JPH1184250A - Optical scanning confocal microscope - Google Patents

Optical scanning confocal microscope

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Publication number
JPH1184250A
JPH1184250A JP24288397A JP24288397A JPH1184250A JP H1184250 A JPH1184250 A JP H1184250A JP 24288397 A JP24288397 A JP 24288397A JP 24288397 A JP24288397 A JP 24288397A JP H1184250 A JPH1184250 A JP H1184250A
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JP
Japan
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light
mirror
reflected
confocal microscope
optical scanning
Prior art date
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Application number
JP24288397A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Yamamiya
広之 山宮
Akiko Murata
明子 村田
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH1184250A publication Critical patent/JPH1184250A/en
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  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a color image and a phosphor image by focusing light beams different in wavelength at the same position with an easy constitution. SOLUTION: Laser beam returning from an object is guided from the end part 11c of a four-terminal coupler to the mirror unit 22 of a top end constituting part 4, then, the light is reflected by a mirror 49, next, reflected by a mirror 47, and then, reflected by a concave mirror 50. Besides, the return light is reflected by a scanning mirror 48, then, the focus 51 is formed by the light condensing work of the concave mirror 50. In the case the subject lies at the focal position and the laser beam is reflected by the subject, the reflected light passes through the same optical path as that of the incident light, then, the reflected light is made incident on the end part 11c of the four-terminal coupler 10 again. Light reflected by some position other than the focal position 51 does not pass through the same optical path as that of the incident light, so that the light is not made incident on the end part 11c of a single mode fiber 9.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は光走査型共焦点顕微
鏡、更に詳しくは光源からの光を被検部に照射して焦点
を結ばせる部分に特徴のある光走査型共焦点顕微鏡に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical scanning confocal microscope, and more particularly, to an optical scanning confocal microscope characterized in that a portion to be irradiated with light from a light source is focused.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、生体組織や細胞を光軸方向に分解
能の良く観察する手段として、光走査型の共焦点顕微鏡
が知られている。しかし、この場合、通常の共焦点顕微
鏡はサイズが大きく、サンプルは小さく切り出して顕微
鏡に載せて観察される。
2. Description of the Related Art In recent years, an optical scanning type confocal microscope has been known as a means for observing a living tissue or a cell with high resolution in an optical axis direction. However, in this case, an ordinary confocal microscope is large in size, and a sample is cut out small and mounted on a microscope for observation.

【0003】また、この共焦点顕微鏡を小さくして、生
物の消化管などに誘導して観察する技術が、例えば文献
“Micromashined scanning confocal optical microsco
pe”OPTICS LETTERS Vol.21.No10.May,1996において、
微小な共焦点顕微鏡の原理が記されている。
[0003] Further, a technique of reducing the size of the confocal microscope and inducing the confocal microscope into the digestive tract of an organism for observation is described in, for example, the document "Micromashined scanning confocal optical microsco."
pe ”OPTICS LETTERS Vol.21.No10.May, 1996
The principle of a microscopic confocal microscope is described.

【0004】この微小な共焦点顕微鏡150は、図14
に示すように、光源部151、光伝達部152、先端部
153、光検出部154によって構成されている。
[0004] This minute confocal microscope 150 is shown in FIG.
As shown in (1), it is composed of a light source unit 151, a light transmission unit 152, a tip 153, and a light detection unit 154.

【0005】光源部151は、波長635nmのレーザ
光を発生するヘリウムネオンレーザ光源155によって
構成され、また、光伝達部152は、前記レーザ光源1
55のレーザ光が入射され、そのレーザ光を双方向に分
岐するシングルモードファイバ156からなる4端子カ
プラ157によって構成されている。この4端子カプラ
157の他端の一つは先端部153に接続され、もう一
つの端部は閉塞されている。また、光検出部154は4
端子カプラ157に設けられた光検出器であるフォトデ
ィテクタ158と、フォトディテクタ158に接続され
た画像処理部159で構成される。
The light source unit 151 includes a helium-neon laser light source 155 that generates a laser beam having a wavelength of 635 nm, and the light transmission unit 152 includes the laser light source 1.
A four-terminal coupler 157 made up of a single mode fiber 156 into which 55 laser beams are incident and bidirectionally splits the laser beams. One of the other ends of the four-terminal coupler 157 is connected to the tip 153, and the other end is closed. Also, the light detection unit 154
It comprises a photodetector 158 as a photodetector provided in the terminal coupler 157 and an image processing unit 159 connected to the photodetector 158.

【0006】先端部153は、図15に示すように、基
板161、スペーサ162、上板163からなり、基板
161は、レーザ光の焦点を対象物に対して走査するた
めに向きが可変の2枚の可変ミラー164a、164b
を有する。この2枚の可変ミラー164a、164bは
2つのヒンジ部165a、165bによって支持され、
このヒンジ部165a、165bを回転軸にして静電気
力によって回転可動に構成されている。ここで、この2
枚の可動ミラー164a、164bの回転軸は直交する
図中のX軸及びY軸にそれぞれ平行になるように構成さ
れている。
As shown in FIG. 15, the tip 153 comprises a substrate 161, a spacer 162, and an upper plate 163. The substrate 161 has a variable direction in order to scan the focal point of the laser beam with respect to the object. Variable mirrors 164a, 164b
Having. The two variable mirrors 164a and 164b are supported by two hinge portions 165a and 165b,
The hinges 165a and 165b are configured to be rotatable by electrostatic force with the hinges 165a and 165b as rotation axes. Here, this 2
The rotating axes of the movable mirrors 164a and 164b are configured to be parallel to the orthogonal X-axis and Y-axis in the drawing, respectively.

【0007】また、図16に示すように、スペーサ16
2にはミラー166が、また上板163にはミラー16
7及びレーザ光に焦点168を結ばせるための回折格子
レンズ169が設けられている。
[0007] As shown in FIG.
2 has a mirror 166, and the upper plate 163 has a mirror 16.
7 and a diffraction grating lens 169 for focusing the laser beam on the focal point 168.

【0008】これらの構成によって共焦点顕微鏡150
では、レーザ光源155からのレーザ光は4端子カプラ
157で二つの方向に分割され、その内の一方が先端部
153に入射される。
With these configurations, the confocal microscope 150
Then, the laser light from the laser light source 155 is split into two directions by a four-terminal coupler 157, and one of the two is incident on the tip 153.

【0009】このレーザ光は、ミラー166、可変ミラ
ー164a、ミラー167、可変ミラー164bの順に
反射し、回折格子レンズ169によって焦点168を結
ぶように導かれ、さらに静電気力によって向きが可変の
2枚の可変ミラー164a、164bによってその焦点
168が略平面170上に走査される。
The laser light is reflected in the order of a mirror 166, a variable mirror 164a, a mirror 167, and a variable mirror 164b, guided to a focal point 168 by a diffraction grating lens 169, and further changed in direction by electrostatic force. The focal point 168 is scanned on the substantially flat surface 170 by the variable mirrors 164a and 164b.

【0010】焦点168に物質がある場合は、反射光は
照射されたレーザ光とまったく同じ光路を通って、4端
子カプラ157のシングルモードファイバ156の端面
171で焦点を結び、シングルモードファイバ156へ
再び入射する。そして、シングルモードファイバ156
へ再び入射したこの光は、4端子カプラ157によって
分割され、フォトディテクタ158で検出されるように
なっている。
When there is a substance at the focal point 168, the reflected light passes through exactly the same optical path as the irradiated laser light, focuses on the end face 171 of the single-mode fiber 156 of the four-terminal coupler 157, and returns to the single-mode fiber 156. It enters again. And a single mode fiber 156
This light that has entered again is split by the four-terminal coupler 157 and detected by the photodetector 158.

【0011】また、焦点168に対象物が無い場合は、
反射する光がなくシングルモードファイバ156にも光
が入射されず、従ってフォトディテクタ158からも出
力がない。また、レーザ光の焦点168からずれた位置
にある物体からの反射光は、入射光とは異なる光路とな
り、シングルモードファイバ156の端面171で焦点
を結ばず、従ってシングルモードファイバ156にはほ
とんど光が入射されず、フォトディテクタ158でもほ
とんど出力されない。
When there is no object at the focal point 168,
There is no reflected light and no light is incident on the single mode fiber 156, and therefore there is no output from the photodetector 158. In addition, the reflected light of the laser light from the object at a position shifted from the focal point 168 has a different optical path from that of the incident light, and is not focused on the end face 171 of the single mode fiber 156. Is not incident, and is hardly output by the photodetector 158.

【0012】このようにして、レーザ光をミラー164
a、164bでX,Y方向へ走査することによって、レ
ーザ光の焦点168が走査する略平面170の反射と散
乱の強度の変化を2次元的に検出し、さらに画像処理部
159はフォトディテクタ158からの信号を用いてこ
れを画像化することができる。さらに、これら先端部1
53に設けられたバイモルフ型圧電素子(図示せず)に
よって、先端部153と対象物との距離を変化させるこ
とにより、前記走査面を図16における法線方向172
に移動させ、対象物を3次元的に検出し、画像化するこ
ともできる。
In this way, the laser beam is transmitted to the mirror 164.
a, 164b, by scanning in the X and Y directions, two-dimensionally detecting changes in the intensity of reflection and scattering of the substantially flat surface 170 scanned by the focal point 168 of the laser beam. This can be imaged using the signal Furthermore, these tip portions 1
By changing the distance between the tip 153 and the object by a bimorph type piezoelectric element (not shown) provided at 53, the scanning surface is moved in the normal direction 172 in FIG.
The object can be detected three-dimensionally and imaged.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
構成の従来の共焦点顕微鏡150においては、レーザ光
の焦点を結ばせるための回折格子レンズ169を用いて
おり、この回折格子レンズ169は、光の回折現象を用
いているために、光の波長によってその焦点の結ぶ位置
が異なる色収差がある。従って、複数の波長を含む光を
照射して、各反射光を検出してカラーの画像を撮ろうと
しても、各波長の光ごとに焦点位置が異なるために、対
象物の同じ位置に各光の焦点をあてることができず、カ
ラーの画像を撮ることができないという問題がある。
However, in the conventional confocal microscope 150 having the above configuration, a diffraction grating lens 169 for focusing a laser beam is used. Because of the use of the diffraction phenomenon described above, there is chromatic aberration in which the focus position differs depending on the wavelength of light. Therefore, even if it is attempted to take a color image by irradiating light containing a plurality of wavelengths and detecting each reflected light, each light of each wavelength has a different focal position. However, there is a problem that a color image cannot be taken.

【0014】また、生体組織や粘膜などの被検部を観察
するときには、ある波長の光を被検部に照射し、その試
料からの出てくる照射光よりも波長の長い蛍光を観察す
ることが一般的に行われている。また、被検部にあらか
じめ蛍光物質を注入してこの蛍光物質を観察することも
一般的である。しかしながら、上記の構成の従来の共焦
点顕微鏡150においては、照射光と波長の異なる蛍光
は、回折格子レンズ169を通ることによって照射光と
異なる光路となり、この蛍光はシングルモードファイバ
156端面で結像できず、シングルモードファイバ15
6にほとんど入射できず、従ってこの蛍光を検出するこ
とができないという問題がある。
When observing a portion to be examined, such as a living tissue or a mucous membrane, it is necessary to irradiate the portion to be inspected with light of a certain wavelength and observe fluorescence having a longer wavelength than irradiation light coming out of the sample. Is commonly done. It is also common to inject a fluorescent substance in advance into the subject and observe the fluorescent substance. However, in the conventional confocal microscope 150 having the above-described configuration, the fluorescent light having a different wavelength from the irradiation light has a different optical path from the irradiation light when passing through the diffraction grating lens 169, and the fluorescent light forms an image on the end face of the single mode fiber 156. No, single mode fiber 15
6 can hardly be incident, and therefore there is a problem that this fluorescence cannot be detected.

【0015】これらの問題に対し、従来の顕微鏡レンズ
のように複数のレンズを用いて色収差を取り除くことも
可能であるが、このような光学系は複数のレンズを用い
る必要があり、必然的に大きくなり、小さく作り込むこ
とは困難である。
In order to solve these problems, it is possible to remove chromatic aberration by using a plurality of lenses like a conventional microscope lens. However, such an optical system requires the use of a plurality of lenses, and inevitably requires the use of a plurality of lenses. It is difficult to make it big and small.

【0016】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、容易な構成で波長が異なる光を同じ位置で焦点
を結ばせ、カラー画像や蛍光画像を得ることのできる光
走査型共焦点顕微鏡を提供することを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and is an optical scanning confocal system capable of focusing light having different wavelengths at the same position with an easy configuration to obtain a color image or a fluorescent image. It is intended to provide a microscope.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明の光走査型共焦点
顕微鏡は、被検部に光を照射するための光源と、前記光
源からの光を試料上で走査させる光走査部と、前記光走
査部で走査された光の前記被検部からの戻り光を検出す
る光検出部とを備えた光走査型顕微鏡において、前記光
走査部は、前記光源からの光を前記被検部に照射して焦
点を結ばせるための少なくとも一つの凹面ミラーを具備
して構成される。
According to the present invention, there is provided an optical scanning confocal microscope according to the present invention, comprising: a light source for irradiating a test portion with light; a light scanning portion for scanning light from the light source on a sample; A light detection unit that detects return light from the test section of light scanned by the optical scanning section, wherein the light scanning section transmits light from the light source to the test section. It comprises at least one concave mirror for illuminating and focusing.

【0018】本発明の光走査型共焦点顕微鏡では、前記
凹面ミラーが前記光源からの光を前記被検部に照射して
焦点を結ばせることで、容易な構成で波長が異なる光を
同じ位置で焦点を結ばせ、カラー画像や蛍光画像を得る
ことを可能とする。
In the optical scanning confocal microscope according to the present invention, the concave mirror irradiates light from the light source onto the test portion so as to be focused, thereby allowing light having different wavelengths to be located at the same position with an easy configuration. To focus, and to obtain a color image or a fluorescent image.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態について述べる。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0020】第1の実施の形態:図1ないし図8は本発
明の第1の実施の形態に係わり、図1は光走査型共焦点
顕微鏡の構成を示す構成図、図2は図1の先端構成部の
構成を示す構成図、図3は図2のミラーユニットの構成
を示す構成図、図4は図3のミラーユニットのスキャン
ミラーの製造方法を説明する第1の説明図、図5は図3
のミラーユニットのスキャンミラーの製造方法を説明す
る第2の説明図、図6は図1の光検出部の構成を示す構
成図、図7は図1の制御部の構成を示す構成図、図8は
図3のミラーユニットによる焦点走査を説明する説明図
である。
First Embodiment FIGS. 1 to 8 relate to a first embodiment of the present invention, FIG. 1 is a configuration diagram showing a configuration of an optical scanning confocal microscope, and FIG. 2 is a configuration diagram of FIG. FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the mirror unit shown in FIG. 2, FIG. 4 is a first explanatory diagram illustrating a method of manufacturing a scan mirror of the mirror unit shown in FIG. 3, and FIG. Figure 3
2 is a second explanatory view for explaining a method of manufacturing a scan mirror of the mirror unit of FIG. 1, FIG. 6 is a structural view showing a configuration of a photodetector of FIG. 1, and FIG. 7 is a structural view showing a configuration of a control unit of FIG. FIG. 8 is an explanatory diagram for explaining focal scanning by the mirror unit of FIG.

【0021】(構成)図1に示すように、本実施の形態
の光走査型共焦点顕微鏡1は、光源部2、光伝達部3、
光走査部としての先端構成部4、光検出部5及び制御部
6によって構成される。
(Configuration) As shown in FIG. 1, an optical scanning confocal microscope 1 according to the present embodiment includes a light source unit 2, a light transmitting unit 3,
It is configured by a tip configuration unit 4 as a light scanning unit, a light detection unit 5, and a control unit 6.

【0022】光源部2は、400nm〜750nmに渡
る複数の発振線を有する白色レーザ光源7からなり、こ
のレーザ光源7は、電気ケーブル8を介して制御部6に
接続されている。
The light source unit 2 comprises a white laser light source 7 having a plurality of oscillation lines ranging from 400 nm to 750 nm, and this laser light source 7 is connected to a control unit 6 via an electric cable 8.

【0023】また、光伝達部3は、シングルモードファ
イバ9からなり、光を双方向に分岐する4端子カプラ1
0によって構成され、前記レーザ光源7からのレーザ光
は4端子カプラ10の4つの端部のうちの1つの端部1
1aに入射される。この4端子カプラ10の他の1つの
端部11cは先端構成部4に接続され、前記レーザ光を
先端構成部4の内部に伝えるように構成されている。ま
た、他の4端子カプラ10の端部のうち、別の端部11
dはアイソレータ12に接続され、さらに別の端部11
bは光検出部5に接続されている。
The light transmitting section 3 is composed of a single mode fiber 9 and is a four-terminal coupler 1 for splitting light bidirectionally.
0, and the laser light from the laser light source 7 is applied to one end 1 of the four ends of the four-terminal coupler 10.
1a. The other end 11c of the four-terminal coupler 10 is connected to the distal end component 4, and is configured to transmit the laser light to the inside of the distal end component 4. Further, among the ends of the other four-terminal coupler 10, another end 11
d is connected to an isolator 12 and further another end 11
b is connected to the light detection unit 5.

【0024】図2に示すように、先端構成部4は、本体
21、ミラーユニット22及び図中のZ軸方向に可動な
Z軸アクチュエータ23からなり、本体21は透明な窓
部24を有している。Z軸アクチュエータ23は、バイ
モルフ型の圧電アクチュエータによって構成され、電圧
を印加することによってミラーユニット22を方向25
へアクチュエーションする。Z軸アクチュエータ23の
一端は本体21に接着され、このZ軸アクチュエータ2
3からの配線は電気ケーブル8を通って図1に示した制
御部6へと接続されている。
As shown in FIG. 2, the distal end component 4 comprises a main body 21, a mirror unit 22, and a Z-axis actuator 23 movable in the Z-axis direction in the figure, and the main body 21 has a transparent window 24. ing. The Z-axis actuator 23 is constituted by a bimorph type piezoelectric actuator, and applies a voltage to move the mirror unit 22 in the direction 25.
Actuate to One end of the Z-axis actuator 23 is adhered to the main body 21 and the Z-axis actuator 2
The wiring from 3 is connected to the control unit 6 shown in FIG.

【0025】図3に示すように、ミラーユニット22
は、Z軸アクチュエータ23の端部に接触されたシリコ
ン基板43と、前記シリコン基板43に接着したプレー
ト44と、前記プレート44に接着されたスペーサ45
と、スペーサ45に接着された上板46とによって構成
されている。このプレート44には、シングルモードフ
ァイバ9の端部11cが固定される。シリコン基板43
とプレート44によって、ミラー47及びスキャンミラ
ー48が構成されており、スキャンミラー48はいわゆ
るジンバルミラーである。また、スペーサ45はミラー
部49を有し、上板46は凹面ミラー50を有する。
As shown in FIG. 3, the mirror unit 22
Are a silicon substrate 43 in contact with the end of the Z-axis actuator 23, a plate 44 adhered to the silicon substrate 43, and a spacer 45 adhered to the plate 44.
And an upper plate 46 adhered to the spacer 45. The end 11c of the single mode fiber 9 is fixed to the plate 44. Silicon substrate 43
The plate 47 constitutes a mirror 47 and a scan mirror 48, and the scan mirror 48 is a so-called gimbal mirror. Further, the spacer 45 has a mirror portion 49, and the upper plate 46 has a concave mirror 50.

【0026】ここで、シングルモードファイバ9から出
射される光が、最初にスペーサ45のミラー49で反射
し、次にミラー47で反射し、続いて上板46に設けら
れた凹面ミラー50に反射し、最後にスキャンミラー4
8に反射したのちに上板46、本体21の窓部24を透
過し、焦点51を結ぶように導かれるような位置関係に
それぞれが構成されている。
Here, the light emitted from the single mode fiber 9 is first reflected by the mirror 49 of the spacer 45, then reflected by the mirror 47, and subsequently reflected by the concave mirror 50 provided on the upper plate 46. And finally scan mirror 4
After being reflected by 8, they are transmitted through the upper plate 46 and the window 24 of the main body 21, and are configured to be guided so as to form the focal point 51.

【0027】シリコン基板43は低抵抗値(約10Ωc
m以下)のものを用い、くぼみ52を形成する部分以外
の表面をレジスト等によりマスクを形成して、KOHあ
るいはTMAH等の異方性湿式エッチング法、あるいは
ドライエッチング法によりくぼみ52を形成する。くぼ
み52の深さについては、スキャンミラー48の可動範
囲をカバーするような深さに設定する。
The silicon substrate 43 has a low resistance value (about 10Ωc).
m or less), a mask is formed on the surface other than the portion where the recess 52 is to be formed with a resist or the like, and the recess 52 is formed by an anisotropic wet etching method such as KOH or TMAH or a dry etching method. The depth of the depression 52 is set so as to cover the movable range of the scan mirror 48.

【0028】また、プレート44はシリコンからなり、
プレート44はシリコン基板43上に、シリコン基板4
3の表面に形成したSiO2等の基板上の酸化物質(図
示せず)を介在するようにして接合させる。ここで、該
プレート44とシリコン基板43は図示しない絶縁膜層
により電気的に絶縁されている。
The plate 44 is made of silicon,
The plate 44 is provided on the silicon substrate 43 and the silicon substrate 4
3 are bonded so as to interpose an oxide material (not shown) on the substrate such as SiO 2 formed on the surface of No. 3. Here, the plate 44 and the silicon substrate 43 are electrically insulated by an insulating film layer (not shown).

【0029】そして、プレート44はシリコン基板43
との接合後に、スキャンミラー48等を加工形成する。
すなわち、プレート44の表面に、まず窒化膜をCVD
(Chemical Vapor Deposition)法等により形成し、ス
キャンミラー48を形成するために、窒化膜をホトリソ
グラフィ法/エッチング法により加工する。
The plate 44 is provided on the silicon substrate 43
Then, the scan mirror 48 and the like are formed by processing.
That is, first, a nitride film is formed on the surface of the plate 44 by CVD.
(Chemical Vapor Deposition) method and the like, and in order to form the scan mirror 48, the nitride film is processed by photolithography / etching.

【0030】この時のスキャンミラー48を上方から見
た平面図を図4に示す。図4の黒塗り部53aは、プレ
ート44をエッチング法により加工する際に、マスクと
なる窒化膜を設けなかった部分、つまり窒化膜が除去さ
れている部分であり、白い部分は窒化膜により覆われて
いる。
FIG. 4 is a plan view of the scan mirror 48 at this time as viewed from above. 4 are portions where the nitride film serving as a mask is not provided when the plate 44 is processed by the etching method, that is, portions where the nitride film is removed, and white portions are covered with the nitride film. Have been done.

【0031】この黒ぬり部53aに対応するプレート4
4を加工する前に、アルミニウムなどの金属薄膜をデポ
ジッションし、ホトリソグラフィ法によりパターニング
することにより、選択的に導電膜層を形成する。この導
電膜層としては、図5に示すように、スキャンミラー4
8の電極54a、54b、54c、54d、ミラー4
7、配線55a、55b、55c、55d等が含まれ
る。ここで、この電極54a、54b、54c、54d
はミラーの役割も兼ねる。
The plate 4 corresponding to the black coloring portion 53a
Before processing 4, a metal thin film such as aluminum is deposited and patterned by photolithography to selectively form a conductive film layer. As the conductive film layer, as shown in FIG.
8 electrodes 54a, 54b, 54c, 54d, mirror 4
7, wirings 55a, 55b, 55c, 55d and the like. Here, the electrodes 54a, 54b, 54c, 54d
Also serves as a mirror.

【0032】導電層を成膜・加工した後、シリコン窒化
膜をマスクにしてプレート44をエッチングしてスキャ
ンミラー48等を形成する。なお、エッチング液、ある
いはエッチングガスが電極54a等をおかす場合には、
これら導電パターン上をレジスト等を用いて保護すれば
よい。
After forming and processing the conductive layer, the plate 44 is etched using the silicon nitride film as a mask to form the scan mirror 48 and the like. When the etching liquid or the etching gas affects the electrode 54a or the like,
These conductive patterns may be protected by using a resist or the like.

【0033】このエッチング処理により、図4に示した
窒化膜に覆われていない黒ぬり部53aに対応したプレ
ート44の部分が除去され、ジンバル構造のスキャンミ
ラー48が形成される。スキャンミラー48のヒンジ部
56、57は、両側からアンダーエッチされることによ
り窒化膜部分のみが残って形成され、このヒンジ部5
6、57を軸にしてスキャンミラー48の中心部58が
X方向、Y方向2次元に回転できるようになる。
By this etching process, the portion of the plate 44 corresponding to the black coloring portion 53a not covered with the nitride film shown in FIG. 4 is removed, and the scan mirror 48 having a gimbal structure is formed. The hinge portions 56 and 57 of the scan mirror 48 are formed so that only the nitride film portion remains by underetching from both sides.
The center 58 of the scan mirror 48 can be rotated two-dimensionally in the X and Y directions around the axes 6 and 57.

【0034】また、電極54a、54b、54c、54
dは、それぞれ配線55a、55b、55c、55dを
介して電気ケーブル8に接続され、この電気ケーブル8
を介して電気的に制御部6に接続されている。
The electrodes 54a, 54b, 54c, 54
d is connected to the electric cable 8 via wirings 55a, 55b, 55c, and 55d, respectively.
Is electrically connected to the control unit 6 via the

【0035】図3に戻り、スペーサ45はシリコンから
成り、ホトリソグラフィ法とエッチング法によりシリコ
ンをエッチングして開口部を作ると共に、同時にシング
ルモードファイバ9をガイドして固定する部分も形成
し、シリコン加工後、スパッタ法や蒸着法等により開口
部側部内面にミラー49を形成する。なお、ミラー49
がアルミニウムよりなる場合、その厚さは150〜20
0nmが最適である。
Returning to FIG. 3, the spacer 45 is made of silicon. The opening is formed by etching silicon by photolithography and etching, and at the same time, a portion for guiding and fixing the single mode fiber 9 is also formed. After the processing, a mirror 49 is formed on the inner surface of the opening side portion by a sputtering method, an evaporation method, or the like. The mirror 49
When is made of aluminum, its thickness is 150-20
0 nm is optimal.

【0036】一方、上板46は、微細な放電加工によっ
て製作される金型による射出成形によって形成される。
上板46に設けられた凹面ミラー50の形状は、球面で
もかまわないが、非点収差及びコマ収差が発生する。そ
こで、非点収差を低減するために凹面ミラー50をアナ
モフィック面に設定したほうが良く、アナモフィック面
の形状は以下の式で示される。
On the other hand, the upper plate 46 is formed by injection molding using a mold manufactured by fine electric discharge machining.
The shape of the concave mirror 50 provided on the upper plate 46 may be spherical, but astigmatism and coma occur. Therefore, it is better to set the concave mirror 50 to an anamorphic surface in order to reduce astigmatism, and the shape of the anamorphic surface is represented by the following equation.

【0037】[0037]

【数1】 2 =X2 +Y2 CUX=X方向曲率 CUY=Y方向曲率 K=面鏡係数 AR2〜AR10=回転対称項非球面形状係数 AP2〜AP10=非回転対称項非球面係数 さらにコマ収差の発生も抑えるために、主光線方向に対
する光線の非対称性を低減させるような形状を凹面ミラ
ー50の形状として設定しても良い。
(Equation 1) S 2 = X 2 + Y 2 CUX = curvature in X direction CUY = curvature in Y direction K = plane mirror coefficient AR2 to AR10 = rotationally symmetric aspherical shape coefficient AP2 to AP10 = non-rotationally symmetrical aspherical coefficient Further generation of coma aberration In order to suppress this, the shape of the concave mirror 50 may be set so as to reduce the asymmetry of the light ray with respect to the principal ray direction.

【0038】そして、この凹面ミラー形状データに基づ
いて、金型を微細放電加工により製作し、この金型を用
いてポリカーボネードを射出成形する。さらにこの凹面
部にのみアルミ膜を蒸着し、凹面ミラー50を形成する
ことによって上板46を製作する。
Then, based on the concave mirror shape data, a mold is manufactured by fine electric discharge machining, and polycarbonate is injection-molded using the mold. Further, an aluminum film is vapor-deposited only on the concave portion, and a concave mirror 50 is formed to manufacture the upper plate 46.

【0039】光検出部5は、図6に示すように、4端子
カプラ10の端部11bの延長線方向に、コリメートレ
ンズ60、ダイクロックミラー61a、61b、61c
が設けられて構成される。
As shown in FIG. 6, the light detecting section 5 includes a collimating lens 60, dichroic mirrors 61a, 61b, and 61c extending in the direction of the extension of the end 11b of the four-terminal coupler 10.
Is provided.

【0040】ここで、ダイクロックミラー61aは波長
が500nm以下の光を反射させ、500nm以下の光
を透過させる性質を持っている。また、ダイクロックミ
ラー61bは波長が600nm以下の光を反射させ、6
00nm以上の光を透過させる性質を持っており、ダイ
クロックミラー61cは波長が700nm以下の光を反
射させ、700nm以上の光を透過させる性質を持って
いる。
Here, the dichroic mirror 61a has a property of reflecting light having a wavelength of 500 nm or less and transmitting light having a wavelength of 500 nm or less. The dichroic mirror 61b reflects light having a wavelength of 600 nm or less.
The dichroic mirror 61c has a property of transmitting light having a wavelength of 700 nm or more, and has a property of transmitting light having a wavelength of 700 nm or more.

【0041】また、検出部5には、各ダイクロックミラ
ー61a、61b、61cで反射した光が集光されるよ
うに集光レンズ62a、62b、62cが配置されてい
る。また、集光レンズ62a、62b、62cで集光さ
れた光が入射するようにフォトディテクタ63a、63
b、63cが設けられている。これらのフォトディテク
タ63a、63b、63cの出力は電気ケーブル8を介
して制御部6へ接続されている。
The detecting section 5 is provided with condenser lenses 62a, 62b, 62c so that the light reflected by the dichroic mirrors 61a, 61b, 61c is collected. Further, the photodetectors 63a, 63b are so set that the light condensed by the condenser lenses 62a, 62b, 62c is incident.
b, 63c are provided. The outputs of the photodetectors 63a, 63b, 63c are connected to the control unit 6 via the electric cable 8.

【0042】制御部6は、図7に示すように、レーザ光
源7を駆動制御するするレーザ駆動回路64と、電極5
3a,53b,53c,53dに接続されスキャンミラ
ー48を駆動しXY走査を行うXY駆動回路65と、Z
軸アクチュエータ23を駆動しZ走査を行うZ駆動回路
66、フォトディテクタ63a,63b,63cからの
検出信号を増幅する増幅回路67と、XY駆動回路65
及びZ駆動回路66から駆動信号を入力し増幅回路67
が増幅した検出信号に基づき走査画像を生成する画像処
理回路68と、画像処理回路68が生成した走査画像を
表示するモニタ69と、画像処理回路68が生成した走
査画像を記録する記録装置70によって構成されてい
る。
As shown in FIG. 7, the control unit 6 includes a laser driving circuit 64 for controlling the driving of the laser light source 7 and an electrode 5.
An XY drive circuit 65 connected to 3a, 53b, 53c and 53d for driving the scan mirror 48 to perform XY scanning;
A Z drive circuit 66 that drives the axis actuator 23 to perform Z scanning, an amplification circuit 67 that amplifies detection signals from the photodetectors 63a, 63b, 63c, and an XY drive circuit 65
And a drive signal from the Z drive circuit 66 and an amplifying circuit 67
An image processing circuit 68 that generates a scanned image based on the amplified detection signal, a monitor 69 that displays the scanned image generated by the image processing circuit 68, and a recording device 70 that records the scanned image generated by the image processing circuit 68 It is configured.

【0043】(作用)レーザ駆動回路64により駆動さ
れた白色レーザ光源7は、複数の波長を含むレーザ光を
照射し、この光は集光レンズ(図示しない)によって4
端子カプラ10の1端11aに集光される。4端子カプ
ラ10によってレーザ光は、2つに分岐され、そのうち
の1つは、4端子カプラ10の端部11dからアイソレ
ータ12に導かれる。アイソレータ12によりこの端部
11dから4端子カプラ10へ戻る光はほとんど無くな
る。
(Operation) The white laser light source 7 driven by the laser drive circuit 64 irradiates laser light having a plurality of wavelengths, and this light is irradiated by a condenser lens (not shown).
The light is focused on one end 11a of the terminal coupler 10. The laser light is split into two by the four-terminal coupler 10, one of which is guided to the isolator 12 from the end 11 d of the four-terminal coupler 10. The light returning from the end 11d to the four-terminal coupler 10 by the isolator 12 is almost eliminated.

【0044】もう一方のレーザ光は、4端子カプラ10
の端部11cから先端構成部4のミラーユニット22へ
と導かれる。このレーザ光は、図3のようにミラー49
で反射し、次にミラー47にて反射し、続いて凹面ミラ
ー50に反射する。さらにこのレーザ光はスキャンミラ
ー48に反射し、凹面ミラー50の集光作用によって、
焦点51を結ぶ。この焦点位置に物体があって光が反射
される場合、反射光は入射光と同じ光路を通り、再び4
端子カプラ10の端部11cに入射される。
The other laser beam is supplied to the four-terminal coupler 10.
Is led to the mirror unit 22 of the distal end component 4 from the end 11c. This laser light is applied to a mirror 49 as shown in FIG.
Then, the light is reflected by the mirror 47, and then reflected by the concave mirror 50. Further, this laser light is reflected by the scan mirror 48, and the light is condensed by the concave mirror 50,
Focus 51 is formed. When an object is located at this focal point and light is reflected, the reflected light passes through the same optical path as the incident light, and
The light enters the end 11 c of the terminal coupler 10.

【0045】なお、この焦点51以外からの反射光は、
入射光と同じ光路を通ることができず、シングルモード
ファイバ9の端部11cに入射できない。つまり、この
シングルモードファイバ9の端部11cが小さいピンホ
ールの働きをし、共焦点顕微鏡と同等の解像度を持つよ
うになる。
The reflected light from other than the focal point 51 is
It cannot pass through the same optical path as the incident light and cannot enter the end 11c of the single mode fiber 9. That is, the end 11c of the single mode fiber 9 acts as a small pinhole, and has the same resolution as that of a confocal microscope.

【0046】また、この状態で制御部6のXY駆動回路
65によってスキャンミラー48の電極54a、54b
を交互に正に帯電させ、シリコン基板43をグランドに
接続すると、スキャンミラー48の電極54a、54b
はそれぞれ正に帯電させた時には静電気力で基板と引き
合い、スキャンミラー48の中心部58はヒンジ57を
回転軸にして振動する。これにともなって、図3に示す
ように、レーザ光の焦点51の位置は走査面のX方向
(紙面に垂直方向)に走査される。また、電極54c、
54dを、交互に正の電荷を帯電させることによって、
スキャンミラー48の中心部58はヒンジ56を回転軸
にして振動する。これにともなってレーザ光の焦点51
の位置は走査面のY方向(X方向に垂直)に走査され
る。
In this state, the electrodes 54a, 54b of the scan mirror 48 are operated by the XY drive circuit 65 of the control unit 6.
Are alternately positively charged, and when the silicon substrate 43 is connected to the ground, the electrodes 54a and 54b of the scan mirror 48 are
When each is positively charged, it is attracted to the substrate by electrostatic force, and the center portion 58 of the scan mirror 48 vibrates around the hinge 57 as a rotation axis. Accordingly, as shown in FIG. 3, the position of the focal point 51 of the laser beam is scanned in the X direction on the scanning surface (the direction perpendicular to the paper). Also, the electrode 54c,
54d, by alternately charging positive charges,
The center portion 58 of the scan mirror 48 vibrates around the hinge 56 as a rotation axis. Accordingly, the focal point 51 of the laser beam
Is scanned in the Y direction (perpendicular to the X direction) on the scanning surface.

【0047】ここでY方向の振動の周波数を、X方向の
走査の周波数よりも充分に遅くし、適切なタイミングで
制御することで、焦点51は図8のように対象物面を順
に走査する。これにともなって、この対象物面の各点の
反射光が4端子カプラ10の端部11cによって伝えら
れる。
Here, by controlling the frequency of the vibration in the Y direction sufficiently lower than the frequency of the scanning in the X direction and controlling it at an appropriate timing, the focal point 51 sequentially scans the object surface as shown in FIG. . Accordingly, the reflected light at each point on the object surface is transmitted by the end 11c of the four-terminal coupler 10.

【0048】この端部11cからシングルモードファイ
バ9に入射された光は、4端子カプラ10によって二手
に分けられ、レーザ光源7とは別の端部11bより出射
される。
The light incident on the single mode fiber 9 from the end 11c is split into two parts by the four-terminal coupler 10 and emitted from the end 11b different from the laser light source 7.

【0049】この光がコリメータレンズ60によって平
行光になり、ダイクロックミラー61aに入射する。こ
こでダイクロックミラー61aで波長が500nm以下
の青色の光は反射し、波長が500nm以上の光は透過
する。同様にダイクロックミラー61bでは波長が50
0nm以上600nm以下の緑色の光は反射し、波長が
600nm以上の光は透過する。さらにダイクロックミ
ラー61cでは波長が600nm以上750nm以下の
赤色の光が反射される。
This light is converted into parallel light by the collimator lens 60, and is incident on the dichroic mirror 61a. Here, blue light having a wavelength of 500 nm or less is reflected by the dichroic mirror 61a, and light having a wavelength of 500 nm or more is transmitted. Similarly, the wavelength is 50 in the dichroic mirror 61b.
Green light having a wavelength of 0 nm or more and 600 nm or less is reflected, and light having a wavelength of 600 nm or more is transmitted. Further, the dichroic mirror 61c reflects red light having a wavelength of 600 nm or more and 750 nm or less.

【0050】さらに、これらのダイクロックミラー61
a,61b,61cで反射した光は、それぞれ集光レン
ズ62a,62b,62cで集光され、それぞれフォト
ディテクタ63a,63b,63cに入射する。ここ
で、フォトディテクタ63a,63b,63cは入射さ
れた光の強度に応じた電気信号を出力し、これらの電気
信号は制御部6の増幅回路67で増幅される。ここで増
幅された信号は、画像処理回路68に送られる。画像処
理回路68では、XY駆動回路65の駆動波形を参照し
て、どの焦点位置からの信号出力であるかを計算し、さ
らにこの点における反射光の強さと色合いを計算し、モ
ニタ69に表示させる。これらを繰り返すことによって
走査面の反射光をモニタ69に画像化する。また、必要
に応じて画像データを記録装置70に記録する。
Further, these dichroic mirrors 61
Light reflected by a, 61b, and 61c is condensed by condenser lenses 62a, 62b, and 62c, respectively, and is incident on photodetectors 63a, 63b, and 63c, respectively. Here, the photodetectors 63a, 63b, 63c output electric signals corresponding to the intensity of the incident light, and these electric signals are amplified by the amplifier circuit 67 of the control unit 6. The signal amplified here is sent to the image processing circuit 68. The image processing circuit 68 refers to the drive waveform of the XY drive circuit 65 to calculate from which focus position the signal is output, and further calculates the intensity and hue of the reflected light at this point and displays it on the monitor 69. Let it. By repeating these operations, the reflected light on the scanning surface is imaged on the monitor 69. Further, the image data is recorded in the recording device 70 as needed.

【0051】また、Z駆動回路66で、Z軸アクチュエ
ータ23を駆動することによって、焦点位置をZ方向に
移動させることができる。この状態で上記のように画像
の取り込みを行うことによって、試料のZ方向に移動し
た別の断面を観察することができる。さらに、画像処理
回路68はZ方向に位置の異なる複数の走査画像のデー
タと、各画像におけるZ軸駆動回路66の出力を適宜記
録装置70に記録し、これらを参照することによって3
次元画像を構築し、モニタに表示することもできる。
By driving the Z-axis actuator 23 with the Z drive circuit 66, the focal position can be moved in the Z direction. By taking an image in this state as described above, another cross section of the sample moved in the Z direction can be observed. Further, the image processing circuit 68 appropriately records the data of a plurality of scanned images having different positions in the Z direction and the output of the Z-axis drive circuit 66 for each image in the recording device 70, and refers to these to obtain a 3D image.
A dimensional image can also be constructed and displayed on a monitor.

【0052】なお、凹面ミラーは凹面ミラー50の代わ
りに、ミラー49に設けても良いし、ミラー47に設け
ても良い。
The concave mirror may be provided on the mirror 49 or the mirror 47 instead of the concave mirror 50.

【0053】(効果)このように本実施の形態では、小
さなスキャンミラー48とシングルモードファイバ9を
用いることにより、非常に小型な光走査型共焦点顕微鏡
1を構成することができ、光の伝達にシングルモードフ
ァイバ9を用いているので、細い構成でしかも柔軟に光
を導ける。
(Effect) As described above, in this embodiment, by using the small scan mirror 48 and the single mode fiber 9, a very small optical scanning confocal microscope 1 can be formed, and light transmission can be achieved. Since the single mode fiber 9 is used, light can be guided flexibly with a thin configuration.

【0054】また、光に焦点を結ばせるために凹面ミラ
ー50を用いているので、コンパクトな構成で、複数の
波長成分を持つ光を、同じ位置に焦点を結ばせることが
でき、さらに、光検出部5にダイクロックミラーを用い
ているので、複数の波長成分を持つ検出光を容易に分光
することができ、画像のカラー化を行うことができる。
Since the concave mirror 50 is used to focus light, light having a plurality of wavelength components can be focused at the same position with a compact structure. Since a dichroic mirror is used for the detection unit 5, detection light having a plurality of wavelength components can be easily separated, and an image can be colored.

【0055】第2の実施の形態:図9ないし図11は本
発明の第2の実施の形態に係わり、図9は光走査型共焦
点顕微鏡の構成を示す構成図、図10は図9の先端構成
部のミラーユニットの構成を示す構成図、図11は図9
の光検出部の構成を示す構成図である。
Second Embodiment FIGS. 9 to 11 relate to a second embodiment of the present invention. FIG. 9 is a configuration diagram showing a configuration of an optical scanning confocal microscope, and FIG. FIG. 11 is a configuration diagram showing the configuration of the mirror unit of the distal end component, and FIG.
FIG. 3 is a configuration diagram illustrating a configuration of a light detection unit.

【0056】第2の実施の形態は、第1の実施の形態と
ほとんど同じであるので、異なる点のみ説明し、同一の
構成には同じ符号をつけ説明は省略する。
Since the second embodiment is almost the same as the first embodiment, only different points will be described, and the same components will be denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

【0057】(構成)本実施の形態では、図9におい
て、光源部90、先端構成部91のミラーユニット及び
光検出部92の構成が第1の実施の形態と異なる。
(Configuration) In the present embodiment, the configuration of the light source section 90, the mirror unit of the distal end configuration section 91, and the light detection section 92 in FIG. 9 are different from those of the first embodiment.

【0058】すなわち、本実施の形態では、光源部90
は、波長780nmのダイオードレーザ93によって構
成され、レーザ光を4端子カプラ10のシングルモード
ファイバ9に入射可能に接続されている。
That is, in the present embodiment, the light source 90
Is constituted by a diode laser 93 having a wavelength of 780 nm, and is connected so that the laser light can be incident on the single mode fiber 9 of the four-terminal coupler 10.

【0059】また、先端構成部91は、図10に示すよ
うにミラーユニット94の構成が第1の実施の形態と異
なり、ミラーユニット94は、シリコン基板43と、前
記シリコン基板43に接着したプレート44と、前記プ
レート44に接着されたスペーサ95とによって構成さ
れ、シリコン基板43とプレート44には、第1の実施
の形態と同様のジンバル構造のスキャンミラー48が設
けてある。
Further, as shown in FIG. 10, the distal end portion 91 differs from the first embodiment in the configuration of the mirror unit 94. The mirror unit 94 comprises a silicon substrate 43 and a plate adhered to the silicon substrate 43. The silicon substrate 43 and the plate 44 are provided with a scan mirror 48 having a gimbal structure similar to that of the first embodiment.

【0060】そして、スペーサ95には第1の実施の形
態の上板46の同じ製作方法により製作されたプレート
44側が開口した中空部96が形成され、この中空部9
6の側部内面に凹面ミラー50が設けられている。
In the spacer 95, a hollow portion 96 having an opening on the plate 44 side manufactured by the same manufacturing method of the upper plate 46 of the first embodiment is formed.
6, a concave mirror 50 is provided on the inner surface of the side.

【0061】また、光検出部92は、図11に示すよう
に、4端子カプラ10の端部11bに出射方向に、コリ
メートレンズ60と、800nm以上の光を透過しその
以下の波長の光は遮断するフィルタ97と、フィルタ9
7を介した光を集光させる集光レンズ98と、集光レン
ズ98により集光した光を検出するディテクタ99から
なる。
As shown in FIG. 11, the light detecting section 92 transmits the collimating lens 60 to the end 11b of the four-terminal coupler 10 in the emission direction, and transmits the light of 800 nm or more and the light of the wavelength less than 800 nm. Filter 97 for blocking and filter 9
It comprises a condenser lens 98 for condensing the light passing through 7 and a detector 99 for detecting the light condensed by the condenser lens 98.

【0062】その他の構成は第1の実施の形態と同じで
ある。
The other structure is the same as that of the first embodiment.

【0063】(作用)本実施の形態のミラーユニット9
4では、シングルモードファイバ9の端部11cから出
射した光は、凹面ミラー50とスキャンミラー48とを
反射し、凹面ミラー50の作用で試料に対して焦点51
を結ぶ。そして、試料から反射光の他に、反射光より波
長が長い蛍光が発せられる場合には、反射光と蛍光は入
射光と同じ光路を通って4端子カプラ10の端部11c
に入射される。なお、試料にはあらかじめ蛍光物質を注
入しておいても良い。
(Operation) Mirror unit 9 of the present embodiment
In 4, the light emitted from the end 11 c of the single mode fiber 9 is reflected by the concave mirror 50 and the scan mirror 48, and is focused on the sample by the action of the concave mirror 50.
Tie. If the sample emits fluorescent light having a longer wavelength than the reflected light in addition to the reflected light, the reflected light and the fluorescent light pass through the same optical path as the incident light, and the end 11 c of the four-terminal coupler 10.
Is incident on. Note that a fluorescent substance may be injected into the sample in advance.

【0064】これらの光は、4端子カプラ10の端部1
1bから出射されるが、反射光はフィルタ97を透過で
きず、蛍光のみがフィルタ97を透過して、集光レンズ
98で集光されてディテクタ99で検出される。
These lights are applied to the end 1 of the four-terminal coupler 10.
Although emitted from 1b, the reflected light cannot pass through the filter 97, and only the fluorescence passes through the filter 97, is collected by the condenser lens 98, and is detected by the detector 99.

【0065】ディテクタ99で検出された信号は、第1
の実施の形態と同様の方法で試料の蛍光像が画像化され
る。
The signal detected by the detector 99 is the first signal.
The fluorescence image of the sample is imaged in the same manner as in the embodiment.

【0066】その他の作用は第1の実施の形態と同じで
ある。
The other operations are the same as in the first embodiment.

【0067】(効果)このように本実施の形態では、第
1の実施の形態の効果に加え、試料からの蛍光を容易に
画像化できる。
(Effects) As described above, in the present embodiment, in addition to the effects of the first embodiment, the fluorescence from the sample can be easily imaged.

【0068】また、ミラーユニット94においては、上
板をスペーサ95と一体に構成したので、部品点数が少
なくなり、組立がよりも容易になる。さらに、スキャン
ミラー48と凹面ミラー50のみにより光を反射させて
焦点51を結ばせるようにしているので、光の反射する
回数を少なくすることができ、より小さく構成するする
ことが可能となる。
Further, in the mirror unit 94, since the upper plate is formed integrally with the spacer 95, the number of parts is reduced, and the assembly becomes easier. Further, since the light is reflected only by the scan mirror 48 and the concave mirror 50 so that the focal point 51 is focused, the number of times of light reflection can be reduced, and the configuration can be made smaller.

【0069】第3の実施の形態:図12及び図13は本
発明の第3の実施の形態に係わり、図12は先端構成部
のミラーユニットの構成を示す構成図、図13は図12
のスペーサの構成を示す斜視図である。
Third Embodiment FIGS. 12 and 13 relate to a third embodiment of the present invention. FIG. 12 is a configuration diagram showing a configuration of a mirror unit of a distal end component, and FIG.
FIG. 3 is a perspective view showing a configuration of a spacer.

【0070】第3の実施の形態は、第1の実施の形態と
ほとんど同じであるので、異なる点のみ説明し、同一の
構成には同じ符号をつけ説明は省略する。
Since the third embodiment is almost the same as the first embodiment, only different points will be described, and the same components will be denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

【0071】(構成)本実施の形態では、図12に示す
ように、ミラーユニット101の構成が第1の実施の形
態と異なり、ミラーユニット101は、シリコン基板4
3と、前記シリコン基板43に接着したプレート44
と、前記プレート44に接着されたスペーサ95とによ
って構成され、シリコン基板43とプレート44には、
第1の実施の形態と同様のジンバル構造のスキャンミラ
ー48を構成する2枚の可動ミラー102、103が形
成され、可動ミラー102、103の回転軸は直交する
ように構成されており、可動ミラー102でX方向に、
可動ミラー103でY方向に光が走査されるように構成
されている。
(Configuration) In the present embodiment, as shown in FIG. 12, the configuration of the mirror unit 101 is different from that of the first embodiment.
3 and a plate 44 adhered to the silicon substrate 43
And a spacer 95 bonded to the plate 44. The silicon substrate 43 and the plate 44
Two movable mirrors 102 and 103 constituting a scan mirror 48 having a gimbal structure similar to that of the first embodiment are formed, and the rotation axes of the movable mirrors 102 and 103 are configured to be orthogonal to each other. In the X direction at 102,
The movable mirror 103 is configured to scan light in the Y direction.

【0072】そして、スペーサ95には第1の実施の形
態の上板46の同じ製作方法により製作されたプレート
44側が開口した中空部96が形成され、図13に示す
ように、この中空部96の底部内面に円筒状ミラー10
4が、側部内面に円筒状ミラー105が設けられてい
る。この円筒状凹面ミラー104、105の形状は、第
1の実施の形態のアナモフィック面をそれぞれX方向、
Y方向のみに集光するように展開した形状とし、同じ位
置で焦点106を結ぶように構成されている。
The spacer 95 is formed with a hollow portion 96 having an opening on the side of the plate 44 manufactured by the same manufacturing method of the upper plate 46 of the first embodiment. As shown in FIG. Cylindrical mirror 10 on the bottom inner surface
4 is provided with a cylindrical mirror 105 on the inner surface of the side. The shape of the cylindrical concave mirrors 104 and 105 is such that the anamorphic surface of the first embodiment is in the X direction,
It has a shape developed so as to converge light only in the Y direction, and is configured to focus at the same position.

【0073】その他の構成は第1の実施の形態と同じで
ある。
The other structure is the same as that of the first embodiment.

【0074】(作用)本実施の形態では、円筒状ミラー
104によって光はX方向に集光され、円筒状ミラー1
05によって光はY方向に集光され、焦点106を結
ぶ。
(Operation) In this embodiment, light is condensed in the X direction by the cylindrical mirror 104, and the cylindrical mirror 1
The light is condensed in the Y direction by 05 and the focus 106 is formed.

【0075】また、可動ミラー102によって焦点10
6はX方向に、可動ミラー103によって焦点106は
Y方向に走査される。
Further, the focal point 10 is
6 is scanned in the X direction, and the focus 106 is scanned in the Y direction by the movable mirror 103.

【0076】その他の作用は第1の実施の形態と同じで
ある。
The other operations are the same as in the first embodiment.

【0077】(効果)このように本実施の形態では、第
1の実施の形態の効果に加え、形状が簡単な2つの円筒
状ミラー104、105を用いてそれぞれの方向ごとに
集光しているので、製作を容易に行うことができる。
(Effect) As described above, in this embodiment, in addition to the effects of the first embodiment, light is condensed in each direction by using two cylindrical mirrors 104 and 105 having a simple shape. Therefore, production can be performed easily.

【0078】また、ミラーユニット94においては、上
板をスペーサ95と一体に構成したので、部品点数が少
なくなり、組立がよりも容易になる。
Further, in the mirror unit 94, since the upper plate is formed integrally with the spacer 95, the number of parts is reduced, and the assembly becomes easier.

【0079】なお、スキャンミラーにアナモフィック面
を構成しても良い。この場合、アナモフィック面を有す
るミラーはあらかじめ前出の方法と同様に金型を用いて
射出成型で製作しておき、それを可動ミラーに接着して
構成しても良い。
The anamorphic surface may be formed on the scan mirror. In this case, the mirror having the anamorphic surface may be manufactured in advance by injection molding using a mold in the same manner as the method described above, and the mirror may be bonded to the movable mirror.

【0080】[付記] (付記項1) 被検部に光を照射するための光源と、前
記光源からの光を試料上で走査させる光走査部と、前記
光走査部で走査された光の前記被検部からの戻り光を検
出する光検出部とを備えた光走査型顕微鏡において、前
記光走査部は、前記光源からの光を前記被検部に照射し
て焦点を結ばせるための少なくとも1つの凹面ミラーを
具備することを特徴とする光走査型共焦点顕微鏡。
[Appendix] (Appendix 1) A light source for irradiating the test portion with light, a light scanning section for scanning light from the light source on the sample, and a light scanning section for scanning the light with the light scanning section. In a light scanning microscope having a light detection unit that detects return light from the test section, the light scanning section is for irradiating the test section with light from the light source to focus the test section. An optical scanning confocal microscope comprising at least one concave mirror.

【0081】(付記項2) 前記光走査部は、前記光源
からの光を2次元走査可能は少なくとも1つのスキャン
ミラーを有することを特徴とする付記項1に記載の光走
査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 2) The optical scanning confocal microscope according to additional item 1, wherein the light scanning section has at least one scan mirror capable of two-dimensionally scanning the light from the light source.

【0082】(付記項3) 前記光走査部は、前記スキ
ャンミラーの2次元走査面の垂直方向に前記光源からの
光を走査する垂直走査手段を有することを特徴とする付
記項2に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Supplementary note 3) The optical scanning unit according to supplementary note 2, wherein the light scanning unit includes a vertical scanning unit that scans light from the light source in a direction perpendicular to a two-dimensional scanning surface of the scan mirror. Optical scanning confocal microscope.

【0083】(付記項4) 前記スキャンミラーは、静
電気力で駆動されることを特徴とする付記項2または3
に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 4) The additional item 2 or 3, wherein the scan mirror is driven by electrostatic force.
2. The optical scanning confocal microscope according to item 1.

【0084】(付記項5) 前記スキャンミラーは、ジ
ンバル構造を持つことを特徴とする付記項2または3に
記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 5) The optical scanning confocal microscope according to additional items 2 or 3, wherein the scan mirror has a gimbal structure.

【0085】(付記項6) 前記スキャンミラーは、磁
気力で駆動されることを特徴とする付記項2または3に
記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 6) The optical scanning confocal microscope according to additional items 2 or 3, wherein the scan mirror is driven by a magnetic force.

【0086】(付記項7) 前記凹面ミラーと前記スキ
ャンミラーは、一体であることを特徴とする付記項2に
記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 7) The optical scanning confocal microscope according to additional item 2, wherein the concave mirror and the scan mirror are integrated.

【0087】(付記項8) 前記凹面ミラーは、アナモ
フィック面で構成されていることを特徴とする付記項1
に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 8) The additional item 1 wherein the concave mirror is constituted by an anamorphic surface.
2. The optical scanning confocal microscope according to item 1.

【0088】(付記項9) 前記凹面ミラーは2枚の前
記凹面ミラーによって構成され、それぞれの前記凹面ミ
ラーによって、前記光源からの光が互いに直交する方向
にそれぞれ集光されることを特徴とする付記項1に記載
の光走査型共焦点顕微鏡。
(Supplementary Note 9) The concave mirror is constituted by two concave mirrors, and the light from the light source is condensed by the respective concave mirrors in directions orthogonal to each other. 2. The optical scanning confocal microscope according to additional item 1.

【0089】(付記項10) 前記光源と光走査部は、
光ファイバで光学的に結合されていることを特徴とする
付記項1に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 10) The light source and the optical scanning unit
2. The optical scanning confocal microscope according to claim 1, wherein the optical scanning type confocal microscope is optically coupled with an optical fiber.

【0090】(付記項11) 前記光ファイバは、シン
グルモードファイバであることを特徴とする付記項11
に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 11) The optical fiber is a single-mode fiber.
2. The optical scanning confocal microscope according to item 1.

【0091】(付記項12) 前記光源と前記光走査部
の間に、光路を少なくとも2つに分割する分岐手段を有
し、前記分岐手段は、前記被検部からの前記戻り光を少
なくとも2方向に分けることを特徴とする付記項1に記
載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Supplementary Note 12) Between the light source and the optical scanning unit, there is provided a branching unit that divides an optical path into at least two, and the branching unit is configured to separate the return light from the test section by at least two. 3. The optical scanning confocal microscope according to claim 1, wherein the microscope is divided into directions.

【0092】(付記項13) 前記分岐手段によって2
方向に分けられた光路の1つが、前記光検出部に接続さ
れていることを特徴とする付記項12に記載の光走査型
共焦点顕微鏡。
(Additional Item 13)
13. The optical scanning confocal microscope according to claim 12, wherein one of the optical paths divided in the direction is connected to the light detection unit.

【0093】(付記項14) 前記分岐手段は、4端子
カプラからなることを特徴とする付記項12に記載の光
走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 14) The optical scanning confocal microscope according to additional item 12, wherein the branching means comprises a four-terminal coupler.

【0094】(付記項15) 前記光検出部は、波長に
よって光を分光する分光手段を有することを特徴とする
付記項1に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 15) The optical scanning confocal microscope according to additional item 1, wherein the light detection unit has a spectral unit that splits light according to wavelength.

【0095】(付記項16) 試料に光を照射するため
の光源と、前記光源からの光を走査させる光走査部と、
前記走査部で走査された前記試料からの戻り光を検出す
る光検出部とからなる光走査型顕微鏡において、前記光
検出部は、波長によって前記戻り光を分光する分光手段
を有することを特徴とする光走査型共焦点顕微鏡。
(Supplementary Item 16) A light source for irradiating the sample with light, an optical scanning unit for scanning light from the light source,
In a light scanning microscope comprising a light detection unit that detects return light from the sample scanned by the scanning unit, the light detection unit has spectral means for splitting the return light by wavelength. Scanning confocal microscope.

【0096】(付記項17) 前記光走査部は、前記光
源からの光を2次元走査可能な少なくとも1つのスキャ
ンミラーを有することを特徴とする付記項16に記載の
光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 17) The optical scanning confocal microscope according to additional item 16, wherein the light scanning section has at least one scan mirror capable of two-dimensionally scanning the light from the light source.

【0097】(付記項18) 前記光走査部は、前記ス
キャンミラーの2次元走査面の垂直方向に前記光源から
の光を走査する垂直走査手段を有することを特徴とする
付記項17に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Supplementary note 18) The light scanning unit according to Supplementary note 17, wherein the light scanning unit includes a vertical scanning unit that scans light from the light source in a direction perpendicular to a two-dimensional scanning surface of the scan mirror. Optical scanning confocal microscope.

【0098】(付記項19) 前記スキャンミラーは、
静電気力で駆動されることを特徴とする付記項16また
は17に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 19) The scan mirror includes:
18. The optical scanning confocal microscope according to additional item 16 or 17, wherein the optical scanning type confocal microscope is driven by electrostatic force.

【0099】(付記項20) 前記スキャンミラーは、
ジンバル構造を持つことを特徴とする付記項16または
17に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 20) The scan mirror is
18. The optical scanning confocal microscope according to additional item 16 or 17, wherein the optical scanning confocal microscope has a gimbal structure.

【0100】(付記項21) 前記スキャンミラーは、
磁気力で駆動されることを特徴とする付記項16または
17に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 21) The scan mirror is
Item 18. The optical scanning confocal microscope according to item 16 or 17, wherein the optical scanning type confocal microscope is driven by a magnetic force.

【0101】(付記項22) 前記光源と光走査部は、
光ファイバで光学的に結合されていることを特徴とする
付記項16に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Supplementary Item 22) The light source and the optical scanning unit
17. The optical scanning confocal microscope according to claim 16, wherein the optical scanning type confocal microscope is optically coupled with an optical fiber.

【0102】(付記項23) 前記光ファイバは、シン
グルモードファイバであることを特徴とする付記項22
に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 23) The optical fiber is a single mode fiber, wherein the optical fiber is a single mode fiber.
2. The optical scanning confocal microscope according to item 1.

【0103】(付記項24) 前記光源と前記光走査部
の間に、光路を少なくとも2つに分割する分岐手段を有
し、前記分岐手段は、前記被検部からの前記戻り光を少
なくとも2方向に分けることを特徴とする付記項16に
記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Supplementary Note 24) Between the light source and the light scanning unit, there is provided a branching unit that divides an optical path into at least two, and the branching unit is configured to split the return light from the test section into at least two light beams. Item 17. The optical scanning confocal microscope according to Item 16, wherein the light is divided into directions.

【0104】(付記項25) 前記分岐手段によって2
方向に分けられた光路の1つが、前記光検出部に接続さ
れていることを特徴とする付記項24に記載の光走査型
共焦点顕微鏡。
(Additional Item 25)
25. The optical scanning confocal microscope according to claim 24, wherein one of the optical paths divided in the direction is connected to the light detection unit.

【0105】(付記項26) 前記分岐手段は、4端子
カプラからなることを特徴とする付記項24に記載の光
走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 26) The optical scanning confocal microscope according to additional item 24, wherein the branching means comprises a four-terminal coupler.

【0106】(付記項27) 前記分光手段は、前記戻
り光の波長に依存して反射および透過を行うダイクロッ
クミラーを1枚以上有することを特徴とする付記項16
に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 27) The additional dispersing means has one or more dichroic mirrors that perform reflection and transmission depending on the wavelength of the return light.
2. The optical scanning confocal microscope according to item 1.

【0107】(付記項28) 前記ダイクロックミラー
は、前記戻り光を赤、青、緑を分光し、前記光検出部
は、前記ダイクロックミラーにより分光されたそれぞれ
の前記戻り光を検出するディテクタを有することを特徴
とする付記項27に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Supplementary Note 28) The dichroic mirror separates the return light into red, blue, and green light, and the light detection unit detects each of the return light split by the dichroic mirror. 28. The optical scanning confocal microscope according to claim 27, comprising:

【0108】(付記項29) 前記分光手段は、特定の
波長のみを透過し、前記光源の波長の光は透過しないフ
ィルタを1枚以上有することを特徴とする付記項16に
記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 29) The optical scanning type according to additional item 16, wherein the spectroscopic means has at least one filter that transmits only a specific wavelength and does not transmit light of the wavelength of the light source. Confocal microscope.

【0109】(付記項30) 前記光源は、複数の波長
成分の光を発生することを特徴とする付記項16に記載
の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 30) The optical scanning confocal microscope according to additional item 16, wherein the light source generates light of a plurality of wavelength components.

【0110】(付記項31) 前記光源からの光は、白
色光であることを特徴とする付記項16に記載の光走査
型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 31) The light scanning confocal microscope according to additional item 16, wherein the light from the light source is white light.

【0111】(付記項32) 前記光源は、レーザ光を
発生することを特徴とする付記項16に記載の光走査型
共焦点顕微鏡。
(Additional Item 32) The optical scanning confocal microscope according to additional item 16, wherein the light source generates a laser beam.

【0112】(付記項33) 前記光源は、波長が78
0nm付近のレーザ光を発生する半導体レーザからな
り、前記分光手段は、波長が800nm以上の光のみを
透過するフィルタからなることを特徴とする付記項32
に記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 33) The light source has a wavelength of 78.
Additional item 32, comprising a semiconductor laser that generates a laser beam having a wavelength of about 0 nm, and the dispersing unit includes a filter that transmits only light having a wavelength of 800 nm or more.
2. The optical scanning confocal microscope according to item 1.

【0113】(付記項34) 前記光源は、時分割で異
なる波長の光を発生することを特徴とする付記項16に
記載の光走査型共焦点顕微鏡。
(Additional Item 34) The optical scanning confocal microscope according to additional item 16, wherein the light source generates light having different wavelengths in a time-division manner.

【0114】[0114]

【発明の効果】以上説明したように本発明の光走査型共
焦点顕微鏡によれば、凹面ミラーが光源からの光を被検
部に照射して焦点を結ばせるので、容易な構成で波長が
異なる光を同じ位置で焦点を結ばせ、カラー画像や蛍光
画像を得ることできるという効果がある。
As described above, according to the optical scanning confocal microscope of the present invention, the concave mirror irradiates the light from the light source to the portion to be inspected to form a focal point. There is an effect that different light beams can be focused at the same position to obtain a color image or a fluorescent image.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の第1の実施の形態に係る光走査型共
焦点顕微鏡の構成を示す構成図
FIG. 1 is a configuration diagram showing a configuration of an optical scanning confocal microscope according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の先端構成部の構成を示す構成図FIG. 2 is a configuration diagram showing a configuration of a tip configuration unit in FIG. 1;

【図3】図2のミラーユニットの構成を示す構成図FIG. 3 is a configuration diagram showing a configuration of a mirror unit in FIG. 2;

【図4】図3のミラーユニットのスキャンミラーの製造
方法を説明する第1の説明図
FIG. 4 is a first explanatory view illustrating a method for manufacturing a scan mirror of the mirror unit in FIG. 3;

【図5】図3のミラーユニットのスキャンミラーの製造
方法を説明する第2の説明図
FIG. 5 is a second explanatory view illustrating a method for manufacturing a scan mirror of the mirror unit in FIG. 3;

【図6】図1の光検出部の構成を示す構成図FIG. 6 is a configuration diagram showing a configuration of a light detection unit in FIG. 1;

【図7】図1の制御部の構成を示す構成図FIG. 7 is a configuration diagram showing a configuration of a control unit in FIG. 1;

【図8】図3のミラーユニットによる焦点走査を説明す
る説明図
FIG. 8 is an explanatory diagram illustrating focus scanning by the mirror unit in FIG. 3;

【図9】本発明の第2の実施の形態に係る光走査型共焦
点顕微鏡の構成を示す構成図
FIG. 9 is a configuration diagram showing a configuration of an optical scanning confocal microscope according to a second embodiment of the present invention.

【図10】図9の先端構成部のミラーユニットの構成を
示す構成図
FIG. 10 is a configuration diagram showing a configuration of a mirror unit of a distal end configuration portion in FIG. 9;

【図11】図9の光検出部の構成を示す構成図FIG. 11 is a configuration diagram showing a configuration of a light detection unit in FIG. 9;

【図12】本発明の第3の実施の形態に係る先端構成部
のミラーユニットの構成を示す構成図
FIG. 12 is a configuration diagram showing a configuration of a mirror unit of a distal end configuration portion according to a third embodiment of the present invention.

【図13】図12のスペーサの構成を示す斜視図FIG. 13 is a perspective view showing the configuration of the spacer of FIG.

【図14】従来の光走査型共焦点顕微鏡の構成を示す構
成図
FIG. 14 is a configuration diagram showing a configuration of a conventional optical scanning confocal microscope.

【図15】図14の先端部の構成を示す構成図FIG. 15 is a configuration diagram showing a configuration of a distal end portion in FIG. 14;

【図16】図14の先端部の断面を示す断面図FIG. 16 is a cross-sectional view showing a cross section of the distal end portion in FIG. 14;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…光走査型共焦点顕微鏡 2…光源部 3…光伝達部 4…先端構成部 5…光検出部 6…制御部 7…レーザ光源 8…電気ケーブル 9…シングルモードファイバ 10…4端子カプラ 11a、11b、11c、11d…端部 12…アイソレータ 21…本体 22…ミラーユニット 23…Z軸アクチュエータ 24…窓部 43…シリコン基板 44…プレート 45…スペーサ 46…上板 47…ミラー 48…スキャンミラー 49…ミラー部 50…凹面ミラー 54a、54b、54c、54d…電極 55a、55b、55c、55d…配線 56、57…ヒンジ部 60…コリメートレンズ 61a、61b、61c…ダイクロックミラー 62a、62b、62c…集光レンズ 63a、63b、63c…フォトディテクタ 64…レーザ駆動回路 65…XY駆動回路 66…Z駆動回路 67…増幅回路 68…画像処理回路 69…モニタ 70…記録装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Optical scanning confocal microscope 2 ... Light source part 3 ... Light transmission part 4 ... Tip construction part 5 ... Light detection part 6 ... Control part 7 ... Laser light source 8 ... Electric cable 9 ... Single mode fiber 10 ... Four terminal coupler 11a , 11b, 11c, 11d ... end 12 ... isolator 21 ... body 22 ... mirror unit 23 ... Z-axis actuator 24 ... window 43 ... silicon substrate 44 ... plate 45 ... spacer 46 ... top plate 47 ... mirror 48 ... scan mirror 49 … Mirror part 50… Concave mirror 54a, 54b, 54c, 54d… Electrode 55a, 55b, 55c, 55d… Wiring 56, 57… Hinge part 60… Collimate lens 61a, 61b, 61c… Diclock mirror 62a, 62b, 62c… Condensing lenses 63a, 63b, 63c ... photodetector 64 ... Laser drive circuit 6 ... XY driving circuit 66 ... Z drive circuit 67 ... amplifier circuits 68 ... image processing circuit 69 ... monitor 70 ... recording device

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被検部に光を照射するための光源と、 前記光源からの光を試料上で走査させる光走査部と、 前記光走査部で走査された光の前記被検部からの戻り光
を検出する光検出部とを備えた光走査型顕微鏡におい
て、 前記光走査部は、前記光源からの光を前記被検部に照射
して焦点を結ばせるための少なくとも一つの凹面ミラー
を具備することを特徴とする光走査型共焦点顕微鏡。
A light source configured to irradiate light to the test portion; a light scanning portion configured to scan light from the light source on a sample; and a light beam scanned by the light scanning portion from the test portion. In a light scanning microscope comprising a light detection unit that detects return light, the light scanning unit includes at least one concave mirror for irradiating light from the light source to the test target and focusing the test target. An optical scanning confocal microscope, comprising:
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