JPS58111248A - 質量分析計の直接試料導入装置 - Google Patents
質量分析計の直接試料導入装置Info
- Publication number
- JPS58111248A JPS58111248A JP56207060A JP20706081A JPS58111248A JP S58111248 A JPS58111248 A JP S58111248A JP 56207060 A JP56207060 A JP 56207060A JP 20706081 A JP20706081 A JP 20706081A JP S58111248 A JPS58111248 A JP S58111248A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- pipet
- temperature
- switching
- effect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、冷却可能な質量分析針の直接試料導入装置に
関するものである。
関するものである。
従来の質量分析針の直接試料導入装置において、気化ま
たは昇華温度の低い試料は測定時に冷却しておく必要が
あった。試料を冷却する場合、実用新案出願公告番号−
昭４９−２６７００に示されているように、冷却気体用
ボンベと冷却槽がら成る冷媒装置により冷却していたが
、前記冷却気体用ボンベの置き場所を必要とする点およ
び取扱いの上で、バルブの操作および冷却気体の量の制
御を必要とする点および冷却気体を流す試料導入管に水
滴がついたり、内部に残った水滴が凍りつまってしまう
という点、さらに試料の温度検知に検知用孝子を必要と
する点、以上４つの欠点があった。
たは昇華温度の低い試料は測定時に冷却しておく必要が
あった。試料を冷却する場合、実用新案出願公告番号−
昭４９−２６７００に示されているように、冷却気体用
ボンベと冷却槽がら成る冷媒装置により冷却していたが
、前記冷却気体用ボンベの置き場所を必要とする点およ
び取扱いの上で、バルブの操作および冷却気体の量の制
御を必要とする点および冷却気体を流す試料導入管に水
滴がついたり、内部に残った水滴が凍りつまってしまう
という点、さらに試料の温度検知に検知用孝子を必要と
する点、以上４つの欠点があった。
本発明の目的は、冷媒装置の操作および冷却気体の量の
制御を不要とする質量分析計の直接試料導入装置を提供
することにある。
制御を不要とする質量分析計の直接試料導入装置を提供
することにある。
本発明の特徴は、冷却作用を伝える冷却部と放熱作用を
もたらす放熱部とにはさまれたペルチェ効果を生じさせ
るべき２種の材料を接合した接合部に周囲温度が伝わり
、ゼーベック効果から温度検知を可能とする温度検知手
段を有すること、及び前記接合部にペルチェ効果を生じ
させうるｔ流を供給するＩＩｔ源部と温度表示部との切
替え手段を有することにある。
もたらす放熱部とにはさまれたペルチェ効果を生じさせ
るべき２種の材料を接合した接合部に周囲温度が伝わり
、ゼーベック効果から温度検知を可能とする温度検知手
段を有すること、及び前記接合部にペルチェ効果を生じ
させうるｔ流を供給するＩＩｔ源部と温度表示部との切
替え手段を有することにある。
以下、本発明の一夾捲例を第１図により説明する。試料
をイオン化するイオン化室１、前記イオン化室１に試料
を導入するサンプルピペット７、前記サンプルピペット
７は試料を保持するピペット２および前記ビペツ）Ｋ冷
却作用を伝えるピペットホルダ３およびベルチェ効果を
生じさせるべき２種の材料を接合した接合部４および発
熱作用により生じた熱を放熱させる放熱部５と、前記放
熱部を支持する支持部６より構成されている。さらに前
記接合部に電流を供給するための電源部９とゼーベック
効果により温度検知を行い、その温度を表示する温度表
示部１０との切替部８とによって構成されている。
をイオン化するイオン化室１、前記イオン化室１に試料
を導入するサンプルピペット７、前記サンプルピペット
７は試料を保持するピペット２および前記ビペツ）Ｋ冷
却作用を伝えるピペットホルダ３およびベルチェ効果を
生じさせるべき２種の材料を接合した接合部４および発
熱作用により生じた熱を放熱させる放熱部５と、前記放
熱部を支持する支持部６より構成されている。さらに前
記接合部に電流を供給するための電源部９とゼーベック
効果により温度検知を行い、その温度を表示する温度表
示部１０との切替部８とによって構成されている。
本１！施的によれば、前記接合部が熱電的となり温度検
知ができるので、温度検知用素子が不要となった効果、
及び前記切替部により電源部へ切替え、電流を供給する
と前記サンプルピペットは岐に２接合部のベルチェ効果
によシ試料を冷却することができるので、冷却気体用ボ
ンベおよび冷却槽からなる冷媒装置が不要となった効果
、及び取り扱いの上でバルブの操作や冷却気体の量を制
御する必要がなくなったので安全性が向上した効果、及
び試料導入管に水滴がついたり、内部に残った水滴が凍
りつまってしまうことがなくなったので機能性が向上し
た効果がある。
知ができるので、温度検知用素子が不要となった効果、
及び前記切替部により電源部へ切替え、電流を供給する
と前記サンプルピペットは岐に２接合部のベルチェ効果
によシ試料を冷却することができるので、冷却気体用ボ
ンベおよび冷却槽からなる冷媒装置が不要となった効果
、及び取り扱いの上でバルブの操作や冷却気体の量を制
御する必要がなくなったので安全性が向上した効果、及
び試料導入管に水滴がついたり、内部に残った水滴が凍
りつまってしまうことがなくなったので機能性が向上し
た効果がある。
本発明によれば、従来のようなボンベおよび冷却槽等の
冷媒装置が不要になった効果、及びパルプの操作や冷却
気体の量を制御する必要がなくなり機能性が向上した効
果、及び試料導入管に水滴がついたり、内部に残った水
滴が凍り、つまってしまうことがなくなり安全性が向上
した効果、またサンプルピペット自体で温度検知ができ
るので温度検知用素子が不要となった効果がある。
冷媒装置が不要になった効果、及びパルプの操作や冷却
気体の量を制御する必要がなくなり機能性が向上した効
果、及び試料導入管に水滴がついたり、内部に残った水
滴が凍り、つまってしまうことがなくなり安全性が向上
した効果、またサンプルピペット自体で温度検知ができ
るので温度検知用素子が不要となった効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示す断面図及びブロック図
である。
である。
Claims (1)
- １、試料を保持するピペットと前記ビペッ）Ｋ冷却作用
を伝えるピペットホルダとペルチェ効果ヲ生じさせるべ
き２種の材料を接ｉ＋シたーｆ！ｒ部と、発熱作用によ
り生じた熱を放熱させる放熱部と、前記放熱部を支持す
る支持部より成るサンプルピペットにおいて、前記接合
部に電流を供給する切替手段を有すること、および前記
サンプルピペット自体で温度検知ができる温度検知手段
を有することを特徴とする質量分析針の直接試料導入装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56207060A JPS58111248A (ja) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | 質量分析計の直接試料導入装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56207060A JPS58111248A (ja) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | 質量分析計の直接試料導入装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58111248A true JPS58111248A (ja) | 1983-07-02 |
Family
ID=16533536
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56207060A Pending JPS58111248A (ja) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | 質量分析計の直接試料導入装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58111248A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0236152U (ja) * | 1988-08-30 | 1990-03-08 | ||
| JPH0242359U (ja) * | 1988-09-16 | 1990-03-23 |
-
1981
- 1981-12-23 JP JP56207060A patent/JPS58111248A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0236152U (ja) * | 1988-08-30 | 1990-03-08 | ||
| JPH0242359U (ja) * | 1988-09-16 | 1990-03-23 |
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