JPS58129270A - Inspecting device for wiring of printed wiring board - Google Patents

Inspecting device for wiring of printed wiring board

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JPS58129270A
JPS58129270A JP57010859A JP1085982A JPS58129270A JP S58129270 A JPS58129270 A JP S58129270A JP 57010859 A JP57010859 A JP 57010859A JP 1085982 A JP1085982 A JP 1085982A JP S58129270 A JPS58129270 A JP S58129270A
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JP
Japan
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light emitting
connection
terminal
printed wiring
wiring board
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Application number
JP57010859A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeru Yoda
依田 茂
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Casio Computer Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS58129270A publication Critical patent/JPS58129270A/en
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/67Testing the correctness of wire connections in electric apparatus or circuits

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

PURPOSE:To check erroneous wirings easily and surely by inserting connector pins for connection into the holes of printed board for mounting of electronic parts and controlling optical displaying. CONSTITUTION:Connector pins for connection of an inspecting device 1 for wiring is inserted into the holes of a printed board 5 for mounting of parts such as terminals 6a, 6f, 6j to be connected to a ground line GND. Similarly, the connector pins for connection are also inserted into parts holes such as terminals 6e, 6i, 6m to be connected to a power source line VDD. Further, a common connector 3 for the device 1 is connected to the pinholes of the connector pins to be connected to the terminals 6e, 6i, 6m, etc. When in this state the +, - sides of a DC power source are respectively connected to the terminals 6a, 6e, the disconnected part of the line GND is detected by putting out of LEDs 2f, 2j, etc. and the shorting between the line GND and signal lines L1, L2 by lighting of LEDs 2b, 2c-, etc. Similarly, the respective lines are detected and the erroneous wirings of the printed board is checked easily and surely.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、プリシト線基板の配線検査装置に関する。[Detailed description of the invention] The present invention relates to a wiring inspection device for pre-selected wiring boards.

従来、プリント配線基板上に結線された銅箔ティン(配
線)をチェックするには回路テスタあるいはオシロスコ
ープが使用されている。しかして、回路テスタによる前
記ラインのチェックは2点間のラインの導通、非導通、
抵抗値等がチェックできるものの、前記フィンが他のラ
インにシ曹−トしている場合であっても上記2点間は導
通として検査されるため、シ曹−トのチェックができな
い欠点があった。さらに、2点間のチェック作業しかで
きないのでチェツタ作業に手間がかかり面倒であった。
Conventionally, a circuit tester or an oscilloscope has been used to check copper foil tin (wiring) connected on a printed wiring board. Therefore, the circuit tester checks the line between two points for continuity or non-continuity.
Although the resistance value etc. can be checked, even if the fin is connected to another line, the connection between the two points is tested as continuity, so there is a drawback that the connection cannot be checked. Ta. Furthermore, since checking can only be performed between two points, checking is time consuming and troublesome.

他方、オシ四スコープによってラインをチェックする場
合は、プリシト配線基板に電子部品を接続した後、所定
の電圧を印加して各ラインの電圧波形のチェックを行な
っている。この場合、ラインがシ璽−ト等の談配線にな
っていると、電子部品に許容以上の電流が流れて電子部
品が破損する欠点があった。更に、前記ラインのシ璽−
ト等があった場合にはプリント配線基板の電子部品だけ
でなく、1を源回路あるいはオシロスコープ内部の1路
に過大電流が流れて破損をきたすおそれもあった。
On the other hand, when checking lines using an oscilloscope, the voltage waveform of each line is checked by applying a predetermined voltage after connecting electronic components to the printed circuit board. In this case, if the line is connected to a wire such as a sheet, a current exceeding the allowable amount may flow through the electronic component, causing damage to the electronic component. Furthermore, the seal on the line -
If there is a problem, an excessive current may flow not only in the electronic components of the printed wiring board but also in the source circuit or one path inside the oscilloscope, causing damage.

この発明は前記事情に基づいてなされたもので、その目
的とするところは、プリント配線基板に電子部品を接続
することなく、客易に且つ迅速に誤配線のチェックを行
うことができるプリント基板の配線検査装置を提供する
ことである。
This invention was made based on the above circumstances, and its purpose is to provide a printed circuit board that allows customers to easily and quickly check for incorrect wiring without connecting electronic components to the printed circuit board. An object of the present invention is to provide a wiring inspection device.

以下、この発明の一実施例につき第1図ないし第715
!Jに基づいて1m!明する。第1図は本願による配f
IiA検査装置1の外観斜視図を示し、この装置1はI
C(集1111回路)パッチージと同様の外型をなして
いる。すなわち、例えばセラミック等の絶縁材料によっ
て直方体に成形された装置本体l&の上−〇縦方向両個
部には夫々相財した一対の発光ダイオード2.2が所定
間隔ごとにその発光面を前記上−に表出させて埋設され
ている。また、装置本体1mの横方向−傭面からは接続
用電極端子としてのコモン接続ビン3が導出されている
。さらに装置本体1&の縦方向の′kllI1面には、
前記発光ダイオード2.2と夫々対応して一対の接続用
コネクタビン4.4が所定間隔ごとに設けられている・
このwI続用】ネクタビン4は導電性の金属付部には前
記コモン!!i2続ビン3を挿入するためのビン孔4&
が設けられている。
Hereinafter, FIGS. 1 to 715 will be explained regarding one embodiment of this invention.
! 1m based on J! I will clarify. Figure 1 shows the layout according to the present application.
A perspective view of an IiA inspection device 1 is shown, and this device 1 is an IiA inspection device 1.
It has the same external shape as the C (collection 1111 circuit) patchage. That is, a pair of light-emitting diodes 2.2 are placed at predetermined intervals at predetermined intervals on both the upper and vertical parts of the device main body L&, which is formed into a rectangular parallelepiped shape from an insulating material such as ceramic. − It is buried with the surface exposed. Further, a common connection pin 3 as a connection electrode terminal is led out from the lateral surface of the device main body 1m. Furthermore, on the vertical 'kllI1 surface of the device body 1&,
A pair of connecting connector pins 4.4 are provided at predetermined intervals, corresponding to the light emitting diodes 2.2, respectively.
Continuation of this wI] Nectabin 4 has a conductive metal attached part with the common! ! i2 Bin hole 4 & for inserting the connecting bottle 3
is provided.

第2図は配線検査装置の横断面図を示し1前記各発光ダ
イオード2の一方の電極は、対応する前記接続用コネク
タビン4に接続されている。さらに、各発光ダイオード
2の他方の電極はコモン接続ビン3に夫々導電部材によ
って接続されている。
FIG. 2 shows a cross-sectional view of the wiring inspection device, and one electrode of each of the light emitting diodes 2 is connected to the corresponding connector pin 4 for connection. Furthermore, the other electrode of each light emitting diode 2 is connected to the common connection bin 3 by a conductive member, respectively.

13図は、前記配線検査装置lの内部回路構成図を示し
、前記各接続用コネクタビン4は夫々対応する発光ダイ
オード2の7ノード電極2ムに接続され、各発光ダイオ
ード20カソード電極2Bは一括して相互に接続され、
さらにコモン接続ビン3へと電気的に接続されている。
FIG. 13 shows an internal circuit configuration diagram of the wiring inspection device 1, in which each of the connection connector bins 4 is connected to the 7-node electrode 2m of the corresponding light emitting diode 2, and the cathode electrode 2B of each light emitting diode 20 is connected at once. are interconnected and
Furthermore, it is electrically connected to the common connection bin 3.

第4図は、配線検査装置lによって配線の検査が行なわ
れるプリント配線基板5を示している。
FIG. 4 shows a printed wiring board 5 whose wiring is inspected by the wiring inspection device l.

すなわち、プリント配線基板5の所定位置にはICを取
付けるための電子部品取付部5ax5bx5oが設けら
れており、これら取付部5ax5に+、5・には夫々、
ICを取付けるための取付孔6.6が設けられている。
That is, electronic component mounting portions 5ax5bx5o for mounting ICs are provided at predetermined positions on the printed wiring board 5, and these mounting portions 5ax5 and 5.
A mounting hole 6.6 is provided for mounting an IC.

しかしてプリント配線基板の配線検査時には各取付孔6
には前記配線検査装置lの各接続用コネクタビン4が挿
入されるもので、即ち、各電子部品取付部5&、5b1
5・には配線検査装置1が夫々装着されるようになって
いる。そして配線検査装置1が装着された状態でプリン
ト配線基板50GND (グランド)9インと、電源電
圧が印加されるVDDツインと、信号ラインとが正しい
配線であるか否かをチェックするものである。
However, when inspecting the wiring of a printed wiring board, each mounting hole 6
into which are inserted the connector pins 4 for each connection of the wiring inspection device l, that is, each electronic component mounting portion 5&, 5b1.
The wiring inspection device 1 is attached to each of the terminals 5 and 5. Then, with the wiring inspection device 1 attached, it is checked whether the wiring of the printed wiring board 50GND (ground) 9in, the VDD twin to which the power supply voltage is applied, and the signal line is correct.

85図ないし第7図はプリント配線基板5の配線ツイン
をチェックする場合の回路構成図を示しており、プリン
ト配線基板5の電子部品取付部5aS5’b、l・の各
取付孔6には図中一点鎖線によって示す配S検査装置1
.1.1の各接続用コネクタビン4が挿入される。そし
て、プリント配線基板5の各取付孔6の端子6&〜6m
開に結線されたラインの検査を行うものとする。この場
合、プリント配線基板6には図中一点鎖線によって囲ま
れた符号7によって示すようなプリント配線が施されて
いる。すなわち、端子6&、6tz 6Jは相互に接続
されてGND9インとなっており、また、端子6 s 
% 61.6 thは相互に接続されてVDDラインと
なっており、また、端子6bと端子6に、端子6Oと端
子6h、端子6dと端子6gと端子6ノとは夫々相互に
接続され対応して信号フィンL1、L、 、L、として
夫々配線されている・ここで、配線検査装置1.1.1
の各発光ダイオード2を端子6&〜6mと対応ずけて発
光ダイオード2&〜2mと称することにする。しかして
、第5図はプリント配線基板5に配線された各ツインの
うちGNDラインのチェックを行う場合の回路構成図を
示したものである。この場合、前記配線検査装置1’、
1.1の各コモン接続ビン1を夫々対応してVDDライ
ンと電気的に接続された接続用コネクタビン4のビン孔
4aに挿入する。一方、直流の検査用の電源8の接地さ
れたマイナス電極を接点6・と接続し、プラス電極を端
子6&に接続された接続用コネクタビン4とMP続する
85 to 7 show circuit configuration diagrams for checking the wiring twin of the printed wiring board 5, and each mounting hole 6 of the electronic component mounting portion 5aS5'b, l of the printed wiring board 5 has a diagram. Distribution S inspection device 1 shown by the dot-dash line
.. The connector pins 4 for each connection of 1.1 are inserted. Terminals 6&~6m of each mounting hole 6 of the printed wiring board 5
Openly connected lines shall be inspected. In this case, the printed wiring board 6 is provided with printed wiring as indicated by the reference numeral 7 surrounded by a chain line in the figure. That is, terminals 6&, 6tz 6J are connected to each other to become GND9 in, and terminal 6s
% 61.6 th are connected to each other to form a VDD line, and terminals 6b and 6, terminals 6O and 6h, terminal 6d, terminal 6g, and terminal 6no are connected to each other and correspond to each other. and are wired as signal fins L1, L, , L, respectively.Here, the wiring inspection device 1.1.1
Each of the light emitting diodes 2 will be referred to as light emitting diodes 2 and 2m in correspondence with the terminals 6 and 6m. FIG. 5 shows a circuit configuration diagram when checking the GND line of each twin wired on the printed wiring board 5. In this case, the wiring inspection device 1',
1. Each common connection bin 1 of 1 is inserted into the corresponding bin hole 4a of the connection connector bin 4 electrically connected to the VDD line. On the other hand, the grounded negative electrode of the power source 8 for DC testing is connected to the contact 6. The positive electrode is connected to the connecting connector pin 4 connected to the terminal 6&.

この結果、電R8、発光ダイオード2&、コモン接続ビ
ン3、端子・・、電源8による閉回路と、電[1!、G
NDツイン、発光ダイオード2tsコ毫ン接続ビン3、
端子@i、VDDツイン、電源8による閉回路と、電源
I GNDライン、発光ダイオード2t1コモン接続ビ
ン3、端子6鳳、VDDライン、電H$による閉回路が
構成される。
As a result, a closed circuit is formed by the power R8, the light emitting diode 2&, the common connection bin 3, the terminal..., the power supply 8, and the power [1! ,G
ND twin, light emitting diode 2ts connection bin 3,
A closed circuit is formed by the terminal @i, the VDD twin, the power supply 8, the power supply I GND line, the light emitting diode 2t1 common connection bin 3, the terminal 6, the VDD line, and the power supply H$.

それ故、発光ダイオード2m、2t、2Jがすべて点燈
した場合はGNDラインは導通していると判断される。
Therefore, when the light emitting diodes 2m, 2t, and 2J are all lit, it is determined that the GND line is conductive.

また、発光ダイオード2 m 、2 fが点燈し、発光
ダイオード2jが清澄している場合は、端子@fと端子
6j閏のGNDラインは断線していると判断される。ま
た、発光ダイオード2aが点燈し1発゛光ダイオード2
f、2Jが清澄イオーFが点燈した場合にはGNDツイ
ンが他のツインとシ璽−卜していると判断される。たと
えば発光ダイオード2kが点燈した場合には、端子6o
と端子6h間の信J#ティンL、がシ曹−シしていると
判断される。さらに、点燈した発光ダイオード21L、
2ts 2Jの明るさによってGNDラインの導通状態
も判断することができる。
Further, when the light emitting diodes 2 m and 2 f are lit and the light emitting diode 2 j is clear, it is determined that the GND line between the terminal @f and the terminal 6 j is disconnected. In addition, the light emitting diode 2a lights up once and the light emitting diode 2
When the Kiyosumi Io F lights up on f and 2J, it is determined that the GND twin is in alignment with the other twin. For example, when the light emitting diode 2k lights up, the terminal 6o
It is determined that the communication between terminals 6h and 6h is in communication. Furthermore, the light emitting diode 21L turned on,
The conduction state of the GND line can also be determined based on the brightness of 2ts 2J.

第6図はプリント配線基板5のVDDラインのチェック
を行う場合の回路構成図を示したものである。この場合
は、配線検査装置1.1.1の各コモン接続ビン3を夫
々対応してGNDツインと電気的に接続された接続用コ
ネクタビン4のビン孔4aに挿入する。一方、電源8の
マイナス電極を接点6&に、プラス電極を端子6・と電
気的に接続された接続用コネクタビン4に夫々接続する
FIG. 6 shows a circuit configuration diagram when checking the VDD line of the printed wiring board 5. In this case, each common connection bin 3 of the wiring inspection device 1.1.1 is inserted into the corresponding bin hole 4a of the connection connector bin 4 electrically connected to the GND twin. On the other hand, the negative electrode of the power source 8 is connected to the contact 6&, and the positive electrode is connected to the connecting connector pin 4 electrically connected to the terminal 6.

この結果、GNDラインはGNDレベルに、vDDライ
ンは一定電圧に印加され、電源、8、発光ダイオード2
・、コモン接続ビン3、端子6a1電1ggによる閉回
路と、電$8、vDDライン、発光ダイオード21、コ
モン111続ビン3、端子@1゜GNDティン、電源8
による閉回路と、電源$、VDDライン、発光ダイオー
ド2W1、コモン111続ビン3、端子6 J SG 
N D 54 ン、m1lli ニヨル閉回路が構成さ
れる。
As a result, the GND line is applied to the GND level, the vDD line is applied to a constant voltage, and the power supply 8 and the light emitting diode 2
・, common connection bin 3, terminal 6a1 closed circuit with power 1gg, voltage $8, vDD line, light emitting diode 21, common 111 connection bin 3, terminal @1゜GND tin, power supply 8
Closed circuit with power supply $, VDD line, light emitting diode 2W1, common 111 connected bin 3, terminal 6 J SG
A closed circuit is constructed.

しかして、発光ダイオード2・、2J、2朧がすべて点
燈している場合はVDDラインは導通していると判断さ
れる。また、発光ダイオード2・、2jが点燈し、発光
ダイオード2鳳が清澄している場合は、端子6iと端子
6腸閣のVDDラインは断線していると判断される。ま
た、発光ダイオード2・が点燈し、発光ダイオード2J
、2mが消燈している場合は端子6・と端子61との間
のVDDラインが断線していると判断される・また)発
光ダイオード2・、24,2m以外の発光ダイオードが
点燈している場合は、その発光ダイオードが接続された
ラインとVDD9インとがシロートしていると判断され
る。
Therefore, if the light emitting diodes 2., 2J, and 2.0 are all lit, it is determined that the VDD line is conductive. Further, when the light emitting diodes 2 and 2j are lit and the light emitting diode 2 is clear, it is determined that the VDD line between the terminal 6i and the terminal 6 is disconnected. In addition, light emitting diode 2. lights up, and light emitting diode 2J lights up.
, 2m is off, it is determined that the VDD line between terminal 6 and terminal 61 is disconnected. Also, if the light-emitting diodes other than light-emitting diode 2, 24, and 2m are lit. If so, it is determined that the line to which the light emitting diode is connected and VDD9 in are short.

第7図はプリント配線基板5の信号ラインのチェックを
行う場合の回路構成図を示したものである。この場合、
配線検査装置1.1.1の各コモン接続ビン3を夫々対
応してGNDラインと電気的に11!続された接続用コ
ネクタビン4のビン孔4aに挿入する。一方、電源$の
マイナス電極を端子6&に接続する。そして、端子6a
、111g56Iを相互に接続した偏量ラインL、をチ
ェックする場合は、電源8のプラス電極を端子6直と電
気的に接続された接続用コネクタビン4に接続する。
FIG. 7 shows a circuit configuration diagram when checking the signal lines of the printed wiring board 5. in this case,
Each common connection bin 3 of the wiring inspection device 1.1.1 is electrically connected to the GND line 11! Insert into the via hole 4a of the connected connector vial 4. On the other hand, connect the negative electrode of the power source $ to terminal 6&. And terminal 6a
, 111g56I, the positive electrode of the power source 8 is connected to the connecting connector pin 4 electrically connected to the terminal 6.

この結果、GNDラインはGNDレベルに、信号ティン
L、には電源8の電圧が印加され、電源8、発光ダイオ
ード2通、コモン接続ビン3、端子61、電源8による
M回路と、電ms、信号ラインL1、発光ダイオード2
J、コモンJ1[ビン3、端子6f、GNDライン、電
aSにょるM回路と、電源8、信号ティンLい発光ダイ
オード2j1コモン接続ビン3、端子6JSGNDテイ
ン、電源8による閉回路が構成される。
As a result, the GND line is at the GND level, the voltage of the power supply 8 is applied to the signal tin L, and an M circuit consisting of the power supply 8, two light emitting diodes, the common connection bin 3, the terminal 61, and the power supply 8, and the voltage ms, Signal line L1, light emitting diode 2
J, common J1 [bin 3, terminal 6f, GND line, M circuit with power aS, power supply 8, signal tin L light emitting diode 2j1 common connection bin 3, terminal 6JSGND tin, power supply 8 constitute a closed circuit. .

それ故、発光ダイオード2t、2Jq zjがすべて点
燈している場合は信号ティンL、は導通していると判断
される。また、発光ダイオード2櫨、2jが点燈し、発
光ダイオード2Jが清澄している場合は、端子6jと端
子6j間の信号ティンLsが断線していると判断される
。また、発光ダイオード2礁が点燈し、発光ダイオード
2J、21が清澄している場合は、端子6櫨と端子6J
関の信号ラインL、が断線していると判断される0亥だ
、発光ダイオード21% 2J% 21以外の発光ダイ
オードが点量している場合は、その発光ダイオードが接
続されたツインとVDDラインとがシ璽−トしていると
判断される。同様に、信号41tq−t’sをチェック
する場合には電源8のプラス電極を夫々対応して端子6
に+s6oと電気的に接続されたtiI続用コネクタビ
ン4に接続し、夫★発光ダイオード2に、2にの表示を
目視することにより行なわれる。
Therefore, when the light emitting diodes 2t and 2Jq zz are all lit, it is determined that the signal ting L is conductive. Further, when the light emitting diodes 2 and 2j are lit and the light emitting diode 2J is clear, it is determined that the signal line Ls between the terminals 6j and 6j is disconnected. In addition, when light emitting diode 2 is lit and light emitting diodes 2J and 21 are clear, terminal 6 and terminal 6J
It is determined that the signal line L of the connection is disconnected.If the light emitting diode other than 21% 2J% is lit, the twin to which that light emitting diode is connected and the VDD line. It is determined that the seal is stamped. Similarly, when checking the signal 41tq-t's, connect the positive electrode of the power supply 8 to the corresponding terminal 6.
This is done by connecting to the tiI connection connector pin 4 which is electrically connected to +s6o, and visually observing the display at 2 on the light emitting diode 2.

なお、前記実施例においては電源8のマイナス電極をコ
モン接続ビン3と電気的に接続された端子に接続する構
成としたが、コモン接続ビン3に直接接続しても良い。
In the above embodiment, the negative electrode of the power source 8 is connected to a terminal electrically connected to the common connection bin 3, but it may be directly connected to the common connection bin 3.

また、電源8のプラス電極及びマイナス電極の配線基板
への接続個所の蛮更や発光ダイオードの発光状態のチェ
ックを自動的に行なうようにすればプリント配線の検査
を自動化することができる。この場合配線検査装置1の
プリント基板への着脱をも自動化すればさらに完全なも
のとなる。tた、前記実施例においては発光素子として
発光ダイオードを使用したが、これ配線検査装に1とは
別体に設けたが、配線検査装[1に1体に組み込んでも
よい。
Further, by automatically checking the connection points of the positive and negative electrodes of the power source 8 to the wiring board and the light emitting state of the light emitting diodes, it is possible to automate the inspection of the printed wiring. In this case, it will be more complete if the attachment and detachment of the wiring inspection device 1 to and from the printed circuit board is also automated. In addition, in the above embodiment, a light emitting diode was used as a light emitting element, and although it was provided separately from the wiring inspection device 1, it may be incorporated into the wiring inspection device [1].

以上説朋したようにこの発明はプリント配m基板に形成
された電子部品取付孔に挿入されるIM用コネクタピン
と、この接続用コネクタピンに対応して設けられ、前記
接続用コネクタビンに一方の電極が電気的に接続される
光学的表示素子と、この光学的表示素子の他方の電極に
電気的に接続される接続用電極端子とを備えて構成した
から、プリント配線基板に電子部品を接続することなく
、課配線のチェックを行うことができるので、チェック
作業によって電子部品が破損することがない。
As explained above, the present invention is provided with an IM connector pin to be inserted into an electronic component mounting hole formed on a printed wiring board, and one of the IM connector pins provided in the connection connector pin in correspondence with the connection connector pin. Since the structure includes an optical display element to which an electrode is electrically connected and a connecting electrode terminal that is electrically connected to the other electrode of this optical display element, electronic components can be connected to the printed wiring board. Since the section wiring can be checked without having to do anything, electronic components will not be damaged by the checking work.

また、ICのリードが取付けられる電子部品取付孔に接
続用コネクタビンを装着して低電圧、例えば1.5vの
電池電圧を印加するだけで談配線のチェックを一括して
行うことができるので、チェック作業が各易であり、か
つチェック時間のamを図ることができる。また、課配
隷のチェックは断線の検査と併せて配MA5&lのシ曹
−トをも検査で會る利点がある。また、回路テスタ、オ
シロスコープなどに比して低価格であり、製作も簡単で
ある〇また、発光素子の表示によって光学的にチェック
されるから、検査が一単かつ明確であり1誤チエツクを
防止できる。更に、プリント配線の回路図面と対照させ
て発光素子の表示によるチェックを行なうか、ホトトラ
ンジスタ等を用いて自動的にチェックすれば良いから、
集中的にチェックができ、チェック作業者の負担を軽減
できるなどの利点がある。
In addition, you can check wiring all at once by simply attaching a connector pin to the electronic component mounting hole where the IC lead is attached and applying a low voltage, for example, 1.5V battery voltage. The checking work is easy and the checking time can be reduced. In addition, when checking the section and staff, there is an advantage that the seat of MA5&l is also inspected in addition to the inspection for disconnection. In addition, it is cheaper than circuit testers, oscilloscopes, etc., and it is easy to manufacture.In addition, since it is checked optically by the display of the light emitting element, the inspection is simple and clear, and one false check is prevented. can. Furthermore, you can check the display of the light emitting elements by comparing it with the circuit diagram of the printed wiring, or you can check automatically using a phototransistor, etc.
It has the advantage of being able to perform checks in a concentrated manner and reducing the burden on the checker.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の配線検査装置の一実施例を示す斜視
図、第2図は配線検査装置の横断面図、#l!!3図は
配線検査装置の内部回路構成図、第4図はプリント配線
基板の斜視図、#Is図はプリント配置[基板のG)J
Dラインをチェックする場合の回路I11成図、第6図
はプリン)配線基板のVDDラインをチェックする場合
の回路構成図、第7図はプリント配線基板の信号ライン
をチェックする場合のIgllF+構成図である。 1・・・・・・配S検査装置、2・・・・・・発光ダイ
オード、3・・・・・・コモン接続ビン、4・・・・・
・接続用コネクタビン、4&・・・・・・ビン孔、ト・
・・・・プリント配線基板、5a〜50・・・・・・電
子部品取付部。 特許出願人  カシオ計算機株式金社 第1図 第2図 第3図
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the wiring inspection device of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view of the wiring inspection device. ! Figure 3 is an internal circuit configuration diagram of the wiring inspection device, Figure 4 is a perspective view of the printed wiring board, and #Is diagram is the printed layout [G) J of the board.
Circuit I11 diagram when checking the D line, Figure 6 is a circuit configuration diagram when checking the VDD line of the printed circuit board, and Figure 7 is an IgllF+ configuration diagram when checking the signal line of the printed wiring board. It is. 1... Distribution S inspection device, 2... Light emitting diode, 3... Common connection bin, 4...
・Connector pin for connection, 4 &...bin hole, t・
...Printed wiring board, 5a to 50...Electronic component mounting section. Patent applicant: Casio Computer Co., Ltd. Figure 1 Figure 2 Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】 プリント配線基板に彫威された電子部品取付孔に挿入さ
れる接続用コネクタピンと、この接続用コネクタビン夫
々に対応して設けられ前記!!i用コネクタビンに一方
の電極が電気的に接続される光学的表示素子と、この光
学的表示素子の他方の電極に電気的に接続される接続用
電極端子とを備え、 前記接続用コネクタピンと前記接続用電極端子との間に
電圧を印加して前記光学的表示素子を表示させ、プリシ
ト配線基板の配線状態を検査することを特徴とするプリ
ント配線基板の配線検査装置。
[Claims] A connector pin for connection inserted into an electronic component mounting hole carved into a printed wiring board, and a connector pin for connection are provided corresponding to each of the connector pins for connection, respectively. ! An optical display element having one electrode electrically connected to the i connector pin, and a connecting electrode terminal electrically connected to the other electrode of the optical display element, the connecting connector pin and A wiring inspection device for a printed wiring board, characterized in that a voltage is applied between the connecting electrode terminal and the optical display element to display a display, thereby inspecting the wiring state of the printed wiring board.
JP57010859A 1982-01-28 1982-01-28 Inspecting device for wiring of printed wiring board Pending JPS58129270A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8589743B2 (en) * 2011-11-23 2013-11-19 Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd. Double data rate signal testing assistant device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8589743B2 (en) * 2011-11-23 2013-11-19 Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd. Double data rate signal testing assistant device

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