JPS58111709A - 平面度測定装置 - Google Patents

平面度測定装置

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JPS58111709A
JPS58111709A JP21541881A JP21541881A JPS58111709A JP S58111709 A JPS58111709 A JP S58111709A JP 21541881 A JP21541881 A JP 21541881A JP 21541881 A JP21541881 A JP 21541881A JP S58111709 A JPS58111709 A JP S58111709A
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flatness
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和田 俊朗
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/306Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は物体平面のモ面度を1超精密に、しかも自助的
に測定することを0TMEとする平面度測定装:―を提
案するものである。
磁気8c!、録装置の磁気ヘッドのスライダー而には0
.05声m以下という極めて精密な平面度が要求される
趨勢にある。平面度の非接触測定方法としては光の干渉
を利用した方法が種々存在するものの、上述の(4)き
積度での測定を容易且つ安定に行わせる上で、機構部品
の精度、極微調整、測定精度の保守等の点での間頭が多
く、実用化されている例は皆無である。
木尾明t/′i所かる事情に鑑みてなされたものであっ
て、0.01/1mの精度での平面jW測定を自動的に
行える装置Hの提供を目的とする。
まず本発明の測定装置による平面度測′尼の原理につき
説明するが、この原理自体は、本@明者の提案に係る特
願昭53−68674号(特開昭54−159258号
公報)の「平面度測定方法」の測定原理と同様である。
即ち例えばフィゾー光学干渉糸によって、第1図に示す
ように被検平面とオプチカルフラット等の参照平向との
干渉縞1を得る。
この干渉縞1のパターンをその徒手方向を干渉縞の縞幅
方間に整合させた1次元のイメージセンサ34によって
、縞方向に相異る3つの位置a、b。
Cにて捉え、所定の明稿(又は暗縞)の位IMa。
b、c夫々における縞幅方回位1jfPa、Pb、Pc
及び縞ピッチPをイメージセンサ出力から検知し、平面
度Fを F=入×a      ・・・(1) n  P 似し、^:干渉光源波長 n:干渉灰吹(似しここではn=1 )Δp=pb −
’−3しL劇    ・・・(2)として算出するもの
である。
そして本発明装置は上述の位II a * b+ cに
おけるイメージセンサ出力の読込みに関して新規な工夫
を施したものである。以下本発明装置d41!il−そ
の実施例を示す図面に基き具体的に説明する。
第2図は本発明装置の外観図、fJa図はその光学系の
レイアクト図である。この光学系は彼検物10をその測
定対象平面10aを上に向けて載1wすべき、上下#可
能のサンプルステージ11を1余いて内部を遮光したブ
ース12内に納められている。
干渉光源となるHe−Nev−ザ(波長0.63287
J21はサンプルステージ11の後側に設けたケース1
2の筒状部12a内に出力側を上方にして鉛直に取付け
てあり、レーデビームは光量調整用に設けたNDフィル
タ22.ビーム拡散レンズ23.直径2財mのピンホー
ル24を経て上方に設けた全反射鏡25に到るようにし
である。全反射鏡25は水平面、鉛直面の双方て対して
45°傾斜させてピンホール24を出た細径レーザビー
ムをケース12の前方へ水平に反射すべく配してあり、
この反射レーザビームの光路におけるサンプルステージ
11の上方には全反射鏡26が水平開、鉛直面の双方に
対して45°須斜させて、サンプルステージ11に向け
て鉛直にレーデビームを投じるように配してあり、この
レーデビームはいずれも全反射鏡26とサンプルステー
ジ11との間に記した対物レンズとしてのアクロマート
27、ハーフミラ28及びオプチカルフラット29を経
てサンプルステージIIK回かうようにしである。ハー
フミラ28は水平面、鉛直面の双方に対して45°傾斜
させて、オプチカルフラット29測からの光、つまりオ
プチカルフラット29の参照平向29aと被検平面10
aとによる干渉縞パターンをケース12の左方へ水平に
反射すべく配しである。
ハーフミラ28から反射された光ビームはケース12の
左右方向及び前後方向の双方て対して45゜傾斜させで
あるハーフミラ31を4過して、鉛直軸回りに水平回転
可能に取付けた全反射鏡32に到り、またハーフミラ3
1に反射されてケース12の正面に設けたピントフード
33に到るようになっている。ピントフード3:l−1
,干渉縞の目視観察及び写真撮影のだめのものである。
全反射鏡32の鉛直軸の後方には1次元のイメージセン
サ34がその長手方向を鉛直方向にして立設されており
、全反射鏡32をケース12の左右方向及びrifl後
方It’llの双方に対して45°傾斜する回動位置に
なった場合に1イメージセンサ34の親骨位置が第1図
に示すb位置 %つまりこれらの光学系によって得られ
る干渉縞のIQ!中央位置に在り、全反射鏡32が平面
視て時計方向(又は反時計方向)へ回−1すると、イメ
ージセンサ34の視野位置はC位置方向(又は8位置方
向)へ偏位することになる。
全反射鏡32は適宜の枠体32aに収付けられており、
その下側中央から下方へ延出させた丸軸を回転軸32b
とし、この回転軸32b KF;tギヤ32cが嵌着さ
れており、下端には図示しない架台に支持された回転エ
ンコーダ41が連結されている。回転エンコーダ41の
側方には出力軸を鉛直にしたパルスモータ42が架台に
取付けられており、その出力軸KM着したギヤ42aと
前記ギヤ32cとの間にはコグドベルト13が掛は回さ
れており、パルスモータ42の駆1助によって全反射鏡
32を水平回転させるようにしである。全反射鏡32又
はその枠体32aの回動域にはこの回妨域限を規定する
リミットスイッチ43.44が設けられており、この回
動域限は前述のようにイメージセンサ34の?JLJ位
idが5位1dにある状態から反時計方向及び時計方向
へ略々等角度(10°以下)回動した位置に定めである
以上の構成から理解されるように干渉光路都、より詳し
くは光束重合せ光学系の検出側の光を回転6J Eな全
反射鏡32(プリズムでもよい)にてイメージセンサ3
4へ向かわせる構成としており、全反射鏡32の回転に
より縞を読取るべき位置を変更するようにしているので
ある。なお上述の構成はフィゾー干渉光学系を用いたが
、マイケルソン干渉光学系等、他の干渉縞を得るだめの
光学系も同順に使用できる。その1也14.14はオプ
チカルフラット29の姿勢調整用のネジ、3はケース1
2外に設けたレーザ用電源である。
ケース12及びその内部の光学系よりなる測定装置本体
2は振動による測定誤差を排除するために各部を可及的
忙堅固に構成してあり、また底面には防振ゴム1141
15を取付ける等の配慮をしである。更に光学系の取付
位置の精度、或はり動部の工作精度等は10,11mオ
ーダとする。更Kまた、ハーフミラ28.31及びオプ
チカルフラット29は裏面干渉を回避するために裏面に
政変のテーバを付したものを用いる。
第4図は本発明装置の電子回路の要部を略示するブロッ
ク図でちる。この電子回路のうち前述のイメージヤ29
342回転エンコーダ41.パルスモータ42.その駆
動回路53.リミットスイッチ43.44並びにイメー
ジセンサ34用の駆1め回路45及びヘッドアンプ46
、その他若干の操作部材、パイロットランプの外は制御
部4としてそのケース47の内外に収付けられている。
48は本発明装置Hの間両・演算の中枢となるマイクロ
コンピュータでちってCPU (中央処理装峙)、RO
M (+a出し専用メモリ)、RAM(ランダムアクセ
スメモリメ入出力インターフェース、タロツクパルス発
振回路等を備えている。
制御部4の正面に臨ませたスタートスイッチ49及びス
トップスイッチ50はマイクロコンピュータ(以下マイ
コンという)48に対して測定の開始及び停止又は中断
を夫々指令する押ボタン式の照光スイッチであり、押込
操作によって上記指令をマイコン48に与えると共に、
マイコン48側からの信号にて点灯する。同じく制御部
4の正面にm4せたディジタルスイッチ51はサムホイ
ルスイッチ2桁分からなり、その置数内容を被検物lO
の平面度演算対象とするイメージセンサ出力を得べき親
骨を指定するためのデータ、換言すれば位11イa、c
を視野とするときの全反射鏡320回転角度位置を指示
するためのデータとしてマイコン48に与えるものであ
る。前記回転エンコーダ41は全反射鏡32の10の回
転につき10発のパルスを出力するように111mして
あり、その出力はエンコーダインターフェース52を介
してマイコン48へ読込まれる。反時計方向への位置域
限を1見定するリミットスイッチ43及び時計方向への
回1域限を規定するリミットスイッチ440作動状態は
いずれもマイコン48へ読込まれる。
リミットスイッチ43,440作幼状愚にマイコン48
によるパルスモータ42の発停制御情報となる。即ちイ
ニシャル状態では全反射鏡32はリミットスイッチ43
を作動せしめている状態にあり、この状態でスタートス
イッチ49を押込操作するとマイコン48はモータ駆動
回路53ヘバルスモーク42を正転させて全反射鏡32
を時計方向へ回動させるべき信号を発し、これによる回
動が行われて全反射鏡32がリミットスイッチ44を作
動せしめたり、或はストップスイッチ50が押込操作さ
れた場合は上述の正転のだめの信号を断ち、モータ駆動
回路53ヘバルスモーク42を逆転させて、全反射@3
2を゛反時計方向へ回動させるベキ信号を発し、これに
よる回転が行われてリミットスイッチ43が作動する七
モータ躯妨回路53への信号が1析たれる。
マイコン48に(はイメージセンサ48の視野位1d又
は全反射鏡の回前位置特定のためのカクンタを備えてお
り、このカクンタは回転エンコーダ41が発する原点パ
ルスにてクリヤされるようにしである1、この原点パル
スは全反射鏡32がリミットスイッチ43作動位置から
少し時計方向に同動じた位1aにて得られるように回転
軸32bと回1版エンコーダ41とを連結しである。そ
してマイコン48は上記力クリヤの計数値が90になる
全反射鏡320回蛸位置Bを、そのときのイメージセン
サ出力を平面度演算に用いるべき視野位IW bとし、
ディジタルスイッチ51による置数をXとすると、カク
ンタ計攻値が90−x、90+xとなる2つの1!、0
功位i[f A * Cを、そのときのイメージセンサ
出力を平面度演算に用いるべき視野位置a、cとする。
但しXはa−c同寸法を綱単位で表わす数値として置数
され、また回転エンコーダパルスが視野中の0.2 w
=sに([1当するように光学系を構成しているのでx
−(X/2)÷0.2として算出される。上記カクンタ
の内5gが90+xになった場合にはリミットスイッチ
44の作動を待つまでもなくパルスモータ42を逆転す
るように制御が行われる。
イメージセンサ34ばこれによって捉える干渉縞の本数
あたり100ビツト程度のものが望ましい。
けだし相隣明槁(又は暗槁)同寸法λ/2をl/100
の精度で測定するのであるから、この場合の精度は理論
的に (λ/2)X(1/10 o)中 0.003μmにす
ることができ、実用上での0.01 pmの精度を、ギ
易に実現できるからである。従って実施例では10本の
干渉縞を捉える光学系の構成に対して1024ビツトの
MOSセンサを用いた。なおフォトダイオードピッチは
25μmである。
さてマイコン48はデータ読込の処理に入ると駆動回路
45に対してスタートパルス及びタロツクパルスを発す
る。駆動回路45はこれを所要レベルにしてイメージセ
ンサ34に与える。そうするとイメージセンサ34は第
1ビツトから% 1024ビツトtで順次走査されて、
その受光端に応じたレベルのビデオ出力を発し、このビ
デオ出力はヘッドアンプ46にて増幅されて制御部4側
のピークホールド増幅器55、ローパスフィルタ56a
56b又1#i:56c、サンプルホールド増幅器57
及びNΦコンバータ58を介してマイコン48にディジ
タルデータとして取込まれる。サンプルホールド周期及
びN勺変換周期は駆動回路45へ与えるタロツクパルス
周期と整合させである。
ローパスフィルタ56a、 56b、56c tr、j
:、犬々の遮断周波数が500’Hz、 2501−1
+ 、 100Hzと異っており、切換スイッチ59に
よっていずれか一つが選択されるようになっている。い
ずれを選択するかは外部雑音の周波数に応じて定めれば
よい。
このようにして取込まれたデータに基き、(1)式に依
る平面度Fの演算が行われ、その結果が制御部4の]F
而に設けた4桁の表示装置60に)1m単位で小数以下
3桁まで表示されるようにしである。
第5図はマイコン48の制御内容を示す主要プログラム
のフローチャートである。スタートスイッチ49が操作
されるとパルスモータ42を正回転させる。
そしてディジタルスイッチ51の1if41!:、内容
Xを読込み、P、= 90−x 、 P3=90+xを
算出する。これらPI、Pl及びB位置を規定するP2
=90を所定レジスタに格納する。パルスモータ42が
回転を開始すると少し遅れて回転エンコーダ41から原
点パルスが入力される。この原点パルス入力によりイメ
ージセンサ34の視野位置を特定するために回転エンコ
ーダ41の出力パルスを叶故するカウンタをリセットす
る。そしてイメージセンサ34からのデータ読込(後述
)を行い、回転エンコーダ41からのパルスが入力され
ると再びイメージセンサ34からのデータ読込を行い、
次いでカウンタをインクリメントする。これをカウンタ
の計数内容がレジスタのPlに一致するまで反復し、P
lになったときにピークアドレスの計算(後述)を行う
ピークアドレスとは明縞を捉えているイメージセンサ3
4のビットのアドレス1〜1024であり、前述のP、
ΔPの算出に用いる情報である。そして算出したピーク
アドレス(明槁の敢だけ有る)Pn。
P+2・・・Phi・・・をRAMに格納する。この場
合には別の2つの@域に格納され、一方はP、ΔPの演
算に、他方は次のピークアドレスとの対応のために用い
られる。そして回1版エンコーダからのパルスが入力さ
れる都度イメージセンサ34からのデータ読込、カウン
タのインクリメントを行う。そしてイメージセンサから
読込んだデータによりピークアドレスを計算し、これを
1−:)itJのピークアドレス計算にて得たピークア
ドレス、最初はpHI P+2・・・PH1・・・と比
較し、新規に現れた明縞、消滅した明縞等に対応するピ
ークアドレスに対する履歴をRAMにアドレスと共に格
納する。そしてピークアドレスをRAMに格納し、次に
算出されたピークアドレスとの比較データとして用いる
。所かる処理をカウンタ内容がP2になる迄継続する。
上述の如きピークアドレスの順次比較により、明縞の同
定が行われる結果、干渉縞パターンが複雑であっても^
/2波長波長異相異相隣明縞を誤認混同することはない
而してカウンタ内容がP2になると、P、の場合同様に
ピークアドレスP21 * P22・・・P、i・・・
を算出しこれをRAMに格納する。以下カウンタ内容が
Plになる迄21〜27間と同様の処理を行い、Plに
なると同様にピークアドレスP31.P32・・・Ph
i・・・を算出してこれをRAMに格納する。そしてパ
ルスモータ42をリミットスイッチ43が作動するまで
逆転させる。
この1mP+、p、、 Pgでのピークアドレスのうち
共通する明縞に関連するものにつき平面度の演算を行い
これを表示装置60に表示させる。
次にイメージセンサからのデータ読込処理につイー’c
’第6 図のフローチャートに基き説明する。回転エン
コーダ41パルスが入力される等、データ読込開始の所
定の条件が整うと駆動回路45にスタートパルスを与え
るべく接続しである出力ポートをハイレベルにし、所定
のカウンタに3をセットし、次いでタロツクパルスをw
、勅回路45へ発する。このタロツクパルスにて上記カ
ウンタをデクリメントし、カウンタ内容が0になったあ
と上記出力ポートをローレベルにする。即ちスタートパ
ルスを立下らせる。ここまでの処理は使用イメージセン
サ34がスタートパルスを受けてから最初のビットの出
力を発する迄の時間遅れ(クロックパルス3発分)を補
償するためのものである。
次にそのデータ読込の場合に用意されたRAM内エリア
の先頭番地I(をアドレスカウンタにセットし、またカ
ウンタにはイメージセンサ34のピッ) 91024を
セットする。セしてクロックパルスに同期してイメージ
センサ34の出力をA7Df換し、変換データをに番地
に格納し、アドレスカウンタをインクリメント、上記カ
ウンタをデクリメントする。このような処理をカウンタ
がOになるまで継続し、RAMのに−に+10234地
にデータを格納する。
第7図はピークアドレスの計算のための処理内容を示す
フローチャートである。まず修1のアドレスカウンタに
K(処理対象とする1024のデータを格納したRAM
エリアの先頭番地)+51セツトし、シ用のカウンタに
は900をセットする。これは1024のデータのうち
上端の51ビツト、下端の124ピツトをデータ処理対
象から外すための処置である。次いで計算したピークア
ドレスを格納するためのRAMエリアの先頭番地を第2
のアドレスカウンタにに′としてセットする。虹に算出
ピーク攻を計数するだめのピークカウンタにOをセット
する。
次に第1のアドレスカウンタの番地(般初はに十50番
地)のデータDATA O及びその次の番地(最初はに
+51・番地)のデータDATA Iを読み出し、両者
と比較する。両者が等しい場合(両ビットの受光レベル
が等しい場合を意味する)は第1のアドレスカウンタの
内容を+1し、またカウンタは−1する。そして次の番
地について同様の処理を実行する。
これに対しテ1)ATA O> DATA 1である場
合(K+50番目のビットよりに+51番目のビットの
方が暗いことを意味する)は1< 1のアドレスカウン
タの番地を+1し、またカウンタは−1する。そしてこ
の状態でDATA I (K+52番地のデータ)及び
DATA O(K+51番地の、データ)を読出して両
者を比較しDATA 1 > DATA Oでない場合
は番地が大となるに伴い暗くなる傾向を示していること
になるので同様の処理を反復する。
この過程にあってDATA O< DATA Iとなっ
た場合は次に説明するピーク特定のステップに入る。
即ち第1のアドレスカウンタかに+50の場合或は次々
とインクリメントされていった過程において、I)A′
rA O< DATA 1 (!:なった場合は番地を
大としてデータ処理を進めていくに従い1」るくなる傾
向にあることになる。この場合も%1のアドレスカウン
タを+1し、カウンタを−lする処理をI)ATA O
> DATA Iとなるまで(つまり1浸も1利るいビ
ットの番地が第1のアドレスカウンタの内容になるまで
)反復し、そのステップでの第1のアドレスカウンタの
内容をピークアドレスとして、第2のアドレスカウンタ
ばて指示されるRAMのアドレス(最初はに′番地)へ
格納する。そしてこの第2のアドレスカウンタの内容を
+1し、ビークカウンタを+1 f’る。そしてDAT
A O、f)ATA 1の大小比較を反復していく。以
上の処理をカウンタの内容がOになるまで実行する。
以上のようにして求めたピークアドレスは、イメージセ
ンサ34に捉えられた干渉縞の用縞の中心位置をイメー
ジセンサ34の一端を基準とする位置情報となっている
而して本発明装置では前述のピークアドレスP11゜P
I3・・・Pti・・・、P21+  P22・・・P
ti・・・、P311  P32・・・P31・・・を
平面度算出のためのデータとするが、P、=90−x 
−P3−90+xの間において中途で現れ又は消滅した
明縞(例えば第1図の最下の実線で表される明fs)は
処理対象から外される。これは前述のようにピークアド
レス算出後に、回転エンコーダの出力パルス1つ分前に
算出したピークアドレスとの比較により識別され、RA
Mにその履歴情報が付される。
即ち、最新のピークアドレスをPj、+ *  Pj、
2・・・Pj、。(mはピークカウンタの計数11酊)
とし、回転エンコーダの出力1つ分前のピークアドレス
をPj−1,l、Pj−1,2・・・とする。まず(P
j、 t  Pj、 r )/4= Poとして縞ピッ
チPの±l/4を算出し、これ以下であることを槁同定
の条件とする。
そしてPj、+とPj−1、l +  P」−H、2夫
々との差ΔPl+ΔP2を算出し、Poより小さい組合
せの縞を同一のものとして同定する。PJ、1とPj−
1jが同定された場合はPj−1,Iが消滅したものと
して記憶され、又は平面度演算に必要なしとして放置さ
れる。以下k(= 2.3−m )番目のピークPj、
kにつきPj−1,k−1。
p、−12,、・Pj+t、に夫々との差Δpk−,・
ΔPk・ ΔPk+1を求め、これがP。以下となる組
合せの槁を同一のものとして同定する。
而してピークアドレスpH1PI2・・・Pti・・・
、P21 + P22・・・P2i・・・及びP31+
 pat・・・P3ド・・のうち、中途での発生、消滅
に係る履歴を有するものを除外すると、その大小順に組
合せた3つ1組の数値が同一の明縞に係るピークアドレ
スとして同定される。従って3つ1組のデータにより(
1)式に従って下記のように算出する。
平面度F = (Fl十F2+・+F、、−1 )/(
m−t)但し、mは各組に共面の縞の故 この平面度Fは前述のように表示装置1160に表示さ
れる。なおmの攻が2以下又は16以上の場合はエラー
表示を行わせる。また上述の説明は明稿について行った
が暗槁についても同様に実施できることは直うまでもな
い。
以上のように本発明に係る平面度測定装置は干渉縞を生
成させるべき光学系と、 干渉縞を捉えるための1次元のイメージセンサと、 イメージセンサ出力に基き平面度を演算するデータ処理
回路と、 前記光学系による干渉縞の光をイメージセンサへ向かわ
せる光学手段とを備え、 n「」記イメージセンサは干渉縞の縞幅方向をその長手
方向に捉えるべく配してあり、 まだ前記光学手段はイメージセンサの視野を干渉縞の縞
方向に変じるべく回前可能に枢支されており、 央に前記光学手段に連結された回動駆動手段を備え、 前記データ処理回路は前記光学手段の回動位1Hに関連
する情報を平面度演算におけるイメージセンサの視野特
定情報としたことを特徴とするものであるから0.01
 pmの精度での平面度測定を実現できる。しかもこの
測定は被検物10をサンプルステージ11に載置し、所
要のスイッチ操作を行うだけで自ICノ的に行われる。
更に上述の如き精度を得るだめの機(!!:部品或は組
付けの精度はlO)Lmオーダで足り、使用時の極微調
整、面倒な保守等は全く不要である。更に干渉縞パター
ン読取のための1次元イメージセンサの視野走査はこれ
を光路中間に介在させた光学手段(実施例では全反射鏡
)の回転によって行う構造としているのでイメージセン
サを堅固に固定し得、振切、その他によるノイズ、従っ
て誤差要因が排除できる。まだ上記光学手段についても
視野走査を回転運動にて行わせるのでその可動部を容易
に高精度で製作し得、且つその回転運動も安定的に行わ
れる。
更にこの回転運動は回転エンコーダにてマイコンを中枢
とするデータ処理回路にて正確に把握されるので、回転
速度の変動等があっても測定精度は何らこれに影響され
ることがない。なお回転エンコーダを設けることなく、
マイコン48からパルスモータ42のffi!i1回路
53ヘパルスモータ42をステップ回転させるために与
えるパルス信号の故そのものを走査視野情報とすること
ができる。
更に測定領域をディジタルスイッチ等の[H故手段にて
簡単に設定でき、被検物裳はピントフード33にて観察
される干渉縞パターンに応じた@域を選択指示する上で
極めて便宜である。なお測定頭域を固定しておく構成、
或はソフトウェアにて測定領域を指定する構成とするこ
ともげ能であることは勿論である。
以上詳述したように本発明は測定精度、使用の便宜性及
び製造の而で画期的な平面度測定装置を提供することを
可能とし、本発明が超精密平面度測定技術に寄与する処
は多大である。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例を示すものであって、第1図は測
定原理の説明図、第2図は本発明装置の外観図、第3図
は光学系のレイアクト図、第4図は電子回路のブロック
図、第5図乃至第8図はマイコンによる演算、制御のフ
ローチャートである。 21− He −N eレーザ 28,31−/%−7
ミラ29・・・オプチカルフラット 32・・・全反射
鏡34・・・イメージセンサ 41・・・回転エンコー
ダ42・・・パルスモータ 48・・・マイコン 51
・・・ディジクルスイッチ 56a、 56b、 56
c・・・ローパスフィルタ 特 許 出 願 人   住友特殊金属株式会社代理人
 弁理士  河 野 登 夫 手続補正筈(自発) 昭和57年10月29日 特許庁長官 殿 /、事件の表示 昭和56年特許願第215418号 −発明の名称  平面度測定装置 3 補止をする者 事伺−との関係  特許出願人 所在地   大阪市東区北浜5丁目22番地名 称  
 住友特殊金属株式会社 7 代 ゆ 人   代表者 岡 11″−重j 補正
の対象 とあるのを「イメージセンサ34」に訂正する。 (2)明細書第21頁18行目の「・・・とする。」と
「まず」との間に 「そして第8図に示すように」を挿入する。 (3)明細N第23頁3行目に [但し、mけ各組に共通の縞の数」 とあるのケ、 「但し、mは視野位置a、b、cに共通の縞の数」に訂
正する。 (4)明細書箱25頁7行目の1影響されることがない
11.1と「なお」との間に以下の文章を加入する。 「そして回転エンコーダを用いる場合は全反射鏡32の
回削駆前手段としてパルスモータに替えて連続回転する
通常のモータを使用できる。」6−2図面 第5図を添付図面のように訂正する。 2、添付書類の目録

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被検平面と参照平面とに関連する干渉縞を得、該干
    渉縞に基いて被検平面の平面度を測定する装置において
    、 干渉縞を生成させるべき光学系と、 干渉縞を捉えるだめの1次元のイメージセンサと、 イメージセンサ出力に基き平面度を演算するデータ処理
    回路と、 前記光学系による干渉縞の光をイメージセンサへ向かわ
    せる光学手段とを備え、 前記イメージセンサは干渉縞の縞幅方向をその長手方向
    に捉えるべく配してあり、また前記光学手段はイメージ
    センサの視野を干渉縞の縞方向に変じるべく目切可能に
    枢支されており、 更に前記光学手段に連結された回動駆動手段を備え、 前記データ処理回路は前記光学手段の回11σノ位置に
    関連する情報を平面度演算におけるイメージセンサの視
    野特定情報としたことを特徴とする平面度測定装置。 2、 被検平面と参照平■とに関i車する干渉縞を得、
    該干渉縞に基いて被検平面の平面度を測定する装置Hに
    おいて、 干渉縞を生成させるべき光学系と、 干渉縞を捉えるだめの1次元のイメージセンナと、 イメージセンサ出力に基き平面度を演算するデータ処理
    回路と、 +4f前記光李糸による干渉縞の光をイメージセンザヘ
    回かわせる光学手段とを備え、 nfJ記イメージセンサは干渉縞の縞幅方向をその長手
    方向に捉えるべく配してあり、また前記光学手段はイメ
    ージセンナの視野を干渉縞の縞方向に変じるべく回動0
    T能に枢支されており、 ガに11f1記光学手段に連結された回蛸1幹仙手↓役
    と、 fit改手段とff:備え、 前記データ処理回路は、前記光学手段の回り力位置に関
    連する情報を平面度演算におけるイメージセンサの視野
    特定情報とし、また目口記置政手段によるit攻内容を
    、平面度演算対象とするイメージセンサ出力を得べき視
    野指定情報とすることを特徴とする平面度測定装置t。
JP21541881A 1981-12-25 1981-12-25 平面度測定装置 Granted JPS58111709A (ja)

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JP21541881A JPS58111709A (ja) 1981-12-25 1981-12-25 平面度測定装置
US06/449,733 US4627733A (en) 1981-12-25 1982-12-14 Flatness measuring apparatus
DE19823247238 DE3247238A1 (de) 1981-12-25 1982-12-21 Ebenheitsmessgeraet

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JPS58111709A true JPS58111709A (ja) 1983-07-02
JPS632446B2 JPS632446B2 (ja) 1988-01-19

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109883355A (zh) * 2019-03-05 2019-06-14 深圳市中图仪器股份有限公司 一种自动找寻干涉条纹的方法和装置

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JPS54159258A (en) * 1978-06-06 1979-12-15 Sumitomo Spec Metals Method of measuring flatness
JPS5693003A (en) * 1979-12-27 1981-07-28 Fujitsu Ltd Measuring device for plane degree

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