JPS58108402A - 非接触光学式変位計のライトテスト機構 - Google Patents
非接触光学式変位計のライトテスト機構Info
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- JPS58108402A JPS58108402A JP20607781A JP20607781A JPS58108402A JP S58108402 A JPS58108402 A JP S58108402A JP 20607781 A JP20607781 A JP 20607781A JP 20607781 A JP20607781 A JP 20607781A JP S58108402 A JPS58108402 A JP S58108402A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光学変位計のための自動ライトテス） （Ｌ
Ｔ ） 機構に関するものである０明暗のあるターゲ
ットの明暗境界線からの光線を受光し、被測物体の変位
を測定する光学変位計は周知である。かかる光学変位計
においては変位測定前に受光系におけるターゲットの明
暗コントラスト比を初期設定しなければならない。この
ような明暗の初期設定をライトテスト（Ｌｉｇｈｔ Ｔ
ｅ５ｔ ） といい、従来は次のように行なっていた
。すなわち、最初手動で光学式変位計のカメラレンズを
覆って暗（ダーク）状態を設定し、その後変位計のカメ
ラを移動させるかまたはターゲットの暗部を取除くかし
て明（ホワイト）状態を照準するようにして明状態の設
定が行なわれる。このような明状態における出力に合わ
せて光電子増倍管（フォト・マル）の高圧を加減しある
いは照明電源の電圧を上下させて照度調整を行なわなけ
ればならない。かかるＬＴ操作は測定精定にも影響を及
ぼすため測定前に必ず実施しなければならない。
Ｔ ） 機構に関するものである０明暗のあるターゲ
ットの明暗境界線からの光線を受光し、被測物体の変位
を測定する光学変位計は周知である。かかる光学変位計
においては変位測定前に受光系におけるターゲットの明
暗コントラスト比を初期設定しなければならない。この
ような明暗の初期設定をライトテスト（Ｌｉｇｈｔ Ｔ
ｅ５ｔ ） といい、従来は次のように行なっていた
。すなわち、最初手動で光学式変位計のカメラレンズを
覆って暗（ダーク）状態を設定し、その後変位計のカメ
ラを移動させるかまたはターゲットの暗部を取除くかし
て明（ホワイト）状態を照準するようにして明状態の設
定が行なわれる。このような明状態における出力に合わ
せて光電子増倍管（フォト・マル）の高圧を加減しある
いは照明電源の電圧を上下させて照度調整を行なわなけ
ればならない。かかるＬＴ操作は測定精定にも影響を及
ぼすため測定前に必ず実施しなければならない。
従来の一般に行なわれるライトテストは、明暗のあるタ
ーゲットが被測定物の表面に被着されているため任意に
ターゲットの移動ができないことから、通常はカメラ部
を動かして明状態を規準しながら実施しなければならな
い。しかしながら、非接触光学式変位計ではカメラ部が
動くことは高信頼性かつ再現性の良好なデータ採取のた
めに望ましいことではない。さらにかかる手動操作によ
るライトテストは繁雑であって個人差が出やすく、迅速
かつ正確な測定を困難にする欠点があった。
ーゲットが被測定物の表面に被着されているため任意に
ターゲットの移動ができないことから、通常はカメラ部
を動かして明状態を規準しながら実施しなければならな
い。しかしながら、非接触光学式変位計ではカメラ部が
動くことは高信頼性かつ再現性の良好なデータ採取のた
めに望ましいことではない。さらにかかる手動操作によ
るライトテストは繁雑であって個人差が出やすく、迅速
かつ正確な測定を困難にする欠点があった。
本発明は非接触光学式変位計の受光系のだめのライトテ
スト操作を自動的にしかも迅速に行なうことができ、さ
らに個人差の介在する余地のないライトテスト機構を提
供することを目的とする。
スト操作を自動的にしかも迅速に行なうことができ、さ
らに個人差の介在する余地のないライトテスト機構を提
供することを目的とする。
本発明の目的は特許請求の範囲に記載のライトテスト機
構によって達成される。
構によって達成される。
本発明にかかるライトテスト機構を具備する非接触光学
式変位計によって、変位測定準備が極めて容易となり、
短時間に個人差のない正確なライトテストが完了し、直
ちに信頼性ならびに再現性の高い変位測定データが得ら
れるＯ以下、本発明の実施例を開示する添付図を参照し
て本発明を詳述する。
式変位計によって、変位測定準備が極めて容易となり、
短時間に個人差のない正確なライトテストが完了し、直
ちに信頼性ならびに再現性の高い変位測定データが得ら
れるＯ以下、本発明の実施例を開示する添付図を参照し
て本発明を詳述する。
添付図は本発明にかかる非接触光学式変位計の要部およ
びライトテスト機構のブロック図を示すもので、明暗に
色分けされたターゲット１からの光入力はフォト・マル
２に入り光電子増倍される。この変位計は、ターゲット
１の矢印３のような変位による入射光量の変位にも拘ら
ず、偏向コイル４に所要電流を流すことによりターゲッ
ト結像位置を修正し、一定出力を得る際に偏向コイルが
必要とする電気信号を取り出してターゲット変位に対応
する測定値を得るものである。
びライトテスト機構のブロック図を示すもので、明暗に
色分けされたターゲット１からの光入力はフォト・マル
２に入り光電子増倍される。この変位計は、ターゲット
１の矢印３のような変位による入射光量の変位にも拘ら
ず、偏向コイル４に所要電流を流すことによりターゲッ
ト結像位置を修正し、一定出力を得る際に偏向コイルが
必要とする電気信号を取り出してターゲット変位に対応
する測定値を得るものである。
本発明にかかるライトテスト機構の構成および動作は次
の通りである０ ターゲット１の結像を得るフォト・マル２前方のアパー
チャ２ａでターゲット１の明（ホワイト）部分のみを取
入れるように結像状聾ヲ調整するために、偏向コイル４
には所要電流、を流さなければならない。そのために、
コイル駆動回路５にはＤ−Ａ変換器６を介して中央処理
装置ＣＰＵから電流が印加される。この電流が徐々に変
化すれば、ターゲット結像は次第に移動し明状態調整が
可能となる。この際のフォト・マル２の出力をプリアン
プ７ならびにＡ−Ｄ変換器８−！、介してＣＰＨに入力
する。
の通りである０ ターゲット１の結像を得るフォト・マル２前方のアパー
チャ２ａでターゲット１の明（ホワイト）部分のみを取
入れるように結像状聾ヲ調整するために、偏向コイル４
には所要電流、を流さなければならない。そのために、
コイル駆動回路５にはＤ−Ａ変換器６を介して中央処理
装置ＣＰＵから電流が印加される。この電流が徐々に変
化すれば、ターゲット結像は次第に移動し明状態調整が
可能となる。この際のフォト・マル２の出力をプリアン
プ７ならびにＡ−Ｄ変換器８−！、介してＣＰＨに入力
する。
ＣＰＵはこの場合の最大値を判断しそして最大電流をホ
ールドする。さらにＣＰＵは基準光量が得られるように
Ｄ−Ａ変換器９を介してフォト・マル２の高圧回路１０
を制御する。これと同時にまたは独立して他のＤ−Ａ変
換器１１を介してターゲット１を照射する光源用の電源
１２を制御し基準光量を得るように調整することができ
る。またフォト・マル２の前方に電気的に制御可能な絞
り１３を゛配設し、ｃｐＵからＤ−Ａ変換器１４ならび
に制御回路１５を介して開度ＦＡ 節’（ｒ行ない、フ
ォト・マル２への入射光量を制御することができる。
ールドする。さらにＣＰＵは基準光量が得られるように
Ｄ−Ａ変換器９を介してフォト・マル２の高圧回路１０
を制御する。これと同時にまたは独立して他のＤ−Ａ変
換器１１を介してターゲット１を照射する光源用の電源
１２を制御し基準光量を得るように調整することができ
る。またフォト・マル２の前方に電気的に制御可能な絞
り１３を゛配設し、ｃｐＵからＤ−Ａ変換器１４ならび
に制御回路１５を介して開度ＦＡ 節’（ｒ行ない、フ
ォト・マル２への入射光量を制御することができる。
かかる構成において、ＣＰＵ ｉライトテストモードに
切換えると、最初、入射光を遮切って暗状態が設定され
る。次いで明状態の設定に移り、当初ターゲットの結像
を移動させアパーチャ２ａを通過する光が全て明部分（
ホワイト）であるようにＣＰＵからＤ−Ａ変換器６およ
びコイル駆動回路５に対する信号が発せられる。明状態
にある最大電流はＣＰＵによってホールドされ、さらに
、その後基準光量が得られるように、それぞれ対応する
Ｄ−Ａ変換器９．＋１．＋４ｉ介して高圧回路１０、光
源１６および絞り１５の調整がＣＰＵによって行なわれ
る。その結果明状態において基準光量が得られることに
なり受 ゛先糸におけるライトテストが完了し、測
定モードに切換えられる。なお、高圧回路、光源および
絞りの制御は必ずしも全体が同時に行なわれる必要はな
く、殊に、光源照度および絞り開度は二者択一的に制御
可能である。当然、全体全組合せて総合的制御をすれば
、迅速精確な明状態設定が可能となる。
切換えると、最初、入射光を遮切って暗状態が設定され
る。次いで明状態の設定に移り、当初ターゲットの結像
を移動させアパーチャ２ａを通過する光が全て明部分（
ホワイト）であるようにＣＰＵからＤ−Ａ変換器６およ
びコイル駆動回路５に対する信号が発せられる。明状態
にある最大電流はＣＰＵによってホールドされ、さらに
、その後基準光量が得られるように、それぞれ対応する
Ｄ−Ａ変換器９．＋１．＋４ｉ介して高圧回路１０、光
源１６および絞り１５の調整がＣＰＵによって行なわれ
る。その結果明状態において基準光量が得られることに
なり受 ゛先糸におけるライトテストが完了し、測
定モードに切換えられる。なお、高圧回路、光源および
絞りの制御は必ずしも全体が同時に行なわれる必要はな
く、殊に、光源照度および絞り開度は二者択一的に制御
可能である。当然、全体全組合せて総合的制御をすれば
、迅速精確な明状態設定が可能となる。
本発明の実施例に沿って本発明を開示したが、本発明の
範囲内において多くの変形または変更が可能であること
は明らかであろう。
範囲内において多くの変形または変更が可能であること
は明らかであろう。
添付図は本発明にかかるライトテスト機構を具備する非
接触光学式変位計の要部を示すブロック図である。 図中主な参照符号の対応は次の通りである。 １：ターゲット、２：フォト・マル、４：偏向コイル、
１０：高圧回路、１５：絞り、１６：光源、ＣＰＵ ：
中央処理装置。
接触光学式変位計の要部を示すブロック図である。 図中主な参照符号の対応は次の通りである。 １：ターゲット、２：フォト・マル、４：偏向コイル、
１０：高圧回路、１５：絞り、１６：光源、ＣＰＵ ：
中央処理装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 変位する明暗ターゲットの境界像を定位置に結像させる
ための所要偏向電流をもって、被測物体の変位を測定す
る非接触光学式変位計における受光系の感度設定を行な
うライトテスト機構において、 明暗ターゲット（１）の明部分の結像を選択的に形成し
、該明状態におけるフォト・マル（２）の出力に応じて
基準光量が得られるように、前記フォト・マルの高圧回
路（１０）、前記ターゲット照射用光源（１６）および
入射光制御のための絞り（１５）を、同時にまたは必要
に応じて独立に、制御するための中央処理装置（ｃｐｔ
＋ ）を具備することを特徴とするライトテスト機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20607781A JPS58108402A (ja) | 1981-12-22 | 1981-12-22 | 非接触光学式変位計のライトテスト機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20607781A JPS58108402A (ja) | 1981-12-22 | 1981-12-22 | 非接触光学式変位計のライトテスト機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58108402A true JPS58108402A (ja) | 1983-06-28 |
| JPH0459561B2 JPH0459561B2 (ja) | 1992-09-22 |
Family
ID=16517441
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20607781A Granted JPS58108402A (ja) | 1981-12-22 | 1981-12-22 | 非接触光学式変位計のライトテスト機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58108402A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01174903A (ja) * | 1987-12-29 | 1989-07-11 | Kawasaki Steel Corp | 荷物載置場所のターゲット認識方法 |
-
1981
- 1981-12-22 JP JP20607781A patent/JPS58108402A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01174903A (ja) * | 1987-12-29 | 1989-07-11 | Kawasaki Steel Corp | 荷物載置場所のターゲット認識方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0459561B2 (ja) | 1992-09-22 |
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