JPS58117447A - 探傷装置 - Google Patents
探傷装置Info
- Publication number
- JPS58117447A JPS58117447A JP21459581A JP21459581A JPS58117447A JP S58117447 A JPS58117447 A JP S58117447A JP 21459581 A JP21459581 A JP 21459581A JP 21459581 A JP21459581 A JP 21459581A JP S58117447 A JPS58117447 A JP S58117447A
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- Japan
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- bubble
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- specimen
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/72—Investigating presence of flaws
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は探傷装ｆｊｃＭする。
材料０部品等の表面の傷を検査するのに従来でＦｉＷ＆
用するのを普通と１．ていた。す麿わちそム のひとつ〒あふ磁電探傷は、試験品に大ｔｍを流１、で
磁化し、とれにより傷の蘭分にでき石局部磁極或込Ｆｉ
浦洩磁束を鉄粉又は探索コイル等で検知する。或いｈ高
周波探傷は高周波磁界によるうず電流を発生させ、これ
によみ損失を測定すみようにした本のである。しかしこ
れら従来の探傷は試験品は金属に限られてかり、非金属
たとえば樹脂等につ−ての傷の探知は不可能である。又
このようなｔＳを応用すｂ探傷では、その測定に際して
の初期設定を必要不可欠とすみ等の欠点がある。
用するのを普通と１．ていた。す麿わちそム のひとつ〒あふ磁電探傷は、試験品に大ｔｍを流１、で
磁化し、とれにより傷の蘭分にでき石局部磁極或込Ｆｉ
浦洩磁束を鉄粉又は探索コイル等で検知する。或いｈ高
周波探傷は高周波磁界によるうず電流を発生させ、これ
によみ損失を測定すみようにした本のである。しかしこ
れら従来の探傷は試験品は金属に限られてかり、非金属
たとえば樹脂等につ−ての傷の探知は不可能である。又
このようなｔＳを応用すｂ探傷では、その測定に際して
の初期設定を必要不可欠とすみ等の欠点がある。
Ｍ気を応用中ふ他の探傷法について本すべて同じとと雀
言えふ。
言えふ。
この発明は金属、非金属を間けず、いずれの本ので本表
面の傷を、特別な初期設定を必要とせず。
面の傷を、特別な初期設定を必要とせず。
しか本簡単な構成で検知することを目的とする。
この発明は液体の沸騰による電池発生の現象を利用１−
で表面の傷を検査することを特徴とすみ。
で表面の傷を検査することを特徴とすみ。
液体が金属その他の伝ＭｒｊｊＪから気泡を発生して伝
熱する沸騰現象は１日常的によ（知られていふ。
熱する沸騰現象は１日常的によ（知られていふ。
このときの気泡の発生の難易は伝熱面の表面の粗さ、よ
ごれ等に多く依存しており、特に表面ガ極めて滑らふで
あふ場合、と本すれば気泡が発生せず、液体は沸点を献
え過熱状軽となり、このとき何ら九のショックを受けふ
と爆発的に沸騰すふこと幣あみ。これは突沸現象と１．
てよ（知られている帽１通常Ｆｉ第１図に承すような局
部的影状をもつ伝熱面Ａ＋７’ｌ青少傷Ｂ（たとえば極
めて滑らかな面では最少１０＃程度）ガミ泡発生の核と
なってｊ− 幇泡市生成１発達、＃１１脱ｔ（り近見され、日常観察
されふ沸騰が起る。
ごれ等に多く依存しており、特に表面ガ極めて滑らふで
あふ場合、と本すれば気泡が発生せず、液体は沸点を献
え過熱状軽となり、このとき何ら九のショックを受けふ
と爆発的に沸騰すふこと幣あみ。これは突沸現象と１．
てよ（知られている帽１通常Ｆｉ第１図に承すような局
部的影状をもつ伝熱面Ａ＋７’ｌ青少傷Ｂ（たとえば極
めて滑らかな面では最少１０＃程度）ガミ泡発生の核と
なってｊ− 幇泡市生成１発達、＃１１脱ｔ（り近見され、日常観察
されふ沸騰が起る。
とこで傷が核となふ清白としては、傷に残留していふ空
佐、素材（試験品）中に含まれている微量の不純物によ
ると考えられていふ傷の内部から出て（ふぐ体、或いは
いったん電池雀発牛して離悦したあ、！−において傷に
一部残った蒸ｇＫＳの存在により、伝熱面のエネＶギー
分布カー傷のところで極犬′と＆Ａためと瞬明されてい
ふ。
佐、素材（試験品）中に含まれている微量の不純物によ
ると考えられていふ傷の内部から出て（ふぐ体、或いは
いったん電池雀発牛して離悦したあ、！−において傷に
一部残った蒸ｇＫＳの存在により、伝熱面のエネＶギー
分布カー傷のところで極犬′と＆Ａためと瞬明されてい
ふ。
通常伝熱面の過熱度を高めふと、伝熱面全体に膜状に電
相零できふ沸騰現象が生じみが、これを１１！沸騰と呼
ばれふのに賞し、覧泡幣局部的に発生する状［１を核沸
騰と呼ばれていふ。この発明はこのような被沸騰におけ
ふ譬泡発生情伝熱面の表面の傷を核として生成すふ現象
に砦目し、前記電池をｍ察すふことによって前記傷を検
知すふように１、た龜のであみ。
相零できふ沸騰現象が生じみが、これを１１！沸騰と呼
ばれふのに賞し、覧泡幣局部的に発生する状［１を核沸
騰と呼ばれていふ。この発明はこのような被沸騰におけ
ふ譬泡発生情伝熱面の表面の傷を核として生成すふ現象
に砦目し、前記電池をｍ察すふことによって前記傷を検
知すふように１、た龜のであみ。
上記のようにこの発明では液体の沸１に＋利用する本の
であみ≠！、この種の沸騰は必ず１，４１加熱によって
のみ生ずる本のではなく、液体の圧力を下げふことによ
っても生ずみ。したがってこの発明で＃−ｉ加熱方式と
減圧方式との２方式省考えられみ。
であみ≠！、この種の沸騰は必ず１，４１加熱によって
のみ生ずる本のではなく、液体の圧力を下げふことによ
っても生ずみ。したがってこの発明で＃−ｉ加熱方式と
減圧方式との２方式省考えられみ。
特に減圧方式は、試験品の形状が複雑かもの、又は郁熱
幣困難であったり、加熱によってｆ％値監伴なう本の等
に適用［、て好適である。
幣困難であったり、加熱によってｆ％値監伴なう本の等
に適用［、て好適である。
又使用すふ液体としては、試験品の物性的性質（溶解度
、融点々ど）及び化学的性質（化学反応雀起ｂＪ、いか
否か）、更に検査条件（ｍ１度等）によって適宜選択す
ればよく、一般には、水、γＶコーＶ、グリセリンアセ
Ｆン石油碩、四塩化炭素などが使用できみ。液体の加熱
手段としては高周波加熱、ジュールｔｖ熱等、いずれの
手段で本利用できみ。電泡の検出は、光学的方法によ石
のが簡単〒あふ例、これ以外に本望泡によふ銹電率の賢
化をみふ静電容量方弐雀可能である。この場合液体は不
透明の本のでよい。
、融点々ど）及び化学的性質（化学反応雀起ｂＪ、いか
否か）、更に検査条件（ｍ１度等）によって適宜選択す
ればよく、一般には、水、γＶコーＶ、グリセリンアセ
Ｆン石油碩、四塩化炭素などが使用できみ。液体の加熱
手段としては高周波加熱、ジュールｔｖ熱等、いずれの
手段で本利用できみ。電泡の検出は、光学的方法によ石
のが簡単〒あふ例、これ以外に本望泡によふ銹電率の賢
化をみふ静電容量方弐雀可能である。この場合液体は不
透明の本のでよい。
ごの発明の実施例ｆｌ１２図以降の真因によってψ明す
ふ。第２図においで、ｘＦｉアＶミニュウムを為ら麿る
水槽〒、とれに液体２を入れ、底部からと−Ｊ＃ｃよっ
て加熱する。３＃：を試験品、４け直線的にのびふ傷と
すみ。ここで前記のように液体を加熱していけば、液体
２の沸点において傷４の附近ＫＶ泡が発生すふようにな
ふ。図のように傷４４ＥＫＩＩＪ的にのびる本のであれ
ば、電池本その傷４の全長にわたって発生すふようにな
ふ。この電泡を肉眼又は適当な光学系で検知することに
よって傷を検出することガｆきふことに慶る。
ふ。第２図においで、ｘＦｉアＶミニュウムを為ら麿る
水槽〒、とれに液体２を入れ、底部からと−Ｊ＃ｃよっ
て加熱する。３＃：を試験品、４け直線的にのびふ傷と
すみ。ここで前記のように液体を加熱していけば、液体
２の沸点において傷４の附近ＫＶ泡が発生すふようにな
ふ。図のように傷４４ＥＫＩＩＪ的にのびる本のであれ
ば、電池本その傷４の全長にわたって発生すふようにな
ふ。この電泡を肉眼又は適当な光学系で検知することに
よって傷を検出することガｆきふことに慶る。
本発明者の実験によれげ傷４としてナイフで幅及び深さ
それぞれα１３１ｍ＋、α２鱈、α３鱈の三角傷を試験
品（アｖミニウム板）３につけ、液体２と１．て水を使
用して実験【−だところ、水の沸騰初期において、それ
ぞれほぼα１１１１．α２ ｆｉ 、 ０．３１１１の
直径の覧泡邂傷の部分に発生すること値ＥＷｉ認された
。
それぞれα１３１ｍ＋、α２鱈、α３鱈の三角傷を試験
品（アｖミニウム板）３につけ、液体２と１．て水を使
用して実験【−だところ、水の沸騰初期において、それ
ぞれほぼα１１１１．α２ ｆｉ 、 ０．３１１１の
直径の覧泡邂傷の部分に発生すること値ＥＷｉ認された
。
軍３図はシート状の試験品について連続的に探傷すふ場
合の実施例を示す。１１は板状の試験品で、ロー１９１
２にのって矢印方向ＫＷＩＩ的Ｋｉｌ送されるものとす
み。その移送＃＃に沿つて、洗浄部１３、液体塗布部１
４ 、加熱部１５及び検出部１６をそれぞれ試験品１１
の表面に相対すふように６？。
合の実施例を示す。１１は板状の試験品で、ロー１９１
２にのって矢印方向ＫＷＩＩ的Ｋｉｌ送されるものとす
み。その移送＃＃に沿つて、洗浄部１３、液体塗布部１
４ 、加熱部１５及び検出部１６をそれぞれ試験品１１
の表面に相対すふように６？。
冒すふ。試験品１１は最初に洗浄部１３ において、洗
浄液１γ幣滴下され、続いて刷子１８ Ｋよって洗浄さ
れる。これは表面の汚れガ、電池発生の被となり得ふの
で、これによふ誤検出を避けるために行なり。洗浄され
た表面は次に液体塗布部１４において液体１９−ｈＥ塗
布される。この塗布は図のように回転ロー′９２０を利
用すふとよい。これによればほぼ一定量の液体１９を命
布すふことポ可能である。
浄液１γ幣滴下され、続いて刷子１８ Ｋよって洗浄さ
れる。これは表面の汚れガ、電池発生の被となり得ふの
で、これによふ誤検出を避けるために行なり。洗浄され
た表面は次に液体塗布部１４において液体１９−ｈＥ塗
布される。この塗布は図のように回転ロー′９２０を利
用すふとよい。これによればほぼ一定量の液体１９を命
布すふことポ可能である。
液体１９′Ｍ塗布され九試験品１１の表ｒｆｉＪＦｉＭ
いて加熱部１５の直下に到達し、ここで試験品並び［＠
布された液体１９ゴ加熱されふ。ここでＦｉｔ熱と−タ
２ｌ−ｈ１便用されてかり、液体１９ｆその沸点まで加
熱すみ。加熱され石部分に傷が存在しでいれば、その傷
の附近から電泡幣発生十ふ、この電池はＭいて検出部１
６で検出されふ、この檜小部１６け光源２２及びイメー
ジセンサ２３によってｌｌ１１故した例を示し、光＠２
２からの光を液体１９に投射１２．これＫＸふ電池の有
無をイメージセンサ２３づ【楡出すみ。電池を検出した
ときけイメージセンサ２３から所要の信号を出力＋る。
いて加熱部１５の直下に到達し、ここで試験品並び［＠
布された液体１９ゴ加熱されふ。ここでＦｉｔ熱と−タ
２ｌ−ｈ１便用されてかり、液体１９ｆその沸点まで加
熱すみ。加熱され石部分に傷が存在しでいれば、その傷
の附近から電泡幣発生十ふ、この電池はＭいて検出部１
６で検出されふ、この檜小部１６け光源２２及びイメー
ジセンサ２３によってｌｌ１１故した例を示し、光＠２
２からの光を液体１９に投射１２．これＫＸふ電池の有
無をイメージセンサ２３づ【楡出すみ。電池を検出した
ときけイメージセンサ２３から所要の信号を出力＋る。
このよらな方式を採用すふときけオンツイン検査幣賽行
″′Ｃ″きて都合がよい。図の例は試験品で平板であみ
み、これゴ管状、丸棒状等、いずれの形状の本ので本検
査可能であふ。
″′Ｃ″きて都合がよい。図の例は試験品で平板であみ
み、これゴ管状、丸棒状等、いずれの形状の本ので本検
査可能であふ。
以上の各実施例は加熱方式についてであったが。
纂４図は減圧方式の場合のＪｌｌ成を承す。ここでは減
圧容器３１内Ｉ／Ｃ液体３２及び試験品３３を密閉収納
すふ。禦泡の発生を容器３１の外から検出器（たとえば
カメラ等）３４によって檜出すみよう７）場合は、容器
３１の上面を透明な蓋３５〒密閉すればよい。３６は光
源であみ。容器３１には減圧装置３１値！連結されてあ
み。減圧装ｗ３′１はたとえばポンプ３８及び減圧弁３
９とによりｌＩＲ成されふ。ここで容１ｉＩ３１の内部
を減圧装［３）によって減圧させて、液体３２を沸騰さ
せふと、試験品３３の表面に傷≠（あれば、その傷の附
近に’ｌＣｌＣ泡中発生ようになふ。検出！Ｉ３４と【
、では２光学系の本のに代えてシリンダ又は超音波等を
用いた本のであって本よい。
圧容器３１内Ｉ／Ｃ液体３２及び試験品３３を密閉収納
すふ。禦泡の発生を容器３１の外から検出器（たとえば
カメラ等）３４によって檜出すみよう７）場合は、容器
３１の上面を透明な蓋３５〒密閉すればよい。３６は光
源であみ。容器３１には減圧装置３１値！連結されてあ
み。減圧装ｗ３′１はたとえばポンプ３８及び減圧弁３
９とによりｌＩＲ成されふ。ここで容１ｉＩ３１の内部
を減圧装［３）によって減圧させて、液体３２を沸騰さ
せふと、試験品３３の表面に傷≠（あれば、その傷の附
近に’ｌＣｌＣ泡中発生ようになふ。検出！Ｉ３４と【
、では２光学系の本のに代えてシリンダ又は超音波等を
用いた本のであって本よい。
以上詳述したようにこの発明によれば、＃体の沸騰によ
ふ禦泡の発生の有無によって、試験品の表面を探傷すふ
本のであみかち、従来のよりなマ覧を応用すふ各種の探
傷装ｆに比較ｌ、て、重線な構成で足り、又試験品は金
属、非金属を聞けず探傷が可能となふし、ｌＫ高電圧、
襄電陳或いけ放射線等を使用しないので、その取扱いけ
極めて簡便マあり、しか本検査条件に柔軟に対応できふ
といった各種の効果を奏する。
ふ禦泡の発生の有無によって、試験品の表面を探傷すふ
本のであみかち、従来のよりなマ覧を応用すふ各種の探
傷装ｆに比較ｌ、て、重線な構成で足り、又試験品は金
属、非金属を聞けず探傷が可能となふし、ｌＫ高電圧、
襄電陳或いけ放射線等を使用しないので、その取扱いけ
極めて簡便マあり、しか本検査条件に柔軟に対応できふ
といった各種の効果を奏する。
虞１図は東泡核となりうふ伝熱面の局部的形状を示す断
面図、第２図はこの発明の実施例を示す斜視図、第３図
、第４図はと本にこの発明の他の実施例ｆｙｖ＝−寸涜
成図であみ。 ２．１９．３ｇ１ｌｌ＋−・φ液体、３．１１．３３．
、、、、試験品、１５・・・・・加熱部、３〒・・・・
・減圧装置、１６゜３４・・・・・検出装曾
面図、第２図はこの発明の実施例を示す斜視図、第３図
、第４図はと本にこの発明の他の実施例ｆｙｖ＝−寸涜
成図であみ。 ２．１９．３ｇ１ｌｌ＋−・φ液体、３．１１．３３．
、、、、試験品、１５・・・・・加熱部、３〒・・・・
・減圧装置、１６゜３４・・・・・検出装曾
Claims (3)
- （１） 試験品の少（と本被探傷表面を液体で覆う装
置と、前記被探傷表面を覆った液体を沸騰させふＶＰｔ
ＩＩｔと、沸騰した液体内に、傷を禦泡核として発生す
ふ気泡を檜出すふ装着と力為らなる探傷装置。 - （２）液体を沸騰させふ装ｆＩが加熱装置である特許請
求の範囲＠１項記載の探傷装置。 - （３） ４体を沸騰させみ、装置ｆ−ｈＸ減圧装置で
あふ特許請求の範囲第１項記載の探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21459581A JPS58117447A (ja) | 1981-12-30 | 1981-12-30 | 探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21459581A JPS58117447A (ja) | 1981-12-30 | 1981-12-30 | 探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58117447A true JPS58117447A (ja) | 1983-07-13 |
Family
ID=16658314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21459581A Pending JPS58117447A (ja) | 1981-12-30 | 1981-12-30 | 探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58117447A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01301157A (ja) * | 1988-05-28 | 1989-12-05 | Nkk Corp | 誘電体表面のクラツク検出方法 |
| US5031456A (en) * | 1989-08-04 | 1991-07-16 | H.A.F.A. International, Inc. | Method for the detection of voids and corrosion damage by thermal treatment |
| US5733042A (en) * | 1994-12-26 | 1998-03-31 | Commissariat A L'energie Atomique | Device and method for testing an optical element subjected to radiation |
-
1981
- 1981-12-30 JP JP21459581A patent/JPS58117447A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01301157A (ja) * | 1988-05-28 | 1989-12-05 | Nkk Corp | 誘電体表面のクラツク検出方法 |
| US5031456A (en) * | 1989-08-04 | 1991-07-16 | H.A.F.A. International, Inc. | Method for the detection of voids and corrosion damage by thermal treatment |
| US5733042A (en) * | 1994-12-26 | 1998-03-31 | Commissariat A L'energie Atomique | Device and method for testing an optical element subjected to radiation |
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