JPH1183629A - 差分吸収ライダ計測装置 - Google Patents
差分吸収ライダ計測装置Info
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- JPH1183629A JPH1183629A JP23708397A JP23708397A JPH1183629A JP H1183629 A JPH1183629 A JP H1183629A JP 23708397 A JP23708397 A JP 23708397A JP 23708397 A JP23708397 A JP 23708397A JP H1183629 A JPH1183629 A JP H1183629A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ２波長同時に光の強度の時間変化を計測可能
であり、且つ、複数の測定対象物質に対応できる差分吸
収ライダ計測装置を安価に構成する。 【解決手段】 測定空間を伝搬してきた光が入射される
分光手段と、光検出手段を、複数の光ファイバ５０ａ、
５０ｂ又は光ファイバアレイ７０で接続する。
であり、且つ、複数の測定対象物質に対応できる差分吸
収ライダ計測装置を安価に構成する。 【解決手段】 測定空間を伝搬してきた光が入射される
分光手段と、光検出手段を、複数の光ファイバ５０ａ、
５０ｂ又は光ファイバアレイ７０で接続する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、計測対象物質によ
る吸収に差のある複数の波長を含む光を測定空間に伝搬
させ、該複数の波長間での光の吸収量を比較することに
より、計測対象物質の密度分布を計測する差分吸収ライ
ダ計測装置に係り、特に、複数の波長について同時に光
の強度の時間変化を計測可能であり、且つ、計測対象物
質が固定されず、複数の計測対象物質に対応可能な差分
吸収ライダ計測装置に関する。
る吸収に差のある複数の波長を含む光を測定空間に伝搬
させ、該複数の波長間での光の吸収量を比較することに
より、計測対象物質の密度分布を計測する差分吸収ライ
ダ計測装置に係り、特に、複数の波長について同時に光
の強度の時間変化を計測可能であり、且つ、計測対象物
質が固定されず、複数の計測対象物質に対応可能な差分
吸収ライダ計測装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図６にＮＯ2 の吸収スペクトルを例示す
る如く、計測対象物質（図６ではＮＯ 2 ）がよく吸収す
る波長λｏｎ（図６では４４８ｎｍ）と、あまり吸収し
ない波長λｏｆｆ（図６では４５０ｎｍ）の２種類の波
長の光を測定空間に伝搬させ、それぞれの光の後方散乱
光の強度変化から光量の変化、即ち、光の吸収量を求
め、２波長間での光の吸収量を比較することにより、計
測対象物質の密度分布を計測する差分吸収ライダ計測
が、レーザレーダの一方式として知られている。
る如く、計測対象物質（図６ではＮＯ 2 ）がよく吸収す
る波長λｏｎ（図６では４４８ｎｍ）と、あまり吸収し
ない波長λｏｆｆ（図６では４５０ｎｍ）の２種類の波
長の光を測定空間に伝搬させ、それぞれの光の後方散乱
光の強度変化から光量の変化、即ち、光の吸収量を求
め、２波長間での光の吸収量を比較することにより、計
測対象物質の密度分布を計測する差分吸収ライダ計測
が、レーザレーダの一方式として知られている。
【０００３】この差分吸収ライダ計測装置は、例えば図
７に示す如く、半導体レーザで励起されるＮｄ：ＹＬＦ
レーザ１０、及び、非線形結晶により発振波長を変える
ことができるオプトパラメトリック発振器（ＯＰＯ）１
２からなる光源部と、カセグレンタイプの望遠鏡１４、
背景光を除去するための干渉フィルタであるフィルタ１
６、光電管１８、光電子増倍管２０及びデジタルオシロ
スコープ２２からなる計測部と、パソコン２４及びパル
スジェネレータ２６からなる制御部より構成されてい
る。
７に示す如く、半導体レーザで励起されるＮｄ：ＹＬＦ
レーザ１０、及び、非線形結晶により発振波長を変える
ことができるオプトパラメトリック発振器（ＯＰＯ）１
２からなる光源部と、カセグレンタイプの望遠鏡１４、
背景光を除去するための干渉フィルタであるフィルタ１
６、光電管１８、光電子増倍管２０及びデジタルオシロ
スコープ２２からなる計測部と、パソコン２４及びパル
スジェネレータ２６からなる制御部より構成されてい
る。
【０００４】このような差分吸収ライダ計測装置におい
ては、前記レーザ１０からＯＰＯ１２にパルスレーザを
照射して、該ＯＰＯ１２を励起し、所定の可変域（例え
ば４４７〜４５１ｎｍ）を有する周波数のレーザ光３０
を測定空間（例えば大気）に照射する。
ては、前記レーザ１０からＯＰＯ１２にパルスレーザを
照射して、該ＯＰＯ１２を励起し、所定の可変域（例え
ば４４７〜４５１ｎｍ）を有する周波数のレーザ光３０
を測定空間（例えば大気）に照射する。
【０００５】計測部では、前記ＯＰＯ１２の出力を光電
管１８により計測すると共に、レーザ光３０が伝搬する
際の後方散乱光３２を望遠鏡１４で集光し、該望遠鏡１
４に取り付けた光電子増倍管２０で、後方散乱光強度を
計測する。
管１８により計測すると共に、レーザ光３０が伝搬する
際の後方散乱光３２を望遠鏡１４で集光し、該望遠鏡１
４に取り付けた光電子増倍管２０で、後方散乱光強度を
計測する。
【０００６】前記光電管１８と光電子増倍管２０からの
信号は、デジタルオシロスコープ２２に蓄積される。
信号は、デジタルオシロスコープ２２に蓄積される。
【０００７】前記パソコン２４は、レーザ１０の制御パ
ルスを生成するためのパルスジェネレータ２６を介して
のレーザ１０の発振制御、ＯＰＯ１２の波長設定、波長
切換、デジタルオシロスコープ２２への測定開始、終
了、信号の加算数設定等を行う。
ルスを生成するためのパルスジェネレータ２６を介して
のレーザ１０の発振制御、ＯＰＯ１２の波長設定、波長
切換、デジタルオシロスコープ２２への測定開始、終
了、信号の加算数設定等を行う。
【０００８】この差分吸収ライダ計測装置においては、
近接した特定２波長（例えば４４８ｎｍと４５０ｎｍ）
のレーザ光を測定空間に照射し、図８に示す如く、それ
ぞれの散乱光強度の時間変化を計測する。従って、測定
の間にエアロゾル等の計測対象物質の密度分布が一定と
見做せることが、計測の前提であり、計測対象物質の密
度分布の変化は、そのまま測定精度低下につながる。従
って、２波長を同時に照射、計測することが望ましい。
近接した特定２波長（例えば４４８ｎｍと４５０ｎｍ）
のレーザ光を測定空間に照射し、図８に示す如く、それ
ぞれの散乱光強度の時間変化を計測する。従って、測定
の間にエアロゾル等の計測対象物質の密度分布が一定と
見做せることが、計測の前提であり、計測対象物質の密
度分布の変化は、そのまま測定精度低下につながる。従
って、２波長を同時に照射、計測することが望ましい。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】通常、差分吸収ライダ
計測には、それぞれの波長を透過するフィルタ１６をつ
けた２本の光電子増倍管２０を用いるが、この場合、フ
ィルタ１６の透過波長が固定であることから、測定対象
が固定されてしまうという問題点を有する。
計測には、それぞれの波長を透過するフィルタ１６をつ
けた２本の光電子増倍管２０を用いるが、この場合、フ
ィルタ１６の透過波長が固定であることから、測定対象
が固定されてしまうという問題点を有する。
【００１０】このような問題点を解決するべく、分光器
と、分光スペクトルを同時にマルチチャネルで計測する
ことが可能なマルチチャネル検出器の一つである、例え
ば、入力スリット像が、光電面で電子像に変換され、加
速電極、掃引用偏向板、マイクロチャネルプレート等を
経て蛍光面にあてられて再び光学像（ストリーク像）に
変換されるストリーク管を備えたストリークカメラを組
合せて、図９に示すようなデータを得て、２波長４４８
ｎｍと４５０ｎｍを弁別し、その強度の時間変化を得る
ことが考えられる。しかしながら、通常のストリークカ
メラでは、走査できる時間τが短く、差分吸収ライダ計
測で要求される数百〜数千ナノ秒の幅での計測ができる
か不明である。又、ストリークカメラは非常に高価で大
掛かりな装置であり、普通は使えない。
と、分光スペクトルを同時にマルチチャネルで計測する
ことが可能なマルチチャネル検出器の一つである、例え
ば、入力スリット像が、光電面で電子像に変換され、加
速電極、掃引用偏向板、マイクロチャネルプレート等を
経て蛍光面にあてられて再び光学像（ストリーク像）に
変換されるストリーク管を備えたストリークカメラを組
合せて、図９に示すようなデータを得て、２波長４４８
ｎｍと４５０ｎｍを弁別し、その強度の時間変化を得る
ことが考えられる。しかしながら、通常のストリークカ
メラでは、走査できる時間τが短く、差分吸収ライダ計
測で要求される数百〜数千ナノ秒の幅での計測ができる
か不明である。又、ストリークカメラは非常に高価で大
掛かりな装置であり、普通は使えない。
【００１１】一方、図７に示したような光電子増倍管２
０を用いた装置に分光器を組合せ、分光器で２波長を弁
別して、その強度を２本の光電子増倍管で計測しようと
すると、２本の光電子増倍管の検出面を数ｍｍの間隔で
配置しなければならないが、光電子増倍管の直径が３０
ｍｍ以上あることから、物理的に不可能である。従っ
て、光電子増倍管を通常の方法で使用した場合、１波長
についての光の強度の時間変化を出力することはできる
が、２波長については２回の計測が必要となる。又、フ
ィルタ１６は波長が固定であることから、計測対象波長
を変える毎にフィルタを替える必要があり、柔軟性に欠
ける。
０を用いた装置に分光器を組合せ、分光器で２波長を弁
別して、その強度を２本の光電子増倍管で計測しようと
すると、２本の光電子増倍管の検出面を数ｍｍの間隔で
配置しなければならないが、光電子増倍管の直径が３０
ｍｍ以上あることから、物理的に不可能である。従っ
て、光電子増倍管を通常の方法で使用した場合、１波長
についての光の強度の時間変化を出力することはできる
が、２波長については２回の計測が必要となる。又、フ
ィルタ１６は波長が固定であることから、計測対象波長
を変える毎にフィルタを替える必要があり、柔軟性に欠
ける。
【００１２】一方、分光器と、マネチチャネル検出器の
他の一つであるＣＣＤを用いたイメージセンサを組合せ
て使用しても、図６に示したようなデータが得られる。
従って、２波長を弁別して強度比を得ることができる。
しかしながら、ＣＣＤからのデータは、ある時間内にＣ
ＣＤに入射した光の強度の積分値であることから、図８
に示す右斜線部Ａと左斜線部Ｂの面積比が得られている
ことになる。この部分の幅Ｔを小さくすることが可能
で、しかもその計測を、非常に高速繰り返しでできれ
ば、図８のようにアナログ的に強度の時間変化を取得で
きるが、実際には、読み出し時間等の制約から無理であ
り、ＣＣＤでは時間変化が得られない。
他の一つであるＣＣＤを用いたイメージセンサを組合せ
て使用しても、図６に示したようなデータが得られる。
従って、２波長を弁別して強度比を得ることができる。
しかしながら、ＣＣＤからのデータは、ある時間内にＣ
ＣＤに入射した光の強度の積分値であることから、図８
に示す右斜線部Ａと左斜線部Ｂの面積比が得られている
ことになる。この部分の幅Ｔを小さくすることが可能
で、しかもその計測を、非常に高速繰り返しでできれ
ば、図８のようにアナログ的に強度の時間変化を取得で
きるが、実際には、読み出し時間等の制約から無理であ
り、ＣＣＤでは時間変化が得られない。
【００１３】本発明は、前記従来の問題点を解消するべ
くされたもので、同時に来る複数の近接する波長を弁別
して、それぞれの強度の時間変化を計測し、１回の測定
で、図８に示すようなデータを得ることができ、且つ、
計測対象物質が固定されず、複数の測定対象物質にも対
応可能とすることを課題とする。
くされたもので、同時に来る複数の近接する波長を弁別
して、それぞれの強度の時間変化を計測し、１回の測定
で、図８に示すようなデータを得ることができ、且つ、
計測対象物質が固定されず、複数の測定対象物質にも対
応可能とすることを課題とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明は、計測対象物質
による吸収に差のある複数の波長を含む光を測定空間に
伝搬させ、該複数の波長間での光の吸収量を比較するこ
とにより、計測対象物質の密度分布を計測する差分吸収
ライダ計測装置において、測定空間を伝搬して来た光が
入射される分光手段と、該分光手段の出側で、測定対象
波長の光がそれぞれ入射される、複数の光ファイバと、
該光ファイバの出側で、該光ファイバを伝搬して来た光
の強度を測定する光検出手段とを備え、前記複数の波長
の光の強度の時間的な変化を、同時に検出できるように
して、前記課題を解決したものである。
による吸収に差のある複数の波長を含む光を測定空間に
伝搬させ、該複数の波長間での光の吸収量を比較するこ
とにより、計測対象物質の密度分布を計測する差分吸収
ライダ計測装置において、測定空間を伝搬して来た光が
入射される分光手段と、該分光手段の出側で、測定対象
波長の光がそれぞれ入射される、複数の光ファイバと、
該光ファイバの出側で、該光ファイバを伝搬して来た光
の強度を測定する光検出手段とを備え、前記複数の波長
の光の強度の時間的な変化を、同時に検出できるように
して、前記課題を解決したものである。
【００１５】又、前記光ファイバを測定対象波長の数だ
け用い、測定対象波長の変化に合わせて、前記分光手段
に対する光ファイバ入射口の位置を調整可能としたもの
である。
け用い、測定対象波長の変化に合わせて、前記分光手段
に対する光ファイバ入射口の位置を調整可能としたもの
である。
【００１６】あるいは、前記光ファイバとして光ファイ
バアレイを用い、測定対象波長の変化に合わせて、該当
する光ファイバの出射口に、前記光検出手段を接続する
ようにしたものである。
バアレイを用い、測定対象波長の変化に合わせて、該当
する光ファイバの出射口に、前記光検出手段を接続する
ようにしたものである。
【００１７】本発明では、分光器等の分光手段をフィル
タの代りに使用する。通常、分光器で用いられるＩＣＣ
Ｄ等のライセンサでは２波長の同時計測は可能である
が、散乱光強度の時間変化を計測することが不可能であ
る。一方、時間変化計測が可能である光電子増倍管を用
いた場合、２波長の弁別が不可能となる。そこで本発明
では、分光手段の検出面に細い光ファイバを設置し、そ
の出射口側に光電子増倍管等の光検出手段を設置して計
測する。
タの代りに使用する。通常、分光器で用いられるＩＣＣ
Ｄ等のライセンサでは２波長の同時計測は可能である
が、散乱光強度の時間変化を計測することが不可能であ
る。一方、時間変化計測が可能である光電子増倍管を用
いた場合、２波長の弁別が不可能となる。そこで本発明
では、分光手段の検出面に細い光ファイバを設置し、そ
の出射口側に光電子増倍管等の光検出手段を設置して計
測する。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して、本発明の実
施形態を詳細に説明する。
施形態を詳細に説明する。
【００１９】本実施形態は、図７に示したような差分吸
収ライダ計測装置において、図１に示す如く、望遠鏡１
４出側のフィルタ１６の代わりに、例えばミラー４２と
回析格子４４を含む分光器４０を配置し、該分光器４０
と複数の測定対象波長（例えばλｏｎとλｏｆｆの２波
長）毎に設けられた２台の光電子増倍管２０ａ、２０ｂ
の間を、同じく測定波長毎に設けられた２本の光ファイ
バ５０ａ、５０ｂにより接続して、複数の波長λｏｎと
λｏｆｆの光の強度の時間的な変化を、複数の光電子増
倍管２０ａ、２０ｂで同時に検出できるようにしたもの
である。
収ライダ計測装置において、図１に示す如く、望遠鏡１
４出側のフィルタ１６の代わりに、例えばミラー４２と
回析格子４４を含む分光器４０を配置し、該分光器４０
と複数の測定対象波長（例えばλｏｎとλｏｆｆの２波
長）毎に設けられた２台の光電子増倍管２０ａ、２０ｂ
の間を、同じく測定波長毎に設けられた２本の光ファイ
バ５０ａ、５０ｂにより接続して、複数の波長λｏｎと
λｏｆｆの光の強度の時間的な変化を、複数の光電子増
倍管２０ａ、２０ｂで同時に検出できるようにしたもの
である。
【００２０】前記光ファイバ５０ａ、５０ｂの入射口５
２ａ、５２ｂは、前記分光器４０の回折格子４４によっ
て回折された光のうち、測定対象波長の位置に合わせ
て、矢印Ｃに示す如く調整される。
２ａ、５２ｂは、前記分光器４０の回折格子４４によっ
て回折された光のうち、測定対象波長の位置に合わせ
て、矢印Ｃに示す如く調整される。
【００２１】一方、各光ファイバ５０の出射口５４は、
図２に示す如く、光ファイバコネクタ５６により、光電
子増倍管２０の磁気シールドハウジング６０に接続され
る。図２において、６２は、光電子増倍管２０のソケッ
トである。
図２に示す如く、光ファイバコネクタ５６により、光電
子増倍管２０の磁気シールドハウジング６０に接続され
る。図２において、６２は、光電子増倍管２０のソケッ
トである。
【００２２】以下、本実施形態の作用を説明する。
【００２３】差分吸収ライダで使用する２波長をλｏ
ｎ、λｏｆｆとし、レーザ光３２として、λｏｎとλｏ
ｆｆを同時に照射する場合を考えると、観測する後方散
乱光３２もλｏｎとλｏｆｆを含んでいる。この両者を
含んだ後方散乱光３２を望遠鏡１４で集光して分光器４
０に導入すると、散乱光は分光され、異なる光ファイバ
５０ａ、５０ｂに入射することになる。そして、その２
本の光ファイバ５０ａ、５０ｂの出射口５４ａ、５４ｂ
側に、それぞれ光電子増倍管２０ａ、２０ｂを設置する
ことにより、λｏｎとλｏｆｆの同時計測を行う。この
時、光ファイバ５０ａ、５０ｂの入射口５２ａ、５２ｂ
の位置を選ぶことにより、λｏｎ、λｏｆｆを任意に設
定できる。
ｎ、λｏｆｆとし、レーザ光３２として、λｏｎとλｏ
ｆｆを同時に照射する場合を考えると、観測する後方散
乱光３２もλｏｎとλｏｆｆを含んでいる。この両者を
含んだ後方散乱光３２を望遠鏡１４で集光して分光器４
０に導入すると、散乱光は分光され、異なる光ファイバ
５０ａ、５０ｂに入射することになる。そして、その２
本の光ファイバ５０ａ、５０ｂの出射口５４ａ、５４ｂ
側に、それぞれ光電子増倍管２０ａ、２０ｂを設置する
ことにより、λｏｎとλｏｆｆの同時計測を行う。この
時、光ファイバ５０ａ、５０ｂの入射口５２ａ、５２ｂ
の位置を選ぶことにより、λｏｎ、λｏｆｆを任意に設
定できる。
【００２４】前記光ファイバ５０の分光器４０側は、波
長分解能を高めるべく、その分光方向（図１の左右方
向）の幅が狭い方が望ましく、一方、光電子増倍管２０
側は、光電子増倍管２０の入口形状に合わせて円形であ
ることが望ましい。そこで、前記光ファイバ５０として
は、図３に例示する如く、入射口５２側が偏平とされ、
出射口５４側が円形とされたものを用いることができ
る。なお、入射口５２側を偏平としなくても、十分な波
長分解能及び入射光量が確保できる場合には、光ファイ
バ５０として、断面が全て円形の通常の光ファイバを用
いることができる。
長分解能を高めるべく、その分光方向（図１の左右方
向）の幅が狭い方が望ましく、一方、光電子増倍管２０
側は、光電子増倍管２０の入口形状に合わせて円形であ
ることが望ましい。そこで、前記光ファイバ５０として
は、図３に例示する如く、入射口５２側が偏平とされ、
出射口５４側が円形とされたものを用いることができ
る。なお、入射口５２側を偏平としなくても、十分な波
長分解能及び入射光量が確保できる場合には、光ファイ
バ５０として、断面が全て円形の通常の光ファイバを用
いることができる。
【００２５】本実施形態においては、光ファイバを測定
対象波長の数だけ準備すればよく、構成が簡略である。
対象波長の数だけ準備すればよく、構成が簡略である。
【００２６】次に、図４を参照して、本発明の第２実施
形態を詳細に説明する。
形態を詳細に説明する。
【００２７】本実施形態は、第１実施形態と同様の差分
吸収ライダ計測装置において、光ファイバとして、分光
器４０側の入射口７２が多数並設された光ファイバアレ
イ７０を用いたものである。
吸収ライダ計測装置において、光ファイバとして、分光
器４０側の入射口７２が多数並設された光ファイバアレ
イ７０を用いたものである。
【００２８】該光ファイバアレイ７０の出射口７４は、
ばらばらにされ、測定対象波長が入射される光ファイバ
の出射口にのみ、図２に示したような光電子増倍管２０
が接続される。
ばらばらにされ、測定対象波長が入射される光ファイバ
の出射口にのみ、図２に示したような光電子増倍管２０
が接続される。
【００２９】本実施形態においては、分光器４０で分光
された後方散乱光が、光ファイバアレイ７０上の異なる
２点、即ち、異なる光ファイバに入射するので、光電子
増倍管を付ける光ファイバを選ぶことにより、λｏｎ、
λｏｆｆを任意に設定できる。
された後方散乱光が、光ファイバアレイ７０上の異なる
２点、即ち、異なる光ファイバに入射するので、光電子
増倍管を付ける光ファイバを選ぶことにより、λｏｎ、
λｏｆｆを任意に設定できる。
【００３０】他の点については、前記第１実施形態と同
様であるので、説明は省略する。
様であるので、説明は省略する。
【００３１】なお、前記実施形態においては、いずれも
測定対象波長が２波長とされていたが、測定対象波長の
数は２に限定されず、３波長以上の多波長にも同様に対
応できることは明らかである。特に、第２実施形態にお
いては、光ファイバアレイ７０はそのままとして、その
出射口７４側に接続する光電子増倍管を増やすだけでよ
い。
測定対象波長が２波長とされていたが、測定対象波長の
数は２に限定されず、３波長以上の多波長にも同様に対
応できることは明らかである。特に、第２実施形態にお
いては、光ファイバアレイ７０はそのままとして、その
出射口７４側に接続する光電子増倍管を増やすだけでよ
い。
【００３２】又、前記実施形態においては、分光手段と
して、回折格子を備えた分光器が用いられていたが、分
光手段の種類はこれに限定されず、例えばプリズムを用
いたものでもよい。又、光検出手段も光電子増倍管に限
定されない。
して、回折格子を備えた分光器が用いられていたが、分
光手段の種類はこれに限定されず、例えばプリズムを用
いたものでもよい。又、光検出手段も光電子増倍管に限
定されない。
【００３３】
【発明の効果】本発明によれば、複数の波長について同
時に光の強度の時間変化を計測可能であり、且つ、計測
対象物質が固定されず、複数の測定対象物質に対応可能
な差分吸収ライダ計測装置を、比較的安価に構成でき
る。
時に光の強度の時間変化を計測可能であり、且つ、計測
対象物質が固定されず、複数の測定対象物質に対応可能
な差分吸収ライダ計測装置を、比較的安価に構成でき
る。
【図１】本発明の第１実施形態の要部構成を示す断面図
【図２】本発明の実施形態における光ファイバと光電子
増倍管の接続状態を示す断面図
増倍管の接続状態を示す断面図
【図３】第１実施形態で用いられている光ファイバの構
成を示す斜視図
成を示す斜視図
【図４】本発明の第２実施形態の要部構成を示す断面図
【図５】第２実施形態で用いられている光ファイバアレ
イを示す斜視図
イを示す斜視図
【図６】差分吸収ライダ計測の原理を説明するための、
ＮＯ2 の吸収スペクトルを示す線図
ＮＯ2 の吸収スペクトルを示す線図
【図７】差分吸収ライダ計測装置の全体構成を示す、一
部断面図を含むブロック線図
部断面図を含むブロック線図
【図８】前記差分吸収ライダ計測装置によって得られ
る、複数の波長における信号強度の時間変化の例を示す
線図
る、複数の波長における信号強度の時間変化の例を示す
線図
【図９】本発明の検討過程で行った比較例である分光器
とストリークカメラの組合せによって得られる波形の例
を示す線図
とストリークカメラの組合せによって得られる波形の例
を示す線図
１０…レーザ １２…オプトパラメトリック発振器（ＯＰＯ） １４…望遠鏡 ２０、２０ａ、２０ｂ…光電子増倍管 ４０…分光器 ４４…回折格子 ５０、５０ａ、５０ｂ…光ファイバ ５２、５２ａ、５２ｂ、７２…入射口 ５４、５４ａ、５４ｂ、７４…出射口 ５６…光ファイバコネクタ ７０…光ファイバアレイ
Claims (3)
- 【請求項１】計測対象物質による吸収に差のある複数の
波長を含む光を測定空間に伝搬させ、該複数の波長間で
の光の吸収量を比較することにより、計測対象物質の密
度分布を計測する差分吸収ライダ計測装置において、 測定空間を伝搬して来た光が入射される分光手段と、 該分光手段の出側で、測定対象波長の光がそれぞれ入射
される、複数の光ファイバと、 該光ファイバの出側で、該光ファイバを伝搬して来た光
の強度を測定する光検出手段とを備え、 前記複数の波長の光の強度の時間的な変化を、同時に検
出できるようにしたことを特徴とする差分吸収ライダ計
測装置。 - 【請求項２】請求項１において、前記光ファイバが測定
対象波長の数だけ用いられ、測定対象波長の変化に合わ
せて、前記分光手段に対する光ファイバ入射口の位置が
調整可能とされていることを特徴とする差分吸収ライダ
計測装置。 - 【請求項３】請求項１において、前記光ファイバとして
光ファイバアレイが用いられ、測定対象波長の変化に合
わせて、該当する光ファイバの出射口に、前記光検出手
段を接続するようにされていることを特徴とする差分吸
収ライダ計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23708397A JPH1183629A (ja) | 1997-09-02 | 1997-09-02 | 差分吸収ライダ計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23708397A JPH1183629A (ja) | 1997-09-02 | 1997-09-02 | 差分吸収ライダ計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1183629A true JPH1183629A (ja) | 1999-03-26 |
Family
ID=17010169
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23708397A Pending JPH1183629A (ja) | 1997-09-02 | 1997-09-02 | 差分吸収ライダ計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1183629A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107356939A (zh) * | 2017-09-11 | 2017-11-17 | 安徽科创中光科技有限公司 | 一种高低空双接收臭氧差分吸收激光雷达装置 |
| WO2018138766A1 (ja) * | 2017-01-24 | 2018-08-02 | 三菱電機株式会社 | レーザレーダ装置 |
-
1997
- 1997-09-02 JP JP23708397A patent/JPH1183629A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018138766A1 (ja) * | 2017-01-24 | 2018-08-02 | 三菱電機株式会社 | レーザレーダ装置 |
| JP6505343B2 (ja) * | 2017-01-24 | 2019-04-24 | 三菱電機株式会社 | レーザレーダ装置 |
| JPWO2018138766A1 (ja) * | 2017-01-24 | 2019-04-25 | 三菱電機株式会社 | レーザレーダ装置 |
| US11543524B2 (en) | 2017-01-24 | 2023-01-03 | Mitsubishi Electric Corporation | Laser radar device |
| CN107356939A (zh) * | 2017-09-11 | 2017-11-17 | 安徽科创中光科技有限公司 | 一种高低空双接收臭氧差分吸收激光雷达装置 |
| CN107356939B (zh) * | 2017-09-11 | 2020-01-14 | 安徽科创中光科技有限公司 | 一种高低空双接收臭氧差分吸收激光雷达装置 |
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