JPS58182190A - Dynamic type mos memory device - Google Patents

Dynamic type mos memory device

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Publication number
JPS58182190A
JPS58182190A JP57063828A JP6382882A JPS58182190A JP S58182190 A JPS58182190 A JP S58182190A JP 57063828 A JP57063828 A JP 57063828A JP 6382882 A JP6382882 A JP 6382882A JP S58182190 A JPS58182190 A JP S58182190A
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JP
Japan
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signal
level
data
address
output
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Application number
JP57063828A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazuyuki Miyazawa
一幸 宮沢
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • G11INFORMATION STORAGE
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    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
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    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4096Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches 

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  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To realize a high-speed memory, by connecting a precharging circuit which precharges a couple of common data lines up to a power supply voltage to those common data lines through which signals from a selected memory cell and a dummy cell are transmitted after being amplified. CONSTITUTION:Read signals from selected data lines are supplied to a couple of common data lines I/O and -I/O through column switcher C-SW1 and C-SW2. Further, those common data lines are provided with the precharging circuit so that those lines are held at the same potential precharging level before data reading or writing operation is performed. The precharging level is equalized to a power supply voltage level to allow a main amplifier MA to operate with high sensitivity, obtaining the high-speed memory.

Description

【発明の詳細な説明】 仁の発明に、ダイナミックtIj1.MOEl(金属絶
縁吻半導体)メモリ装置に―する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Jin's invention includes a dynamic tIj1. MOEL (Metal Insulated Semiconductor) memory device.

ダイナばツタ型MO8メモリにおいてに、選択されたメ
モリセルとダン−セルとが一対のデータ愉KM合される
。メモリセルとダミーセルとKよって決められた一対の
データーの電位量は、この一対のデータ劇に軸合され九
センスアンプによって壇輪さnる。一対のデーターにお
ける信号に、カラムスイッチ幽路r弁して一対の共通デ
ータ麹yc@紺される。一対の共通データ巌に与えられ
たgI号灯メインアンプによって増mされる。メインア
ンプによって瑠mされた11号に、過当な出力バツ7ア
回路r介してMO8メモリのデータ出力端子に出力?れ
る。
In the dynamo ivy type MO8 memory, the selected memory cell and the Dan cell are combined with a pair of data signals. The potential of the pair of data determined by the memory cell, the dummy cell, and K is aligned with this pair of data and output by the nine sense amplifiers. A pair of common data signals are sent to a pair of common data by using a column switch. It is multiplied by a gI signal main amplifier given to a pair of common data blocks. Is the output to the data output terminal of MO8 memory via the inappropriate output circuit r to No. 11, which is energized by the main amplifier? It will be done.

ダイナミック型MO8メモリにおいてh、c。h, c in dynamic MO8 memory.

ような一連の動作は、制御信号によって開始される。一
対のデーター及び共通データ線に、こOような一連の動
作の開始に先立ってプリチャージ状aに置かれる。
Such a series of operations is initiated by a control signal. A pair of data and common data lines are placed in a precharge state a before starting a series of operations such as this.

データ鹸及び共通データ#0プリチャージの7tめに、
これらのデータ鹸及び共通データ線にプリチャージ用M
O8FETが結合される。
At the 7th t of data charge and common data #0 precharge,
M for precharging is connected to these data line and common data line.
O8FET is coupled.

7リチヤ一ジ用MO11FIliTがtミy亀−電圧に
運するようなタイミング信号によって駆動される場合、
プリチャージレベルハ、*質的にタイミング信号レベル
からプリチャージ用MO87m!のし!込il[wL圧
忙引いた厘にしか上昇されな込。
7 If the recharging MO11 FIliT is driven by a timing signal such that it carries a voltage of
Precharge level: *Qualitatively, MO87m for precharge from timing signal level! Noshi! [wL] It is only possible to rise when you are busy.

しかしながら、飼えば共通データIIIIKおけるプリ
チャージレベルが低いと、これに応じてメインアンプの
バイアス電圧か低下さぜられる。七〇g朱、メインアン
プa、それにおける増幅Mo11ETのバイアス電圧が
低下嘔ゼられることに1つて、比稜的低thstでしか
動作しなくなる。
However, if the precharge level of the common data IIIK is low, the bias voltage of the main amplifier will be lowered accordingly. One reason is that the bias voltage of the main amplifier A and the amplifier Mo11ET in it is lowered, and it operates only at a relatively low thst.

メインアンプの感fか低い場合、センスアンプの増幅出
刃信号か充分に大きいレベルにされてからメインアンプ
の動作vlII始さゼるようKしなければならなくなっ
てくる。その結果、メモリの動作通ft−低下させなけ
ればならなくなってくる。
If the sense f of the main amplifier is low, it is necessary to set the amplified signal of the sense amplifier to a sufficiently large level before the main amplifier starts operating. As a result, the operating speed of the memory must be reduced.

この発明の目的に、高速動作化を図ったダイナミック1
11M0Bメモリ*mt−提供することにめる。
For the purpose of this invention, a dynamic 1
We are committed to providing 11M0B memory*mt.

この発明に従えば、共通データ線へのプリチャージレベ
ルか電−電圧V。。レベル!で高くされる。
According to the invention, the precharge level or voltage V to the common data line. . level! It is made expensive.

以下、この発明を実施例とともに詳細に説倒する。Hereinafter, this invention will be explained in detail along with examples.

〔ダイナミックメモリシステムの構成及び動作〕ダイナ
ミックメモリシステムの*X1!−第1図に従って1i
iir*する。まず、破産で囲まれたブロックダイアグ
ラムにダイナイックメモリシステムを示して′i?り、
このシステムにD−RAM  工0 ムRRムY(以下
、D−RAMと称する。)韮ひに酊算徐の中央処111
it (以下、CPUと称する、図ボゼず。)とD−R
AMとの間のインターフェイス回路から−Iitされて
bる。
[Configuration and operation of dynamic memory system] *X1 of dynamic memory system! - 1i according to Fig. 1
iir*. First, show the dynaic memory system in a block diagram surrounded by bankrupt 'i? the law of nature,
In this system, there is a D-RAM (hereinafter referred to as D-RAM).
it (hereinafter referred to as CPU) and D-R
-Iit is connected from the interface circuit with AM.

次に上記ダイナミックメモリシステムとCPUとの間の
人出力侶号r欽明する。1丁、アドレス信号ム0〜Ak
にD−RAMのアドレスr辿択する信号である。REF
Gt’tNTHD−RAMのメモリ情報rリフレッシュ
させる、リフレッシェ指示毎号である。wIC汀ライう
イネーブル倍号でめ0、D−RAMKおけるデータの絖
出し及び畳込み命令信号である。M8にD−RAMのメ
モリ動作r開始させる、メモリ起動信号である。D1〜
D。
Next, the human output between the dynamic memory system and the CPU will be explained. 1 piece, address signal 0~Ak
This is a signal to trace the address r of the D-RAM. REF
Gt'tNTHD-RAM memory information r is refreshed every time a refresh instruction is issued. The enable signal for wIC is the data start and convolution command signal in the D-RAMK. This is a memory start signal that causes M8 to start the memory operation of the D-RAM. D1~
D.

はCPUとD−RAMとkmぷデータパスにおける人出
力データである。R]IfFRJCQにD−RAMのメ
モリ情報のり7レツシ:Lex信号である。
is human output data in the CPU, D-RAM, and kmp data path. R] If FRJCQ contains memory information of D-RAM 7Receipt: Lex signal.

仄にダイナミックメモリシステムkD−RAMと上記イ
ンターフエイフtg1wJK分けてI51!明する。
The dynamic memory system kD-RAM and the above interface tg1wJK are separated into I51! I will clarify.

まず、D−11Mは列[mll、行KB@配列in几n
kビット集檜回路(以下、nkと称する。なお、lkビ
ットに2” = 1024  ビットに尋しい。)から
−成されている。これに応じてD−RAMに(nxm 
)ワード×Bビットの容を倉持っている。
First, D-11M is column [mll, row KB@array in 几n
It is made up of a k-bit aggregation circuit (hereinafter referred to as nk, where 2" = 1024 bits). Accordingly, the D-RAM (nxm
) has a capacity of word x B bits.

次にインターフェイス−路v説明する。RARにロウア
ドレスレシーバでToQ、OPUから送出されるアドレ
ス信号ムe〜ムにのうちのム0〜ム1r受18シ、D−
11Mの動作にあったタイミングのアドレス信号に変換
する。0ARrIカラムアト1’ X L/ シー /
(であり、上記アドレスmvAo〜ムにのうちのムL+
1〜Ajk受佃し、D−RAMの動作にあったタイミン
グのアドレス信号に変換するカラムアドレスレシーバで
ToQ、 ADRIJアドレスレシーバであり、上記アドレス信号
A・〜ムにのうちのムj十−〜Akk受fg L、D−
RAMの動作にめったタイミングのアドレス18号に変
換する。
Next, the interface path will be explained. The row address receiver sends ToQ to the RAR, and the address signals M0 to M1r of the address signals MEM sent from the OPU receive 18th and D-.
The address signal is converted into an address signal with a timing suitable for the operation of 11M. 0ARrI Column At 1' XL/ Sea/
(and mvAo to mvL+ of the above addresses mvAo~m
A column address receiver that receives 1~Ajk and converts it into an address signal with a timing that matches the operation of the D-RAM. Akka receiving fg L, D-
It is converted to address No. 18, which has a timing that is suitable for RAM operation.

DORufコーダで69.アドレスレシーバADHから
供給されるアドレス信号ムj+z〜ムkに応じて、D−
RAMのチップを迩択するためのチツ7悉択1tu伽信
号(以下、C8s〜osmと称する。
69. with DORuf coder. D− according to the address signals Mj+z to Mk supplied from the address receiver ADH.
Select signals (hereinafter referred to as C8s to osm) for selecting a RAM chip.

m==2に−j)2送出する。-j)2 is sent to m==2.

RAR−OTにRム8コントロール鋤路でるり、D−R
h@CD@作にめったタイミングのチップ辿択傭号及び
ロウアドレス取込用信号i送出する。
RAR-OT, Rum8 control Ruri, D-R
h@CD@Sends the chip trace selection signal and row address capture signal i at the right timing.

ムDMば上記アドレス信号ム0〜ム1並びにム1+1〜
ムj1r時系列的に多重化してD−RAMに送出するア
ドレヌマルチブレクサである。
In the case of MDM, the above address signals M0 to M1 and M1+1 to
This is an address multiplexer that multiplexes the data in time series and sends it to the D-RAM.

Ra G if D −RA M +2) メ% IJ
 ff4 @ f 97 v ッシエさせるタイミング
r決めるリフレッシュ同期発住回路である。
Ra Gif D - RAM +2) Me% IJ
ff4 @ f 97 v This is a refresh synchronization generation circuit that determines the timing r for refresh.

RA Or!D−RAMのメモリ情報tリフレッシュざ
ゼるためのりフレッシェアドレスM 号Ro〜Rt l
r?出するリフレッシエアドレスカウンタである。
RA Or! D-RAM memory information t Refreshing address M No. Ro to Rt l
r? This is the refresher address counter.

DBDμOPUとD −RA Mとの間のデータ人出力
がwxgI号により切換えられるデータバスドライバで
ある。
This is a data bus driver whose data output between the DBDμOPU and D-RAM is switched by the wxgI signal.

○−OT[上記RAO,ムDM、Rム8−OT。○-OT [Above RAO, Mu DM, R Mu 8-OT.

DBD 、 D−RAMI′f#J−する信号を送出す
るコントロール1gl路でるる。
DBD, D-RAMI'f#J- is the control 1gl path that sends out the signal.

次にダイナミックメモリシステム内におケルアドレス信
号のm成を説明する。
Next, the formation of the cell address signal in the dynamic memory system will be explained.

0PU(図挙しなIA)から送出嘔れるアドレス信号A
o〜ムkrrダイナ(ツクメモリシステム内で冥質的に
アドレス信号ム0〜ムjとアドレス信MA、)+s〜ム
にの2つに9勉される。
Address signal A sent from 0PU (IA not shown)
o ~ m krr dyna (within the memory system, address signals M0 ~ mj and address signals MA,) + s ~ m are divided into 9.

1つのアドレス信号ム・〜ムjfl D −RA Mの
各チップ内のメモリマトリクスのアドレス信号として使
用される。
One address signal is used as an address signal for the memory matrix in each chip of D-RAM.

他のアドレス信号ムj−1〜AkにD−RAM内のそれ
ぞれの工Cのチップを遍ぷか否かt決めるためのチップ
遍択偲号として使用される。
The other address signals Mj-1 to Ak are used as chip selection signals for determining whether or not to transfer the chips of each device C in the D-RAM.

アドレス信号ム、〜ムjfCさら4CD−RAMの各I
Cチップ内のメモリマトリクスに合わせて、そのうちの
アドレス偲号ム・〜A1がICチップアレイのロウ遍I
R[Ill #当てられ、ム1+1〜ムjがICチップ
アレイのカラム選択に劃f)歯てられる。
Address signals MU, 〜MUjfC, and each I of 4CD-RAM
According to the memory matrix in the C chip, the address number ~A1 is the row I of the IC chip array.
R[Ill # is applied, and M1+1 to Mj are applied to the column selection of the IC chip array.

久にダイナミックメモリシステム内における回路動作k
N1!明する。
Circuit operation in dynamic memory systems has been studied for a long time.
N1! I will clarify.

aじめKRム8’M号、すなわちRA日暑〜Rム8m猶
号、Rム81傭号、 RAsb侶号はロウ アドレスス
トローブ備考でめJ)%Oム841−kjrXカラム 
アドレス ストローブ信号である。
ajime KR 8'M, that is, RA Nissatsu ~ RM 8m, RA 81, and RAsb 8 are low address strobe notes.
Address strobe signal.

まず、apaからアドレス信号が出力される。First, an address signal is output from apa.

アドレス信号ム・〜At、ム1+1〜ムコにそれぞれR
AR,0AR1j介してムDMK印加される。
Address signals M・~At and M1+1~MU are R respectively.
DMK is applied via AR, 0AR1j.

次に、RASb信号かめるレベルになると、ムDMから
ロウアビレフ48号ム0〜ム1が送出される。
Next, when the RASb signal reaches a subdued level, RoubiRef No. 48 M0 to M1 are sent out from the MDM.

このロウアドレス信号ムG〜ムL (l、D  RAM
のアドレス1子に卸加される。このとき、ムDMが予め
過歯な構成にされていることによって、カラムアドレス
信号ムi+i〜ムjは送出されない。
These row address signals M G to M L (l, D RAM
Added wholesale to 1 child of address. At this time, column address signals Mui+i to Muj are not sent out because MuDM is configured in advance to have too many teeth.

次KRA81)91号が上記と逆レベルになるとこれに
応じてムDMからカラムアドレス信号ム1+1〜ムjが
送出され、同様KD−RAMOアドレス電子に印加式れ
る。このとき、ロウアドレス信号ム0〜ム1はムDMか
ら送出されなり0このようにして上記アドレス信号ム・
〜ム1にひム1+1〜ムjにahabz号のレベルによ
p持重列的にD−RAMのアドレス端子に印加される。
Next, when KRA81)91 becomes the opposite level to the above, column address signals M1+1 to Mj are sent out from MDM in response to this, and similarly applied to the KD-RAMO address electrons. At this time, row address signals M0 to M1 are sent out from MDM.
The signals are applied to the address terminals of the D-RAM in a columnar manner depending on the level of the ahabz signal from 1+1 to 1 to 1.

なお、ムDM及びRムOKリフレッシュ餉−信号R08
が印〃Dさnていな込場会、す7レツシ工7ドレスIN
号R・〜R/[ムDMから送出妊れないようになってい
る。
In addition, MU DM and R MU OK refresh signal R08
GA seal〃Dsantenina entrance meeting, Su7retsushiwork7dressIN
No. R・~R/[Mu DM sends out pregnancy is no longer possible.

チップ選択信号ムj十−〜ムkiJDORKよって王ト
シてD−RAM内のチップ’t#Rする友めのチップ選
択制ma号OaH〜051z(m=2に−j)Kg換さ
れ、箇友Rム8al1号を受けるRムs−。
The chip selection signal OaH~051z (-j to m=2) is changed to the chip selection system OaH~051z (-j to m=2) and the chip in the D-RAM is changed to Rmus- who receives Rmu 8al1.

TKよってタイミングがm5−aれたRム8s〜RA1
iim@I号に変換される。Rム81〜Rムf1ml!
、チップ選択用信号及びロウアドレス堆込み用佃号とし
て使われる。Rム8I信号框、D−RAM&(おける第
1行目のICチツプエ01〜工a、βに共通rc供耐さ
nる。同僚に、RAgmgI号に、jlim行白の工0
チツプエ01li〜工0rnsK#c通に供給される。
Rum8s~RA1 whose timing was m5-a due to TK
Converted to iim@I number. Rm81~Rmf1ml!
, is used as a chip selection signal and a code for storing row addresses. R-8I signal frame, D-RAM&(1st line IC chip 01~A, β common rc supply n).To a colleague, to RAgmgI number, jlim line white engineering 0
It is supplied to Chippue 01li - Engineering 0rnsK#c.

次にD−RAMの各列におけるチップ内のアドレスの設
定動作klli1.明する。
Next, address setting operation in the chip in each column of D-RAM klli1. I will clarify.

1丁、ロウアドレス伽号ム0〜ム1 i)L D −R
A MO丁べての工0チップのアドレス端子に印加δれ
る。
1, row address No. 0 to 1 i) L D -R
A δ is applied to the address terminal of the entire 0 chip of the MO.

七の懐、RA8aとチップ選択信号ムl+t−Akとに
応じてRA8 +−Rム8m信号のうち、1つの信号た
とえはRh8.信号があるレベルにされる。
For example, one signal among the RA8+-Rm8m signals is selected according to RA8a and the chip selection signal Ml+t-Ak. The signal is brought to a certain level.

Rム8蟲信号によって、D−RムMKおける第1行目の
BgMのIOチツプエ0■〜工O1に上記ロウアドレス
信号ム。〜ム1が取込まれる。ここで。
The row address signal is sent to the IO chips 0-1 of the BgM in the first row of the D-R MK by the R8 signal. -Mu1 is imported. here.

上記ロウアドレス便号ム・〜ム1がRムB14M号より
も前に上記IOに印加される糎自にRh8−信号が上記
ロウアドレス儒号ム・〜ム119も@KkA加されると
、ロウアドレス信号以外の信号kj&込む可能性がある
からである。
When the Rh8- signal is applied to the above IO before the row address number M--M1 is applied to the IO before the R-B14M, the row address number M--M119 is also applied @KkA, This is because there is a possibility that a signal other than the row address signal kj& may be included.

仄にカラムアドレス信号ム1+t〜ムjかD−RAMの
丁べての工0チップのアドレス端子に印加される。
Column address signals M1+t to Mj are also applied to the address terminals of all chips of the D-RAM.

その後、Rh8.@号からj!観したOム81!号があ
るレベルにされるとこれに応じて第1行目のnk、Bi
@iのIO−チツプ上記カラムアドレス信号ムト1〜ム
jか蝦込箇れる。ここで、上記カラムアドレス信号Ai
十−〜ムjがohm 信号よりも躬に上記l0K(社)
加される境内は上記亀山と同様である。
After that, Rh8. From @ issue to j! I watched Om81! When the number is set to a certain level, nk and Bi in the first row are changed accordingly.
The above column address signals Mut1 to Muj are input to the IO-chip of @i. Here, the column address signal Ai
10-~Muj is ohm The above l0K (company) is better than the signal
The added precincts are the same as Kameyama mentioned above.

また、CAM信号の働きは、IO−チツプアドレス亀子
にロウアドレス信号ム・〜ム1めるいげカラムアドレス
信号ム1十−〜ムjのどちらのII号か供給式れてbる
かt区分することにある。
In addition, the function of the CAM signal is such that which one of the row address signals M, - M1, M1, I, and column address signals M10, -J, is supplied to the IO-chip address frame, and it is determined whether it is b or t. It's about doing.

以上の動作により、D−RAMIZ)第1竹目のnk、
Ba1lのICチップ内の4IR丁べきメモリセルのア
ドレスか設定される。
By the above operation, D-RAMIZ) nk of the first bamboo,
The address of the 4IR memory cell in the Ba1l IC chip is set.

D−RAMの第1行目を除く工0にRA8.〜RA8@
匍号がRA B@のレベルと逆レベルにされていること
によって選択響れない。
RA8. ~RA8@
The selection cannot be heard because the level of the 4-go is set to be the opposite of the level of RA B@.

仄に上記の工うに設定されたメモリアドレスに対するデ
ータの書込み動作及び続出し動作を欧明する。
We briefly explain the data write operation and continuous output operation for the memory address set in the above manner.

各IO−チツプ、それぞれにおける1−夕の畳込み動作
及び胱出し動作がライトイネーブル協号WICのハイレ
ベルまたはロウレベルによって決蔵されるように予め設
計されている。
Each IO-chip is pre-designed such that one day's convolution and emptying operations in each are determined by the high or low level of the write enable code WIC.

畳込み動作に、Wl値号か所定のレベル、例えはロウレ
ベルのときに上記設定されたアドレスにOPUからのデ
ータDIS〜DXBか印加されることによって行なわれ
る。
The convolution operation is performed by applying data DIS to DXB from the OPU to the above set address when the Wl value is at a predetermined level, for example, at a low level.

胱出し前作に、vm信号が上記と逆レベルのときに畳込
みr完了している上記それぞれのアドレスのデータD(
II−DのBかBビットで出力されることKよって打な
われる。
In the previous work, data D(
It is set by K that is output on B or B bit of II-D.

〔コントロール信号の働き〕[Function of control signal]

略号に@1号の働tk意味しており、反転記号(バー、
 bar )が略号の上に付けられているものにその信
号が’Q’ (Low Lsval )のときく、七の
略号のもつ意味の慟tk実行し、 bar配号がないm
会n’ 1 ’ (Hlgh Level )のときに
そttr実行することに一意味している。
The abbreviation is @1, meaning tk, and the inversion symbol (bar,
When the signal is 'Q' (Low Lsval) for those with bar ) placed above the abbreviation, the meaning of the seventh abbreviation is executed, and m without the bar symbol.
This means that it is executed at the time of meeting n'1' (High Level).

0−OTにOPUからの命令信号丁なわち1llRqa
l1号tそれぞれ送出する。これらの送出されるコント
ロール信号のme框・次のようKなる。
Command signal from OPU to 0-OT, ie 1llRqa
Send each number 11 and t. The me frame of these sent control signals is as follows.

Cム8備考に、ロウアドレス信号ム0〜ムthるいaカ
ラムアドレス信号ム1+暴〜ムjのどちらかD−RAM
内の各チップに送出されているか1区分するための信号
及び工0チップのカラムアドレス信号11−取込むため
の信号である。
C 8 Notes: Row address signal MU 0 to MU thru a Column address signal MU 1 + BU to MU j D-RAM
A signal is used to classify whether the data is sent to each chip in the chip, and a signal is used to capture the column address signal 11 of the chip.

Rム8a信号にaB−〜08m信号をタイインク1合わ
せてD−RAM内の工0チップアレイに供給させるため
の信号である。
This signal is used to combine the aB- to 08m signals with the R8a signal and supply them to the 0-chip array in the D-RAM.

WE傷信号、D−RAMのICチップ内のメモリセルか
らのデータOR出し及びメモリセルへのデータの畳込み
t決定するための信号である。
The WE flaw signal is a signal for ORing data from memory cells in the D-RAM IC chip and determining the convolution t of data in the memory cells.

Rca[号にリフレツシエ動作の開始及びムDMにおい
てアドレス信号ム。〜ム1.ム1+、〜ムjの送出會乗
止すると共KRAOからのリフレッシュアドレス信号R
・〜Rtk送出するための徊号でるる。
The refresher operation starts at Rca[, and the address signal M is output at MDM. ~Mu1. When the sending session of M1+, to Mj is stopped, the refresh address signal R from KRAO is
・~Ruru for sending Rtk.

”8b1t1号框ムDMからロウアドレス信号ム。``Row address signal from 8b1t1 frame DM.

〜ム1及びカラムアドレス信号ム1+1〜ムj1r時禾
夕1j多菖化偏号に変換するための9J換えタイミング
・18号でるるとともに、RAIII糸信号、すなわち
RA 85〜RAam侶号の1つが選択されたとき、ム
DMからロウアドレス信号ム0〜ム1か出力されて込る
ようK、ロウアドレスfl!−1’tム0〜ム1とカラ
ムアドレス信号ム1+−〜ムjの切換え時期tRA&、
信号から遅延させた信号にしている。
9J switching timing for converting to the multi-code decoder 18 and the RAIII thread signal, that is, one of the RA 85 to RAam codes. When selected, one of the row address signals M0 to M1 is output from the MDM, and the row address fl! -1't Mu0 to Mu1 and column address signals Mu1+- to Muj switching timing tRA&,
The signal is delayed from the signal.

次に前記W1信号とデータパスドライバ(DBD)の関
係會説明する。
Next, the relationship between the W1 signal and the data path driver (DBD) will be explained.

0−OTから送出されたWl信号にD−RAM及びDB
DK団加される。ガえにW1偏号が高レベルの時、断出
しモードとなり、D−11MIDデータが出力され、D
BDt−介してOVaへ18出される。このとき、人力
データにW1信号に工9DBDからD−RAMiC*込
鵞ないようにII−される。箇たWIC傷号値号レベル
の時、書込みモードとなp、D−RAMのデータ入力端
子KOPHから入力データかDBDk−介して印加され
、設定されたアドレスにデー−が書込オれる。このと1
1D−RAMのデータ出力はWl信号によりDBDから
出力式れな帆ように制御される。
D-RAM and DB are connected to the Wl signal sent from 0-OT.
DK joins the group. When the W1 decoding is at a high level, the cutout mode is activated, D-11MID data is output, and the D
18 is sent to OVa via BDt-. At this time, the W1 signal is inputted from DBD to D-RAMiC so that the manual data is not included. When the WIC signal level is at the write mode, input data is applied from the data input terminal KOPH of the D-RAM via the DBDk, and data is written to the set address. Konoto 1
The data output of the 1D-RAM is controlled by the Wl signal so that it is output from the DBD.

〔リフレッシ:L動作〕[Refresh: L operation]

D−RAMのメモリセル−Mでに、情報に、電何(チャ
ージ)の形動でMOg中ヤパシタのようなキャパシタに
貯えられる。このチャージはり−ク電鐘により時間とと
もに減少する。ここで問題なのにチャージリークD@釆
として例えば情報’ 1 ’ (Htgh L@vel
 )  K対応するようなチャージレベルが、情報1に
1′と’O’ (Low LsVel ) 2判別する
基準レベルよ0小さくなると、それが誤って10′と判
別されてしまうことである。そこで、情報ゝ11t記慣
させ続けるKに電荷か上記基準レベルより減少する前に
電荷Vリフレッシュすることが必豐にされる。このリフ
レッシュ動作に保証されるメモリセルの情報蓄積時間内
に必ずIIg1以上行なわなけれd″Jkらない。
In the memory cell M of the D-RAM, information is stored in a capacitor such as a capacitor in MOg in the form of an electric charge. This charge decreases over time due to the electric bell. Although there is a problem here, there is a charge leak D@button, for example, information '1' (Htgh L@vel
) If the charge level corresponding to K becomes 0 smaller than the reference level for determining information 1 and 1' and 'O' (Low LsVel) 2, it will be mistakenly determined as 10'. Therefore, it is necessary to refresh the charge V before the charge K decreases below the above-mentioned reference level while the information 11t is being stored. This refresh operation must be performed at least IIg1 within the guaranteed memory cell information storage time.

仄にリフレッシュ−作を第1図に従って説明する。The refresh operation will be briefly explained with reference to FIG.

リフレッシュ同期発生回路R8Gにリフレッシ;L*求
倶号1zyRIQk(慴報薔槓時間)/(リフレッシュ
サイクル数)の胸期毎KOPUへ送出する。(なお、す
7レツシエサイクル数にカラムチーターにつながるワー
ド線の数と*iibである。)CPU″C框上配RI上
記RIQ7受けることによって、リフレッシュ指示信号
R]17GR’MTi(送出する。%Kltlllll
iされないがこのときOPUはライトイネーブル信号W
X及びメモリ起動信号M81送出しな込ように構成され
る。コントロール胞路〇−〇テにRIIFGR,NTi
1P受けることによってアドレスマルチプレクサムDM
及びリフレッシエアドレスカウンタ(以下、RAOと称
する。)K印加するためのリフレッシュ制御信号R0s
k出力する。
Refresh is sent to the refresh synchronization generating circuit R8G to the KOPU every chest period of L*request number 1zyRIQk (refresh time)/(number of refresh cycles). (In addition, the number of word lines connected to the column cheater is the number of word lines connected to the column cheater and *iib.) By receiving the above-mentioned RIQ7, the CPU''C sends out the refresh instruction signal R]17GR'MTi (. %Kltllllll
At this time, the OPU outputs the write enable signal W.
It is configured to transmit X and memory activation signal M81. RIIFGR, NTi in control cell tract 〇-〇te
Address multiplex DM by receiving 1P
and a refresh control signal R0s for applying K to a refresher address counter (hereinafter referred to as RAO).
Output k.

ムnM嬬R0e債号を受けることによってランダム・ア
クセス用のアドレス信号ム・〜ムjに代えてリフレッシ
ュ専用のアドレス信号R・〜R1’i(D−RAMK送
る。
By receiving the MnM R0e bond, a refresh-only address signal R.about.R1'i (D-RAMK) is sent instead of the address signal M.about.Mj for random access.

D−RAMKおけるリフレッシュ方法は2つに大別され
る。その1つに工0チップアレイの各行毎に側番にリフ
レッシ5−2行なう方法である。この方法はリフレッシ
ュに費する消質電力が少なくて丁む、PI3点があるが
、リフレッシュに要する時間かかかるという欠点かめゐ
Refreshing methods for D-RAMK are roughly divided into two. One method is to perform refresh 5-2 on each row of the chip array. This method has three PI points, as it consumes less power for refreshing, but it has the disadvantage of taking a long time to refresh.

もう1つの方1H1D−RムMの金工0テップアレイk
lWJ#にリフレッシュする方法である。この方法を実
竹さゼるための構成に菖1図Kに示さnていないが、例
えばアドレスレジ−I<からのアドレス信号ムj++〜
ムkVデコーダDCRrfrさずRA8コントロール回
MRA8−OTに印加してRムB−OTの丁べての出刃
信号RA8.〜RA8m’jあるレベルにし、これKよ
って、D −RAMの全ての工Ot一時に適択芒ゼるこ
とによってリフレッシュを行なうものである。
Another 1H1D-RM M metalwork 0 tip array k
This is a method of refreshing to lWJ#. Although not shown in Fig. 1 is a configuration for using this method to store real bamboo, for example, the address signal from the address register I is
The MkV decoder DCRrfr is applied to the RA8 control circuit MRA8-OT to output the cutting edge signal RA8. ~RA8m'j is set to a certain level, thereby refreshing all the data in the D-RAM at once.

この利点にリフレッシュに發する時間か少な−という仁
とであり、反面欠Aに消質電力か多いということである
The advantage of this is that it requires less time to refresh, but the disadvantage is that it requires a lot of energy to be depleted.

次KD−RAMのIO内のマトリクスアレイにおけるリ
フレッシュ動作II−説明する。
Next Refresh operation in matrix array in IO of KD-RAM II - will be explained.

ムDMからD−RAMのアドレス−子にリフレッシュア
ドレス信号R・〜R)か印加され、七の恢RA 8fF
1号かめるレベルにな9、IOマトリクスアレイの27
+1本のロウアドレスか順久辿択賂nる。このと右、0
ム8g!号は上記と迎レベルとなっている。泗択され比
口9アドレスにつなかつているメモリセルの情報はセン
スアンプ(図示せず)Kよってその11′及び10′ 
のレベル走か広けられるように増幅される。この増幅さ
れ几情−に再びメモリセルに書き込まれる。すなわち、
リフレッシュが行なわれる。
The refresh address signal R.~R) is applied from the RAM DM to the address child of the D-RAM, and the
9 at the level of No. 1, 27 of the IO matrix array
+1 row address or a sequential route. This and the right, 0
8g! The issue is at the same level as above. The information of the selected memory cell connected to address 9 is sent to 11' and 10' by a sense amplifier (not shown) K.
The level of running is amplified to be widened. This amplified signal is then carefully written into the memory cell again. That is,
A refresh is performed.

なお、wlc信号にリフレッシエ動作時にσD −RA
M及びDBDK送出されない。そのため、DBDからの
データの人出力に行なわれな込。
Note that σD −RA is applied to the wlc signal during refresher operation.
M and DBDK are not sent. Therefore, the human output of data from the DBD is not included.

〔ahtp系信号及びCム8系信号の働き〕第2図にに
、D−RAMにおける1つの集機回路(以下、ICと祢
する)の@路ブロックが示されており、編5図ccに工
0のより絆細なI略が示されている。
[Function of ahtp system signals and Cm8 system signals] Figure 2 shows the block of one concentrator circuit (hereinafter referred to as IC) in D-RAM, and Figure 5 CC A more detailed version of I-0 is shown below.

工O内のタイミングパルス発生ブロックTGBからに、
仄のようなRAa系信号(以下、RA8−一と称する。
From the timing pulse generation block TGB in the factory O,
RAa system signal (hereinafter referred to as RA8-1).

)及び0ムB系値号(以下、0ム8−φと称する。)か
出力される。
) and 0mB system value number (hereinafter referred to as 0m8-φ) are output.

(1)RAS−φ φ、Eにアドレスバッツ7mm信号で691これにアド
レスバッファ(以下、ムDBと称する。)Kl:tl加
され、ムDBKラッチ場れているロウアドレス信号ム0
〜ム1に対応するレベルao、τ7゜・・・・・・lL
i、5Likロウデコーダ(以下R−DORと称する)
及びカラムデコーダ(以下、0−DORと称する。)へ
送出するか否かt決定する信号でめる。
(1) RAS-φ φ, E is added with the address bats 7mm signal 691 to which the address buffer (hereinafter referred to as DB) Kl:tl is added, and the row address signal MU0 is filled in the DBK latch field.
Level ao corresponding to ~mu1, τ7゜...lL
i, 5Lik row decoder (hereinafter referred to as R-DOR)
and a signal for determining whether to send it to a column decoder (hereinafter referred to as 0-DOR).

−Xにワード−制御HI号であり、これにR−DCRK
印加され、メモリアレイ(以下、M−ARYと祢する。
-X is the word-control HI number, and this is R-DCRK
A memory array (hereinafter referred to as M-ARY) is applied.

)のロウアドレス1r選択するために選択さnた1つの
信号jM−ムFIYへ送出するか否かt決定する信号で
るゐ。
) is the signal for determining whether to send the selected signal jM-FIY to select the row address 1r.

φPAaセンスアンプIJIjl値号で信号、これにセ
ンスアンプKb加され、センスアンプを駆動する@号で
ある。
The signal φPAa is the sense amplifier IJIjl value number, and the sense amplifier Kb is added to this signal to drive the sense amplifier.

(2JOA8−φ φムcrrアドレスバッファ制御4IqA号で69、こ
れσムDBK印加され、ムDBにラッチさnている、カ
ラムアドレス信号Ai++〜ムjに対応するレベル’1
+I  + ai+1 、・・・・・・aj* aj2
R−DOR及び0−DORへ送出するか否かt決定する
信号である。
(2 JOA8-φ φ m crr address buffer control 4 IqA No. 69, this σ m DBK is applied and latched in m DB, level '1 corresponding to column address signal Ai++ ~ m j
+I + ai+1 ,...aj* aj2
This is a signal for determining whether to send to R-DOR and 0-DOR.

ψ!σカラムスイッチ制@便号でるり、これにカラムス
イッチ0−8W4C印加され、選択された1つの信号に
よってy−ムRYのカラムデーI巌Km続されているカ
ラムスイッチtis択する信号である。
ψ! The column switch 0-8W4C is applied to the column switch 0-8W4C, and is a signal that selects the column switch tis connected to the column data I and Km of Y-M RY depending on the selected one signal.

φop及びφma にデータ出力バッ7ア及び出力アン
プ制@信号でToo、これはそれぞれデータ出力バッフ
ァ(以下、DOBと称する。)及び出力アンプ(以下、
Mムと称する。)に印加され、M−ムRYからの読出し
データkalsカデータ(Dout)jf1子へ送出さ
せる信号である。
φop and φma are connected to data output buffer 7 and output amplifier @signal Too, which are respectively data output buffer (hereinafter referred to as DOB) and output amplifier (hereinafter referred to as
It is called Mmu. ) is a signal that causes the read data from M-RY to be sent to the data (Dout) jf1 child.

φRWにデータ人力バッファ制御I信号でTo9、これ
にデータ人力バッファ(以下、Dよりと称する。)Kf
=0加され、人力データ(Dtn)端子からの書込みデ
ータil−M−ムR1へ送出さゼる信号でるる。
φRW is the data manual buffer control I signal To9, and this is the data manual buffer (hereinafter referred to as D) Kf
=0 is added, and a signal is output from the manual data (Dtn) terminal to the write data il-M-R1.

φRwにデータ出力バッファIIIJI11信号であp
、これにDOBK印加され、畳込み動作時に続出しデー
ーiチーー出力(”out )ml子に出力しないよう
にする信号である。
p with data output buffer IIIJI11 signal to φRw.
, DOBK is applied to this, and is a signal that prevents output to the successive data output ("out") during the convolution operation.

纂2図のタイミングパルス発生1四ツタテG1からに、
Il!に後でa明されるようなφ  、φda    
 ma 等の―々の制御信号か出力される。
From the timing pulse generation 14 tate G1 in Figure 2,
Il! φ, φda as will be explained later in
Control signals such as ma are output.

(D−RAMの構成及び動作〕 D −RA Mc1構成11−菖2図に従って説明する
(Configuration and operation of D-RAM) D-RA Mc1 configuration 11 - Explanation will be made according to Fig. 2.

破朦で囲まれた部分のブロックはD−RAMの1つの集
I!11回路(以下、xoと称する。)として構成され
る。
The block surrounded by the broken part is one collection of D-RAM I! It is configured as 11 circuits (hereinafter referred to as xo).

上記工Oにおいて、二点鎖−で囲1れたブロックTGB
框タイきングパルス発庄ブロックでめり、D−RAMq
)各回路の動作k 111J 11する信号を発生する
In the above work O, the block TGB surrounded by two-dot chain -
Frame tying pulse generation block, D-RAMq
) Generates a signal for each circuit's operation k 111J 11.

次にD−RAMの各(ロ)路の動作11−第3図のタイ
ピング図に従って説明する。
Next, the operation 11 of each (b) path of the D-RAM will be explained according to the typing diagram of FIG.

ロウアドレス信号ム・〜ム1がアドレスバッファムDB
KI/R込1れ、ラッチされるとロウアドレス1に号ム
0〜ム1よpjllれてRA811号がロウレベルとな
る。ここで、RA8(11号tロウアドレス値号ム・〜
ム1より逼らゼる理由にメモリアレイにおけるロウアド
レスとしてのロウアドレス1@号ム・〜ムL kll実
に工0内[4込1ぜるためでめる。
Row address signal M~M1 is address buffer DB
When KI/R is included in 1 and latched, the numbers MU0 to MU1 are transferred to row address 1, and RA811 becomes low level. Here, RA8 (No. 11 t row address value No. ~
The reason why the row address 1 as a row address in the memory array is longer than M1 is because the row address 1 is actually the lowest in the process 0 [4 in 1].

仄KRA百イぎ号から遅延した信号φム1がムDBK印
加されると、上記ラッチされft、、aウアドレス信4
#に対応したレベルa・・a・−′a1.1ILlがロ
ウデコーダR−DOR及びカラムデコーダ0−DORへ
送出される。上記レベル’(1111・〜a1゜aIK
応じてR−DORにその複数本(21+1本)における
出力信号のうち、選択されたものだけハイレベルにし、
選択されないものにロウレベルにする動作を行なう。
When the signal φ1 delayed from the KRA 100th signal is applied to the DBK, the latched ft, , a address signals 4
Levels a...a...-'a1.1IL1 corresponding to # are sent to row decoder R-DOR and column decoder 0-DOR. The above level' (1111・〜a1゜aIK
Accordingly, among the output signals of the plurality of lines (21+1 lines), only the selected one is set to high level to R-DOR,
Performs an operation to set the unselected ones to low level.

そして、この選択動作に合せて/1イレベルに立ち上る
信号φ!がR−DOaK印加されるとR−DORから選
択レベル及び非選択レベルの信号がM−ムR1へ111
出される。こうしてM−ムRYKおけるロウアドレス?
!、R−DORの21+1本の田方趨子のうち、1本が
ハイレベルとなるため、七れに対応し7JM−ムRY内
01本のロウアドレス巌が選択逼れることKよって設定
畜れる。
Then, in accordance with this selection operation, the signal φ! rises to the /1 level. When R-DOaK is applied, select level and non-select level signals are sent from R-DOR to M-m R1 111
Served. Is this the row address in M-MURYK?
! , R-DOR, one of the 21+1 Rinko Tagata becomes high level, so that the row address of 01 in 7JM-RY is selected and set, corresponding to the seventh row.

仄KM−ムRYKおける遥択畜れ危1本のロウアドレス
劇にfikIImされているメ篭りセルの111又a’
o’の情ll1lがセンスアンプ(以下、8ムと称する
。)K供給され% 1iAKよって増−される。この8
ムの増−動作にφF、が印加されると開始される。
111 and a' of the cell that is fikIIm in the low address play of one of the far-off KM-MURYKs
The information of o' is supplied to a sense amplifier (hereinafter referred to as 8m) and multiplied by 1iAK. This 8
The increase operation of the timer starts when φF is applied.

その後、カラムアドレス信号ム1+1〜ム、1dEAD
BK4!込1れ、ラッテされる。筐た、CムB信号かカ
ラムアドレス信号ム1+a〜ムj工V遅れてロウレベル
にされる。仁こで、0ムag1号tカラムアドレス偏号
ム1+−〜ムコ19遍らせる塩山はメモリアレイにお汀
るカラムアドレスとしてカラムアドレス信号v1j1実
に工0内に埴込筐せるためである。
After that, column address signals M1+1 to M, 1dEAD
BK4! It's loaded and latte. Then, the C/B signal or the column address signal (M1+a to Mj) is brought to a low level with a delay. The purpose of changing the column address deviation from 0 to 19 is to embed the column address signal v1j1 in the memory array as a column address in the memory array.

仄KOA&信号から遅延し九便号φ、。かムDBに印加
さnると上記カラムアドレス備考に対応したレベルai
+1 + ’i+1 + ””” & J r a J
かADBから0−DORへ送出湯れる。セしてC−DO
Rσ上配R上記ORと同体な動作を行なう。そして上1
eo−DORによって形成された選択信号はφム0から
遅延した信号−!か0−Donに印加°されることに応
じてカラムスイッチ(以下、0−8W七称する。)へ送
出される。こうしてM−ムRYにおけるカラムアドレス
に0−DORの2J−1本の出力信号のうち、1本がハ
イレベルとなることkよって1つの0−8Wが選択され
、そのH来coo、5w4(譬続されているカラムアド
レス層丁なわちデーターが選択される仁とによって設定
はれる。
9th flight φ, delayed from KOA&signal. When applied to the cam DB, the level ai corresponding to the column address note above
+1 + 'i+1 + """& J r a J
Water is sent from ADB to 0-DOR. Set C-DO
Rσ Upper R performs the same operation as the above OR. and top 1
The selection signal formed by eo-DOR is a delayed signal -! The signal is sent to the column switch (hereinafter referred to as 0-8W) in response to the voltage applied to 0-Don. In this way, one of the 2J-1 output signals of 0-DOR in the column address in M-RY becomes high level, so one 0-8W is selected, and its H is coo, 5w4 (for example). It is set depending on the column address layer that is connected, that is, when the data is selected.

このようにして、M−ムR1内の1つのアドレスが設定
される。
In this way, one address within M-Mom R1 is set.

′OCK上記のように設定されたアドレスに対する読出
し及び畳込み動作を説明する。
'OCK Read and convolution operations for the address set as above will be explained.

続出しモードにおいてはW1信号にハイレベルにされる
。このWIC偏号ζ0ム1m号がロウレベルになる前に
ハイレベルになるようKf&針されている。このようK
Oム811号によってM−ムR101つのアドレスが設
定される前から11信号tハイレベルにしておくと、続
出し動作orsmtt、。
In the continuous output mode, the W1 signal is set to high level. The Kf & needle is set so that this WIC polarization signal ζ0m1m goes to a high level before going to a low level. K like this
If the 11 signal t is set to high level before one address of the M-R10 is set by the Om No. 811, the successive output operation orsmtt.

て絖出し開始時間r短くすることがてきるようになる。This makes it possible to shorten the start time r of threading.

また、0ム8糸信号の一1n&か出力されるとCれに応
じて出力アンプwhがアクティブにな9、上記股定場れ
たアドレスの情@か増幅される。この増幅データに、信
号φ。、によってアクティブにされるデータ出力パツフ
ァ(以下4DOBと称する。)r介してデーI出刃(D
out)jlll+に#!出される。
Furthermore, when the 0m8 yarn signal 11n& is output, the output amplifier wh becomes active in response to the C signal 9, and the information at the address specified above is amplified. A signal φ is applied to this amplified data. , through the data output buffer (hereinafter referred to as 4DOB) r activated by the data output buffer (D
out) jllll+#! Served.

この1うにして続出しが行なわれる。0ム84N号がハ
イレベルになると胱出し動作a完了する。
In this way, successive outputs are performed. When the 0m84N signal reaches a high level, the bladder ejecting operation a is completed.

次に畳込みモードにおいては1J信号框ロウレベルにさ
れる。このロウレベルのWIm情号とロウレベルの0ム
S信号によって信号≠!Iwか11イレペルにさnる。
Next, in the convolution mode, the 1J signal is set to low level. This low level WIm information and low level 0mS signal cause the signal ≠! Iw or 11 Ireperu.

備考φj1wのハイレベルによってデータ入力バツファ
DIB(以下、DIBと祢する。)アクティブにされ、
人力データCD1n)4子からの畳込みデータを上1e
M−ムRIDa定さrしたアドレスKi出される。丁な
わち、畳込み動作が行なわれる。
Remarks: The data input buffer DIB (hereinafter referred to as DIB) is activated by the high level of φj1w.
Human data CD1n) Convolution data from 4 children above 1e
The address Ki determined by M-MU RIDa is output. In other words, a convolution operation is performed.

このとき、上記φR10反転価号、つま90ウレペルの
信号φnwかDOB&lIJ加嘔れる。これによりll
込み動作時のDOBからのデータの続出しか蒙止塾れる
At this time, the signal φnw of the above-mentioned φR10 inverted value and the signal φ90 are changed. This allows ll
The continuous output of data from the DOB during read operations is a problem.

第5図に示した一実施ガの回路に、主KMチャンネルM
 O8F III T (M@tal oXta68*
m1con −auotor Flel(l ff1f
feot Translst、or ) 5代表とする
NチャンネルエG F I T (Inau14t@(
IGat@?1elcL ff1ffect Tran
slstor ) Kよって構成されている。
In the circuit of one embodiment shown in FIG.
O8F III T (M@tal oXta68*
m1con-auotor Flel(l ff1f
foot Translst, or ) 5 representative N channel GF I T (Inau14t@(
IGat@? 1elcL ff1ffect Tran
slstor) K.

1ビツトのメモリセル(M−OWL)tlff、ffN
蓄積キャパシタ08とアドレス選択用のM(11νEI
TQMとからなり、それに保持されるゝII。
1-bit memory cell (M-OWL) tlff, ffN
Storage capacitor 08 and address selection M (11νEI
It consists of TQM and is maintained by it II.

% 01の情報にキャパシタO,Kll荷かある状層と
ない状態とKそれぞれ内応される。
The information of %01 corresponds to the state in which the capacitors O and Kll are loaded and the state in which they are not loaded, respectively.

M−01Lにその多数がマトリックス状に配置されてい
る。同じ行に配置されたM−OWLのアドレス選択用O
MOgFITQMのドレインu1データ#DLε等に共
iji誉続され、同じ列に配置され九M−OELの上記
麗08νITQ翼のゲートは、ワード−WL、  、等
に共通接続されている。
A large number of them are arranged in a matrix in M-01L. O for address selection of M-OWL arranged in the same row
The gates of the above-mentioned 08νITQ wings of 9M-OEL, which are connected in common to the drains u1 and data #DLε of MOgFITQM and arranged in the same column, are commonly connected to the words -WL, , etc.

俵数のメモリセルによって、メモリアレイ証−ムRYI
及びM−ムRY、か411jil[れている。
The memory array pattern RYI is determined by the number of memory cells.
and M-MURY, or 411jil[are.

%に@足されないが、isxビットのメモリ容量を庸す
るダイナ建ツクfliMOBメモリ装置において框、デ
ーターはDL龜〜DL+*a (図示しない)及びD恥
〜DL+ms (図示しな−)の128組で構成され、
ワードfllrXs WLt−6−WLI−sa及びW
LI−1〜WLI−84の128本で*Xされる。
Although not added to %, in a dynamic fliMOB memory device with a memory capacity of isx bits, there are 128 sets of data from DL to DL+*a (not shown) and D to DL+ms (not shown). It consists of
Word flrXs WLt-6-WLI-sa and W
*X is given for 128 pieces from LI-1 to WLI-84.

幇に制@ざtないが、  R−D ORs t’X 、
 褒M(1) 7−ド#に対し共通の遺択信号r出力す
るように輌戚さnる。例えは、4本のワードfjjjl
 W L I−t〜WL+−ak遇選択ゼるためにR−
DORに中間4ビットのアドレス信号ILl〜lLi 
k受けるMO8PICTQ麿〜Q4から構成された本位
テコーダ回路が設けられる。1つの単位デコーダ回路の
出力に、M工flFKTQ1o〜GL+s  rブrし
てMOBFHTQ14〜QayKよって構成されたロウ
スイッチR−8W、、[供給される。R8W114Cj
r、  R−DOR,における下位2辷ツトおよび最上
位1ビツトのアドレス信号&O、al  l allに
基ついてtr3成された悠択q1号によって制御される
ロウスイッチ(a−sWll ) l−介して信号φ!
か供給もれる。これに工って、(I号φXのタイはング
でワード巌WLI−1ないしWLI−v番のうちの1本
が選択される。
There is no control, but R-D ORs t'X,
Reward M(1) 7-The vehicle is made to output a common selection signal r to the card #. For example, the four words fjjjl
R-
Intermediate 4-bit address signals ILl to lLi are applied to DOR.
A standard decoder circuit is provided which is composed of MO8PICTQmaro to Q4 that receive the signal. The output of one unit decoder circuit is supplied with a row switch R-8W, which is configured by MOBFHTQ14 to QayK, through MOBFKTQ1o to GL+sr. R8W114Cj
Through the row switch (a-sWll) l- controlled by the selection q1 made in tr3 based on the address signal &O, all of the lower two bits and the most significant one bit in r, R-DOR, Signal φ!
Or supply leaks. Based on this, one of the word numbers WLI-1 to WLI-v is selected by tying the I number φX.

なお、他方のM−ムRY、についても同僚でToO5R
8W11 TR’8”llが択一的に選択されることに
よって、1/128のワード−刺択か行なわれる。
In addition, regarding the other M-MURY, my colleague also did ToO5R.
By alternatively selecting 8W11 TR'8''ll, 1/128th word-selection is performed.

上記ワードiMWL+−t 〜’WLl−14及びWL
I−。
The above words iMWL+-t ~'WLl-14 and WL
I-.

〜”Ll−114には、それぞれ%開昭49−4564
9号公−又は%開昭51−14722番号公@に終述は
れているようなラッチ回路群I+AOH1,LムOH―
か設けられている。これらのラッチ回wI群r構成する
単位[g回路a、相互にお込て同じ構成にされてお01
そ(Z)1つH,MO8FITQIm〜にLI4 Kよ
って構成されてbる。
~”Ll-114 has %Kaise 49-4564 respectively.
Latch circuit group I+AOH1, LmuOH- as described in No. 9 Publication or %Kaisho 51-14722 Publication @
Or is provided. These latch circuits wI group r are composed of units [g circuits a, each having the same configuration.
The (Z) one H, MO8FITQIm~ is configured by LI4K.

R−DOR,(R−DORI Kつbても同僚)髪ll
A11111M O8F嶌TQs〜GLl とでそれぞ
れ−威されている。この単位Ig1w1に、レシオレス
型−一ゲート1gl鮎として動作する。
R-DOR, (R-DORI Ktsubmo colleague) hair ll
A11111M O8F Shima TQs ~ GLl are used respectively. This unit Ig1w1 operates as a ratioless type one gate 1gl sweetfish.

そして、単位−路の出力信号にゲートに電運電圧v0゜
が即加されたカッ)MO8PKTQt・〜Qssk介し
て、1j−aWIl、RaWlに構成するmo 1iF
ITQsa 〜Q會y  ’Iのゲートに伝えらnる。
Then, the voltage v0° is immediately applied to the gate of the output signal of the unit path.
ITQsa ~Q meeting y 'I's gate will be informed.

M−01Lからの情報の読み出しに、MO8FITQM
kOMKさゼることによってOak共通のカラムデータ
巌DLに結合させ、次いで、データI/#DLの電位か
oBに蓄積された電荷量に応じてどのような変化か起き
るかrセンスすることによって行なわれる。データ腺D
Lの浮遊8too4c創もって光電されてい友電位kl
−電圧vo0とすると、C8に蓄積されていた情報が1
1′(はりV。。の電位ンでめった場合、アドレス時丁
、なわちM087ITQMかオン状急にされたときにお
いてデーターDLIZ)電位(Vl)蟻、lμはソ■、
。υ電位のまヲとなる。こnVc対して情報か’o’(
oV)r6つ*場合、(”D L ) ” 0 #  
a(○O”vOO−CB (VW−vth))/COと
なる。
MO8FITQM is used to read information from M-01L.
This is done by connecting OAK to the common column data DL by holding kOMK, and then sensing what kind of change occurs depending on the potential of data I/#DL or the amount of charge accumulated in oB. It will be done. Data gland D
The floating 8too4c of L is photoelectrically generated and the friend potential kl
-If the voltage is vo0, the information stored in C8 is 1
1' (beam V...) If it happens at the potential (V), the address time, that is, when M087ITQM is suddenly turned on, the data DLIZ) potential (Vl), lμ is so,
. It becomes υ potential. Information or 'o' for this nVc (
oV) If there are 6 r*, ("DL)" 0 #
a(○O"vOO-CB (VW-vth))/CO.

但し、V、HMO8PKTQMのゲート電圧にVthH
M OS IF IT Q、のしきい直電圧である。
However, VthH is applied to the gate voltage of HMO8PKTQM.
MOS IF IT Q, is the threshold direct voltage.

ここでメモリセルの論1t’l’によって決められるデ
ータ疎DLの電位とメモリセルの1珈% □ Iによっ
て決められるデータ麿DLの電位との差丁なわち検出さ
れる信号音ΔvtIrX Δv、=(vDL)喚#−(VDL)%  #=(vI
F−vth)”alo。
Here, the difference between the potential of the data line DL determined by the logic 1t'l' of the memory cell and the potential of the data line DL determined by the memory cell's logic 1t'l', that is, the detected signal sound ΔvtIrX Δv,= (vDL) call #-(VDL)% #=(vI
F-vth)”alo.

1          0 となる。vw=vooとすると、信号音Δv8ばIvB
”(voo−Vth)”alo。
It becomes 10. If vw=voo, the signal sound Δv8 is IvB
"(voo-Vth)" alo.

となる。becomes.

高集積容置のメモリマトリクスにおいてにメモリセルが
小さくされしかも共通のデータIMK多くのメモリセル
かつながれるので、as<’oh 丁なわち容量比’g
/’or[非常に小さな籠になる。
In the memory matrix of a highly integrated device, the memory cells are made small and many memory cells are connected with a common data IMK, so that as<'oh, that is, the capacity ratio'g
/'or [becomes a very small basket.

従ってΔv8rX非常に値少な信号となる。Therefore, Δv8rX becomes a signal with a very small value.

絖み収0の基準信号 このような値少な信号髪検出するため0ilk卑として
ダミーセルD−OWLが用いラレル。D−01LI)キ
ャパシタCI、の容量−が0.のホtγ午分にされるこ
とr除き、M−OWLと同じ製造条件、同じ設計定数で
作られる。CDにアドレスに先立ってMO8FlT Q
na&Cよって警地電位に光電(他方の1会にvo。K
固定)される。従って、アドレス#KD−OILから1
つのカラムデータ@!DI4C与えられる信号変化重Δ
vRに、メモリセルのそれ(JV、)と同様に次式で軟
わされる。
In order to detect a reference signal with such a low value of 0, a dummy cell D-OWL is used as a 0ilk base. D-01LI) Capacitance of capacitor CI is 0. It is made under the same manufacturing conditions and the same design constants as M-OWL, except that the temperature is set to γ. MO8FlT Q before address on CD
Photoelectricity is applied to the electric potential by na&C (vo.K to the other one)
fixed). Therefore, 1 from address #KD-OIL
Two column data @! Signal change weight Δ given by DI4C
Similar to that of the memory cell (JV, ), vR is softened by the following equation.

但し、VDWにMO1IF]1TQp菅のゲート電圧、
vth’ rXM 08 F I T QDIのしきい
11%圧でめる。
However, the gate voltage of MO1IF]1TQp tube to VDW,
vth' rXM 08 F I T QDI threshold 11% pressure.

a v R=(v r:、 v  v th’ ) °
o da / (30vDW=v0゜とすると、ΔvB
框次式で衆わされる。
a v R=(v r:, v v th' ) °
o da / (If 30vDW=v0°, ΔvB
Gathered in a formal ceremony.

IvB”(voo” Vth’ )・○da/’0前述
したようK Oa s aOaの約半分に設定されてい
るため、ΔvRaΔV6のはは子分に等しい。
IvB"(voo"Vth')・○da/'0 As mentioned above, since it is set to about half of K Oas aOa, the value of ΔvRaΔV6 is equal to the subordinate.

従って、メモリセルのデータ#MDLに与える電位灰化
かダミーセルのそれ(IvB)より小さいか大きbかで
% 1 # 、 % 0 #の情報が判別できる。
Therefore, the information of % 1 # and % 0 # can be determined based on whether the potential graying applied to the data #MDL of the memory cell is smaller or larger than that of the dummy cell (IvB).

各回路の配置   ゛ 8ム10アドレス時に生ずるこのような電位変化の差t
% タイイング信号(センスアンプfIIJ@信号)≠
2.で決するセンス期間Kff、大するセンスアンプで
あり(動作は後述する)、1対の相補データl1lDL
IとDL、にその人出力ノードが結合されている。デー
ターDL1.D恥に結合されるメモリセルの数σ、相補
デー1mDL+とDL−とにおける浮遊vt’a−等し
くさせることによって検出n1jIIL1r上げるため
に、等しくされる。DL、 、DIJ。
Layout of each circuit ゛Difference t in potential changes occurring at 8 and 10 addresses
% Tying signal (sense amplifier fIIJ@signal) ≠
2. It is a large sense amplifier (the operation will be described later), and a pair of complementary data l1lDL.
The person's output node is connected to I and DL. Data DL1. The number σ of memory cells coupled to D is made equal to increase the detection n1jIIL1r by making the complementary data 1mDL+ and DL- equal the floating vt'a-. D.L., ,D.I.J.

のそれぞれにσ、図示のように1ケずつダき−セルD−
OWLがM合される。
σ for each, cross one digit as shown - cell D -
OWL is combined with M.

相部デーla対DLI 、 DL、 O一方KWi合さ
れたメモリセルが選択された場合、他方のデーターに框
必ずダイ−セルが結合されるよう1対のダイ−ワード#
DWLt −+ r DWLt−mの一方かR−DOR
−又はR−DORsの出力によって選択される。
Phase data la vs. DLI, DL, O If one KWi-combined memory cell is selected, a pair of die words # is inserted so that the die cell is always coupled to the other data.
DWLt −+ r One of DWLt-m or R-DOR
- or selected by the output of R-DORs.

七ンスーアンブの動作 このセンス・アン18ム龜に1対の変量結合すれたM 
O8P I T Qsi ”Qss  k*L、、、そ
れらの止*m作I@にエフ、1[少な信号を最動的に増
−する。この正帰1IIIIlffiαMI8Fl?Q
s*かタイイング信号(センスアンプ制御信号)φPA
Kよって導通し始めると同時に開始される。正噌jlI
l@作の開始によって、′予めアドレシング時にメモリ
セルまた框ダミーセルによって決められたデーター電位
のうちの為い方のデーター電位(Vi)に非常に運い連
層で下降さゼら7’L低い方のそれ(VL)に速い運度
で下降させられる。これによって、vHとVLとの差か
広げられる。こうしてVLか父差Wi封M08FITの
しきい線電圧v7hに下降し几とき止帰R−作か終了す
る。正W#層動作軒了#においてvIlrzvo。より
小さくVTh より大きい電位に1i11D、’lx、
ば、最終的にαttソOvに到運する。
The operation of the seven sense anbu is a pair of variables combined with this sense an 18 mm.
O8P I T Qsi ”Qss k*L,,, their stop*m production I@F, 1 [increase the few signals most dynamically. This positive return 1IIIlffiαMI8Fl?Q
s* or tying signal (sense amplifier control signal) φPA
It starts at the same time that conduction starts due to K. Seiso jlI
By the start of the operation, the data potential (Vi) of the data potential (Vi) determined by the memory cell or frame dummy cell in advance during addressing becomes extremely low and decreases by 7'L. The other one (VL) makes it descend quickly. This widens the difference between vH and VL. In this way, VL drops to the threshold line voltage v7h of the differential Wi seal M08FIT, and the return operation is completed. vIlrzvo in the correct W# layer operation evacuation #. 1i11D, 'lx, to a larger potential than VTh.
In the end, it reaches αttsoOv.

アドレッシングの際に実質的に破壊されたメモリセルの
配憶情報に、センスアンプのセンス動作VCよって侍ら
れたvHもしくにVLの電位に1つて杏びl個される(
4畳き込みされる)。
The information stored in the memory cell that was virtually destroyed during addressing is added to the potential of vH or VL served by the sense operation VC of the sense amplifier (
4 convolved).

1111m’l”レベルの禰慣 しかしなから、データ森電位vHがV。o11′c対し
て一定以上浩も込むと、何回か絖み出し、再書・き込み
か伺(ロ)か繰り返えされるうちに論@ % o Iと
して絖み取られるところの誤動作か失じる。この誤動作
1防ぐために設けられたのがアクティブリストア回路で
ある。これはvXJyc対して框何らの影1)114え
ずvHのみi選択的KV0゜の電位にブーストする働き
がある。03!ll及び0!11a印加される電圧に応
じてその靜電容雪が変化するMI8製可f谷量素子であ
り、論珈的にαしきい線電圧VThrjli*として為
い電圧でキャパシタかでき、低込方の電圧でキャパシタ
かできないと電解されたい。
1111m'l'' level, but because the data forest potential vH is V. If you add more than a certain level to o11'c, it will pop out several times and ask whether it is rewritten or written (b). While it is being returned, the malfunction that will be cleared up as an error will be lost.The active restore circuit was provided to prevent this malfunction.This has no effect on vXJyc. 114zu vH only has the function of boosting the i selective KV0° potential.03!ll and 0!11a are MI8 variable f valley elements whose static capacitance changes depending on the applied voltage. Basically, it can be explained that a capacitor can be formed at a higher voltage as α threshold voltage VThrjli*, and only a capacitor can be formed at a lower voltage.

アクティブリストア動作に次のようkなる。なお、以下
のm明てに、便宜上、アドレス時にデータ@IDL、が
メモリセル情報’1’ K従ってハイレベルにされ、デ
ーターDL、がダ建−メモリ噌ルによって基準レベルに
されるものとする。以下の観明で参照丁べき各機のタイ
ミング信号のタイミングチャートに、第4図に示されて
いる。
The active restore operation is as follows. In the following, for convenience, it is assumed that data @IDL is set to high level at the time of address according to memory cell information '1' K, and data DL is set to the reference level by data construction memory. . The timing chart of the timing signals of each aircraft, which should be referred to in the following discussion, is shown in FIG.

データ巌DL1DL、及び可tS重素子OB、、OB@
σ、データープリチャージ備考φiのハイされていると
きに5!罵される。
Data Iwao DL1DL, and possible tS heavy element OB,, OB@
σ, data precharge note 5 when φi is high! Being insulted.

久K、センスアンプIIA−信号φ!ムによってセンス
アンプ8ムIか動作状liKされると、これKよってデ
ータ―DL、のプリチャージかMO!iPMTQvmk
介して放電場ゼられる。こ0と龜、データmDLtがハ
イレベルであることによって、MO8FITQIIにオ
ン状lI!にされる。その几め、6J変容量素子OB、
のプリチャージも放電させられる。
Hisa K, sense amplifier IIA-signal φ! When the sense amplifier 8 is put into operation state by the system, it is determined whether the data DL is precharged or MO! iPMTQvmk
A discharge field is generated through the discharge field. Since data mDLt is at a high level, MO8FITQII is turned on! be made into The method, 6J variable capacitance element OB,
The precharge of can also be discharged.

この可変容量素子OB@u、実質的KSt素子として動
作しなくなる。
This variable capacitance element OB@u no longer operates as a substantial KSt element.

センスアンプa相の増−動作後、タイミング偏4(アク
ティブリストア1IIlIII値号)φq0テかハイレ
ベルにされると、これに応じてM工apm’rQssの
ゲート電位が電mmc8Ev0゜19も大きく上昇させ
られる。このときMIJIFITQtaのゲート電位に
、iIT変谷重素子OB、か実質的にブートストラップ
容重として動作しないので口9レベルの1−に11#持
art、i。MIiiFllTQtsOケ )’ML位
か電−wLEf、よりも上昇賂ゼられることに応じて、
データIIIDIJ、框、このMXB71XテQll 
を介して電−電圧v0゜が与えられる。丁なゎちデー−
−DL、の電位にvo。K回復されるととになる。
After the sense amplifier a phase increases, when the timing deviation 4 (active restore 1IIlIII value number) φq0te is set to high level, the gate potential of M apm'rQss increases by a large amount by mmc8Ev0°19 accordingly. I am made to do so. At this time, the gate potential of MIJIFITQta has 11# at the 9th level 1- since the iIT Henya heavy element OB does not substantially operate as a bootstrap capacitance. MIiiFllTQtsOke)'ML rank or electric-wLEf, depending on being paid higher than,
Data IIIDIJ, frame, this MXB71XTEQll
An electric voltage v0° is applied through the terminal. Ding nawachi day
-DL, to the potential of vo. When K is recovered, it becomes .

〔プリチャージ回路〕[Precharge circuit]

一的の共通データーエ10及びIlo[に、カラムスイ
ッチ0−8W−及び0−JiWll弁して選択データ層
から絖み出しデータ信号が供給されるかもしくはデータ
人力バッファDXBから書き込みデータ信号が供給され
る。このようなデータ信号か、読み出し動作もしくに書
き込み動作の終了の後におりても共通データ1工/′O
及び工10K保持されてbると、倉らたに絖み出し動作
もしくは書き込み動作が開始された時、これらの共通デ
ーターエ10及び工/ OK′#らたなデータ信号、%
に以前のデータ信号と異なるレベルのデーJgi号かセ
ットされるまでの時間が長くなる。
To the common data terminals 10 and 10[, column switches 0-8W- and 0-JiWll valves are supplied with a start-up data signal from the selected data layer, or a write data signal is supplied from the data manual buffer DXB. Ru. Even if such a data signal is present after the end of a read or write operation, the common data 1/'O
If the data signals % and 10K are held, when a start-up operation or writing operation is started, these common data 10 and 10K are held.
It takes a long time until the data Jgi signal is set to a level different from that of the previous data signal.

そこで、共通デー4iiil工10及びX10ffCr
X、プリチャージ回路が両会される。一対の共通データ
釦L ツリチャージ−路の動作によって、データ絖み出
し動作及び畳き込み動作か開始されるmに互いに尋電位
のプリチャージレベルにセットキれる。このようなプリ
チャージが行なわれていると、倉らたな断み比し動作も
しく框書き込み動作か開始されたとき、一対の共通デー
タ1lilI/c比軟的短時間tもって倉らたなデータ
信号に対応したレベルsr与えることかできるようKな
る。
Therefore, the common date 4iii engineering 10 and X10ffCr
X, both precharge circuits are assembled. By the operation of the pair of common data buttons L and TRICHARGE, they are set to the precharge level of the lowest potential when the data start-up operation and the convolution operation are started. If such precharging is performed, when a comparison operation or a frame write operation is started, a pair of common data 1liI/c ratio soft time t will be stored. It becomes possible to give a level sr corresponding to the data signal.

この+Jl!JIIiP!iにおいて框、脣に匍J限さ
れないが、共通データ騙におけるIIE荷に、後で説明
するメインアン7’Mムの動作電位―とされる。
This+Jl! JIIiP! The operating potential of the main amplifier 7'M, which will be explained later, is considered to be the IIE load in the common data exchange, although it is not limited to the frame and back of the frame.

共通データーにおけるプリチャージレベルに、メインア
ンプ舅ム髪高感度で動作させることかできるようにする
ために5は%i−路の亀−電圧レベルに箇で遍するよう
なレベルにされる。
In order to enable the main amplifier to operate with high sensitivity to the precharge level in the common data, 5 is set to a level that is distributed over the voltage level of the %i-path.

共通データーのプリチャージレベルtこVように電−電
圧Kまで上昇場ぜるために、プリチャージ回路r*成丁
;bMN81PBTffl、’WL源電圧xvも上昇さ
ぜられる信号によって駆動さnる。このような4M号に
、プートストラップ容jlirtむ過当なり感によって
形成される。
In order to raise the common data precharge level t to the current voltage K, the precharge circuit r * is driven by a signal that also causes the WL source voltage xv to rise. This kind of 4M is formed by a feeling of excessiveness in Pootstrap.

しかしながら、ブートストラップ容重における光電々荷
に、望1しくな一リーク装置によって減少させられる。
However, the photocharge in the bootstrap volume is reduced by one undesirable leakage device.

ブートストラップ容IKおける充電々荷の瓢少によって
、プリチャーシロ路へ供給すべき信号レベルか低下させ
られる。そのため、プリチャージ動作か比較的長時間継
続されると、共通データ廟におけるプリチャージレベル
か低下させられてしまうことになる。
Due to the decrease in charge in the bootstrap capacitor IK, the signal level to be supplied to the precharge circuit is reduced. Therefore, if the precharge operation continues for a relatively long time, the precharge level in the common data shrine will be reduced.

第5図に示された回路におりてa、上記のようなプリチ
ャージレベルの低下i防ぐためK、共造データ鈑I10
及びl10K対して、2つのプリチャージ回路PC1及
びPO,が結合されている。
In the circuit shown in FIG. 5, in order to prevent the precharge level from decreasing as described above,
and l10K, two precharge circuits PC1 and PO are coupled.

allのプリチャージ@1ifsPOtt!、図示のよ
うKRム8畢傷信号あるタイミング信号φ5で制御され
るプリチャージMO8νl?Qs+ +Q*s及びバラ
ンス用MO87ITQI@から構成式れておp1纂2の
プリチャージIjaAMOPmに、0ム8系信号テある
タイインタ4M号φiで制@されるプリチャージMOa
FITQ*i l Q*a kひバランス用MO8νN
 T Q、sから琳成賂れている。
all precharge @1ifsPOtt! , as shown in the figure, the precharge MO8νl is controlled by the timing signal φ5. Qs+ +Q*s and balance MO87ITQI@ are composed of precharge IjaAMOPm of p1 and 2, and precharge MOa is controlled by tie-inter 4M φi with 0m8 system signal.
FITQ*i l Q*a khi balance MO8νN
TQ, Rinse is being bribed by s.

共通データーエ10及び工10框、2つのプリチャージ
wWlpo、及びPOIKよって、I!3ム図及び落3
 BH3に示きれた15KRム8糸信号に続いてCム8
系信号が供給される通常の絖み出し書き込み動作モード
だけでなく、メモリ、か他の動作モードにされる前にお
いても良好なプリチャージレベルにされる仁とKなる。
By common data 10 and 10 frames, two precharge wWlpo, and POIK, I! 3m diagram and drop 3
Following the 15KRm8 thread signal shown on BH3, Cm8
It is necessary to maintain a good precharge level not only in the normal start-up write operation mode where system signals are supplied, but also before entering the memory or other operation modes.

例えば、リフレツシエ動作モードでは、ロウアドレスI
I″仄々に変*gせるようにRムB信号が嬉11FI!
JK示されたように変化させられる。この場合、018
4号に、実質的にハイレベル[11%すれる。このリフ
レッシj−動作モードにおいて框、共通データ巌工10
及び工10框プリチャージレベルに維持される。CムB
信号のI・イレベル勘関か比較的長くされる場合、前記
のようなブートストラップ容量における電荷量の減少に
よって、タイミング便号−茹のレベルか低下ざゼられる
よr)になる。そのIN来、プリチャージ回路OF、は
共通データーエ10及び工10Kl[―電圧レベルの電
圧葡与えることかできなくなってくる。
For example, in the refresher operation mode, the row address I
The RMB signal is happy 11FI so that I'' can change slightly *g!
JK is changed as shown. In this case, 018
No. 4, a substantially high level (11%). In this refresh j-operation mode, the frame, common data block 10
and is maintained at the precharge level of 10 frames. C B
If the I/I level transition of the signal is made relatively long, the reduction in the amount of charge in the bootstrap capacitance as described above will cause the timing signal level to decrease. Since then, the precharge circuit OF has become unable to provide a voltage level of the common data 10 and 10K1.

しかしながら、プリチャージ回路OP、Ku、RA8信
号かハイレベルにされる毎に充分にハイレベルにされる
タイミング信号SOFか供給される。
However, each time the precharge circuit OP, Ku, and RA8 signals are brought to a high level, a timing signal SOF which is brought to a sufficiently high level is supplied.

その結果、共通デーIi1工10及びx7o框、プリチ
ャージIJ路OF=によって良好なプリチャージレベル
に維持されることになる。
As a result, a good precharge level is maintained by the common data Ii1 and x7o frames and the precharge IJ path OF=.

共通データ1工10及び工10がこのように良好なプリ
チャージレベルに維持されることKよって、後でメモリ
か読み出し動作モードにされたときにおいてメインアン
プMAIH比板的^速度で動作させることかできるよう
に&ゐ。
Since the common data 1 and 10 are maintained at a good precharge level in this way, it is possible to operate the main amplifier MAIH at a relatively fast speed when the memory or read operation mode is entered later. So that I can do it.

ページ動作モードにおいてσ、ロウアドレスr固定した
状Iil!にお−て誼ドアドレスを次々にR更させるよ
うに、0ム8信号が8110図に示されたように変化さ
せられる。このページ動作モードにおいては、プリチャ
ージ回路OF、框、OA8g1号かハイレベルにされる
IIK動作状161K″Ikれる。
In page operation mode, σ and row address r are fixed Iil! The 0m8 signal is changed as shown in FIG. In this page operation mode, the precharge circuit OF, frame, and OA8g1 are set to high level IIK operation state 161K''Ik.

〔タイξンダ信号発生1al#) 上記プリチャージ動作の九め0タイ(フグ91号−5,
φ品は、纂6FI1.1ILT図の一イξンダ信号発g
E回路でそれぞれ形成畜れる。
[Tie ξnder signal generation 1al#] Ninth 0 tie of the above precharge operation (Fugu No. 91-5,
φ products are as follows: 6FI1.1 ILT diagram 1 ξ
Each is formed in the E circuit.

植6図の実施91回路で框、タイミング信号φムR1が
ゲートに印加されるMO8PlτQtem と、タイミ
ング信号−AHかゲートに印加されるMO1ilF1τ
Q14が亀−電圧v0゜が供給される鯉と接地電位−と
の関に直列mmされて込る。上記信号φムBがゲートに
印加されるMO8FITQsoiと、上記1gl路(Q
tos、all4 )の出力信号かゲートに印加される
MOaFlTate−が上■C同嫌VC域扉電圧供給−
と1#地電位−との関に直列接続式れている。
In the implementation 91 circuit of Figure 6, the timing signal φR1 is applied to the gate MO8PlτQtem, and the timing signal -AH is applied to the gate MO1ilF1τ.
Q14 is connected in series with the carp to which the voltage v0° is supplied and the ground potential. MO8FITQsoi to which the signal φB is applied to the gate and the 1gl path (Q
tos, all4) output signal or MOaFlTate- applied to the gate is the upper
and 1# earth potential - are connected in series.

直列接続のjdo#FITQ1@sとQl。6の共通接
続点から出力される出力信号に、一方でにゲートに電源
電圧V。。か印加されるMO8FIlfTGL+oyk
過して、MO81FITGLtosのケートに供給され
、他方で框、ソースか接地されたMO8PiTQ目tの
ゲートに供給きれる。MO8FM!TQls框、七のド
レインにタイミング信号φムR1か供給される。
Series connection jdo#FITQ1@s and Ql. On the other hand, the power supply voltage V is applied to the gate of the output signal outputted from the common connection point of 6. . or applied MO8FIlfTGL+oyk
Through this, it is supplied to the gate of MO81FITGLtos, and on the other hand, it is supplied to the gate of MO8PiTQ whose source is grounded. MO8FM! A timing signal φR1 is supplied to the drain of the TQls frame 7.

上記MOBFB・TQseaのソースと接地電位間に框
ゲートに一イミング信号φムRか印加きれるMO87I
TQ+・9か設けられている。直列接続のMO8PI[
iテQl@aとQt@sの共通ahaから出力される出
力信号にタイ建ング備考−5とされる。このタインング
信号φπに、ドレインに電鍵電圧v0゜か印加されるM
O81FllTQtt・のゲートも供給される。また上
記MO8Fl!Q■・のソースと譬地蒐位間Kに、MO
8FITQ1蟲が接続されてbる。m08!FITQ■
・のゲート。
MO87I where one timing signal φmR can be applied to the frame gate between the source of MOBFB/TQsea and the ground potential.
TQ+・9 is provided. MO8PI connected in series [
A tie is set in the output signal output from the common aha of iTeQl@a and Qt@s as Note-5. To this tuning signal φπ, a key voltage v0° or M is applied to the drain.
The gate of O81FllTQtt. is also supplied. Also the above MO8Fl! The source of Q■・ and the MO
8FITQ1 insect is connected and b. m08! FITQ■
・The gate.

ソース関Kuブートストラップ用のM Oa 容111
10B易が設けられている。
M Oa Rong 111 for source Seki Ku bootstrap
10B easy is provided.

Il!7図の実施りのb路(1,MO8PITQtss
〜Q+*o及びブートストラップ容量OB4によって上
記纂6図と類似な回路構成にされている。たたし、0ム
8糸信号として、φム0.φム0か用いられる。
Il! Route b of the implementation of Figure 7 (1, MO8PITQtss
~Q+*o and the bootstrap capacitance OB4 provide a circuit configuration similar to that shown in Figure 6 above. Then, as a 0m8 thread signal, φm0. φmu0 is used.

第7図の回路でに、リフレッシュ動作特におけるタイミ
ング信号φ品のレベル低下を防止するために、ゲートに
WL源電圧v0゜が印加されドレインにタイミング信号
φムCが印加石れるMO81FITQlzと、M工8F
FiTQtsr’Z’ソースとメイiンダ信号−5か出
力される出力−との関にダイオード形動のMO8シ1テ
q11が設けられている。
In the circuit of FIG. 7, in order to prevent a drop in the level of the timing signal φ product during the refresh operation, the MO81FITQlz and M Engineering 8F
A diode-type MO8 transistor 11 is provided between the FiTQtsr'Z' source and the output of the main input signal -5.

そしてMOJIFIテQtmsとQtta4D共過li
!共通点と夕1<ング信号φムH$が加えられる巌との
間にブートストラップ容量OBIか設けられている。こ
れICより、プートストラップ811kOBmu、タイ
ミング便号φムIIかローレベルにされ、しかもタイミ
ング信号φム0かハイレベルにされているときM08F
MTGLtlk通してプリチャージされる。従って、M
OflFITQ・Haゲート及びドレイン框、タイイン
グ信号φ、1がI・イレベルにされることKよってブー
トストラップ電圧が与えられる。
And MOJIFI TeQtms and Qtta4D coexistence li
! A bootstrap capacitor OBI is provided between the common point and the point to which the input signal φmH$ is applied. From this IC, when the Pout strap 811kOBmu and the timing signal φmu II are set to low level, and the timing signal φmu0 is set to high level, M08F
Precharged through MTGLtlk. Therefore, M
A bootstrap voltage is provided by setting the OflFITQ/Ha gate and drain frame, the tying signal φ, 1 to the I/I level.

このブートストラップ電圧は、MOgFITQiu忙造
して出力−に供給畜れる。その軸来、出力信号φPoの
レベルの幡ち込みか防止される。
This bootstrap voltage is supplied to the MOgFITQiu output. Since then, the level of the output signal φPo is prevented from dropping.

丁なわち、飼えはりスレッシ5−−作モードにおいて框
0ム8儂号かハイレベルにされることに応じて、タイミ
ング領置φム0かロウレベルにさnる。
In other words, the timing setting φ is set to 0 or low in response to whether the frame 0 or 8 is set to high level in the feed mode.

このとき、出力信号φδσ、ブートストラップ容量OB
、によって′IEII電圧v0゜工9も大きbレベルに
される。タイミング信号φム0のロウレベル期間が長す
場合、ブートストラップ容量OB、の光電々荷に、MO
8FICTQ、、、のソースリークiia、MO8PK
TQ+■のドレインリーク電流等のリーク電流によって
&りさせられる。そのH来、出力信号φiのレベルか低
下畜せられてしまう。しかしながら、l@7図に示され
た回路構gにおいて框、RA84信号で信号タインング
信号φムIIか絢期的にロウレベルにされることによっ
て、プートストラップ@tOBiか元電嘔れる。ダイオ
ード接続されたMO8PIItTQ、1烏のゲート及び
ドレインKH、タイイング信号φiかI−イレベルにさ
れたと寝、ブートストラップ容量0BsKよって電−電
圧v0゜よりも上昇させられる。従って 117図の一
路の出力1に框、MO5lFmTQIsmk介して光分
く上昇されたレベルの11cJ):か供給される。
At this time, the output signal φδσ, the bootstrap capacitance OB
, the 'IEII voltage v0゜engine 9 is also brought to a large level b. When the low level period of the timing signal φm0 is long, the photoelectric charge of the bootstrap capacitor OB, MO
8FICTQ,,, source leak IIA, MO8PK
It is caused by leakage current such as drain leakage current of TQ+■. Since then, the level of the output signal φi is lowered. However, in the circuit configuration g shown in FIG. 17, when the RA84 signal causes the tying signal φM II to be set to a low level, the putot strap @tOBi is removed. When the diode-connected gate and drain KH of MO8PIItTQ and the tying signal φi are set to I-E level, the voltage is raised above v0° by the bootstrap capacitance 0BsK. Therefore, the output 1 of FIG.

■い換えると、出力信号φiば、−インング信号φAi
KiW1期して良好なレベルに−u1される。
■In other words, the output signal φi, the -ing signal φAi
KiW1 period and -u1 to a good level.

次に第6mの1g回路の動作t%a明する。なお、@B
go−路に加えられる備考波形に菖4ム図に示されてb
ゐが、理屑を容易にするために、同嫌な信号#LNI4
が慕6−にも示されている。
Next, the operation t%a of the 6mth 1g circuit will be explained. In addition, @B
Note that the waveform added to the go-path is shown in the iris diagram.
However, in order to facilitate the scrapping, the same disgusting signal #LNI4
is also shown in Mu 6-.

RAII系偏号を信号う動作モードでに、RA8偏号信
号ウレベルにされるCとに応じて、内部タイミング信号
φムR11φム真かハイレベル、φムB、φムi11が
ローレベルに場れる。したかって、所定の動作期関中タ
イミング信号φムIIか/1イレペルにされることによ
って、MO81FInTGL+oa 、Qse*QI@
―にオン状IIKされる。MO8F][1TQ−0゜が
オン状騰にされることKよってMo81!’]1TQl
−かオフ状11に場れる。1九MO8PICTQ+@s
がオン状IIKされ、MOJiFlnTQ1@@ かオ
フ状IIKされることによってMO8PIlltTQl
lli)h 2i ン状虐Klれる。MO8FmlTQ
Io?H1七のゲートに電曽電圧v0゜か印加されるの
で、七のソース及びドレインか電―電圧以下にされてい
る@9オン状11に維持する。従って、MO8FICT
GLseiとqII−の共通縁続点に出力される1!号
に、MO81Fj1iTQi@?1cm介してMO13
F’1llTGL+osのゲー)K@細される。従って
MO8PMITQ−〇−もオン状態にされる。
In the operation mode in which the RAII system polarization signal is signaled, in response to the RA8 polarization signal C being set to the low level, internal timing signals φB and φMUI11 are set to a low level. It will be done. Therefore, MO81FInTGL+oa, Qse*QI@
- is on-state IIK. MO8F] [1TQ-0° is turned on and Mo81! ']1TQl
- or off-state 11. 19MO8PICTQ+@s
is IIKed on and MO8PIlltTQl is
lli)h 2i The situation is brutal. MO8FmlTQ
Io? Since an electric voltage v0° is applied to the gate of H17, the source and drain of H17 are maintained in the ON state 11 which is below the electric voltage. Therefore, MO8FICT
1 which is output to the common edge point of GLsei and qII-! In the issue, MO81Fj1iTQi@? MO13 through 1cm
F'1llTGL+os game) K@ will be thinned. Therefore, MO8PMITQ-0- is also turned on.

このようにRA8信号がロウレベルにされている場合、
出力信号φPG°框、Mo1FITQ・・嘗かオン状態
に嘔れている仁とによって第8a@?に示されたようV
C#tソ回路の*m電位のようなロウレベルにされる。
When the RA8 signal is set to low level in this way,
The output signal φPG°, Mo1FITQ...8a @? V as shown in
It is set to a low level like the *m potential of the C#t circuit.

同様に、出力信号φPG’ a、 M O8FMTQt
1$オン状111に嘔れていることによって同様なロウ
レベルにされる。
Similarly, the output signal φPG' a, M O8FMTQt
A similar low level is caused by the 1$ on state 111.

次に、動作終了によって、RAiiがハイレベルに復帰
されると、これに応じて、先ず内部タイミング信号φム
PIか118図BK示されたようにローレベルにされ、
次に所定の遅延時間の後にタイミング信号−ムIIか第
8図Oに示されたようにロウレベルにされる。
Next, when RAii is returned to the high level due to the end of the operation, the internal timing signal φ PI is first set to the low level as shown in FIG.
Next, after a predetermined delay time, the timing signal -II is brought to a low level as shown in FIG. 8O.

タイ建ング信号φムRかロウレベルにされる仁とによっ
て、MOgPlτQ@sa s Q、*s及びQl、。
MOgPlτQ@sa s Q, *s and Ql, due to the tie-building signal φM being set to low level.

か丁ぺてオフ状塵に畜れる。、−インンダ備考φム3か
ロウレベルにされた厘@において框、タイミング信号φ
ム■は、5に8図IK示されているように箇だロウレベ
ルの11−にされている。こnK応じてMOflFIT
Qtesはオン状態の筐−にさnている。従って、MO
87ITQlaか上記のようにタイミング信号φム1に
1ってオフ状mKされても、MO871テQ−■とQI
I4との共通接続点に、それ糺おけるソース、ドレイン
接合各社、yospztas*−のゲート容量などの容
重によってロウレベルの1−に1tLJs。Mo1FI
TQt。。
It turns into a pile of dust. , - Inner note φ 3 When the timing signal φ is set to low level, the timing signal φ
As shown in FIGS. 5 and 8, the program (1) is set to a low level of 11-. MOflFIT according to this nK
Qtes is installed in the case in the on state. Therefore, M.O.
MO87ITQla or MO871TEQ-■ and QI
At the common connection point with I4, the source and drain junctions connected thereto, depending on the capacity of the gate capacitance of yospztas*-, 1tLJs to the low level 1-. Mo1FI
TQt. .

かオフ状!IIK場れていることによって、MO8F”
T’Li@lとQl−と0共通II絖点に同様な容量に
1ってハイレベルO箇−に維持される。し几がって、M
OB1嶌Tql・及びGL■tにオン状態の1−にされ
ている。
Or off-state! MO8F”
T'Li@l, Ql- and 0 are maintained at a high level O with a similar capacitance to the common II point. Shut up, M
OB1, Tql and GLt are set to 1-, which is an on state.

タイミング411号φムHtff、  タイミング信号
φムRかロウレベルにされてから所定の運砥時間後にノ
・イレベルにされる。
Timing No. 411 φmmHtff After the timing signal φmmR is set to low level, it is set to low level after a predetermined polishing time.

タイミング信号φムmaに一方においてMO8FJCT
Q+@sk弁して出力11AOzL/C供耐さn、b。
MO8FJCT on one side to timing signal φmm
Q+@sk valve output 11AOzL/C durability n, b.

従って、タイミング信号φム!IlかI・イレベルLI
c場nるることに1って、出力gi号φiに第8図1に
ボ1n友ように、はソ電J電圧Oようなハイレベルにき
れる。
Therefore, the timing signal φm! Ilka I・Ilevel LI
As a result of the C field, the output g φi reaches a high level, such as the voltage O, as shown in FIG.

タイミング信号φムR〔か71イレペルに場れた直後に
おいてに、MO1ilF18Q■―框、オン状態に維持
されてお9、出力1111i0atlロウレベルに維持
されている。従ってタイ(ング信号φムIIIが11イ
レペルにされると、ブートストラップ容置OB。
Immediately after the timing signal .phi.R is applied, the MO1ilF18Q--frame is maintained in the on state and the output 1111i0atl is maintained at a low level. Therefore, when the tying signal φm III is set to 11, the bootstrap receptacle OB.

框、Mo1FITQ+@・を介してプリチャージされる
It is precharged via the frame, Mo1FITQ+@・.

タイミング信号−hxa H%他方においてMo1FI
TQt@−のゲートに供給される。タイミング信号φ1
■が11イレペルにされると、これに応じてMOaFI
TQtesかオン状l!にされる。MOflFITQt
esかオン状IIKされることによって、MOaFlT
QI@−に、そのゲートかハイレベルにチャージアップ
さfLるのでオン状1iKされる。
Timing signal - hxa H% Mo1FI on the other hand
Supplied to the gate of TQt@-. timing signal φ1
When ■ is set to 11, MOaFI is
TQtes or on-state l! be made into MOflFITQt
MOaFlT by being es or on IIK
Since the gate of QI@- is charged up to a high level fL, it is turned on.

そしてコt)M Oa FIT、Qt@@がオン状a!
にされると、MO8PMTQ■s及びQ雲◎鴫のゲート
に予め蓄積葛れてい九亀荷が引龜抜かれる。その結果、
タイミング信号φムmeかハイレベルに畜れてから1i
0871テCL@o・のオン抵抗などによって決する所
定の時間だけ連れてMOaFITQtes 。
And Kot) M Oa FIT, Qt@@ is on state a!
When this happens, the nine turtle loads that have been accumulated in advance at the gates of MO8PMTQ■s and Q clouds are pulled out. the result,
1i after the timing signal φmme goes to high level
MOaFITQtes for a predetermined time determined by the on-resistance of 0871TECL@o.

Qlsがオン状態にされゐ。Qls is turned on.

M工a F l T Q st @rt 、そのゲート
が出力−OIに結合されて訃り、タイミング信号φムR
1か・・イレベル罠されることKgEhじてオン状態と
される。
M engineering a F l T Q st @rt , its gate is coupled to the output -OI, and the timing signal φ M R
1...KgEh will be turned on if it is trapped by an enemy.

従って、出カーOAK出力されるタイミング信号φπ′
a、タイミング信号φAllか/1イレペルに賂れてか
ら所定O運嬌時間後に上記のようにM工5yicテQl
tかオフ状1IIKされると、/′−イレベルに変化嘔
ゼられる。
Therefore, the timing signal φπ' outputted from the output car OAK
a, after a predetermined time has elapsed since the timing signal φAll or /1 is input, the M operation 5yicteQl is activated as described above.
When t is turned off, it changes to the /'-level.

出力線Qg<出力されるタイミング信号φpQu、前記
のようにプリチャージされたプートストラップ容@OB
、によるブートストラップ作用によって、出力kosの
電圧レベkか上昇される仁とく応じて、第8図′IPK
示されているようにはソ電源電圧vaoのレベルから建
に上昇名ゼられることになる。
Output line Qg<timing signal φpQu to be output, Pootstrap capacitor @OB precharged as described above
As the voltage level k of the output kos is increased due to the bootstrap effect of
As shown, the power supply voltage will rise steadily from the level of vao.

出力&10tの電位μ、Molν1TGLts。か出力
IIIIIO&のハイレベルによって充分にオン状tI
Aにされるので、Mo1FITQr+・のし自い瞳電圧
にかかわらずに罵m電圧v0゜のレベル1で上昇8ゼら
れる。
Output &10t potential μ, Molν1TGLts. or the high level of the output IIIO&
Since it is set to A, Mo1FITQr+ can be increased by 8 at level 1 of voltage v0° regardless of the pupil voltage.

なお、出力#O1の電位か上昇された場合、VO!1F
ITQ+@sのソース電極はドレイン電極として作用す
るようにな9.ドレイン電*框ソース電極として作用す
るようになる。この場合、M051FITQle畠ニ、
そのソース電極として作用するIE極に対し、実質的に
そのゲート電極に負のバイアス電圧か与えられることに
なるのでオフ状態になる。従って、ブートストラップ容
量OB、における充電電荷が、MO8FIテQIesk
介して放電させられることにない。
Note that when the potential of output #O1 is increased, VO! 1F
9. The source electrode of ITQ+@s now acts as a drain electrode. The drain electrode *frame comes to act as a source electrode. In this case, M051FITQle Hatani,
Since a negative bias voltage is essentially applied to the gate electrode of the IE electrode which acts as the source electrode, the IE electrode is turned off. Therefore, the charging charge in the bootstrap capacitor OB, MO8FIteQIesk
It cannot be discharged through.

第7図に示された回路に、第6図の回路と同様な動作を
することによって、*−電圧v0゜レベル工9上昇され
たレベルのタイミング信号にrvk形成する。なお、8
g7図に示された回路に供給されるタイ建ンク備考φム
0、φA0及び出力タイインク信号−5に、誰4B図に
示されてbる@[5図KHされたプリチャージ−路pc
、 、 PO。
By performing the same operation as the circuit shown in FIG. 6 in the circuit shown in FIG. 7, the *-voltage v0.degree. In addition, 8
g7 The precharge path pc shown in Figure 4B is supplied to the circuit shown in Fig.
, , P.O.

において、MO8FITQezh GLss、GLss
及びQssに、タイミング11号φPG°及びφBL:
D/%イレペルが上記のように電淵電圧v0゜レベルよ
りも充分に大きく上昇葛せられることによって、共通デ
ーターI10及びIloか電―電圧v0゜レベルに運し
ても充分に低いオン抵抗mt−もってオン状態wllp
持するようKなる。そのH来、共通データーエ10及び
工10のプリチャージレベルt−1#[圧vo。レベル
1で上昇させることかできるようになる。
In, MO8FITQezh GLss, GLss
and Qss, timing No. 11 φPG° and φBL:
By raising the D/% resistance sufficiently above the voltage v0° level as described above, the on-resistance mt is sufficiently low even when the common data I10 and Ilo are brought to the voltage v0° level. -Always on wllp
K to hold it. Since then, the precharge level t-1#[pressure vo] of the common data 10 and 10 has been set. You will be able to raise it at level 1.

なお、上述の1うに共通データ1工10及び工10のプ
リチャージレベルか高められると、こnK応じてカラム
スイッチを構成するMO8PICTQts等のドレイン
電圧か高められることになる。
Incidentally, when the precharge level of the common data 1 and 10 is increased as described in 1 above, the drain voltage of MO8PICTQts etc. forming the column switch is increased accordingly.

そのため、MOjiFl?Qvs等がオン状急に嘔れた
除、それKfすれるドレインソース関電流を大きくさせ
ることかできるのでセンスアンプSムの出力1号を共通
データ1工10.工10K為迷に伝え芒ゼることかでき
るという利点も生ずる。従ってこ九によってもA4化を
図ることかできる。
Therefore, MOjiFl? Although Qvs etc. are suddenly turned on, it is possible to increase the drain-source current caused by Kf, so output No. 1 of the sense amplifier S is used as common data 1 and 10. There is also the advantage of being able to convey the knowledge to the 10K students. Therefore, it is possible to make it A4 with this nine.

〔メインアンプ〕[Main amplifier]

蕗511に示1れているようにメインアンプMA汀、ゲ
ート、ドレインが互いに交差結−された増暢MO8FI
CTQes 、Qel  と、これらのMo1FIIT
Q・−+Qe静 とゲート、ソースがそれぞれ共通接続
された出力Molシ2テQtee * Qtozと、共
通ソースと接地電位量に設けられタイミング信号φma
で制御されるパワースイッチMOaFm”Qi@lとか
ら構成されている。
As shown in Fig. 511, the main amplifier MA, gate, and drain are cross-connected to each other.
CTQes, Qel and their Mo1FIIT
Qtee * Qtoz, a timing signal φma provided between the common source and the ground potential
The power switch MOaFm"Qi@l is controlled by the power switch MOaFm"Qi@l.

上記メインアンプMムの一対の入力ノードと共通データ
1工10及びIloとの関KW、それぞれタイ(ング信
号φRg K Lつて制御されるカットMO8F IC
T Q@@ 、 Q@y $設ケラt’Lテ’−Qh。
The connection between the pair of input nodes of the main amplifier M and the common data 1 and Ilo is a cut MO8F IC controlled by a tie signal φRgKL, respectively.
T Q @ @ , Q @ y @ setup t'Lte'-Qh.

〔メインアンプの動作〕[Main amplifier operation]

メインアンプMムの一対O入カノードに、予めプリチャ
ージ状$にされている。
A pair of O input nodes of the main amplifier M are precharged to $.

0ム8畢信号であるタイミング信号φ!かll4B図に
示でれているようK /%イレペルにされると、これに
応じてカラムスイッチ回路0−11.及び0−1W、に
おけるMO517mTQシ易のような麗0BIIIAT
かオン状wAKされる。そのため、センスアンプBムl
のようなセンスアンプによって増Sされたデータ信号か
共通データ1工10及び工10に供給されるようになる
The timing signal φ! is a 0m8ss signal. When K/% is increased as shown in Figure 4B, the column switch circuits 0-11. and 0-1W, MO517mTQ like easy 0BIIIAT
Or on-state wAK is done. Therefore, the sense amplifier B
The data signal amplified by the sense amplifier is supplied to the common data 1 and 10.

共通データ1工10及び工10K与えられたデータ信号
に、カットMOIIFITq書、及びQlft弁してメ
インアンプMムの一対の入力ノードに与えられる。
The data signals given to the common data 1 and 10K are applied to a pair of input nodes of the main amplifier M through the cut MOIIFITq and Qlft valves.

タイミング信号φ!かハイレベルδれてから所にの遅延
時開の後1丁なわちメインアンプMムの一対の人力ノー
ドKiIA轟なレベル差か与えられるようになった時、
タインング信号φmlカム楽4B図に示されているよう
にハイレベルに場れる。その栢釆、メインアンプMAか
動作状lIKされる。メインアンプMAKおける一対の
人力ノードのうち、共通データ1工10又は工10の電
位に応じて比較的低電位11C5れた入力ノード框、一
対の増@M08FITQ・、及びq■の増幅動作か開始
されることによって、(ロ)路のam亀位に向けて史に
低下さぜられる。比横的鳥亀位にされた他方の人力ノー
ドσ、それにドレインか軸合された増幅MOgpm’r
か実質的にオフ状allにされることによつて、高電位
の1〜にされる。
Timing signal φ! After a delay after the high level δ is reached, a pair of human powered nodes KiIA of the main amplifier M are given a huge level difference.
The timing signal φml appears at a high level as shown in Figure 4B. Its function is to control the operation of the main amplifier MA. Among the pair of human-powered nodes in the main amplifier MAK, the amplification operation of the input node stile, which has a relatively low potential 11C5 according to the potential of the common data 1 and 10 or 10, starts. By doing so, he is lowered into the history of the (b) road's am turtle position. The other human power node σ is placed in a horizontal position, and the amplification MOgpm'r is connected to the drain.
The high potential is set to 1 to 1 by substantially turning off all the transistors.

共通データ線工10及びxloのうち、センスアンプの
出力によって比較的低電位にされた共通データIIIに
、それKおける充電々荷かカッ)MO8FITQs−又
框Q9γ及び増輸賛oay罵!Qvs又に1akes 
k弁して放電させられることによって艷にロウレベルに
される。すなわち、共通データ嶽x10及びl10K:
与えられ冷レベルiIiに。
Among the common data lines 10 and xlo, the common data III, which has been made to a relatively low potential by the output of the sense amplifier, is charged with a charge. Q vs Mata 1akes
The k valve is turned on and discharged to bring it to a low level. That is, common data volumes x10 and l10K:
given cold level ii.

メインアンプ菖ムによって増幅されることになる。It will be amplified by the main amplifier iris.

このような共通データ#におけるデータ信号のレベル増
幅に、メモリセルへのデータの再書き込みt地壁的al
lIyIIA化ざぜる上で有効である。
In order to amplify the level of the data signal in such common data #, there is a
It is effective in dissolving lIyIIA.

メインアンプMAに、増幅MO8PITQ・畠、q・・
にそれぞれゲートか共通!!絖された出力MO8FII
TQ暴・・及びQt@−を含んでbゐ。出力MO8FI
TQ+o・及びQts−のドレイン出力信号は、出力バ
ッファ回路D OBK供給される。出力バツファ回路D
OBj@作さゼるためのタイミング信号φBq、菖4B
図に示されているように、メインアンプ動作制−用のタ
イミング信号−maがハイレベルにされてから所定の時
間の後にハイレベルにされる。タイミング信号−〇Fの
/Sイレベルに応じて出力バッファ鑓1aDOBから第
4B図に示されたような出力信号DOUTが出力される
。なお、出力バツファ麹路DOBの出力熾子に、タイミ
ング信号φOFがロウレベルにされているとき、フロー
ティング状態に畜れる。
Main amplifier MA, amplification MO8PITQ, Hatake, q...
Each gate or common! ! Installed output MO8FII
Including TQ assault... and Qt@-. Output MO8FI
The drain output signals of TQ+o and Qts- are supplied to an output buffer circuit DOBK. Output buffer circuit D
Timing signal φBq, irises 4B for OBj@ production
As shown in the figure, the timing signal -ma for controlling the main amplifier operation is set to high level and then set to high level after a predetermined time. An output signal DOUT as shown in FIG. 4B is outputted from the output buffer latch 1aDOB in accordance with the /S level of the timing signal -0F. Incidentally, when the timing signal φOF is set to a low level at the output buffer of the output buffer Kojiji DOB, it is brought into a floating state.

第5図に示されたメインアンプMムにおいて、七の一対
の人力ノードK[、プリチャージ回路pcB又にPO烏
t)ような回路に結合されてbなり0七れに応じて%籍
KIIIIIJIされないか、メインアンプMムの一対
の人力ノード框、それぞれカットMO13FliテQs
s及びQsy k介して共通データーエ10及び工10
からプリチャージ畜れる。
In the main amplifier M shown in FIG. If not, a pair of manual nodes of the main amplifier M, each cut MO13FliteQs
common data 10 and 10 through s and Qsy k
The pre-charge is terrible.

カットMO8FITQ@−及びQ、、に、g4B脂に示
されたようなタイミング信号φBg4Cよって制御され
る。
The cuts MO8FITQ@- and Q are controlled by a timing signal φBg4C as shown in g4B.

タイばング信号−iに、メインアンプ菖ムO一対の人力
ノードt、共通データーl10hび工10のプリチャー
ジレベルと岡JaK電−電圧v0゜のレベルに壇で上昇
させるために、予めvo。十vth(但しVo。[wL
−電圧、V、、1M087Iテのヌレツシエホールド電
圧)以上のハイレベルにされる。タイきングイぎ号φi
のこのようなハイレベルに、轡にflll@場れないか
メインアンプ動作態−用のタイミング信号φm、か/1
イレベ3にされる萱で維持される。
In order to raise the tying signal -i to the level of the precharge level of the main amplifier A pair of human power nodes t, the common data l10h and the voltage v0° of the common data l10h and the voltage v0°, the VO is preliminarily applied. 10vth (However, Vo. [wL
- Voltage, V, , 1M087Ite's Nutness Hold Voltage) is set to a high level. Taikinguigigoφi
At such a high level, the timing signal φm for the main amplifier operating state is
It is maintained by Kaya who is made to level 3.

従って、カットMO8FIITQ・、及びQ9.框、タ
イミング信号−YVCよってカラムスイッチ回路O−S
 W、及びa−swlvcおけるMOaFITQデSの
ようなM08FllTかオン状1i1にされた後におい
ても比叡的低いオン抵抗を持つようにされることになる
。そのM果、メインアンプMムの一対の人力ノードに框
、共通データーI10及びl10K与えられるデータ信
号に対応したレベル差が比砿的I%達度tもって与えら
れるととになる。
Therefore, cuts MO8FIITQ and Q9. Column switch circuit O-S by frame, timing signal-YVC
W, and M08FllT such as MOaFITQ de S in a-swlvc will have a relatively low on-resistance even after being turned on. As a result, a level difference corresponding to the data signals applied to the frame and common data I10 and I10K is applied to a pair of human-powered nodes in the main amplifier M with a comparative I% performance level t.

タイにングg1号φiiLメインアンプー作制−タイミ
ング(11号−mlかハイレベルにされる仁とに応じて
、論4B−に水蓄れたようにVo。十V1、以上のレベ
ルからはり亀―亀圧v0゜のレベルKllで低下させら
れる。従って、カッ)MO8FICTGLss及びQI
f a蒐比徐的ALAオン捻抗を持つようになる。
In Thailand, g1 No. It is lowered at the level Kll of turtle-tortoise pressure v0°.Therefore, MO8FICTGLss and QI
FA gradually begins to have ALA on twist.

カットMO87ITQe・及びQev のケートに加え
られるタイミング信号φRgが比較的低レベルにされる
こ七によって、メインアンプMAの一対の人力ノードと
共通データ1工10、工10及び竜ンスアンプBムとの
結合か疎にされる。すなわち、メインアンプMムの一対
の人力ノードと共通チーターとの閾の結合か弱められる
。その頻釆として飼え共通データ巌等Kjt幀的大薯い
亀の奇生容量か存在していても、メインアンプMムの一
対の人力ノードに結合される容量(図示しない)か実質
的に減少される。従って、メインアンプMムa、それに
おける負iIIか職滅されるので4通勤作を行なうよう
になる。メインアンプMAかa16速動作rhなうこと
によって、メモリからのデータの耽み出し1l−Jj4
迷lILに蔓ぜることが可動となる。
By setting the timing signal φRg applied to the gates of the cut MO87ITQe and Qev to a relatively low level, the pair of manual nodes of the main amplifier MA are connected to the common data 1 and 10, and the input amplifier B. or be neglected. That is, the threshold coupling between the pair of human powered nodes of the main amplifier M and the common cheater is weakened. Even if there is a paranormal capacitance of the large-sized tortoise that is commonly kept as a common data source, the capacitance (not shown) coupled to a pair of human power nodes of the main amplifier M is substantially reduced. be done. As a result, the main amplifier M and its negative functions are destroyed, and the driver has to commute to work four times. Main amplifier MA or a16 speed operation rh allows data to be input from memory 1l-Jj4
It is movable to spread around the stray lil.

タイミング信号φRg框、第4B図に示されたように、
タイミング偏号φム0かハイレベルからロウレベルにさ
れることに応じてはソ豪地電位のロウレベルKすれる。
The timing signal φRg frame, as shown in FIG. 4B,
When the timing deviation φ is changed from a high level to a low level, the low level of the ground potential is changed.

丁なわち、カットMO1i1FICTQ1.及びQ・7
ば、タイミング信号φ、。に基づいてプリチャージ(ロ
)WIP OIか再び動作開始されるときオフ状急にさ
れる。そのM来、共通データ騙I10及びIloのプリ
チャージII−、メインアンプMムが動作中でめるにも
かかわらずに開始させることができる。
That is, cut MO1i1FICTQ1. and Q.7
For example, the timing signal φ,. Based on the precharge (b) WIP OI is suddenly turned off when the operation is started again. Since then, the precharging of the common data I10 and Ilo can be started even though the main amplifier M is in operation.

タイミング信号φFgi!、メインアンプ動作制御タイ
きンク信号φmaかロウレベル[1れることに応じて、
はソ篭漁電圧v0゜のレベルの)1イレペルにされる。
Timing signal φFgi! , depending on whether the main amplifier operation control timing signal φma is low level [1],
is set to 1 level (of the level of the fishing voltage v0°).

タイミング信号φIga、 II!に所定時間後にIE
(l電圧v0゜より4元分に1%いレベルに変ツしさせ
られる。
Timing signal φIga, II! IE after a predetermined time
(It is made to change to a level 1% higher for four elements than l voltage v0°.

なお、書き込み動作モードにおいて框、ライトエネイブ
ル1B号vmか第4B図に破産で示された1うなロウレ
ベルに嘔れる。この場合、データ人力バッツ7回絡りよ
りから共通デー$1111工10及びIloに畳き込む
べ婁データ信号か供給される。
In addition, in the write operation mode, the write enable No. 1B vm goes to a low level as shown in FIG. 4B. In this case, a data signal to be convolved into the common data $1111, 10, and Ilo is supplied from the 7-time data input.

この杏龜込み1作モードに?いては、メインアンプMA
が共通データーI / O及び工10の電位に影響を与
えないようにさせるために、タイミング1!号φ、gr
[、IE4 BaK破MT示畜水蓄ように、タイミング
信号−maと同期してはり接地電位のロウレベルにされ
る。
This one-shot mode with apricot sauce? Then, the main amplifier MA
In order to prevent the voltage from affecting the common data I/O and the potential of the circuit 10, the timing 1! No. φ, gr
[, IE4 BaK broken MT indicator water storage, synchronized with the timing signal -ma, is set to the low level of the ground potential.

纂5iWの回路において、メインアンプMムの一対の入
力ノードに与えられるプリチャージ電圧ば、増幅Mo8
1/XTQ會a及びQee への動作開始時のバイアス
電圧として作用する。増@MO81rRTQCs及びQ
ll に、プリチャージ電圧か大きくきれることによっ
て高コンダクタンスで動作することKなる。これ4Cg
5じて、メインアンプMA’iji[1!#AJil″
r:@件名ゼることかできる。したかって、センスアン
プ8ムからの出力信号か小さい時点でメインアンプMム
のセンシング1m始できるため−S鯛作化忙幽ることか
できる。
In a circuit of approximately 5iW, the precharge voltage applied to the pair of input nodes of the main amplifier M is the amplification Mo8.
It acts as a bias voltage at the start of operation for 1/XTQ a and Qee. Increase @MO81rRTQCs and Q
When the precharge voltage is significantly reduced, the device can operate with high conductance. This is 4Cg
5, the main amplifier MA'iji [1! #AJil''
r: @Subject can also be used. Therefore, sensing of the main amplifier M can be started at a point in time when the output signal from the sense amplifier 8 is small, so that it is possible to be busy making -S sea bream.

なお、IE5図の回路において框、センスアンプの感度
同上のため、データ@DL、DL’@プリチャージ丁・
るためのMO8FITQy* 、l;Ll υようなM
O8PITは、電−電圧V。。以上のレベルのハイレベ
ルにされるタイミング信号φ Kよってスイッチ制御さ
れる。
In addition, in the circuit shown in the IE5 diagram, the sensitivity of the frame and sense amplifier is the same, so data@DL, DL'@precharged,
MO8FITQy*, l; Ll υ for M
O8PIT is an electric voltage V. . The switch is controlled by the timing signal φK set to the high level above.

〔ワード廖ブースト回路〕 ワード縁W1−1なL/k L W 1−64の選択レ
ベルが、はソ電―電圧V。。レベルKまでしか上昇され
ない場合、ガえデータ醐の電位か前記のようなアクティ
ブリストア一路によってwL源亀圧v0゜レベルに1で
上昇されてもメモリセルにおけるメモリ容置o8KH,
ワード−〇選択レベルからスイッチMOBIMTQMの
し@い陽電圧r引いた鋤の電圧しか供給されない。従っ
て、メモリセルに框、比較的小さい−の情報電荷しか書
き込1れない。このように情報電荷か少なり場合、ml
L<ないリーク電fiKよって失われる情−IE荷を再
生畜せるためのリフレッシュ動作を比着的短時間内に繰
9返え丁1うにしなけれはならなくなってくる。
[Word Liao Boost Circuit] The selection level of word edge W1-1 L/k L W 1-64 is voltage V. . If the voltage is raised only to the level K, even if the potential of the data is raised to the level of 1 by the active restore circuit as described above, the memory capacity in the memory cell is 08KH,
Only the plow voltage minus the positive voltage r of the switch MOBIMTQM from the word-〇 selection level is supplied. Therefore, only a relatively small amount of information charge can be written into the memory cell. In this way, if the information charge is small, ml
It becomes necessary to repeat the refresh operation nine times within a relatively short period of time in order to regenerate the information lost due to the leakage current fiK.

纂5図の一路においてに、メモリセルに畳1込み及び^
畳龜込みされる情報11E荷童を充分に大$〈さゼるた
めに、ワード線の選択レベルか゛*St圧v0゜以上に
上昇さゼられる。
In one line of Figure 5, convolution 1 is added to the memory cell and ^
In order to reduce the amount of information 11E to be loaded sufficiently, the selection level of the word line is raised to more than the *St pressure v0°.

ワード縁の選択レベルを決めるために、IE−電圧v0
゜よりも上昇されたレベルのワード線制御信号φ!か形
Iitされる。
To determine the word edge selection level, IE-voltage v0
Word line control signal φ at a level higher than ゜! Or it is done in the form Iit.

@9111)Krr、信号発all路φX−GIMII
から出力されるf/#備信号−IO変化速度【実質的に
制限しなく、かつ制御信号φ2のハイレベルkpm電圧
v0゜レベルよりも上昇させるようにされたブートスト
ラップ−路B1テが示されている。
@9111) Krr, signal generation all path φX-GIMII
A bootstrap path B1 is shown in which the f/# signal IO change rate output from the control signal φ2 is substantially unrestricted and raised above the high level kpm voltage v0° level of the control signal φ2. ing.

ブートストラップ崗wIBmTKsPいて、便号発生(
ロ)路φ!−G1m1mから出力される信号φXがロウ
レベルにされている場合1%工8FITQa、1及びQ
llmはオン状JIKされている。このとき、プートス
トラップ容量OB@は、ダイオード接続のMO8νlT
QmtaとM工SシlTQmlk介してプリチャージ状
瞭におかれて込る。1次、インバーター路工vlの出力
かハイレベルにされているので、 M O8P I T
 QIaのゲート及びブートストラップ容@OB、の一
方O11&a、MO8FJl;TQ*Iikブrしてロ
ウレベルK11l持されて込る。
Bootstrap function wIBmTKsP and flight number is generated (
b) Roadφ! - When the signal φX output from G1m1m is set to low level, 1% processing 8FITQa, 1 and Q
llm is on-state JIK. At this time, the bootstrap capacitance OB@ is the diode-connected MO8νlT
The precharge status is clearly entered through the Qmta and M engineering S series TQmlk. Since the output of the primary inverter circuit vl is set to high level, M O8P I T
One of the gates of QIa and the bootstrap capacitor @OB, O11&a, MO8FJl;TQ*Iik, is held at a low level K11l.

awe生−路φ1−Gllflからに、Rム8糸伯号で
あるタイきング信号φムRが第4ム図に示されたように
ハイレベルにされることに応じて、はソ電−電圧v0゜
レベルのハイレベルにされるワード線側御!1g1号φ
Iが出力される。
In response to the timing signal φR from the awe raw path φ1-Gllfl being set to high level as shown in FIG. The word line side control is set to the high level of the voltage v0° level! 1g No.1φ
I is output.

ワード縁側@偏号φXかハイレベルにされても、インバ
ータ自路工V、の出力に、その遅延時間疋はハイレベル
にされる。従って、ブート忍トラップ容量OB、 [、
Mo8FITQssa及びQllに介して充電される。
Even if the word edge side @deviation signal φX is set to a high level, the output of the inverter circuit V and its delay time are set to a high level. Therefore, the boot ninja trap capacity OB, [,
Charged via Mo8FITQssa and Qll.

インバータ回路I’VIの出力に、上記遅延時間の後、
は″′i接地電位のロウレベルに′gれる。インバータ
ー路IV−のロウレベル出力によってMO81Xテq1
1及びQats框オフ状1114c爆れる。そのWI乗
、MolνlTQ*t・及びGINI k介してプート
ストラップ谷110B−及び01lyKll−電圧v0
゜か供細場れることになる。
At the output of the inverter circuit I'VI, after the above delay time,
is set to the low level of the ground potential. By the low level output of the inverter path IV-, the MO81X
1 and Qats stile off type 1114c explodes. Pootstrap valley 110B- and 01lyKll-voltage v0 through its WI squared, MolνlTQ*t・and GINI k
゜Or a gift shop will be opened.

MOalFMTGLmisかプートストラップ容量OB
、によって増加された電圧によってオン状−にされるの
で、プートストラップ容量OB−によって増加された電
比かMO8FltQ□、k介してワード纒制−信号一!
に加えられることKなる。
MOalFMTGLmis or Pootstrap capacity OB
, is turned on by the voltage increased by the Pootstrap capacitance OB-, so that the voltage ratio increased by the Pootstrap capacitance OB- is connected to the word signal 1 through MO8FltQ□,k.
K is added to.

すなわち、信号発生回路−7−GINIから出力された
t−電圧レベルのワード婦制御信号φXに、7′−トス
トラップ回踏B−テによって、纂盛ム図に示されたよう
に、WLll電圧レベルよp4増加したレベルに上昇さ
ゼらnる。
That is, the word control signal φX at the t-voltage level outputted from the signal generation circuit 7-GINI is caused to have the WLll voltage by the 7'-tostrap circuit B-TE as shown in the accumulation diagram. The level increases by p4.

ワード線側m信号φXσ、Rム8系信号であるタイミン
グ信号φ1■がハイレベルにされることに応じて第4ム
mK示されたようにロウレベル圧される。第9図に示さ
れ危ブートストラップ1gJ路BBTにおいて框、タイ
ミング信号φム旧によっテスイッチ制御されるMOII
FITQmts iEM08FITQ*taのゲートと
II地電位点との間に設けられている。MOlilFI
TQ、I、框、タイミング偏号φムB蟲かハイレベルに
さnることによってオフ状急にされる。そのH来、プー
トストラップ容重CB−か無意味Km電させられてしま
うことが防がれる。
In response to the word line side m signal φXσ and the timing signal φ1■, which is an Rm8 system signal, being set to high level, the fourth mK is driven to a low level as shown. MOII which is controlled by the timing signal φm in the critical bootstrap 1gJ path BBT shown in FIG.
FITQmts Provided between the gate of iEM08FITQ*ta and the II ground potential point. MOLilFI
TQ, I, frame and timing deviation signal φB are suddenly turned off by setting them to high level. Since then, Pootstrap's weight CB- or pointless Km electric shock can be prevented.

プートストラップl[l!1MB8Tにおいて、ブート
ストラップ容置OB−框、比較的ILい谷菫性負旬忙躯
鋤するために比較的大きい容量にされる。これに対し、
プートストラップ容量011yHMO8FlテQ■sk
駆勧するだけで良いので比較的小蓄量にされる。比較的
大Vtのブートストラップ容量0B−U前配のように信
号発生回路φX−GINmの動作に対し独立に光電され
る。そのため、プートストラップ回l113B8T框、
信号発生−路≠I−GIAMIAK対し比較的小さ^負
#It檎底するに丁ぎない。
Poot strap l [l! At 1MB8T, the bootstrap storage OB-frame is made to have a relatively large capacity to accommodate relatively low IL storage capacity. On the other hand,
Poot strap capacity 011yHMO8FlteQsk
Since it is only necessary to encourage them, the amount stored is relatively small. As shown in the front of the bootstrap capacitor 0B-U with a relatively large Vt, photovoltaic signals are applied independently to the operation of the signal generating circuit φX-GINm. Therefore, Pootstrap times l113B8T stile,
Signal generation - path ≠ I - Relatively small ^ negative #It for GIAMIAK is just below the bottom.

ワード−制−信号φ!は、R−DOR−の出力によって
スイッチ制−されるMOgFITQasないしQll及
び9口ないしq■1等i介してワード#に供給される。
Word-system-signal φ! is supplied to word # through MOgFITQas or Qll and 9 or q1, etc., which are switched by the output of R-DOR-.

なsP%第1s111にお−て、R−DORIの出力1
11に!1人さn*MoaymτQtsないしQss等
にカットMO81Fm1丁である。R−DORIKよっ
て、MO8711!Qte のゲートにはソWL−電圧
v0゜に近いようなiIA択レベルか供給さnている場
合、このhi OB F I T Qamのゲート電機
と七〇下に騎起されるチャンネル愼域とKよって構成さ
れる薔生谷重に框、cO違択レしベO電圧か光電される
。従って1次にワード線側m信号φ!かハイレベルKf
化されると%MO8P]CTQ、、If)ゲート電位は
上記薔生容量によるプートストラップ作用によって、ワ
ードf1m御信号φXのレベルよりも更に上昇させられ
る。そのI#i来、MO8FITQ*sに、  ワード
産制―信号φXかwL挿胤圧v0゜レベルよりも上昇さ
れても充分にオン状11に維持される。カットMO8F
ITQaoU、MO87I T Qasのゲート電位が
上昇されることによって自動的にオフ状態にされる。R
−DOR,のロウレベル信号か供給畜れているカットM
O8FET1)、  ワード1制−信号−!のレベルに
かかわらずにオン状11JKされる。そのため、オン状
急にanるべ*”t”な%/′hMO8FI?、例えば
QvsないしGLstに、ワード線側御4111号φX
のレベルにかかわらずにオフ状11Km持場れる。
At the sP% 1st s111, the output of R-DORI is 1.
To 11! It is one piece of MO81Fm cut into n*MoaymτQts or Qss etc. for one person. MO8711 by R-DORIK! When the gate of Qte is supplied with an iIA selection level that is close to the voltage v0°, the gate voltage of this hi OB F I T Qam and the channel range and K Therefore, the voltage of the O voltage is applied to the frame and the cO difference between the frames and the O voltage. Therefore, the word line side m signal φ! Or high level Kf
%MO8P]CTQ, , If), the gate potential is further raised above the level of the word f1m control signal φX due to the bootstrapping effect of the above-mentioned capacitance. Since I#i, MO8FITQ*s is sufficiently maintained in the ON state 11 even if the word output signal φX is raised above the wL insertion pressure v0° level. Cut MO8F
ITQaoU and MO87ITQas are automatically turned off by raising their gate potentials. R
- Cut M where the low level signal of DOR is not supplied
O8FET1), word 1 system - signal -! Regardless of the level, it will be on-state 11JK. Therefore, in an on-state situation, suddenly an*"t"%/'hMO8FI? , for example, from Qvs to GLst, word line side control No. 4111φX
Regardless of your level, you can run an 11km off course.

同様に、ガえ/l1M01i11FITQ口ないしQl
?のう・ち選択丁べきワードIIIK対応されたM08
?ITに、良好にオン状WIKされる。
Similarly, Gae/l1M01i11FITQ mouth or Ql
? M08 now supports word IIIK
? IT is successfully turned on.

纂り図の夷1ガー路で框、メモリセルの遍択鋺作の高速
化のために、各ワードーW恥−a〜”Ll−@4及びW
LI−1−WIJI−44並びにダi−ワー ド趣しD
WL、−自  、  DWL・−B(DWLl−1+D
WL@−一・・・・・・図示せず)とW地電位間に、そ
れぞれワード1制m信号φXの立ち上f)K同期してオ
フ状1IIKされるMOJiF]1TQsstいしqO
が設けられている。上記各MOJ[l?QIIないしQ
asのそれぞれのオン抵抗筒に、ワードtsm僑信号φ
xk形成するタイミング発生−路の11イレベル出力イ
ンピーダンスに対して十分大暑く設定され、かつ、讐れ
らの並列合成抵抗籠は十分小名〈設定される。
In order to speed up the creation of frames and memory cells in the 1st row of the assembled diagram, each word ``Ll-@4 and W
LI-1-WIJI-44 and Di-Word style D
WL, -self, DWL・-B (DWLl-1+D
MOJiF]1TQsst and qO are synchronously turned off when the word 1 m signal φX rises between WL@-1 (not shown) and W ground potential.
is provided. Each MOJ above [l? QII or Q
The word tsm signal φ is applied to each on-resistance cylinder of as.
It is set to be sufficiently large for the 11-level output impedance of the timing generation path forming xk, and the parallel composite resistance cages thereof are set to be sufficiently small.

R−11WIlj介した共通ワード@IICも上記同機
なMOIFITQaa〜Qasか設けられて偽る。
The common word @IIC via R-11WIlj is also falsely provided with MOIFITQaa to Qas of the same machine.

Cれら0M0Iν1TGLssなL/%LA41等に、
七の並列合成獣抗籠によってワード層制−信号fxのハ
イレベルの立ち上gをx′)oワード層か選択さrL4
Iまでp−レベルmK抑えるように動作丁ル。(−4D
M釆R−DOROaIR−作終了タイ建ンダに自動的に
合ぜられたワードml1lIII4Ii号φIがR41
iitされることになる。
C are 0M0Iν1TGLss L/%LA41 etc.,
Word layer system by seven parallel composite beast cages - the rising of the high level of signal fx is selected from x') o word layer rL4
The operation is performed to suppress the p-level mK up to I. (-4D
M button R-DOROaIR-The word ml1lIII4Ii number φI that was automatically combined with the end of the work is R41
It will be iit.

この1うKTる七、1l−DORt)aF動作M了タイ
ミングに対し湯@vcタイイングマージンを設定した上
で信号発生回路φX−G11mからワード鯉制−信号φ
!を出力させるようにしなくても蔑りようになる。その
**%−路Fal+運皺で動作させることかできるよう
に1にる。
After setting the hot water@vc tying margin for the aF operation M completion timing, the word control signal φ is sent from the signal generation circuit φX-G11m.
! Even if you don't make it output, you will start to despise it. It becomes 1 so that it can be operated with the **%-path Fal + Unwrinkle.

なお、R−DORIDORID出力レベル良好なレベル
にされる前[16制御信号φr211j出力さt″Lあ
と、選択されるべ龜て1にいワード層の電位が不所望に
上昇させられ、そOWI来、メモリセルにおける香―情
報が破壊される。このような望箇しくな一一路動作を防
ぐため、上記のように制−信号φ!に、R−DORII
E)選択−作藉了の後に出力されるようにされなけれ#
iならない。
Note that before the R-DORIDORID output level is set to a good level [16 control signal φr211j output t″L], the potential of the selected word layer is undesirably increased, and the OWI event occurs. , the aroma information in the memory cell is destroyed.In order to prevent such undesirable one-way operation, the R-DORII is applied to the control signal φ! as described above.
E) Selection - Must be made to be output after completion of production #
It must be i.

〔カラムスイッチ用プートストラップ回路〕f−11g
DL@等かはソ電−罵圧V0゜のレベルに1でプリチャ
ージ響れ、鵞た共通データーエ10及び工10か同機に
はソ亀−亀圧v0゜のレベルに筐でプリチャージされる
ような場合、データーから共通データ森へデータ信号を
高速度で伝達させるため、及び逆に#c過テーーーから
畳暑込むべきデータ信号i高速度でデー711に転送石
せるためK、カツムxイyチa21踏0−811K>F
fhMO8FITQysのようなMOIlllMTtl
、電源電圧v0゜レベルよりも上昇される信号によって
都動される方か望ましい。
[Pootstrap circuit for column switch] f-11g
DL @ etc. is precharged to the level of the electric pressure V0゜, and the common data 10 and 10 of the same machine are precharged to the level of the electric pressure V0゜. In such a case, in order to transmit the data signal from the data to the common data forest at high speed, and conversely, in order to transfer the data signal i from the data to the data 711 at high speed, ychi a21 step 0-811K>F
MOIllllMTtl like fhMO8FITQys
, it is preferable that the signal be driven by a signal that is raised above the power supply voltage v0° level.

115図に水蓄れたigIW&におりてに、カラムスイ
ッチ回路0−812に供給するための電源電圧vaoレ
ベル、!pも上昇畜ぜられる111@信号φXか形成さ
れる。
In Figure 115, the power supply voltage vao level for supplying to the column switch circuit 0-812 is set to the igIW & which has accumulated water! A 111@signal φX is formed in which p is also raised.

制m@号φ!に、第9図に示された(口)路と同機なl
ll1LID−路から出力される。劃−信号φ!を形成
するために、纂4B−に示された一イにング信号φム0
の立上やと同期してはソ電伽電圧v0゜のレベルのハイ
レベルに立上る91号を出力する侭号発住回路かt&け
られ、筐た纂9−に示されたプートストラップ−路B8
テと一億な構成のプートストラップ回路l路か設けられ
る。劃−信号一!のためのレベルのプートストラップl
1i21路KH1第9−に示されたMOalMTql−
にかえて、同図に破?#7i髪もって表水蓄れたような
MO#FITQuyか設けられる。
Control m @ issue φ! In the same plane as the route shown in Figure 9,
It is output from the ll1LID- path.劃-signal φ! In order to form
In synchronization with the rising of the voltage, the output circuit for outputting the signal 91 which rises to a high level of the voltage v0° is connected to the Pout strap shown in the box summary 9-. Road B8
A total of 100 million Pootstrap circuits are provided. The first signal! Level Poot Strap for
MOalMTql- shown in 1i21st road KH1 No. 9-
Instead, break the same figure? #7i There is a MO#FITQuy that looks like surface water has been accumulated with hair.

データー選択−路flAにおいて框、データ巌辿択MO
JIFII!TQyi 、 Qts 4!Oゲートと接
地電位量に1デ一−−制御I!号−yの立ち上りr受け
て< 7状@Kink M O51F M T Qvt
 、Qys 響:m設けられている。これらのMO13
FIliTQ??。
Data selection-path flA, frame, data path selection MO
JIFII! TQyi, Qts 4! 1 de-1 control for O gate and ground potential amount! In response to the rising r of No.-y < 7 state @Kink M O51F M T Qvt
, Qys Hibiki: m is provided. These MO13
FIliTQ? ? .

Q?I等は、前記MOIFITQ■ないLQs*などと
同様な動作髪行なう。0−8Wlj介した共通ワード1
過択信号1にも同機なMolνITか設けられている。
Q? I, etc. perform the same operation as LQs* without MOIFITQ. Common word 1 via 0-8Wlj
A similar MolνIT is also provided for the overselection signal 1.

CIv発明に、前記実施内に限足畜れず、真体的回@1
1成框謹々変形できるものでるる。
The CIv invention is not limited to the above-mentioned implementation, but the true essence @1
A single frame can be freely transformed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はダイナミック塩メモリシステムのフロック幽、
第2図はダイナミック型メモリ装置のブロック図、!l
!3ム図、第3Bl14、第4A図及び畠4B図にその
動作波形図、[5図に壷鄭具体的回路図、146図、謳
7図にタイゼングパルス兄住(ロ)w10Ig回路図、
纂8図にその動作波形図、$19図鴎プートストラップ
胞路の具体的回路図、第10図及びl!11図に、動作
モードの一ガを示す#L形図である。 第  6 図 第  7 図 第  8 図 第  9  図 第10図 第11図 cz<s>−−−−f’−−−−−− 二ゎ、−
Figure 1 shows the flow diagram of the dynamic salt memory system.
Figure 2 is a block diagram of a dynamic memory device. l
! Figure 3, Figure 3Bl14, Figure 4A, and Figure Hatake 4B are the operating waveform diagrams;
Figure 8 shows its operating waveform diagram, Figure 19 shows a specific circuit diagram of the Oshi-Puttstrup follicle, Figure 10, and l! FIG. 11 is an #L-shaped diagram showing the first mode of operation. Fig. 6 Fig. 7 Fig. 8 Fig. 9 Fig. 10 Fig. 11 cz<s>---f'---- 2ゎ、-

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、選択されたメモリセルとダン−セルからの信号がそ
れぞれ伝えられる一対のデータ巌の信号を受けて増幅す
るセンスアンプと、この増幅信号がカラムスイッチ(2
)路を介して伝えられゐ一対の共通データ巌と、この共
通データーを亀―電圧レベル1でプリチャージするプリ
チャージ回路と、この共通データ練の信号r受けるメイ
ンアンプとt含むことt%黴とするダイナイック11M
O8メモリ装置。 2、共通データーとメインアンプの増幅M0811TO
ゲートとの関にはカットMOBIXテが設けられている
ものであること1に一臀黴とする特許請求の範囲纂l積
記載のダイ9ナミツク淑MOBメモリ鋲直。 3、 プリチャージ回路は、Rム8糸信号及びOム8糸
信号で形成され次ブート7トラツプ域圧で動軸されるM
O8PKT忙介して電―電圧!でプリチャージするもの
であることt特徴とする脣軒情京の範囲第1項又は第2
項記載のダイナミック型MO8メモリi!置。 4、データ1へのプリチャージレベルは、電飾電圧レベ
ルまで行なわれるものであることt特倣とする%I’F
請求の範囲第1.第2又框纂3墳記載のダイナミック型
M08メモリiit。
[Claims] 1. A sense amplifier that receives and amplifies signals from a pair of data blocks to which signals from selected memory cells and data cells are respectively transmitted;
) A pair of common data signals transmitted via a path, a precharge circuit that precharges this common data at a voltage level of 1, a main amplifier that receives the signal of this common data, and a main amplifier that receives the common data signal. Dynaic 11M
O8 memory device. 2. Common data and main amplifier amplification M0811TO
1. The MOB memory fixing device according to the claims set forth in claim 1 states that a cutting MOBIX tip is provided in the connection with the gate. 3. The precharge circuit is formed by the Rm 8 thread signal and the Om 8 thread signal, and the M which is driven by the boot 7 trap area pressure.
O8PKT Busy Electric Voltage! Item 1 or 2 of the scope of the 脣uxuanjokyo, which is characterized by being precharged with
Dynamic MO8 memory i! Place. 4. The precharge level to data 1 must be up to the illumination voltage level. %I'F
Scope of claims 1. Dynamic type M08 memory IIT described in the second or third frame.
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Cited By (3)

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JPS629590A (en) * 1985-07-08 1987-01-17 Nec Corp Amplifier circuit
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