JPS5815899Y2 - シツリヨウブンセキケイヨウイオンゲン - Google Patents
シツリヨウブンセキケイヨウイオンゲンInfo
- Publication number
- JPS5815899Y2 JPS5815899Y2 JP1975056558U JP5655875U JPS5815899Y2 JP S5815899 Y2 JPS5815899 Y2 JP S5815899Y2 JP 1975056558 U JP1975056558 U JP 1975056558U JP 5655875 U JP5655875 U JP 5655875U JP S5815899 Y2 JPS5815899 Y2 JP S5815899Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hole
- ionization
- slide plate
- electron
- guide groove
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は質量分析計のイオン源の改良に関するものであ
る。
る。
周知の如く質量分析における重要な技法として試料のイ
オン化方式があるが、頻用されるイオン化方式としては
、電子を試料分子に当てＸこれを分断し多種の断片イオ
ン（フラグメントイオン）を形成させるＥＩ方式および
試料と低分子の反応ガスとを共存させておき、電子によ
って該反応ガスを電離させ、生じたイオンを試料分子と
結合させるＣＩ方式とがある。
オン化方式があるが、頻用されるイオン化方式としては
、電子を試料分子に当てＸこれを分断し多種の断片イオ
ン（フラグメントイオン）を形成させるＥＩ方式および
試料と低分子の反応ガスとを共存させておき、電子によ
って該反応ガスを電離させ、生じたイオンを試料分子と
結合させるＣＩ方式とがある。
ＥＩ方式は比較的高い真空度（Ｉ Ｃｒ４Ｔｏｒｒ ）
に保存したイオン化箱内で試料分子に電子を衝突させる
ので、その外周空間たる質量分析空間との真空度の差は
少いのであるが、ＣＩ方式ではイオン化箱内にＩ Ｔｏ
ｒｒ程度のかなり高い圧力の反応ガスを導入しながら前
記の如く反応ガスをイオン化して試料分子と反応させる
のでイオン化箱と質量分析空間との圧力差はきわめて大
きい。
に保存したイオン化箱内で試料分子に電子を衝突させる
ので、その外周空間たる質量分析空間との真空度の差は
少いのであるが、ＣＩ方式ではイオン化箱内にＩ Ｔｏ
ｒｒ程度のかなり高い圧力の反応ガスを導入しながら前
記の如く反応ガスをイオン化して試料分子と反応させる
のでイオン化箱と質量分析空間との圧力差はきわめて大
きい。
ＣＩ方式のイオン化箱はＥＩ方式用のものに比べてこの
ような大きな圧力差を維持しかつ質量分析計の真空ポン
プの負担を軽減し、反応ガスおよび試料のロスをなるべ
く少くするためイオン化箱と質量分析空間との気体分子
通過のコンダクタンスを出来るだけ小さくするようにし
ている。
ような大きな圧力差を維持しかつ質量分析計の真空ポン
プの負担を軽減し、反応ガスおよび試料のロスをなるべ
く少くするためイオン化箱と質量分析空間との気体分子
通過のコンダクタンスを出来るだけ小さくするようにし
ている。
即ち具体的にはＣＩ方式のイオン化箱はＥＩ方式のもの
に比べ主要な相違点として電子入射孔、イオン出射孔等
をきわめて小さく形成しているのである。
に比べ主要な相違点として電子入射孔、イオン出射孔等
をきわめて小さく形成しているのである。
従って従来では予めＣＩ方式専用およびＥＩ方式専用の
イオン化箱を別々に用意しておき、ＣＩ−ＥＩ方式間の
切換えに際してそれぞれに応じたイオン化箱に取り替え
ねばならないと云う煩雑さがあった。
イオン化箱を別々に用意しておき、ＣＩ−ＥＩ方式間の
切換えに際してそれぞれに応じたイオン化箱に取り替え
ねばならないと云う煩雑さがあった。
こＳにおいて本考案は同一イオン化箱を使用してイオン
化箱と質量分析空間との気密を十分に保持したま＼、ワ
ンタッチでＣＩ−ＥＩ方式間の切り替えが可能な質量分
析計用イオン源を提供せんとするものであって、次にそ
れを実施例図について説明すると、第１図乃至第５図は
電子入射孔とイオン出射孔とをワンタッチでＣＩ−ＥＩ
方式間の切り替え可能にした場合であって、そのうち第
１図、第２図はＣＩ方式にセットした場合、第３図、第
４図はＥＩ方式にセットした場合である。
化箱と質量分析空間との気密を十分に保持したま＼、ワ
ンタッチでＣＩ−ＥＩ方式間の切り替えが可能な質量分
析計用イオン源を提供せんとするものであって、次にそ
れを実施例図について説明すると、第１図乃至第５図は
電子入射孔とイオン出射孔とをワンタッチでＣＩ−ＥＩ
方式間の切り替え可能にした場合であって、そのうち第
１図、第２図はＣＩ方式にセットした場合、第３図、第
４図はＥＩ方式にセットした場合である。
即ちＥＩ方式用の場合比較的大形の電子入射孔１とイオ
ン出射孔２を設けたイオン化箱３の各孔１．２の外面上
に、当り面４，４′を有する案内溝５，５′を設けて、
案内溝５を摺動可能なスライドプレート６にはＣＩ方式
用の比較的小形の電子入射孔７および一定間隔をおいて
バカ穴８を、そして案内溝５′を摺動可能なスライドプ
レート６′にはＣＩ方式用の比較的小形のイオン出射孔
７′及び一定間隔をおいてバカ穴８′を穿設し、両スラ
イドプレート６．６′のそれぞれの両側辺をヘールバネ
９ａ 、９ｂ 、９ｃ 、ｓｃｔにより前記案内溝５，
５′内に摺動自在に押圧保持してアングル部材１０およ
びビス１１ａ、１１ｂにより一体に連結したものである
。
ン出射孔２を設けたイオン化箱３の各孔１．２の外面上
に、当り面４，４′を有する案内溝５，５′を設けて、
案内溝５を摺動可能なスライドプレート６にはＣＩ方式
用の比較的小形の電子入射孔７および一定間隔をおいて
バカ穴８を、そして案内溝５′を摺動可能なスライドプ
レート６′にはＣＩ方式用の比較的小形のイオン出射孔
７′及び一定間隔をおいてバカ穴８′を穿設し、両スラ
イドプレート６．６′のそれぞれの両側辺をヘールバネ
９ａ 、９ｂ 、９ｃ 、ｓｃｔにより前記案内溝５，
５′内に摺動自在に押圧保持してアングル部材１０およ
びビス１１ａ、１１ｂにより一体に連結したものである
。
このように一体としたスライドプレート６．６′を摺動
させてＣＩ−ＥＩ方式間を切り替え作動させる実施例と
しては第５図に示す如くスライドプレート６ 、６’と
Ｌ字状のてこ１２とをアーム１３により遊嵌状にピン止
め１３ａ 、１３ｂして連結し、ロッド１４の上下方向
の作動および引きバネ１５の作用により、てこ１２を支
点１６を中心として一定角度回動させると容易に実施で
きることとなる。
させてＣＩ−ＥＩ方式間を切り替え作動させる実施例と
しては第５図に示す如くスライドプレート６ 、６’と
Ｌ字状のてこ１２とをアーム１３により遊嵌状にピン止
め１３ａ 、１３ｂして連結し、ロッド１４の上下方向
の作動および引きバネ１５の作用により、てこ１２を支
点１６を中心として一定角度回動させると容易に実施で
きることとなる。
このように構成することによりロッド１４を弓上げてバ
ネ１５の作用でスライドプレート６．６′を当り面４，
４′まで摺動させた場合（第１図、第２図）にはイオン
化箱３に設けられたＥＩ方式用の電子入射孔１とイオン
出射孔２はスライドプレート上に設けられたこれより小
さいＣＩ方式用の孔７，７′によって規制されてイオン
化箱３はＣＩ方式用のものとして作用することになり、
次にロッド１４を下方に押下げることによりスライドプ
レート６ 、６’を一定距離引出して、イオン化箱３の
各孔１，２上にこれより大きいバカ穴８，８′を位置さ
せた場合（第３図、第４図）にはイオン化箱３はＥＩ方
式用のものとして作用することになり、ＣＩ−ＥＩ方式
間の切り替えがロッド１４を上下動させると云うワンタ
ッチの操作で可能となる。
ネ１５の作用でスライドプレート６．６′を当り面４，
４′まで摺動させた場合（第１図、第２図）にはイオン
化箱３に設けられたＥＩ方式用の電子入射孔１とイオン
出射孔２はスライドプレート上に設けられたこれより小
さいＣＩ方式用の孔７，７′によって規制されてイオン
化箱３はＣＩ方式用のものとして作用することになり、
次にロッド１４を下方に押下げることによりスライドプ
レート６ 、６’を一定距離引出して、イオン化箱３の
各孔１，２上にこれより大きいバカ穴８，８′を位置さ
せた場合（第３図、第４図）にはイオン化箱３はＥＩ方
式用のものとして作用することになり、ＣＩ−ＥＩ方式
間の切り替えがロッド１４を上下動させると云うワンタ
ッチの操作で可能となる。
尚こ＼でスライドプレート６．６′のバカ穴８゜８′は
必ずしも必要なものではなく、スライドプレートを引出
してＥＩ方式用として作用させる際にイオン化箱３の孔
１，２を被わないようにスライドプレートを形成すれば
よいのである。
必ずしも必要なものではなく、スライドプレートを引出
してＥＩ方式用として作用させる際にイオン化箱３の孔
１，２を被わないようにスライドプレートを形成すれば
よいのである。
第６図は本考案の他の実施例であって、電子トラップ１
７がイオン化箱３と離れて位置している場合（これに対
し、前記実施例第１図乃至第５図は電子トラップがイオ
ン化箱内に絶縁物を介して取付けられていることになる
）にはフィラメント１８よりの電子はイオン化箱３下面
の電子射出孔（図示せず）を通過して電子トラップ１７
に到達することになるので、イオン化箱３の該電子射出
孔上にも前記実施例と同様のスライドプレートを設けて
、結局イオン化箱３の三面にスライドプレート６．６’
、６″を設けてこれらをチャンネル部材１９およびビス
２０ａ 、２０ｂ 、２０ｃで一体に連結したものであ
って、電子入射孔、イオン出射孔、電子出射孔のそれぞ
れについてワンタッチでＣＩ−ＥＩ方式間の取り替え操
作ができることになる。
７がイオン化箱３と離れて位置している場合（これに対
し、前記実施例第１図乃至第５図は電子トラップがイオ
ン化箱内に絶縁物を介して取付けられていることになる
）にはフィラメント１８よりの電子はイオン化箱３下面
の電子射出孔（図示せず）を通過して電子トラップ１７
に到達することになるので、イオン化箱３の該電子射出
孔上にも前記実施例と同様のスライドプレートを設けて
、結局イオン化箱３の三面にスライドプレート６．６’
、６″を設けてこれらをチャンネル部材１９およびビス
２０ａ 、２０ｂ 、２０ｃで一体に連結したものであ
って、電子入射孔、イオン出射孔、電子出射孔のそれぞ
れについてワンタッチでＣＩ−ＥＩ方式間の取り替え操
作ができることになる。
また別の実施例としては、それぞれのスライドプレート
にＥＩ方式用の穴とＣＩ方式用の穴の中間の大きさの孔
を設けておくと、例えば試料の損失が問題となるような
ＥＩ方式の分析においてこの中間の大きさの孔を使用す
ることができることになる。
にＥＩ方式用の穴とＣＩ方式用の穴の中間の大きさの孔
を設けておくと、例えば試料の損失が問題となるような
ＥＩ方式の分析においてこの中間の大きさの孔を使用す
ることができることになる。
叙上の如く本考案によりＣＩ−ＥＩ方式間の切り替えに
際してイオン化箱を交換する手間が省けることになり、
また切り替え操作もワンタッチで簡単にできる質量分析
計が得られることになるのである。
際してイオン化箱を交換する手間が省けることになり、
また切り替え操作もワンタッチで簡単にできる質量分析
計が得られることになるのである。
第１図は本考案によるイオン源をＣＩ方式にセットした
場合の平面図、第２図はその正面図、第３図はこれをＥ
Ｉ方式に切り替えた場合の平面図、第４図はその正面図
、第５図はＣＩ−ＥＩ方式間の切り替えの原理の実施例
を示すイオン源附近の背面図、第６図は本考案イオン源
の他の実施例であってＣＩ方式にセットした場合の正面
図である。 １・・・・・・ＥＩ方式電子入射ＪＬ ２・・・・・
・ＥＩ方式イオン出射孔、３・・・・・・イオン化箱、
５，５′・・・・・・案内溝、６．６’、６“・・・・
・・スライドプレート、９ａ〜９ｄ・・・・・・ヘール
バネ。
場合の平面図、第２図はその正面図、第３図はこれをＥ
Ｉ方式に切り替えた場合の平面図、第４図はその正面図
、第５図はＣＩ−ＥＩ方式間の切り替えの原理の実施例
を示すイオン源附近の背面図、第６図は本考案イオン源
の他の実施例であってＣＩ方式にセットした場合の正面
図である。 １・・・・・・ＥＩ方式電子入射ＪＬ ２・・・・・
・ＥＩ方式イオン出射孔、３・・・・・・イオン化箱、
５，５′・・・・・・案内溝、６．６’、６“・・・・
・・スライドプレート、９ａ〜９ｄ・・・・・・ヘール
バネ。
Claims (1)
- 比較的大形の電子入射孔、イオン出射孔、電子出射孔等
の孔を設けた一つのイオン化箱の６孔の外面上に案内溝
を設け、該案内溝を摺動する各スライドプレートには比
較的小形の６孔を設けて、各スライドプレートの両側辺
をバネにより前記案内溝内に摺動自在に抑圧保持し、か
つ各スライドプレートを一体に連結して同時に摺動させ
ることにより一つのイオン化箱における電子入出射子Ｌ
イオン出射孔等の大きさを選択するイオン化方式に応じ
て変更し得るようにしたことを特徴とする質量分析計用
イオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1975056558U JPS5815899Y2 (ja) | 1975-04-24 | 1975-04-24 | シツリヨウブンセキケイヨウイオンゲン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1975056558U JPS5815899Y2 (ja) | 1975-04-24 | 1975-04-24 | シツリヨウブンセキケイヨウイオンゲン |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS51136190U JPS51136190U (ja) | 1976-11-02 |
| JPS5815899Y2 true JPS5815899Y2 (ja) | 1983-03-31 |
Family
ID=28210966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1975056558U Expired JPS5815899Y2 (ja) | 1975-04-24 | 1975-04-24 | シツリヨウブンセキケイヨウイオンゲン |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5815899Y2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2439711A1 (de) * | 1973-08-27 | 1975-04-10 | Hewlett Packard Co | Ionenquelle |
-
1975
- 1975-04-24 JP JP1975056558U patent/JPS5815899Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2439711A1 (de) * | 1973-08-27 | 1975-04-10 | Hewlett Packard Co | Ionenquelle |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS51136190U (ja) | 1976-11-02 |
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