JPS58145217A - Digital filter - Google Patents

Digital filter

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Publication number
JPS58145217A
JPS58145217A JP2781182A JP2781182A JPS58145217A JP S58145217 A JPS58145217 A JP S58145217A JP 2781182 A JP2781182 A JP 2781182A JP 2781182 A JP2781182 A JP 2781182A JP S58145217 A JPS58145217 A JP S58145217A
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JP
Japan
Prior art keywords
digital
test
filter
flip
digital data
Prior art date
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Pending
Application number
JP2781182A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Susumu Matsuda
進 松田
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to JP2781182A priority Critical patent/JPS58145217A/en
Publication of JPS58145217A publication Critical patent/JPS58145217A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H17/00Networks using digital techniques
    • H03H17/02Frequency selective networks

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To make the diagnosis of failure accurately without using a special device, by providing a registor storing digital data for test and transferring it to a CPU as required. CONSTITUTION:A digital filter 100 is connected to a CPU300. When an FF101 is set, i.e. in the test mode, a selector 103 outputs as output of a register 102, i.e. digital data for test transferred from the CPU300 to an operation section 104 selectively. Further, a control circuit 107 permits the filter processing for one period's share when an FF106 is set for the operation section 104. Thus, the operation section 104 performs the filter processing and stores the result of processing to a data buffer 105. This content is transferred to the CPU300 as required for the diagnosis of failure. Thus, the diagnosis of failure is made accurately without using a special device.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はアナログ/デジタル変換回路から周期的に与え
られるサンプリングデジタルデータをフィルタ処理する
デジタル・フィルタに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a digital filter that filters sampled digital data periodically provided from an analog/digital conversion circuit.

〔発明の技術的背景とその問題点] 一般にこの種のデジタル・フィルタ1oは第1図に示さ
れるようにアナログ/デジタル変換回路(以下、ADC
と称する)20から周期的に与えられるサンプリングデ
ジタルデータDATAADOをフィルタ処理し、このフ
ィルタ処理の結果を所定の周期毎に処理装置f(以下、
CPUと称する)30に転送するようになっている。セ
してCPUJoはデジタル・フィルタ10から転送され
たデーターを用いて種々の処理を行なう。この場合、デ
ジタル・フィルタlOが故障などであれば、CPUJO
の処理結果に誤りが発生する。そこで、デジタル・フィ
ルタ10が正しく動作しているか否かを必要に応じて診
断し、デジタル・フィルタ10の状態を正しく把握して
おく必要がある。このためにはデジタノーフィルタlO
に所定のテストパターンを与え、このテストパターンに
対するデジタル・フィルタ10のフィルタ処理結果と予
#jされる正しいデータとを比較する故障診断が必要と
なる。従来、デジタル・フィルタ104こ対するテスト
パターンの与え方として it  A D Cx oに代えて専用のテストパター
ン発生装置を設け、このテストパターン発生装置でテス
トパターンを一定周期で発生せしめ、このテストパター
ンを一定lI@期でデジタル・フィルタIOに導く手段
[Technical background of the invention and its problems] Generally, this type of digital filter 1o is constructed using an analog/digital conversion circuit (hereinafter referred to as ADC) as shown in FIG.
The sampling digital data DATAADO provided periodically from the processor f (hereinafter referred to as
30 (referred to as CPU). Then, CPUJo performs various processing using the data transferred from digital filter 10. In this case, if the digital filter lO is malfunctioning, the CPUJO
An error occurs in the processing results. Therefore, it is necessary to diagnose whether or not the digital filter 10 is operating properly as necessary, and to accurately understand the state of the digital filter 10. For this purpose, a digital no filter lO
It is necessary to perform a failure diagnosis by applying a predetermined test pattern to the digital filter 10 and comparing the filter processing result of the digital filter 10 with respect to this test pattern with predicted correct data. Conventionally, in order to provide a test pattern to the digital filter 104, a dedicated test pattern generator is provided in place of the IT ADCXO, and this test pattern generator generates a test pattern at a constant cycle. Means to lead to digital filter IO at constant lI@ period.

か或いは +21  A D C! 00Å力信号としてアナログ
のテストパターンをムDCjjに供給し、ムDC20の
変換出力をデジタル・フィルタ101こ導く手段。
Or +21 ADC! Means for supplying an analog test pattern as a 00A power signal to the mu DCjj and guiding the converted output of the mu DC 20 to the digital filter 101.

があった。was there.

しかし、上記(11の手段では専用のテストパターン発
生減電が必要となるため、構成が複雑にため、同一のア
ナログテストパターンに対しても、ムDCJ#の出力が
一定せず、したがって正確な故障診断が行なえなかった
However, since the above method (11) requires dedicated test pattern generation and power reduction, the configuration is complicated, and even for the same analog test pattern, the output of DCJ# is not constant, so it is not accurate. Failure diagnosis could not be performed.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上記事情に1みてなされたものでその目的は、
テストモードにおいて、フィルタ処理結果の出力光であ
るcpu(処理装置)から故障論断に必要なテスト用デ
ジタルデータ(デジタルのテストパターン)を受は取る
ごとにこのデータのフィルタ処理を行ない、その結果を
必要に応じてCPUに転送することができ、もって故障
診断が特別の装置を用いることなしにCPUから正確に
行なえるデジタル・フィルタを提供「ることにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to:
In the test mode, each time the test digital data (digital test pattern) necessary for fault determination is received from the CPU (processing unit), which is the output light of the filter processing result, this data is filtered, and the result is It is an object of the present invention to provide a digital filter that can be transferred to the CPU as needed, and thereby allows fault diagnosis to be performed accurately from the CPU without using special equipment.

゛〔発明の概要〕 ノーマルモード/テストモードを示すモード指定用の第
1フリンプフロンプと、この第1フリツプフロツプでテ
ストモードが示されている場合に、フィルタ処理結果の
出力光であるCPU(処理装置)から転送されるテスト
用デジタルデータが保持されるレジスタと、上記第1フ
リツプフロンプでテストモードが示されている場合にこ
のレジスタの保持内容を演算部に選択出力し、上記第1
フリツプ70ツブでノーマルモードが示されている場合
にムDC(アナログ/デジタル変換回路)から周期的に
与えられるサンプリングデジタルデータを上記演算部に
選択出力するセレクタと、上記CPUから上記テスト用
デジタルデータが転送された際にセットされる第27リ
ツプフロンプと、この第27リツプフロツプがセット状
態にあり、かつ上記第1フリツプフロツプによってテス
トモードが示されている場合に、上記演算部に対して1
周期分のフィルタ処理を許可し、かつ上記第27リツプ
フロツプをリセットすると共に上紀CPU4こ次のテス
ト用デジタルデータの転送を要求する制御回路とを具備
する構成とすることにより、イルタ処理を施し、その結
果をCPUに転送することができるようにしたものであ
る。
[Summary of the Invention] A first flip-flop for mode designation indicating normal mode/test mode, and a CPU (processing unit) that outputs light as a result of filtering when the first flip-flop indicates test mode. A register in which the test digital data transferred from
a selector for selectively outputting sampling digital data periodically given from a DC (analog/digital conversion circuit) to the arithmetic unit when the normal mode is indicated by flip 70; and a selector for selectively outputting the test digital data from the CPU. When the 27th lip-flop is set when the 27th flip-flop is transferred and the test mode is indicated by the first flip-flop, the
The configuration includes a control circuit that allows filter processing for a period, resets the 27th lip-flop, and requests transfer of the next test digital data to the upper CPU 4, thereby performing filter processing. The result can be transferred to the CPU.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、本発明の一実施ガを図面を参照して説明する。第
2図において100は本発明のデジタル・フィルタ、2
00はこのデジタル・フィルりlooに周期的にサンプ
リングデジタルデータD A T A ADOを供給す
るムDC(アナログ/デジタル変換l路)、JooはC
PU(処理装置)である。デジタル・フィルタ100は
入出力機器の一つとしてCPU5ooの入出力インタフ
ェース(図示せず)に接続されている。デジタル・フィ
ルタl0Dlこおいて1o1はノーマルモード/テスト
モードを示すモード設定用の第1フリツプフロンプ(以
下、F/Fと称する)である。F/F 7o7jtCP
U 5oo6>らの−x−qンド(指令)によってセン
トまたはリセットされ、セット状態でデジタル・フィル
タ1ooのテストモードを示し、リセット状態で同じく
ノーマルモードを示すようになっている。102はテス
トモードにおいてCPU5Ooから転送されるテスト用
デジタルデータ(デジタルのテストパターン)DATA
OPUが保持されるレジスタ(以下RIGと称する)で
ある。本実IIafQにおいて上記テスト用デジタルデ
ータD A T A CPUは、該保持される。上記コ
ノトロール信号CNTは上記データDATAOPυがC
PUjl)1)から出力された後、所定時間経過後にC
PUJI)(lから出力されるものである。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In FIG. 2, 100 is a digital filter of the present invention;
00 is a DC (analog/digital converter) that periodically supplies sampled digital data DATAADO to this digital fill loop, and Joo is a C
It is a PU (processing unit). The digital filter 100 is connected to an input/output interface (not shown) of the CPU 5oo as one of the input/output devices. In the digital filter 10Dl, 1o1 is a first flip-flop (hereinafter referred to as F/F) for mode setting indicating normal mode/test mode. F/F 7o7jtCP
It is set or reset by the -xq command (command) of U5oo6>, etc., and indicates the test mode of the digital filter 1oo in the set state, and also indicates the normal mode in the reset state. 102 is test digital data (digital test pattern) DATA transferred from the CPU5Oo in the test mode.
This is a register (hereinafter referred to as RIG) in which the OPU is held. In the actual IIafQ, the test digital data DATA CPU is held. The control signal CNT is set so that the data DATAOPυ is C
After the output from PUjl)1), C
PUJI) (This is what is output from l.

103はセレクタである。セレクタ10Mはhoczo
oの出力(サンプリングデジタルデータDATムADO
)またはREGtOxの出力(テスト用デジタルデータ
DATACPU)のいずれか一方をy/yto1の状態
に応じて選択する。104はセレクタ103の選択出力
を用いて演算を行ない周知のフィルタ処理を施す演算部
である。
103 is a selector. Selector 10M is hoczo
o output (sampling digital data DATmu ADO
) or the output of REGtOx (test digital data DATACPU) is selected depending on the state of y/yto1. Reference numeral 104 denotes an arithmetic unit that performs arithmetic operations using the selected output of the selector 103 and performs well-known filter processing.

ただし、演算部104は後述する制御回路101の制御
によって通常の連続するフィルタ処理または1周期分の
フィルタ処理のいずれか一方の処理を行なうようになっ
ている。105は演算部104のフィルタ処理結果が順
次格納されるデータバンファである。このデータバンフ
ァ105の内容はデジタル・フィルタ100(の図示せ
ぬ制御部)からの出力要求またはCPU5onからの入
力要求に応じてCPUJI)Gに転送される。
However, the calculation unit 104 is configured to perform either normal continuous filter processing or filter processing for one cycle under the control of the control circuit 101, which will be described later. Reference numeral 105 denotes a data buffer in which filter processing results of the calculation unit 104 are sequentially stored. The contents of the data buffer 105 are transferred to the CPU 5G in response to an output request from the digital filter 100 (not shown) or an input request from the CPU 5on.

106は第27リツプフOツブ(以下、F/Fと称する
)である。F/1P10frはCPU″−J 00から
のテスト用デジタルデータD A T A CPU転送
を示スコントロール信号CNTによってセットされる。
106 is a 27th lip flop (hereinafter referred to as F/F). F/1P10fr is set by control signal CNT to indicate test digital data DATA CPU transfer from CPU''-J00.

104は制御回路である。制御回路101はv/Flo
z、toeを監視し、p/r J OJがセット状橿に
あり、かつF/F J 0 &がセットされた場合に、
演算[5JO4に対して1局期分のフィルタ処理を許可
する。そして制御回路xorはF/F J o yをリ
セットすると共にCPU300に対して次のテスト用デ
ジタルデータDATAcPUの転送を要求する要求信号
RIQをcpuso。
104 is a control circuit. The control circuit 101 is v/Flo
Monitor z and toe, and if p/r J OJ is in the set rod and F/F J 0 & is set,
Operation [5 Allow filter processing for one station period for JO4. Then, the control circuit xor resets the F/F J o y and sends a request signal RIQ requesting the CPU 300 to transfer the next test digital data DATAcPU to cpuso.

に出力するようになっている。また、制御−路10Fは
F/FIO1がセント状態にあり、かつF/110#が
リセット状層にある場合には、演算部104のフィルタ
処理を待たせる。更に制御回路10FはF/Fletが
リセット秋暢にある場合、演算部104に対する制御を
解く。これにより演算部104は通常の連続するフィル
タ処理(ノーマルモードにおける動作)を行なうように
なっている。
It is designed to output to . Furthermore, when F/FIO1 is in the cent state and F/110# is in the reset state, the control path 10F causes the filter processing of the calculation unit 104 to wait. Further, the control circuit 10F releases control over the calculation unit 104 when the F/Flet is in the reset state. As a result, the calculation unit 104 performs normal continuous filter processing (operation in normal mode).

次に第2図の構成の動作を説明する。まず、F/F”1
01がリセット状態すなわちFlFzot番こよってノ
ーマルモードが示されている場合について説明する。こ
の場合、セレクタJOjはF/FIOIのリセット状態
に応じてムoczo。
Next, the operation of the configuration shown in FIG. 2 will be explained. First, F/F"1
The case where 01 is the reset state, that is, the FlFzot number indicates the normal mode will be explained. In this case, the selector JOj is set according to the reset state of the F/FIOI.

の出力、すなわちADC20)から周期的に与えられる
賃ンプリングデジタルデータDム丁ムADOを演算部1
04に選択出力する。F/1101がリセット状態にあ
る場合、制御回路1071は演算部104に対する制御
を解いている。したがって演算部104はセレクタ11
1Mを介してムDCxoeから周期的に与えられるサン
プリングデジタルデータDATAムDoを用いて一定周
期で繰り返しフィルタ処理を行なう。演算部104のフ
ィルタ処理結果は一定周期で順次データバッファ105
に格納される。データバッファ106に所定周期分の処
理結果が格納されると、デジタル・フィルタ100内の
図示せぬ制御部からCPU100に対して出力要求が出
される。
The output of the ADC 20), that is, the output of the ADC 20), is applied to the calculation unit 1.
Selectively output to 04. When the F/1101 is in the reset state, the control circuit 1071 releases control over the calculation unit 104. Therefore, the arithmetic unit 104 uses the selector 11
Filter processing is repeatedly performed at a constant cycle using sampling digital data DATA Do periodically provided from DCxoe via 1M. The filtering results of the arithmetic unit 104 are sequentially sent to the data buffer 105 at regular intervals.
is stored in When the processing results for a predetermined period are stored in the data buffer 106, an output request is issued to the CPU 100 from a control section (not shown) in the digital filter 100.

そしてcpusooからこの要求に対する承認が与えら
れることにより、データバッファ101の内容がCPU
l0eに転送される。
Then, by giving approval to this request from cpusoo, the contents of the data buffer 101 are transferred to the CPU.
Transferred to l0e.

次にCPU300からの指令によってF/Ftotがセ
ットされ、テストモードが示されている場合について説
明する。cpuzooはデジタル・フィルタiooの故
障診断を行なうためにデジタル・フィルタ100内のF
 / F 101をセット状態とした場合、あらかじめ
定められているテストパターンのデータすなわちテスト
用デジタルデータDATAcpUをデジタル・フィルタ
1000サンプリングデータとしてデジタル・フィルり
100に転送する。次にCPU j 00は上記テスト
用デジタルデータDATACPHの転送を示すコントロ
ール信号CNTをデジタル赤フイルタ100に出力する
。しかして上記テスト用デジタルデータDムTAcpυ
は上記コントロール信号CNTのタイミングでREG7
02に保持される。また、上記コノトロール信号CNT
によってF/F1etsがセントされる。
Next, a case will be described in which F/Ftot is set by a command from the CPU 300 and the test mode is indicated. cpuzoo is the F in the digital filter 100 in order to diagnose the failure of the digital filter ioo.
/F 101 is set, data of a predetermined test pattern, ie, test digital data DATAcpU, is transferred to the digital filter 100 as sampling data of the digital filter 1000. Next, the CPU j 00 outputs a control signal CNT indicating transfer of the test digital data DATACPH to the digital red filter 100. However, the above test digital data DmuTAcpυ
is REG7 at the timing of the above control signal CNT.
It is held at 02. In addition, the control signal CNT
F/F1ets is cented by.

F/FZ6Zがセント状層、すなわちテストモードの場
合、セレクタ10MはRIGJoJの出力すなわちCP
UJIooから転送されたテスト用デジタルデータD 
A T A CPUを演算部104に選択出力する〇一
方、制御回路101はF/F J a tがセット状態
にある場合に、上述のよりに17210gがセットされ
ると演算部104に対して1周期分のフィルタ処理を許
可する。これlこより、演算部104はセレクタtOS
によって選択されたテスト用デジタルデータD A T
 A QPUを用いてl#l1期分のフィルタ処理を行
なう。演算w6104のフィルタ処理結果はデータバッ
ファ105に格納される。
When the F/FZ6Z is in the cent-like layer, that is, in the test mode, the selector 10M selects the output of RIGJoJ, that is, CP
Test digital data D transferred from UJIoo
Selectively output A T A CPU to the calculation unit 104 〇 On the other hand, when the F/F J a t is in the set state, the control circuit 101 outputs the output to the calculation unit 104 when 17210g is set as described above. Allow filter processing for one period. From this, the calculation unit 104 uses the selector tOS.
Test digital data selected by
A Filter processing for the l#l1 period is performed using QPU. The filter processing result of operation w6104 is stored in data buffer 105.

制#回路10’lは上述のように演算部1f)4に対し
て1局期分のフィルタ処理を杵町すると、F/F J 
o−をリセットすると共1cePUJooに対して次の
テスト用デジタルデータD A T A QPUの転送
を要求する。そして、この要求に応じてCPU3oOか
ら転送される次のテスト用デジタルデータDATAOP
Uは前述した場合と同様にRF、、G10:Iに保持さ
れる。このときy/Fruitは再びセットされる。こ
れにより演算部104は制御回路107/から次の1周
期分のフィルタ処理が許可され、上記次のテスト用デジ
タルデータDATAcpUを用いたフィルタ処理を行な
う。
When the control circuit 10'l performs filter processing for one station period on the calculation unit 1f) 4 as described above, the F/F J
o- is reset and requests 1cePUJoo to transfer the next test digital data DATAQPU. Then, in response to this request, the next test digital data DATAOP is transferred from the CPU3oO.
U is held in RF, , G10:I as in the case described above. At this time, y/Fruit is set again. As a result, the arithmetic unit 104 is permitted by the control circuit 107/ to perform filter processing for the next cycle, and performs filter processing using the next test digital data DATAcpU.

ところでCPU100が各種の処理を実行している、い
わゆるビジィ−状態にある場合には、演算5104が1
周期分のフィルタ処理を終了し終えても、CPU300
から次のテスト用デジタルデータDATAOPUが転送
されてこないことがある。しかし、本実施例では、次の
テスト用デジタルデータDATAcpUが転送されない
限りF/FIO−がセットされないため、制御回路10
7が演算部104に対して次の1周期分のフィルタ処理
を許可することはなく、シたがって演算部104が同一
のテスト用デジタルデータDATAcpUを繰り返しフ
ィルタ処理する恐れはない。
By the way, when the CPU 100 is in a so-called busy state in which it is executing various processes, the calculation 5104 is 1.
Even after completing the filter processing for the period, the CPU 300
The next test digital data DATAOPU may not be transferred. However, in this embodiment, since F/FIO- is not set unless the next test digital data DATAcpU is transferred, the control circuit 10
7 does not permit the calculation unit 104 to perform filter processing for the next cycle, and therefore there is no fear that the calculation unit 104 will repeatedly perform filter processing on the same test digital data DATAcpU.

このようにしてデジタル・フィルタl0eJ内の演算部
104はCPUl0eから所定のテスト用デジタルデー
タDATAcPUが転送される毎にこのデータoArA
opuを用いたフィルタ処理を正しく行なうことができ
る。演算部104のフィルタ処理結果はデータバッファ
106に順次格納される。CPU300は、一定数のテ
スト用デジタルデータDATAcpgを転送すると、デ
ジタル−フィルタ100に対してデータ入力要求を行な
う。データバッファ10’lの内容は、CPU3ooか
らの入力要求に応じて図示せぬ制御部番こよりcpux
ooに転送される。CP U 100は、デジタル・フ
ィルター00から転送される上記一定数のテスト用デジ
タルデータDATAOPUに対応したデジタル・フィル
ター000処理結果と、あらかじめ計算されている正解
データとを比較し、この比較結果によってデジタル・フ
ィルタ100の故障診断を行なう。
In this way, the calculation unit 104 in the digital filter l0eJ calculates the data oArA every time the predetermined test digital data DATAcPU is transferred from the CPU l0e.
Filter processing using opu can be performed correctly. The filter processing results of the calculation unit 104 are sequentially stored in the data buffer 106. After transferring a certain number of test digital data DATAcpg, the CPU 300 issues a data input request to the digital filter 100. The contents of the data buffer 10'l are stored in response to an input request from the CPU 3oo from the control unit number (not shown).
Transferred to oo. The CPU 100 compares the digital filter 000 processing result corresponding to the certain number of test digital data DATAOPU transferred from the digital filter 00 with the correct data calculated in advance, and based on this comparison result, the digital - Perform a failure diagnosis of the filter 100.

[発明の効果〕 以上詳述したように本発明のデジタル・フィルタによれ
ば、フィルタ処理結果の出力光で6るCPU(処理値f
ill)から故障診断に必要なテスト用デジタルデータ
を受は取るごとにこのデータのフィルタ処理を行ない、
七の結果を必要に応じてCPUに転送することができる
ので、デジータル・フィルタの故障診断が特別の装置を
用いることなしにCPUから正確に行なえる。
[Effects of the Invention] As described above in detail, according to the digital filter of the present invention, the output light of the filter processing results in 6 CPUs (processing value f).
Each time it receives test digital data necessary for fault diagnosis from the
Since the results of step 7 can be transferred to the CPU as necessary, failure diagnosis of the digital filter can be accurately performed from the CPU without using any special equipment.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来例を示すブロック図、第2図は本発明の−
*m例を示すブロック図である。 第 10.100・・・デジタル・フィルタ、20゜200
・・・アナログ/デジタル変換回路(ADCχso、s
oo・・・処理装置I(CPU)、101・・・第1フ
リツプ70ツブ(F/F) 、x o z・・・レジス
タ(RIG)、103・・・セレクタ、104・・・演
算部、106・・・第2フリツプフロツプ(F/IF)
、lay・・・制御回路。 出顧人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦、1図
FIG. 1 is a block diagram showing a conventional example, and FIG. 2 is a block diagram of the present invention.
*It is a block diagram showing an example. No. 10.100...Digital filter, 20°200
...Analog/digital conversion circuit (ADCχso,s
oo... Processing unit I (CPU), 101... First flip 70 block (F/F), x o z... Register (RIG), 103... Selector, 104... Arithmetic unit, 106...Second flip-flop (F/IF)
, lay...control circuit. Client's agent Patent attorney Takehiko Suzue, Figure 1

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)  アナログ/デジタル変換回路から周期的に与
えられるサンプリングデジタlレデータをフィルタ処理
する演算部を備えたデジタル・フィルタにおいて、ノー
マルモード/テストモードを示す第17リツプフロツプ
と、この第1フリツプフロツプでテストモードが示され
ている場合に、当該デジタル・フィルタに接続されてい
る処理装置から転送されるテスト用デジタルデータが保
持されるレジスタと、このレジスタの保持内容または上
記アナログ/デジタル変換回路から与えられるサンプリ
ングデジタlレデータのいずれか一方をフィルり処理す
べきデジタルデータとして上記第1フリツプ70ツブの
状態に応じて上記演算部に選択出力するセレクタと、上
記処理装置から上記テスト用デジタルデータが転送され
た際にセットされる第27リツプフロツブと、この第2
フリンプフロツプがセット状態にあり、上記第1フリツ
プフロツプによってテストモードが示されている場合に
、上記演算部に対して1周期分のフィルタ処理を許可し
、かつ上記第27リツプフロンプをリセツトすると共に
王妃処理装置に次のテスト用デジタ装置に転送されるよ
うに構成されていることを特徴とするデジタル・フィル
タ。
(1) In a digital filter equipped with an arithmetic unit that filters sampling digital data periodically provided from an analog/digital conversion circuit, a test is performed using a 17th flip-flop indicating normal mode/test mode and this first flip-flop. When the mode is indicated, there is a register that holds the test digital data transferred from the processing device connected to the digital filter, and the contents held in this register or given from the analog/digital conversion circuit described above. A selector selectively outputs one of the sampling digital data as digital data to be processed to the arithmetic unit according to the state of the first flip 70, and the test digital data is transferred from the processing device. The 27th lip flop that is set when the
When the flip-flop is in the set state and the test mode is indicated by the first flip-flop, the arithmetic unit is allowed to perform filter processing for one period, and the 27th flip-flop is reset, and the queen processor is activated. A digital filter configured to be transferred to a next test digital device.
(2)上記第1フリツプ70ツブが上記処理装置からの
指令番こ応じてノーマルモードまたはテストモードを示
すように構成されていることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載のデジタル・フィルタ。 (31上記制御回路は上記#Ilフリップ70ンプlと
よってノーマルモードが示されている場合に、上記演算
部に対して連続するフィルタ地理を許可することを特徴
とする特許請求の範囲第1項または第2項記載のデジタ
ル・フィルタ。
(2) The digital filter according to claim 1, wherein the first flip 70 is configured to indicate a normal mode or a test mode depending on a command number from the processing device. . (31) When the normal mode is indicated by the #Il flip 70 amplifier l, the control circuit allows continuous filter geography to the arithmetic unit. Or the digital filter described in Section 2.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0318124A (en) * 1989-06-14 1991-01-25 Fujitsu Ltd Oversampling a-d converter
EP1085334A2 (en) * 1999-07-21 2001-03-21 Infineon Technologies AG Device and method for testing a digital electronic filter

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS558178A (en) * 1978-07-04 1980-01-21 Mitsubishi Electric Corp Analog-digital converter

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS558178A (en) * 1978-07-04 1980-01-21 Mitsubishi Electric Corp Analog-digital converter

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0318124A (en) * 1989-06-14 1991-01-25 Fujitsu Ltd Oversampling a-d converter
EP1085334A2 (en) * 1999-07-21 2001-03-21 Infineon Technologies AG Device and method for testing a digital electronic filter
EP1085334A3 (en) * 1999-07-21 2002-01-16 Infineon Technologies AG Device and method for testing a digital electronic filter

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