JPH1177519A - ウェーハ研磨装置 - Google Patents
ウェーハ研磨装置Info
- Publication number
- JPH1177519A JPH1177519A JP24133197A JP24133197A JPH1177519A JP H1177519 A JPH1177519 A JP H1177519A JP 24133197 A JP24133197 A JP 24133197A JP 24133197 A JP24133197 A JP 24133197A JP H1177519 A JPH1177519 A JP H1177519A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polishing
- wafer
- air
- slurry
- polishing cloth
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
ハを研磨することにより、ウェーハの研磨精度を向上さ
せる。 【解決手段】本発明は、ウェーハ50の周囲を包囲して
ウェーハ50と共に研磨布に押し付けられる環状部材2
8、62を設けている。この環状部材28、62の研磨
布16に接触する面には、スラリー23をウェーハ50
に向けて案内する溝29と、この溝29で案内されてき
たスラリー23を研磨布16に染み込ませるための平坦
面62Aとが形成されている。これにより、本発明は、
スラリー23が十分に染み込んだ研磨布16でウェーハ
50を研磨することができるので、ウェーハ50の研磨
精度が向上する。
Description
係り、特に化学的機械研磨法(CMP:ChemicalMechan
ical Polishing )によるウェーハ研磨装置に関する。
ェーハをキャリアで保持して研磨布に押し付けると共
に、キャリアと研磨布とを回転させながらキャリアと研
磨布との間に研磨液(スラリー)を供給してウェーハを
研磨している。前記スラリーは、キャリアと研磨布との
間に直接供給することが困難なため、スラリーを研磨布
上に供給して、研磨布の回転でキャリアと研磨布との間
に間接的に供給するようにしている。
ーハの周囲に環状部材を配置し、この環状部材の研磨布
に接触する面に、研磨液をウェーハに向けて案内する溝
を形成したものが提案されている。このウェーハ研磨装
置によれば、研磨布に供給した研磨液を前記溝によって
効率良くウェーハに供給することができる。
るウェーハ研磨装置において、ウェーハの研磨精度を向
上させるためには、スラリーを研磨布に十分に染み込ま
せることが重要である。しかしながら、環状部材を配置
した従来のウェーハ研磨装置では、溝によってスラリー
を効率良くウェーハに供給することができるが、スラリ
ーを研磨布に染み込ませることができないため、研磨精
度を向上させることができないという欠点がある。
たもので、スラリーを研磨布に十分に染み込ませること
によりウェーハの研磨精度を向上させることができるウ
ェーハ研磨装置を提供することを目的とする。
するために、ウェーハと研磨布との間に研磨液を供給す
ると共に、ウェーハと研磨布とを押し付けながら相対運
動させて、ウェーハを研磨するウェーハ研磨装置におい
て、前記ウェーハの周囲を包囲してウェーハと共に研磨
布に押し付けられる環状部材を設け、該環状部材の前記
研磨布に接触する面に、前記研磨液を環状部材の外側か
ら内側に向けて案内する溝と、該溝の内側終端に隣接し
た位置で該溝で案内されてきた研磨液を研磨布に染み込
ませる平坦面とを形成したことを特徴としている。
磨液がウェーハに向けて案内され、そして、溝で案内さ
れてきた研磨液は、環状部材の平坦面によって研磨布に
押し付けられて研磨布に染み込む。したがって、本発明
は、研磨液が十分に染み込んだ研磨布でウェーハを研磨
することができるので、研磨精度を向上させることがで
きる。
るウェーハ研磨装置の好ましい実施の形態について詳説
する。図1は、本発明の実施の形態のウェーハ研磨装置
の全体構成図である。同図に示すウェーハ研磨装置10
は、主として研磨定盤12とウェーハ保持ヘッド14と
から構成される。研磨定盤12は円盤状に形成され、そ
の上面には研磨布16が設けられている。また、研磨定
盤12の下部には、スピンドル18が連結され、このス
ピンドル18はモータ20の図示しない出力軸に連結さ
れている。前記研磨定盤12は、モータ20を駆動する
ことにより矢印A方向に回転され、その回転する研磨定
盤12の研磨布16上にノズル21からスラリー23が
供給される。
い昇降装置により上下移動され、研磨対象のウェーハを
ウェーハ保持ヘッド14にセットする際に上昇移動され
る。また、ウェーハ保持ヘッド14は、ウェーハを研磨
する際に下降移動されてウェーハを前記研磨布16に押
し付ける。図2は前記ウェーハ保持ヘッド14の縦断面
図である。同図に示すウェーハ保持ヘッド14は、ヘッ
ド本体22、キャリア24、ガイドリング26、研磨面
調整リング28、及びゴムシート30等から構成され
る。前記ヘッド本体22は円盤状に形成され、回転軸3
2に連結された図示しないモータによって矢印B方向に
回転される。また、ヘッド本体22にはエア供給路3
4、36が形成されている。前記エア供給路34は、図
2上二点鎖線で示すようにウェーハ保持ヘッド14の外
部に延設され、レギュレータ(R:regulator )38A
を介してエアポンプ(AP:air pnmp)40に接続され
る。また、エア供給路36は、レギュレータ38Bを介
してポンプ40に接続されている。
てヘッド本体22の下部にヘッド本体22と同軸上に配
置されている。また、キャリア24の下面には凹部25
が形成され、この凹部25に通気性を有する多孔質板4
2が収納されている。多孔質板42の上方には空気室2
7が形成され、この空気室27には、キャリア24に形
成されたエア吸引路44が連通されている。エア吸引路
44は、図2上二点鎖線で示すようにウェーハ保持ヘッ
ド14の外部に延設されて、サクションポンプ(SP:
suction pump) 46に接続されている。したがって、サ
クションポンプ46を駆動すると、ウェーハ50が多孔
質板42に吸引されて、多孔質板42の下面に吸着保持
される。前記多孔質板42は、内部に多数の通気路を有
するものであり、例えば、セラミック材料の焼結体より
なるものが用いられている。
面に噴出口が形成された多数のエア供給路48、48…
(図2では2ヵ所のみ図示)が形成されている。このエ
ア供給路48、48…は、図2上二点鎖線で示すように
ウェーハ保持ヘッド14の外部に延設され、レギュレー
タ38Cを介してポンプ40に接続されている。したが
って、ポンプ40からの圧縮エアは、エア供給路48、
48…を介して多孔質板42とウェーハ50との間の空
気室51に噴き出される。これにより、空気室51には
圧力エア層が形成され、この圧力エア層を介してキャリ
ア24の押圧力がウェーハ50に伝達される。この圧力
エア層を介して伝達された前記押圧力によって、ウェー
ハ50が研磨布16に押し付けられる。
面に噴出口が形成された多数のエア/ウォータ供給路5
2、52…(図2では2ヵ所のみ図示)が形成される。
このエア/ウォータ供給路52、52…は、図2上二点
鎖線で示すようにウェーハ保持ヘッド14の外部に延設
され、バルブ54を介して二方向に分岐されている。一
方の分岐路には、レギュレータ38Dを介してエアポン
プ40が接続され、他方の分岐路にはウォータポンプ
(WP:water pnmp)56が接続されている。したがっ
て、前記バルブ54でエアポンプ40側の経路を開に、
ウォータポンプ56側の経路を閉にすると、エアポンプ
40からの圧縮エアがエア/ウォータ供給路52、52
…を介して前記空気室51に供給される。また、バルブ
54を切り替えてエアポンプ40側の経路を閉に、ウォ
ータポンプ56側の経路を開にすると、ウォータポンプ
56からのウォータがエア/ウォータ供給路52、52
…を介して前記空気室51に供給される。
間には1枚のゴムシート30が配置されている。このゴ
ムシート30は、均一な厚さで円盤状に形成される。ま
た、ゴムシート30は、環状の止め金58によってヘッ
ド本体22の下面に固定され、ゴムシート30は止め金
58を境として中央部30Aと外周部30Bとに2分さ
れている。ゴムシート30の中央部30Aはキャリア2
4を押圧し、外周部30Bは研磨面調整リング28を押
圧する。
0の中央部30Aと止め金58とによって密閉される空
間60が形成される。この空間60に、前記エア供給路
36が連通されている。したがって、エア供給路36か
ら空間60に圧縮エアを供給すると、ゴムシート30の
中央部30Aがエア圧で弾性変形されてキャリア24の
上面を押圧する。これにより、研磨布16に対するウェ
ーハ50の押し付け力を得ることができる。また、エア
圧をレギュレータ38Bで調整すれば、ウェーハ50の
押し付け力を制御することができる。
れてヘッド本体22の下部にヘッド本体22と同軸上に
配置される。また、ガイドリング26は、ゴムシート3
0を介してヘッド本体22に固定されている。ガイドリ
ング26とキャリア24との間には、研磨面調整リング
(環状部材)28が配置されている。研磨面調整リング
28の下部内周部には、ウェーハ50の飛び出しを防止
するリテーナリング(環状部材)62が取り付けられて
いる。この研磨面調整リング28とリテーナリング62
については後述する。
ッド本体22とゴムシート30の外周部30B等によっ
て密閉される環状の空間64が形成される。この空間6
4に、前記エア供給路34が連通されている。したがっ
て、エア供給路34から空間64に圧縮エアを供給する
と、ゴムシート30の外周部30Bがエア圧で弾性変形
されて研磨面調整リング28の環状上面を押圧する。こ
れにより、研磨面調整リング28の環状下面(研磨布1
6との接触面)とリテーナリング62の環状下面(研磨
布16との接触面)とが研磨布16に押し付けられる。
なお、研磨面調整リング28及びリテーナリング62の
押し付け力は、レギュレータ38Aでエア圧を調整する
ことにより制御することができる。
リング62の斜視図である。同図に示すように、研磨面
調整リング28の研磨布との接触面28Aには複数本の
溝29、29…が形成されている。この溝29は図4に
示すように、等間隔で向心方向に対して傾斜して形成さ
れると共に、図上矢印で示す研磨面調整リング28の回
転により、スラリーをウェーハに向けて案内する方向に
形成されている。これにより、研磨布上に供給されたス
ラリーは、前記溝29、29…によってウェーハに向け
て案内される。また、リテーナリング62の研磨布との
接触面62Aは、平坦に形成されている。これにより、
前記溝29に案内されてきたスラリーは、リテーナリン
グ62の平坦な接触面62Aによって研磨布に押し付け
られて研磨布に染み込む。本実施の形態では、研磨面調
整リング28に溝29を形成し、リテーナリング62に
平坦面を形成したが、これに限られるものではなく、一
体に形成した環状部材に溝と平坦面を形成しても良い。
ッド14には、ウェーハ50の研磨量を検出する検出装
置が設けられている。この検出装置は、コア66とボビ
ン68とから成るセンサ70と非接触式センサ72、7
2、72とから構成され、また、これらのセンサ70、
72、72、72で検出された検出値を演算処理する図
示しないCPUがウェーハ保持ヘッド14の外部に備え
られている。
整リング28の内側面からウェーハ保持ヘッド14の回
転軸方向に延設されたアーム76の先端部に取り付けら
れる。また、センサ70のコア66は、キャリア24の
上面で且つコア66の中心軸がウェーハ保持ヘッド14
の回転軸と同軸になる位置に設けられている。このセン
サ70は、研磨面調整リング28の下面に対する、即ち
ウェーハ50の研磨面に対するキャリア24の上下方向
の変動量を検出する。なお、前記キャリア24には、前
記アーム76を挿入するための溝78が形成されてい
る。
磨量は概ね検出できるが、本実施の形態では、前記セン
サ70で検出された検出値を、前記センサ72、72、
72で検出された検出値で補正することによりウェーハ
50の研磨量を正確に得るようにしている。前記センサ
72は、容量センサ等の非接触センサであり、その検出
面72aが多孔質板42の下面と面一に配置され、ウェ
ーハ50の上面との距離を検出することにより、圧力エ
ア層(空気室51)の層厚の変動量を検出している。
されたキャリア24の変動量から、センサ72、72、
72で検出された圧力エア層の層厚の変動量を加算する
ことによりウェーハ50の研磨量を算出する。即ち、C
PUは、予め記憶されている基準値に対する変動量から
ウェーハ50の研磨量を算出する。例えば、センサ70
で検出された変動量がT1で、センサ72、72、72
で検出された変動量の平均値がT2であると、その時の
ウェーハ50の研磨量をT1+T2で算出する。また、
センサ70からの変動量がT1で、センサ72、72、
72からの変動量の平均値がOであると、その時のウェ
ーハ50の研磨量をT1−0で算出する。更に、センサ
70からの変動量がT1で、センサ72、72、72か
らの変動量の平均値が−T2であると、その時のウェー
ハ50の研磨量をT1−T2で算出する。このように、
本実施の形態では、センサ70、72を設けて2つの変
動量から研磨量を演算するようにしたので、ウェーハ5
0の研磨量を正確に測定することができる。
装置10の作用について説明する。まず、ウェーハ保持
ヘッド14を上昇させた後、サクションポンプ46を駆
動して研磨対象のウェーハ50を多孔質板42に吸着保
持させる。次に、ウェーハ保持ヘッド14を下降させ
て、ウェーハ保持ヘッド14の研磨面調整リング28の
接触面28Aが研磨布16に当接した位置で下降移動を
停止する。そして、サクションポンプ46を停止して前
記ウェーハ50の吸着を解除し、ウェーハ50を研磨布
16上に載置する。
エア供給路48を介して空気室51に供給し、圧力流体
層を空気室51に形成する。そして、ポンプ40からの
圧縮エアを、エア供給路36を介して空間60に供給
し、ゴムシート30の中央部30Aを内部エア圧により
弾性変形させてキャリア24を押圧し、前記圧力エア層
を介してウェーハ50を研磨布16に押し付ける。そし
て、レギュレータ38Bでエア圧を調整して内部エア圧
力を所望の圧力に制御し、研磨布16に対するウェーハ
50の押し付け力を一定に保持する。
給路34を介して空間64に供給し、ゴムシート30の
外周部30Bを内部エア圧により弾性変形させて研磨面
調整リング28を押圧し、研磨面調整リング28の接触
面28Aとリテーナリング62の平坦な接触面62Aと
を研磨布16に押し付ける。そして、レギュレータ38
Aでエア圧を調整して内部エア圧力を所望の圧力に制御
し、研磨布16に対する研磨面調整リング28及びリテ
ーナリング62の押し付け力を一定に保持する。この時
の押し付け力は、スラリーを研磨布16に染み込ませる
ことができる力に設定される。この後、研磨定盤12及
びウェーハ保持ヘッド14を回転させると共に、ノズル
21からスラリー23を供給してウェーハ50の研磨を
開始する。
リー23は、回転する研磨面調整リング28の溝29、
29…によってウェーハ50に向けて案内され、そし
て、溝29に案内されてきたスラリー23は、リテーナ
リング62の平坦な接触面62Aに押し付けられて研磨
布16に染み込む。したがって、ウェーハ50は、スラ
リー23が染み込んだ研磨布16で研磨されるので、ウ
ェーハ50の研磨精度が向上し、また、研磨レートも向
上する。
量は、CPUによって算出されており、この算出された
ウェーハ50の研磨量が、予め設定された研磨目標値に
達した時に研磨終了信号を出力して、ウェーハ研磨装置
10を停止する。これにより、1枚のウェーハ50の研
磨が終了する。そして、2枚目以降のウェーハ50を研
磨する場合には、前述した工程を繰り返せば良い。
ハ研磨装置によれば、ウェーハの周囲を包囲する環状部
材を設け、この環状部材の研磨布に接触する面に、研磨
液をウェーハに向けて案内する溝と、この溝で案内され
てきた研磨液を研磨布に染み込ませる平坦面とを形成し
たので、研磨液が十分に染み込んだ研磨布でウェーハを
研磨することができる。よって、本発明は、研磨精度を
向上させることができる。
全体構造図
保持ヘッドの縦断面図
グのA部拡大図
Claims (1)
- 【請求項1】ウェーハと研磨布との間に研磨液を供給す
ると共に、ウェーハと研磨布とを押し付けながら相対運
動させて、ウェーハを研磨するウェーハ研磨装置におい
て、 前記ウェーハの周囲を包囲してウェーハと共に研磨布に
押し付けられる環状部材を設け、該環状部材の前記研磨
布に接触する面に、前記研磨液を環状部材の外側から内
側に向けて案内する溝と、該溝の内側終端に隣接した位
置で該溝で案内されてきた研磨液を研磨布に染み込ませ
る平坦面とを形成したことを特徴とするウェーハ研磨装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24133197A JP3220937B2 (ja) | 1997-09-05 | 1997-09-05 | ウェーハ研磨装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24133197A JP3220937B2 (ja) | 1997-09-05 | 1997-09-05 | ウェーハ研磨装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1177519A true JPH1177519A (ja) | 1999-03-23 |
JP3220937B2 JP3220937B2 (ja) | 2001-10-22 |
Family
ID=17072716
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24133197A Expired - Fee Related JP3220937B2 (ja) | 1997-09-05 | 1997-09-05 | ウェーハ研磨装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3220937B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002124492A (ja) * | 2000-10-16 | 2002-04-26 | Nec Corp | 半導体製造装置 |
US6435955B2 (en) | 1999-12-17 | 2002-08-20 | Fujikoshi Machinery Corp. | Abrasive machine |
JP2006511801A (ja) * | 2002-12-23 | 2006-04-06 | ラム リサーチ コーポレーション | 相補的なセンサを用いた測定処理制御のための方法および装置 |
-
1997
- 1997-09-05 JP JP24133197A patent/JP3220937B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6435955B2 (en) | 1999-12-17 | 2002-08-20 | Fujikoshi Machinery Corp. | Abrasive machine |
JP2002124492A (ja) * | 2000-10-16 | 2002-04-26 | Nec Corp | 半導体製造装置 |
JP2006511801A (ja) * | 2002-12-23 | 2006-04-06 | ラム リサーチ コーポレーション | 相補的なセンサを用いた測定処理制御のための方法および装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3220937B2 (ja) | 2001-10-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0896858B1 (en) | Wafer polishing apparatus | |
KR100508529B1 (ko) | 웨이퍼 연마장치 | |
KR100279352B1 (ko) | 리테이너 링 부착 웨이퍼 연마장치 | |
US7189139B2 (en) | Polishing apparatus | |
KR19980080996A (ko) | 연마장치 | |
KR101679131B1 (ko) | 웨이퍼 연마장치 및 그 연마방법 | |
JP3220937B2 (ja) | ウェーハ研磨装置 | |
US6080049A (en) | Wafer polishing apparatus | |
JP2005288664A5 (ja) | ||
JP2940613B2 (ja) | ウェーハ研磨装置 | |
JP2973404B2 (ja) | ウェーハ研磨装置 | |
JP2973403B2 (ja) | ウェーハ研磨装置 | |
JP2002018709A (ja) | ウェーハ研磨装置 | |
JPH11129154A (ja) | 半導体ウェーハの研磨装置 | |
JP2000015559A (ja) | ウェーハ研磨装置 | |
JP2940614B2 (ja) | ウェーハ研磨装置 | |
JPH1148136A (ja) | ウェーハ研磨装置 | |
JP3680894B2 (ja) | ウェーハ研磨装置のウェーハ保持方法 | |
JP3731411B2 (ja) | ウェーハ研磨装置 | |
KR101559278B1 (ko) | 화학 기계적 연마 장치의 저압 컨디셔너 | |
JP2001121409A (ja) | ウェーハ研磨用ヘッド及びこれを用いた研磨装置 | |
JP3069954B2 (ja) | ウェーハ研磨装置 | |
JP2002210653A (ja) | 平面研磨装置及び平面研磨方法 | |
JP2002217146A (ja) | ウェーハ研磨装置 | |
JPH1142555A (ja) | 機械的プラナリゼーションポリシングにおける加工終点検出制御方法とその装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080817 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080817 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090817 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090817 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100817 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110817 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110817 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120817 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |