JPS58110030A - 蒸着装置 - Google Patents
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- JPS58110030A JPS58110030A JP56208836A JP20883681A JPS58110030A JP S58110030 A JPS58110030 A JP S58110030A JP 56208836 A JP56208836 A JP 56208836A JP 20883681 A JP20883681 A JP 20883681A JP S58110030 A JPS58110030 A JP S58110030A
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- heating means
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/24—Vacuum evaporation
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/0021—Reactive sputtering or evaporation
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- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は蒸着装置、例えばアモルファスシリコン（以下
、ａ−３ｉと略す。）を堆積させるのに好適な蒸着装置
に関するものである。
、ａ−３ｉと略す。）を堆積させるのに好適な蒸着装置
に関するものである。
近年、太陽電池、電子写真感光体としてａ−８ｉを用い
ることが試みられている。このａ−８ｉは例えば真空蒸
着法で基板上に堆積せしめるが、この際、ａ−８ｌ中の
ダングリングボンドを水素原子で埋めてその感光特性を
良くするために活性水素ガスを供給し、かつａ−８ｉの
電気伝導度を制御するために燐、アルミニウム等のドー
パントを蒸発せしめてａ−８ｉ中にドープすることがあ
る。
ることが試みられている。このａ−８ｉは例えば真空蒸
着法で基板上に堆積せしめるが、この際、ａ−８ｌ中の
ダングリングボンドを水素原子で埋めてその感光特性を
良くするために活性水素ガスを供給し、かつａ−８ｉの
電気伝導度を制御するために燐、アルミニウム等のドー
パントを蒸発せしめてａ−８ｉ中にドープすることがあ
る。
この場合、シリコンを蒸発させるために抵抗加熱、電子
銃加熱、誘導加熱等が考えられるが、各加熱法について
汚染防止等の目的から、ヒーター、容器等の材質や構造
を工夫することが必要である。
銃加熱、誘導加熱等が考えられるが、各加熱法について
汚染防止等の目的から、ヒーター、容器等の材質や構造
を工夫することが必要である。
また、ドーパントの蒸発に際しても同様の点で対策を講
じる必要があるが、未だ充分な工夫がなされていないの
が実情である。ドーパントについては、その材質と容器
との反応といった本来存在する問題点に加えて、同時に
蒸発させるシリコンによる悪影響が生じる。即ち、シリ
コン蒸気が飛翔する空間中でドーパントを加熱、蒸発さ
せるために、ドーパントのヒータ一部にシリコンが付着
してしまう。シリコンは特に、高温で活性であって金属
材料と反応し易いから、上記の如くに付着したシリコン
はヒーター材料と反応し、これに続いてヒーター材料自
体が蒸発する。この結果、吐−ター材料の蒸気が上記空
間中を飛翔して被蒸着基板上に到達し、そこに堆積され
るｇ−８ｉａ中に混入し、その膜質を著しく劣化せしめ
るという望ましくない事態が生じる。
じる必要があるが、未だ充分な工夫がなされていないの
が実情である。ドーパントについては、その材質と容器
との反応といった本来存在する問題点に加えて、同時に
蒸発させるシリコンによる悪影響が生じる。即ち、シリ
コン蒸気が飛翔する空間中でドーパントを加熱、蒸発さ
せるために、ドーパントのヒータ一部にシリコンが付着
してしまう。シリコンは特に、高温で活性であって金属
材料と反応し易いから、上記の如くに付着したシリコン
はヒーター材料と反応し、これに続いてヒーター材料自
体が蒸発する。この結果、吐−ター材料の蒸気が上記空
間中を飛翔して被蒸着基板上に到達し、そこに堆積され
るｇ−８ｉａ中に混入し、その膜質を著しく劣化せしめ
るという望ましくない事態が生じる。
本発明は、こうした状況を打破すべくなされたものであ
って、第１及び第２の蒸発源の少なくとも一方の加熱手
段を他方の蒸発源に対し遮蔽するための遮蔽部材が真空
槽内に設けられていることを特徴とする蒸着装置に係る
ものである。このように構成すれば、他方の蒸発源から
の蒸気が加熱手段に到達するのを上記遮蔽部材によって
効果的に防止できるから、堆積膜中への加熱材料の混入
を阻止してその膜質を向上させることが可能となる。
って、第１及び第２の蒸発源の少なくとも一方の加熱手
段を他方の蒸発源に対し遮蔽するための遮蔽部材が真空
槽内に設けられていることを特徴とする蒸着装置に係る
ものである。このように構成すれば、他方の蒸発源から
の蒸気が加熱手段に到達するのを上記遮蔽部材によって
効果的に防止できるから、堆積膜中への加熱材料の混入
を阻止してその膜質を向上させることが可能となる。
またこの蒸着装置に代えて、本発明によれば、上記加熱
手段が蒸発源の側方に延びる遮蔽部材によって被蒸着基
体に対し遮蔽されるようにした蒸着装置を用いることも
有効である。この場合に社、加熱手段上に他方の蒸発源
からの蒸気が付着したとしても、その再蒸発時に加熱材
料が被蒸着基体方向へ飛翔することを上記遮蔽部材によ
って阻止できるから、加熱材料が被蒸着基体に到達する
ことはなく、堆積膜中に混入することがない。
手段が蒸発源の側方に延びる遮蔽部材によって被蒸着基
体に対し遮蔽されるようにした蒸着装置を用いることも
有効である。この場合に社、加熱手段上に他方の蒸発源
からの蒸気が付着したとしても、その再蒸発時に加熱材
料が被蒸着基体方向へ飛翔することを上記遮蔽部材によ
って阻止できるから、加熱材料が被蒸着基体に到達する
ことはなく、堆積膜中に混入することがない。
以下、本発明を図面に示す実施例について詳細に説明す
る。
る。
第１図には、本発明による方法を実施するのに使用する
真空蒸着装置の一例が示されている。この装置によれば
、真空槽としてのべ化ジャー１内に例えば平板状の基板
２を配し、その下方にはシリコン蒸発源３、ドーパント
蒸発源５が配されている。これらの各蒸発源は、例えば
抵抗加熱方式のヒーター７．８で夫々所要温度に加熱さ
れる。
真空蒸着装置の一例が示されている。この装置によれば
、真空槽としてのべ化ジャー１内に例えば平板状の基板
２を配し、その下方にはシリコン蒸発源３、ドーパント
蒸発源５が配されている。これらの各蒸発源は、例えば
抵抗加熱方式のヒーター７．８で夫々所要温度に加熱さ
れる。
これらのヒータ一部を含む両蒸発源３−５間は遮蔽板１
３（高融点金属、例えばステンレス、モリブデン又はタ
ングステン等の金属板）で仕切られている。基板２には
外部の直流電源４によってθ〜−ＩＯＫＶの負の直流バ
イアス電圧を印加しておく。
３（高融点金属、例えばステンレス、モリブデン又はタ
ングステン等の金属板）で仕切られている。基板２には
外部の直流電源４によってθ〜−ＩＯＫＶの負の直流バ
イアス電圧を印加しておく。
−１には、水素ガス等の修飾ガスの導入管１２が配設さ
れ、同導入管中には修飾ガスの活性化又はイオン化用の
放電管１４が夫々設けられている。活性化された修飾ガ
ス祉、負電圧の印加されている基板２へ吸引され、堆積
材料中に充分に取込まれるようになりている。ペルジャ
ー１の底部中央には排気口１６が形成され、この排気口
は排気管１５を介して真空ポンプ（図示せず）に接続さ
れ、これによりてペルジャー１内が高真空（例えば１０
”’Ｔｈｒｒ）に引かれるようになっている。
れ、同導入管中には修飾ガスの活性化又はイオン化用の
放電管１４が夫々設けられている。活性化された修飾ガ
ス祉、負電圧の印加されている基板２へ吸引され、堆積
材料中に充分に取込まれるようになりている。ペルジャ
ー１の底部中央には排気口１６が形成され、この排気口
は排気管１５を介して真空ポンプ（図示せず）に接続さ
れ、これによりてペルジャー１内が高真空（例えば１０
”’Ｔｈｒｒ）に引かれるようになっている。
このように構成した真空蒸着装置によれば、上記した遮
蔽板１３の存在によって、蒸着操作中に蒸発源３からの
シリコン蒸気がドーパントのヒーター８へ飛来するのを
効果的に阻止できる。従って、ヒーター８に付着するシ
リコン量を大幅に減らし、ヒーター材料との反応に起因
するヒーター材料の蒸発→基板２上のａ−８ｔ膜の汚染
を充分に防止することができる。ヒーター８のヒーター
線が特にタングステン等の遷移金属からなっている場合
には、上記の汚染防止効果が顕著である。これに加えて
、遮蔽板１３はシリコン蒸気のドーパント５中への混入
も阻止するから、ドーパント濃度（即ちドーピング量）
を常に一定に保持することもできる。また、シリコン蒸
発源３についても、ドーパント５の蒸気がシリコン蒸発
源３側へ飛来しないように遮蔽板１３を配置できるから
、シリコンのヒータ−７自体の汚染防止と共に、ドーパ
ント混入によるシリコン３の汚染防止も図ることができ
る。
蔽板１３の存在によって、蒸着操作中に蒸発源３からの
シリコン蒸気がドーパントのヒーター８へ飛来するのを
効果的に阻止できる。従って、ヒーター８に付着するシ
リコン量を大幅に減らし、ヒーター材料との反応に起因
するヒーター材料の蒸発→基板２上のａ−８ｔ膜の汚染
を充分に防止することができる。ヒーター８のヒーター
線が特にタングステン等の遷移金属からなっている場合
には、上記の汚染防止効果が顕著である。これに加えて
、遮蔽板１３はシリコン蒸気のドーパント５中への混入
も阻止するから、ドーパント濃度（即ちドーピング量）
を常に一定に保持することもできる。また、シリコン蒸
発源３についても、ドーパント５の蒸気がシリコン蒸発
源３側へ飛来しないように遮蔽板１３を配置できるから
、シリコンのヒータ−７自体の汚染防止と共に、ドーパ
ント混入によるシリコン３の汚染防止も図ることができ
る。
特にこれは、ドーピング終了後に蒸発源３にシリコンを
補給し、シリコンのみを再び蒸発させて真性のシリコン
蒸着膜を形成する場合に効果的である。
補給し、シリコンのみを再び蒸発させて真性のシリコン
蒸着膜を形成する場合に効果的である。
本実施例においては、堆積する半導体材料として特にシ
リコン（ａ−８ｉとして堆積）を用いる。
リコン（ａ−８ｉとして堆積）を用いる。
ドーパントとしてはアルミニウム、インジウム、ガリウ
ム等の周期表第■族元素又は燐、砒素、アンチモン等の
周期表第■族元素を用いてよい。また、特にａ−８ｔの
ダングリングボンド（構造欠陥）に起因する低暗抵抗や
光導電性不良を防ぐために、真空槽には活性水素又は水
素イオンを導入し、この水素を堆積膜中に含有せしめて
上記ダングリングボンドを埋めるようにしている。こう
した活性水素又は水素イオンを含む修飾ガスに代えて、
同様の作用を行なうフッ素等の活性ノ・ロゲン又はノ・
ロゲンイオンを含む修飾ガス、或いはこの修飾ガスと上
記の水素系の修飾ガスとの双方の存在下で、上述した蒸
着操作を行なうことも可能である。
ム等の周期表第■族元素又は燐、砒素、アンチモン等の
周期表第■族元素を用いてよい。また、特にａ−８ｔの
ダングリングボンド（構造欠陥）に起因する低暗抵抗や
光導電性不良を防ぐために、真空槽には活性水素又は水
素イオンを導入し、この水素を堆積膜中に含有せしめて
上記ダングリングボンドを埋めるようにしている。こう
した活性水素又は水素イオンを含む修飾ガスに代えて、
同様の作用を行なうフッ素等の活性ノ・ロゲン又はノ・
ロゲンイオンを含む修飾ガス、或いはこの修飾ガスと上
記の水素系の修飾ガスとの双方の存在下で、上述した蒸
着操作を行なうことも可能である。
なお、上記装置においては、水素ガス等の放電管１４を
ペルジャー１外に配しているので、ペルジャーｌ内に配
する場合に比べて、汚染が非常に少なくな多、操作時の
ペルジャー内の熱やガスで放電管の電極や構成材料が損
傷を受けることがない。
ペルジャー１外に配しているので、ペルジャーｌ内に配
する場合に比べて、汚染が非常に少なくな多、操作時の
ペルジャー内の熱やガスで放電管の電極や構成材料が損
傷を受けることがない。
従って、放電管の材質の選択の自由度が大きくなシ、ま
たその構造や配置も任意に行なうことができる。また、
放電管内の冷却用水冷バイブ（図示せず）の構造も設計
し易く、その冷却効率も良好となると共に、放電管自体
の交換作業もペルジャー外で容易に行なえる。但、活性
ガスを送り込むという点で社、放電管をペルジャー内に
設けてよいことは勿論である。
たその構造や配置も任意に行なうことができる。また、
放電管内の冷却用水冷バイブ（図示せず）の構造も設計
し易く、その冷却効率も良好となると共に、放電管自体
の交換作業もペルジャー外で容易に行なえる。但、活性
ガスを送り込むという点で社、放電管をペルジャー内に
設けてよいことは勿論である。
第２図は、ドーパント蒸発源５を加熱するためのヒータ
ー８の別の構造例を示すものである。
ー８の別の構造例を示すものである。
この例によれば、ドーパント蒸発源５のヒーター８がド
ーパント容器加自体に連設された円筒壁２１によって囲
まれている。この円筒壁２１は高温のヒーター８の周囲
を充分に覆っているため、上述したシリコン蒸発源から
のシリコン蒸気は円筒壁２１で遮蔽され、ヒーター８上
へは実質的に到達しない。これによって、第１図で述べ
たと同様に、ヒーター金属とシリコンとの反応を防止す
ることができる。なお、円筒壁２１は容器２０と共に窒
化ボロン、ＳｉＯ□、Ａｌ２Ｏ３等で形成してよい。
ーパント容器加自体に連設された円筒壁２１によって囲
まれている。この円筒壁２１は高温のヒーター８の周囲
を充分に覆っているため、上述したシリコン蒸発源から
のシリコン蒸気は円筒壁２１で遮蔽され、ヒーター８上
へは実質的に到達しない。これによって、第１図で述べ
たと同様に、ヒーター金属とシリコンとの反応を防止す
ることができる。なお、円筒壁２１は容器２０と共に窒
化ボロン、ＳｉＯ□、Ａｌ２Ｏ３等で形成してよい。
第３図は、ヒーター８の更に別の構造例を示すものであ
る。
る。
このヒーター８は、第２図に比べて、円筒壁２１は省略
しているが容器２０Ｑ横方向に延びる７ランジ壁２２（
例えば窒化ボロン、ＳｉＯ□、Ａ１□０３等の壁）を具
備することを特徴としている。このようにすれば、ヒー
タ−８自体は上述のシリコン蒸発源に対しては実質的に
遮蔽はされていないが、たとえヒータ−８自にシリコン
蒸気が付着してヒーター材料が蒸発したとしても、この
ヒーター材料の蒸気は７ランジ壁ｎによって上述の被蒸
着基板の方向へは飛翔し難くなる。即ち、フランジ壁ｎ
は被蒸着基板に対してヒーター８を遮蔽゛する如くに配
されているので、ヒーター材料の蒸気が基板の方向へ飛
翔しようとし゛てもフランジ壁部によって阻止され、そ
こに付着するにすぎない。こうした効果を奏する構造は
図示した如く非常に簡単であり、その製作コストも低い
ものである。
しているが容器２０Ｑ横方向に延びる７ランジ壁２２（
例えば窒化ボロン、ＳｉＯ□、Ａ１□０３等の壁）を具
備することを特徴としている。このようにすれば、ヒー
タ−８自体は上述のシリコン蒸発源に対しては実質的に
遮蔽はされていないが、たとえヒータ−８自にシリコン
蒸気が付着してヒーター材料が蒸発したとしても、この
ヒーター材料の蒸気は７ランジ壁ｎによって上述の被蒸
着基板の方向へは飛翔し難くなる。即ち、フランジ壁ｎ
は被蒸着基板に対してヒーター８を遮蔽゛する如くに配
されているので、ヒーター材料の蒸気が基板の方向へ飛
翔しようとし゛てもフランジ壁部によって阻止され、そ
こに付着するにすぎない。こうした効果を奏する構造は
図示した如く非常に簡単であり、その製作コストも低い
ものである。
なお、第３図の構造は、第１図に示した遮蔽板１３と共
に併用すれば、第１図で述べたヒーター金属の蒸発防止
（ａ−８ｔ膜の汚染防止）効果を一段と高めるととがで
きる。しかしながら、第１図の遮蔽板１３を設けずに＠
３図の構造のみを採用することも可能である。この場合
には、ヒーター８上へのシリコン蒸気の付着量社第１図
に比べて増えるが、上記７ランジ壁２２によってヒータ
ー材料の飛翔を充分に防止できるという効果は得られる
。
に併用すれば、第１図で述べたヒーター金属の蒸発防止
（ａ−８ｔ膜の汚染防止）効果を一段と高めるととがで
きる。しかしながら、第１図の遮蔽板１３を設けずに＠
３図の構造のみを採用することも可能である。この場合
には、ヒーター８上へのシリコン蒸気の付着量社第１図
に比べて増えるが、上記７ランジ壁２２によってヒータ
ー材料の飛翔を充分に防止できるという効果は得られる
。
なお、上記フランジ壁ｎ自体は、それを設けない構造に
比べてヒーター８上へのシリコン蒸気の飛来を一定量防
ぐ効果は有しているから、ビータ−８に対するシリコン
付着量は減少することになる。
比べてヒーター８上へのシリコン蒸気の飛来を一定量防
ぐ効果は有しているから、ビータ−８に対するシリコン
付着量は減少することになる。
第４図は、ドーパント５を電子銃で加熱する電子錠加熱
方式を示すものである。
方式を示すものである。
この図において、詔は電子銃、冴は熱電子発生用のヒー
ター、郷は熱電子、％は熱電子流をローレンツ勾の作用
でドーパント５側へ偏向させるための各マグネットであ
る。この電子銃加熱装置において、ヒーター冴の上部（
即ち被蒸着基板側）は高融点金属、例えばステンレス、
モリブデン、タングステン等の遮蔽板４でカバーされて
いる。
ター、郷は熱電子、％は熱電子流をローレンツ勾の作用
でドーパント５側へ偏向させるための各マグネットであ
る。この電子銃加熱装置において、ヒーター冴の上部（
即ち被蒸着基板側）は高融点金属、例えばステンレス、
モリブデン、タングステン等の遮蔽板４でカバーされて
いる。
この遮蔽板ｎは別途設けてよいし、或いは電子銃囚のヒ
ーター容器自体であってもよい。こうした遮蔽板ｎの存
在によって、上述したシリコン蒸気のヒータ−８自への
付着を防止できる。また、たとえヒーター斜がシリコン
で汚染されても、そのヒーター金属の蒸気が被蒸着基板
の堆積面へ飛翔することが遮蔽板ｎによシ有効に阻止さ
れるように、遮蔽板ｎを設けるのが望ましい。
ーター容器自体であってもよい。こうした遮蔽板ｎの存
在によって、上述したシリコン蒸気のヒータ−８自への
付着を防止できる。また、たとえヒーター斜がシリコン
で汚染されても、そのヒーター金属の蒸気が被蒸着基板
の堆積面へ飛翔することが遮蔽板ｎによシ有効に阻止さ
れるように、遮蔽板ｎを設けるのが望ましい。
この電子銃加熱方式は、目的の蒸発源を集中的に加熱す
る上で効率的なものである。但、第１図〜第３図に示し
た加熱方式のように蒸気を蒸発源上で迷路（図示せず）
を通して導びき、壁部の付着蒸気を再蒸発させる如き構
造にはできない。従って、突沸現象が生じて粗大なドー
パント粒塊が飛散し易くなるので、電子ビーム２５をで
きるだけ弱いパワーで蒸発源５に対し広めの照射面積で
当てることによシ、蒸発量をかせぐと同時に上記の突沸
を防止する必要がある。
る上で効率的なものである。但、第１図〜第３図に示し
た加熱方式のように蒸気を蒸発源上で迷路（図示せず）
を通して導びき、壁部の付着蒸気を再蒸発させる如き構
造にはできない。従って、突沸現象が生じて粗大なドー
パント粒塊が飛散し易くなるので、電子ビーム２５をで
きるだけ弱いパワーで蒸発源５に対し広めの照射面積で
当てることによシ、蒸発量をかせぐと同時に上記の突沸
を防止する必要がある。
以上、本発明を例示したが、上述の実施例は本発明の技
術的思想に基いて更に変形が可能である。
術的思想に基いて更に変形が可能である。
例えば、上述の各遮蔽板１３．２１．２２．２７の配置
や形状線種々変更してよい。第２図〜第３図の構造は第
１図のシリコン蒸発源側にも採用してよ”いし、第４図
の加熱方式を第１図〜第３図のシリコン蒸発源又はドー
パント蒸発源に採用してもよい。
や形状線種々変更してよい。第２図〜第３図の構造は第
１図のシリコン蒸発源側にも採用してよ”いし、第４図
の加熱方式を第１図〜第３図のシリコン蒸発源又はドー
パント蒸発源に採用してもよい。
上述した各蒸発源の材料は目的とする堆積膜に応じて種
々選択してよく、またその蒸発源の個数も任意であって
よい。また第２図〜第４図の構造と共に第１図の遮蔽板
１３を併設すると効果的である。
々選択してよく、またその蒸発源の個数も任意であって
よい。また第２図〜第４図の構造と共に第１図の遮蔽板
１３を併設すると効果的である。
なお、本発明は上述した真空蒸着方式以外の種々の蒸着
方式にも適用可能である。
方式にも適用可能である。
図面は本発明をドープドａ−８ｉに適用した実施例を示
すものであって、第１図は真空蒸着装置の概略断面図、
第２図は蒸発源及びそのヒータ一部の拡大断面図、第３
図は別の蒸発源及びそのヒータ一部の拡大断面図、第４
図は蒸発源の電子銃加熱方式を示す概略断面図である。 なお、図面に用いられている符号において、２・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・被蒸着基板
３・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
シリコン蒸発源５・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・ドーパント蒸発源７．８、冴・・・・・
・・・・ヒーター１２・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・活性修飾ガス導入管１３、ｎ・・・・・・
・・・・・・・・・遮蔽板１４・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・放電管２１・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・円筒壁２２・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・７ランジ壁お・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・電子銃怒・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・熱電子流２６−−−−−
・−−−−−・−・・・−−−−−マグネットである。 代理人 弁理士 掻板 宏
すものであって、第１図は真空蒸着装置の概略断面図、
第２図は蒸発源及びそのヒータ一部の拡大断面図、第３
図は別の蒸発源及びそのヒータ一部の拡大断面図、第４
図は蒸発源の電子銃加熱方式を示す概略断面図である。 なお、図面に用いられている符号において、２・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・被蒸着基板
３・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
シリコン蒸発源５・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・ドーパント蒸発源７．８、冴・・・・・
・・・・ヒーター１２・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・活性修飾ガス導入管１３、ｎ・・・・・・
・・・・・・・・・遮蔽板１４・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・放電管２１・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・円筒壁２２・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・７ランジ壁お・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・電子銃怒・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・熱電子流２６−−−−−
・−−−−−・−・・・−−−−−マグネットである。 代理人 弁理士 掻板 宏
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、第１の蒸発源と第２の蒸発源とが真空槽内に配置さ
れ、これらの蒸発源の少なくとも一方の加熱手段を他方
の蒸発源に対して遮蔽するための遮蔽部材が前記真空槽
内に設けられていることを特徴とする蒸着装置。 ２、第１の蒸発源と第２の蒸発源との間が遮蔽板で仕切
られている、特許請求の範Ｈの第１項に記載した装置。 ３、第１の蒸発源と第２の蒸発源との少なくとも一方の
加熱手段がカバ一部材で囲まれている、特許請求の範囲
の第１項又は第２項に記載した装置４、第１の蒸発源と
第２の蒸発源との少なくとも一方の加熱手段が蒸発源の
側方に延びる遮蔽板によって被蒸着基板に対し遮蔽され
ている、特許請求の範囲の第１項又は第２項に記載した
装置。 ＆ 加熱手段が抵抗加熱装置からなっている、特許請求
の範囲の第１項〜第４項のいずれか１項に記載した装置
。 ６、加熱手段が電子銃加熱装置からなっている、特許請
求の範囲の第１項〜第４項のいずれか１項に記載した装
置。 ７、第１の蒸発源が半導体材料からなり、第２の蒸発源
がそのドーパントからなる、特許請求の範囲の第１項〜
第６項のいずれか１項に記載した装置。 ８、半導体材料がシリコンである、特許請求の範囲の第
７項に記載した装置。 ９、 ドーパントが周期表第■族又は第Ｖ族元素である
、特許請求の範囲の第７項又は第８項に記載し九装置。 １０、活性水素又は水素イオンと、活性ハロゲン又はハ
ロゲンイオンとの少なくとも一方を導入するための導入
管が真空槽に配設されている、特許請求の範囲の第１項
〜第９項のいずれか１項に記載した装置。 １１、活性水素又は水素イオンと、活性ハロゲン又はハ
ロゲンイオンとの少なくとも一方を発生させるだめの放
電装置が真空槽外に設けられている、特許請求の範囲の
第１０項に記載した装置。 臆、第１の蒸発源と第２の蒸発源と被蒸着基体とが真空
槽内に配置され、前記第１の蒸発源と前記第２の蒸発源
との少なくとも一方の加熱手段が、蒸発源の側方に延び
る遮蔽部材によって前記被蒸着基体に対し遮蔽されてい
ることを特徴とする蒸着装置。 １３、加熱手段が抵抗加熱装置からなっている、特許請
求の範囲の第１２項に記載した装置。 １４、加熱手段が電子銃加熱装置からなっている、特許
請求の範囲の第１２項に記載した装置。 １５、第１の蒸発源が半導体材料からな）、第２の蒸発
源がそのドーパントからなる、特許請求の範囲の第１２
項〜第１４項のいずれか１項に記載した装置。 １６、半導体材料がシリコンである、特許請求の範囲の
第１５項に記載した装置。 １７、ドーパントが周期表第■族又は第■族元索である
、特許請求の範囲の第１５項又は第１６項に記載した装
置。 詔、活性水素又は水素イオンと、活性ノ・ロゲン又はハ
ロゲンイオンとの少なくとも一方を導入するための導入
管が真空槽に配設されている、特許請求の範囲の第１２
項〜第１７項のいずれか１項に記載した装置。 １Ｇ、活性水素又は水素イオンと、活性ノ・ロゲン又紘
ハロゲンイオンとの少なくとも一方を発生させるための
放電装置が真空槽外に設けられている、特許請求の範囲
の第１８項に記載した装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56208836A JPS58110030A (ja) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | 蒸着装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56208836A JPS58110030A (ja) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | 蒸着装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58110030A true JPS58110030A (ja) | 1983-06-30 |
Family
ID=16562905
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56208836A Pending JPS58110030A (ja) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | 蒸着装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58110030A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4951604A (en) * | 1989-02-17 | 1990-08-28 | Optical Coating Laboratory, Inc. | System and method for vacuum deposition of thin films |
| JP2008305967A (ja) * | 2007-06-07 | 2008-12-18 | Showa Denko Kk | Ｉｉｉ族窒化物半導体層の製造装置、ｉｉｉ族窒化物半導体層の製造方法、ｉｉｉ族窒化物半導体発光素子の製造方法、ｉｉｉ族窒化物半導体発光素子及びランプ |
| JP2008311421A (ja) * | 2007-06-14 | 2008-12-25 | Showa Denko Kk | Ｉｉｉ族窒化物化合物半導体発光素子の製造方法、及びｉｉｉ族窒化物化合物半導体発光素子、並びにランプ |
-
1981
- 1981-12-23 JP JP56208836A patent/JPS58110030A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4951604A (en) * | 1989-02-17 | 1990-08-28 | Optical Coating Laboratory, Inc. | System and method for vacuum deposition of thin films |
| JP2008305967A (ja) * | 2007-06-07 | 2008-12-18 | Showa Denko Kk | Ｉｉｉ族窒化物半導体層の製造装置、ｉｉｉ族窒化物半導体層の製造方法、ｉｉｉ族窒化物半導体発光素子の製造方法、ｉｉｉ族窒化物半導体発光素子及びランプ |
| JP2008311421A (ja) * | 2007-06-14 | 2008-12-25 | Showa Denko Kk | Ｉｉｉ族窒化物化合物半導体発光素子の製造方法、及びｉｉｉ族窒化物化合物半導体発光素子、並びにランプ |
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