JPS58142249A - 放射線ボイド率測定装置 - Google Patents
放射線ボイド率測定装置Info
- Publication number
- JPS58142249A JPS58142249A JP57024124A JP2412482A JPS58142249A JP S58142249 A JPS58142249 A JP S58142249A JP 57024124 A JP57024124 A JP 57024124A JP 2412482 A JP2412482 A JP 2412482A JP S58142249 A JPS58142249 A JP S58142249A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- circuit
- rate
- output
- void rate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/12—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a flowing fluid or a flowing granular solid
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、たとえば原子炉プラント、メイラ−設備等の
配管内を通流する二相流のゲイト率を放射線を用いて測
定する放射線−イド率測定装置に関する。
配管内を通流する二相流のゲイト率を放射線を用いて測
定する放射線−イド率測定装置に関する。
水と蒸気のような液相と気相が混在している二相流中の
蒸気の容積比率すなわちディト率は、二相流を取扱う原
子炉グランド、がイラー設備等における重要な測定項目
である。
蒸気の容積比率すなわちディト率は、二相流を取扱う原
子炉グランド、がイラー設備等における重要な測定項目
である。
第１図線放射線を利用したがイド率測定装置の構成を示
すもので、測定すべきたとえば水と蒸気の二相Ｒ１が通
流する流路・（円筒状配管）２をはさんでＸ線又はｒ纏
を照射する放射線源Ｓと放射線検出器４とを配置し、放
射線源３よシ煕射された放射線ビーム５をコリメーｊＩ
６で細い平行ビームとなるように絞シ、配管ｚ内を透過
した放射線ビーム５をスリット１を通して放射線検出器
４に入射させる。そして放射線検出器４の出力信号を信
号ケーブルＩを通じて演算回路クヘ送出し、Ｉイド率α
を算出するようにしている。なお図中１０は二相流１中
に混在している気相（気泡）である。
すもので、測定すべきたとえば水と蒸気の二相Ｒ１が通
流する流路・（円筒状配管）２をはさんでＸ線又はｒ纏
を照射する放射線源Ｓと放射線検出器４とを配置し、放
射線源３よシ煕射された放射線ビーム５をコリメーｊＩ
６で細い平行ビームとなるように絞シ、配管ｚ内を透過
した放射線ビーム５をスリット１を通して放射線検出器
４に入射させる。そして放射線検出器４の出力信号を信
号ケーブルＩを通じて演算回路クヘ送出し、Ｉイド率α
を算出するようにしている。なお図中１０は二相流１中
に混在している気相（気泡）である。
ζζで、Ｉイド率αは、配管２が空のとき及び水で満た
されているときの放射線検出器４の出力電圧をそれぞれ
エムＩル）＊Ｉｗメルトとし、測定すべき二相Ｒノが通
流しているときの出力電圧をＩｘ−ルトとすると、 で求められる。こむでρｗＵ水の密度、／Ｗａ高温水の
密度％ Ｉ’ｖＢ蒸気の密度である。
されているときの放射線検出器４の出力電圧をそれぞれ
エムＩル）＊Ｉｗメルトとし、測定すべき二相Ｒノが通
流しているときの出力電圧をＩｘ−ルトとすると、 で求められる。こむでρｗＵ水の密度、／Ｗａ高温水の
密度％ Ｉ’ｖＢ蒸気の密度である。
このようにして求められるがイド率はいわゆる局所がイ
ド率であシ、放射線ビーム５が二相ｆｌＬｌ中に混在す
る多数の気泡１０・・・を横切る長さをそれぞれ１１＠
ｌ露＋・・・ｌｌｅ・・・＃ １１１とし、配管２内
を横切る放射線ビーム５の長さをｊｐとするときの、次
式のαと等価である。
ド率であシ、放射線ビーム５が二相ｆｌＬｌ中に混在す
る多数の気泡１０・・・を横切る長さをそれぞれ１１＠
ｌ露＋・・・ｌｌｅ・・・＃ １１１とし、配管２内
を横切る放射線ビーム５の長さをｊｐとするときの、次
式のαと等価である。
α＝〔、Ｘ、１１〕／ＩＤ ・・・（
２）次に、放射線源３、放射線検出器４、コリメータ６
およびスリット２を一体に動かし、配管２の中心軸に喬
直な一定断面内で上下に移動する。たとえば第２図のよ
うに配管２の中心より上方へｈだけ移動すると、その位
置におけるＩイド率α（ｈ）を同様にして求めることが
できる。
２）次に、放射線源３、放射線検出器４、コリメータ６
およびスリット２を一体に動かし、配管２の中心軸に喬
直な一定断面内で上下に移動する。たとえば第２図のよ
うに配管２の中心より上方へｈだけ移動すると、その位
置におけるＩイド率α（ｈ）を同様にして求めることが
できる。
そこで、配管２の内半径をｒ、として、放射線ビーム５
の高さに＝−ｒ６からｈ＝−γ０までのα（ｈ）を次の
（３）式の如くノｐ−〆ｎの重みをつけて積分し、それ
を配管２の断面積ム＝πｒｏ２で除すと、一定断面内の
平均−イド率ｄが得られる。
の高さに＝−ｒ６からｈ＝−γ０までのα（ｈ）を次の
（３）式の如くノｐ−〆ｎの重みをつけて積分し、それ
を配管２の断面積ム＝πｒｏ２で除すと、一定断面内の
平均−イド率ｄが得られる。
このようにすれば、一定断面内の平均ゲイト率αを求め
ることができるわけであるが、従来のｌイド率測定装置
は放射線源３及び放射線検出器４が流路に対して固定的
であシ、第３図のように放射線源１と検出器４を複数組
使用したとしても正確な平均ゲイト率を求めることはで
きなかった。しかもボイド率の算出線測定徒に計算機を
用いて行なわれていたため算出結果を早急に知ることが
できず、ｌイド率の制御を行なう上で困難性があった。
ることができるわけであるが、従来のｌイド率測定装置
は放射線源３及び放射線検出器４が流路に対して固定的
であシ、第３図のように放射線源１と検出器４を複数組
使用したとしても正確な平均ゲイト率を求めることはで
きなかった。しかもボイド率の算出線測定徒に計算機を
用いて行なわれていたため算出結果を早急に知ることが
できず、ｌイド率の制御を行なう上で困難性があった。
本発明は上記事情にもとづいてなされ九もので、局所Ｉ
イド率分布を求め、高速過渡現象においてもその現象の
測定中に正確な一定断面内平均？イド率を測定する仁と
ができる放射線−イド率測定装置を得ることにある。
イド率分布を求め、高速過渡現象においてもその現象の
測定中に正確な一定断面内平均？イド率を測定する仁と
ができる放射線−イド率測定装置を得ることにある。
本発明に係る放射線−イド率測定装置は、測定すべき二
相流が通流する流路と、この流路の一定断面を走査する
放射線ビームを発生する放射線源と、前記流路を透過し
た放射−を検出する放射線検出器と、この検出器の出力
をその出力の対数に比例した信号に変換する対数化回路
と、圧力をノｆラメーメとする前記二相流における液相
と気相の密度の関数に比例した信号を出力する密度関数
回路と、前記流路と放射線ビームとの相対位置の変化に
よる放射線減衰特性の変化を補正する補正回路と、これ
ら対数化回路。
相流が通流する流路と、この流路の一定断面を走査する
放射線ビームを発生する放射線源と、前記流路を透過し
た放射−を検出する放射線検出器と、この検出器の出力
をその出力の対数に比例した信号に変換する対数化回路
と、圧力をノｆラメーメとする前記二相流における液相
と気相の密度の関数に比例した信号を出力する密度関数
回路と、前記流路と放射線ビームとの相対位置の変化に
よる放射線減衰特性の変化を補正する補正回路と、これ
ら対数化回路。
密度関数回路及び補正回路の出力信号にもとづき前記二
相流の局所ｌイド率を算出する局所がイド率演算回路と
、この局所Ｉイド率演算回路の出力を放射線ビームの二
相流通過面積に和尚する重みをつけて積分平均する平均
がイド率演算回路とを具備してなるものである。
相流の局所ｌイド率を算出する局所がイド率演算回路と
、この局所Ｉイド率演算回路の出力を放射線ビームの二
相流通過面積に和尚する重みをつけて積分平均する平均
がイド率演算回路とを具備してなるものである。
第４図ないし第１４図は本発明の一実施例を示すもので
、第４図は放射線ディト率測定装置の外観図である。
、第４図は放射線ディト率測定装置の外観図である。
角筒状枠体１０１の一方の対向壁１０２゜１０３間には
、測定すべき二相流１０４が通流する流路として金属ベ
リリウム製の円筒状配管１０ｊが配設されている。上記
円筒状配管１０６０両端には７ランゾ１０６，１０１が
取着され、適宜、別の配管を接続できるようにしている
。
、測定すべき二相流１０４が通流する流路として金属ベ
リリウム製の円筒状配管１０ｊが配設されている。上記
円筒状配管１０６０両端には７ランゾ１０６，１０１が
取着され、適宜、別の配管を接続できるようにしている
。
前記枠体１０１の他方の対向壁１０１１．１０９の各外
面に線放射線源１１０及びモータ１１１がそれぞれ取付
けられている。上記数射線源１１０は高圧ケーブル１１
２を介して図示しない放射線発生装置に接続されておシ
、前記配管１０８（Ｄ中心軸に直交する一定断面に沿っ
て例えばＸ＠、ｒ＠等の放射線ビーム１１３を照射する
ようにしている。前記モータ１１１は、回転軸１１１ｋ
を枠体１０１内へ導入させ、かつ前記配管１０５に直交
させておシ、その回転軸１１１ムには回転円板１１４の
中心部位が取着されている。またモータ１１１は第５図
に示すように位相四ツクルー！制御回路１１ｇＫ＠続さ
れ、一定速度で回転するよ、う”１ｌｌ１１．に制御さ
れている。
面に線放射線源１１０及びモータ１１１がそれぞれ取付
けられている。上記数射線源１１０は高圧ケーブル１１
２を介して図示しない放射線発生装置に接続されておシ
、前記配管１０８（Ｄ中心軸に直交する一定断面に沿っ
て例えばＸ＠、ｒ＠等の放射線ビーム１１３を照射する
ようにしている。前記モータ１１１は、回転軸１１１ｋ
を枠体１０１内へ導入させ、かつ前記配管１０５に直交
させておシ、その回転軸１１１ムには回転円板１１４の
中心部位が取着されている。またモータ１１１は第５図
に示すように位相四ツクルー！制御回路１１ｇＫ＠続さ
れ、一定速度で回転するよ、う”１ｌｌ１１．に制御さ
れている。
前記回転円板１１４には複数（例えば３個）の小孔すな
わち放射線透過孔１１６・・・が回転軸を中心とする同
一円周上に等間隔に設けられている。そして回転円板１
１４の裏面（配管１０５と反対側の面）には、各透過孔
１１６を塞ぐように放射線検出器１１１・・・が取付け
られている。
わち放射線透過孔１１６・・・が回転軸を中心とする同
一円周上に等間隔に設けられている。そして回転円板１
１４の裏面（配管１０５と反対側の面）には、各透過孔
１１６を塞ぐように放射線検出器１１１・・・が取付け
られている。
なお、検出器１１７としてはＮｍＩ （ＴＩ ）シンチ
レータと光電子増倍管を一体化したもの等が使用される
。また各検出器１１１の背面には、この検出器１１７の
検出信号を増幅する増幅器１１ｇが取付けてあシ、さら
に回転円板１１４の裏面には各増幅器１１Ｂに接続する
高圧電源１１９が取付けである。そして回転円板１１４
の周縁部は板厚が薄くなっており、その薄肉部に多数の
位置検出孔１２０・・・が周方同郷間隔に設けられてい
る。一方、前記枠体１０１には光センサ１２１が取付け
られている。この光センサ１１１は、回転円板１１４Ｃ
）周縁薄肉部を跨ぐように配彎され、上記薄肉部を挾ん
で発光器と受光器とを対向させて構成されている。そし
て前記位置検出孔１２０が発光器と受光器との間に位置
したときの光ノ々ルスを受光器で検出し、これを電気信
号に変換してノ母ルスカウンＦ回路１２２へ出力するよ
うになっている。なお上記パルスカウント回路１２２は
光センサ１２１よ〕出力された電気信号をカウントして
回転円板１１４０回転角を測定し、回転円板１１４が３
６０”回転する毎にカウントリセットするように構成さ
れている。
レータと光電子増倍管を一体化したもの等が使用される
。また各検出器１１１の背面には、この検出器１１７の
検出信号を増幅する増幅器１１ｇが取付けてあシ、さら
に回転円板１１４の裏面には各増幅器１１Ｂに接続する
高圧電源１１９が取付けである。そして回転円板１１４
の周縁部は板厚が薄くなっており、その薄肉部に多数の
位置検出孔１２０・・・が周方同郷間隔に設けられてい
る。一方、前記枠体１０１には光センサ１２１が取付け
られている。この光センサ１１１は、回転円板１１４Ｃ
）周縁薄肉部を跨ぐように配彎され、上記薄肉部を挾ん
で発光器と受光器とを対向させて構成されている。そし
て前記位置検出孔１２０が発光器と受光器との間に位置
したときの光ノ々ルスを受光器で検出し、これを電気信
号に変換してノ母ルスカウンＦ回路１２２へ出力するよ
うになっている。なお上記パルスカウント回路１２２は
光センサ１２１よ〕出力された電気信号をカウントして
回転円板１１４０回転角を測定し、回転円板１１４が３
６０”回転する毎にカウントリセットするように構成さ
れている。
前記モータ１１１の回転軸１１１ムには、さらにスリ、
！リンダ１２３が・取着されている。
！リンダ１２３が・取着されている。
このスリップリング１２３は２つの環状導体２２７＾、
１２３Ｂより構成されてお夛、各環状導体１２３ム、１
２３Ｂにはそれぞれ接触子ＪＪ４Ａ、ＪＪ４Ｂが摺接さ
せである。ｔた各接触子１２４ム、１２４Ｂには給電ケ
ーグルＩｌｌム及び信号ケーブル１２５Ｂが接続され、
これらのケーブル１２５１，１２５８は枠体１０１の外
部へ導出されている。そして第７図に示すように、一方
の環状導体１２３ムは各高圧電源１１９を介して各増幅
器１１８に接続されている。ｔた前記各放射線検出器１
１１は各増幅器１１８を介して他方の環状導体１２３Ｂ
に接続されている。
１２３Ｂより構成されてお夛、各環状導体１２３ム、１
２３Ｂにはそれぞれ接触子ＪＪ４Ａ、ＪＪ４Ｂが摺接さ
せである。ｔた各接触子１２４ム、１２４Ｂには給電ケ
ーグルＩｌｌム及び信号ケーブル１２５Ｂが接続され、
これらのケーブル１２５１，１２５８は枠体１０１の外
部へ導出されている。そして第７図に示すように、一方
の環状導体１２３ムは各高圧電源１１９を介して各増幅
器１１８に接続されている。ｔた前記各放射線検出器１
１１は各増幅器１１８を介して他方の環状導体１２３Ｂ
に接続されている。
ところで前記（１）式を、電気回路を構成し易い形にす
るために、次のように変形する。
るために、次のように変形する。
ρＷ−ρ′Ｗ
ρ′Ｗ−ρ′Ｖ
Ｘ（ｈ） ＝ ｌｏｇ （１０ｌｘ ）
＝・（７）Ｗ（ｈ） ＝ ｌｏｇ （１０Ｉｔ ）
−（８）Ｖ（ｈ）＝１ａｇ（Ｉｎ／Ｉｖ）
−−・（９）上記（５）式及び（６）式は流
体の圧力ｐによって変化する水及び蒸気の書度の関数Ｆ
（ｐ）及びＧ （ｐ）の関数形を定義する式である。
＝・（７）Ｗ（ｈ） ＝ ｌｏｇ （１０Ｉｔ ）
−（８）Ｖ（ｈ）＝１ａｇ（Ｉｎ／Ｉｖ）
−−・（９）上記（５）式及び（６）式は流
体の圧力ｐによって変化する水及び蒸気の書度の関数Ｆ
（ｐ）及びＧ （ｐ）の関数形を定義する式である。
これらの関数の値は蒸気表を引用して算出することがで
きる。
きる。
第８図は関数Ｆ （ｐ）及びＧ （ｐ）を示すグラフで
あるが、密度の差及び比を（５）式及び（６）式のよう
にすることによって、グラフは直線に近い形となる。よ
りて、Ｆ （ｐ）及びＧ （ｐ） ｔ）＊性を有する電
気囲路を容易に構成することができる。
あるが、密度の差及び比を（５）式及び（６）式のよう
にすることによって、グラフは直線に近い形となる。よ
りて、Ｆ （ｐ）及びＧ （ｐ） ｔ）＊性を有する電
気囲路を容易に構成することができる。
第９図はこのようにして構成された電気回路の一例を示
すものである。
すものである。
すなわち、前記の通り放射線検出＠ｚｘｒには、こＯ検
出器の検出信号を増幅する増幅器１１８が接続されてい
るが、この増幅器１１＃では上記検出＠１１ Ｆからの
信号を最大１Ｇ＆ルトの電圧に規格化する。まえ、上記
増幅器１１１には対数化回路１１ｇが接続され、この対
数化回路１２＃では増幅ｔｊｋｌｌｌｌからの出力１０
ｘｘをその対数値ｘ （ｈ）に比例した電圧に変換す
る。
出器の検出信号を増幅する増幅器１１８が接続されてい
るが、この増幅器１１＃では上記検出＠１１ Ｆからの
信号を最大１Ｇ＆ルトの電圧に規格化する。まえ、上記
増幅器１１１には対数化回路１１ｇが接続され、この対
数化回路１２＃では増幅ｔｊｋｌｌｌｌからの出力１０
ｘｘをその対数値ｘ （ｈ）に比例した電圧に変換す
る。
一方、前記光センナ１２１は前記の通シ光Ｉ４ルスを電
気信号に変換して／４ルスカウント回路ＸＺＺへ出力す
るが、とのノ帯ルスカウント回路１２２では光センサ１
２１からの信号をビーム高さｈに比例したアナログ電圧
に変換する。また上記／ぐルスカウント回路１２２には
形状補正回路１２１が接続され、この形状補正回路１２
１ではノ母ルスカウント回路１２２からの出力を、前記
（８）式及び（９）式で定義されるｗ （ｈ）及びＶ（
ｈ）に比例した電圧に変換する。
気信号に変換して／４ルスカウント回路ＸＺＺへ出力す
るが、とのノ帯ルスカウント回路１２２では光センサ１
２１からの信号をビーム高さｈに比例したアナログ電圧
に変換する。また上記／ぐルスカウント回路１２２には
形状補正回路１２１が接続され、この形状補正回路１２
１ではノ母ルスカウント回路１２２からの出力を、前記
（８）式及び（９）式で定義されるｗ （ｈ）及びＶ（
ｈ）に比例した電圧に変換する。
なお、前記（７）式は放射線検出器１１７からの検出信
号を増幅器１１８でθ〜１０メルトに規格化した後、対
数化回路１２６でその電圧値の対数をとる時の特性を定
義する式である。（７）式中Ｉ、は放射線ビーム１１１
が二相流１０４のがイド率αに応じて減衰した時の放射
線ビーム１１３の強度比を示し、理論的には次式で与え
られる。
号を増幅器１１８でθ〜１０メルトに規格化した後、対
数化回路１２６でその電圧値の対数をとる時の特性を定
義する式である。（７）式中Ｉ、は放射線ビーム１１１
が二相流１０４のがイド率αに応じて減衰した時の放射
線ビーム１１３の強度比を示し、理論的には次式で与え
られる。
１ｘ（ｈ）＝ｅ−μ菖ρｍｊｍ（ｈ）
８゜−μＷ（ρ’ｖｄ ＋ ／ｖ （１−α） ） Ａ
Ｄ（ｈ） −（ＡここでμＭ、μＷはそれぞれ円筒状
配管１０６及び水のｒ線の質量吸収係数である。また７
Ｍ（ｈ） ｅ ｊｎ（ｈ）は高さｈの放射線ビーム１１
３がそれぞれ円筒状配管１０５（Ｄ管−及び円筒状配管
ｌｏｌ内を横切る長さであシ、配管１０５の白樺が２γ
ｏ１肉厚がｔの場合は次式で与えられる。
Ｄ（ｈ） −（ＡここでμＭ、μＷはそれぞれ円筒状
配管１０６及び水のｒ線の質量吸収係数である。また７
Ｍ（ｈ） ｅ ｊｎ（ｈ）は高さｈの放射線ビーム１１
３がそれぞれ円筒状配管１０５（Ｄ管−及び円筒状配管
ｌｏｌ内を横切る長さであシ、配管１０５の白樺が２γ
ｏ１肉厚がｔの場合は次式で与えられる。
ｊＭ（’ ） −” （（ｙｏ ４買’−＞ ’ −ｎ
） ・・・（Ｌｍｊ！１（ｈ）−ｚメ７＝ν
・・・（６）また前記（８）式は円筒状配
管１０Ｓ内が常温水で満たされたときの高さｈｏ放射線
ビーム１１３の強度比■ｗＯ対数をとる式である。Ｉｔ
（ｈ）は次式で与えられる。
） ・・・（Ｌｍｊ！１（ｈ）−ｚメ７＝ν
・・・（６）また前記（８）式は円筒状配
管１０Ｓ内が常温水で満たされたときの高さｈｏ放射線
ビーム１１３の強度比■ｗＯ対数をとる式である。Ｉｔ
（ｈ）は次式で与えられる。
Ｉｔ（ｋ）＝。−μｍ＃ｍｊｉｉ（ｈ）、−μｗＩ＃ｗ
Ｊｆｎ（ｈ） 、、−轡・ また前記（９）式は円筒状配管１０５が空気で満たされ
たときの放射線ビーム１１３の強度比■ム（ｋ）と前記
１ｗ（ｈ）の比の対数をとる式である。
Ｊｆｎ（ｈ） 、、−轡・ また前記（９）式は円筒状配管１０５が空気で満たされ
たときの放射線ビーム１１３の強度比■ム（ｋ）と前記
１ｗ（ｈ）の比の対数をとる式である。
ｌム（ｈ）は次式で与えられる。
１、（ｈ）−６−μｍ＃ｍｊｍ（ｈ）−−μ４ｓＡＪｐ
（ｋ） −＆４・ ここでｐム、μムはそれぞれ２０℃、１気圧の空気の密
度及びｒ纏の質量吸収係数である。そ仁で上記Ｉ、（ロ
）、（２）及びａ４式をそれぞれ（８） 、 （９）式
に代入すると、 Ｗ（ｈ）＝１０ｓ （ｙｇ＋ｔ）’−ｈ” ＋ Ｃｍ
メ７７Ｊ・・・（２）Ｖ （ｈ ） −ＣＢ ｉ
・・・（ト）ココテ、Ｃｓ −０，８
６８６ＡＭＩ＃Ｍ ・・・０ｒ）ＣＢ Ｗ
０．８６８６ （声Ｍρ滅−μＷρｗ） −Ｈ
Ｃ５＝０．８６８６（μｍ〜−μムρム） ・・
・（２）となる。以上の（イ）、９４式から明らかな通
り、ｗ（ｈ）及びｖ（ｈ）の、ビーム高さｈに対する関
数紘、円筒状配管１０Ｂの内半径γ０及び肉厚ｔにより
て第１０図の如く変化する。なお第１０図はｊｇ ｗｘ
５ Ｑ■、ｔロア■としたときのｗ（ｈ）及びｖ（ｈ
）の変化を示すものである。この第１０図から明らかな
ように、Ｖ（ｈ）のグラ、７は楕円になる。
（ｋ） −＆４・ ここでｐム、μムはそれぞれ２０℃、１気圧の空気の密
度及びｒ纏の質量吸収係数である。そ仁で上記Ｉ、（ロ
）、（２）及びａ４式をそれぞれ（８） 、 （９）式
に代入すると、 Ｗ（ｈ）＝１０ｓ （ｙｇ＋ｔ）’−ｈ” ＋ Ｃｍ
メ７７Ｊ・・・（２）Ｖ （ｈ ） −ＣＢ ｉ
・・・（ト）ココテ、Ｃｓ −０，８
６８６ＡＭＩ＃Ｍ ・・・０ｒ）ＣＢ Ｗ
０．８６８６ （声Ｍρ滅−μＷρｗ） −Ｈ
Ｃ５＝０．８６８６（μｍ〜−μムρム） ・・
・（２）となる。以上の（イ）、９４式から明らかな通
り、ｗ（ｈ）及びｖ（ｈ）の、ビーム高さｈに対する関
数紘、円筒状配管１０Ｂの内半径γ０及び肉厚ｔにより
て第１０図の如く変化する。なお第１０図はｊｇ ｗｘ
５ Ｑ■、ｔロア■としたときのｗ（ｈ）及びｖ（ｈ
）の変化を示すものである。この第１０図から明らかな
ように、Ｖ（ｈ）のグラ、７は楕円になる。
そして現在では加算、減算９乗算、除算、平方。
平方根のアナ四グ演算回路はモジュール化されているの
で、（至）、Ｃ１１ｅ式を回路化し、前記形状補正回路
ＸＸＶを作成することは容品である。第１１図にその一
例を示す。
で、（至）、Ｃ１１ｅ式を回路化し、前記形状補正回路
ＸＸＶを作成することは容品である。第１１図にその一
例を示す。
第１１図において、ビーム高さｈは光センサｆｊＪから
の信号によシ、平方回路１２８にて平方演算が行なわれ
る。そして配管１０５の内半径Ｔｏは半径設定用ポテン
シ、メーメ１２９で、また肉厚ｔは肉厚設定用デテンシ
、メーメ１１０で予め設定しておき、それぞれ平方回路
１３１゜１３２にて平方演算する。各平方回路１３１゜
１３２の出力は平方根回路１３３，１３４でそれぞれ平
方根を演算し、ｎ“及ヒ ｆＵｉ〒Ｔ；Ｊの値に比例した電圧を得る。これらに１
それぞれ比例定数設定用ポテンシ、メ−１１３５，１３
６で設定された比例定数Ｃ１＋Ｃ璽を掛けて加減演算器
１３１に入力すると、出力ｗ（ｈ）を得る。を九Ｖ５マ
［ｉα−に比例定数設定用Ｉテンシ、メータ１３８で設
定され九比例定数Ｃｍを掛けて、出力ｖ （ｈ）を得る
。
の信号によシ、平方回路１２８にて平方演算が行なわれ
る。そして配管１０５の内半径Ｔｏは半径設定用ポテン
シ、メーメ１２９で、また肉厚ｔは肉厚設定用デテンシ
、メーメ１１０で予め設定しておき、それぞれ平方回路
１３１゜１３２にて平方演算する。各平方回路１３１゜
１３２の出力は平方根回路１３３，１３４でそれぞれ平
方根を演算し、ｎ“及ヒ ｆＵｉ〒Ｔ；Ｊの値に比例した電圧を得る。これらに１
それぞれ比例定数設定用ポテンシ、メ−１１３５，１３
６で設定された比例定数Ｃ１＋Ｃ璽を掛けて加減演算器
１３１に入力すると、出力ｗ（ｈ）を得る。を九Ｖ５マ
［ｉα−に比例定数設定用Ｉテンシ、メータ１３８で設
定され九比例定数Ｃｍを掛けて、出力ｖ （ｈ）を得る
。
一方、第９図中１３＃は円筒状配管１０５内の圧力を検
出する圧力センナである。仁の圧力センナ１８ｍよシ出
力され九検出信号社圧力信号変換器１４０で圧力信号ｐ
ｍ変換される。さらに圧力信号変換器１４０には密度関
数回路１４１が接続されておシ、この密度関数回路１４
１で社圧力信号変勇器１４０からの信号ｐを、前記（５
） ？ （６）式で定義される密度の関数Ｆ（ｐ）。
出する圧力センナである。仁の圧力センナ１８ｍよシ出
力され九検出信号社圧力信号変換器１４０で圧力信号ｐ
ｍ変換される。さらに圧力信号変換器１４０には密度関
数回路１４１が接続されておシ、この密度関数回路１４
１で社圧力信号変勇器１４０からの信号ｐを、前記（５
） ？ （６）式で定義される密度の関数Ｆ（ｐ）。
Ｇ （ｐ）に比例した電圧を発生する。
そして前記対数化回路１２６．形状補正回路１２１及び
密度関数回路１４１の出力は局所がイド率演算回路１４
２に入力される。この演算回路１４２の構成を第１２図
に示す。
密度関数回路１４１の出力は局所がイド率演算回路１４
２に入力される。この演算回路１４２の構成を第１２図
に示す。
すなわち、対数化回路１２６の出力ｘ （ｈ）と形状補
正回路１２１の出力ｗ （ｈ）は減算器１４３へ入力さ
れ１．この減算器１４３において両出力の差が演算され
る。そしてこの両出力の差別ｈ）−ｗ（ｈ）と形状補正
回路１２１の出力ｖ （ｈ）は演算される。次にこの割
算器１４４の出力Ｙと密度関数回路１４１の出力Ｆ （
ｐ）は乗算器１４５へ入力され、両出力の乗算がなされ
る。そしてこの乗算器１４５の出力と密度関数回路１４
１の出力Ｇ （ｐ） （Ｄ差が減算器１４６にて算出さ
れ、局所？イド率α（ｈ）を得る。
正回路１２１の出力ｗ （ｈ）は減算器１４３へ入力さ
れ１．この減算器１４３において両出力の差が演算され
る。そしてこの両出力の差別ｈ）−ｗ（ｈ）と形状補正
回路１２１の出力ｖ （ｈ）は演算される。次にこの割
算器１４４の出力Ｙと密度関数回路１４１の出力Ｆ （
ｐ）は乗算器１４５へ入力され、両出力の乗算がなされ
る。そしてこの乗算器１４５の出力と密度関数回路１４
１の出力Ｇ （ｐ） （Ｄ差が減算器１４６にて算出さ
れ、局所？イド率α（ｈ）を得る。
かくして、局所がイド率演算回路１４２では対数化回路
１２６の出力ｘ （ｈ）と、形状補正回路１２１０出力
Ｗ （ｈ） 、 Ｖ （ｈ）と、密度関数回路Ｊ４Ｚの
出力Ｆ （ｐ） ｔ Ｇ （ｐ）にもとづいて、前記（
４）式で定義される局所がイド率α（ｋ）＞１高速でア
ナログ演算されるが、この局所−イド率演算回路１４２
の出力α（ｋ） ａ平均−イド率演算回路１４１へ入力
され、二相流１０４の一定断面内平均Ｉイド率ｄが算出
される。この平均Ｉイド率演算回路１４１の構成を第１
３図に示す。
１２６の出力ｘ （ｈ）と、形状補正回路１２１０出力
Ｗ （ｈ） 、 Ｖ （ｈ）と、密度関数回路Ｊ４Ｚの
出力Ｆ （ｐ） ｔ Ｇ （ｐ）にもとづいて、前記（
４）式で定義される局所がイド率α（ｋ）＞１高速でア
ナログ演算されるが、この局所−イド率演算回路１４２
の出力α（ｋ） ａ平均−イド率演算回路１４１へ入力
され、二相流１０４の一定断面内平均Ｉイド率ｄが算出
される。この平均Ｉイド率演算回路１４１の構成を第１
３図に示す。
すなわち、前記局所Ｉイド率演算回路１４２で得られ九
局所がイド率α（ｋ）と第１１図に示す平方根回路１３
３の出力ｒとを乗算 器１４８で乗算し、さらに２倍して２・ｌη［７゜α（
ｈ）を得る。第１４図は各部の信号波形を示す４のであ
るが、同図０）の信号紘α（ｋ）％（→の信号はｆ１＝
７、（ハ）の信号は２・６７ＴＴ、α（ｈ）である、そ
してこの（ハ）の信号２・ｎ、ａ（ｈ）は、同図に）の
サンプリング信号で制御されるサンプリング回路１４９
でサンプリングされ、第１４図（ホ）の・臂ルス信号を
得る。（ホ）のノ４ルス信号はノ母ルス積分回路１５０
でｈ＝−γ０からｈ＝＋７’ｏまで同図（へ）のように
積分される。上記／々ルス積分回路１５０はダイオード
１５１，１５２を備え、積分きざみはコンデンサ１５３
と１５４の比によシ以下の如く与えられる。
局所がイド率α（ｋ）と第１１図に示す平方根回路１３
３の出力ｒとを乗算 器１４８で乗算し、さらに２倍して２・ｌη［７゜α（
ｈ）を得る。第１４図は各部の信号波形を示す４のであ
るが、同図０）の信号紘α（ｋ）％（→の信号はｆ１＝
７、（ハ）の信号は２・６７ＴＴ、α（ｈ）である、そ
してこの（ハ）の信号２・ｎ、ａ（ｈ）は、同図に）の
サンプリング信号で制御されるサンプリング回路１４９
でサンプリングされ、第１４図（ホ）の・臂ルス信号を
得る。（ホ）のノ４ルス信号はノ母ルス積分回路１５０
でｈ＝−γ０からｈ＝＋７’ｏまで同図（へ）のように
積分される。上記／々ルス積分回路１５０はダイオード
１５１，１５２を備え、積分きざみはコンデンサ１５３
と１５４の比によシ以下の如く与えられる。
まず前記（３）式の積分変数ｈｔｌ−ｘ＝ｈ／Ｘｏで置
き換えると、 となる、従つて積分きざみａＸを例えは０．０１とする
と、 ｃ、７ｃ４− ｏ、 ｏ ｉ富−ｒｌ「１−
・・・（２１）となるようにコンデンサ１５３，１５
４の各容量ＣＰ、 Ｃ９を設定すればよい、このとき周
期Ｔ３の間にに）のノルスが１００個出るようにする必
要がある。そして（へ）の信号で周期Ｔ３の間の積分を
終了して（ト）のサンプリングツ々ルスをサン！リング
ホールド回路１５５へ入力し、ノ臂ルス積分回路１５０
の出力を同図（す）の如くホールドする。これが終了す
ると、ＴＩ秒遅れてノ譬ルス積分回路１５０へ−のリセ
、トノダルスを入力する０以上の操作は周期Ｔ３毎に繰
り返す、なお、周期Ｔｓを例えば１５０ ｍＢとすると
、に）の積分・々ルスの周期Ｔ１は１ｍＳ、■のリセッ
ト／４ルスの遅れ時間ＴＩは５ ｍＢ 、に）、 （）
） 、−の各々Ｏ／ｆｋＸｆｌｉＴｓ ｅ Ｔ４ ＊
Ｔ＠Ｂそれぞれ１００４程度に設定すればよい。
き換えると、 となる、従つて積分きざみａＸを例えは０．０１とする
と、 ｃ、７ｃ４− ｏ、 ｏ ｉ富−ｒｌ「１−
・・・（２１）となるようにコンデンサ１５３，１５
４の各容量ＣＰ、 Ｃ９を設定すればよい、このとき周
期Ｔ３の間にに）のノルスが１００個出るようにする必
要がある。そして（へ）の信号で周期Ｔ３の間の積分を
終了して（ト）のサンプリングツ々ルスをサン！リング
ホールド回路１５５へ入力し、ノ臂ルス積分回路１５０
の出力を同図（す）の如くホールドする。これが終了す
ると、ＴＩ秒遅れてノ譬ルス積分回路１５０へ−のリセ
、トノダルスを入力する０以上の操作は周期Ｔ３毎に繰
り返す、なお、周期Ｔｓを例えば１５０ ｍＢとすると
、に）の積分・々ルスの周期Ｔ１は１ｍＳ、■のリセッ
ト／４ルスの遅れ時間ＴＩは５ ｍＢ 、に）、 （）
） 、−の各々Ｏ／ｆｋＸｆｌｉＴｓ ｅ Ｔ４ ＊
Ｔ＠Ｂそれぞれ１００４程度に設定すればよい。
貫走サンプルホールド回路１５５の出力には表示計１５
−が接続されておシ、平均Ｉイド率演算回路１４１で算
出され九二相ｐｉ、１０４の一定断面における平均がイ
ド率ｄが上記表示計１５６で表示される。
−が接続されておシ、平均Ｉイド率演算回路１４１で算
出され九二相ｐｉ、１０４の一定断面における平均がイ
ド率ｄが上記表示計１５６で表示される。
次に、以上の如く構成された放射線−イド率測定装置の
作用を説明する。
作用を説明する。
モータ１１１によ）回転円板１１４を一定速度で回転さ
せながら放射線源１１０よ、９Ｘ線又はｒ線等の放射線
を二相流、、ｌ・：・、、ｏ４が通流する配管１０５に
向けて照射すると、その放射線は配管１０５内を通過す
る際に、配管１０Ｂ内を通流する二相流１０４の局所デ
ィト率に応じて減衰される。ｔた上記放射線のうち回転
円板１１４に設けられ走数射線透過孔１１６を透過した
もののみが、細い放射線ビーム１１３となって放射線検
出器１１１で検出される。そして上記放射線ビーム１１
Ｊは第６図の如く回転円板１１４０回転に伴ない、配管
１０５内の下端から上端へ向けて二相ｒＩＬ１０４の一
定断面を走査し、１つの透過孔１１６を透過する放射線
ビーム１１３が二相ｆＬ１０４の上端に達すると、次の
透過孔１１６を透過する放射線ビーム１１３が走査を開
始する。
せながら放射線源１１０よ、９Ｘ線又はｒ線等の放射線
を二相流、、ｌ・：・、、ｏ４が通流する配管１０５に
向けて照射すると、その放射線は配管１０５内を通過す
る際に、配管１０Ｂ内を通流する二相流１０４の局所デ
ィト率に応じて減衰される。ｔた上記放射線のうち回転
円板１１４に設けられ走数射線透過孔１１６を透過した
もののみが、細い放射線ビーム１１３となって放射線検
出器１１１で検出される。そして上記放射線ビーム１１
Ｊは第６図の如く回転円板１１４０回転に伴ない、配管
１０５内の下端から上端へ向けて二相ｒＩＬ１０４の一
定断面を走査し、１つの透過孔１１６を透過する放射線
ビーム１１３が二相ｆＬ１０４の上端に達すると、次の
透過孔１１６を透過する放射線ビーム１１３が走査を開
始する。
一方、回転円板１１４の回転角度は光センサ１２１によ
って位置検出孔１２０を透過する光ｉ４ルスの数として
検出され、電気信号として・中ルスカウント回路１２２
へ入力される。そしてノ譬ルスカウント回路１２２では
回転円板１１４が１回転する毎にカウントリセットする
。
って位置検出孔１２０を透過する光ｉ４ルスの数として
検出され、電気信号として・中ルスカウント回路１２２
へ入力される。そしてノ譬ルスカウント回路１２２では
回転円板１１４が１回転する毎にカウントリセットする
。
前記放射線検出器ｘｘｒの検出信号は増幅器１１８で増
幅され、対数化回路１２６において、増幅器１１８の出
力の対数に比例した電圧Ｘ０１）に変換される。
幅され、対数化回路１２６において、増幅器１１８の出
力の対数に比例した電圧Ｘ０１）に変換される。
一方、光センサ１２１からのノ４ルスはパルスカウント
回路１２２によシビーム高さｈに比例し九アナログ電圧
に変換され、さらに形状補正回路１２１によって前記（
８） 、 （９）式で定義される関数ｗ （ｈ） 、
ｖ （ｈ）に比例した電圧に変換される。
回路１２２によシビーム高さｈに比例し九アナログ電圧
に変換され、さらに形状補正回路１２１によって前記（
８） 、 （９）式で定義される関数ｗ （ｈ） 、
ｖ （ｈ）に比例した電圧に変換される。
さらに、配管１０１ｉ内の圧力は圧力センナＩｌｌで検
出され、その検出信号は圧力信号変換器１４ ＃にて圧
力信号ｐに変換され、１１ｍ関数回路１４１によシ密変
の関数Ｆ （ｐ） 、 Ｇ （ｐ）に比例した電圧に変
換される。
出され、その検出信号は圧力信号変換器１４ ＃にて圧
力信号ｐに変換され、１１ｍ関数回路１４１によシ密変
の関数Ｆ （ｐ） 、 Ｇ （ｐ）に比例した電圧に変
換される。
そして、以上の信号Ｘ （ｈ） 、 Ｗ （ｈ） ＃
Ｖ （ｈ）＃Ｆ （ｐ） ＊ Ｇ （ｐ）から、局所が
イド率演算回路１４２では局所ｌイド率α（ｋ）を高速
でアナｐグ演算する。
Ｖ （ｈ）＃Ｆ （ｐ） ＊ Ｇ （ｐ）から、局所が
イド率演算回路１４２では局所ｌイド率α（ｋ）を高速
でアナｐグ演算する。
ｔたこの局所ｌイド率α（ｋ）は平均−イド率演算回路
１４７へ入力される。そして前記（３）弐に従い放射線
ビーム７１３の二相流通過面積に相当する重みをつけて
積分平均され、その値は二相ｒｉｔ１０４の一定断面に
おける平均メイド率ｉとして表示計１５６で表示される
。
１４７へ入力される。そして前記（３）弐に従い放射線
ビーム７１３の二相流通過面積に相当する重みをつけて
積分平均され、その値は二相ｒｉｔ１０４の一定断面に
おける平均メイド率ｉとして表示計１５６で表示される
。
以上のような構成であるから、二相流のｌイド率を測定
するにあたって、高速過渡現象においてもその現象の測
定中に正確な一定断面内平均がイド率を測定することが
でき、ｌイド率の制御を容易にすることができる。
するにあたって、高速過渡現象においてもその現象の測
定中に正確な一定断面内平均がイド率を測定することが
でき、ｌイド率の制御を容易にすることができる。
本発明に係る放射線がイド率測定装置は、測定すべき二
相流が通流する流路と、この流路の一定断面を走査する
放射線ビームを発生する放射線源と、前記流路を透過し
た放射線を検出する放射線検出器と、この検出器の出力
をその出力の対数に比例した信号に変換する対数化回路
と、圧力をノ量うメータとする前記二相流における液相
と気相の密度の関数に比例した信号を出力する密度関数
回路と、前記流路と放射線ビームとの相対位置の変化に
よる放射線減衰特性の変化を補正する補正回路と、これ
ら対数化回路。
相流が通流する流路と、この流路の一定断面を走査する
放射線ビームを発生する放射線源と、前記流路を透過し
た放射線を検出する放射線検出器と、この検出器の出力
をその出力の対数に比例した信号に変換する対数化回路
と、圧力をノ量うメータとする前記二相流における液相
と気相の密度の関数に比例した信号を出力する密度関数
回路と、前記流路と放射線ビームとの相対位置の変化に
よる放射線減衰特性の変化を補正する補正回路と、これ
ら対数化回路。
密度関数回路及び補正回路の出力信号にもとづき前記二
相流の局所Ｉイド率を算出する場所？イド率演算回路と
、この局所ボイド本漬算回路の出力を放射線ビームの二
相流通過面積に相当する重みをつけて積分平均し前記二
相流の一定断面内平均ｌイド率を得る平均Ｉイド率演算
回路を具備してなるものである。
相流の局所Ｉイド率を算出する場所？イド率演算回路と
、この局所ボイド本漬算回路の出力を放射線ビームの二
相流通過面積に相当する重みをつけて積分平均し前記二
相流の一定断面内平均ｌイド率を得る平均Ｉイド率演算
回路を具備してなるものである。
よって、このような構成の？イド率棚定装置によれば１
ｉＩ６所ｌイド率分布を求め、高速過渡現象において４
十の現象の−ｊ定中に正確な一定断面内平均Ｉイビ率を
−ｊ定することができ、容易に一イド率の制御を行なう
ことができる。
ｉＩ６所ｌイド率分布を求め、高速過渡現象において４
十の現象の−ｊ定中に正確な一定断面内平均Ｉイビ率を
−ｊ定することができ、容易に一イド率の制御を行なう
ことができる。
第１図Ｆｉ放射−メイビ車測定装置を示す概略構成図、
第２図ｉｉ放射−ビームの高さｈ６ｃおける燭楠メ１ト
°率α（ｂ）の測定置場を示す概略構成図、ｆｆ１３Ｆ
ｋＡｒｕ３ビームを１月いた従来Ｏ＆イド皐＃ｊ定嫉Ｉ
ｌｌを７す畝略構成図、第４図ないし第１４図ｄ本４！
四の−′４４施例１施業１小で、第４図ｒ！＃射−／（
ピ卓＃ｊ定＃ ＷＩＩＩ）外観斜視図、第５図目ｌ′！
１装貧Ｑ−鎚倉申出（ｒりす側面図、第６図は）゛締装
置の一部を取出して示す断面図、第７図は同装置の給電
及び信号取出し部分を示す！ロブ２図、第８図は密度の
関数Ｆ （ｐ） 、 Ｇ （ｐ）の関数形を示す縮図、
第９図Ｖｉ １１１１装置（７’Ｊ回路構成を示すグロ
、り図、第１θ図は形状補正関数ｗ （ｈ） 、 ｖ
（ｈ） Ｏ関数形を示−ｔ＠図、第１１図は形状補正回
路のグロ、り図、第１２図Ｖｉ間所♂イド率演算回路の
グロ、り図、第１３図は平均ゲイｒ率演算回路のグロ、
り図、第１４図は各部の信号波形を示す波形図である。 １０４・・・二相流、１０５・・・円筒状配管（良路）
、１１０・・・放射＠源、１１３・紗射巌し′−ム、１
１６・・・放射線透過孔、１１７ 放１１１Ｍゆｍ６
１２１・・・光センサ、１２６・・・ｒｊｔ！ｉ化［【
］）鯖、１２７・・・形状補正回路、１４１・・・密度
関数［＋１ｊ路、！４）・・・局所？イド率演算回路、
Ｉ ４７ −＋！拘・・イ計・本漬算回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 ｎ 武 劇第５図 第６図 第９図 第１０ ＩＩ
第２図ｉｉ放射−ビームの高さｈ６ｃおける燭楠メ１ト
°率α（ｂ）の測定置場を示す概略構成図、ｆｆ１３Ｆ
ｋＡｒｕ３ビームを１月いた従来Ｏ＆イド皐＃ｊ定嫉Ｉ
ｌｌを７す畝略構成図、第４図ないし第１４図ｄ本４！
四の−′４４施例１施業１小で、第４図ｒ！＃射−／（
ピ卓＃ｊ定＃ ＷＩＩＩ）外観斜視図、第５図目ｌ′！
１装貧Ｑ−鎚倉申出（ｒりす側面図、第６図は）゛締装
置の一部を取出して示す断面図、第７図は同装置の給電
及び信号取出し部分を示す！ロブ２図、第８図は密度の
関数Ｆ （ｐ） 、 Ｇ （ｐ）の関数形を示す縮図、
第９図Ｖｉ １１１１装置（７’Ｊ回路構成を示すグロ
、り図、第１θ図は形状補正関数ｗ （ｈ） 、 ｖ
（ｈ） Ｏ関数形を示−ｔ＠図、第１１図は形状補正回
路のグロ、り図、第１２図Ｖｉ間所♂イド率演算回路の
グロ、り図、第１３図は平均ゲイｒ率演算回路のグロ、
り図、第１４図は各部の信号波形を示す波形図である。 １０４・・・二相流、１０５・・・円筒状配管（良路）
、１１０・・・放射＠源、１１３・紗射巌し′−ム、１
１６・・・放射線透過孔、１１７ 放１１１Ｍゆｍ６
１２１・・・光センサ、１２６・・・ｒｊｔ！ｉ化［【
］）鯖、１２７・・・形状補正回路、１４１・・・密度
関数［＋１ｊ路、！４）・・・局所？イド率演算回路、
Ｉ ４７ −＋！拘・・イ計・本漬算回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 ｎ 武 劇第５図 第６図 第９図 第１０ ＩＩ
Claims (2)
- （１） 測定すべき二ｍ＃ｌが通流する流路と、この
＃ｌ路〇一定断面を滝査する放射線ビームを発生する放
射線源と、前記流路を透過した放射線を検出する放射線
検出器と、この検出ＩＩＯ出力をその出力の対数に比例
し九償号に変換する対数化回路と、圧力なノ臂ラメ−Ｉ
とする前記二相流におけゐ液相と気相の轡度０１１１ｍ
Ｋ比例し九償号を出力する密度関数回路と、前記ａｍと
放射線ビームとの相対位置の変化による放射−減衰特性
の変化を補正する形状補正回路と、これら対数化回路、
密度関数回路及び形状ｗｊＥ圏路の出力信号にもとづき
前記二相＃ＩＯ局所−イド率を算出すゐ局所−イド率演
算回路と、ζＯ局所Ｉイド率演算回路の出力を放射線ビ
ームの二相流通過面積に相幽する重みをつけて積分平均
する平均−イド率演算回路とを臭備したことを特徴とす
る放射線メイド率測定装置。 - （２）前記平均−イド率演算回路は平均メイド率を表示
する表示針を有することを特徴とする特許請求の範８第
（１）項記載の放射線メイド率測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57024124A JPS58142249A (ja) | 1982-02-17 | 1982-02-17 | 放射線ボイド率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57024124A JPS58142249A (ja) | 1982-02-17 | 1982-02-17 | 放射線ボイド率測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58142249A true JPS58142249A (ja) | 1983-08-24 |
| JPS632460B2 JPS632460B2 (ja) | 1988-01-19 |
Family
ID=12129555
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57024124A Granted JPS58142249A (ja) | 1982-02-17 | 1982-02-17 | 放射線ボイド率測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58142249A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020142656A1 (en) | 2019-01-04 | 2020-07-09 | Engent, Inc. | Systems and methods for precision placement of components |
-
1982
- 1982-02-17 JP JP57024124A patent/JPS58142249A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS632460B2 (ja) | 1988-01-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3581090A (en) | Utilizing penetrating radiation | |
| Rachalski | Absolute measurement of low gas flow by means of the spectral analysis of the thermal wave | |
| CN106199389A (zh) | 一种高效锁相放大器性能测试装置及方法 | |
| US3579127A (en) | Apparatus for monitoring pulses | |
| US4048844A (en) | Electric system of meter for measurements of density of mixtures conveyed in a pipeline | |
| JPS58142249A (ja) | 放射線ボイド率測定装置 | |
| US4037099A (en) | Fluorescent X-ray sulfur analyzer | |
| CA1286428C (fr) | Dispositif de comptage de particules d'un rayonnement ionisant | |
| JPH01274095A (ja) | 低レベル環境放射線測定装置 | |
| Schleicher et al. | Enhanced local void and temperature measurements for highly transient multiphase flows | |
| JPS58143253A (ja) | 放射線ボイド率測定装置 | |
| Ward et al. | A large aperture time-of-flight counter system | |
| US20220039675A1 (en) | Measurement device and non-transitory computer-readable recording medium | |
| US4860592A (en) | Soap film gas flow measuring device | |
| JPS62195580A (ja) | 放射線発生量測定装置 | |
| RU2684631C1 (ru) | Цифровой реактиметр | |
| Rae et al. | A stabilized integrating nephelometer for visibility studies | |
| JPS5821149A (ja) | Ｘ線分析装置用波高値安定化回路 | |
| JPH065659Y2 (ja) | シンチレ−シヨン放射線測定装置 | |
| JPS6261892B2 (ja) | ||
| Koster | Power decay law in moderate intensity nearly homogeneous isotropic turbulence | |
| JPS6141970A (ja) | 風の風速表示装置 | |
| JPH0533976Y2 (ja) | ||
| JPH02232583A (ja) | サーベイメータ | |
| JP2929761B2 (ja) | 油中ガス検出装置 |