JPS58143246A - Optical measuring device - Google Patents
Optical measuring deviceInfo
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- JPS58143246A JPS58143246A JP2714582A JP2714582A JPS58143246A JP S58143246 A JPS58143246 A JP S58143246A JP 2714582 A JP2714582 A JP 2714582A JP 2714582 A JP2714582 A JP 2714582A JP S58143246 A JPS58143246 A JP S58143246A
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
- G02B7/021—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses for more than one lens
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
材料、印刷物などの被測定サンプルの光学的特性、たと
えば光学的濃度、透過率、反射率などを測定する光学測
定装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an optical measuring device for measuring optical properties of a sample to be measured such as a material or printed matter, such as optical density, transmittance, reflectance, etc.
このような光学測定装置は、例えば、スキャナ、濃度針
、マイクロフォトメータなどに使用され、光学的特性を
測定すべき被測定サンプルの像を光軸に垂直な平面上に
結像する結像光学系と、この平面上に結像した像を集光
してサンプルの光学的特性の測定に供する信号を発生す
る集光光学系とを含むものである。従来、このような光
学的特性の測定において、被測定サンプルの測定対象部
分の面積を選定するために、所望の大きさおよび形状の
アパーチャを有する遮光板をこの結像平面の位置に仲人
して測定を行っていた。アパーチャの形状としては円形
または矩形が多く用いられるが、測定の目的に応じて寸
法の異なる多棟類のアパーチャを用意する必要がるる。Such optical measurement devices are used, for example, in scanners, concentration needles, microphotometers, etc., and have imaging optics that form an image of a sample to be measured whose optical properties are to be measured on a plane perpendicular to the optical axis. and a focusing optical system that focuses the image formed on this plane and generates a signal for measuring the optical properties of the sample. Conventionally, in the measurement of such optical properties, in order to select the area of the measurement target part of the sample to be measured, a light shielding plate having an aperture of a desired size and shape is placed at the position of the image forming plane. was taking measurements. Although circular or rectangular aperture shapes are often used, it is necessary to prepare multi-shaped apertures with different dimensions depending on the purpose of measurement.
この目的のために従来の光学測定装置では、寸法の異な
る多数のアパーチャを円形状に配置した単一の円板が前
述の遮光板として用いられるが、アパーチャの種類が多
くなると円板の外径が大きくなり、このような円板上の
多数のアパーチャを選択する操作機構を含めて装置全体
をコンパクトVCvt成することが困難になる。またこ
のような多数のアパーチャk 11”tiえた円板は、
その径が大きくなるので、回転運動の慣性が犬きく、シ
たがって選択したアパーチャを高い精度で光学系の光軸
と一致させることは難しい。For this purpose, in conventional optical measuring devices, a single disk with a large number of apertures of different dimensions arranged in a circular shape is used as the aforementioned light shielding plate, but as the number of types of apertures increases, the outer diameter of the disk increases. becomes large, making it difficult to construct the entire device including an operating mechanism for selecting a large number of apertures on such a disk into a compact VCvt. Moreover, such a disk with a large number of apertures k 11"ti is
As the diameter becomes larger, the inertia of rotational movement increases, and it is therefore difficult to align the selected aperture with the optical axis of the optical system with high precision.
したがって、本発明は、このような従来技術の欠点を解
消し、コンパクトな構成で実實(3)
的に多数の種類のアパーチャを備えた光学測定装置を提
供することを目的とする。Therefore, it is an object of the present invention to overcome the drawbacks of the prior art and to provide an optical measuring device having a compact configuration and actually having (3) a large number of types of apertures.
本発明の他の目的は高い位置決め精度でアパーチャを選
択することができる光学測定装置を提供するととKある
。Another object of the present invention is to provide an optical measuring device that can select an aperture with high positioning accuracy.
これらの目的は本発明による次のような光学測定装置に
よって達成される。すなわちこの装置は、前記平面内圧
位置し、寸法の異なる複数のアパーチャを有する遮光板
を含み、結像光学系は拡大倍率の異なる複数の拡大レン
ズを含み、複数のアパーチャと複数の拡大レンズとの組
合せのうちのいずれか全選択して、このように選択され
たアパーチャおよび拡大レンズを結像光学系の光軸上に
配置することによって、被測定サンプル上における光学
的特性を測定すべき領域の大きさを選択するものである
。These objectives are achieved by the following optical measuring device according to the invention. That is, this device includes a light-shielding plate located at the above-mentioned in-plane pressure position and having a plurality of apertures with different dimensions, an imaging optical system including a plurality of magnifying lenses with different magnifications, and a combination of the plurality of apertures and the plurality of magnifying lenses. By selecting all of the combinations and placing the aperture and magnifying lens selected in this way on the optical axis of the imaging optical system, the optical properties of the area on the sample to be measured are determined. The size is selected.
次に添付図面を参照して本発明による光学測定装置を詳
卸1に説明する。Next, the optical measuring device according to the present invention will be explained in detail with reference to the accompanying drawings.
第1図は本発明による光学測定装置を適用(4)
することのできるスキャナを例として示す概念図である
。同図において、仮想線で描かれた回転ドラム10の円
筒表面は実際には透明な材料で形成され、そのうえに写
真感光材料または印刷物など光学的濃度、透過率、反射
率などを測定するサンプル3ftセツトスる。FIG. 1 is a conceptual diagram showing, as an example, a scanner to which the optical measuring device according to the present invention can be applied (4). In the same figure, the cylindrical surface of the rotating drum 10 drawn with imaginary lines is actually made of a transparent material, and a 3ft set of samples such as photographic materials or printed materials for measuring optical density, transmittance, reflectance, etc. Ru.
この回転ドラム10の内部には、同じく仮想線で図示さ
れたコの字形の筺体12の一方のアーム16がドラムの
軸方向に挿入され、他方のアーム14はドラム10の表
面に沿ってこれと平行に配置されている。図示のように
、筺体12の一方のアーム16の内部には光源1が配置
され、他方のアーム14にはたとえばフォトダイオード
などの受光器8が配置されている。アーム16および1
4の内部には適当なレンズおよびミラーからなる光学系
が配設され、その光軸は実線18で示すように光源1か
ら出てドラム10のサンプル3を通“過し、受光器8に
到達するように、筺体12とは逆向きのコの字形を形成
17ている。これによって、サンプル3の光学的濃度、
透過率および反射率に応じた光が受光器8によって受光
され、サンプル3のこのような光学的特性を測定するこ
とができる。なお、この例では、サンプル3が光学的に
透過型でおる場合を示したが、光学的に反射型のサンプ
ルを測定する場合には光学系の照明系および受光系の双
方ともドラムの外側に位置する方式が使用される。Inside this rotating drum 10, one arm 16 of a U-shaped casing 12, also shown in phantom lines, is inserted in the axial direction of the drum, and the other arm 14 is inserted along the surface of the drum 10. arranged in parallel. As shown in the figure, a light source 1 is arranged inside one arm 16 of the housing 12, and a light receiver 8 such as a photodiode is arranged in the other arm 14. arms 16 and 1
An optical system consisting of suitable lenses and mirrors is arranged inside the optical system 4, and its optical axis comes out from the light source 1 as shown by the solid line 18, passes through the sample 3 on the drum 10, and reaches the optical receiver 8. As a result, the optical density of the sample 3 is
Light corresponding to the transmittance and reflectance is received by the light receiver 8, and such optical characteristics of the sample 3 can be measured. Note that this example shows the case where sample 3 is optically transmissive, but when measuring an optically reflective sample, both the illumination system and the light receiving system of the optical system should be placed outside the drum. A location method is used.
このようなスキャナに適用される従来の光学測定装置の
例を第2図に示もこの図では説明の便宜上、第1図の光
軸18を直線として示してあシ、第1図に示す要素と同
様の要素は同じ参照符号で示されている。この従来の装
置では、光源1から発生した光はコンデンサレンズ2に
よってサンプル3の上に集光し、所望の径の光スポット
がその上に形成される。An example of a conventional optical measuring device applied to such a scanner is shown in FIG. 2. In this figure, for convenience of explanation, the optical axis 18 in FIG. 1 is shown as a straight line. Similar elements are designated by the same reference numerals. In this conventional apparatus, light generated from a light source 1 is focused onto a sample 3 by a condenser lens 2, and a light spot of a desired diameter is formed thereon.
この光スポットで照明されたサンプル3の部分は、ピッ
クアップレンズ4および拡大レンズ5によって撮像され
、その像は円板6の上に結像する。これはピックアップ
レンズ4′t−矢印人で示すように光軸方向に動かすこ
とによって円板6の表面における焦点合せが行われる。The part of the sample 3 illuminated by this light spot is imaged by a pickup lens 4 and a magnifying lens 5, and the image is formed on a disk 6. Focusing on the surface of the disc 6 is performed by moving the pickup lens 4't in the optical axis direction as shown by the arrow.
円板6は、図示のように、径の異なる複数の(この実施
例では9個の)アパーチャ81〜S9を有し、矢印Bで
示すように円板6を回転することによって所望の径のア
パーチャを選択することができる。円板6全体は光学的
に不透明で光を速断し、アパーチャ81〜S9の部分の
みが光学的に透明である。たとえばこの図ではアパーチ
ャS9が光軸上に位置し、これによって円板6の面上に
結像したサンプル3の像のうちアパーチャS9の開口の
部分のみが集束レンズ7によって受光器8に集光される
。たとえばアパーチャ81〜S9の径の寸法は第1表に
示すように1〜32mmであり、サンプル3からアパー
チャまでの受光系の倍率を100とすると、サンプル3
の上の測定領域の径は10〜320μmとなる。As shown in the figure, the disc 6 has a plurality of apertures 81 to S9 (nine in this example) having different diameters, and by rotating the disc 6 as shown by arrow B, a desired diameter can be obtained. Aperture can be selected. The entire disk 6 is optically opaque and quickly cuts light, and only the apertures 81 to S9 are optically transparent. For example, in this figure, the aperture S9 is located on the optical axis, so that of the image of the sample 3 formed on the surface of the disk 6, only the opening of the aperture S9 is focused onto the light receiver 8 by the focusing lens 7. be done. For example, the diameter dimensions of apertures 81 to S9 are 1 to 32 mm as shown in Table 1, and if the magnification of the light receiving system from sample 3 to the aperture is 100, then sample 3
The diameter of the measurement area above is 10 to 320 μm.
(7)
第1表
このように従来の方式では、径の異なった多数のアパー
チャ81〜S9を設けた円板6を回転させることによっ
て、サンプル3の上の光学的測定をすべき領域の面積を
選択している。したがってアパーチャの種類が多くなる
ほど円板60寸法が増し、この光学系を収容する筐体1
2に比べ非常に大きなものとなってしまう。(7) Table 1 As described above, in the conventional method, the area of the area on the sample 3 to be optically measured is is selected. Therefore, as the number of types of apertures increases, the size of the disk 60 increases, and the housing 1 that accommodates this optical system increases.
It becomes much larger than 2.
第3図は本発明による光学測定装置の実施例の構成を概
念的に示す図である。同図にお(8)
いて第2図と同様の要素は同じ参照符号で示されている
。本発明によれば、従来の円板6の代りに、径のAなる
複数のアパーチャSIG。FIG. 3 is a diagram conceptually showing the configuration of an embodiment of the optical measuring device according to the present invention. In the figure (8), elements similar to those in FIG. 2 are designated by the same reference numerals. According to the invention, instead of the conventional disc 6, a plurality of apertures SIG with diameter A are provided.
820およびS30を有するホルダ60が設けられ、ホ
ルダ60はアパーチャ810,820および83Gの部
分以外は光学的に不透明である。また従来方式における
単一の拡大レンズ50代りに、拡大倍率の異なる3つの
拡大レンズ51.52および53が設けられている。こ
の実施例では、アパーチャ810,820およびS30
の径は、第■表に示すようにそれぞれ1鵡、411II
+および16amであシ、また拡大レンズ51.52お
よび53のそれぞれの倍率M1、M2およびM3は10
0.66.6および50に設定されている。したがって
第■表に示すように、これらの3種類のアパーチャと3
種類の拡大レンズを組み合わせることによって第2図に
示す従来の装置と実質的に同じ9a類の径のアパーチャ
を実現することができる。これは、第1表に示すアパー
チャ81〜S9の径は第■表に示すように3種類ずつ3
組に分類することができ、各組ともアパーチャSIO,
82G、830間の径の比率が則しである点に層目した
ことによる。A holder 60 is provided having apertures 820 and S30, the holder 60 being optically opaque except for portions of the apertures 810, 820 and 83G. Also, instead of the single magnifying lens 50 in the conventional system, three magnifying lenses 51, 52 and 53 with different magnifications are provided. In this example, apertures 810, 820 and S30
The diameters of 1 and 411II are respectively shown in Table ■.
+ and 16am, and the magnifications M1, M2 and M3 of the magnifying lenses 51, 52 and 53 are 10
0.66.6 and 50. Therefore, as shown in Table ■, these three types of apertures and three
By combining different types of magnifying lenses, an aperture with a diameter of type 9a, which is substantially the same as the conventional device shown in FIG. 2, can be realized. This means that the diameters of the apertures 81 to S9 shown in Table 1 are 3 types each as shown in Table 2.
It can be classified into groups, and each group has an aperture SIO,
This is due to the fact that the diameter ratio between 82G and 830 is the same.
なおこれらの数値は本発明を説明するための一例にすぎ
ず、勿論、本発明はこれによって限定されるものではな
い。Note that these numerical values are merely examples for explaining the present invention, and of course the present invention is not limited thereto.
アパーチャ810、S20およびS3Gの選択は図示の
ようにホルダ60&矢印Cの力向に動かすことによって
行う。同様に拡大レンズ51.52および53の選択は
これらのレンズの支持体(図示せず)を矢印りの方向に
動かすことによって行う。例えばこの図に示すように、
アパーチャ820および拡大レンズ52が選択されてい
るとすると、第■表かられかるようにサンプル3の上の
開口の径は実質的に60μmとなる。これは第2図に示
す従来の装置のアパーチャS5を選択したのと同じであ
る。Selection of apertures 810, S20, and S3G is performed by moving holder 60 in the force direction of arrow C as shown. Similarly, the magnifying lenses 51, 52 and 53 are selected by moving their supports (not shown) in the direction of the arrow. For example, as shown in this figure,
Assuming that the aperture 820 and the magnifying lens 52 are selected, the diameter of the aperture above the sample 3 is substantially 60 μm, as shown in Table 1. This is the same as selecting aperture S5 in the conventional device shown in FIG.
このようなアパーチャ810.820および830の選
択、ならびに拡大レンズ51.52および53の選択は
、手動の操作機構によって行うようKm成してもよいが
、たとえばモータまたはソレノイドなどの電動の駆動機
構を使用することが有利である。電動駆動機構の場合は
、第■表に示す9種類の開口の径のうちの1つを選択す
ると、この開口径を実現するアパーチャと拡大レンズの
、組合せを自動的に選択するように構成してもよい。The selection of such apertures 810, 820 and 830, as well as the selection of magnifying lenses 51, 52 and 53, may be performed by a manual operating mechanism, but may also be performed by an electric drive mechanism such as a motor or solenoid. It is advantageous to use In the case of an electric drive mechanism, when one of the nine aperture diameters shown in Table 1 is selected, the combination of aperture and magnifying lens that achieves this aperture diameter is automatically selected. It's okay.
(11)
本発明による光学測定装置はこのように構成したことに
よシ、実際にツ°ンプル上で得られるアパーチャの種類
よシも少ない故のアパーチャおよび拡大レンズを備える
ことによって、これらアバ−シャおよび拡大レンズの関
連する機構をコンパクトに構成することができ、光学測
定装置の筐体の中に完全に収容することができる。した
がって装置全体を小塁にすることができる。また従来の
方式ではアパーチャの選択が円板の回転運動によって行
われているので、その回転慣性のため位置決めの精度が
低いが、本発明の装置では、拡大レンズおよびアパーチ
ャの選択が直線運動によって行われるので選択された拡
大レンズおよびアパーチャを光軸上に一致させる精度を
非常に高くすることができる。アパーチャの位置の精度
は受光系の倍率によってサンプル上における位置に非常
に影響を与えるので、このn1度が高いことは非輩に重
要でるる。(11) Since the optical measuring device according to the present invention is configured in this way, it is equipped with an aperture and a magnifying lens, since the types of apertures that can actually be obtained on a trundle are small. The associated mechanisms of the shutter and the magnifying lens can be constructed compactly and can be completely accommodated within the housing of the optical measuring device. Therefore, the entire device can be made into a small base. In addition, in the conventional system, the selection of the aperture is performed by the rotational movement of the disk, and the positioning accuracy is low due to the rotational inertia. However, in the device of the present invention, the selection of the magnifying lens and the aperture is performed by the linear movement. Therefore, the accuracy of aligning the selected magnifying lens and aperture on the optical axis can be made very high. Since the accuracy of the aperture position greatly affects the position on the sample depending on the magnification of the light receiving system, a high n1 degree is important for non-professionals.
本発明による光学副定装rt、を図示の実施例α2)
に従って説明したが、本発明は必ずしもこれに限定され
るものではない。たとえばアバ−チャおよび拡大レンズ
の種類は図示の実施例のようにそれぞれ3種類に限られ
ることはなく、必要に応じて適当な種類のアパーチャお
よび拡大レンズを使用することができる。またアパーチ
ャの形状はこの実施例では円形であるが、測定すべきサ
ンプルの性質、または測定する光学的特性に応じて他の
形状、たとえば矩形のアパーチャを使用してもよい、ま
たこの実施例では本発明による光学測定装置をスキャナ
に適用した例について説明したが、本発明による光学測
定装置は他の一般の濃度計やマイクロフォトメータなど
に適用することもできる。Although the optical sub-equipment rt according to the present invention has been described according to the illustrated embodiment α2), the present invention is not necessarily limited thereto. For example, the types of apertures and magnifying lenses are not limited to three types as in the illustrated embodiment, and appropriate types of apertures and magnifying lenses can be used as needed. Also, although the shape of the aperture is circular in this example, other shapes may be used, such as a rectangular aperture, depending on the nature of the sample to be measured or the optical properties to be measured; Although an example in which the optical measuring device according to the present invention is applied to a scanner has been described, the optical measuring device according to the present invention can also be applied to other general densitometers, microphotometers, and the like.
第1図は本発明による光学測定装置を適用することので
きる例としてスキャナの構成を概念的に示す図、
5g2図は従来の光学測定装置の例を概念的に示す図、
第3図は本発明による光学測定装置の実施例の構成を概
念的に示す図である。
4 ・・・・・・ピックアップレンズ7 ・・・・
・・集束レンズ
51.52.53・・・・・・拡大レンズ60 ・・・
・・・ホルダFig. 1 is a diagram conceptually showing the configuration of a scanner as an example to which the optical measurement device according to the present invention can be applied, Fig. 5g2 is a diagram conceptually showing an example of a conventional optical measurement device, and Fig. 3 is a diagram conceptually showing the structure of a scanner as an example to which the optical measurement device according to the present invention can be applied. 1 is a diagram conceptually showing the configuration of an embodiment of an optical measurement device according to the invention. 4...Pickup lens 7...
...Focusing lens 51.52.53...Magnifying lens 60...
···holder
Claims (1)
に垂直な平面上に鮎1敵する結像光学系と、 践平面上に結像したmを集光して前記サンプルの光学的
特性の測定に供する1d号を発生する集光光学系とを含
む光学測定装置において、該装置は、 前記平面内に位置し、寸法の異なる複数のアパーチャを
有する遮光板倉吉み、 前記結謙光学系は拡大倍率のJ4なるa数の拡大レンズ
を合本、 fiIJ!数のアパーチャと複数の拡大レンズとの組合
せのうちのいずれかを選択して、該選択されたアパーチ
ャおよび拡大レンズ企画8ピ結像光学系の光軸上に配置
することによって前記被測定サンプル上における光学的
特性を測定すべき領域の大きさを−J4択することを特
徴とする光学測定装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記遮
光板および複数の拡大レンズは、前記平面と平行な方向
に可動することを特徴とする光学測定装置。[Scope of Claims] 1. A group of measurement samples whose optical properties are to be measured are placed on a plane perpendicular to the optical axis using an imaging optical system that focuses m on the optical axis. and a condensing optical system that generates light No. 1d to be used for measuring the optical properties of the sample. The above-mentioned Keiken optical system combines a magnifying lens with a magnification of J4 and a number of a, fiIJ! By selecting one of the combinations of several apertures and a plurality of magnifying lenses, and placing the selected aperture and magnifying lens on the optical axis of the 8-pin imaging optical system, An optical measuring device characterized in that -J4 is selected as the size of a region whose optical characteristics are to be measured. 2. The optical measuring device according to claim 1, wherein the light shielding plate and the plurality of magnifying lenses are movable in a direction parallel to the plane.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2714582A JPS58143246A (en) | 1982-02-22 | 1982-02-22 | Optical measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2714582A JPS58143246A (en) | 1982-02-22 | 1982-02-22 | Optical measuring device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58143246A true JPS58143246A (en) | 1983-08-25 |
Family
ID=12212881
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2714582A Pending JPS58143246A (en) | 1982-02-22 | 1982-02-22 | Optical measuring device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58143246A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04125929U (en) * | 1991-05-09 | 1992-11-17 | セイレイ工業株式会社 | Batsukuho |
-
1982
- 1982-02-22 JP JP2714582A patent/JPS58143246A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04125929U (en) * | 1991-05-09 | 1992-11-17 | セイレイ工業株式会社 | Batsukuho |
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