JPS58114196A - センサ群の異常診断方法 - Google Patents
センサ群の異常診断方法Info
- Publication number
- JPS58114196A JPS58114196A JP20966481A JP20966481A JPS58114196A JP S58114196 A JPS58114196 A JP S58114196A JP 20966481 A JP20966481 A JP 20966481A JP 20966481 A JP20966481 A JP 20966481A JP S58114196 A JPS58114196 A JP S58114196A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- senna
- abnormal
- sensors
- vector
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- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明はプラントシステムにおけるセンサ群の異常診断
方法に関するものである。
方法に関するものである。
発明の技術的背景とその問題点
近時プラントシステムの大規模化、高性能化に伴って各
種の自動制御装置が導入され、このため（＝多数のセン
サが用いられるようＣ＝なった。
種の自動制御装置が導入され、このため（＝多数のセン
サが用いられるようＣ＝なった。
これらのセンナは単なる表示用ではなく、閉ループ自動
制御系のフィードバック（＝も使用され、その特性の変
化は直ちにプラントの特性（＝影響を及ばずので、高信
頼性が要求され、万一不具合が生じたときは直ち（二こ
れを発見する異常診断が不“回内となって来た。
制御系のフィードバック（＝も使用され、その特性の変
化は直ちにプラントの特性（＝影響を及ばずので、高信
頼性が要求され、万一不具合が生じたときは直ち（二こ
れを発見する異常診断が不“回内となって来た。
センナの異常は、それが完全に故障して出力が零ζ二な
るか、或いは過大Ｃ二なる場合はその発見が比較的容易
である。しかしながら特性の劣化、例えばドリフトの増
加、検出ゲインの変化、直線性の変化など緩慢な或いは
微少な変化をプラントの稼動中１：センナの使用状態で
発見することは極めて困難である。
るか、或いは過大Ｃ二なる場合はその発見が比較的容易
である。しかしながら特性の劣化、例えばドリフトの増
加、検出ゲインの変化、直線性の変化など緩慢な或いは
微少な変化をプラントの稼動中１：センナの使用状態で
発見することは極めて困難である。
これＣ二対して従来用いられている方法とその問題点を
あげると下記の通りである。
あげると下記の通りである。
（ａ） センサの動作範囲を規定し、これを超過した
とき異常と判定する方法〇 この方法は広く利用されているが、センナの動作範囲が
限られていてその上限値、下限値が設定できる場合にシ
か適用できない。またこの動作範囲Ｃ二ある限り、特性
が多少変化しても異常の検出はできないら （ｂ） 複数のセンナを並列に設け、その出力を常時
比較し、出力差が生ずれば異常と判定する方法。
とき異常と判定する方法〇 この方法は広く利用されているが、センナの動作範囲が
限られていてその上限値、下限値が設定できる場合にシ
か適用できない。またこの動作範囲Ｃ二ある限り、特性
が多少変化しても異常の検出はできないら （ｂ） 複数のセンナを並列に設け、その出力を常時
比較し、出力差が生ずれば異常と判定する方法。
これはセンサ系Ｇ二冗長性を取）入れたものであるが、
共通要因に基ずく特性の変化、例えば電源電圧の低下（
＝よる検出感度の低下などは全センサ１；共通に表われ
るの検出できない。
共通要因に基ずく特性の変化、例えば電源電圧の低下（
＝よる検出感度の低下などは全センサ１；共通に表われ
るの検出できない。
この対策としては異なる検出原理（二基ずくセンサを冗
長センサとして設けることＣ二よって成る程度防止でき
るが、何れＣ二しても複数のセンサを設けることＣ二よ
るコストの上昇、設置場所の増加、保守の複雑化などの
問題がある。
長センサとして設けることＣ二よって成る程度防止でき
るが、何れＣ二しても複数のセンサを設けることＣ二よ
るコストの上昇、設置場所の増加、保守の複雑化などの
問題がある。
発明の目的
本発明はこれらの問題を考慮してなされたもので、別シ
ニ診断用のセンナを設ける必要がなく、且つセンナの動
作値に関係なく、センサの使用状態Ｃ二おいてセンナ群
における異常発生の検出、異常センサの同定−−よび異
常程度の判別を行なえるセンナ群の異常診断方法を提供
することを目的としている。
ニ診断用のセンナを設ける必要がなく、且つセンナの動
作値に関係なく、センサの使用状態Ｃ二おいてセンナ群
における異常発生の検出、異常センサの同定−−よび異
常程度の判別を行なえるセンナ群の異常診断方法を提供
することを目的としている。
発明の概要
すなわち本発明（：よるセンナ群の異常診断方法は、プ
ラント内に設置された複数のセンサの異常を診断すると
き、先ずプラントモデルがらセンサ正常時のセンサ出力
間の関係式を定めておき、実際のセンナ出力を上記関係
式（二相いたときの偏差から異常センサの有無の判定お
よび異常センサの同定を行なうものである。
ラント内に設置された複数のセンサの異常を診断すると
き、先ずプラントモデルがらセンサ正常時のセンサ出力
間の関係式を定めておき、実際のセンナ出力を上記関係
式（二相いたときの偏差から異常センサの有無の判定お
よび異常センサの同定を行なうものである。
発明の実施例
以下先ず本発明の基本的な考え方（二ついて説明する。
一般にプラントシステム（＝おいては、各種の状態量（
例えば温度、圧力、流量等）の間にはプラントの特性（
プラントモデル）によって決まる関係式が成立する。
例えば温度、圧力、流量等）の間にはプラントの特性（
プラントモデル）によって決まる関係式が成立する。
今プラント（＝ｎ個のセンサが設置され、正常時：ニセ
＼ンサ出力８１〜＆間にプラントモデルで決まる下記の
線形方程式、Ｉ？ｓ成立するものとする。
＼ンサ出力８１〜＆間にプラントモデルで決まる下記の
線形方程式、Ｉ？ｓ成立するものとする。
なお非線形の場合でも、動作範囲が比較的狭い場合はテ
ーラ展開（二よって線形近似すれば線形として扱かうこ
とができる。
ーラ展開（二よって線形近似すれば線形として扱かうこ
とができる。
８＊＝ ａ鳩８＊＋ａ＊ａ８ｍ＋＝−＝＋ａＨ８
ｍ＋Ｃ。
ｍ＋Ｃ。
’％＝ａ＊＊Ｓｓ ＋ ｍｕ ８ｓ ＋ Ｈ＋＋＋
＋＋＋＋＋＋Ｊｉｓ ｓｍ ＋ Ｃ。
＋＋＋＋＋＋Ｊｉｓ ｓｍ ＋ Ｃ。
８ｍ＝ａｍ＠ ８＠ ＋ ａＨＳ鵞＋ ａｍｌ ｇ、＋
−−＋ａｓ＋ｙ１８ａ−ｓ ＋ Ｃ＋１上記の式
は下記のマトリックス形式で示すことができる。
−−＋ａｓ＋ｙ１８ａ−ｓ ＋ Ｃ＋１上記の式
は下記のマトリックス形式で示すことができる。
Ｓ ＝ ＡＳ ＋ Ｃ・・・・・・・・・・・・（１）
ここで ５＝ｃｓｔｓ雪・・・・・・＆）’Ｃ＝ ［
ＣＩ Ｃ鵞 ・・・・・・ＣＩ＆］？である。
ここで ５＝ｃｓｔｓ雪・・・・・・＆）’Ｃ＝ ［
ＣＩ Ｃ鵞 ・・・・・・ＣＩ＆］？である。
Ｓはセンナ出力ベクトル、Ｃは定数ベクトルであり、Ｔ
は転置ベクトルであることを示す。
は転置ベクトルであることを示す。
またＡは対角要素がゼロのマトリックスでセンサ出力相
互間の関係を与えるものであ）、プラントモデルよプ求
まる。
互間の関係を与えるものであ）、プラントモデルよプ求
まる。
今センナ群の中（＝異常が発生し、そ、の出力が変化し
て下記（２）式のようにＳからＳｙ＋二変比変化とする
Ｏ ８−＞Ｓν＝Ｓ＋ΔＳ ・曲回（２）このときは（１
）式の関係は成立しなくなるのでその誤差をΔ９（セン
サ誤差ベクトル）とするとΔ５ｉ＝Ｓｙ （ＡＳｙ＋
Ｃ） ＝（Ｉ−Ａ）・５ｙ−Ｃ曲・聞（３） となる０ここ（二■は単位マトリックスである。
て下記（２）式のようにＳからＳｙ＋二変比変化とする
Ｏ ８−＞Ｓν＝Ｓ＋ΔＳ ・曲回（２）このときは（１
）式の関係は成立しなくなるのでその誤差をΔ９（セン
サ誤差ベクトル）とするとΔ５ｉ＝Ｓｙ （ＡＳｙ＋
Ｃ） ＝（Ｉ−Ａ）・５ｙ−Ｃ曲・聞（３） となる０ここ（二■は単位マトリックスである。
（３）式に（１）式、（２）式を代入するとｇｍ＝（Ｉ
−Ａ）・％＝Ｍ・ΔＳ・・・・・・（４）ここにａｍｌ
−Ａであり、センサマトリックスと呼ぶ。センサの異常
診断はセンサより′の出力値Ｓｙを基に（３） 、 （
４）式よシΔＳすなわち各センサの変動値を求めること
である口 センサマトリックスＭが正則マトリックスの場合は（３
） 、 （４）式よシ ４＝ Ｍ−’ ＊ΔＳｌ＝ＳＦ−Ｍ−”−Ｃ・・・・−
・（５）４＝［ΔＳ、ΔＳ、・・・−ｎ） ９ 従ってｎ個のセンナにそれぞれしきい値マド・・り鳳を
設定しておくと、下記（６）式を満足したセンナを異常
と判定し、その変動値は−ｊとして求めることができる
。′ １Δ８ｊｌ＞りｊ ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・（６）（Ｊ＝ｉｔ ２ｔ・・・・・−ｎ） ｉｉＩ１図（二本発明（＝よるセンサ群の異常診断方法
の一実施例をフロー誉ヤードで示す。
−Ａ）・％＝Ｍ・ΔＳ・・・・・・（４）ここにａｍｌ
−Ａであり、センサマトリックスと呼ぶ。センサの異常
診断はセンサより′の出力値Ｓｙを基に（３） 、 （
４）式よシΔＳすなわち各センサの変動値を求めること
である口 センサマトリックスＭが正則マトリックスの場合は（３
） 、 （４）式よシ ４＝ Ｍ−’ ＊ΔＳｌ＝ＳＦ−Ｍ−”−Ｃ・・・・−
・（５）４＝［ΔＳ、ΔＳ、・・・−ｎ） ９ 従ってｎ個のセンナにそれぞれしきい値マド・・り鳳を
設定しておくと、下記（６）式を満足したセンナを異常
と判定し、その変動値は−ｊとして求めることができる
。′ １Δ８ｊｌ＞りｊ ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・（６）（Ｊ＝ｉｔ ２ｔ・・・・・−ｎ） ｉｉＩ１図（二本発明（＝よるセンサ群の異常診断方法
の一実施例をフロー誉ヤードで示す。
診断を開始する前に先ずステップ（１）でプラントモデ
ルを読込み、ステップ（２）でセンサマトリラス証を算
出し、さらＩニステップ（３）でしきい値η１〜η１を
設定しておく０診断を開始すると先ずステップ（４）で
一定時間ごとに全センナの出力を読込み、ステップ（５
）で（３）式を用いてセン＋誤差ベクトルΔＳ■を計算
し、次にステップ−で優）式を用いて各センナの変動量
を示すベクトル４を計算する。
ルを読込み、ステップ（２）でセンサマトリラス証を算
出し、さらＩニステップ（３）でしきい値η１〜η１を
設定しておく０診断を開始すると先ずステップ（４）で
一定時間ごとに全センナの出力を読込み、ステップ（５
）で（３）式を用いてセン＋誤差ベクトルΔＳ■を計算
し、次にステップ−で優）式を用いて各センナの変動量
を示すベクトル４を計算する。
次にステップ（７）でベクトルΔＳとステップ（３）で
設定され、たしきい値マ１ｔ・・・＊ｑｍとを順次比較
し、もし１Δ８ｊｔ＞ｖｊとなるセンサがあればそのセ
ンナ番号ｊをステップ（８）で出力し、ステップ（９）
でそのセンナ番号、変動量、変動−などを表示して修復
を行なう。
設定され、たしきい値マ１ｔ・・・＊ｑｍとを順次比較
し、もし１Δ８ｊｔ＞ｖｊとなるセンサがあればそのセ
ンナ番号ｊをステップ（８）で出力し、ステップ（９）
でそのセンナ番号、変動量、変動−などを表示して修復
を行なう。
すべてのセンサ（二ついてチェックが完了すると、一定
時間の間隔をおいて再度全センナの出力を読込み上記の
診断を繰返す。
時間の間隔をおいて再度全センナの出力を読込み上記の
診断を繰返す。
この場合は、複数センサＣ二同時−二異常が発生した場
合でも診断が可能である。
合でも診断が可能である。
さて上記第１図鑑二示す診断方法においては、センナマ
トリックスＭを正則マトリックスと仮定している。しか
しながらセンサの設置条件やプラントモデル（＝よって
はＭが正則でない場合すなわち行列式がＩＭＩ＝Ｏとな
る場合がある◇この場合は第１図の方法は採用できない
ので、以下（＝述べる近似方法を用いる。
トリックスＭを正則マトリックスと仮定している。しか
しながらセンサの設置条件やプラントモデル（＝よって
はＭが正則でない場合すなわち行列式がＩＭＩ＝Ｏとな
る場合がある◇この場合は第１図の方法は採用できない
ので、以下（＝述べる近似方法を用いる。
この１場合はセンサ誤差ベクトルｇｍ＋＝ウェイトマト
リックスＷをかけたウェイト付センナ誤差ベクトルΔＳ
にを用いる。
リックスＷをかけたウェイト付センナ誤差ベクトルΔＳ
にを用いる。
べｉ＝Ｗ・ΔＳｓ ・・・・・・・・・・・・（７
）Δ５ｓ＝（Δ８ＮΔＳＮ・・・・・・Δ５Ｎ）（４）
式を用いると（７）式は下記（８）式に変換される〇べ
５Ｎ＝Ｗ・Ｍ・ΔＳ ：＝Ｖ、 ｅΔ８．＋Ｖ、 ａ Δ８鵞＋＝・＋Ｖｔ５
−Δ８． Ｈ曲・（８）ここに ＶＪ ＝ ［”ｌ’唱鳥ｅＭＩＪ ｓ ・” −＠ Ｗ
ｌａ ｍ、Ｊ ）’（Ｊ ＝ １１２ｔ・−、ｎ ） ここでΔＳＮ〜ΔＳ：を座標軸とするｎ次元クサンサ誤
差ベクトル空間を考えると、ΔｓＮはこの空間内のベク
トルで表われ、各座標軸の成分値は（８）式で求まるΔ
８ＩＦベクトルの各成分値で決められる。
）Δ５ｓ＝（Δ８ＮΔＳＮ・・・・・・Δ５Ｎ）（４）
式を用いると（７）式は下記（８）式に変換される〇べ
５Ｎ＝Ｗ・Ｍ・ΔＳ ：＝Ｖ、 ｅΔ８．＋Ｖ、 ａ Δ８鵞＋＝・＋Ｖｔ５
−Δ８． Ｈ曲・（８）ここに ＶＪ ＝ ［”ｌ’唱鳥ｅＭＩＪ ｓ ・” −＠ Ｗ
ｌａ ｍ、Ｊ ）’（Ｊ ＝ １１２ｔ・−、ｎ ） ここでΔＳＮ〜ΔＳ：を座標軸とするｎ次元クサンサ誤
差ベクトル空間を考えると、ΔｓＮはこの空間内のベク
トルで表われ、各座標軸の成分値は（８）式で求まるΔ
８ＩＦベクトルの各成分値で決められる。
なお第２図はｎ ＝ ３とした３次元の場合を示してい
る。
る。
また（８）式で定義したベクトルＶｔｔ、、・、ｖＩも
上記ベクトル空間内で第２図Ｃ二示すようＣ比表わされ
、−Ｎ、はＶｌ、・・・、ｖｌ（二それぞれΔ８１．・
・・、Δ８勤を乗じてベクトル和を取ったものとなる◎ （８）式から分るよ５（二センナ正常時はΔｓ１１・・
・ｐΔＳ鳳＝０ となるので、ど＼乏ｉＮベクトルは零
ベクトルすなわち原点となる・ 従ってべｉベクトルの大きさ、即ちそのノルム１Δ５．
１を しきい値をηとすると、 ｌΔＳｏｌ＞η ・・・・・・・・・・・・顛で１セ
ンサ異常”と判定する・ 次ζ；どのセンサが異常かは（８）式と第２図とよりベ
クトルＡＳ、とＶｌ ｒ・・・ｅ ｖａとの間のベクト
ル角度θ、。
上記ベクトル空間内で第２図Ｃ二示すようＣ比表わされ
、−Ｎ、はＶｌ、・・・、ｖｌ（二それぞれΔ８１．・
・・、Δ８勤を乗じてベクトル和を取ったものとなる◎ （８）式から分るよ５（二センナ正常時はΔｓ１１・・
・ｐΔＳ鳳＝０ となるので、ど＼乏ｉＮベクトルは零
ベクトルすなわち原点となる・ 従ってべｉベクトルの大きさ、即ちそのノルム１Δ５．
１を しきい値をηとすると、 ｌΔＳｏｌ＞η ・・・・・・・・・・・・顛で１セ
ンサ異常”と判定する・ 次ζ；どのセンサが異常かは（８）式と第２図とよりベ
クトルＡＳ、とＶｌ ｒ・・・ｅ ｖａとの間のベクト
ル角度θ、。
・・・、θ必うち最小のものを見付けることによって判
定できる。ベクトル角度θｊは次のαυ式によってあた
えられる。
定できる。ベクトル角度θｊは次のαυ式によってあた
えられる。
ここでｉ＝１．・・・＋ｎｐ Ｊ＝ｌ、・・・、ｎであ
シ、ΔＳＮはセンサの出力値Ｓｔｌ”ｌ−（５）式およ
び（８）式を適用して求めたΔＳｓの各成分値である。
シ、ΔＳＮはセンサの出力値Ｓｔｌ”ｌ−（５）式およ
び（８）式を適用して求めたΔＳｓの各成分値である。
また変動量は次のαの式であたえられる。
ΔＳｊ＝Δ８）Ｉｊ／（Ｗｊ−Ｍｌｊ）・・・・・・・
・・αり上記近似方・法を用いた本発明の他の実施例の
フローチャートを第３図Ｃ：示す。
・・αり上記近似方・法を用いた本発明の他の実施例の
フローチャートを第３図Ｃ：示す。
第３図１＝おいて、ステップ（１）からステップ（５）
までは第１図と同じである◎但しステップ（３）ではし
きい値ηの他にウェイドルも設定する。
までは第１図と同じである◎但しステップ（３）ではし
きい値ηの他にウェイドルも設定する。
次Ｃ＝ステップ（６）で（８）式を用いてウェイト付誤
差ベクトル４を計算する。次Ｃニステップ（７）でΔＳ
ＮのノルムＩｇＮｌを（９）式を用いて計算する。
差ベクトル４を計算する。次Ｃニステップ（７）でΔＳ
ＮのノルムＩｇＮｌを（９）式を用いて計算する。
次；ニステップ（８）でノルムＩΔＳＮ１としきい値η
との比較を行ない、ｌＡｓｘ１＞ηのときセンサ異常と
判断して表示を出す。
との比較を行ない、ｌＡｓｘ１＞ηのときセンサ異常と
判断して表示を出す。
センサ異常の場合は、次Ｃ二どのセンナか異常かの判別
Ｃ二人る。すなわちステップ（９）で１センナ異常”が
出力されると、ステップａ・でベクトル角度＃Ｊ（ｊ＝
１〜ｎ）す計算し、ステップ■でθｊが最小となるｊを
求め、ステップａ擾でとれを異常センナとして同定し、
次Ｃニステップ四で異常センナのデータ（セ／す番号、
変動量、装動チなど）を表示する。
Ｃ二人る。すなわちステップ（９）で１センナ異常”が
出力されると、ステップａ・でベクトル角度＃Ｊ（ｊ＝
１〜ｎ）す計算し、ステップ■でθｊが最小となるｊを
求め、ステップａ擾でとれを異常センナとして同定し、
次Ｃニステップ四で異常センナのデータ（セ／す番号、
変動量、装動チなど）を表示する。
異常センナの修復后は再びステップ（４）より診断（二
はいる。異常上／すが存在−ｔ、、を帥１と自はステッ
プＩを経て一定時間後再び一ステップ（４）に戻９、上
記の診断動作を繰返す。
はいる。異常上／すが存在−ｔ、、を帥１と自はステッ
プＩを経て一定時間後再び一ステップ（４）に戻９、上
記の診断動作を繰返す。
これによって異常センナの有無の判別、異常センナの同
定、および異常値の判定を行なうことができる。
定、および異常値の判定を行なうことができる。
発明の詳細
な説明したように、本発明（二よれば、（ａ）−センサ
診断のための別の冗長センサを設ける必要がない、 φ）センサの動作範囲のどの点でも診断ができる、 （Ｃ） 異常センサの同定のみでなく、変動量も検知
できる、 （ｄ） 従ってコスト、設置スペース、保守の面で有
利である、 などの＊＊をもった合理的なセンナ群の異常診断方法が
得られる・
診断のための別の冗長センサを設ける必要がない、 φ）センサの動作範囲のどの点でも診断ができる、 （Ｃ） 異常センサの同定のみでなく、変動量も検知
できる、 （ｄ） 従ってコスト、設置スペース、保守の面で有
利である、 などの＊＊をもった合理的なセンナ群の異常診断方法が
得られる・
第１図は本発明Ｃ二よるセンナ群の異常診断方法の一実
施例を示すフローチャート、第２図はウェイト付センナ
誤差ベクトルを示す図、第３図は第２図のウェイト付セ
ンナ誤差ベクトルを用いた本発明の他の実施例を示すフ
ローチャートである。 （８７３３） 代理人弁理士 霧膜 拝見 （ほか１
名）第１図
施例を示すフローチャート、第２図はウェイト付センナ
誤差ベクトルを示す図、第３図は第２図のウェイト付セ
ンナ誤差ベクトルを用いた本発明の他の実施例を示すフ
ローチャートである。 （８７３３） 代理人弁理士 霧膜 拝見 （ほか１
名）第１図
Claims (1)
- プラント内に設置された複数のセンナの異常を診断する
センサ群の異常診断方法Ｃ二おいて、プラントモデルか
らセンナ正常時の竜ンサ出力間の関係式を定めておき、
実際のセンナ出方を上記関係式（；用いたときの偏差Ｓ
；よって異常センナの有無の判定および異常センナの同
定を行なうことを特徴とするセンサ群の異常診断方法◎
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20966481A JPS58114196A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | センサ群の異常診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20966481A JPS58114196A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | センサ群の異常診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58114196A true JPS58114196A (ja) | 1983-07-07 |
Family
ID=16576554
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20966481A Pending JPS58114196A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | センサ群の異常診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58114196A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60104220A (ja) * | 1983-08-06 | 1985-06-08 | ダイムラ−−ベンツ アクチエンゲゼルシヤフト | センサの性能の検査方法 |
| JPS6176910A (ja) * | 1984-09-22 | 1986-04-19 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 角度センサの故障検出装置 |
| JPS6227672A (ja) * | 1985-07-29 | 1987-02-05 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | センサ−の自己診断装置 |
| JPH10115534A (ja) * | 1996-10-11 | 1998-05-06 | Yamatake Honeywell Co Ltd | センサ診断方法及び装置 |
| JP2006504113A (ja) * | 2002-10-23 | 2006-02-02 | ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | 内燃機関の範囲内の測定変数を検出する、少なくとも３つのセンサの検査方法 |
| JP2012158700A (ja) * | 2011-02-01 | 2012-08-23 | Ihi Corp | 温度制御装置および温度制御方法 |
-
1981
- 1981-12-28 JP JP20966481A patent/JPS58114196A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60104220A (ja) * | 1983-08-06 | 1985-06-08 | ダイムラ−−ベンツ アクチエンゲゼルシヤフト | センサの性能の検査方法 |
| JPS6176910A (ja) * | 1984-09-22 | 1986-04-19 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 角度センサの故障検出装置 |
| JPH0571886B2 (ja) * | 1984-09-22 | 1993-10-08 | Hitachi Construction Machinery | |
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| JP2012158700A (ja) * | 2011-02-01 | 2012-08-23 | Ihi Corp | 温度制御装置および温度制御方法 |
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