JPS58173420A - 測尺装置 - Google Patents

測尺装置

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Publication number
JPS58173420A
JPS58173420A JP5775782A JP5775782A JPS58173420A JP S58173420 A JPS58173420 A JP S58173420A JP 5775782 A JP5775782 A JP 5775782A JP 5775782 A JP5775782 A JP 5775782A JP S58173420 A JPS58173420 A JP S58173420A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
housing
pressure
outside
dust
measuring device
Prior art date
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Pending
Application number
JP5775782A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Okubo
大久保 浩之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Magnescale Inc
Original Assignee
Sony Magnescale Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Magnescale Inc filed Critical Sony Magnescale Inc
Priority to JP5775782A priority Critical patent/JPS58173420A/ja
Publication of JPS58173420A publication Critical patent/JPS58173420A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/002Details

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は一尺装置、1liKその耐塵性及び耐水性に優
れた一尺装置に関する。
模械加工の自動化の進展に件ない、各種の測尺装mV用
いたインプロセス計測、或いはインタープロセス計測の
要求が高まっている。
しかしその反面、新例性及び切削性を高めるために、各
種の電解性、溶解性の研削液、切削液等が使用されるよ
5になっている。従って一尺装置+t インプロセス針
橢又ぽインタープロセス計測の現場においては、流れ落
ちる切削液、飛散する研削粉塵、或いは研削液飛沫等の
存在する悪い環境条件で使用せざるを得ない。しかるに
従来の一尺装置IKも各種の防塵及び防滴対策が施され
てはいるが、万全なもので番言なく、研帛液、切へ油、
粉塵郷の侵入忙より、その機能が損われる欠点があった
。例えば、その多くは電解性研削液の侵入による検出ヘ
ッド伝送系の電気的短絡、溶解性切削液の浸漬による検
出ヘッドからのリード線の腐蝕。
断線等である。
本考案はかかる従来技術の欠点を解決するためKなされ
たもので、一尺装置内に外部より気体l供給すること忙
より、一尺装置の内圧な外圧より高くし耐水性及び耐塵
性を持たせて、上述の如き悪い環境下でも、m械加工の
インプロセス計測或いはインタープロセス計測に好適な
一尺装置を具現することを目的とする。
以下N−に示す実施例を参照して本発明を説明すると、
第1図は7ランジヤ形橢尺装置に本発明を適用した一実
施例を示す。同WJにおいて、lは測定スピンドル、2
はこれに連動する磁気スケールで、11体3内で該スケ
ール2と検出ヘッド4との間の相対移動量をスケール信
号として検出し。
ケーブル5v介して外sK取出すよう罠なっており、そ
の構造自体は公知であるから、詳細説明は省略する。
またこの測尺装置の主たる開口部はスピンドル軸受部6
とケーブルクランプ部6′で、ヌピンドル軸受gsには
オイルシールリング或いは0リング7等で、またケーブ
ルクランプ部6にはブッシング8で夫々成る程度のシー
ルを施しである。
さて筐体3には吸気口9v設けて、所定圧の空気をチュ
ーブ109介して筺体3内に供給する。この空気の圧力
は少なくとも測尺装置の使用環境の外気圧より高く設定
する。
なお、!体3内の検出ヘッド保持@11.或いはスピン
ドルストッパ(バネ受)12等には、夫々連通穴13,
14v設けて、筐体3:内の内圧を均等にすることが望
ましい。
このようにしてプランジャ型測尺装置の筐体内の油、水
、砂塵等の浸入を効果的に防ぐことができる。
亀2図はシリンダ型測尺装置に本発明l適用り。
た他の実施例で、If体AF13に固設した磁気スケー
ル21と、筐体A内に対して移動自在な筐体Bの一端に
固定した検出ヘッドηとの相対移動量をスケール信号と
して検出しケーブル23ヲ弁して外1flK取り出すよ
うKなっている。この装置の主たる開口部は置体AとB
との嵌合@24であり、この部分KOリング或いはオイ
ルシールリング25轡である程度のシールl施しである
さて、この場合も、筺体A(又はB)に吸気口26を設
けて、外部より所定圧の気体をチューブnを介し℃筐体
内に供給する。なお、筐体A内のシリンダロンド29に
は連通穴28を形成し、!体A。
Bの相対移動に伴なって各容積内の気圧を均等化するの
が好ましい。
上述したように構成すれば、シール525tl−通し″
′C筐体内の気体が外部へ若干リークするが、置体内の
内圧が外圧に5NしCi#+<維持されることにより、
外部から水、油、粉塵等の浸入を防ぐことがで倉る。
第3図はリニア型ディジタル式#j尺装置IK本発明を
適用した他の実施例で、ケース31内に固設した磁気ス
ケール支と、ヘッド取付@’AK保持されている検出ヘ
ッドあとの相対移動によりメケール信号!検出するよう
に構成されている。ケース開口1tI35#cはゴム、
スポンジ、金属シート等の弾性体で形成されたシール部
材あが設けられており。
ある程度のシール効果がある。      ゛ケース3
1 Kは適当な位11に、吸気日計が設けられ1おり、
外部よりチューブ38V介して所定圧の気体がケース内
に供給される。従ってケースの内圧はシールmv介して
若干気体のリークがあるものの、外圧より高くなってい
るので、外部からの水、油、粉塵等の浸入を防ぐことが
できる。
以上説明したように本発明和よれば比較的簡易な#I#
Ji!により耐水及び耐塵性に優れ、*械加工の自動化
IC[求されるインプロセス計測、インタープロセス計
測等に好適な#1尺装*−Y提供することができる。
なお1本発明は前述したタイプの測尺装置だけでなく1
回転型スケール、ロータリエンコータ。
電気マイクロメータ等の種々の装fI1.#C適用でき
同様の作用効果ケ得られる。また、装置内への気体の供
給はケーブルに適当な連通孔!設け1行なうよう托して
もよい。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の一実施例を示す概略図、第2図及び第
3図は夫々本発明の他の実施例を示す概略図である。 1・・・測定スピンドル、2・・・スケール、3・・・
筐体。 4・・・検出−・ラド、9・・・吸気口、 10・・・
チューブ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  装置筐体内に外部より気体を供給し、その内
    圧!外圧より高くなるように構成したことv特徴とする
    一尺装置。
  2. (2)  上記筐体内の所定個所に連通孔を形成し。 内圧を均等となるように構成したことを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の一尺装置。
JP5775782A 1982-04-06 1982-04-06 測尺装置 Pending JPS58173420A (ja)

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