JPS58129345A - 溶存酸素の除去法 - Google Patents
溶存酸素の除去法Info
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- JPS58129345A JPS58129345A JP1154582A JP1154582A JPS58129345A JP S58129345 A JPS58129345 A JP S58129345A JP 1154582 A JP1154582 A JP 1154582A JP 1154582 A JP1154582 A JP 1154582A JP S58129345 A JPS58129345 A JP S58129345A
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- dissolved oxygen
- aqueous solution
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- deoxidizing
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/28—Electrolytic cell components
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は水溶液中の溶存酸素の除去法に係り、特に、流
通式で電気化学分析法に用いる試料、液体クロマトグラ
フ法の溶ｌＩｌ液、金塊の防食に好適な水溶液中の溶存
酸素の除去法に関する。
通式で電気化学分析法に用いる試料、液体クロマトグラ
フ法の溶ｌＩｌ液、金塊の防食に好適な水溶液中の溶存
酸素の除去法に関する。
従来、腐食実験や液体クロマトグラフ法では水溶液中の
溶存＃＊の除去に真空脱気法、加熱法、不活性ガスバブ
リング法等の機械的方法を用いており、又電気化学分析
法では還元性溶液を添加する化学的方法によっている。
溶存＃＊の除去に真空脱気法、加熱法、不活性ガスバブ
リング法等の機械的方法を用いており、又電気化学分析
法では還元性溶液を添加する化学的方法によっている。
機械的方法は脱気装置が大型になり、化学的方法は溶液
の性状が変化するとともにいずれも間欠的であるという
欠点がめる。又、Ａ、ＴＲ０ＪＡ’ＮＥＫ等によって無
酸素の窒素ガス雰囲気におかれたシリコンゴムチューブ
内を供試料溶液を流通しなから溶存酸素を連続的に除去
する方７法が発表されている。（人ｎａｌ。
の性状が変化するとともにいずれも間欠的であるという
欠点がめる。又、Ａ、ＴＲ０ＪＡ’ＮＥＫ等によって無
酸素の窒素ガス雰囲気におかれたシリコンゴムチューブ
内を供試料溶液を流通しなから溶存酸素を連続的に除去
する方７法が発表されている。（人ｎａｌ。
Ｃｈｉｍ４ｃｔａ、 １，２１．２３−２８ （１９８
０） ） コの方法は不活性ガス甲のｒＩｋ素の除去や
ボンベの設置など除去装置が大型になる欠点がある。
０） ） コの方法は不活性ガス甲のｒＩｋ素の除去や
ボンベの設置など除去装置が大型になる欠点がある。
このため、溶液の性状をそこなわずに簡便に水溶液中の
溶存酸素全連続的に除去できる方法があれは好都合であ
る。
溶存酸素全連続的に除去できる方法があれは好都合であ
る。
本発明の目的は供試料水溶液の性状をそこなわずに、連
続的かつ簡便に溶存酸素を除去する方法１に提供するこ
とにある。
続的かつ簡便に溶存酸素を除去する方法１に提供するこ
とにある。
ヘンリーの法則によｎＶ！、−足の温度で一定量の成体
に＃解する気体の質量はその気体の分圧に比例すること
が知られている。従って、水溶液中に溶解している１ｉ
ＩＩ素（気体）を除去するためには液体と接触している
気体の分圧（濃度）を小さくすれはよいことになる。即
ち、供試料水溶液と不活性カスで機うことである程度こ
の目的が達成される。一方、烏分子膜のなかで水分子は
移動しないがカス状分子を通過式せる四フッ化エチレン
膜のような多孔性疎水ｍがある。この疎水膜で供試料を
橿いさら罠疎水膜の周囲を無酸素カス又は溶液で包むこ
とでも供試料中の溶存ｔ＆素は除去さｎる。この原理に
基っくものとしては無酸素ｉｉ！素ガス中ｙｃ＊かｎた
シリコンカムチュー１ＦＦ３を試料を流通させて連続的
に溶存酸素を除去する方法や隔膜式溶存酸素分析計かめ
る。本発明は、還元剤で水浴液中の溶存酸素２還元した
浴存酸素撫度が零の水溢赦甲と供Ｋｌ＋水ｆＩｔ液を四
フン化エチレンのような多孔性疎水膜を介して接触させ
ることで供試料水溶液中の溶存酸素を還元性溶液中に移
動させながら除去することを可能にするものである。
に＃解する気体の質量はその気体の分圧に比例すること
が知られている。従って、水溶液中に溶解している１ｉ
ＩＩ素（気体）を除去するためには液体と接触している
気体の分圧（濃度）を小さくすれはよいことになる。即
ち、供試料水溶液と不活性カスで機うことである程度こ
の目的が達成される。一方、烏分子膜のなかで水分子は
移動しないがカス状分子を通過式せる四フッ化エチレン
膜のような多孔性疎水ｍがある。この疎水膜で供試料を
橿いさら罠疎水膜の周囲を無酸素カス又は溶液で包むこ
とでも供試料中の溶存ｔ＆素は除去さｎる。この原理に
基っくものとしては無酸素ｉｉ！素ガス中ｙｃ＊かｎた
シリコンカムチュー１ＦＦ３を試料を流通させて連続的
に溶存酸素を除去する方法や隔膜式溶存酸素分析計かめ
る。本発明は、還元剤で水浴液中の溶存酸素２還元した
浴存酸素撫度が零の水溢赦甲と供Ｋｌ＋水ｆＩｔ液を四
フン化エチレンのような多孔性疎水膜を介して接触させ
ることで供試料水溶液中の溶存酸素を還元性溶液中に移
動させながら除去することを可能にするものである。
さらに、供試料水溶液中の溶存酸素を連続的に除去する
ためには、亜硫酸塩溶液、亜硫酸水素塩浴液、ヒトラジ
ウム塩溶液、第一バナジウム塩溶液等で溶存酸素を還元
した還元性溶液中に四フッ化エチレン展のような多孔性
疎水膜のチューブ内を供試料を流通させながら供試料中
の溶存酸素を還元性溶液中に移動させることが可能にな
る。
ためには、亜硫酸塩溶液、亜硫酸水素塩浴液、ヒトラジ
ウム塩溶液、第一バナジウム塩溶液等で溶存酸素を還元
した還元性溶液中に四フッ化エチレン展のような多孔性
疎水膜のチューブ内を供試料を流通させながら供試料中
の溶存酸素を還元性溶液中に移動させることが可能にな
る。
以下、本発明の一誕施例ｔ−第１図により説明する。＃
！１図°において、１は還元性溶液（０，２％亜ｖｔ酸
す） ＩＪウム溶液）、２は還元浴液送液ポンプ、３は
説＆素槽、４は多孔性疎水膜チューブ（ＧＯＲ−ＴＥＸ
、内径１■、長さ１ｍ）、５は試料水溶液、６は試料供
給ポンプ、７は溶存酸素計、８はステンレスパイプ、９
は説＃Ｉ！累水溶液である。
！１図°において、１は還元性溶液（０，２％亜ｖｔ酸
す） ＩＪウム溶液）、２は還元浴液送液ポンプ、３は
説＆素槽、４は多孔性疎水膜チューブ（ＧＯＲ−ＴＥＸ
、内径１■、長さ１ｍ）、５は試料水溶液、６は試料供
給ポンプ、７は溶存酸素計、８はステンレスパイプ、９
は説＃Ｉ！累水溶液である。
還元性溶液ｌは還元溶液送液ポンプ２で＠＆素櫓３に連
続的に送る。次に、試料水＃！液５ｔ−賦科供給ボンブ
６で脱ｒＲ累！１１３の中におかれた多孔性疎水１１１
ｆユ−フ４、浴存酸紮計７、ステンレスバイブ８に送液
すると脱酸素水＃Ｉｇが連続的に生成される。また、試
料水溶液５中の溶存酸素は、脱酸素槽３で還元性浴液１
と多孔性疎水膜４を介して接触き１ているので、無ＩＩ
！累の還元性溶液ｌ中に移動するとともに還元されるこ
とから脱酸素水溶ａ９を連続的に得ることができる。
続的に送る。次に、試料水＃！液５ｔ−賦科供給ボンブ
６で脱ｒＲ累！１１３の中におかれた多孔性疎水１１１
ｆユ−フ４、浴存酸紮計７、ステンレスバイブ８に送液
すると脱酸素水＃Ｉｇが連続的に生成される。また、試
料水溶液５中の溶存酸素は、脱酸素槽３で還元性浴液１
と多孔性疎水膜４を介して接触き１ているので、無ＩＩ
！累の還元性溶液ｌ中に移動するとともに還元されるこ
とから脱酸素水溶ａ９を連続的に得ることができる。
第２図は一実施例による溶存酸素の除去効果を示す図で
ある。空気の飽和水溶液である供試料水溶液５（溶存酸
素８．４ｐｌ）ｍ％ ２３Ｃ）を第１図の一実施例の試
料供給ポンプ６での流量を０．５〜３ｍｔＺ分の範囲で
変化させ、溶存徹素計７で流出液の酸素濃ｆｔ測定し九
結果である。流量が０．５ ｍ １１分で初期濃度が＆
４ｐｍ）ｍでめる溶存酸素がＯ５９ｐｍの脱酸素水９が
得られることが分る。なお、流量を低くする代りに多孔
性疎水膜チューブの長さを長くしても同様に溶存酸素の
除去率を高めることができる。
ある。空気の飽和水溶液である供試料水溶液５（溶存酸
素８．４ｐｌ）ｍ％ ２３Ｃ）を第１図の一実施例の試
料供給ポンプ６での流量を０．５〜３ｍｔＺ分の範囲で
変化させ、溶存徹素計７で流出液の酸素濃ｆｔ測定し九
結果である。流量が０．５ ｍ １１分で初期濃度が＆
４ｐｍ）ｍでめる溶存酸素がＯ５９ｐｍの脱酸素水９が
得られることが分る。なお、流量を低くする代りに多孔
性疎水膜チューブの長さを長くしても同様に溶存酸素の
除去率を高めることができる。
第１表は一実施例による別の効果を示す図である。純水
からなる供試料水溶液全第１図実施例により４た脱酸素
水９を分析した結果である。
からなる供試料水溶液全第１図実施例により４た脱酸素
水９を分析した結果である。
１１１表
分析し九Ｎ ａ” ｍ Ｂｏａ”−ｅ ８０ｍ”−ｉイ
ずし４０．０１ｐｐｍ以下であり、還元性溶液１（０，
２％亜硫酸水溶液）から脱酸素水溶液の混入Ｆｉないこ
とが分る。
ずし４０．０１ｐｐｍ以下であり、還元性溶液１（０，
２％亜硫酸水溶液）から脱酸素水溶液の混入Ｆｉないこ
とが分る。
本実施例によれは、供試料水溶液の性状をそこなわずに
連続的に脱酸素水を得ることができる。
連続的に脱酸素水を得ることができる。
本発明によれば、供試料水溶液の性状をそこなわずに脱
酸素溶液を連続的に得ることができるので、電気化学反
応における試料の脱酸素、液体クロマトグラフィーにお
ける溶離液の脱気、腐食実験に用いる水溶液の脱酸素が
容易に行う効果がある。
酸素溶液を連続的に得ることができるので、電気化学反
応における試料の脱酸素、液体クロマトグラフィーにお
ける溶離液の脱気、腐食実験に用いる水溶液の脱酸素が
容易に行う効果がある。
さらに、脱酸素水を任意の長さの多孔性疎水膜を通すこ
とで任意の酸素員度の水溶液を得ることができる効果が
める。
とで任意の酸素員度の水溶液を得ることができる効果が
める。
第１図は本発明の一実施例を示す図、第２図は一実施例
の効果を示す図である。 １・・・還元性溶液、２・・・還元溶液送液ポンプ、３
・・・脱酸素槽、４・・・多孔性疎水膜チューブ、５・
・・試料水溶液、６・・・試料供給ポンプ、７・・・溶
存酸素計、め１の 萬２母 遭 量 （〃糺Ｊシ９９・）
の効果を示す図である。 １・・・還元性溶液、２・・・還元溶液送液ポンプ、３
・・・脱酸素槽、４・・・多孔性疎水膜チューブ、５・
・・試料水溶液、６・・・試料供給ポンプ、７・・・溶
存酸素計、め１の 萬２母 遭 量 （〃糺Ｊシ９９・）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、水ｆｆｉ液中の溶存酸素の除去法において、供試料
水溶液と低濃度溶存酸素水溶ＷＬｔ−多孔性疎水膜倉介
して接触させることを％徴とする溶存酸素の除去法。 ２、、％許精求の範囲第一項において、低濃度溶存酸素
水浴液中におかｎた多孔性疎水膜からなるチューブ中を
供試料水溶液を流通させること１に％黴とする溶存酸素
の除去法。 ３、％ｒｆ請求の範囲第一項において、低濃度溶存酸素
水溶液として亜硫酸塩溶液、亜硫酸水素塩溶液、ヒトラ
ジウム溶液、第一バナジン酸塩溶液等の還元性溶液を用
いることを％徴とする溶存酸素の除去法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1154582A JPS58129345A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 溶存酸素の除去法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1154582A JPS58129345A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 溶存酸素の除去法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58129345A true JPS58129345A (ja) | 1983-08-02 |
Family
ID=11780926
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1154582A Pending JPS58129345A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 溶存酸素の除去法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58129345A (ja) |
-
1982
- 1982-01-29 JP JP1154582A patent/JPS58129345A/ja active Pending
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