necessary to skip the display screen or listen to the voice instructions as appropriate, or it may be necessary to judge the test results. may have to be done by the worker himself.

1〜たがって、その作業能率が低いとともに、測定デー
タのうち1つが他のデータから飛び離れ−Cしまりよう
な異常データが観測された場合に、その異常データを用
いて判定を行うと、その検査作業単位の処理(合否など
)を誤って決定するか、それまでの結果から大きく異な
ってしまって判定不能に陥るなどのおそれがある。
1 - Therefore, if the work efficiency is low and abnormal data such as one of the measured data is far away from the other data is observed, if a judgment is made using that abnormal data, the There is a risk that the processing (pass/fail, etc.) of a unit of inspection work will be determined incorrectly, or that the results will differ greatly from the previous results, making it impossible to make a determination.

本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくし、そ
れぞれ相異なる検査作業を行う各作業者に対し、作業能
率の向上と作業誤りの防止とのだめの適確な指示を行う
ことができる検査作業指示装置を提供することにある。
An object of the present invention is to eliminate the drawbacks of the prior art as described above, and to provide an inspection method that can provide appropriate instructions to each worker who performs different inspection tasks to improve work efficiency and prevent work errors. The objective is to provide a work instruction device.

本発明の特徴は、検査対象の検査手順情報および各検査
作業単位の作業B歴情報その他所製情報を格納する記憶
装置と、各検査作業単位に付与された当該各選択識別情
報表示を読み取る人力装置と、上記検査手順情報および
作業履歴情報を表乃くしうるとともに、その未着手検査
手順情報の表示に基づいてなされた検査作業の結果を入
力することができる表示装置と、上記入力装置が読み取
つた検査作業単位の選択識別情報に従って上記記憶装置
から当該横歪手順情報および当該作業履歴情報を読み出
し、当該検査単位の未着手検査手順情報を算出して上記
表示装置に出力するとともに、その未着手検査手順情報
に基づいてなされた検量作業結果の上記表示装置への入
力によって当該作業履歴情報の更新および当該検査作業
結果の判定を行い、判定基準を外れるときは、恢責手順
の追加を繰り返して指示し、当該検査作業単位の処理を
決定して上記表示装置に出力する制御処理装置とから構
成した検査作業指示装置にある。
The present invention is characterized by a storage device that stores inspection procedure information of the inspection target, work B history information of each inspection work unit, and other company information, and a human ability to read each selection identification information display given to each inspection work unit. a display device capable of displaying the inspection procedure information and work history information and inputting the results of inspection work performed based on the display of the unstarted inspection procedure information; According to the selection identification information of the inspection work unit, the relevant lateral strain procedure information and the relevant work history information are read from the storage device, the unstarted inspection procedure information of the relevant inspection unit is calculated and output to the display device, and the unstarted inspection procedure information of the relevant inspection work unit is By inputting the results of the calibration work performed based on the inspection procedure information into the display device, the work history information is updated and the test result is judged. If the results do not meet the judgment criteria, repeat the addition of the calibration procedure. and a control processing device for instructing, determining processing for the inspection task unit, and outputting it to the display device.

以下、本発明の実施例を図に基づいて説明する。Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings.

第1図は、本発明に係る検査作業指示装置の一実施例の
ブロック図、第2凶は、そのフローチャートである。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the inspection work instruction apparatus according to the present invention, and the second figure is a flowchart thereof.

ここで、10は、表示装置、11は、そのディスプレー
(例えば、CRT表示装置)、12は、タッチパネル式
タブVントを構成する透明パネノペ13は同じく、各一
端が前記透明パネル12をディスプレー11の前面に可
動的に3点支持をするために各他端が不動部R()Dに
固定されカンチレバー、14は、1司じく、酎[己カン
テンパー13に取り付けられ、上記透明パネル12の任
意の点を圧すると、その圧迫点と当該カンチレバー13
の支持支点との距離に応じた圧力を検出するストレイン
ゲージ、15は、同じく、各ストレインゲージ14から
の検出出力のアナログ/ディジタル(A/D)変換をす
るA/D変換器、16は、同じく、ディスプレー11の
制御を行うだめのディスプレー制御装置、20は、検査
作業単位IU自身またはその収容器に付された当該選択
識別情報表示(例えば、バーコードBCI)の印刷)を
読み収る人力装置(?すえば、バーコードリーダ)、3
0は、検査対象の検査手順情報および各検査作業単位の
作業履歴情報その他所製情報(本検査作業指示装置の動
作上必要なプログラム情報など)を格納する記憶装置、
40は、制御処理装置である。なお、表示装置10.入
力装置20は、複数の検査作業単位IUそれぞれについ
て各特定の検査を行う複数の横歪装置TSTに対応して
複数のものが設けられるが、本図では1組だけを代表し
7て図示しである。
Here, 10 is a display device, 11 is a display thereof (for example, a CRT display device), and 12 is a transparent panel panel 13 constituting a touch panel type tab V. Each end of the transparent panel 12 is connected to the display 11. The cantilever 14 has its other end fixed to the fixed part R()D in order to provide movable three-point support to the front surface. When pressure is applied to an arbitrary point, the pressure point and the cantilever 13
15 is an A/D converter that performs analog/digital (A/D) conversion of the detection output from each strain gauge 14, and 16 is Similarly, the display control device 20 that controls the display 11 uses human power to read the selected identification information display (for example, the printing of barcode BCI) attached to the inspection work unit IU itself or its container. Equipment (? Barcode reader), 3
0 is a storage device that stores inspection procedure information of the inspection target, work history information of each inspection work unit, and other company information (program information necessary for the operation of the inspection work instruction device, etc.);
40 is a control processing device. Note that the display device 10. A plurality of input devices 20 are provided corresponding to a plurality of transverse strain devices TST that perform specific inspections for each of a plurality of inspection work units IU, but in this figure, only one set is represented by 7. It is.

まず、制御処理装置40は、作業者が任意の検査作業単
位IUのバーコードBCI)を入力装置20から絖み込
ませると、これに関する作業履歴情報を記憶装置30か
ら絖み出し、その未着手検査作業を検出するとともに、
これらの中から最早作業を選択し、更に当該検査手順の
内容をディスプレー制御装置16経由でディスプレー1
1に選択肢形式などで表示せしめる。
First, when a worker inserts the barcode BCI of an arbitrary inspection work unit IU from the input device 20, the control processing device 40 retrieves the work history information related to this from the storage device 30, and In addition to detecting inspection work,
Select the first task from among these, and then display the contents of the inspection procedure on the display 1 via the display control device 16.
1 is displayed in an option format.

作業者は、ディスプレー11の画面上に逐次表示される
検査手順をタッチパネル式タブレットの透明パネル12
を透して確認し、これに従って当該検査作業を行うが、
その結果は、その透明パネル12上の上記選択肢表示の
いずれか該当する部分を圧し、更に当該測定データ等の
数値入力が必要なときは、テンキー状の部分(?すえば
、0〜9の数字表示部分)を順次に圧することにより、
A/D変換器15を介して当該データが制御処理装置4
0に取り込まれる。
The operator uses the transparent panel 12 of the touch panel tablet to follow the inspection procedures that are sequentially displayed on the screen of the display 11.
The inspection work will be carried out in accordance with the above.
The results are displayed by pressing the corresponding part of the above-mentioned option display on the transparent panel 12, and if it is necessary to enter numerical values such as the measurement data, press the numeric keypad-like part (for example, numbers 0 to 9). By sequentially pressing the display area),
The data is sent to the control processing device 4 via the A/D converter 15.
It is taken into 0.

制御処理装置40は1.上記の入力データを識別し、そ
れに応じて他の異なる検査手順の迫力[」指示または当
該検査作業単位IUの処理(合否など)をディスプレー
11へ表示する。また、谷検査作業の終了ごとに記憶装
置30にアクセスして当該検査対象の作業履歴を更靴し
ておく。これを繰り返すことによって用型の検査対象の
作業kr−次行うことができる。
The control processing device 40 has 1. The above-mentioned input data is identified, and in response to the input data, other different inspection procedure powerful instructions or processing (pass/fail, etc.) of the inspection work unit IU is displayed on the display 11. Further, each time the valley inspection work is completed, the storage device 30 is accessed to update the work history of the inspection target. By repeating this, the next work kr to be inspected on the mold can be carried out.

次に、制御処理装置40の制御処理装置の一例を、第2
図の70−チャートに基づいて更に詳帷に説明する。
Next, an example of the control processing device of the control processing device 40 is
This will be explained in more detail based on the chart 70 in FIG.

最初に、当該検査作業単位IUに関する測定結果として
制御処理装置40へ取り込まれた全測定データは、その
大小関係が調べられて当該最小値S、最大値りが求めら
れ(第2図における処理110)、更に当該平均値M、
標準偏差Vが永められる(同前処理120)。
First, all the measurement data taken into the control processing device 40 as measurement results regarding the inspection work unit IU are examined for their magnitude relationship, and the minimum value S and maximum value are determined (process 110 in FIG. 2). ), and further the average value M,
The standard deviation V is lengthened (pre-processing 120).

次いで、最小値S、最大値りについて平均値Mからの各
偏りを算出して大きい値の方を範囲ILとしく同前処理
130)、これと上記標準偏差Vとの比の値を求めて当
該異常値判定基準値Gとの大小比較を行う(同前判断1
40)。
Next, calculate each deviation from the average value M for the minimum value S and the maximum value, set the larger value as the range IL (preprocessing 130), and calculate the value of the ratio between this and the above standard deviation V. Compare the size with the abnormal value judgment reference value G (same judgment 1)
40).

ここで、異常値判定基準値Gは、あら力・しめ、測回数
(点数)別に定められたものであって、記憶装置30に
格納されており、必要に応じて制御処理装置40によっ
て読み出されるものである。
Here, the abnormal value determination reference value G is determined for each failure, tightening, and number of measurements (scores), and is stored in the storage device 30 and read out by the control processing device 40 as necessary. It is something.

上記の判定の結果、異常値判定基準値Gが上記比几/V
よりも大きい場合には、各測定データに異常がないこと
になるので、それまでの範囲R2平均値M、標準偏差V
の各値別に、あらかじめ記憶装置30に格納している当
該検査作業単位IUの処理を読み出し、ディスプレー1
1に表示する(同前処理150)。
As a result of the above judgment, the abnormal value judgment reference value G is the above ratio/V
If it is larger than , it means that there is no abnormality in each measurement data, so the range R2 average value M, standard deviation V
The processing of the inspection work unit IU stored in advance in the storage device 30 is read out for each value of
1 (pre-processing 150).

また、異常値判定基準値Gが上記比R/V以下の場合に
は、各測定データは異常値であるので、以後の判定処理
に用いないようにすべく測定データから除いておき(同
前処理160)、そのデータの不足を補うだめの追加の
検査作業指示をディスプレー11に表示した後、上述の
処理110に戻る(同前処理170)。
In addition, if the abnormal value judgment reference value G is less than or equal to the above ratio R/V, each measurement data is an abnormal value, so it is removed from the measurement data so as not to be used in subsequent judgment processing (same as above). After displaying on the display 11 an additional inspection work instruction to compensate for the lack of data (process 160), the process returns to process 110 described above (previous process 170).

以上の処理2判断を繰り返すことにより、当該検査作業
単位IUの処理が犬定されるまで、その検査作業指示を
繰り返し行い、所望の検査作業を終了せしめることがで
きる。
By repeating the above process 2 judgment, the inspection work instruction can be repeatedly issued until the process of the inspection work unit IU is determined, and the desired inspection work can be completed.

このようにして、検査作業単位ごとに当該品種別、検査
項目別2作業膣歴別の検査手順の自動表示をし、その指
示を確認して検査作業を行うとともにその表示画面の所
定部に対して直接触れることによって測定結果を行わし
めることができる。
In this way, the inspection procedure for each product type, inspection item, 2 tasks, and vaginal history is automatically displayed for each inspection work unit, and while checking the instructions and performing the inspection work, the specified part of the display screen is displayed automatically. The measurement results can be determined by touching the surface directly.

壕だ、測定結果の判定および検査作業単位の処理決定は
、制御処理装置によって自動的に迅速、確質に行われる
とともに、制御処理装置は、複数の検査装置に関する検
査作業指示を同時に行うことができるので、経済的であ
る。
Judgment of measurement results and processing decisions for each inspection work unit are automatically, quickly and reliably performed by the control processing device, and the control processing device is also capable of issuing inspection work instructions for multiple inspection devices at the same time. It is economical because it can be done.

以上、詳細に説明したように、本発明によれば、それぞ
れ相異なる検査作業を行う各作業数に対して適確な指示
を行う経済的な検査作業指示装置を実現することができ
るので、複雑なロット処置を必要とする検査工程(例え
ば、半導体横置工程)において、その検査作業の能率向
上、信頼性向」−2経済性向上に顕著な効果が得られる
As described above in detail, according to the present invention, it is possible to realize an economical inspection work instruction device that gives accurate instructions for each number of different inspection tasks. In an inspection process that requires extensive lot processing (for example, a semiconductor horizontal placement process), significant effects can be obtained in improving the efficiency of the inspection work, improving reliability, and improving economic efficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明に係る検査作業指示装置の一実施例の
ブロック図、第2図は、そのフローチャートである。 10・・・表示装置、11・・・ディスプレー、12・
・・透明パネル、13・・・カンチンバー、14・・・
ストレインゲージ、15・・・A/D変換器、16・・
・デイスプンー制御装置、20・・・入力装置、30・
・・記憶装置、40・・・制御処理装置。 代理人 弁理士 福田幸作 (ほか1名) 華l 目 U 第22
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of an inspection work instruction device according to the present invention, and FIG. 2 is a flowchart thereof. 10...Display device, 11...Display, 12.
...Transparent panel, 13...Canchin bar, 14...
Strain gauge, 15... A/D converter, 16...
・Dispenser control device, 20...input device, 30・
...Storage device, 40...Control processing device. Agent Patent attorney Kosaku Fukuda (and 1 other person) Hana I U No. 22

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、検査対象の検査手順情報および各検査作業単位の作
業履歴情緒その他所製情報を格納する記憶装置と、各検
査作業単位に付与された当該各選択識別情報表示を読み
取る入力装置と、上記検査手順情報および作業履歴情報
を表示しうるとともに、その未着手検査手順情報の表示
に基づいてなされた検査作業の結果を入力することがで
きる表示装置と、上記入力装置が読み取った検査作業単
位の選択識別情報に従って上記記憶装置から当該検査手
順情報および当該作業情報を読み出し、当該検査作業単
位の未着手検査手順情報を算用して上記表示装置に出力
するとともに、その未着手検査手順情報に基づいてなさ
れた検査作業結果の上記表示装置への入力によって当該
作業履歴情報の更新および当該検査作業結果の判定を行
い、判定基準を外れたときは、検査手順の追加を繰り返
して指示し2、当該検査作業単位の処置を決定して上記
表示装置に出力する制御処理装置とから構成したことを
特徴とする検査作業指示装置。
1. A storage device for storing inspection procedure information of the inspection object and work history sentiment and other proprietary information for each inspection work unit, an input device for reading the selection identification information display given to each inspection work unit, and the above-mentioned inspection. A display device capable of displaying procedure information and work history information and inputting the results of inspection work performed based on the display of the unstarted inspection procedure information, and selection of an inspection work unit read by the input device. Reads the inspection procedure information and the work information from the storage device according to the identification information, calculates the unstarted inspection procedure information of the inspection work unit and outputs it to the display device, and based on the unstarted inspection procedure information By inputting the inspection work results to the display device, the work history information is updated and the inspection work results are judged. If the inspection results do not meet the criteria, an instruction is given to repeat the addition of the inspection procedure 2. An inspection work instruction device comprising: a control processing device that determines a treatment for each work unit and outputs the determined treatment to the display device.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03239316A (en) * 1990-02-17 1991-10-24 Mitsubishi Electric Corp Method and apparatus for confirmation of operation
JPH08320885A (en) * 1996-03-15 1996-12-03 Hitachi Ltd Portable meter inspection data gathering processor

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03239316A (en) * 1990-02-17 1991-10-24 Mitsubishi Electric Corp Method and apparatus for confirmation of operation
JP2508870B2 (en) * 1990-02-17 1996-06-19 三菱電機株式会社 Work confirmation method and device
JPH08320885A (en) * 1996-03-15 1996-12-03 Hitachi Ltd Portable meter inspection data gathering processor

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