JPS58118924A - Heat flow radiation meter panel - Google Patents

Heat flow radiation meter panel

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JPS58118924A
JPS58118924A JP137782A JP137782A JPS58118924A JP S58118924 A JPS58118924 A JP S58118924A JP 137782 A JP137782 A JP 137782A JP 137782 A JP137782 A JP 137782A JP S58118924 A JPS58118924 A JP S58118924A
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band
temperature
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Kazuo Eguchi
和雄 江口
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KENSETSUSHO KENCHIKU KENKYU SHOCHO
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KENSETSUSHO KENCHIKU KENKYU SHOCHO
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    • G01K17/06Measuring quantity of heat conveyed by flowing media, e.g. in heating systems e.g. the quantity of heat in a transporting medium, delivered to or consumed in an expenditure device
    • G01K17/08Measuring quantity of heat conveyed by flowing media, e.g. in heating systems e.g. the quantity of heat in a transporting medium, delivered to or consumed in an expenditure device based upon measurement of temperature difference or of a temperature
    • G01K17/20Measuring quantity of heat conveyed by flowing media, e.g. in heating systems e.g. the quantity of heat in a transporting medium, delivered to or consumed in an expenditure device based upon measurement of temperature difference or of a temperature across a radiating surface, combined with ascertainment of the heat transmission coefficient

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Abstract

PURPOSE:To provide a titled panel having excellent responsiveness by laminating and joining a surface temp. measuring layer for detecting surface temp. and a heat flow meter layer on a surface color treated layer which is segmented to plural colors differing in light absorptivity. CONSTITUTION:A surface color treated layer P consisting of plural zones segmented to plural colors 1, 2, 3 differing mutually in light absorptivity and a surface temp. measuring layes S having temp. measuring resistors for detecting the surface temp. of each zone and metal plating for equalizing the heat in these zones are joined. A heat flow meter layer F consisting of thermocouples for detecting the heat flow rate in the respective zones is further laminated and joined under the layer S. If necessary, a heating layer H is provided.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明け、比較的大きな向1定面の全面について、放
射熱量、熱流景および対流熱伝達率を同時に計測1でき
る機能を一枚の薄い・ぐネルに集積した!!測装置(以
下熱流放射計パネルと呼ぶ)、さらには前記の計測機能
に加え、・ンネル自体の表面温f8″を制御できる機能
をも付与したがような熱流放射茸1ノやネルに関する。
[Detailed Description of the Invention] This invention has integrated the function of simultaneously measuring the amount of radiation heat, heat flux, and convective heat transfer coefficient on the entire surface of a relatively large diagonal surface into a single thin piece of gunnel! ! The present invention relates to a heat flow radiation measurement device (hereinafter referred to as a heat flow radiometer panel), and also to a heat flow radiation mushroom or a flannel, which has a function of controlling the surface temperature f8'' of the tunnel itself in addition to the above-mentioned measurement function.

ブラインドルーパーなどにより日射を遮蔽する表き、太
陽位置との関係で、影は複鍵な形となる。
Although sunlight is blocked by blind loopers, the shadow takes on a complex shape depending on the sun's position.

そのため、室内の壁や床における日射による受熱量を計
測するときには、局所的な日射受熱量ではなく、影や日
射の入射角度などの影響も含まれる大きな面についての
日射受熱量を計測することが必禦である。また、樹木の
葉の!lシによる大地や壁などに対する日射の遮蔽効果
を測定しようとするときにも、樹木の性質や生育状況に
応じて影の状態が変化するため、やはり局所的な点測定
ではlく、拡がりをもった面積についての面測定が必要
である。
Therefore, when measuring the amount of heat received from solar radiation on indoor walls and floors, it is important to measure the amount of heat received from solar radiation over a large surface, which also includes the effects of shadows and the angle of incidence of solar radiation, rather than the amount of heat received locally. It is necessary. Also, the leaves of trees! When trying to measure the solar radiation shielding effect of trees on the ground or walls, the condition of the shadow changes depending on the nature and growth conditions of the tree. It is necessary to measure the surface area.

一般に、ある面に日射があたるとき、その全面積につい
て次の熱平衡式が成立する。
Generally, when solar radiation hits a certain surface, the following thermal equilibrium equation holds true for the entire area.

Q=−IJ+1(R−σAT )十αaA(θ0−θ)
・・四(1)式中 a:短波吸収率 l:長波吸収率 T:表面絶対温度〔0K〕 θ:表面温度〔℃〕 σ6:空気温度〔℃〕 J:面に入射する短波放射量の全量(kea7/h )
R:面に入射する長波放射量の全j4Ckca7/h 
)Q:表面熱流の全量[keat/b) A:表面積〔−〕 αe:表面の対流熱伝達率[kcLt/m’h C)t
y:x7ア7、、、ツルア定数、 4.88 X l。
Q=-IJ+1(R-σAT) 1αaA(θ0-θ)
...4 (1) where a: shortwave absorption rate l: longwave absorption rate T: surface absolute temperature [0K] θ: surface temperature [℃] σ6: air temperature [℃] J: amount of shortwave radiation incident on the surface Total amount (kea7/h)
R: Total amount of long wave radiation incident on the surface j4Ckca7/h
) Q: Total amount of surface heat flow [keat/b) A: Surface area [-] αe: Surface convective heat transfer coefficient [kcLt/m'h C)t
y:x7a7,...Trua's constant, 4.88 X l.

−8[k c *L/rr? h’に’ ]すなわち、
臼日射はaJだけ面に吸収さh、外界からの長波放射R
はl−Rだけ面にe収され、一方面は自己の表面温度T
に応じて感σAT’の放射を行なう。さらに面の接する
空気mllθ・と表面温度σとの差による対流熱伝達に
よシαeA(00−〇)の熱量が面に流入する0以上の
差引合計が面の表面から内部に流入する熱量Qとなる。
−8[k c *L/rr? h'to'] i.e.
The amount of solar radiation aJ is absorbed by the surface h, and the long wave radiation R from the outside world is
is accommodated on the surface by l−R, and one surface has its own surface temperature T
The sensor σAT' is radiated accordingly. Furthermore, due to convective heat transfer due to the difference between the air mllθ・ in contact with the surface and the surface temperature σ, the amount of heat αeA (00-〇) flows into the surface. becomes.

嬉簗などで通常必要とされる計測量は、壁や床に入射す
る日射量そのものではなく、日射による影響たとえば室
内温度、壁の表面温度、室内空気Fi人する熱量などで
ある。換言すれば、日射があたる壁面についてその表面
における熱収支の内部が問題なのであシ、前記(1)式
についていえば、a、ε、A、T、θ・がわかっている
として、J。
The amount of measurement that is normally required with solar panels is not the amount of solar radiation incident on walls and floors, but rather the effects of solar radiation, such as indoor temperature, wall surface temperature, and the amount of heat emitted by indoor air. In other words, the problem is the inside of the heat balance on the surface of the wall that is exposed to solar radiation.For equation (1) above, assuming that a, ε, A, T, and θ are known, then J.

R1α。およびQの測定が必髪なのである。また、これ
らを計測する装置の場合、計測にあた夛装置内の空気温
度や表面温度を制御し得ることがしばしげ望壕れる。
R1α. It is essential to measure both Q and Q. Furthermore, in the case of devices that measure these things, it is often desirable to be able to control the air temperature and surface temperature within the device for measurement.

従来、短波放射量Jtたは長波放射量Rを単独に測定す
る計器は、日射計または放射計と呼ばれ、既に市販され
ている。また、短長波を分離して同時に測定する計器も
実用はされていないが既に提案されている。だが、これ
らはいずれも微小面に入射する短波や長波の放射量を測
定する[点測定[に関する。かような「点糊定」用の計
器を多数使用して大きな面積を榎うことは、不可能では
々いが、コスト的にも計測上も非現実的である。
Conventionally, instruments that measure the shortwave radiation amount Jt or the longwave radiation amount R independently are called pyranometers or radiometers, and are already commercially available. Also, instruments that separate short and long waves and measure them simultaneously have already been proposed, although they have not been put into practical use. However, all of these methods involve point measurement, which measures the amount of shortwave or longwave radiation incident on a microscopic surface. It is not only impossible to cover a large area by using a large number of such "point gluing" instruments, but it is also unrealistic in terms of cost and measurement.

表面の対流熱伝達率α。を測定するための裏片計器も市
販されてはいないが既に提案されている。
Surface convective heat transfer coefficient α. A back-piece meter for measuring , which is not commercially available, has already been proposed.

だが、これもやFiや「点測定Jに関し、「面測定jに
は適していない。
However, regarding Fi and point measurement J, this is also not suitable for surface measurement J.

面全体の表面熱流Qの計測は、たとえば%願昭54−1
49464号に開示した熱電堆に基づきしかるぺ〈熱流
計を設計することにょシ可能であるが、そのような熱流
計では、Qに加えてJ、RおよびRcの同時計測、さら
KはQの制Nは期待できかい。
The measurement of the surface heat flow Q over the entire surface can be carried out, for example, by
Although it is possible to design a heat flow meter based on the thermoelectric stack disclosed in No. 49464, such a heat flow meter requires simultaneous measurement of J, R, and Rc in addition to Q, and K is the same as Q. Can we expect a strong N?

し念がって、この発明の目的は、比較的大きな面につい
て、全面に入射する放射熱量を短tBi成分Jと長波成
分Rとに分離して測定でき、表潰1の対流熱伝達率α。
Therefore, the purpose of this invention is to be able to measure the amount of radiant heat incident on the entire surface of a relatively large surface by separating it into a short-tBi component J and a long-wave component R, and to measure the convective heat transfer coefficient α of the surface collapse 1. .

を測定でき、全面における表面熱流Qを測定でき、そし
て場合によっては表面fIIA流。
can be measured, the surface heat flow Q over the entire surface can be measured, and in some cases the surface fIIA flow.

ひいてFi表面混度T、θを制御できる機能を一枚の薄
い・9ネルに集積した計測装置を提供することにある。
Furthermore, it is an object of the present invention to provide a measuring device in which the function of controlling the Fi surface mixture T and θ is integrated into a single thin 9-wall plate.

前記の目的を達成するこの発明の熱流放射計79ネルは
、(1)光吸収率が相互に異なる複数の色に色分は区分
された複数の帯域からなる表面色処理層(P)と、(2
)前配各帯穢の表面温度を検知するための6111温抵
抗体と当該帯域を均熱化するための金属メッキ層とを有
する表面温度測定層(S)と、(3)前記各帯域の熱流
を検知するための熱電堆からなる熱流計層ηと、さらに
、必要な場合には(4)ヒータ一層(ロ)とがこの順序
に積層接合されていることを%徴とする。
The heat flow radiometer 79 channel of the present invention which achieves the above object includes: (1) a surface color treatment layer (P) consisting of a plurality of bands divided into a plurality of colors having mutually different light absorption rates; (2
) a surface temperature measuring layer (S) having a 6111 temperature resistor for detecting the surface temperature of each of the front zones and a metal plating layer for equalizing the temperature of the zones; The heat flow meter layer η consisting of a thermoelectric stack for detecting heat flow and, if necessary, (4) the heater layer (b) are laminated and bonded in this order.

この発明の熱流放射計i4ネルによれば、(1)式にお
けるJ、R,α。およびQを同時測定できる。この計測
目的のためには、パネルは、(1)表面色処理層(P)
と、(2)表面温度測定層(8層)と(3)熱流計層(
F層)とを有することが必要である。ヒータ一層(H層
)は、Qの制御ひいては表面温度T、θの制御の機能を
果す層であって、この制御を目的としない場合には、H
層を設ける必要はない。
According to the heat flow radiometer i4 channel of this invention, J, R, α in equation (1). and Q can be measured simultaneously. For this measurement purpose, the panel must include (1) a surface color treatment layer (P);
, (2) surface temperature measurement layer (8 layers), and (3) heat flow meter layer (
F layer). The heater layer (H layer) is a layer that performs the function of controlling Q and, in turn, controlling the surface temperature T and θ.If this control is not the purpose, H layer
There is no need to provide layers.

まず、P層、8層およびF層からなるこの発明の・母ネ
ルにより、(1)式のJ、FL、α。およびQを同時測
定できる原理を説明する。
First, J, FL, and α in equation (1) are determined by the motherboard of this invention, which is composed of a P layer, 8 layers, and an F layer. The principle of simultaneous measurement of and Q will be explained.

複数の色、特に、3種の色1.2.3に色分は区分され
たノ量ネル表面の帯域に関し、色lの帯域の短波吸収率
を11.長波吸収率を’It平均表面温度をT(・K)
、a (t:) 、合計表面熱流量をQl、合計表面積
をAI とし、色2に覆われた帯域の同様なノダラメー
ターをag+’!+T鵞 、θ鵞 。
For multiple colors, especially three types of colors 1.2.3, the shortwave absorption rate of the color L band is 11.3. The long wave absorption coefficient is 'It' The average surface temperature is T (・K)
, a (t:), the total surface heat flow is Ql, the total surface area is AI, and the similar nodal meter of the band covered by color 2 is ag+'! +T goose, θ goose.

QS  + Am としそして色3の帯域の同様な・9
ラメ−ターを&@  r ’*  + ’rs  l 
’l  + QS  + Asとすると、次の熱平衡式
(2)がそれぞれ成立する。
QS + Am and the same color 3 band 9
Lameter &@r '* + 'rs l
When 'l + QS + As, the following thermal equilibrium equations (2) are established.

・・・・・・・・(2) 式(2)において、J、R,α。、θOおよびσけ、式
(1)において定義をした意味を有する。
・・・・・・・・・(2) In formula (2), J, R, α. , θO and σ have the meanings defined in equation (1).

この発明のノ9ネルによれば、式(2)におけるTI。According to the ninth aspect of the present invention, TI in formula (2).

TIおよび1m(したがってθ1.θ1.θ、も)は8
層により測定されかつQl、QlおよびQsはF層によ
り測定される。一方〇〇は別途容易に測定される。また
、al t&雪+al :’1 +’l +’l  は
選択した3橿の色に固有の値でらシ、別途検定により決
定できるg Al + AMおよびASは与えられたノ
豐ネルについて固有の値である。そしてσは既知の定数
である。したがって、これらの値を式(2)K代入すれ
ば、式(2)Fi、3つの未知数J、Rおよびα。につ
いての三元−次方程式となるから、その解を求めること
により、J、Rおよびα。を決定できる。一方、面全体
を通過する表面熱流Qは、次の式(3)から決定できる
TI and 1m (and therefore θ1.θ1.θ, too) are 8
and Ql, Ql and Qs are measured by the F layer. On the other hand, 〇〇 is easily measured separately. In addition, al t & snow + al :'1 +'l +'l is a value specific to the color of the three selected ridges, and gAl + AM and AS, which can be determined by a separate test, are unique to a given nohel. is the value of And σ is a known constant. Therefore, by substituting these values into equation (2) K, equation (2) Fi, three unknowns J, R and α are obtained. Since it is a ternary-dimensional equation for J, R and α by finding its solution. can be determined. On the other hand, the surface heat flow Q that passes through the entire surface can be determined from the following equation (3).

Q=Q+ +Qs +Qs 次に付図を参照しながら、この発明にしたがう好まい・
ダネルの構成と具体的に訳明する。
Q=Q+ +Qs +Qs Next, with reference to the attached drawings, preferred embodiments according to the present invention
Explain Danell's composition and concrete explanation.

第1図はこの発明のパネルの基本的な構成を示す概略断
面図であす; 第2図は表面色処理層(P層)の色別は区分パターンを
示す平面図であり(図中、右側の数字は帯域番号である
。); 第3図aFi表面温度測定層(8層)の表側を、そして
第3図bVi表面温度測定層の皇#jをそれぞれ示す平
面図であり; 落4図aは熱流計層(F層)の表側を、干して第4図b
#′i熱流計層の裏側をそれぞれ示す平面図であシ; 第5図はヒータ一層の表側を示す平面図+あり;第6図
は、第2図、第3図1.b、第4図”&tbおよび第5
図の線■−■に沿った断面を1明するための概略図であ
り′;そして 第7図は、第2図、第3図畠、b、第4図1゜5および
第5図の線■−■に沿った断面を鮫明するための概略図
である。
Fig. 1 is a schematic cross-sectional view showing the basic structure of the panel of the present invention; Fig. 2 is a plan view showing the color-divided pattern of the surface color treatment layer (P layer) (in the figure, the right side Figure 3 a is a plan view showing the front side of the Fi surface temperature measurement layer (8 layers), and Figure 3 b is a plan view showing the top #j of the Vi surface temperature measurement layer. (a) Dry the front side of the heat flow meter layer (F layer) and dry it (Fig. 4 (b)
#'i is a plan view showing the back side of the heat flow meter layer; FIG. 5 is a plan view showing the front side of the heater layer; FIG. 6 is a plan view showing the front side of the heater layer; FIG. b, Fig. 4”&tb and Fig. 5
7 is a schematic diagram for illustrating a cross section along the line ■-■ in the figure; and FIG. FIG. 3 is a schematic diagram for illustrating a cross section along line ■-■.

第1図に示す如く、この発明の・千ネルは、表面色処理
層(P層)と、表面温[測定層(8層)と、熱流計層(
F層)と、そして場合によってはヒータ一層(H層)と
が、この順序で一体に密着接合されてなる。各層の間お
よび最下面には、第6図および第7図に見られる如く、
接着絶縁層41が設けられる。もっとも、pHIl#−
i、8層を作成し、た後、8層の表面を処理(塗装、メ
ッキ、および/または予め作成したフィルムの貼りつけ
)することによって形成するのが好都合でるシ、表面処
理の態様によっては、P層と8層との間に接着絶縁層が
存在しないこともある。
As shown in FIG.
F layer) and, depending on the case, a heater layer (H layer) are closely bonded together in this order. Between each layer and on the bottom surface, as seen in FIGS. 6 and 7,
An adhesive insulating layer 41 is provided. However, pHIl#-
i. It is convenient to form by creating 8 layers and then treating the surface of the 8 layers (painting, plating, and/or pasting a film prepared in advance), depending on the mode of surface treatment. , there may be no adhesive insulating layer between the P layer and the 8 layer.

P層は、光吸収率が相互に異なる複数の色、特に、短波
吸収率および長波吸収率のいずれが相互に異なる三穫の
色]、2.3に色分けして区分された複数の帯域からな
る。それらの帯域は、第2図に示す如く、縞模様に配列
するのが、ノネルの製作上有利である。
The P layer is composed of a plurality of colors having mutually different light absorption rates, especially three colors having mutually different shortwave absorption rates and longwave absorption rates.2.3 From a plurality of color-coded bands. Become. It is advantageous for the production of nonel to arrange these bands in a striped pattern as shown in FIG.

この明細書において短波とは波長が2.5ミクロン未満
の放射線をいい、長波とは波長が2.5ミクロン以上の
放射線をいうものとする。なお、日射エネルギーの殆ん
どは短波成分であり、塘た地上の物体が自己の表面温度
に応じてその表面から射出する放射熱量の殆んどは長波
成分である。
In this specification, short waves refer to radiation having a wavelength of less than 2.5 microns, and long waves refer to radiation having a wavelength of 2.5 microns or more. Note that most of the solar radiation energy is shortwave components, and most of the amount of radiant heat emitted from the surface of objects on the ground depending on their surface temperature is longwave components.

選択する3種の色は、理論的には、短波吸収率および長
波吸収率のいずれが相互に異なるものであればよいが、
測定の分解能を上げる観点からは、短波吸収率が約1で
長波吸収率が約Oである第一の色と短波吸収率および長
波吸収率が共に約1である第二の色(無)と、そして短
波吸収率が約0で長波吸収率が約1である第三の色(白
)とを選択するのが好ましい。これら、3種の色の縞模
様配列の態様は任意であるが、・母ネルを日射にあてる
時、前記第一の色の帯域1が最も高温により、前記第三
の色の帯域(白)3が最も低温になるので、温度差の大
きい帯域1と3とは隣接させないのが好ましい。換剪す
れば2式の原理式には含オれていない面内における熱波
を最小にし、測定誤差を少くするべく、第2図に示すよ
うに、帯域1と帯域3との間に蝋の帯域2.を配するの
が軽重しい。
Theoretically, the three colors to be selected should have different shortwave absorption rates and longwave absorption rates; however,
From the perspective of increasing measurement resolution, the first color has a shortwave absorption rate of about 1 and the longwave absorption rate is about 0, and the second color (none) has a shortwave absorption rate and a longwave absorption rate of about 1. , and a third color (white) having a shortwave absorption of about 0 and a longwave absorption of about 1. The form of the striped pattern arrangement of these three colors is arbitrary, but when the mother panel is exposed to sunlight, the first color band 1 becomes the highest temperature, and the third color band (white) Since zone 3 has the lowest temperature, it is preferable that zones 1 and 3, which have a large temperature difference, not be placed adjacent to each other. As shown in Figure 2, in order to minimize in-plane heat waves that are not included in the principle equation of Equation 2 and reduce measurement errors, wax is placed between Zone 1 and Zone 3 as shown in Figure 2. Band 2. It is heavy and light to arrange.

P層の各帯域と、その表面温度および熱流量をそれぞれ
検出する8層の賛素およびF層の*素は、第1図に示す
如<1−Il!lヒツトっている。
The elements of each zone of the P layer, the eight layers for detecting the surface temperature and heat flow, and the * element of the F layer are as shown in FIG. 1 <1-Il! There are 1 hits.

8層は、第3図1およびbに示す如く、薄い(たとえば
約0.1 w程度)の非導電性基&lOの両面に各帯域
の表面温度を検知するた豹のfIJ1渥徂抗体である金
属細線(たとえば銅の細巾のメッキ)12.13.14
と当骸帯域を均熱化するための金属メッキ層15.16
.17(たとえば銅のメ、キ層)とをそれぞれ配置して
なる。基板10としては、たとえば繊維質シートに非導
電性の熱硬化性樹脂を含浸した!リゾレグを、場合によ
っては積層して、硬化したもの、た□とえばガラス繊維
強什工4キシ樹脂板、同積層板、ガラス繊維強化、jp
 リエステル樹脂板、同積層板、紙−フェノー゛ル樹脂
積層板その他これに類するものが好適に用いられる。均
熱層はもとより、#I温抵抗体もメッキまたはプリント
およびフォトエツチング技法によって形成するのが便利
である。同一色の帯域(複数)の表面m&を検知するた
めの測温抵抗体(複数)は結合@18によって同一色の
帯域(複数)すべてが直列に連結されており、その両端
は端子になっている。その端子間の電気抵抗を測ること
により、パネル面全体にわたって分散している当訪色の
帯域(複数)の平均表面温度を測定できる。
The 8th layer is a leopard fIJ1 antibody that detects the surface temperature of each zone on both sides of a thin (for example, about 0.1 W) non-conductive group &lO, as shown in Figure 3 1 and b. Fine metal wire (e.g. plated copper strip) 12.13.14
and a metal plating layer 15.16 for equalizing the temperature of the shell zone.
.. 17 (for example, copper layers). As the substrate 10, for example, a fibrous sheet is impregnated with a non-conductive thermosetting resin! In some cases, Resoreg is laminated and cured, such as glass fiber reinforced 4x resin board, same laminated board, glass fiber reinforced, jp
Polyester resin boards, polyester resin laminates, paper-phenol resin laminates, and similar materials are preferably used. It is convenient to form the #I temperature resistor as well as the heat equalizing layer by plating or printing and photo-etching techniques. The resistance temperature detectors for detecting the surface m& of the bands of the same color have all the bands of the same color connected in series by coupling @18, and both ends thereof are terminals. There is. By measuring the electrical resistance between the terminals, it is possible to measure the average surface temperature of the bands of the current color distributed across the panel surface.

たとえは、端子11.11から帯域1の平均表面温度T
1+θlを、端子22.22から帯域2の平均表面温度
TI+θ鵞を、そして端子33.33から帯域3の平均
表面温度T 3+θ3を演j・定できる。
For example, the average surface temperature T of zone 1 from terminal 11.11
1+θl, the average surface temperature TI+θ3 of zone 2 from terminal 22.22, and the average surface temperature T3+θ3 of zone 3 from terminal 33.33.

表面温度の測定精度を上げる観点からは、すべての側温
抵抗体を8層の表@(すなわちP層に近い方の側)に設
けるのが好ましいが、8図壓した例では、帯域1用の測
温抵抗体12および帯域3用の測温抵抗体13を8層の
表側にそして帯域2用の側温抵抗体14を8層の裏側に
配することにより、各色についての帯域(複数)の測温
抵抗体を連結するための結合線の占める部分(測定上デ
ッドゾーンとなる)を少くすると共に、製作工程の簡略
化を計っている。帯域1.2および3用の測温抵抗体1
2.14および13をメッキした基板10の面の反対側
の面には、それぞれ帯域1,2および3内を均熱化して
ff1度分布を少くするための金属メッキ層15.16
および17が設けられている。
From the viewpoint of increasing the measurement accuracy of surface temperature, it is preferable to provide all the side temperature resistors on the front side of the 8 layers (that is, on the side closer to the P layer). By arranging the resistance temperature detector 12 and the resistance temperature detector 13 for band 3 on the front side of the 8 layers, and the side temperature resistance element 14 for zone 2 on the back side of the 8 layers, bands (plurality) for each color can be created. In addition to reducing the area occupied by the bonding wires for connecting the resistance temperature detectors (which becomes a dead zone in measurement), the manufacturing process is also simplified. Resistance temperature detector 1 for bands 1.2 and 3
On the surface opposite to the surface of the substrate 10 plated with 2.14 and 13, there is a metal plating layer 15.16 for equalizing heat in zones 1, 2 and 3 and reducing the ff1 degree distribution, respectively.
and 17 are provided.

F層は、各帯域8(単数)の熱流を検知するための熱電
堆(単数)からなり、かつ同一色の帯域(複数)の熱流
を検知するための熱電対(複数)Fi泊ダリに連結され
ていて両端の端子から当該色の帯域(複数)の合計熱流
Qs 、Qs 、Qsを測定できるようになっている。
The F layer consists of a thermocouple (single) for detecting the heat flow in each zone (single), and is connected to a thermocouple (single) for detecting the heat flow in the same color zone (s). It is possible to measure the total heat flow Qs, Qs, Qs of the corresponding color band(s) from the terminals at both ends.

この発明のI4ネルのF層に使用できる熱電堆およびそ
の製造法は、特願昭54−149464号に開示されて
いる。この熱電堆は、熱電対21を構成する一方の金属
のセグメント23と他方の金属のセグメント24とが基
板20に担持されながら、多数交互に連結されてなる(
第4図a + b L第6図および第7図に示されたF
層の概略断面図かられかる如く、一方の金属セグメント
23は、基板20の一方の面の側にメッキされた部分2
3′と、基板の他方の面の側にメッキされた部分23“
と、これらの部分23′および23′を連通する基板に
形成された貫通孔の内1!K19って形成された部分2
3″′とからなり、そして他方の金属のセグメント24
も、基板20の一方の面の側にメッキされた部分24′
と、基板の他方の面の側にメッキされた部分24′と、
これらの部分24′および24“を連通ずる基板に形成
された貫通孔の内壁に沿ってメッキされた部分24″と
からなる。図示した態様では、第4図aの下から3行の
一番左の端に示したセグメント24は、その直ぐ右のセ
グメント23と連結されている。これら両セグメントの
外部からみえる接合@25F′i、基板の裏側(第4図
b)に現われる。このセグメント23は、その直ぐ右セ
グメント24と連結されているのであるが、この場合両
セグメントの外部からみえる接合l525は基板の表@
(第4図a)に−現われる。このような連結を繰り返え
し、)から3行の一番右のセグメント23に到る。この
セグメント23は、その直ぐ下のセグメント24に連結
されている。次いでセグメントの連結は、下から2行目
を左へ進行し、同行の一番左のセグメント23に到る。
A thermoelectric stack that can be used for the F layer of the I4 panel of the present invention and a method for manufacturing the same are disclosed in Japanese Patent Application No. 149464/1983. This thermopile is made up of a large number of metal segments 23 and 24 of one metal and the other metal that constitute the thermocouple 21 and are supported on the substrate 20 and connected alternately (
Figure 4 a + b LF shown in Figures 6 and 7
As can be seen from the schematic cross-sectional view of the layers, one metal segment 23 has a plated portion 2 on one side of the substrate 20.
3′ and a plated portion 23″ on the other side of the board.
And one of the through holes formed in the substrate that communicates these parts 23' and 23'! Part 2 formed by K19
3″′ and the other metal segment 24
Also, there is a plated portion 24' on one side of the substrate 20.
and a plated portion 24' on the other side of the board,
A plated portion 24'' is formed along the inner wall of a through hole formed in the substrate that communicates these portions 24' and 24''. In the illustrated embodiment, the segment 24 shown at the leftmost end of the bottom three rows of FIG. 4a is connected to the segment 23 immediately to its right. The externally visible junction of both these segments @25F'i appears on the back side of the substrate (FIG. 4b). This segment 23 is connected to the segment 24 immediately to its right, but in this case, the joint 1525 visible from the outside of both segments is located at the front surface of the board.
(Figure 4a) - Appears. This concatenation is repeated until the rightmost segment 23 of three rows is reached. This segment 23 is connected to the segment 24 directly below it. The segment concatenation then proceeds to the left in the second row from the bottom, reaching the leftmost segment 23 of the same line.

第4図a、bの下から2行および3行に示したこの熱電
対が、一つの帯域3の熱流を検知するためのものであ夛
、その帯域に最も近い同じ色の帯域3の熱流を検知する
ための同様な熱電堆(第4図a、bの上から6行および
7行)と結合@26により連結される。このようにして
、[61−色の帯域3の熱流を検知するため熱電堆は直
列に連結され、両端社端子になっている。この端子間の
電圧を測ることにより、すべての帯域3を通る合計熱流
Qm′tlll定できる。帯域lおよび2についても同
様である。ただ、帯域1については各帯域の熱流を検知
するため熱電堆の結合線27が基板の表側の右の縁に、
帯域2については、そのような結合線28が基板の裏側
に設けられているだけである。
The thermocouples shown in the second and third rows from the bottom of Figure 4 a and b are used to detect the heat flow in one zone 3, and the heat flow in zone 3 of the same color closest to that zone. It is connected to a similar thermopile (6th and 7th rows from the top of FIG. 4a, b) by a coupling@26 for sensing. In this way, the thermoelectric stacks are connected in series with terminals at both ends to detect heat flow in color band 3. By measuring the voltage across these terminals, the total heat flow Qm'tll through all zones 3 can be determined. The same applies to bands 1 and 2. However, for zone 1, in order to detect the heat flow in each zone, the bonding wire 27 of the thermopile is placed on the right edge of the front side of the board.
For zone 2, such a bond line 28 is only provided on the back side of the substrate.

基板20の材質は、8層の基板10について前記[7た
ものである仁とができる。
The material of the substrate 20 can be the same material as described above for the eight-layer substrate 10.

熱電対ユニットを構成する金属の組合せとしては、二、
ケルと鋼が最も好ましいが、これ以外の組合せとしても
、たとえば、銀と二、ケル、銅とコンスタンタン、鉄ト
コンスタンタンおよヒ鉄ト二、ケルを挙げることができ
る。
There are two metal combinations that make up the thermocouple unit:
Kel and steel are the most preferred, but other combinations include, for example, silver and di, Kel, copper and constantan, iron and constantan, iron and iron, and Kel.

F層は、特願昭54−149464号に記載された方法
にしたがい、メッキおよびフォトエツチング技法を使用
して製造することができる。
The F layer can be manufactured using plating and photoetching techniques according to the method described in Japanese Patent Application No. 54-149464.

H層は、非導電性基板30に電熱@31を配してなる。The H layer is formed by disposing an electric heater @31 on a non-conductive substrate 30.

電熱線31は、メッキおよびエツチング技法により形成
するのが便利である。第5図に示した例では、基板面全
体に一様にかつ一回路を形成するように電熱線31が設
けられている。両端の端子32に定電圧または定電流装
置を接続すれば全面に一様な熱供給をすることができる
。所望なら、同一色の帯域毎に電熱線の回路を独立させ
、色の異なる帯域毎に表面温度を制御することもできる
The heating wire 31 is conveniently formed by plating and etching techniques. In the example shown in FIG. 5, heating wires 31 are provided uniformly over the entire board surface to form one circuit. By connecting a constant voltage or constant current device to the terminals 32 at both ends, uniform heat can be supplied to the entire surface. If desired, the heating wire circuit can be made independent for each zone of the same color, and the surface temperature can be controlled for each zone of different colors.

この発明のパネルによれば、比較的大きい面についての
J、R,ΦおよびQの同時計#Jと、場合によってはさ
らにQの制御とが可、能である。測定に際しては、被測
定面に、41ネルを貼付し、各計測器へのリード線をこ
の)母ネルの所定の端子につなぐだけでよく、取扱いが
極めて容易である。また、この発明の・やネルは、全体
の厚さがたとえば約15−またはそれ以下といった極め
て薄いものであり、/’Pネル自体の熱抵抗および熱容
量が小さいため、測定物を殆んど乱すことがなく、かつ
過渡的な応答性にもすぐれている。
According to the panel of the present invention, it is possible to synchronize #J of J, R, Φ and Q over a relatively large area, and in some cases further control of Q. For measurement, it is only necessary to attach the 41 panel to the surface to be measured and connect the lead wires to each measuring device to the predetermined terminals of this mother panel, making handling extremely easy. In addition, the /'P flannel of the present invention has an extremely thin overall thickness of, for example, about 15 mm or less, and since the /'P flannel itself has a small thermal resistance and heat capacity, it hardly disturbs the measured object. It also has excellent transient response.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の・9ネルの基本的な構成を示す歓略
Wf1iili図であり; W、2図#il!面色処理層(P層)の色別は区分パタ
ーンを示す平面図であり: 第3図aは表面温習測定層(8層)の表側を、そして1
1pJ3図すは表面温度測定層の裏側をそれぞれ示す平
面図であり; 第4図1は熱流計層(1層)の表側を、セして[4図b
Fi熱流計層の裏側をそれぞれ示す平面図であり; 第5図はヒータ一層の表側を示す平面図であり;第6図
は、第2図、第3図a + b、 第4図a。 bおよび第5図の線■−■に沿った断面を説明するため
の歓略図であシ;そして 1g7図は、第2図、第3図a、b、第4図a。 bおよび第5図の線■−■に沿った断面を説明するため
の漿略図である。 図中、Pは表面処理層、SU表面温度測定層、Fけ熱流
計層、Hはヒータ一層、lt′i第一の色、2は第二の
色、3Vi第三の色、10.20および30は非導電性
基板、12.13および14は側温抵抗体、15.16
および17H均熱金楓メッキ層、18Fi結合線、21
は熱電対ユニット、23は熱電対を構成する一方の金属
、24は熱電対を構成する他方の金属、25は23と2
4との外部からみえる接合線、26.27および28は
結合線、29は貫通孔、31Fi電熱線、11,22゜
32および33け端子、41は接着絶縁層である。 特許出願人 建設省建築研究所長 特許出願代理人 弁理士  育 木   朗 弁理士 西舘和之 弁理士  内 1)幸 男 弁理士  山 口 昭 り fa3 (C1) (b) 第4図 (C1) (b)
Figure 1 is a simplified diagram showing the basic configuration of the 9-channel of this invention; Figure 2 #il! The color classification of the surface color treatment layer (P layer) is a plan view showing the division pattern: Figure 3a shows the front side of the surface temperature measurement layer (8 layers);
Figure 1pJ3 is a plan view showing the back side of the surface temperature measurement layer;
FIG. 5 is a plan view showing the front side of the heater layer; FIG. 6 is a plan view showing the back side of the Fi heat flow meter layer; FIG. FIG. 1g7 is a schematic diagram for explaining a cross section taken along the line ■--■ in FIG. 2, FIG. 3, b, and FIG. 4. FIG. 6 is a schematic diagram for explaining a cross section taken along line 1--2 in FIG. In the figure, P is the surface treatment layer, SU surface temperature measurement layer, Fake heat flow meter layer, H is the heater layer, lt'i first color, 2 is the second color, 3Vi third color, 10.20 and 30 are non-conductive substrates, 12.13 and 14 are side temperature resistors, 15.16
and 17H soaked gold maple plating layer, 18Fi bonding wire, 21
is a thermocouple unit, 23 is one metal that makes up the thermocouple, 24 is the other metal that makes up the thermocouple, 25 is 23 and 2
26, 27 and 28 are bonding lines, 29 is a through hole, 31 Fi heating wires, terminals 11, 22, 32 and 33, and 41 is an adhesive insulating layer. Patent applicant Director of the Building Research Institute of the Ministry of Construction Patent attorney Akira Ikuki Patent attorney Kazuyuki Nishidate 1) Yukio Patent attorney Akira Yamaguchi Fa3 (C1) (b) Figure 4 (C1) (b) )

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1(1)光吸収率が相互に異なる複数の色に色分け(区
分され次複数の帝w1.;6・ら斤る表面色処理層(P
)と、(2)@1各帯域の表面温度を検知するための測
温抵抗体と当d帯域を均熱化するための金属メ。 キ層とを有する表面y4#測定層(、S )と、(3)
前記各帝砿の熱流を検知するための熱電堆からなる熱流
計−(F)とがその順序に積層接合されてなることを特
徴とする熱波放射計・ダネル。 2 表面色処理層(P)が短波吸収率および長波吸収率
のいずれかが相互に兇なる3種の色に色分は区分され九
初数の帯域からなる特許請求の範囲第1瑣紀載の熱流放
射計・9ネル。 33撞の色に色分は区分された複数の帯域が縞模様にヘ
ビ列されている特許請求の範囲第1項才たは組2項記赦
の熱流放射組・!ネル。 4 表面色処理層(P)が、短波吸収率が約1で長波吸
収率が約Oである色の帝鞍と短波吸収率も長波吸収率も
共に約1である、黒色の帯@2とそして短波吸収率が約
Oで長波吸収率が約1である白色の帯域3.とに区分さ
れている特許請求の範囲第3項記載の熱流放射計74ネ
ル。 5、帯tiR1と帯域3との間に帯域2が配列されてい
る%FF縛求0範囲第4項記載の熱流放射計・Iネル。 6、表面温度計1定層(S)において、各帯域の表面温
度を検知するための測温抵抗体と当該帯域を均熱化する
ための金属メッキ層とが非導電性基板を挾んでその両側
にそれぞれ配置されており、かつ、同一色の帯域の表面
温度をそれぞれ検知するための測温抵抗体は直列に併結
されて両端の端子からそれらの帯域の平均表面温度(T
1 、TmおよびTs  )を測定できるように構成さ
れている特許請求の範囲第2項から第5項までのいずれ
かに記載の熱波放射計・やネル。 7、熱流計#(F)が複数の熱電堆からなり、各熱電堆
け、熱電対を構成する一方の金属のセグメノトと他方の
金属のセグメントとを交互に多数1#鯖してなり、各セ
グメントは非導電性基板の一方の面の側にメッキされた
部分と他方の面の@にメッキされた部分とこれら画部分
を連通ずる前記基板に形成された貫通孔の内壁に沿って
メッキされた部分とから々す、かつ同一色の帯域の熱流
を検知するための熱電堆は直列に連結されて両端の4子
からそれらの帯域の合計熱流(Ql 、Q茸 。 Qs  )を測定できるよう罠なっている特許請求の範
囲第1項から第6項までのいずれかに記載の熱波放射ざ
t−讐ネル。 8、  (1)光吸収率が相互に異なる複数の色に色分
は区分された検数の帯域からなる表面処理層(P)と、
(2)前記各帯域の表面温度を検知するための測温1f
l−抗体と当該帯域を均熱化するための金属メ。 キ層とを有する表面温度測定層(S)と、(3)前記各
帯域の熱at−検知するための熱電堆からなる熱流計層
(F)と、(4)ヒーター/I(H)とがこの順序に檀
鳩接合されていることを%徴とする熱流放射計・母ネル
。 9、 表面色処理層CP)が短波吸収率および階波吸収
率のいずれかが相互に責なる3纜の色に色分は区分され
た4数の帯域からなる%WF請求の範囲第8項記載の#
!−流放射計・ダネル。 10.3amの色に色分は区分された複数の(MVが縞
模様に配列されている%!F+請求の範囲第8項または
第9項記載の熱流放射計パネル。 11、表面色処理層(P)が、短波吸収率が約1で長波
吸収率が約0である色の帯域lと短波吸収率も長波吸収
率も共に約1である、黒色の帯域2とそして短波吸収率
が約0で長波吸収率が約1である白色の帯域3とに区分
されている%杵精求の範囲第10項記載の熱流放射計パ
ネル。 12、帯域1と帯域3との間に帯域2が配タリされてい
る特lFF請求の範囲第11項記載の熱11・計ノやネ
ル。 13、表面温度測定層(S)において、各帯域の表面m
度を検知するための測@抵抗体と当該帯域を均熱化する
ための金1メッキ層とが非411性基板を挾んでその両
側にそれぞれ配置さねており、かつ、同一色の帯域の表
面温度をそれぞれ検知するためのfAll温析抗体Vi
直列に連結されて両端の端子からそれらの帯域の平均表
面温度(Tl  r TmおよびTm  )を測定でき
るように構成されている特許請求の範囲第9項から第1
2項までのいずれかに1敏の熱流放射針パネル。 14  熱流計層(F)が複数の熱電堆からなり、各#
電増は熱電対を構成する一方の金属のセグメントと他方
の金属のセグメントとを交互に多数連結してなり、各セ
グメントは非導電性基板の一方の面の側にメッキされた
部分と他方の面の1IllKメツキされた部分とこれら
画部分を連通ずる前記基板に形成されたぼ通孔の内壁に
沿ってメッキされた部分とからな9、かつ同一色の帯域
の熱流を検知するための熱電堆Fi直列に連結されて両
端の端子からそれらの帯域の合計熱流(Q+  −Qx
  。 Qs  )を測定できるようになっている特許請求の範
囲第8JJIから第13項までのいずれかに記載の熱流
放置1計・臂ネル。 15  ヒータ一層(H)が、非4を性基板に電熱線を
配したものである特許請求の範囲第8頃力・ら第14項
までのいずれかに記載の熱流放射ぎt・?ネル◎ 16、を熱線を一回路に形成し、面全体に一様な熱供給
を行えるようにした特許請求の範囲第15項記載の熱流
放射計・母ネル。 17、同一色の帯域毎に電熱線の回路を独立させ、色の
異なる帯域毎に表面温度を制御できるようにした特許請
求の範囲第15項記載の熱波放射11+”ネル。 以下余白
[Scope of Claims] 1 (1) Color-coding into a plurality of colors with mutually different light absorption rates (divided into a plurality of colors);
), (2)@1 A resistance temperature detector for detecting the surface temperature of each zone and a metal member for equalizing the temperature of the d zone. a surface y4# measurement layer (,S) with a
A thermal wave radiometer/Dannel characterized in that the heat flow meter (F) consisting of a thermoelectric stack for detecting the heat flow of each of the above-mentioned Teikou is laminated and bonded in that order. 2. The surface color treatment layer (P) is divided into three types of colors, each of which has a shortwave absorption rate or a longwave absorption rate, and consists of nine initial bands. Heat flow radiometer/9 channels. A plurality of bands divided into 33 different colors are arranged in a striped pattern.Claim 1 or 2, the heat flow radiation set.! Nell. 4 The surface color treatment layer (P) has a color band with a shortwave absorption rate of about 1 and a longwave absorption rate of about O, and a black band @2 where both the shortwave absorption rate and longwave absorption rate are about 1. and a white band 3 where the shortwave absorption rate is about 0 and the longwave absorption rate is about 1. A heat flow radiometer 74 channel according to claim 3, which is divided into: 5. The heat flow radiometer/I channel according to item 4, wherein zone 2 is arranged between zone tiR1 and zone 3. 6. In the surface thermometer 1 constant layer (S), a resistance temperature detector for detecting the surface temperature of each zone and a metal plating layer for equalizing the temperature of the zone sandwich a non-conductive substrate. The resistance temperature detectors are placed on both sides and are connected in series to detect the surface temperature of each band of the same color, and the average surface temperature (T
1, Tm, and Ts) according to any one of claims 2 to 5. 7. The heat flow meter # (F) consists of a plurality of thermoelectric piles, and each thermoelectric pile is made up of a large number of 1# metal segments that make up the thermocouple and segments of the other metal, alternately. The segments are plated along the inner wall of a through hole formed in the substrate that communicates the plated portion on one side of the non-conductive substrate and the @ plated portion on the other side. The thermoelectric stacks are connected in series to detect the heat flow in the same color zone and the open section, so that the total heat flow (Ql, Qt, Qs) in those zones can be measured from the quartets at both ends. The thermal wave radiation zone according to any one of claims 1 to 6, which is a trap. 8. (1) A surface treatment layer (P) consisting of a count band divided into a plurality of colors with mutually different light absorption rates;
(2) Temperature measurement 1f for detecting the surface temperature of each zone
l-Metal metal for soaking the antibody and the zone. (3) a thermometer layer (F) consisting of a thermoelectric stack for detecting the heat in each zone; (4) a heater/I (H); The heat flow radiometer/mother flannel is characterized by the fact that they are joined in this order. 9. The surface color treatment layer CP) consists of four color bands divided into three colors in which either the shortwave absorption rate or the harmonic absorption rate is mutually responsible.Claim 8. # listed
! - Current radiometer Dunnell. A heat flow radiometer panel according to claim 8 or 9, in which a plurality of (MVs are arranged in a striped pattern) divided into 10.3 am colors. 11. Surface color treatment layer (P) has a color band l whose shortwave absorption coefficient is about 1 and a longwave absorption coefficient of about 0, a black band 2 where both shortwave absorption coefficient and longwave absorption coefficient are about 1, and a shortwave absorption coefficient of about 0. 12. The heat flow radiometer panel according to item 10, which is divided into a white band 3 having a long wave absorption coefficient of about 1 and a white band 3 having a long wavelength absorption coefficient of about 1. The heat 11/measuring channel according to claim 11. 13. In the surface temperature measurement layer (S), the surface m of each zone
A resistive element for detecting the temperature and a gold plating layer for equalizing the temperature of the band are placed on both sides of the non-411 substrate, and the same color band. fAll thermal antibody Vi for detecting surface temperature respectively
Claims 9 to 1 are connected in series and configured so that the average surface temperature (Tl r Tm and Tm ) of those zones can be measured from terminals at both ends.
Heat flow radiation needle panel of 1 degree in any of up to 2 terms. 14 The heat flow meter layer (F) consists of multiple thermoelectric piles, each #
A thermocouple consists of a large number of alternating metal segments connected to each other, each consisting of a plated portion on one side of a non-conductive substrate and a plated portion on the other side of the non-conductive substrate. 9, and a thermoelectric device for detecting heat flow in the same color band, consisting of the 1IllK plated portion of the surface and the plated portion along the inner wall of the through hole formed in the substrate that communicates these image portions. The total heat flow (Q+ −Qx
. A heat flow-exposed one-meter armpit according to any one of claims 8 JJI to 13, which is capable of measuring Qs). 15. The heat flow radiator according to any one of Claims 8 to 14, wherein the heater single layer (H) is a non-contact substrate with heating wires arranged on it. 16. The heat flow radiometer/mother flannel according to claim 15, wherein the hot wire is formed into one circuit in the flannel ◎ 16, so that heat can be uniformly supplied to the entire surface. 17. The heat wave radiation 11+" channel according to claim 15, in which the circuit of the heating wire is made independent for each band of the same color, so that the surface temperature can be controlled for each band of different colors.
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