JPS58111758A - Trigger circuit - Google Patents
Trigger circuitInfo
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- JPS58111758A JPS58111758A JP21109081A JP21109081A JPS58111758A JP S58111758 A JPS58111758 A JP S58111758A JP 21109081 A JP21109081 A JP 21109081A JP 21109081 A JP21109081 A JP 21109081A JP S58111758 A JPS58111758 A JP S58111758A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/32—Circuits for displaying non-recurrent functions such as transients; Circuits for triggering; Circuits for synchronisation; Circuits for time-base expansion
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は例えばディジタル信号の波形規側ヲ行うための
波形観測装置gのトリガ回路に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a trigger circuit for a waveform observation device g for performing waveform monitoring of a digital signal, for example.
ディジタル信号の波形m側を行うために、記憶形波形観
測装置が用いられているが、この装置には・視測を目的
とする信号を促えるためのトリガ回路を有している。A memorized waveform observation device is used to measure the waveform m side of the digital signal, and this device includes a trigger circuit for prompting a signal for visual observation.
従来のこの種トリガ回路は、単一または複数の信号状態
を監視し、観測者が設定した特定条件が成立したと鎗に
トリガ信号ケ発生し、被測定信号の記憶、再圧?行なう
ものである。Conventional trigger circuits of this type monitor single or multiple signal states, and when specific conditions set by the observer are met, a trigger signal is generated, and the measured signal is memorized and re-pressured. It is something to do.
すなわち、第1図および@2図は従来のトリガ回路の構
成図を示すものであるri第1図において、ch+〜c
hnは被測定信号1〜nが夫々入力されろ入力端子で、
各端子Ch+〜chnは夫々コンパレータcp+〜CT
)nの一端に接続され、各コンパレータCp1〜Cpn
の他端はレベル設定スイツ−F−IJ1〜LEnに接続
される。またCpj〜cpnの出力側は、夫々眞択スイ
ッチSE、〜5EnY介してアンド回路ANDのふ入力
端子に接続されている。各コンパレータcp1〜cpn
は、入力信号とレベル設電1i[とが比較され、入力信
号1H1で論理信号111y出力し1選択スイッチSE
1〜SEnのうち、オンされたスイッチの各チャンネル
が全て条件成立したと件、アンド回路A悶りはトリガ信
号を発生し1図示省略の耐直回路に出力される。 □
捷た第2図の回路は、アンド回路ANDに代えてオア回
TIl!rORが用いられ%また各コンパレータcp1
〜cpnは入力信−号“Llで論理11″を出力するも
のである。したがってこの回路は1選択スイッチSE1
〜SEnのうち、オンされた選択スイッチのチャンネル
のうち、何れかが条件成立したと弾にオア回%ORより
トリガ信号夕発生し1図示省略の記憶回路に出力される
。上記のように、従来のトリガ回路でのトリガ発生は1
選択さ肚た特定の条件が成立したと六にしか発生されな
いため、ある時点で発生が予想されるような信号が発生
しなかった場合、これを検出して観測することは不可H
Pとなっている。このことは一定の時間毎に周期的に発
生すべ鎗信号が何等かの理由で欠落したり、或いはイン
ターバルが異常に長くなったりする波形の観劇11が出
来ないことになる。That is, Figures 1 and 2 show the configuration diagrams of conventional trigger circuits.In Figure 1, channels from ch+ to c
hn is an input terminal to which the signals under test 1 to n are respectively input;
Each terminal Ch+~chn is a comparator cp+~CT, respectively.
) n, and each comparator Cp1 to Cpn
The other end is connected to level setting switches F-IJ1 to LEn. Further, the output sides of Cpj to cpn are connected to the input terminal of an AND circuit AND via selection switches SE and 5EnY, respectively. Each comparator cp1 to cpn
compares the input signal with the level power setting 1i[, outputs the logic signal 111y with the input signal 1H1, and selects the 1 selection switch SE.
When the conditions of all the channels of the turned-on switches among channels 1 to SEn are satisfied, the AND circuit A generates a trigger signal and outputs it to a durability circuit (not shown). □ The circuit shown in Figure 2 is an OR circuit instead of an AND circuit. rOR is used% and each comparator cp1
~cpn outputs logic 11 at input signal "Ll". Therefore, this circuit has 1 selection switch SE1
-SEn, when any of the channels of the turned-on selection switch satisfies the condition, a trigger signal is generated from the OR times %OR and is output to a storage circuit (not shown). As mentioned above, the trigger generation in the conventional trigger circuit is 1
It is only generated when certain selected conditions are met, so if a signal that is expected to occur at a certain point does not occur, it is impossible to detect and observe it.
It is P. This means that it is not possible to watch the play 11 in which the waveform signal, which is generated periodically at regular intervals, is missing for some reason or the interval is abnormally long.
特に最近の?]雑比したディジタル回路では、周期的に
発生すべき信号が出ない場合や、インターバルが異常に
畏くなることに伴なって装置全体の誤動作をひ礫起すこ
とも柿ではなく、このようなトラブルに対して従来のト
リガ回路を有する波形観測装置tを用いて原因を解明す
ることは非常に困離であった。Especially lately? ] In a miscellaneous digital circuit, it is not a persimmon that the signal that should be generated periodically does not appear, or the interval becomes abnormally large, causing malfunction of the entire device. It has been extremely difficult to determine the cause of a problem using a waveform observation device having a conventional trigger circuit.
本発明はか\る点に鑑みなされたもので、その目的とす
るところは一定のインターバル’kWして周期的に発生
すべ鎗信号が欠落したり、インターバルが異常に良くな
った場合にそれを検出してトリガ信号を発生するような
トリガ回路を提供せんとするものである、
以下図に基いて本発明の一実施例〉詳述する。The present invention has been developed in view of the above, and its purpose is to detect the occurrence of a signal that is generated periodically at a constant interval of kW or when the interval becomes abnormally good. DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention, which aims to provide a trigger circuit that detects and generates a trigger signal, will be described in detail below with reference to the figures.
第3図は本発明の一実施例を示す回洛溝成図で、一点破
線で囲んだ部分がトリガ回路で、ある信号へを条件とし
、この信号Aの発生から一定時間(一定クロック数)後
に別の信号Bが発生することが見込1れている回路で、
信号Bが欠落するのを規則するものである。同図におい
て、1は第1の入力バッファ部で前段トリガ条件信号A
RMが入力されると@1の情報切換部2の指令により信
号の立上り(正)または信号の立下りに意味をもたせる
場合には(負)の変化を検出して信号C8t出力する。FIG. 3 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention. The part surrounded by a dotted line is a trigger circuit, which is set as a condition for a certain signal and takes a certain period of time (a certain number of clocks) from the generation of this signal A. In a circuit in which another signal B is expected to be generated later,
This rule prevents signal B from being dropped. In the same figure, 1 is the first input buffer section, which is the pre-stage trigger condition signal A.
When RM is input, a command from the information switching section 2 of @1 detects a change in the rising edge (positive) of the signal or (negative) if the falling edge of the signal is to be given meaning and outputs a signal C8t.
3はカウント開始メモリで、このメモリ3はエツジトリ
ガタイプのメモリで、−担C8を受けると信号Cmを出
力し、次に信号CRを受けるまでその状態す保持する。Reference numeral 3 designates a count start memory. This memory 3 is an edge trigger type memory, which outputs a signal Cm when it receives a -carrier C8, and maintains that state until it receives a signal CR next time.
4は8g2の入力バッファ部で、このバッファ部4も1
とl1nIC第2の情報切換部5の指令により被TfA
II足信号8SGの信号変化が正11111或いは負側
に変化したことを検出し、オア回路6を斤してリセット
信号CRとしてカウント開始メモリ3とカウンタ7に出
力する。4 is the input buffer section of 8g2, and this buffer section 4 is also 1
According to the command from the l1n IC second information switching unit 5,
It is detected that the signal change of the II foot signal 8SG has changed to the positive 11111 or negative side, and outputs it to the count start memory 3 and the counter 7 as a reset signal CR through the OR circuit 6.
9はクロックジェネレータで、クロック周期設定部10
の設定周勘TCK基いてクロック信号ICン出力する。9 is a clock generator, and a clock cycle setting section 10
A clock signal IC is output based on the set frequency TCK.
11はH3の入力バッファ部で、外部よりのクロック信
号KXC’i人力し、クロックセレクタ12の入力端に
信号ECi出力する。13は第3の一報切喚部で、クロ
ックジェネレータ9と入力バッファ部11に対し変化検
出ノベルの正。Reference numeral 11 denotes an input buffer section of H3, which receives an external clock signal KXC'i and outputs a signal ECi to the input terminal of the clock selector 12. Reference numeral 13 denotes a third notification alarm section, which sends a change detection signal to the clock generator 9 and input buffer section 11.
負の設定偏倚を与える。クロックセレクタ12は。Gives a negative setting bias. The clock selector 12 is.
クロック切換部14の命令に基鎗、入力された内部クロ
ックICか、y、いは外部クロックEC’に選択して信
号CLを出力する。15はアンド回路で、信号CEとO
Lとの論理積信号をカウンタ7Il′r出力し、カウン
タ7はリセット信号CRが印加されるまで入力パルス数
をカウントてる。16はラッチメモリで、検出カウント
(置設足部17よりの設定値nv配憶する。、18はセ
ット信号発生部で。Based on the command of the clock switching unit 14, the input internal clock IC, y, or external clock EC' is selected and the signal CL is output. 15 is an AND circuit, which connects signals CE and O.
A logical AND signal with L is outputted to the counter 7Il'r, and the counter 7 counts the number of input pulses until the reset signal CR is applied. 16 is a latch memory for storing the detection count (set value nv from the installation foot 17), and 18 is a set signal generating section.
ラッチメモリ16に対してセット信号を与え、!またオ
ア回路6を介してカウント開始メモリ3とカウンタ ’
7に対してクリア信号を与える。、19はコンパレータ
で、このコンパレータ19は設定11■n Y Bとし
、カウンタ7のカウントf[E ffl Y Aとした
とき、A>Bの条件で例えば波形観測用の記憶回路にト
リガ信号TRGを出力する。Give a set signal to the latch memory 16, and! Also, the count start memory 3 and the counter '
Give a clear signal to 7. , 19 is a comparator, and this comparator 19 is set to 11■n Y B, and when the count f[E ffl Y A of the counter 7 is set, the trigger signal TRG is sent to the memory circuit for waveform observation under the condition of A>B. Output.
以tの如く構成された本発明においてその動作を説明す
る。先ず第一に条件信号ARMの発生から被測定信号S
SGの発生までのインターバルが外部クロック数で与え
らする場合を第4図を用いて説明する。The operation of the present invention configured as described below will be explained. First of all, from the generation of the condition signal ARM to the signal under test S
The case where the interval until the generation of SG is given by the number of external clocks will be explained with reference to FIG.
第1〜!1の情報切換部2.5.13′ik−夫々正1
41+1(−1−1に切換え、クロック切換部14の面
分によりクロツクセレクタ12Y外部クロックgXc’
1llHc接続する。また検出カウント附設定部17に
てnを設定し、セット信号発生部18よりセット信号ケ
発生する。これによりラッチメモリ16には設定111
nがセットされ、カウント開始メモリ3およびカウンタ
7は夫々オア回路6を介して入力される信号によりクリ
アされる。このような状態において、時刻も1時に前段
トリガ条件信号ARMが入力されると、入力バッファ部
1は信号ARMのJ七りを検出してCBを出力する。カ
ウント開始メモリ3は、この信号CBを条件にアンド回
路15の一万の入力端に信号CF、を出力し続ける。1st~! 1 information switching unit 2.5.13'ik - each positive 1
41+1 (-1-1), and the clock selector 12Y external clock gXc'
Connect 1llHc. Further, the detection count setting section 17 sets n, and the set signal generating section 18 generates a set signal. As a result, the latch memory 16 is set to 111.
n is set, and count start memory 3 and counter 7 are cleared by signals input via OR circuit 6, respectively. In this state, when the pre-stage trigger condition signal ARM is input at 1 o'clock, the input buffer section 1 detects the J7 signal of the signal ARM and outputs CB. The count start memory 3 continues to output the signal CF to the input terminal of the AND circuit 15 under the condition of the signal CB.
一方アンド回111i!15の他方の入力端には外部ク
ロック信号EXCが入カバツフ了部11.クロックセレ
クタ12を介してクロック信号CLとして入力されるの
でアンド回路15ではアンド条件が成立し、カウンタ1
1に人力されてカウントが開始される。時刻t2となり
nクロック後に被測定信号SSGが発生すると入力バッ
ファ部4はその立上りを検出して信号C,,PLを発生
し、カウンタ開始メモリ3とカウンタ7とは夫々クリア
されるので。On the other hand, and episode 111i! The external clock signal EXC is input to the other input terminal of the buffer section 11.15. Since it is input as the clock signal CL via the clock selector 12, the AND condition is satisfied in the AND circuit 15, and the counter 1
1 and counting starts. When the signal under test SSG is generated after n clocks at time t2, the input buffer section 4 detects its rising edge and generates the signals C, PL, and the counter start memory 3 and counter 7 are cleared respectively.
コンパレータ19に出力されるカウントl阜on &Z
e電値nを超えることがないのでトリガ<q号TRG
は出力されない。ところが第4図点−で示すように、ク
ロックHCXC偏号のn後に発生すべき被測定信号88
Gが発生しないとカウンタ 7 のカウントを工続けら
れ、そのカウント1百山が設定1歯nを0
超えた瞬間の時刻t3時にコンパレータ19はトリガイ
ぎ号を出力する。Count output to comparator 19 &Z
Since the e-electric value does not exceed n, the trigger < q TRG
is not output. However, as shown by the dot in Figure 4, the measured signal 88 that should be generated after n of the clock HCXC decoding.
If G does not occur, the counter 7 continues counting, and the comparator 19 outputs a trigger signal at time t3 at the moment when the count 100 exceeds the set 1 tooth n by 0.
次に第二の測定法として、信号ARMの発生から信号S
SGの発生までのインターバルが時間で与えられる場合
について第5図を用いて説明する。Next, as a second measurement method, from the generation of the signal ARM to the signal S
The case where the interval until the occurrence of SG is given by time will be explained using FIG. 5.
この場合1条件信号ARMが発生してから被測定信号S
SGが発するまでのインターバルが時間で辱えられるの
で、クロック周部設定部10にて周期’r C時間に設
定し、クロック切換部14を介して〃ロックセレクタ1
2な内部クロックI C11111に切換える。そして
信号ARM発生から信号SSG発生までの時間!Tとす
ると、これらTcとTから検出カウント値設足部14の
設定カウント匝nを次のように算出する。In this case, after the first condition signal ARM is generated, the signal under test S
Since the interval until the SG is emitted is determined by time, the clock frequency setting section 10 sets the period to 'rC time, and the clock switching section
2 internal clock IC11111. And the time from generation of signal ARM to generation of signal SSG! Assuming T, the set count value n of the detection count value setting section 14 is calculated from these Tc and T as follows.
但しαは時間Tの精度に応じて決めら扛る電数で、この
ようにして設定@nを決めた後セット信号発生部1Bよ
りセット信号を出力することにまり44図で説明したと
同様にして被測定信号の欠落や異常に遅れたことを検出
することかで六る。なお、時刻t2で信号SSGが欠落
し、それを検出して時刻t4圧てトリガ信号TRG’1
%出力するまでの遅れ時間Tdは、第4図の場合におい
ては外部クロックBXCの1クロック分であるが%第5
図の場合は、最大内部クロックICのαクロック分であ
る。However, α is the number of electric currents determined according to the accuracy of time T, and after determining the setting @n in this way, it is decided to output the set signal from the set signal generator 1B, as explained in Fig. 44. This method can be used to detect missing or abnormally delayed signals in the measured signal. It should be noted that the signal SSG is lost at time t2, and it is detected and the trigger signal TRG'1 is generated at time t4.
The delay time Td until the % output is one clock of the external clock BXC in the case of FIG.
In the case of the figure, it is α clock of the maximum internal clock IC.
αは1以上の値であり、与えられるタイムインターバル
の精度に応じて適切な値を選択する必要があるが、イン
ターバルの時間が充分に高い精度で与えられると鎗はT
cとαを小さくし、nを大欠くすることによりTdを小
さくすることが出来て2
応答の速いトリガ信号を得ることがで虜る。α is a value of 1 or more, and it is necessary to select an appropriate value according to the accuracy of the given time interval, but if the interval time is given with a sufficiently high precision, the spear will be T
By making c and α small and n large, Td can be made small, and 2. I am fascinated by the fact that I can obtain a trigger signal with a fast response.
次に第三の測定法として信号ARMと88Gとの発生に
繰返し性のある場合についての適用例を第6図を用いて
説明する。この場合、信号ARM発生より信号SSG発
生管での時間(・工、内部りaツクでも外部りaツクで
も可能であるが1時刻t1からt2に相当する設定は前
記実m例同様検出カウント+1設定部17[て設定され
1着た時刻t3にて信号88G欠落時には同様の回路動
作で時刻t4でトリガ信号を出力する。Next, as a third measurement method, an example of application in the case where the generation of signals ARM and 88G has repeatability will be explained using FIG. 6. In this case, the time from the signal ARM generation to the signal SSG generation tube (-) can be set either internally or externally, but the setting corresponding to 1 time t1 to t2 is the detection count + 1 as in the above-mentioned example. When the signal 88G is missing at the time t3 when the signal 88G is set by the setting unit 17[, the trigger signal is outputted at the time t4 by the same circuit operation.
以ヒのように本発明は、ディジタル回路において特電の
条件成立信号発生から一足時間(一定クロック数)f&
に発生することが予測されている信号が何等かの理由で
欠落した場合にトリガ信号を発生する手段として、前も
ってラッチメモリfカ3
ラントI[を記憶させ、条件成立信号とクロック信号と
の論理積信号をカウンタにてカウントし、且つ被測定信
号にてカウンタをリセットすると共にこのカウント匝と
前記設定値とをコンパレータで比較し、異常時にはトリ
ガ信号を出力するよ5にしたものである。したがって本
発明を例えば波形観測装置のトリガ回路に適用でれば、
既存の波形観測装置では観測困難であった現象が促え易
く。As described below, the present invention provides a digital circuit with one time period (fixed number of clocks) f &
As a means of generating a trigger signal when a signal that is predicted to be generated is missing for some reason, a latch memory f3 is stored in advance and the logic between the condition fulfillment signal and the clock signal is stored. The product signal is counted by a counter, the counter is reset by the signal to be measured, and this count value is compared with the set value by a comparator, and a trigger signal is output when an abnormality occurs. Therefore, if the present invention is applied to a trigger circuit of a waveform observation device, for example,
Phenomena that are difficult to observe with existing waveform observation equipment are likely to occur.
1台の装置の活用範囲を大巾に拡弛することが出来る。The scope of use of one device can be greatly expanded.
また従来の波形観測装置で1・工大際に発生てる現象か
らトリガを生成する方式をとっているので、何等かの理
由で信号が欠落する場合、その現象ケ促えることが出来
ず1回路の試験やトラブルシューテングには美大な時間
!費やさなければならなかった。この点本発明では信号
欠落時にトリ 4
力信号を発生させているので、トラブルの原因究明のた
めの時間が大巾に短縮される等像めてM益なる利点を有
するものである。In addition, since conventional waveform observation equipment uses a method to generate a trigger from a phenomenon that occurs at the time of engineering, if a signal is lost for some reason, the phenomenon cannot be detected and one circuit Great time for testing and troubleshooting! had to spend. In this regard, in the present invention, since a trigonometric signal is generated when a signal is lost, there are significant advantages such as the time required to investigate the cause of a trouble is greatly shortened.
第1図及び第2図は従来のトリガ回路の構成図、第3図
は本発明の一実施例を示す回路構成図、第4図、第5図
、第6図は夫々本発明を説明するための波形図である。
1.4.11は夫々人力バッファ部、3はカウント開始
メモリ、7は〃ウンタ、9はクロックジェネレータ、1
6はラッチメモリ、19はコンバノータ。
5
第
3図Figures 1 and 2 are block diagrams of a conventional trigger circuit, Figure 3 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention, and Figures 4, 5, and 6 respectively explain the present invention. FIG. 1.4.11 are manual buffer sections, 3 is a count start memory, 7 is a counter, 9 is a clock generator, 1
6 is a latch memory, 19 is a combiner. 5 Figure 3
Claims (1)
定時間後に発生される被測定信号の欠洛や遅れを、険出
し、トリガ信号を発生するものに於て、前記条件成立信
号の入力を険出して出力を発生し補記被測定信号の発生
にてリセットされるカウント開始メモリと、このカウン
ト開始メモリよりの出力信号とクロック信号との論理積
信号をカウントし、1つ前記被測定信号にてリセットさ
れるカウンタと、lfa出カウント櫃設定部よりのe?
倍信号記憶するラッチメモリと、このラッチメモリに記
憶された設定1(uと前記カウンタのカウント匝を比較
し、設定値よりカラン) Illが大となったときトリ
ガ信号を出力するコンパレータとを備えたことを特徴と
するトリガ回路。A device that generates a trigger signal detects the absence or delay of the signal under test that occurs after a certain period of time after the generation of a signal where a specific condition is met, and outputs the input of the signal where the condition is met. and a count start memory which is reset by the generation of the complementary signal under test, and an AND signal of the output signal from this count start memory and the clock signal, which is reset by one signal under test. counter and e? from lfa output count box setting section?
It is equipped with a latch memory that stores a double signal, and a comparator that outputs a trigger signal when the setting 1 stored in this latch memory (compares u with the count value of the counter and selects a value from the set value) Ill becomes large. A trigger circuit characterized by:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21109081A JPS58111758A (en) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | Trigger circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21109081A JPS58111758A (en) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | Trigger circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58111758A true JPS58111758A (en) | 1983-07-02 |
Family
ID=16600246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21109081A Pending JPS58111758A (en) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | Trigger circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58111758A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60152918U (en) * | 1984-03-22 | 1985-10-11 | 日置電機株式会社 | Digital waveform recorder with trigger |
JPS62273462A (en) * | 1986-05-21 | 1987-11-27 | Kenwood Corp | Trigger system for oscilloscope |
-
1981
- 1981-12-25 JP JP21109081A patent/JPS58111758A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60152918U (en) * | 1984-03-22 | 1985-10-11 | 日置電機株式会社 | Digital waveform recorder with trigger |
JPS62273462A (en) * | 1986-05-21 | 1987-11-27 | Kenwood Corp | Trigger system for oscilloscope |
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