JPS58106470A - 高抵抗測定装置 - Google Patents
高抵抗測定装置Info
- Publication number
- JPS58106470A JPS58106470A JP20482281A JP20482281A JPS58106470A JP S58106470 A JPS58106470 A JP S58106470A JP 20482281 A JP20482281 A JP 20482281A JP 20482281 A JP20482281 A JP 20482281A JP S58106470 A JPS58106470 A JP S58106470A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resistance
- terminal
- sample
- measured
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/025—Measuring very high resistances, e.g. isolation resistances, i.e. megohm-meters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は１×１０１１ΩからｌＸｌ０”Ωまでの比較的
高い抵抗値を測定する高抵抗測定装置に関する。
高い抵抗値を測定する高抵抗測定装置に関する。
一般に、電子機器等に用いられる電子部品あるいは電子
材料は、−子機器の信頼性を高めるために種々の電気的
特性が測定されているが、その測定の中には、種々の電
圧における抵抗値を評価するような場合かある。例えば
、コンデンサー、絶縁材料などにおいては、その抵抗測
定値が、電圧によシその抵抗値がｌＸｌ０”ΩからｌＸ
ｌ０’Ω付近で変化するものがある。このような電圧に
対する抵抗の変化は、その材料の物理埃象をとらえる一
手段となシ得るので、さらに信頼性を高める検討が行え
るという利点がある。
材料は、−子機器の信頼性を高めるために種々の電気的
特性が測定されているが、その測定の中には、種々の電
圧における抵抗値を評価するような場合かある。例えば
、コンデンサー、絶縁材料などにおいては、その抵抗測
定値が、電圧によシその抵抗値がｌＸｌ０”ΩからｌＸ
ｌ０’Ω付近で変化するものがある。このような電圧に
対する抵抗の変化は、その材料の物理埃象をとらえる一
手段となシ得るので、さらに信頼性を高める検討が行え
るという利点がある。
従来、このような測定を行う装置としては、第１図に示
すように、抵抗値Ｒｘの被測定試料１１の一端に〜５圧
Ｅの試販電源１２を直列に接続させ、その被測定試料１
１のもう一方の端子と抵抗値′ｋＬｓの標準抵抗１３と
を直列に接続させ、この標準抵抗１３０両端の電圧を電
圧計１４で読みとることによって、この電圧をａｖとす
ると次式の関係が成立つ。
すように、抵抗値Ｒｘの被測定試料１１の一端に〜５圧
Ｅの試販電源１２を直列に接続させ、その被測定試料１
１のもう一方の端子と抵抗値′ｋＬｓの標準抵抗１３と
を直列に接続させ、この標準抵抗１３０両端の電圧を電
圧計１４で読みとることによって、この電圧をａｖとす
ると次式の関係が成立つ。
ｅｖ＝Ｅ−Ｒｓ／（Ｒｘ＋Ｒｓ ）
、“、Ｒｘ＝ ａｖ／Ｅ＠ Ｒ５−Ｒ５この電圧計１４
の目盛をＲｘで校正させることにより、被測定試料１１
の抵抗値を求める方法か知られておシ、この極の装置は
高抵抗計として市販されている。実際には被測定試料１
１の測定範囲を広げるために標準抵抗１３は切換えでき
るような測定器となっている。このような測定器の１つ
に、第２図に示すように、標準抵抗２１の切換えを自動
的に行えるように演算増幅器２３を含むフィードバック
回路２２を持たせた自動レンジ高抵抗計がある。
の目盛をＲｘで校正させることにより、被測定試料１１
の抵抗値を求める方法か知られておシ、この極の装置は
高抵抗計として市販されている。実際には被測定試料１
１の測定範囲を広げるために標準抵抗１３は切換えでき
るような測定器となっている。このような測定器の１つ
に、第２図に示すように、標準抵抗２１の切換えを自動
的に行えるように演算増幅器２３を含むフィードバック
回路２２を持たせた自動レンジ高抵抗計がある。
ところが、前述のとおシコンデンサあるいは絶縁物の抵
抗は、第３図の特性図に示すように、その抵抗値が時間
とともに変化する防電吸収現象を起こし、そのため、測
定中にレンジの切換りが起ることがあシ、標準抵抗２１
及び被測定試料１１の両端電圧に変化を生じ、ある時間
光！あるいは放電か起こる。特に被測定試料が犬容ｔで
あると、この充電及び放電の時間が長くなシ、測定値に
１差が生じる場合がある。又、測定器の入力抵抗がその
測定レンジの標準抵抗となるため、被沖」定試料の容量
が大きいものでは、この充電時間が長くカリ、抵抗値と
なって示されるまで長い時間（例えは、１００μＦのコ
ンデンサで標準抵抗が１０’Ωであると約１００秒）を
必をとする。さらに、その抵抗値は標準抵抗と試験電圧
によって校正されたものであるため、いかなる電圧にお
いてもその値を知るということが困難であるという欠点
があった。
抗は、第３図の特性図に示すように、その抵抗値が時間
とともに変化する防電吸収現象を起こし、そのため、測
定中にレンジの切換りが起ることがあシ、標準抵抗２１
及び被測定試料１１の両端電圧に変化を生じ、ある時間
光！あるいは放電か起こる。特に被測定試料が犬容ｔで
あると、この充電及び放電の時間が長くなシ、測定値に
１差が生じる場合がある。又、測定器の入力抵抗がその
測定レンジの標準抵抗となるため、被沖」定試料の容量
が大きいものでは、この充電時間が長くカリ、抵抗値と
なって示されるまで長い時間（例えは、１００μＦのコ
ンデンサで標準抵抗が１０’Ωであると約１００秒）を
必をとする。さらに、その抵抗値は標準抵抗と試験電圧
によって校正されたものであるため、いかなる電圧にお
いてもその値を知るということが困難であるという欠点
があった。
本発明の目的は、これら従来の欠点を除去し、測定値の
誤差を少くし、測定時間を短縮した高抵抗測定装置を提
供することにある。
誤差を少くし、測定時間を短縮した高抵抗測定装置を提
供することにある。
本発明の高抵抗測定装置は、試験電圧を供給する電圧端
子と、この電圧端子からフィルタを介して被測定試料の
一端に接続される第１の測定端子と、前記被測定、端子
の他端に接続される第２の測定端子と、前記第１の測定
端子から基準抵抗を介して第１の端子に接続され終端抵
抗を接続した前記第２の測定端子から短絡保護回路を介
して第２の端子に接続される入力回路と、これら第１お
よび第２の端子の各入力からその差電流の対数出力をと
シ出す二人力対数増幅器とを含み構成される。
子と、この電圧端子からフィルタを介して被測定試料の
一端に接続される第１の測定端子と、前記被測定、端子
の他端に接続される第２の測定端子と、前記第１の測定
端子から基準抵抗を介して第１の端子に接続され終端抵
抗を接続した前記第２の測定端子から短絡保護回路を介
して第２の端子に接続される入力回路と、これら第１お
よび第２の端子の各入力からその差電流の対数出力をと
シ出す二人力対数増幅器とを含み構成される。
以下本発明を図面によシ詳細に説明する。
第４図は本発明の一実施例を示す回路図である。
この実施例は、試験電圧供給端子４１に１０００μＦ程
度のコンデンサ４２と５Ｈ程度のチョークコイル４３と
からなるフィルタでリップルを除去させ、このフィルタ
の出力に被測定試料１１への試験電圧端子４５をもうけ
るとともに、基準抵抗４６を介して二人力対数変換増幅
器４７の一方の入力端子に接続する。この二人力対数変
換増幅器４７のもう一方の入力端子には、ＩＫΩの抵抗
４８と１００にΩの抵抗４９及びツェナーダイオード５
０からなる被測定試料１１のシ、−ト不良保護回路を介
して、二人力対数変換増幅器４７のオフセットレベル安
定用の１×１０７Ωの抵抗５２と共に、試料１１の接続
端子５１が接続されている。
度のコンデンサ４２と５Ｈ程度のチョークコイル４３と
からなるフィルタでリップルを除去させ、このフィルタ
の出力に被測定試料１１への試験電圧端子４５をもうけ
るとともに、基準抵抗４６を介して二人力対数変換増幅
器４７の一方の入力端子に接続する。この二人力対数変
換増幅器４７のもう一方の入力端子には、ＩＫΩの抵抗
４８と１００にΩの抵抗４９及びツェナーダイオード５
０からなる被測定試料１１のシ、−ト不良保護回路を介
して、二人力対数変換増幅器４７のオフセットレベル安
定用の１×１０７Ωの抵抗５２と共に、試料１１の接続
端子５１が接続されている。
この二人力対数変換増幅器４７の出力はＡ／Ｄコンバー
ター５３が接続されておシ、ディジイタルー）− 信号５４が出力されるようになっている。
ター５３が接続されておシ、ディジイタルー）− 信号５４が出力されるようになっている。
二の？１ＩＪａ抗測定装伽は、二人力対数変換増幅器４
７のｔ流電圧変換作用を利用したもので、被測 一定試
料１１側に流れる％流ｉ、と基準抵抗４６側に流れる電
流１２との差によって生ずる出力〜、圧Ｅｏは次式のよ
うになる。
７のｔ流電圧変換作用を利用したもので、被測 一定試
料１１側に流れる％流ｉ、と基準抵抗４６側に流れる電
流１２との差によって生ずる出力〜、圧Ｅｏは次式のよ
うになる。
Ｅ、） −Ｋ ” Ａ！Ｏｇ＋ｏ （１１／ ’２）こ
の二人力対数変換増幅器４７の利得（ゲイン）をに＝１
（ＩＶ／１ディケード）となるように調整させれば、被
測定試料（Ｒｘ）１１へ与えられる電圧と基準抵抗（Ｒ
ｓ）４６へ与えられる電圧を同一にしているから、Ｅｏ
＝ −ｌ ｏ ｇ、ｏ（Ｒ，ｓ／Ｒｘ）となる。
の二人力対数変換増幅器４７の利得（ゲイン）をに＝１
（ＩＶ／１ディケード）となるように調整させれば、被
測定試料（Ｒｘ）１１へ与えられる電圧と基準抵抗（Ｒ
ｓ）４６へ与えられる電圧を同一にしているから、Ｅｏ
＝ −ｌ ｏ ｇ、ｏ（Ｒ，ｓ／Ｒｘ）となる。
ここで基準抵抗（Ｒｓ）をＩ Ｘ １０’Ωとすると、
Ｅ ｏ： ｉｊｏｇ、ｏＲｘ−８となシ、試験電圧が除
去される。したがって、Ａ／Ｄコンバーターの出力が±
５■のフルスケール入力に刻してＯ〜２５０（８ビット
バイナリ−データ）となるように調整させれは、２５デ
イジツト／１■となシ、ディジタル出力Ｙは、Ｙ＝２５
（Ａｏｇ＋ｏＲｘ−ｓ ）＋１２７６− となる。この式からＲｘを求め指数関数で表わせは次式
のように々る。
Ｅ ｏ： ｉｊｏｇ、ｏＲｘ−８となシ、試験電圧が除
去される。したがって、Ａ／Ｄコンバーターの出力が±
５■のフルスケール入力に刻してＯ〜２５０（８ビット
バイナリ−データ）となるように調整させれは、２５デ
イジツト／１■となシ、ディジタル出力Ｙは、Ｙ＝２５
（Ａｏｇ＋ｏＲｘ−ｓ ）＋１２７６− となる。この式からＲｘを求め指数関数で表わせは次式
のように々る。
Ｒｘ＝ｅｘｐ（Ｙ＋７２／１０．８５７３６）このＲＸ
にはショート試料のときの仔細抵抗４９゜４８が入って
いるから、尖際のＲｘは次式のようになる。
にはショート試料のときの仔細抵抗４９゜４８が入って
いるから、尖際のＲｘは次式のようになる。
Ｒｘ＝ｅｘｐ（Ｙ＋７２／１０．８５７３６）−１，０
１Ｘ１０Ｉ′ この式はマイクロコンピュータなどによシ容易に計算さ
せることかできる。
１Ｘ１０Ｉ′ この式はマイクロコンピュータなどによシ容易に計算さ
せることかできる。
被測定試料接続端子５１と二人力対数変換器４７の入力
端子間に設りたショート試料に対する保穫回路は、試獣
覧圧を最大３５０■にできるようにさせたもので、この
抵抗（１００ＫΩ＋ＩＫΩ）が本発明による商抵抗測定
装瓢の入力抵抗となる。したかって入力抵抗を小さくも
せるには試験電圧の最大値が小さくなるという欠点があ
る１１ が、入力抵抗が１００にΩであれば、１００μＦの大き
な芥量を持つコンデンサーの抵抗も１０秒後には示され
ることになる。
端子間に設りたショート試料に対する保穫回路は、試獣
覧圧を最大３５０■にできるようにさせたもので、この
抵抗（１００ＫΩ＋ＩＫΩ）が本発明による商抵抗測定
装瓢の入力抵抗となる。したかって入力抵抗を小さくも
せるには試験電圧の最大値が小さくなるという欠点があ
る１１ が、入力抵抗が１００にΩであれば、１００μＦの大き
な芥量を持つコンデンサーの抵抗も１０秒後には示され
ることになる。
さらに大きな特徴は、入力抵抗が、第５図に示すような
測定回路４０の被沖」定試料接続端子５１の接続線にお
ける絶縁抵抗５５に比し、ずっと小さいことから、この
絶ｆ！！、抵＠５５がｌＸｌ０’Ω以上あれは１％以内
の誤差で測定できる事になる。
測定回路４０の被沖」定試料接続端子５１の接続線にお
ける絶縁抵抗５５に比し、ずっと小さいことから、この
絶ｆ！！、抵＠５５がｌＸｌ０’Ω以上あれは１％以内
の誤差で測定できる事になる。
通常この種の絶縁抵抗５５は低いものでも１×１０ＱΩ
以上となっており、この絶縁抵抗による誤差は発生しカ
い。
以上となっており、この絶縁抵抗による誤差は発生しカ
い。
また、第４図において、被迎１定試料１１の接続端子５
１に設けた抵抗５２ｉｌ″１′、その接続端子５１がオ
ープンとなったときの入力安定用のものである。これは
、第６図に示されるような複数の試料１１′をリードリ
レー５６で切換えて連続測定させる場合に接続線上の絶
縁抵抗のばらつきを除去させる効果もある。
１に設けた抵抗５２ｉｌ″１′、その接続端子５１がオ
ープンとなったときの入力安定用のものである。これは
、第６図に示されるような複数の試料１１′をリードリ
レー５６で切換えて連続測定させる場合に接続線上の絶
縁抵抗のばらつきを除去させる効果もある。
第４図の実施例は、フィルターのチロ−クコイルに５Ｈ
，コンデンサーに１０００μＦの部品を用いたが、試馳
驚源のリップルが小さければ、それより小さなもので良
く、限定されるものではない。
，コンデンサーに１０００μＦの部品を用いたが、試馳
驚源のリップルが小さければ、それより小さなもので良
く、限定されるものではない。
又、基準抵抗の値、増幅器のゲインも測定範囲やＡ／Ｄ
コンバーターの入力亀圧範Ｈとの関係から決められるも
のである。さらにオフセット安定用の抵抗も入力抵抗及
び測定系の絶縁抵抗との中間を選んでｌＸｌ０’Ωとし
ているが、Ｉ Ｘ １０’〜１×１０“Ωの範囲でも同
様な効果が得られる。
コンバーターの入力亀圧範Ｈとの関係から決められるも
のである。さらにオフセット安定用の抵抗も入力抵抗及
び測定系の絶縁抵抗との中間を選んでｌＸｌ０’Ωとし
ているが、Ｉ Ｘ １０’〜１×１０“Ωの範囲でも同
様な効果が得られる。
Ａ／Ｄコンバータはそのビット数が１０ビツトあるいは
１２ビツトのものを用いれは、さらに抵抗値の分解能が
向上する。
１２ビツトのものを用いれは、さらに抵抗値の分解能が
向上する。
以上説明のように本発明によれは、３５０■までの試級
電圧の装置でも入力抵抗が低抵抗（１００にΩ）となる
ため、大容量のコンデンサにおいても抵抗値の示される
時間が短く、さらにレンチの切換えが起こらないので、
これにともなう誤差が加わることがない。又、被測定試
料と基準抵抗の両方に試験電圧が加えられているため、
この電圧が計算式には含まれず、いかなる電圧での試験
も可能となっている。
電圧の装置でも入力抵抗が低抵抗（１００にΩ）となる
ため、大容量のコンデンサにおいても抵抗値の示される
時間が短く、さらにレンチの切換えが起こらないので、
これにともなう誤差が加わることがない。又、被測定試
料と基準抵抗の両方に試験電圧が加えられているため、
この電圧が計算式には含まれず、いかなる電圧での試験
も可能となっている。
第１図は従来の高払抗の測定＃理を示す回路図、９−
第２図は従来の自動レンジ４！Ｉ＃ｆを持った測定器の
回路図、第３図り被測定試料が容ｉ成を持っている場合
の抵抗変化を示す特性図、第４図は本発明の一実施例を
示Ｊ回路図、第５図は第４図の来施例の回路上におる絶
縁抵抗を説明する回路図、第６図は集４図、実施例に複
数の試料を測定するときの栴成図である。図において １１．１１’ ・・・・・・被測定試料、１２・・・
・・・試緘竜源、１３・・・・・・標準抵抗、１４・・
・・・・電圧計、２２・・・・・・フィードバック回路
、４０・・・・・・測定回路、４１・・・・・・試験電
圧供給端子、４２・・・・・・コンデンサ、４３・・・
・・・チロ−クコイル、４５・・・・・・試験電圧端子
、４７・・・・・・二人力対数変換器幅器、４８．４９
・・・・・・抵抗、５０・・・・・・シェナーダイオー
ド、５１・・・・・・被測定試料の接続端子、５２・・
・・・・オフセット安定用の抵抗、５３・・・・・・Ａ
／Ｄコンバータ、５４・・・・・・ディシイタル値出力
、５５・・・・・・接続線上の絶縁抵抗、５６・・・・
・・リードリレー 阜１図
回路図、第３図り被測定試料が容ｉ成を持っている場合
の抵抗変化を示す特性図、第４図は本発明の一実施例を
示Ｊ回路図、第５図は第４図の来施例の回路上におる絶
縁抵抗を説明する回路図、第６図は集４図、実施例に複
数の試料を測定するときの栴成図である。図において １１．１１’ ・・・・・・被測定試料、１２・・・
・・・試緘竜源、１３・・・・・・標準抵抗、１４・・
・・・・電圧計、２２・・・・・・フィードバック回路
、４０・・・・・・測定回路、４１・・・・・・試験電
圧供給端子、４２・・・・・・コンデンサ、４３・・・
・・・チロ−クコイル、４５・・・・・・試験電圧端子
、４７・・・・・・二人力対数変換器幅器、４８．４９
・・・・・・抵抗、５０・・・・・・シェナーダイオー
ド、５１・・・・・・被測定試料の接続端子、５２・・
・・・・オフセット安定用の抵抗、５３・・・・・・Ａ
／Ｄコンバータ、５４・・・・・・ディシイタル値出力
、５５・・・・・・接続線上の絶縁抵抗、５６・・・・
・・リードリレー 阜１図
Claims (1)
- 試級電圧を供給する電圧端子と、この電圧端子からフィ
ルタを介して被測定試料の一端に接続される第１の測定
端子と、前記被測定端子の他端に接続される第２の測定
端子と、前記第１の測定端子から基準抵抗を介して第１
の端子に接続され終端抵抗を接続した前記第２の測定端
子から短絡仔細回路を介して第２の端子に接続される入
力回路と、これら第１および第２の端子の各入力からそ
の差電流の対数出力をとシ出す二人力対数増幅器とを含
む高抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20482281A JPS58106470A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | 高抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20482281A JPS58106470A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | 高抵抗測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58106470A true JPS58106470A (ja) | 1983-06-24 |
Family
ID=16496954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20482281A Pending JPS58106470A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | 高抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58106470A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017022193A (ja) * | 2015-07-08 | 2017-01-26 | シーシーエス株式会社 | 電源装置及びこれを備えた光照射システム |
| JP2021058829A (ja) * | 2019-10-04 | 2021-04-15 | 日本製鉄株式会社 | 溶接継手の電着塗装性の評価方法、及び溶接継手の電着塗装性評価装置、及び溶接継手の製造方法 |
-
1981
- 1981-12-18 JP JP20482281A patent/JPS58106470A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017022193A (ja) * | 2015-07-08 | 2017-01-26 | シーシーエス株式会社 | 電源装置及びこれを備えた光照射システム |
| CN107851686A (zh) * | 2015-07-08 | 2018-03-27 | Ccs株式会社 | 电源装置以及具备电源装置的光照射系统 |
| EP3321981A4 (en) * | 2015-07-08 | 2019-01-16 | CCS Inc. | POWER SOURCE DEVICE AND LIGHT EMITTING SYSTEM THEREWITH |
| JP2021058829A (ja) * | 2019-10-04 | 2021-04-15 | 日本製鉄株式会社 | 溶接継手の電着塗装性の評価方法、及び溶接継手の電着塗装性評価装置、及び溶接継手の製造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3886447A (en) | Capacitance-voltage converter | |
| US5959463A (en) | Semiconductor test apparatus for measuring power supply current of semiconductor device | |
| US5448173A (en) | Triple-probe plasma measuring apparatus for correcting space potential errors | |
| JPH04248472A (ja) | 抵抗値測定方法 | |
| US3983476A (en) | Defibrillator testing device | |
| US6803776B2 (en) | Current-comparator-based four-terminal resistance bridge for power frequencies | |
| JPS58106470A (ja) | 高抵抗測定装置 | |
| US6483318B1 (en) | Electric circuit providing selectable short circuit for instrumentation applications | |
| JP3216171B2 (ja) | Ｉｃ試験装置の較正方法 | |
| US3290586A (en) | Apparatus for measuring the distance to an open circuit in a cable pair including means for storing a charge commensurate with such distance | |
| US3790887A (en) | Amplifying and holding measurement circuit | |
| RU2240571C1 (ru) | Устройство контроля технического состояния обмоток трансформатора | |
| JPH05196678A (ja) | 電気回路試験装置 | |
| JPH1010170A (ja) | インピーダンス測定装置 | |
| JP3048377B2 (ja) | 穀物の水分測定装置 | |
| JP3421524B2 (ja) | 静電容量の測定方法 | |
| US3832633A (en) | Transistor beta measuring instrument | |
| JPH09243693A (ja) | コンデンサのリーク電流の測定方法およびその装置 | |
| JPS60253883A (ja) | 定電流負荷兼定電圧印加電流測定器 | |
| JPH056670B2 (ja) | ||
| GB2027212A (en) | Measuring the thickness of metallic films on insulating substrates | |
| JPH0714924Y2 (ja) | 放電電源回路付きインサーキットテスタ並びに測定、放電兼用電源回路付きインサーキットテスタ | |
| RU2047181C1 (ru) | Устройство для измерения тока | |
| SU1170376A1 (ru) | Устройство дл измерени нестабильности сопротивлени электрических контактов | |
| Sauer | The design, construction, and performance of a wide range of dc conductance bridge |