JPS5812145Y2 - 熱ルミネッセンス線量測定装置 - Google Patents
熱ルミネッセンス線量測定装置Info
- Publication number
- JPS5812145Y2 JPS5812145Y2 JP1978084942U JP8494278U JPS5812145Y2 JP S5812145 Y2 JPS5812145 Y2 JP S5812145Y2 JP 1978084942 U JP1978084942 U JP 1978084942U JP 8494278 U JP8494278 U JP 8494278U JP S5812145 Y2 JPS5812145 Y2 JP S5812145Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- card
- heating
- calibration
- light source
- slider
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Description
【考案の詳細な説明】
本、考案は、放射線被曝線量を測定する熱ルミネツセン
ス線量測定装置に関するものである。
ス線量測定装置に関するものである。
放射線を被爆した熱ルミネツセンス素子（以下素子と称
す）を加熱すると、被曝線量に応じて熱ルミネッセンス
が出る。
す）を加熱すると、被曝線量に応じて熱ルミネッセンス
が出る。
この熱ルミネッセンスを光電子増倍管で電流に変換し、
この電流を積分し、この積分値を検出することにより放
射線被曝線量を知ることができる。
この電流を積分し、この積分値を検出することにより放
射線被曝線量を知ることができる。
本考案は、この種の熱ルミネツセンス線量測定装置に関
し、光電子増倍管の感度、アンプのゲイン等の較正が容
易に行なえる線ルミネッセンス線量測定装置を提供する
ものである。
し、光電子増倍管の感度、アンプのゲイン等の較正が容
易に行なえる線ルミネッセンス線量測定装置を提供する
ものである。
普ず、この種の測定装置に用いる素子について第１図、
第２図とともに説明する。
第２図とともに説明する。
第１図、第２図において、１は偏平孔２が形成されたケ
ース、３はケース１の側部に形成された突片であり、こ
の突片３には番号孔４が形成され、任意の番号孔４を閉
塞することにより、素子番号等が記録されるものである
。
ース、３はケース１の側部に形成された突片であり、こ
の突片３には番号孔４が形成され、任意の番号孔４を閉
塞することにより、素子番号等が記録されるものである
。
５はケース１の孔壁に形成された係合孔、６は切欠き、
１は素子の装着方向を規制するための凹部である。
１は素子の装着方向を規制するための凹部である。
８はカードであり、このカード８の孔９内に熱ルミネツ
センス材料１０が保持されている。
センス材料１０が保持されている。
１１はカード８に形成された係合爪であり、カード８を
ケース１の偏平孔２内に挿入すると、上記係合爪１１が
係合孔５に係合し固定されるものである。
ケース１の偏平孔２内に挿入すると、上記係合爪１１が
係合孔５に係合し固定されるものである。
１２はカード８に形成された係合溝である。
次に、従来の熱ルミネツセンス線量測定装置について第
３図とともに説明する。
３図とともに説明する。
第３図において、１３はカード８の係合溝１２と係合し
てカード８をケース１より引出すためのけん列部材、１
４はけん列部材１１に設けた較正光源、１５はカード８
が末抜取位置すなわちけん列部材１３が待機位置にある
時加熱測定位置りに一致するように上記けん列部材１３
に設けた加熱較正素子、１６はけん列部材１３に固着し
たラック、１７はラック１６と噛合するピニオン、１８
はピニオン１７を固着した回転軸、１９は回転軸１８の
ツマミ、２０は基板、２１は素子を装着し、装置内に移
送するためのスライダー、２２はスライダー２１のつ１
みである。
てカード８をケース１より引出すためのけん列部材、１
４はけん列部材１１に設けた較正光源、１５はカード８
が末抜取位置すなわちけん列部材１３が待機位置にある
時加熱測定位置りに一致するように上記けん列部材１３
に設けた加熱較正素子、１６はけん列部材１３に固着し
たラック、１７はラック１６と噛合するピニオン、１８
はピニオン１７を固着した回転軸、１９は回転軸１８の
ツマミ、２０は基板、２１は素子を装着し、装置内に移
送するためのスライダー、２２はスライダー２１のつ１
みである。
なお上記較正光源１４は夜光塗料等の自発光物質により
構成され、上記加熱較正素子１５は図示していないが加
熱位置にある加熱手段により加熱された時、その加熱強
度に応じた光を発する部材により構成されている。
構成され、上記加熱較正素子１５は図示していないが加
熱位置にある加熱手段により加熱された時、その加熱強
度に応じた光を発する部材により構成されている。
この装置において測定位置にある例えば光電子増倍管等
の測定手段及びアンプゲインの較正を行なう時には、素
子を装着した後ツマミ１９を回し、ピニオン１７の回転
運動をラック１６で矢印Ａ方向への直線運動とし、較正
光源１４を加熱測定位置Ｌ１で移送し、その位置で一定
時間上記較正を光源１４が発する光の光量測定を行ない
、光電子増倍管等の測定手段の感度補正やアンプのゲイ
ン補正を行なっていた。
の測定手段及びアンプゲインの較正を行なう時には、素
子を装着した後ツマミ１９を回し、ピニオン１７の回転
運動をラック１６で矢印Ａ方向への直線運動とし、較正
光源１４を加熱測定位置Ｌ１で移送し、その位置で一定
時間上記較正を光源１４が発する光の光量測定を行ない
、光電子増倍管等の測定手段の感度補正やアンプのゲイ
ン補正を行なっていた。
一般に光電子増倍管の感度やアンプのゲイン等は比較的
短かい時間内では変化しないので複数の素子を連続して
測定する場合には素子を測定するたびにそれらを補正す
る必要はなく所要の間隔で行なえばよい。
短かい時間内では変化しないので複数の素子を連続して
測定する場合には素子を測定するたびにそれらを補正す
る必要はなく所要の間隔で行なえばよい。
したがって較正光源１４を前述した位置に設けた場合は
較正を行なわない時にも一番端の熱ルミネツセンス材料
１０′を加熱測定位置に移送するための距離すなわち第
３図の距離Ｅが長くなるため、ツマミ１９を素子を測定
するたびに余分に回転させねばならないので操作性が非
常に悪くなるという欠点を有している。
較正を行なわない時にも一番端の熱ルミネツセンス材料
１０′を加熱測定位置に移送するための距離すなわち第
３図の距離Ｅが長くなるため、ツマミ１９を素子を測定
するたびに余分に回転させねばならないので操作性が非
常に悪くなるという欠点を有している。
本考案は上記従来の欠点を除去し、カード８の移送距離
を短かくすることができる熱ルミネツセンス線量測定装
置を提供するものである。
を短かくすることができる熱ルミネツセンス線量測定装
置を提供するものである。
以下に本考案の一実施例について第４図とともに説明す
る。
る。
第４図は本考案の熱ルミネツセンス線量測定装置の平面
図であう、２３は素子を装着する装着部が設けられ、こ
の素子を装置内の情報読取位置（図の位置）に移送する
ためのスライダー、２４はスライダー２３のツマミで、
外光を防ぐために段部２５が設けである。
図であう、２３は素子を装着する装着部が設けられ、こ
の素子を装置内の情報読取位置（図の位置）に移送する
ためのスライダー、２４はスライダー２３のツマミで、
外光を防ぐために段部２５が設けである。
２６はスライダー２３の後方に設けられた位置調整ネジ
、２７はナツト、２８は係止板で、スライダー２３に位
置調整ネジ２６をナットフγで取付けた後ネジ込み、位
置調整ネジ２６を係止板２８に当接させた状態でスライ
ダー２３０前後位置を調整し、調整後にナラ）２７で位
置調整ネジ２６を固定する様構成されている。
、２７はナツト、２８は係止板で、スライダー２３に位
置調整ネジ２６をナットフγで取付けた後ネジ込み、位
置調整ネジ２６を係止板２８に当接させた状態でスライ
ダー２３０前後位置を調整し、調整後にナラ）２７で位
置調整ネジ２６を固定する様構成されている。
２９はスライダー２３に設けた傾斜部、３０は正着ロー
ラで、スライダー２３を押し込んだ位置のとき、スライ
ダー２３を後方に付勢する。
ラで、スライダー２３を押し込んだ位置のとき、スライ
ダー２３を後方に付勢する。
３１は基板、３２，３３は側板、３４はスライダー２３
が押込まれたことを検知するセンサー、３５はセンサー
３４の取付金具である。
が押込まれたことを検知するセンサー、３５はセンサー
３４の取付金具である。
３６は素子を装置内に移送する時カード８の係合爪１１
を押圧する係合解除板、３７はカード８の係合溝１２と
係合され、カード８を横方向にけん引するためのカード
駆動板、３８は熱をうけて光を発する従来例で説明した
ものと同様の加熱較正素子、３９は従来例で説明したも
のと同様の較正光源であり、上記カード駆動板３Ｔが第
４図の状態にある時、すなわち待機状態にある時上記加
熱較正素子３８は加熱測定位置りに位置するよう上記カ
ード駆動板３Ｔに設けられている。
を押圧する係合解除板、３７はカード８の係合溝１２と
係合され、カード８を横方向にけん引するためのカード
駆動板、３８は熱をうけて光を発する従来例で説明した
ものと同様の加熱較正素子、３９は従来例で説明したも
のと同様の較正光源であり、上記カード駆動板３Ｔが第
４図の状態にある時、すなわち待機状態にある時上記加
熱較正素子３８は加熱測定位置りに位置するよう上記カ
ード駆動板３Ｔに設けられている。
４０はカード駆動板３Ｔに固着したラック、４１はラッ
ク４０と噛合するピニオン、４２はピニオン４１の回転
軸、４３は外方よシ回転位置を規制されるカム、４４は
回転軸４２のツマミ、４５は位置検出センサー、４６は
プリント基板、４Ｔはプリント基板固定具、４８はスラ
イダー鎖錠板で、通常は矢印Ｂ方向に付勢され、カム４
３の凹部４９と当接している。
ク４０と噛合するピニオン、４２はピニオン４１の回転
軸、４３は外方よシ回転位置を規制されるカム、４４は
回転軸４２のツマミ、４５は位置検出センサー、４６は
プリント基板、４Ｔはプリント基板固定具、４８はスラ
イダー鎖錠板で、通常は矢印Ｂ方向に付勢され、カム４
３の凹部４９と当接している。
５０はスライダー２３に設けた凹部、５１．５１’は回
転軸４２の軸受部材、５３はカード駆動板３７の摺動溝
、５４はカード８の摺動溝である。
転軸４２の軸受部材、５３はカード駆動板３７の摺動溝
、５４はカード８の摺動溝である。
以下動作を説明する。
素子はスライダー２３に装着され、情報読取位置まで移
送されるが、その際、カード８の係合爪１１が係止解除
板３６により押圧され、ケース１の偏平孔２より挿脱可
能な状態となり、待機位置にあるカード駆動板３１とカ
ード８の係合溝１２とが係合する。
送されるが、その際、カード８の係合爪１１が係止解除
板３６により押圧され、ケース１の偏平孔２より挿脱可
能な状態となり、待機位置にあるカード駆動板３１とカ
ード８の係合溝１２とが係合する。
このときスライダー２３が挿入されたことをセンサー３
４で検出され、ケース１０番号孔４が読取られ、さらに
図示しないが加熱ランプ等の加熱手段によシ加熱較正素
子３８が加熱されて加熱強度に応じた光を発する。
４で検出され、ケース１０番号孔４が読取られ、さらに
図示しないが加熱ランプ等の加熱手段によシ加熱較正素
子３８が加熱されて加熱強度に応じた光を発する。
この光の量を光電子増倍管等の光量測定手段により測定
し、光量が規定値にない場合は規定値となるように加熱
強度が調整される。
し、光量が規定値にない場合は規定値となるように加熱
強度が調整される。
なか、この加熱較正素子３８を、熱ルミネツセンス材料
１０が散布、固着されるシートと同材質にすることによ
り、熱ルミネツセンス線量測定時の雑信号の量を検出す
ることが可能であり、通常の測定値より雑信号量をひく
ことにより、正確な被爆線量を知ることができるもので
ある。
１０が散布、固着されるシートと同材質にすることによ
り、熱ルミネツセンス線量測定時の雑信号の量を検出す
ることが可能であり、通常の測定値より雑信号量をひく
ことにより、正確な被爆線量を知ることができるもので
ある。
その後、ツマミ４４を回すことにより、カード８が駆動
され、熱ルミネツセンス材料１０は熱ルミネツセンス判
定位置りに移送され、測定される３この時スライダ鎖錠
板４８はカム４３により矢印Ｃ方向に押され、スライダ
２３の凹部５０と係合し、スライダー２３は鎖錠される
。
され、熱ルミネツセンス材料１０は熱ルミネツセンス判
定位置りに移送され、測定される３この時スライダ鎖錠
板４８はカム４３により矢印Ｃ方向に押され、スライダ
２３の凹部５０と係合し、スライダー２３は鎖錠される
。
次に較正動作について説明する。
本装置に於いて較正を行なう時には、素子を装置せずに
スライダー２３を挿入１．、その後ツマミ４４をカード
８送りと逆方向に回転させ、カード駆動板３γを矢印り
方向に移送する。
スライダー２３を挿入１．、その後ツマミ４４をカード
８送りと逆方向に回転させ、カード駆動板３γを矢印り
方向に移送する。
この時もスライダー２３の凹部５０とスライダ鎖錠板４
８が係合され、スライダー２３は鎖錠される。
８が係合され、スライダー２３は鎖錠される。
これにより較正光源３９は加熱測定位置ＬＫ移送され、
較正がＯＴ能となる。
較正がＯＴ能となる。
本考案は上記のような構成であり、カード駆動板が待機
位置にある時加熱較正素子が加熱測定位置に位置するよ
うに加熱較正素子をカード駆動板に設け、カード駆動板
が上記熱ルミネツセンス材料を待機位置から加熱測定位
置へ移送する方向と逆の方向に１駆動された時、較正光
源が加熱測定位置に位置するように較正光源をカード駆
動板に設けたことにより、熱ルミネツセンス素子を加熱
測定位置１で移送する距離すなわち第４図において距離
ビを従来例にかける距離Ｅよりも距離Ｆだけ短かぐする
ことができる。
位置にある時加熱較正素子が加熱測定位置に位置するよ
うに加熱較正素子をカード駆動板に設け、カード駆動板
が上記熱ルミネツセンス材料を待機位置から加熱測定位
置へ移送する方向と逆の方向に１駆動された時、較正光
源が加熱測定位置に位置するように較正光源をカード駆
動板に設けたことにより、熱ルミネツセンス素子を加熱
測定位置１で移送する距離すなわち第４図において距離
ビを従来例にかける距離Ｅよりも距離Ｆだけ短かぐする
ことができる。
したがって従来のようにカードを送るためのつ昔みを素
子を測定するたびに余分に回転させる必要はないので操
作性が大巾に向上する利点を有するものである。
子を測定するたびに余分に回転させる必要はないので操
作性が大巾に向上する利点を有するものである。
第１図は熱ルミネツセンス素子の斜視図、第２図は同平
面断筒図、第３図は従来の熱ルミネツセンス線量測定装
置の平面図、第４図は本考案の一実施例における熱ルミ
ネツセンス線量測定装置の一部を断面にて示した平面図
である。 １・・・・・・ケース ２・・・・・・偏平孔、３・・
・・・・突片、４・・・・・・番号孔、５・・・・・・
係合孔、６・・・・・・切欠き、Ｔ・・・・・・凹部、
８・・・・・・カード、１０・・・・・・熱ルミネツセ
ンス材料、１１・・・・・・係合爪、１２・・・・・・
係合溝、２３・・・・・・スライダー、３６・・・・・
・係合解除板、３γ・・・・・・カード、駆動板、３８
・・・・・・標準銅対素子、３９・・・・・・較正素子
。
面断筒図、第３図は従来の熱ルミネツセンス線量測定装
置の平面図、第４図は本考案の一実施例における熱ルミ
ネツセンス線量測定装置の一部を断面にて示した平面図
である。 １・・・・・・ケース ２・・・・・・偏平孔、３・・
・・・・突片、４・・・・・・番号孔、５・・・・・・
係合孔、６・・・・・・切欠き、Ｔ・・・・・・凹部、
８・・・・・・カード、１０・・・・・・熱ルミネツセ
ンス材料、１１・・・・・・係合爪、１２・・・・・・
係合溝、２３・・・・・・スライダー、３６・・・・・
・係合解除板、３γ・・・・・・カード、駆動板、３８
・・・・・・標準銅対素子、３９・・・・・・較正素子
。
Claims (1)
- 熱ルミネツセンス材料を加熱する加熱手段と、加熱され
た熱ルミネツセンス材料が発する熱ルミネッセンスの量
を測定する測定手段と、熱ルミネツセンス材料を保持し
たカードに待機位置にて係合し、その待機位置から上記
カードを駆動して上記加熱及び測定手段が位置する加熱
測定位置へ上記熱ルミネツセンス材料を移送するカード
駆動板と、上記待機位置にあるカード駆動板に上記カー
ドを係合せしめる手段と、上記カード駆動板に設けられ
てあって自発光物質により構成された較正光源と、同じ
く上記カード駆動板に設けられてあって上記加熱手段の
加熱強度に応じた光を発する部材により構成された加熱
較正素子とにより構成し、上記カード駆動板が待機位置
にある時上記加熱較正素子が加熱測定位置に位置するよ
うに加熱較正素子を上記カード、駆動板に設け、上記カ
ード駆動板が上記熱ルミネツセンス材料を加熱測定位置
へ移送する方向と逆の方向に１駆動された時、上記較正
光源が加熱測定位置に位置するように上記較正光源を上
記カード駆動板に設けたことを特徴とする熱ルミネツセ
ンス線量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1978084942U JPS5812145Y2 (ja) | 1978-06-20 | 1978-06-20 | 熱ルミネッセンス線量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1978084942U JPS5812145Y2 (ja) | 1978-06-20 | 1978-06-20 | 熱ルミネッセンス線量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS551792U JPS551792U (ja) | 1980-01-08 |
| JPS5812145Y2 true JPS5812145Y2 (ja) | 1983-03-08 |
Family
ID=29008106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1978084942U Expired JPS5812145Y2 (ja) | 1978-06-20 | 1978-06-20 | 熱ルミネッセンス線量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5812145Y2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3925665A (en) * | 1973-08-17 | 1975-12-09 | D A Pitman Limited | Thermoluminescence Dosimeter Reader |
-
1978
- 1978-06-20 JP JP1978084942U patent/JPS5812145Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3925665A (en) * | 1973-08-17 | 1975-12-09 | D A Pitman Limited | Thermoluminescence Dosimeter Reader |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS551792U (ja) | 1980-01-08 |
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