JPS58142242A - マイクロレンズの焦点距離測定方法 - Google Patents

マイクロレンズの焦点距離測定方法

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JPS58142242A
JPS58142242A JP2446282A JP2446282A JPS58142242A JP S58142242 A JPS58142242 A JP S58142242A JP 2446282 A JP2446282 A JP 2446282A JP 2446282 A JP2446282 A JP 2446282A JP S58142242 A JPS58142242 A JP S58142242A
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Japan
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microlens
distance
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JP2446282A
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Mitsuru Nishikawa
満 西川
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Agency of Industrial Science and Technology
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0228Testing optical properties by measuring refractive power

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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 距離は2鵬,レンズ径2sIlφ)の焦点距離測定方法
に関するものである。
焦点距離は光宇常敵のうちの基本的数値であるので、そ
の測定法は古くからいろいろと考えられている。大きく
分けると、 (a)  IiLm廁定法 焦点距離の定義に従い、レンズ系に平行光束を入射させ
焦点と主点の位置をvtm漏定し、それらのt&II隔
として焦点距離を求める方法〇(b)  結像関係式を
利用する方法 1般の結像関係式には焦点距離がレンズの基本ij&数
として含まれている場合が多いので、物体および像の位
置や大きさを測定し、これらの結像関係式を利用して間
接的に焦点距離を求める方法。
の入射角を利用する場合、正確な角度測定装置が必要で
、要するに装置の精密性が要求される。
11た、(−の結像関係式を利用する場合、像が小さい
ためマイクロ測定が必要であるので、短焦点!イタロレ
ンスの焦点距離測定に使用することは困難である。
本発明は、上記の点に―みなされたもので、短゛1己i
レイタロレンスの焦点距離を簡易に測定でき・する。拡
大鏡6でこれを観測しながら、基準円6の像がピンホー
ル4と一致するように調整する。
この時、被検レンズ1の焦点距■f(ンレ)に比べて、
テストチャート2からピンホール4の−までek1g/
が十分大きい場合は次式が成立つ。
1= fl    篭11 D、dが一定であるから、!を測定すればfが求まる。
厳密にはレンズの主点間距1!t(図示1鼠 略)も考慮する必要があるので、チ” D−+4 ”’
−9とするべきであるが、!>1 なので111式のよ
うになる。
本発明の効果は、第1図から明らかなように1、ptt
ii定するのみであるから、測定装置全体が簡近似式を
使わない場合は、次の式が成立つ。
エオユ=ユ αb子 a+  B+t=4 上=A =6.61 7i[j 上の3つの式より 藍−Q足2 ”” (1−+b+ e−f      121暑−コ
Oコ、b−zoコ、t−i、  −xts、−をIll
 m (21に代入してfを求めると(1)式より  
 f −203 1式より    f−コ となって、本発明の方法で十分目的を達することができ
ることが判る。
なお、被検レンズ1の焦点距1を測定するのに、鯵11
i1のように基準円3を用いるが、第illのピンホー
ルと拡大鏡の代りに第2図のようにイメージ7アイパ7
を用いることもできる。
以上のように本発明の焦点距離測定方法は短焦点距■の
レンズの測定には極めて有効な方法で焦点距離測定装置
に適用できる。
【図面の簡単な説明】
第111Iは本発明の焦点距離測定方法の一実施例説明
図、第8図は他の実施例説明図である。 1−被検レンズ、2−・テストチャート、S−基準円、
4−ピンホール、5−・ピンホール4のあるー、6−拡
大鏡、7−・イメージファイバ、p−基中一一、径、′
−−ビンホールの径。 ア1図 72図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 t 被検マイクロレンズの両側に、それぞれ基準円の像
    を有するテストチャートとピンホール面とを配し、前記
    被検レンズで前記基準円の像を前記ピンホール面にピン
    ホールと一致して結像せしめた時のテストチャートとピ
    ンホール面の距離!、基準円の径りとピンホールの径d
    とより測定することを特徴とするマイクロレンズの焦点
    距離測定方法。 2 基準円の径りとピンホールの径dとの結像倍率らを
    できるだけ小さくして測定するこ°許請求の範11fl
    */項または第2111記載のマイクロレンズの焦点距
    離測定方法。
JP2446282A 1982-02-19 1982-02-19 マイクロレンズの焦点距離測定方法 Granted JPS58142242A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140146903A (ko) * 2013-06-18 2014-12-29 주식회사 엘지화학 마이크로렌즈의 초점 거리 측정 방법 및 초점 거리 측정 장치
JP2018077461A (ja) * 2016-09-29 2018-05-17 株式会社ミツトヨ 焦点監視及び制御を用いた可変焦点距離レンズシステム

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KR20140146903A (ko) * 2013-06-18 2014-12-29 주식회사 엘지화학 마이크로렌즈의 초점 거리 측정 방법 및 초점 거리 측정 장치
JP2018077461A (ja) * 2016-09-29 2018-05-17 株式会社ミツトヨ 焦点監視及び制御を用いた可変焦点距離レンズシステム

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JPH03568B2 (ja) 1991-01-08

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