JPS5637057U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS5637057U JPS5637057U JP11956979U JP11956979U JPS5637057U JP S5637057 U JPS5637057 U JP S5637057U JP 11956979 U JP11956979 U JP 11956979U JP 11956979 U JP11956979 U JP 11956979U JP S5637057 U JPS5637057 U JP S5637057U
- Authority
- JP
- Japan
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11956979U JPS5637057U (fr) | 1979-08-29 | 1979-08-29 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11956979U JPS5637057U (fr) | 1979-08-29 | 1979-08-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5637057U true JPS5637057U (fr) | 1981-04-09 |
Family
ID=29351773
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11956979U Pending JPS5637057U (fr) | 1979-08-29 | 1979-08-29 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5637057U (fr) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009168623A (ja) * | 2008-01-16 | 2009-07-30 | Moritex Corp | Tlc用補助装置 |
WO2011149041A1 (fr) * | 2010-05-27 | 2011-12-01 | ダイセル化学工業株式会社 | Procédé de détection dans un échantillon par chromatographie sur couche mince, plaque de chromatographie sur couche mince, et procédé de production associé |
WO2018123476A1 (fr) * | 2016-12-26 | 2018-07-05 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Plaque de chromatographie à couche mince et procédé d'analyse d'échantillon l'utilisant |
JP2020531840A (ja) * | 2017-08-24 | 2020-11-05 | メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングMerck Patent Gesellschaft mit beschraenkter Haftung | サンプルを提供する方法および装置 |
-
1979
- 1979-08-29 JP JP11956979U patent/JPS5637057U/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009168623A (ja) * | 2008-01-16 | 2009-07-30 | Moritex Corp | Tlc用補助装置 |
WO2011149041A1 (fr) * | 2010-05-27 | 2011-12-01 | ダイセル化学工業株式会社 | Procédé de détection dans un échantillon par chromatographie sur couche mince, plaque de chromatographie sur couche mince, et procédé de production associé |
EP2579034A1 (fr) * | 2010-05-27 | 2013-04-10 | Daicel Corporation | Procédé de détection dans un échantillon par chromatographie sur couche mince, plaque de chromatographie sur couche mince, et procédé de production associé |
EP2579034A4 (fr) * | 2010-05-27 | 2014-07-16 | Daicel Corp | Procédé de détection dans un échantillon par chromatographie sur couche mince, plaque de chromatographie sur couche mince, et procédé de production associé |
JP5941405B2 (ja) * | 2010-05-27 | 2016-06-29 | 株式会社ダイセル | 薄層クロマトグラフィーによる試料の検出方法、薄層クロマトグラフィープレート、及びその製造方法 |
WO2018123476A1 (fr) * | 2016-12-26 | 2018-07-05 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Plaque de chromatographie à couche mince et procédé d'analyse d'échantillon l'utilisant |
JPWO2018123476A1 (ja) * | 2016-12-26 | 2019-10-31 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 薄層クロマトグラフィープレート及びそれを用いた試料の分析方法 |
JP2020531840A (ja) * | 2017-08-24 | 2020-11-05 | メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングMerck Patent Gesellschaft mit beschraenkter Haftung | サンプルを提供する方法および装置 |