JPS58105075A - サンプリング式放射線計測システム - Google Patents

サンプリング式放射線計測システム

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JPS58105075A
JPS58105075A JP20351781A JP20351781A JPS58105075A JP S58105075 A JPS58105075 A JP S58105075A JP 20351781 A JP20351781 A JP 20351781A JP 20351781 A JP20351781 A JP 20351781A JP S58105075 A JPS58105075 A JP S58105075A
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JP
Japan
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fluid
sampled
radiation
radioactivity
holding
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Pending
Application number
JP20351781A
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English (en)
Inventor
Takashi Kimura
隆 木村
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Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS58105075A publication Critical patent/JPS58105075A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T7/00Details of radiation-measuring instruments
    • G01T7/02Collecting means for receiving or storing samples to be investigated and possibly directly transporting the samples to the measuring arrangement; particularly for investigating radioactive fluids

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、流体をサンツーリングして雌体中の放射能の
発する放射線を放射線検出器およびil測湊装により4
測して流体中の放射能濃度を評価しようとするシステム
に係り、特に、サンプリングした流体を保持する保持機
構を選択的に切換えて、流木中の放射能の計測fiJ能
な#度変化幅を故剣線恢出器の計測レンジの幅よりも拡
大させ得るサンプリング式放射線検出システムに関する
従来、流体をサンプリングして流体中の放射能より発す
る放射線を計画1することにより流体中の放射能濃度を
評価しようとするシステムとしては第1図に示すような
り式がとられている。
第1図において、サンプリングの対象となる流体は、サ
ンプリングポンプ1を駆動することによりAより配置2
1を通して流体の保持機構11に導かれ、配置f22か
らサンプリングポンプ1を経て配管23全通して排出さ
れる。
通常、Aはサンプリングの対象となる流1本を保ト1す
る容器や配管などであり、配管21 &:1ぞtLに接
続される。
13は、Aと同じM位や浄化装置などで配管23を接続
する。
放射線の4測は、1呆持礪購11の内部に保持された流
体中の放射能から発する放射線の照射線り率を放射線検
出器2により検出し、放射線検出器2からの信号を伝送
路3により旧測装置4に伝送し、Ml測湊装4で信号処
理することにより行う。
ここで、保持機構11の容積をv1流体の圧力をP、a
体中の放射能濃度をDとすると、放射線1人出器2に入
射する放射縁の照射線量率Rと前記各項目との間には下
式の関係がめる。
EL=C@V・P−D 」二式でCは定数であり、放射能の釉類、保持機1偉1
1の部材の拐質や幾何学的形状、放射線検出器との位1
−関係などの神々妾率を持゛りが一義的に定−まる萌で
ある。
容積Vは保持[f#11により定まるものであり、圧力
Pは第1図のA、B部の圧力、サンプリングポンプ1の
特性、流体と配管などの流路の関係により定まる。
従って、放射線検出器に入射する放射縁の照射線量率R
と放射能濃度りの間には直線的な関係がある。
以上のことから、第1図に示す従来す式では11測しよ
うとする流体の放射能濃度の変化幅に応じて放射線検出
器の4測レンジを適合させる必要があり、放射能濃度の
変化幅が大きい場ばには1つの放射線検出器では変化幅
の全域で計測できず、計jlI11可能な放射能濃度の
変化幅が制限されるという問題があった。
これに対し、従来方式においても、削′+[1リレンジ
の異なる複数個の放射線検出器を組み合わせて1史用し
て前記問題点を改善しようとする試みがあるが、この方
式においては放射線検出器を複数個1史用するため、バ
1測装置の回路の複雑化、信軸1生の低下、計測湊酋の
校正の繁雑化などの問題がある。
本発明の目的は、沙数個の保持機構を備え、これらにサ
ンプリングした流体を保持することを選択的に切換える
ことにより、放射線検出器およびHI側装置を機軸、化
させることなく、放射線検出器の旧測レンジの幅よりも
大きい放射能濃度の変化幅を持つ流体にilLで、その
放射能濃度を評価し得るナンフーリング式放射線計測シ
ステムを提供するにある。
本発明は、同一放射能濃度の流(4)′l1l−保持し
た時に放射線検出器に与える放射線の照射線量率の異な
る複数個の保持機構を有し、それらにサンプリンク゛し
た流体を保持することを選択的に切換えることにより、
流体の放射能濃度の変化幅と比較して放射線検出器に入
射する放射線の照射線量率の変化幅を小さくシ、結果と
して放射線噴出器の計611ルンジの幅と比較してサン
プリング流体の放射能濃度の放射線検出器により4測可
能な濃度変化の幅を拡大させた丈ンフリング式放射線則
測システムである。
第2図に本発明の一つの実施例を示す。
第2図において、流体をサンプリングする手段としてサ
ンプリングポンプ1および配釘21.22.23.24
.25.26.27.28.29.30.31.32.
33があり、流1本の1呆nN6[11および12に丈
ンフ゛11ングした?市1体を導くことを選択する切換
機構として弁41,42.43.44を設けである。
弁51.52および耐1.管34.35.36.37.
38は保持機構11−まだは12の内部をサンプリング
する流体以夕)の流体に置換するだめの置換機構である
このシステムで、サンプリンクする茄、1本は第2図の
Aよりシステム内へ導かれBよりシステム外へ排出され
る。
又、保持機構11または12の内部を置換する為の死体
は第2図のCより導かれる。
従って、配管21はサンプリンクの対象となる流体を保
持する配管・容器などへ接続し、配管27は浄化装置な
どへ接続する。
Cd、サンプリングする流体以外の流体で、特に、その
流体の放射能崇1wがサンブリンクする浦。
雌に比べて喰めて小さく無視できる置$A帷本を保持・
4゛るfi曙であり、配・肖34けそれに+&続する。
又、第2図のンステムで保持機構11′または12に保
持された流体中の放射能から発する放射6Mは、放射l
1M険出潴2、伝送路3および削測湊首4により開側さ
れるが、サンブリンクする流体中の放射能濃度りと放射
線検出器に入射する放射線の照射線率Rとの関係は第3
図のようになるように、保持機構11および12の容積
などを定める。
第3図において、縦軸aは放射線検出器2に入射する放
射線の照射線量率で、R1とIL、の範囲が放射線検出
器2の計測レンジを示す。
横軸I)は、サンブリンクする流体の放射能濃度である
ここで、特性カーブE1は保持険購11にサンブリンク
するt+Ii;体を流し、保持機構12には置換lΔL
体を保持した時の放射線検出器2へ入射する放射線のH
(j射線量率とサンプリングした流体の放射能一度の関
係を示し、%14−カーブド]2は保持機構12にサン
プリングした流体を流し、保持機構11に置換流体を満
した時のそれを示す。
本システムの運転は、まずボン11を駆動し、サンプリ
ングする茄1体の放射能濃度が低く第3図に示すり、と
D2の間は弁41および42を開、弁43を閉としてサ
ンプリングした紐体を保持@購11に導く。
それと同時に弁51を閉、弁52,44を開としてCよ
り置換流体を配管34,37.弁52、配管38,31
を通して保持[11112に導き、配管32、弁44、
配管33.27、サンフ゛リングポンプ1、配管28を
通してBへ排出する。
保持機構12の内部が十分に置換流体に置換された後に
弁52および弁44を閉とする。
この時、保持機構12の内部には置換流体が満たされて
おり、サンプリングする流体はCより配・旨21.22
、弁41、配管23.24を通り(呆持is 11 &
’ll−人V) 、 配管25、弁42、配管26.2
7、サンフーリンダボンプ1、配管27を通りBへ排出
されており、サンプリングされた流体中の放射能から発
する放射線の放射線検出器に効ノする照躬峠−率は第3
図の特性カーブシ】1となるので、照射線量率を知る事
により、流体中の放射能濃度が第3図のり、からI)!
の範囲で評価できる。
次に、サンブリンクする流体の放射能濃度が置く第3図
に示すD2とり、の間では、第2図の弁41を閉とし弁
51,42を開として(呆持磯溝11の内部を置換流(
4)で置換して、弁43,44を開として、弁41.4
2.51.52を閉としてサンプリングしたηれ体を保
持機構12に流し、保持機構12に保持された流体中の
放射能から発する放射線の照射線量率を測定することに
より、第3図の特性カーブE2によりす/ブリンクした
流体のツタ射能濃度が第3図に示す1)2とり、の範囲
で評価できる。
以−ヒのことから、第1図に示した従来システムにおけ
るサンプリングした#L体の放射能濃度と放射線検出器
への照射線量率の関係が第3図に示す特1’l・カーブ
E、であるとすれは゛、第2図に示す本発明の一つの実
施例では第3図で示すり、から1)。
(9) の範囲の放射能濃度の変fヒ幅の分たけ従来システムよ
り拡大して放射能濃度の評価かり能である。
又、第2図において保持機構11および12に同時にサ
ンプリングしたiKを流すこともでき、この場きは、評
価可能な放射能濃度の変化幅を第3図においてI)、よ
り左すへ拡大することも1コ]“能である。
さらに、第3図において特性カーブE、を左方へ傾ける
ように保持機構11を定めるか、特性カーブE、を左方
へ傾けるように医持哉購12を定めるかの何れかによっ
て保持)、J構11と12により評価可能な放射能濃度
の変化幅をそれぞれの一部分オーバラツプさせることも
でき、この場合、評価可能な放射40Iの変化幅の全域
は狭くなるが、保持M構11と12の切換えるタイミン
グの選択を容鵬にすることができる。
本発明によれは、放射線検出器を抜駆個用いて計測装置
の回路を複雑化させる事なく、放射線検出器の計量]レ
ンジの1111iよりもサンブリンクする流体の放射能
tmWの放射線検出器により1測可能な(10) 変化幅を拡大してdl側し、結果として、評価可能な放
射化譲度の変化幅を放射線慣用器のIl側レンジの幅よ
りも拡大1〜侍る。
【図面の簡単な説明】
第1図はサンプリング式放射#jifli測システムの
従来例を示す模式図、第2図は本発明の一つの実権例を
示す模式図、第3図は本発明の一つの実権例におけるサ
ンプリングした可14体の放射化濃度と放射線検出器に
入射する放射線の照射庫瀘率の関係を示す説明図である
。 1・・・サンプリングボンノ、2・・・放射#検出器、
3・・・伝送器、4・・・N−1測装置、11.12・
・・1呆持峨購、21.22.23.24.25.26
.27.28.29.30,31.32.33.34.
35.36.37.38・・・配管、41.42.43
・ 44・ 51・ 52 °°弁・        
73・(11)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、茄1体をサンプリングする手段と、サンプリングし
    たMr、体を保持する保持機構と、放射線検出器および
    網側装置を有し、流体の中に含まれる放射能から発する
    放射線を開側して流体中の放射能濃度を評価しようとす
    るシステムにおいて、上記の保持機構において、それぞ
    れの保持機構に同一放射能濃度の浦1体を保持した時に
    放射線検出器に与える放射線の照射線敏率の異なる1呆
    持機購を衿数個有し、それぞれの保持機構へサンプリン
    グした帷1体を導くことを選択する切換機構と、それぞ
    れの保持機構の中のrrtt、体をサンプリングする流
    体以夕1の別の流体に置換する置換機構を設け、サンプ
    リングした#t、体を保持する1呆持機嘴を選択的に切
    換えることにより、放射線検出器の1測レンジの幅と比
    較してサンプリングする流体の放射能濃度の放射線検出
    器により計測可能な変化幅を拡大させて、その放射能か
    ら発する放射線を計測して鉗1体中の放射能濃度を評価
    することを%徴とし、たサンプリング式放射線削測シス
    テム。
JP20351781A 1981-12-18 1981-12-18 サンプリング式放射線計測システム Pending JPS58105075A (ja)

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JP20351781A JPS58105075A (ja) 1981-12-18 1981-12-18 サンプリング式放射線計測システム

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JP20351781A JPS58105075A (ja) 1981-12-18 1981-12-18 サンプリング式放射線計測システム

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JPS58105075A true JPS58105075A (ja) 1983-06-22

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ID=16475458

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JP20351781A Pending JPS58105075A (ja) 1981-12-18 1981-12-18 サンプリング式放射線計測システム

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5166526A (en) * 1990-06-01 1992-11-24 Raytest, Isotopenmessgerate GmbH Apparatus and method for measuring the radioactivity of an eluate

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5166526A (en) * 1990-06-01 1992-11-24 Raytest, Isotopenmessgerate GmbH Apparatus and method for measuring the radioactivity of an eluate

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