JPH1176719A - Air cleaning filter - Google Patents

Air cleaning filter

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JPH1176719A
JPH1176719A JP9267784A JP26778497A JPH1176719A JP H1176719 A JPH1176719 A JP H1176719A JP 9267784 A JP9267784 A JP 9267784A JP 26778497 A JP26778497 A JP 26778497A JP H1176719 A JPH1176719 A JP H1176719A
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filter
synthetic zeolite
air purification
support
inorganic adsorbent
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総一郎 阪田
Hideto Takahashi
秀人 高橋
Katsumi Sato
克己 佐藤
Takao Okada
孝夫 岡田
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  • Separation Of Gases By Adsorption (AREA)
  • Filtering Of Dispersed Particles In Gases (AREA)
  • Solid-Sorbent Or Filter-Aiding Compositions (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an air cleaning filter which excels in disaster prevention and does not cause lowering of humidity and can be used in a space of high purity in which substrates or the like can be prevented from being contaminated by organic matter. SOLUTION: In an air cleaning filter 11, adjacent to a first filter part 11a provided with synthetic zeolite and having air permeability on the upstream side or the downstream side thereof, a second filter part 11b having property of adsorbing gaseous organic impurities and provided with inorganic adsorbent having effective fine pore diameter larger than that of the synthetic zeolite and having air permeability is arranged. The effective fine diameter of the synthetic zeolite is not less than 7 Å, and in the inorganic adsorbent of the second filter part 11b, it is preferable that the total volume of fine pores distributing in the range of 15-300 Å is not less than 0.2 cc/g or that the specific surface area of the inorganic adsorbent is not less than 100 m<2> /g.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は,半導体素子(L
SI)や液晶ディスプレイ(LCD)の製造時に,品質
低下の原因となる空気雰囲気中のガス状有機不純物を除
去する機能を有する空気浄化フィルタに関する。
The present invention relates to a semiconductor device (L
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an air purification filter having a function of removing gaseous organic impurities in an air atmosphere, which cause deterioration in quality during the production of SI) and a liquid crystal display (LCD).

【0002】[0002]

【従来の技術】今日,半導体やLCDパネル等の製造に
清浄装置が広く利用されている。例えばベアウェハから
1MDRAMチップを製造するまでに至る半導体製造ラ
インは約200程度の工程を含んでおり,また,素ガラ
スから9.4型TFTに至るLCDパネル製造ラインは
約80程度の工程を含んでいる。これらの製造ラインに
おいて,ウェハやガラス基板を各プロセスに常に連続的
に流すことは困難である。例えば,TFT−LCDの製
造ラインでは,前工程で回路が一通り形成された半製品
基板は,後工程に移送されるまでに数時間〜数十時間を
搬送容器(キャリア)内又は保管庫(ストッカ)内に
て,清浄装置雰囲気に曝しながら待機させている。
2. Description of the Related Art Today, cleaning devices are widely used for manufacturing semiconductors, LCD panels, and the like. For example, a semiconductor manufacturing line from a bare wafer to the manufacture of 1MDRAM chips includes about 200 steps, and an LCD panel manufacturing line from elementary glass to a 9.4-type TFT includes about 80 steps. I have. In these production lines, it is difficult to always continuously flow a wafer or a glass substrate through each process. For example, in a TFT-LCD manufacturing line, a semi-finished substrate on which a single circuit is formed in a previous process takes several hours to several tens of hours in a transfer container (carrier) or a storage (transfer) before being transferred to a subsequent process. Inside the stocker), it stands by while exposing it to the atmosphere of the cleaning device.

【0003】このように,半導体基板やLCD基板を通
常の清浄装置雰囲気中に長時間放置すると,それらの表
面には清浄装置雰囲気由来の有機物が付着する。そし
て,半導体基板であるシリコンウェハに有機物が付着し
た場合には,次のような不都合を生じる。即ち,有機物
が付着した状態でウェハ表面に絶縁酸化膜(SiO2
を形成すると,有機物中の炭素成分が絶縁酸化膜(Si
2)中に取り込まれることにより,絶縁酸化膜の絶縁
耐圧が大幅に低下したり,リーク電流も大幅に増大す
る。また,シリコンウェハ表面への有機物の吸着によ
り,レジスト膜の密着性が悪くなり,露光・エッチング
不良を起こし,正確なパターン形成ができなくなる恐れ
がある。加えて,ウェハの表面抵抗率が上昇してウェハ
の帯電が生じやすくなり,気中に浮遊している微粒子が
ウェハ表面に静電吸着しやすくなってより絶縁破壊が起
きやすくなる。更に,清浄装置雰囲気中に含まれた有機
不純物によって,露光装置などの光学系レンズやミラー
等に曇りによる光学効率の低下を生じてしまう。これ
は,清浄装置雰囲気中に含まれた有機不純物が光学機器
の紫外線により光化学反応を起こしその生成物が表面に
付着するいわゆる光CVD反応である。また,雰囲気由
来の有機物がLCD基板であるガラス基板に付着した状
態でその表面上に薄膜トランジスタ(TFT)用のアモ
ルファスシリコン(a−Si)を成膜した場合は,ガラ
ス基板とa−Si膜の密着不良を生じてしまう。このよ
うに,清浄装置雰囲気由来の有機物は,半導体素子やL
CDの製造に悪影響を及ぼす。
As described above, when a semiconductor substrate or an LCD substrate is left in a normal cleaning device atmosphere for a long time, organic substances derived from the cleaning device atmosphere adhere to their surfaces. When an organic substance adheres to a silicon wafer as a semiconductor substrate, the following inconvenience occurs. That is, an insulating oxide film (SiO 2 ) is formed on the wafer surface with the organic substance attached.
When carbon is formed, the carbon component in the organic matter becomes an insulating oxide film (Si
By being taken into O 2 ), the withstand voltage of the insulating oxide film is greatly reduced, and the leak current is greatly increased. In addition, the adhesion of the organic substance to the surface of the silicon wafer deteriorates the adhesiveness of the resist film, which may cause exposure and etching defects, thereby making it impossible to form an accurate pattern. In addition, the surface resistivity of the wafer is increased, and the wafer is likely to be charged, and the fine particles floating in the air are easily electrostatically attracted to the wafer surface, so that the dielectric breakdown is more likely to occur. Further, the organic impurities contained in the atmosphere of the cleaning apparatus cause the optical lenses and mirrors of the exposure apparatus and the like to have low optical efficiency due to fogging. This is a so-called photo-CVD reaction in which organic impurities contained in the atmosphere of the cleaning device cause a photochemical reaction by the ultraviolet rays of the optical equipment, and the products adhere to the surface. In the case where amorphous silicon (a-Si) for a thin film transistor (TFT) is formed on the surface of a glass substrate which is an LCD substrate while organic substances derived from the atmosphere adhere to the glass substrate, the glass substrate and the a-Si film are formed. Poor adhesion results. As described above, the organic matter derived from the atmosphere of the cleaning device is a semiconductor element or L
Affects CD manufacturing.

【0004】一方,基板の表面に付着した有機物を,例
えば紫外線/オゾン洗浄などの洗浄技術によって除去す
ることも可能である。しかし,基板一枚当たりの洗浄時
間は数分間も要し,頻繁に洗浄することは生産性の低下
を招く。このように,特に最近では,金属不純物やパー
ティクルによる基板の汚染に加えて,清浄装置雰囲気中
に存在する有機不純物が半導体製造に及ぼす影響が問題
視されている。例えば,米国のSEMATECHが19
95年5月31日に発表したTechnology T
ransfer #95052812A−TR「For
ecast of Airborne Molecul
ar Contamination Limits f
or the 0.25 Micron High P
erformance Logic Process」
には,表1に示すように,ウェハ表面の有機物汚染制御
レベル(表面汚染の許容値)が記載されている。この記載
によると,1998年には前工程で5×1013炭素原子
個数/cm2,後工程で1×1015炭素原子個数/cm2
の制御が必要とされている。
On the other hand, organic substances adhering to the surface of the substrate can be removed by a cleaning technique such as ultraviolet / ozone cleaning. However, the cleaning time per substrate requires several minutes, and frequent cleaning lowers productivity. As described above, particularly in recent years, in addition to the contamination of the substrate by metal impurities and particles, the influence of organic impurities present in the atmosphere of the cleaning apparatus on semiconductor production has been regarded as a problem. For example, US SEMATECH is 19
Technology T announced on May 31, 1995
transfer # 95052812A-TR "For
ecast of Airborne Molecul
ar Containment Limits f
or the 0.25 Micron High P
performance Logic Process "
Table 1 shows the control level of organic contamination on the wafer surface (the allowable value of surface contamination) as shown in Table 1. According to the description, 5 × 10 13 carbon atoms in the previous step in 1998 number / cm 2, 1 × 10 15 carbon atoms number in a subsequent step / cm 2
Control is needed.

【0005】[0005]

【表1】 [Table 1]

【0006】そこで従来より,清浄装置雰囲気中に含ま
れるガス状有機不純物を除去するための装置として,活
性炭を用いてガス状の有機不純物を吸着して除去するケ
ミカルフィルタが使用されている。そして,活性炭を用
いたケミカルフィルタの最も簡素な形式として,所定の
ケースなどに粒状活性炭を詰め込んだ構成の充填筒が知
られている。また,その他の形式として,繊維状活性炭
を低融点ポリエステルやポリエステル不織布の有機バイ
ンダと複合してフェルト形状にした構成のケミカルフィ
ルタや,粒状活性炭をウレタンフォームや不織布に接着
剤で強固に付着させたブロック形状およびシート形状の
ケミカルフィルタも知られている。
[0006] Conventionally, as an apparatus for removing gaseous organic impurities contained in the atmosphere of a cleaning apparatus, a chemical filter for adsorbing and removing gaseous organic impurities using activated carbon has been used. As a simplest form of a chemical filter using activated carbon, a filling cylinder having a configuration in which granular activated carbon is packed in a predetermined case or the like is known. In addition, as other types, a chemical filter composed of fibrous activated carbon and a felt-shaped composite compounded with an organic binder of low-melting polyester or polyester non-woven fabric, or granular activated carbon is firmly attached to urethane foam or non-woven fabric with an adhesive. Block-shaped and sheet-shaped chemical filters are also known.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】例えば,天井面が清浄
空気の吹き出し面となっているクリーンルームの場合に
ついていえば,天井に取り付けられている粒子除去用フ
ィルタの上流側にケミカルフィルタを配置することが,
クリーンルームの空気雰囲気中のガス状有機不純物を除
去するために極めて有効な手段である。しかし,活性炭
は消防法において指定された可燃物であり,火気には厳
重な注意が必要である。このため,防災上の観点から,
活性炭を使用したケミカルフィルタは天井に配置し難
い。
For example, in the case of a clean room in which the ceiling surface is a surface from which clean air is blown out, a chemical filter is arranged upstream of the particle removal filter mounted on the ceiling. But,
This is an extremely effective means for removing gaseous organic impurities in the air atmosphere of a clean room. However, activated carbon is a flammable substance specified by the Fire Service Act, and strict attention must be paid to fire. Therefore, from the viewpoint of disaster prevention,
Chemical filters using activated carbon are difficult to place on the ceiling.

【0008】また,LSIやLCDの製造に利用される
清浄装置は,通常,温度23〜25℃,相対湿度(45
±10)%の雰囲気に保たれる。しかし,活性炭は弱い
疎水性であるから,ガス状有機不純物のみならず空気中
の水分も相当に吸着する。しかも活性炭は,相対湿度が
少し増加するだけで空気中の水分吸着量も急激に増加す
る。例えば,水分をほとんど吸着していない未使用の活
性炭を内部が乾燥雰囲気の容器に保管しておき,その活
性炭をいきなり温度23〜25℃,相対湿度50%のク
リーンルーム雰囲気に曝すと,活性炭が吸着飽和に達す
るまで空気中の水分を多量に吸着することになってしま
う。このため,清浄装置への給気側に未使用の活性炭を
添着したケミカルフィルタを取り付けた場合は,ケミカ
ルフィルタの上流側において所定の相対湿度に調節して
も,ケミカルフィルタに使用されている活性炭が空気中
の水分を多量に吸着するので,清浄装置内の相対湿度が
所定の値よりも低くなってしまう。湿度の低下は静電気
の発生を容易にし,LSIやLCDの製造に支障をきた
す。この問題を解決するためには,活性炭を添着したケ
ミカルフィルタの製造業者は,このケミカルフィルタの
出荷先である顧客のクリーンルーム雰囲気の温湿度を出
荷前に調査し,その温湿度に見合った水分をわざとケミ
カルフィルタの活性炭に吸着させ,密封梱包の上出荷す
るという面倒な作業をする必要がある。
[0008] A cleaning apparatus used for manufacturing LSIs and LCDs usually has a temperature of 23 to 25 ° C and a relative humidity (45 ° C).
± 10)% atmosphere is maintained. However, since activated carbon is weakly hydrophobic, it absorbs not only gaseous organic impurities but also moisture in the air. In addition, activated carbon rapidly increases the amount of water adsorbed in the air when the relative humidity increases only slightly. For example, unused activated carbon that has almost no water adsorption is stored in a container with a dry atmosphere inside, and the activated carbon is suddenly exposed to a clean room atmosphere at a temperature of 23 to 25 ° C. and a relative humidity of 50%. Until saturation is reached, a large amount of moisture in the air will be adsorbed. Therefore, if a chemical filter impregnated with unused activated carbon is attached to the air supply side to the cleaning device, the activated carbon used in the chemical filter can be adjusted even if the relative humidity is adjusted to a predetermined value upstream of the chemical filter. Absorbs a large amount of moisture in the air, so that the relative humidity in the cleaning device becomes lower than a predetermined value. The decrease in humidity facilitates the generation of static electricity and hinders the manufacture of LSIs and LCDs. In order to solve this problem, the manufacturer of the chemical filter impregnated with activated carbon must investigate the temperature and humidity of the clean room atmosphere of the customer to whom this chemical filter is shipped before shipping, and determine the water content that matches the temperature and humidity. It is necessary to perform the troublesome work of intentionally adsorbing the activated carbon in the chemical filter and shipping it in a sealed package.

【0009】そして,充填筒形式の従来のケミカルフィ
ルタは,有機物の吸着効率は高いが,圧力損失(通気抵
抗)が高いという欠点を有する。一方,フェルト形状や
シート形状の従来のケミカルフィルタは優れた通気性が
あり,吸着効率も充填筒とさほど劣らない。しかし,そ
れらの多くは,元々居住環境の有害ガスや悪臭を除去す
るために開発され,そのままケミカルフィルタに転用し
たものである。その性能仕様は居住環境の分野に合わせ
てあるため,半導体素子(LSI)や液晶ディスプレイ
(LCD)の製造時の基板表面汚染の原因となる極微量
のガス状有機不純物を除去する空気浄化フィルタとして
利用するためには性能仕様上の無理があった。つまり,
濾材(例えば,不織布,有機バインダなど)や,活性炭
をシートに付着させている接着剤(例えば,ネオプレン
系樹脂,ウレタン系樹脂,エポキシ系樹脂,シリコン系
樹脂など)や,濾材を周囲のフレームに固着するために
用いるシール材(例えばネオプレンゴムやシリコンゴム
等)などから発生したガス状有機不純物がケミカルフィ
ルタ通過後の空気中に含まれてしまい,半導体の製造に
悪影響を与える可能性がある。さらに,これらフェルト
形状やシート形状のケミカルフィルタは,クリーンルー
ム雰囲気中に含まれるppbオーダの極微量有機不純物
を一旦は除去しておきながら,再びケミカルフィルタ自
身から発生したガス状有機不純物を通過空気中に混入さ
せてしまう。
The conventional chemical filter of the filling cylinder type has a high adsorbing efficiency for organic substances, but has a drawback of high pressure loss (ventilation resistance). On the other hand, the conventional chemical filter in the form of a felt or sheet has excellent air permeability, and the adsorption efficiency is not so inferior to that of the filled cylinder. However, many of them were originally developed to remove harmful gases and odors in the living environment, and were directly used as chemical filters. Since its performance specifications are adapted to the field of living environment, it is used as an air purification filter to remove trace amounts of gaseous organic impurities that cause substrate surface contamination when manufacturing semiconductor devices (LSI) and liquid crystal displays (LCD). There was no performance specification to use. That is,
Filter material (for example, non-woven fabric, organic binder, etc.), adhesive (for example, neoprene-based resin, urethane-based resin, epoxy-based resin, silicon-based resin, etc.) that attaches activated carbon to the sheet, and filter media to the surrounding frame Gaseous organic impurities generated from a sealing material (for example, neoprene rubber, silicon rubber, or the like) used for fixing may be included in air after passing through the chemical filter, which may adversely affect semiconductor manufacturing. Further, these felt-shaped and sheet-shaped chemical filters remove gaseous organic impurities generated from the chemical filter itself again in the passing air while removing trace organic impurities of the order of ppb contained in the clean room atmosphere. Mixed in.

【0010】この種の基板表面汚染防止のためのケミカ
ルフィルタに転用可能なフィルタとして特開昭61−1
03518号や特開平3−98611号に示されるもの
がある。前者は悪臭除去用に開発され,粉末活性炭とエ
マルジョン型接着剤と固体酸を含む水溶液をウレタンフ
ォームからなる基材に含浸させた後に乾燥させたフィル
タであるが,エマルジョン型接着剤として示される合成
ゴムラテックスやその他の水分散系の有機接着剤から,
また基材であるウレタンフォーム自体からもガス状有機
物の脱離が生じる。また,後者は健康被害をもたらす有
害ガスや悪臭の除去用に開発され,吸着剤に有機バイン
ダを併用することを必須要件とするが,この有機バイン
ダとしてポリエチレンその他の有機物が示され,フィル
タ自身からのガス状有機物の脱離が免れない。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-1 is a filter which can be used as a chemical filter for preventing contamination of the substrate surface of this kind.
No. 03518 and JP-A-3-98611. The former is a filter that was developed for removing odors and is a filter that is made by impregnating an aqueous solution containing powdered activated carbon, an emulsion-type adhesive, and a solid acid into a base material made of urethane foam and then drying it. From rubber latex and other water-dispersed organic adhesives,
Further, desorption of gaseous organic substances also occurs from urethane foam itself as a base material. The latter is developed for the removal of harmful gases and odors that cause health hazards, and requires the use of an organic binder in combination with the adsorbent. Polyethylene and other organic substances are shown as this organic binder, and the Desorption of gaseous organic matter is inevitable.

【0011】従って本発明の目的は,防災に優れ,かつ
湿度の低下が無く,しかも基板などの有機物汚染を防止
できる高度清浄空間で利用可能な空気浄化フィルタを提
供することにある。
Accordingly, an object of the present invention is to provide an air purification filter which is excellent in disaster prevention, does not cause a decrease in humidity, and can be used in a highly purified space which can prevent organic contamination of a substrate or the like.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに,請求項1の発明によれば,合成ゼオライトを備え
た通気性を有する第1のフィルタ部の上流側又は下流側
に隣接させて,ガス状有機不純物を吸着する性質を有
し,かつ前記合成ゼオライトの有効細孔径よりも大きな
有効細孔径を有する無機吸着剤を備えた通気性を有する
第2のフィルタ部を配置したことを特徴とする空気浄化
フィルタが提供される。この請求項1の空気浄化フィル
タは,可燃物である活性炭を使用していないので防災に
優れている。この請求項1の空気浄化フィルタによれ
ば,高度清浄装置内において循環している空気中のガス
状有機不純物を,湿度を低下させることなく除去するこ
とが可能となる。
In order to solve the above-mentioned problems, according to the first aspect of the present invention, a filter is provided adjacent to an upstream or downstream side of a gas-permeable first filter section provided with a synthetic zeolite. And a gas-permeable organic impurity, and a gas permeable second filter portion having an inorganic adsorbent having an effective pore diameter larger than the effective pore diameter of the synthetic zeolite. An air purifying filter is provided. The air purifying filter of the first aspect is excellent in disaster prevention because it does not use activated carbon which is a combustible material. According to the air purification filter of the present invention, it is possible to remove gaseous organic impurities in the air circulating in the advanced cleaning device without lowering the humidity.

【0013】この請求項1のフィルタ部において,請求
項2に記載したように,前記第1のフィルタ部が,支持
体の表面に合成ゼオライトを固着させた構成であり,前
記第2のフィルタ部が,支持体の表面に前記無機吸着剤
を固着させた構成であっても良い。この場合,例えば請
求項3に記載したように,前記第1のフィルタ部が,前
記合成ゼオライトを分散させた懸濁液に支持体を含浸さ
せた後に乾燥することで支持体表面に合成ゼオライトを
固着させた構成であり,前記第2のフィルタ部が,前記
無機吸着剤を分散させた懸濁液に支持体を含浸させた後
に乾燥することで支持体表面に無機吸着剤を固着させた
構成である。
According to the first aspect of the present invention, as described in the second aspect, the first filter section has a structure in which synthetic zeolite is fixed to a surface of a support, and the second filter section has However, a configuration in which the inorganic adsorbent is fixed to the surface of the support may be employed. In this case, for example, as described in claim 3, the first filter section impregnates the support with a suspension in which the synthetic zeolite is dispersed, and then dries the synthetic zeolite on the support surface. Wherein the second filter section impregnates the support with a suspension in which the inorganic adsorbent is dispersed, and then dries the support so that the inorganic adsorbent is fixed on the support surface. It is.

【0014】また,請求項4に記載したように,前記第
1のフィルタ部が,合成ゼオライトの粉末で形成したペ
レットを支持体に固着させた構成であり,前記第2のフ
ィルタ部が,前記無機吸着剤の粉末で形成したペレット
を支持体に固着させた構成であっても良い。
According to a fourth aspect of the present invention, the first filter section has a structure in which pellets made of synthetic zeolite powder are fixed to a support, and the second filter section has A configuration in which pellets formed of an inorganic adsorbent powder are fixed to a support may be used.

【0015】更に,請求項5に記載したように,通気性
を有する支持体を,該支持体の通気方向と交差する境界
面を境にして2つの領域に分割し,一方の領域において
支持体の表面に合成ゼオライトもしくは合成ゼオライト
の粉末で形成したペレットを固着させて第1のフィルタ
部を形成し,他方の領域において支持体の表面に無機吸
着剤もしくは無機吸着剤の粉末で形成したペレットを固
着させて第2のフィルタ部を形成した構成とすることも
できる。
Further, as described in claim 5, the support having air permeability is divided into two regions at a boundary surface intersecting the direction of air flow of the support, and the support is provided in one region. The first filter part is formed by fixing a pellet formed of synthetic zeolite or a powder of synthetic zeolite on the surface of the above, and the pellet formed of the inorganic adsorbent or the powder of the inorganic adsorbent on the surface of the support in the other region. It is also possible to adopt a configuration in which the second filter portion is formed by being fixed.

【0016】また,請求項6に記載したように,前記支
持体の表面に合成ゼオライトもしくは合成ゼオライトの
粉末で形成したペレットを固着させるに際し,及び/又
は,前記支持体の表面に無機吸着剤もしくは無機吸着剤
の粉末で形成したペレットを固着させるに際し,タル
ク,カオリン鉱物,ベントナイト,珪酸ソーダ,シリカ
又はアルミナの少なくとも1種からなる固着補助剤を使
用することが好ましい。
According to a sixth aspect of the present invention, when the synthetic zeolite or the pellet formed of the synthetic zeolite powder is fixed to the surface of the support, and / or the inorganic adsorbent or the inorganic adsorbent is adhered to the surface of the support. In fixing the pellets formed of the powder of the inorganic adsorbent, it is preferable to use a fixing aid comprising at least one of talc, kaolin mineral, bentonite, sodium silicate, silica and alumina.

【0017】請求項7に記載したように,前記第2のフ
ィルタ部の無機吸着剤は,例えばけいそう土,シリカ,
アルミナ,シリカとアルミナの混合物,珪酸アルミニウ
ム,活性アルミナ,多孔質ガラス,リボン状構造の含水
珪酸マグネシウム質粘土鉱物,活性白土,活性ベントナ
イトの少なくとも1種からなっていても良い。
[0017] As described in claim 7, the inorganic adsorbent of the second filter portion is, for example, diatomaceous earth, silica, or the like.
It may be composed of at least one of alumina, a mixture of silica and alumina, aluminum silicate, activated alumina, porous glass, hydrous magnesium silicate clay mineral having a ribbon-like structure, activated clay, and activated bentonite.

【0018】また,請求項8に記載したように,前記合
成ゼオライトの有効細孔径が7オングストローム以上で
あり,かつ前記第2のフィルタ部の無機吸着剤におい
て,15〜300オングストロームの範囲に分布する細
孔の総容積が重量当たり0.2cc/g以上であるか,
又は該無機吸着剤の細孔の比表面積が100m2/g以
上であっても良い。
Further, as set forth in claim 8, the synthetic zeolite has an effective pore diameter of 7 Å or more, and is distributed in the range of 15 to 300 Å in the inorganic adsorbent of the second filter portion. Whether the total volume of the pores is 0.2 cc / g or more per weight,
Alternatively, the specific surface area of the pores of the inorganic adsorbent may be 100 m 2 / g or more.

【0019】請求項9に記載したように,前記支持体
は,ハニカム構造体とすることができる。この場合,請
求項10に記載したように,前記ハニカム構造体は,無
機繊維を必須成分とする構造体であることが好ましい。
なお,本明細書において,ハニカム構造体とは,いわゆ
る蜂の巣構造の他,断面が格子状,波形状などであって
空気が構造体の要素となるセルを通過し得る構造であっ
ても良い。本発明では支持体はハニカム構造体に特定さ
れない。ロックウールなどの三次元網目構造体もまた支
持体として好適に利用できる。この場合には後述するよ
うに,網目構造の平面方向のみならず奥行き方向にも本
発明の吸着剤である合成ゼオライト又は無機吸着剤を固
着させる。
[0019] As described in claim 9, the support can be a honeycomb structure. In this case, it is preferable that the honeycomb structure is a structure including inorganic fibers as an essential component.
In the present specification, the honeycomb structure may have a so-called honeycomb structure, or may have a lattice-like or corrugated cross-section and allow air to pass through cells serving as elements of the structure. In the present invention, the support is not limited to the honeycomb structure. A three-dimensional network structure such as rock wool can also be suitably used as a support. In this case, as described later, the synthetic zeolite or the inorganic adsorbent, which is the adsorbent of the present invention, is fixed not only in the plane direction of the network structure but also in the depth direction.

【0020】また,請求項11に記載したように,前記
合成ゼオライトのペレットをケーシング内に充填して前
記第1のフィルタ部を構成し,前記無機吸着剤のペレッ
トを別のケーシング内に充填して前記第2のフィルタ部
を構成しても良い。
Further, as set forth in claim 11, the first filter section is formed by filling the pellets of the synthetic zeolite in a casing, and the pellets of the inorganic adsorbent are charged in another casing. Thus, the second filter unit may be configured.

【0021】更に,請求項12に記載したように,前記
合成ゼオライトは撥水性であることが好ましい。
Furthermore, as described in claim 12, the synthetic zeolite is preferably water-repellent.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下,添付図面を参照しながら本
発明の好ましい実施の形態にかかる空気浄化フィルタに
ついて詳細に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an air purification filter according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

【0023】図1は,本発明の実施の形態にかかる空気
浄化フィルタ11の斜視であり,(a),(b)は,分
解図と組立図をそれぞれ示している。この空気浄化フィ
ルタ11は,図1(a)に示すように,通過空気中のガ
ス状有機不純物を除去するための合成ゼオライトを含ん
だ第1のフィルタ部11aと,この第1のフィルタ部1
1aの合成ゼオライトでは除去できないガス状有機不純
物を除去するための,前記合成ゼオライトの有効細孔径
よりも大きな有効細孔径を有する無機吸着剤を備えた通
気性を有する第2のフィルタ部11bを備えている。図
1(b)に示すように,これら第1のフィルタ部11a
と第2のフィルタ部11bを互いに隣接するように重
ね,ガス状有機不純物の発生の少ないフッ素樹脂系パッ
キン39を間に挟んで,フランジ34をねじ止めするこ
とによって両者を連結する。こうして連結された空気浄
化フィルタ11の上流側と下流側には,図示しないダク
トなどへの接続フランジ20が形成されている。なお,
これら第1,2のフィルタ部11a,11bは,いずれ
も可燃物を含まない素材のみで構成され,かつガス状有
機物を発生しない素材のみで構成されている。
FIG. 1 is a perspective view of an air purification filter 11 according to an embodiment of the present invention, and (a) and (b) show an exploded view and an assembled view, respectively. As shown in FIG. 1A, the air purification filter 11 includes a first filter section 11a containing synthetic zeolite for removing gaseous organic impurities in passing air, and a first filter section 1a.
A second filter part 11b having an air permeability and an inorganic adsorbent having an effective pore diameter larger than the effective pore diameter of the synthetic zeolite for removing gaseous organic impurities which cannot be removed by the synthetic zeolite 1a. ing. As shown in FIG. 1B, these first filter units 11a
The second filter portion 11b and the second filter portion 11b are overlapped so as to be adjacent to each other, and the two members are connected to each other by screwing the flange 34 with a fluororesin-based packing 39 that generates less gaseous organic impurities therebetween. On the upstream side and the downstream side of the air purification filter 11 connected in this way, connection flanges 20 to ducts (not shown) are formed. In addition,
Each of the first and second filter portions 11a and 11b is made of only a material containing no combustible material, and is made of only a material that does not generate gaseous organic matter.

【0024】図2は,これら第1,2のフィルタ部11
a,11bの概略的な分解組立図である。第1,2のフ
ィルタ部11a,11bはいずれも同様の構成を有し,
隣接する波形シート30の間に,凹凸のない薄板シート
31を挟んだ構成のハニカム構造体32の表面全体に,
第1のフィルタ部11aでは合成ゼオライトが,第2の
フィルタ部11bでは該合成ゼオライトの有効細孔径よ
りも大きな有効細孔径を有する無機吸着剤がそれぞれ固
着されている。後述するように,合成ゼオライトの有効
細孔径は,7オングストローム以上であることが好まし
い。また,後述するように,無機吸着剤は,けいそう
土,シリカ,アルミナ,シリカとアルミナの混合物,珪
酸アルミニウム,活性アルミナ,多孔質ガラス,リボン
状構造の含水珪酸マグネシウム質粘土鉱物,活性白土,
活性ベントナイトの少なくとも1種からなることが好ま
しい。参考までに,これらの無機吸着剤の細孔物性を表
2に示す。
FIG. 2 shows the first and second filter sections 11.
It is a schematic exploded view of a and 11b. Each of the first and second filter units 11a and 11b has the same configuration,
The entire surface of a honeycomb structure 32 having a configuration in which a thin sheet 31 having no unevenness is sandwiched between adjacent corrugated sheets 30 is
In the first filter section 11a, synthetic zeolite is fixed, and in the second filter section 11b, an inorganic adsorbent having an effective pore diameter larger than that of the synthetic zeolite is fixed. As described later, the effective pore size of the synthetic zeolite is preferably 7 Å or more. As described later, the inorganic adsorbent includes diatomaceous earth, silica, alumina, a mixture of silica and alumina, aluminum silicate, activated alumina, porous glass, hydrated magnesium silicate clay mineral having a ribbon-like structure, activated clay,
It is preferred that it be made of at least one kind of activated bentonite. Table 2 shows the pore properties of these inorganic adsorbents for reference.

【0025】[0025]

【表2】 [Table 2]

【0026】図2に示すように,第1,2のフィルタ部
11a,11bは,いずれも処理空気の流通方向(図2
中,白抜き矢印33で示す方向)に開口するようにアル
ミニウム製の外枠35a,35b,35c,35dを筒
状に組み立て,その内部空間に,ハニカム構造体32を
配置することにより構成される。そして,第1のフィル
タ部11aでは,ハニカム構造体32の表面に合成ゼオ
ライトを固着し,第2のフィルタ部11bでは,ハニカ
ム構造体32の表面に該合成ゼオライトの有効細孔径よ
りも大きな有効細孔径を有する無機吸着剤を固着した構
成になっている。
As shown in FIG. 2, both of the first and second filter sections 11a and 11b are provided in the flow direction of the processing air (FIG. 2).
The outer frames 35a, 35b, 35c, and 35d made of aluminum are assembled in a cylindrical shape so as to open in the direction indicated by the hollow arrow 33 in the middle, and the honeycomb structure 32 is disposed in the internal space. . In the first filter portion 11a, synthetic zeolite is fixed on the surface of the honeycomb structure 32, and in the second filter portion 11b, the effective fine particle larger than the effective pore diameter of the synthetic zeolite is fixed on the surface of the honeycomb structure 32. The structure is such that an inorganic adsorbent having a pore diameter is fixed.

【0027】空気浄化フィルタ11の外形および寸法
は,設置空間に合わせて任意に設計変更することができ
る。また,合成ゼオライトを含む第1のフィルタ部11
aと,前述の無機吸着剤を含む第2のフィルタ部11b
は空気浄化フィルタ11の通気方向に対してどちらを上
流側に配置してもよい。
The external shape and dimensions of the air purification filter 11 can be arbitrarily changed according to the installation space. In addition, the first filter unit 11 containing synthetic zeolite
a and the second filter portion 11b containing the inorganic adsorbent described above.
May be arranged on the upstream side with respect to the ventilation direction of the air purification filter 11.

【0028】ここで,第1,2のフィルタ部11a,1
1bの製造方法の一例を簡単に説明する。無機繊維(セ
ラミック繊維,ガラス繊維,シリカ繊維,アルミナ繊維
等)と有機材料(パルプ,溶融ビニロンの混合物)と珪
酸カルシウムの3つの材料を1:1:1の等重量で配合
し,湿式抄紙法により約0.3mmの厚みに抄造する。
なお,珪酸カルシウムの代わりに,珪酸マグネシウムを
主成分とするセピオライト,アタパルジャイト等の粘土
鉱物を使用してもよい。この抄造シートをコルゲータに
よって波形加工し,出来上がった波形シート30を薄板
シート31に接着剤で接着して,図2に示すようなハニ
カム構造体32に成形する。このハニカム構造体32
を,電気炉に入れて,400℃,1時間の熱処理を行
い,有機質成分を全て除去し,ハニカム構造体32を多
孔性とする。つぎに第1のフィルタ部11aでは,合成
ゼオライトの粉末(数μm)と無機バインダ(シリカゾ
ル,アルミナゾル,珪酸ソーダ等)を分散させた懸濁液
に,また第2のフィルタ部11bでは,該合成ゼオライ
トの有効細孔径よりも大きな有効細孔径を有する無機吸
着剤(けいそう土,シリカ,アルミナ,シリカとアルミ
ナの混合物,珪酸アルミニウム,活性アルミナ,多孔質
ガラス,リボン状構造の含水珪酸マグネシウム質粘土鉱
物,活性白土,活性ベントナイトの少なくとも1種から
なる)の粉末(数μm)と無機バインダ(シリカゾル,
アルミナゾル,珪酸ソーダ等)を分散させた懸濁液に,
多孔性ハニカム構造体32を数分間浸した後,300
℃,1時間の熱処理で乾燥して,第1,2のフィルタ部
11a,11bをそれぞれ得ることができる。ただし,
シリカゾルやアルミナゾルは単分散のナノメータから数
十ナノメータの一次粒子を含む懸濁液であるが,支持体
の表面に固着して乾燥した状態では,一次粒子が集合し
た三次元凝集体であるシリカゲルやアルミナゲルに変化
する。したがって,シリカゾルやアルミナゾルの無機バ
インダのみの懸濁液に多孔性ハニカム構造体32を浸し
た後に乾燥しても,シリカゲルやアルミナゲルがハニカ
ム構造体32の表面に固着された第2のフィルタ部11
bを得ることができる。
Here, the first and second filter units 11a, 1
An example of the manufacturing method 1b will be briefly described. Inorganic fiber (ceramic fiber, glass fiber, silica fiber, alumina fiber, etc.), organic material (mixture of pulp and molten vinylon) and calcium silicate are blended at 1: 1: 1 equivalent weight, wet papermaking method To a paper thickness of about 0.3 mm.
Instead of calcium silicate, a clay mineral such as sepiolite or attapulgite mainly containing magnesium silicate may be used. The papermaking sheet is corrugated by a corrugator, and the completed corrugated sheet 30 is bonded to a thin sheet 31 with an adhesive to form a honeycomb structure 32 as shown in FIG. This honeycomb structure 32
Is placed in an electric furnace and subjected to a heat treatment at 400 ° C. for one hour to remove all organic components, thereby making the honeycomb structure 32 porous. Next, in the first filter portion 11a, the synthetic zeolite powder (several μm) and an inorganic binder (silica sol, alumina sol, sodium silicate, etc.) are dispersed, and in the second filter portion 11b, the synthetic zeolite is dispersed. Inorganic adsorbents having an effective pore size larger than that of zeolite (diatomaceous earth, silica, alumina, a mixture of silica and alumina, aluminum silicate, activated alumina, porous glass, hydrated magnesium silicate clay with a ribbon-like structure Powder (several μm) of mineral, activated clay, and activated bentonite) and inorganic binder (silica sol,
Alumina sol, sodium silicate, etc.)
After immersing the porous honeycomb structure 32 for several minutes,
The first and second filter portions 11a and 11b can be obtained by drying by a heat treatment at 1 ° C. for one hour. However,
Silica sol and alumina sol are suspensions containing monodispersed nanometers to tens of nanometers of primary particles. When they are fixed on the surface of the support and dried, silica gel, which is a three-dimensional aggregate of primary particles aggregated, Changes to alumina gel. Therefore, even if the porous honeycomb structure 32 is immersed in a suspension of only an inorganic binder of silica sol or alumina sol and then dried, the second filter portion 11 in which silica gel or alumina gel is fixed to the surface of the honeycomb structure 32 is formed.
b can be obtained.

【0029】これら第1,2のフィルタ部11a,11
bによって構成される空気浄化フィルタ11は,構成材
料に可燃物を含まないし,空気浄化フィルタが熱処理さ
れる際に構成材料に含まれていた表面汚染の原因となる
ガス状有機不純物成分が全て脱離・除去されるため,空
気浄化フィルタ自身からガス状有機不純物を発生するこ
ともない。
The first and second filter sections 11a, 11a
The air purifying filter 11 constituted by b does not contain any combustible materials in the constituent material, and removes all gaseous organic impurity components which cause surface contamination and contained in the constituent material when the air purifying filter is heat-treated. Since they are separated and removed, no gaseous organic impurities are generated from the air purification filter itself.

【0030】図3は,これら第1,2のフィルタ部11
a,11bの別の連結の状態を示すための,空気浄化フ
ィルタ11の概略的な分解組立図である。この図3に示
す空気浄化フィルタ11は,図2で説明したものよりも
長いアルミニウム製の外枠35a,35b,35c,3
5dを筒状に組み立て,その内部空間に,合成ゼオライ
トを表面に固着したハニカム構造体32aと,該合成ゼ
オライトの有効細孔径よりも大きな有効細孔径を有する
無機吸着剤を表面に固着したハニカム構造体32bの両
方を配置することにより構成される。この場合,ハニカ
ム構造体32a,32bは互いに密着して配置されてい
てもよいし,ハニカム構造体32a,32bが共通の筒
状のアルミニウム製の外枠35a,35b,35c,3
5dの内部空間において,互いに離れた状態で配置され
ていてもよい。図3では,ハニカム構造体32aと外枠
35a〜dで第1のフィルタ部11aが形成され,ハニ
カム構造体32bと外枠35a〜dで第2のフィルタ部
11bが形成される。
FIG. 3 shows the first and second filter sections 11.
FIG. 5 is a schematic exploded view of the air purification filter 11 for showing another connection state of the air purifying filter 11a and 11b. The air purifying filter 11 shown in FIG. 3 has an aluminum outer frame 35a, 35b, 35c, 3 longer than that described in FIG.
5d is assembled in a cylindrical shape, and a honeycomb structure 32a in which synthetic zeolite is fixed on the surface and an inorganic adsorbent having an effective pore diameter larger than the effective pore diameter of the synthetic zeolite are fixed in the inner space. It is constituted by arranging both of the bodies 32b. In this case, the honeycomb structures 32a and 32b may be arranged in close contact with each other, or the honeycomb structures 32a and 32b may share a common tubular aluminum outer frame 35a, 35b, 35c, 3
In the 5d internal space, they may be arranged apart from each other. In FIG. 3, the first filter portion 11a is formed by the honeycomb structure 32a and the outer frames 35a to 35d, and the second filter portion 11b is formed by the honeycomb structure 32b and the outer frames 35a to 35d.

【0031】図4は,他の実施の形態にかかる空気浄化
フィルタ11の構成を示す斜視図である。この実施の形
態では,通気性有する支持体であるハニカム構造体80
を,その通気方向83と交差する境界面を境にして2つ
の領域に分割し,一方の領域においてハニカム構造体8
0の表面に合成ゼオライトもしくは合成ゼオライトの粉
末で形成したペレットを固着させて第1のフィルタ部を
形成し,他方の領域においてハニカム構造体80の表面
に無機吸着剤もしくは無機吸着剤の粉末で形成したペレ
ットを固着させて第2のフィルタ部を形成している。こ
の実施の形態では,分割されていない一体化したハニカ
ム構造体80の通気方向83に対する上流側81の略半
分を前記合成ゼオライトを分散させた懸濁液に含浸させ
た後に乾燥して,ハニカム構造体80の上流側81の表
面に合成ゼオライトの無機材料層を形成し,さらにハニ
カム構造体80の通気方向83に対する下流側82の残
りの略半分を該合成ゼオライトの有効細孔径よりも大き
な有効細孔径を有する無機吸着剤(けいそう土,シリ
カ,アルミナ,シリカとアルミナの混合物,珪酸アルミ
ニウム,活性アルミナ,多孔質ガラス,リボン状構造の
含水珪酸マグネシウム質粘土鉱物,活性白土,活性ベン
トナイトの少なくとも1種からなる)を分散させた懸濁
液に含浸させた後に乾燥して下流側82の表面に該無機
吸着剤の無機材料層を形成したものである。合成ゼオラ
イトの無機材料層と前記無機吸着剤の無機材料層は,上
流側81と下流側82の境界付近で互いに重なってもよ
いし,また,上流側81と下流側82の境界付近には,
合成ゼオライトの無機材料層と前記無機吸着剤の無機材
料層のいずれも形成されないハニカム構造体80の元々
の下地が剥き出しになっていてもかまわない。このハニ
カム構造体80を,図3と同様に,筒状のアルミニウム
製の外枠で囲めば,本発明による空気浄化フィルタ11
が形成される。外枠で囲まれたハニカム構造体80の上
流側81の部分が第1のフィルタ部11aに相当し,外
枠で囲まれたハニカム構造体80の下流側82の部分が
第2のフィルタ部11bに相当する。この例において
も,合成ゼオライトを含む第1のフィルタ部11aと前
記無機吸着剤を含む第2のフィルタ部11bは空気浄化
フィルタ11の通気方向に対してどちらを上流側に配置
してもよい。
FIG. 4 is a perspective view showing the structure of an air purification filter 11 according to another embodiment. In this embodiment, a honeycomb structure 80 as a support having air permeability is used.
Is divided into two regions on the boundary surface intersecting with the ventilation direction 83, and the honeycomb structure 8 is divided into one region in one region.
The first filter portion is formed by fixing a pellet formed of synthetic zeolite or a powder of synthetic zeolite on the surface of the honeycomb structure 80, and the surface of the honeycomb structure 80 is formed of an inorganic adsorbent or a powder of an inorganic adsorbent on the other region. The second pellets are formed by fixing the pellets thus formed. In this embodiment, approximately half of the upstream side 81 of the undivided integrated honeycomb structure 80 with respect to the ventilation direction 83 is impregnated with a suspension in which the synthetic zeolite is dispersed, and then dried to form a honeycomb structure. An inorganic material layer of synthetic zeolite is formed on the surface of the upstream side 81 of the body 80, and the remaining half of the downstream side 82 with respect to the ventilation direction 83 of the honeycomb structure 80 is used for an effective fine pore larger than the effective pore diameter of the synthetic zeolite. Inorganic adsorbent having pore size (at least one of diatomaceous earth, silica, alumina, mixture of silica and alumina, aluminum silicate, activated alumina, porous glass, hydrous magnesium silicate clay mineral having a ribbon-like structure, activated clay, activated bentonite Of the inorganic adsorbent on the surface of the downstream side 82 after being impregnated with the suspension in which the inorganic adsorbent is dispersed. It is obtained by forming a. The inorganic material layer of the synthetic zeolite and the inorganic material layer of the inorganic adsorbent may overlap each other near the boundary between the upstream side 81 and the downstream side 82, or near the boundary between the upstream side 81 and the downstream side 82,
The original base of the honeycomb structure 80 on which neither the inorganic material layer of the synthetic zeolite nor the inorganic material layer of the inorganic adsorbent is formed may be exposed. As shown in FIG. 3, if this honeycomb structure 80 is surrounded by a cylindrical aluminum outer frame, the air purification filter 11 according to the present invention can be formed.
Is formed. The upstream portion 81 of the honeycomb structure 80 surrounded by the outer frame corresponds to the first filter portion 11a, and the downstream portion 82 of the honeycomb structure 80 surrounded by the outer frame corresponds to the second filter portion 11b. Is equivalent to Also in this example, whichever of the first filter portion 11a containing the synthetic zeolite and the second filter portion 11b containing the inorganic adsorbent may be arranged on the upstream side with respect to the ventilation direction of the air purification filter 11.

【0032】次に,第1,2のフィルタ部11a,11
bの他の製造方法の一例を簡単に説明する。ハニカム構
造体32を製作するまでは,先に説明した製造方法例と
同じである。前述の例では,多孔性となったハニカム構
造体32に合成ゼオライトの粉末(数μm)又は前記無
機吸着剤の粉末(数μm)を含浸させたが,本例では,
ハニカム構造体32にペレットに加工した粒状の合成ゼ
オライト又は粒状の前記無機吸着剤を接着剤で付着させ
る。図5は,本例における製造方法の空気浄化フィルタ
11の断面部分拡大図である。波形シート30と薄板シ
ート31の表面全体に隙間なく粒状の合成ゼオライト3
6a又は粒状の前記無機吸着剤36bを不燃性接着剤で
固着する。そして,このハニカム構造体32を,電気炉
に入れて,接着剤の耐熱温度以下の100℃で2時間の
熱処理を行い,接着剤に含まれる表面汚染の原因となる
ガス状有機不純物成分を全て脱離・除去することによ
り,空気浄化フィルタ11を製造する。処理空気は図5
に示す疑似半月形の断面形状をした筒状の空間37を通
過することになる。なお,図6に示すように,山形シー
ト38と薄板シート31を組み合わせて構成したハニカ
ム構造体32の表面全体に隙間なく粒状の合成ゼオライ
ト36a又は粒状の前記無機吸着剤36bを不燃性接着
剤で固着することにより,空気浄化フィルタ11を製造
しても良い。この図6の場合は,処理空気は三角形の断
面形状をした筒状の空間40通過することになる。
Next, the first and second filter sections 11a, 11a
An example of another manufacturing method b will be briefly described. Until the honeycomb structure 32 is manufactured, the manufacturing method is the same as the manufacturing method described above. In the above-described example, the porous honeycomb structure 32 was impregnated with the synthetic zeolite powder (several μm) or the inorganic adsorbent powder (several μm).
The granular synthetic zeolite processed into pellets or the granular inorganic adsorbent is attached to the honeycomb structure 32 with an adhesive. FIG. 5 is a partially enlarged cross-sectional view of the air purification filter 11 of the manufacturing method according to the present embodiment. Particulate synthetic zeolite 3 without gaps over the entire surface of corrugated sheet 30 and thin sheet 31
6a or the granular inorganic adsorbent 36b is fixed with a nonflammable adhesive. Then, the honeycomb structure 32 is placed in an electric furnace and subjected to a heat treatment at 100 ° C., which is lower than the heat-resistant temperature of the adhesive, for 2 hours to remove all gaseous organic impurity components contained in the adhesive and causing surface contamination. The air purification filter 11 is manufactured by desorption / removal. Fig. 5 Processing air
And passes through a cylindrical space 37 having a pseudo-half-moon-shaped cross section. As shown in FIG. 6, a granular synthetic zeolite 36a or the granular inorganic adsorbent 36b is made of a non-flammable adhesive over the entire surface of the honeycomb structure 32 formed by combining the chevron sheet 38 and the thin sheet 31 with no gap. By adhering, the air purification filter 11 may be manufactured. In the case of FIG. 6, the processing air passes through a cylindrical space 40 having a triangular cross section.

【0033】図7(a)(b)は,いずれもケーシング
を用いて構成した本発明の他の実施の形態にかかる空気
浄化フィルタ70を示し,(a)は(b)のA−A断
面,(b)は(a)のB−B断面である。この実施の形
態にかかる空気浄化フィルタ70では,図示のように,
合成ゼオライトのペレット71aを,内外側面に多数の
通気口73を有する中空円筒形状のケーシング72aに
充填して第1のフィルタ部70aを形成し,前記無機吸
着剤のペレット71bを,同様に内外側面に多数の通気
口73を有する中空円筒形状のケーシング72bに充填
して第2のフィルタ部70bを形成している。ただし,
ケーシング72aの下面とケーシング72bの上面は塞
がれているので,処理空気はケーシング72aの内側か
ら外側に向かって流入する際に,ケーシング72a内の
ペレット71aの充填層を通過する。つぎに,処理空気
は,ケーシング72aの外側円筒と外筒74に挟まれた
空間を通過して,ケーシング72bの外側円筒からペレ
ット71bの充填層に流入する。その後,ケーシング7
2bの内側に流入し,フィルタ70の下方に流出する。
なお,処理空気の流通方向は図7(b)において,矢印
75で示した。なお,図7においては,第1のフィルタ
部70aを上流側に配置し,第2のフィルタ部70bを
下流側に配置したが,この順序を逆にしたものも本発明
の実施の形態である。
FIGS. 7 (a) and 7 (b) show an air purification filter 70 according to another embodiment of the present invention, which is constructed using a casing, and FIG. 7 (a) is an AA cross section of FIG. , (B) are BB cross sections of (a). In the air purification filter 70 according to this embodiment, as shown in FIG.
The synthetic zeolite pellets 71a are filled into a hollow cylindrical casing 72a having a large number of vents 73 on the inner and outer surfaces to form a first filter portion 70a, and the inorganic adsorbent pellets 71b are similarly transferred to the inner and outer surfaces. The second filter portion 70b is formed by filling a hollow cylindrical casing 72b having a large number of vents 73. However,
Since the lower surface of the casing 72a and the upper surface of the casing 72b are closed, the processing air passes through the packed layer of the pellets 71a in the casing 72a when flowing from the inside to the outside of the casing 72a. Next, the processing air passes through the space between the outer cylinder of the casing 72a and the outer cylinder 74, and flows from the outer cylinder of the casing 72b into the packed bed of the pellets 71b. After that, the casing 7
2b and out of the filter 70.
Note that the flow direction of the processing air is indicated by an arrow 75 in FIG. In FIG. 7, the first filter unit 70a is arranged on the upstream side, and the second filter unit 70b is arranged on the downstream side. However, the embodiment in which the order is reversed is also an embodiment of the present invention. .

【0034】合成ゼオライトや前記無機吸着剤の粉末を
無機バインダと混合して造粒したペレットを支持体に固
着する場合,該粉末と該無機バインダの混合物に例えば
市水を混ぜて粘土状とし,0.3〜0.8mm程度のペ
レットに造粒機にて造粒する。これを予め無機系かつ不
燃性の接着剤を付着させた支持体に高速空気を利用して
吹き付けることで図5,6に示したような本発明のフィ
ルタを製作できる。支持体としては必ずしもハニカム構
造に限らず,ロックウール等の三次元網目構造体を例示
できる。後者では被処理空気が網目構造体を横切って通
過するため,空気抵抗は大きいが,前記合成ゼオライト
や前記無機吸着剤のペレットとの接触機会はハニカム構
造体よりもむしろ多くなる。
When the pellets obtained by mixing the powder of the synthetic zeolite or the inorganic adsorbent with an inorganic binder and fixing the pellet to a support are mixed with, for example, city water in the mixture of the powder and the inorganic binder to form a clay. Granulate into pellets of about 0.3 to 0.8 mm with a granulator. This is sprayed on a support to which an inorganic and nonflammable adhesive has been previously attached by using high-speed air, whereby the filter of the present invention as shown in FIGS. The support is not necessarily limited to the honeycomb structure, but may be a three-dimensional network structure such as rock wool. In the latter, the air to be treated passes across the network structure, so that the air resistance is large, but the chance of contact with the synthetic zeolite or the pellets of the inorganic adsorbent is larger than in the honeycomb structure.

【0035】このようにして製造される空気浄化フィル
タ11や70は,構成材料に可燃物を含まないため,空
気浄化フィルタ11や70をクリーンルームやクリーン
ベンチの天井面に取り付けた場合,可燃物である活性炭
をベースとした従来のケミカルフィルタを天井面に取り
付けた場合と比較して,防災上の安全性は著しく高ま
る。
Since the air purification filters 11 and 70 manufactured in this manner do not contain flammable substances in the constituent materials, when the air purification filters 11 and 70 are mounted on the ceiling of a clean room or a clean bench, they are made of flammable substances. Compared to the case where a conventional chemical filter based on activated carbon is installed on the ceiling, the safety in disaster prevention is significantly improved.

【0036】半導体の製造などを行う高度清浄装置にお
いて発生する,基板表面汚染の原因となる有機物は,シ
ーラントから発生する有機物シロキサン,建材中の難燃
剤から発生するリン酸エステル,建材中の可塑剤から発
生するフタレート,レジスト密着剤から発生するHMD
S,カセット酸化防止剤から発生するBHTなどの高沸
点・高分子の有機化合物に限られる。これらの有機物の
発生源はクリーンルームなどといった高度清浄装置の構
成部材もしくは高度清浄装置内部に存在する製造に利用
する種々の物品であり,取り入れ外気に由来するものは
あまりない。したがって,空気浄化フィルタ11や70
の役割は,主として高度清浄装置内部で発生する表面汚
染の原因となる高沸点・高分子の有機化合物を循環空気
中から除去し,高度清浄装置内部のこれら有機物濃度を
低減することである。
Organic substances which are generated in a high-level cleaning apparatus for producing semiconductors and cause surface contamination are organic siloxane generated from a sealant, phosphate ester generated from a flame retardant in a building material, and a plasticizer in a building material. Generated from phthalate, HMD generated from resist adhesive
S, limited to high boiling point and high molecular weight organic compounds such as BHT generated from cassette antioxidants. The sources of these organic substances are components of a high-level cleaning device such as a clean room or various articles used for manufacturing existing inside the high-level cleaning device. Therefore, the air purification filters 11 and 70
The role of is to remove from the circulating air high-boiling-point, high-molecular-weight organic compounds that mainly cause surface contamination inside the advanced cleaning equipment and reduce the concentration of these organic substances inside the advanced cleaning equipment.

【0037】[0037]

【実施例】次に,以上に説明した本発明の実施の形態に
かかる空気浄化フィルタの作用効果を,実施例によって
説明する。
Next, working effects of the air purifying filter according to the embodiment of the present invention described above will be described with reference to working examples.

【0038】まず,従来のケミカルフィルタが有する
「ガス状有機不純物がケミカルフィルタ内部から発生す
る。」という問題点を具体的に検証する。粒状活性炭と
繊維状活性炭をそれぞれ使用した市販のケミカルフィル
タ2種とイオン交換繊維を使用したケミカルフィルタの
それぞれにより処理したクリーンルームエアと,クリー
ンルーム中の空気を液体窒素で冷却し不純物を凝縮除去
した後のドライエアの計4つの雰囲気中で,酸化膜付き
シリコンウェハ表面の接触角の経時変化を測定した結果
を図8に示した。表面に超純水を滴下して測定される接
触角は,表面の有機物汚染の程度を簡便に評価する方法
である。洗浄直後の有機物汚染のない酸化膜付きシリコ
ンウェハやガラスの表面は水に馴染みやすい性質,つま
り親水性であり,接触角は小さい。ところが,有機物で
汚染されたそれらの表面は水をはじく性質,つまり疎水
性であり,接触角は大きくなる。例えば,クリーンルー
ム雰囲気中に放置されたガラス基板表面を対象に,超純
水滴下による接触角の測定値と,X線光電子分光法(X
PS:X−ray Photoelectron Sp
ectroscopy)により測定した有機物表面汚染
は,図9に示すような相関関係があることが知られてい
る。酸化膜付きシリコンウェハの表面についても,接触
角と有機物表面汚染の間にはほぼ同様の相関関係があ
る。このように,基板表面における水の接触角の大きさ
と有機物表面汚染の間には極めて強い相関がある。
First, the problem that a gaseous organic impurity is generated from inside a chemical filter, which the conventional chemical filter has, will be specifically verified. Clean room air treated with two types of commercially available chemical filters using granular activated carbon and fibrous activated carbon and a chemical filter using ion exchange fiber, respectively, and air in the clean room is cooled with liquid nitrogen to condense and remove impurities. FIG. 8 shows the results of measuring the change over time in the contact angle of the surface of the silicon wafer with an oxide film in a total of four atmospheres of dry air. The contact angle measured by dropping ultrapure water onto the surface is a simple method to evaluate the degree of organic contamination on the surface. Immediately after cleaning, the surface of a silicon wafer or glass with an oxide film free from organic contamination is easily water-compatible, that is, hydrophilic, and has a small contact angle. However, those surfaces contaminated with organic matter are water-repellent, that is, hydrophobic, and have a large contact angle. For example, for a glass substrate surface left in a clean room atmosphere, a contact angle measured by dropping ultrapure water and an X-ray photoelectron spectroscopy (X
PS: X-ray Photoelectron Sp
It is known that the surface contamination of the organic matter measured by the method (electroscopy) has a correlation as shown in FIG. For the surface of the silicon wafer with an oxide film, there is almost the same correlation between the contact angle and the organic surface contamination. Thus, there is an extremely strong correlation between the magnitude of the contact angle of water on the substrate surface and the contamination of the organic substance surface.

【0039】図8の結果からつぎのことが分かる。イオ
ン交換繊維は本来水溶性無機不純物を吸着除去するため
のものであり,有機物を吸着できず,逆にガス状有機物
を発生する。1日放置で約10゜の接触角の増加が見ら
れる。一方,ドライエア雰囲気中には,ガス状有機物は
ほとんど含まれないから接触角は増加しない。本来有機
物表面汚染を防止するはずの活性炭フィルタ2種は,1
日放置で約10゜の接触角の増加となり,表面汚染防止
効果はほとんどない結果を示した。活性炭を利用した2
種のケミカルフィルタに効果が見られない理由として,
有機バインダ,接着剤,シール剤等の表面有機汚染物質
がケミカルフィルタの構成部材に含まれるため,折角の
活性炭吸着効果が自身の構成部材脱ガスにより打ち消さ
れてしまったためである。一方,充填筒を使用した場合
には,充填筒の容器などを金属製などとすればこのよう
な心配はないが,充填筒は圧力損失(通気抵抗)が高い
という欠点を有することは前述したとおりである。
The following can be understood from the results shown in FIG. The ion-exchange fiber is originally intended to adsorb and remove water-soluble inorganic impurities, cannot adsorb organic substances, and generates gaseous organic substances. An increase in the contact angle of about 10 ° after one day of standing is observed. On the other hand, the contact angle does not increase in the dry air atmosphere, since almost no gaseous organic matter is contained. Two types of activated carbon filters that should originally prevent organic surface contamination are:
The contact angle increased by about 10 ° when left for a day, indicating that there was almost no effect of preventing surface contamination. 2 using activated carbon
The reason why some kinds of chemical filters have no effect is as follows.
This is because surface organic contaminants such as an organic binder, an adhesive, and a sealant are included in the constituent members of the chemical filter, so that the active carbon adsorption effect of the chemical filter is canceled by the degassing of the constituent members. On the other hand, if a filling cylinder is used, there is no such concern if the container of the filling cylinder is made of metal or the like. However, as described above, the filling cylinder has a disadvantage of high pressure loss (ventilation resistance). It is as follows.

【0040】次に,先に図2で説明した本発明の空気浄
化フィルタ11を実際に製作した。第1のフィルタ部1
1aは,ハニカム構造体に細孔径が8オングストローム
の合成ゼオライトを固着させた構成である。第2のフィ
ルタ部11bは,ハニカム構造体に数μmの粉末状の酸
処理モンモリナイト(活性白土)を固着させた構成であ
る。なお,モンモリナイトとはフランスのモンモリオン
で産出したAl4Si8(OH)4 nH20なる化学組成
の粘土鉱物に付けられた名称であり,モンモリナイトを
酸処理すると,細孔径が15〜300オングストローム
の細孔容積が約0.37cc/g,比表面積が約300
2/g程度となる。細孔容積全体に占める細孔径が4
0オングストローム〜600オングストロームの範囲の
細孔容積の割合は22%もあり,酸処理モンモリナイト
(活性白土)は,細孔径8オングストロームの合成ゼオラ
イトでは吸着できない分子の大きさが8オングストロー
ムよりも大きいBHTやシロキサンを活性白土の細孔内
に物理吸着することができる。
Next, the air purification filter 11 of the present invention described above with reference to FIG. 2 was actually manufactured. First filter unit 1
1a is a configuration in which a synthetic zeolite having a pore size of 8 Å is fixed to a honeycomb structure. The second filter portion 11b has a configuration in which a powdered acid-treated montmorillonite (activated clay) of several μm is fixed to the honeycomb structure. The montmorillonite is a name given to a clay mineral having a chemical composition of Al 4 Si 8 (OH) 4 nH 20 produced in Montmorion, France. Pore volume is about 0.37cc / g, specific surface area is about 300
It is about m 2 / g. Pore diameter occupying 4 pores in total pore volume
The ratio of the pore volume in the range of 0 Å to 600 Å is as high as 22%.
(Activated clay) can physically adsorb BHT or siloxane, whose molecular size, which cannot be adsorbed by a synthetic zeolite having a pore diameter of 8 Å, is larger than 8 Å, in the pores of the activated clay.

【0041】ここで,クリーンルームやクリーンベンチ
等の清浄装置内の基板表面から検出される有機汚染物の
うちで最も量が多い種類はDOPとDBPである。これ
らは塩化ビニル素材に大量に含まれており,分子径は6
オングストローム〜8オングストロームの範囲にある。
したがって,合成ゼオライトの細孔径を7オングストロ
ーム以上にすれば,基板表面の有機物汚染の原因となる
大部分のガス状有機物は第1のフィルタ部11aで除去
できることになる。しかし,分子の大きさが8オングス
トロームよりも大きいBHTやシロキサンも清浄装置内
の基板表面からある程度は検出され,これらは第1のフ
ィルタ部11aでは除去できず,第2のフィルタ部11
bで除去される。
Here, among the organic contaminants detected from the surface of the substrate in a cleaning apparatus such as a clean room or a clean bench, the most frequent types are DOP and DBP. These are contained in large amounts in the vinyl chloride material and have a molecular diameter of 6
In the range of Angstroms to 8 Angstroms.
Therefore, if the pore size of the synthetic zeolite is set to 7 Å or more, most of the gaseous organic substances that cause organic contamination on the substrate surface can be removed by the first filter portion 11a. However, BHT and siloxane having a molecular size larger than 8 angstroms are also detected to some extent from the surface of the substrate in the cleaning apparatus, and cannot be removed by the first filter section 11a.
Removed by b.

【0042】本実施例による第1,2のフィルタ部11
a,11bはいずれも,図1に示したように,隣接する
波形シートの間に凹凸のない薄板シートを挟んだ構造を
有する。フィルタの通気方向の厚みは10cm,通気風
速は0.6m/s,フィルタに通気する処理空気が接触
するフィルタ単位体積当たりのシート総表面積は300
0m2/m3であった。
The first and second filter units 11 according to this embodiment
Each of a and 11b has a structure in which a thin sheet having no unevenness is sandwiched between adjacent corrugated sheets as shown in FIG. The thickness of the filter in the ventilation direction is 10 cm, the velocity of the ventilation air is 0.6 m / s, and the total surface area of the sheet per unit volume of the filter in contact with the processing air that is passed through the filter is 300
It was 0 m 2 / m 3 .

【0043】第1のフィルタ部11aのハニカム構造体
は,有効細孔径が8オングストローム,大きさが3μm
の撥水性の合成ゼオライトの粉末を,無機バインダとし
てのカオリン鉱物の3μmの粉末およびシリカゾルと共
に分散させたスラリーに前述の多孔性ハニカム構造体を
浸した後,乾燥して製作した。無機バインダとしては,
カオリン鉱物とシリカゾルの混合物以外に,タルク,ベ
ントナイト,珪酸ソーダ,シリカ又はアルミナなどを用
いてもよい。つぎに,第2のフィルタ部11bのハニカ
ム構造体は,有効細孔径が主として20オングストロー
ム〜1000オングストロームに分布する活性白土の3
μmの粉末を,無機バインダとしてのシリカゾルと共に
分散させたスラリーに,前述の多孔性ハニカム構造体を
浸した後,乾燥して製作した。なお,活性白土のガス状
有機不純物の物理吸着能力は活性炭と比較して遜色な
い。
The honeycomb structure of the first filter portion 11a has an effective pore diameter of 8 angstroms and a size of 3 μm.
The porous honeycomb structure was immersed in a slurry prepared by dispersing a water-repellent synthetic zeolite powder together with a 3 μm powder of a kaolin mineral as an inorganic binder and a silica sol, followed by drying to prepare a porous honeycomb structure. As the inorganic binder,
In addition to a mixture of kaolin mineral and silica sol, talc, bentonite, sodium silicate, silica or alumina may be used. Next, the honeycomb structure of the second filter portion 11b is made of activated clay 3 having an effective pore diameter of mainly 20 Å to 1000 Å.
The porous honeycomb structure described above was immersed in a slurry in which a powder of μm was dispersed together with silica sol as an inorganic binder, and then dried to produce a porous honeycomb structure. The physical adsorption capacity of activated clay for gaseous organic impurities is comparable to that of activated carbon.

【0044】前記第1のフィルタ部11aの合成ゼオラ
イトの無機材料層の厚みは100μm,その重量組成比
は,合成ゼオライト:カオリナイト:シリカ=70%:
25%:5%,さらに空気浄化フィルタ11bの活性白
土の無機材料層の厚みは10μmで,その重量組成比
は,活性白土:シリカ=87%:13%であった。第
1,2のフィルタ部11a,11bのいずれについて
も,フィルタ全体の密度は約250g/リットル,その
うち無機材料層が占める密度は第1のフィルタ部11a
では約90g/リットル(フィルタ全体の約36%),第
2のフィルタ部11bでは約9g/リットル(フィルタ
全体の約3.6%)であった。第1のフィルタ部11a
が備えている合成ゼオライトの量に比べて,第2のフィ
ルタ部11bが備えている活性白土の無機吸着剤の量を
約1/10と少なくしたのはつぎの理由による。後述す
るように,合成ゼオライトは相対湿度変化に対する水分
吸脱着が少ないため,活性炭に比べて清浄装置内雰囲気
の湿度コントロールに影響を与えない。しかし,活性白
土のような無機吸着剤は親水性であり,活性炭並みの水
分吸脱着量があるため,その使用量を少なくしたい。さ
らに,清浄装置内の基板表面から検出される有機汚染物
のうちで最も量が多い種類はDOPとDBPである。こ
れらは合成ゼオライトを備えた第1のフィルタ部11a
で除去できる。一方,第1のフィルタ部11aで除去で
きず第2のフィルタ部11bで除去するBHTやD5
(5量体のシロキサン)の空気中濃度はDOPやDBP
の濃度と比較すると,かなり少なく,シリコンウェハ表
面からの検出量も少ない。従って,第2のフィルタ部1
1bが備える活性白土の無機吸着剤の量も第1のフィル
タ部11aの合成ゼオライトと比較して少なくてすむ。
The thickness of the synthetic zeolite inorganic material layer of the first filter portion 11a is 100 μm, and its weight composition ratio is synthetic zeolite: kaolinite: silica = 70%:
The thickness of the inorganic material layer of activated clay of the air purification filter 11b was 10 μm, and the weight composition ratio was activated clay: silica = 87%: 13%. In each of the first and second filter portions 11a and 11b, the density of the entire filter is about 250 g / liter, and the density occupied by the inorganic material layer is the first filter portion 11a.
About 90 g / liter (about 36% of the whole filter), and about 9 g / liter (about 3.6% of the whole filter) in the second filter portion 11b. First filter unit 11a
The reason why the amount of the inorganic adsorbent of the activated clay provided in the second filter portion 11b is reduced to about 1/10 as compared with the amount of the synthetic zeolite provided in the first filter part 11b is as follows. As will be described later, the synthetic zeolite does not affect moisture control of the atmosphere in the cleaning device as compared with activated carbon because it has less moisture adsorption and desorption with respect to the change in relative humidity. However, inorganic adsorbents such as activated clay are hydrophilic and have the same amount of water adsorption and desorption as activated carbon. Further, among the organic contaminants detected from the surface of the substrate in the cleaning device, DOP and DBP are the types having the largest amounts. These are first filter sections 11a with synthetic zeolites.
Can be removed. On the other hand, BHT or D5 which cannot be removed by the first filter unit 11a and is removed by the second filter unit 11b.
(Pentamer siloxane) concentration in air is DOP or DBP
Compared with the concentration of, the amount detected from the silicon wafer surface is also small. Therefore, the second filter unit 1
The amount of the inorganic adsorbent of the activated clay provided in 1b can be smaller than that of the synthetic zeolite of the first filter portion 11a.

【0045】図10に示すように,前記本発明による空
気浄化フィルタ11を,ファン93とHEPAフィルタ
94と共に,クリーンルーム90内に置かれた保管庫9
1の天井に取り付けた。ファン95でクリーンルーム9
0内雰囲気から流入口96を通して保管庫91内にクリ
ーンルームエア99を取り込み,同空気浄化フィルタ1
1で処理したクリーンルームエアで満たされた処理室9
7の雰囲気中に,洗浄直後の有機物汚染のない酸化膜付
きシリコンウェハ基板92を3日間だけ放置して接触角
を測定した。同雰囲気内3日間放置後の接触角の測定
(洗浄→3日間放置→接触角測定→洗浄→3日間放置→
接触角測定→・・・・)を15日ごとに繰り返し,空気
浄化フィルタ11の吸着性能の経時劣化を測定した。な
お,前記保管庫91はガス状有機不純物の発生のない素
材を使用して構成されており,その内部,特に処理室9
7においては保管庫自身が原因となるガス状有機不純物
の発生はない。
As shown in FIG. 10, the air purifying filter 11 according to the present invention, together with the fan 93 and the HEPA filter 94, is stored in a storage 9 placed in a clean room 90.
1 was attached to the ceiling. Clean room 9 with fan 95
The clean room air 99 is taken into the storage 91 from the atmosphere inside the storage room 91 through the inflow port 96, and the air purification filter
Processing room 9 filled with clean room air processed in 1
The contact angle was measured by leaving the silicon wafer substrate 92 with an oxide film without organic contamination immediately after the cleaning for 3 days in the atmosphere of No. 7. Measurement of contact angle after leaving for 3 days in the same atmosphere (cleaning → leaving for 3 days → measuring contact angle → cleaning → leaving for 3 days →
The contact angle measurement was repeated every 15 days, and the deterioration over time of the adsorption performance of the air purification filter 11 was measured. The storage 91 is made of a material that does not generate gaseous organic impurities.
In No. 7, there is no generation of gaseous organic impurities caused by the storage itself.

【0046】処理室97内の空気は,図10中の矢印で
示した流れ方向に沿って,グレーティング101を通過
して床下部102からレタン通路103を経て天井部1
04に戻る。前記保管庫91内の循環空気流量を20m
3/minとし,この循環空気98を処理するために,
空気浄化フィルタ11の構成要素である第1のフィルタ
部11aに含まれる合成ゼオライトの使用量は2kg,
同構成要素である第2のフィルタ部11bに含まれる活
性白土の使用量は0.2kgとした。クリーンルームエ
ア99の取り入れ量は,循環空気98の流量の4%の
0.8m3/minとした。この取り入れ量に見合った
空気量が流出口100から排出される。保管庫全体の内
容積は12m3であり,1時間当たりの換気回数は10
0回であった。
The air in the processing chamber 97 passes through the grating 101 along the flow direction indicated by the arrow in FIG.
Return to 04. The circulating air flow rate in the storage 91 is 20 m
3 / min, and in order to process this circulating air 98,
The amount of synthetic zeolite contained in the first filter portion 11a, which is a component of the air purification filter 11, is 2 kg,
The used amount of activated clay contained in the second filter portion 11b, which is the same component, was 0.2 kg. The intake amount of the clean room air 99 was set at 0.8 m 3 / min, which is 4% of the flow rate of the circulating air 98. An air amount corresponding to the intake amount is discharged from the outlet 100. The total volume of the storage is 12 m 3 and the number of ventilation per hour is 10
It was 0 times.

【0047】また比較のため,図10の保管庫91にお
いて,合成ゼオライトを備えた第1のフィルタ部11a
のみを残し,活性白土を備えた第2のフィルタ部11b
は取り外した場合についても,洗浄した酸化膜付きシリ
コンウェハ基板を3日間放置して接触角を測定し,この
接触角測定を15日ごとに繰り返した。さらに,本発明
にかかる第1のフィルタ部11aと第2のフィルタ部1
1bを一切設けない場合,即ちクリーンルームエア中に
含まれるガス状有機不純物が除去されずに保管庫内にそ
のまま流入する場合についても同様の測定を行った。
For comparison, in the storage 91 of FIG. 10, the first filter unit 11a provided with the synthetic zeolite is used.
Only the second filter unit 11b provided with activated clay
Even when was removed, the cleaned silicon wafer substrate with an oxide film was allowed to stand for 3 days to measure the contact angle, and this contact angle measurement was repeated every 15 days. Furthermore, the first filter unit 11a and the second filter unit 1 according to the present invention
The same measurement was performed when no 1b was provided, that is, when the gaseous organic impurities contained in the clean room air flowed directly into the storage without being removed.

【0048】なお,洗浄直後の酸化膜付きシリコンウェ
ハ表面の接触角は3°であった。3日間曝された酸化膜
付きシリコンウェハ表面の接触角が6°以下に保たれて
いることがガス状有機不純物汚染によるデバイスの品質
低下を防止するための保管庫雰囲気に求められる必要条
件であると仮定する。
The contact angle on the surface of the silicon wafer with the oxide film immediately after the cleaning was 3 °. Maintaining a contact angle of 6 ° or less on the surface of the silicon wafer with the oxide film exposed for 3 days is a necessary condition for the atmosphere of the storage to prevent the deterioration of device quality due to gaseous organic impurity contamination. Assume that

【0049】図11に測定結果を示す。保管庫91が,
本発明に従う空気浄化フィルタ11を備えた場合と,第
1のフィルタ部11aのみを備えた場合と,ガス状有機
不純物が除去されない場合の,3つの場合について,保
管庫91内雰囲気に曝された酸化膜付きシリコンウェハ
表面の接触角の経時変化を比較したものである。
FIG. 11 shows the measurement results. The storage 91 is
In the three cases, that is, the case where the air purification filter 11 according to the present invention was provided, the case where only the first filter portion 11a was provided, and the case where the gaseous organic impurities were not removed, the case was exposed to the atmosphere in the storage 91. 6 is a comparison of the change over time of the contact angle on the surface of a silicon wafer with an oxide film.

【0050】ガス状有機不純物が除去されない保管庫内
雰囲気に曝された酸化膜付きシリコンウェハ表面の接触
角は,3日間放置によって26°〜30°も増加する。
本発明に従う空気浄化フィルタ11を備えた高度清浄装
置については,使用開始直後(経過時間0日)の状態に
おいて,3日間放置後の酸化膜付きシリコンウェハの接
触角は4°以下に保たれた。しかし,通気時間の増加と
共に空気浄化フィルタ11の吸着性能は低下し,空気浄
化フィルタ通過後の空気中に含まれるガス状有機不純物
の濃度も増加する。つまり,空気浄化フィルタ11への
通気時間の増加と共に,下流側の処理済み空気に一定時
間曝された酸化膜付きシリコンウェハ表面の接触角も増
加することになる。空気浄化フィルタ11を通過後の空
気に3日間曝された酸化膜付きシリコンウェハ表面の接
触角が6°に達するまでの空気浄化フィルタ11の使用
時間は約8ヶ月であることがわかる。一方,空気浄化フ
ィルタ11を構成する第1のフィルタ部11aと第2の
フィルタ部11bのうち,第1のフィルタ部11aのみ
を備え第2のフィルタ部11bを欠いた高度清浄装置に
ついては,使用開始直後(経過時間0日)の状態におい
て,3日間放置後の酸化膜付きシリコンウェハの接触角
はすでに5°を越えていた。しかも合成ゼオライトを備
えた第1のフィルタ部11aを通過後の空気に3日間曝
された酸化膜付きシリコンウェハ表面の接触角が6°に
達するまでの第1のフィルタ部11aの使用時間はわず
か2ヶ月であることがわかる。
The contact angle of the surface of the silicon wafer with the oxide film exposed to the atmosphere in the storage where the gaseous organic impurities are not removed increases by 26 ° to 30 ° after being left for 3 days.
Regarding the advanced cleaning device provided with the air purification filter 11 according to the present invention, the contact angle of the silicon wafer with the oxide film after being left for 3 days was kept at 4 ° or less immediately after the start of use (elapsed time: 0 days). . However, as the ventilation time increases, the adsorption performance of the air purification filter 11 decreases, and the concentration of gaseous organic impurities contained in the air after passing through the air purification filter also increases. That is, the contact angle of the surface of the silicon wafer with the oxide film exposed to the treated air on the downstream side for a certain time increases with the increase of the ventilation time to the air purification filter 11. It can be seen that the use time of the air purification filter 11 is about 8 months until the contact angle of the surface of the silicon wafer with the oxide film exposed to the air after passing through the air purification filter 3 for 6 days reaches 6 °. On the other hand, among the first filter unit 11a and the second filter unit 11b constituting the air purification filter 11, an advanced cleaning device having only the first filter unit 11a and lacking the second filter unit 11b is used. Immediately after the start (elapsed time: 0 days), the contact angle of the silicon wafer with the oxide film after standing for 3 days had already exceeded 5 °. Moreover, the usage time of the first filter unit 11a is short until the contact angle of the surface of the silicon wafer with the oxide film exposed to the air after passing through the first filter unit 11a having the synthetic zeolite for 3 days reaches 6 °. It turns out that it is two months.

【0051】この理由をさらに詳しく調べるために,図
12に示すように,図10に使用した本発明の空気浄化
フィルタ11(第1,2のフィルタ部11a,11bか
ら構成される)を保管庫91’のクリーンルームエア9
9の取り入れ口96に取り付けた場合と,第1のフィル
タ部11aのみを同取り入れ口96に取り付けた場合の
それぞれについて,基板表面の汚染の原因となる4種の
ガス状有機不純物DOP,DBP,BHT,D5(5量
体のシロキサン)に対する基板表面の汚染防止効果を測
定し,2つの場合を比較した。図12では,図10と異
なり,処理室97内の空気は,図12中の矢印で示した
流れ方向に沿って,グレーティング101を通過して床
下部102からそのまま流出口100から排出される。
つまり,図12は図10の循環経路が閉鎖された場合に
相当し,保管庫内の空気は循環せずに,一方向に流れ
る。DOP,DBPの濃度はそれぞれ数十ppt,BH
T,D5はそれぞれ数pptであった。
In order to investigate the reason in more detail, as shown in FIG. 12, the air purifying filter 11 (consisting of the first and second filter portions 11a and 11b) of the present invention used in FIG. 91 'clean room air 9
9 and the case where only the first filter portion 11a is attached to the intake 96, four types of gaseous organic impurities DOP, DBP, The effect of preventing contamination of the substrate surface against BHT, D5 (pentamer siloxane) was measured, and the two cases were compared. 12, unlike FIG. 10, the air in the processing chamber 97 passes through the grating 101 along the flow direction indicated by the arrow in FIG.
That is, FIG. 12 corresponds to the case where the circulation path in FIG. 10 is closed, and the air in the storage flows in one direction without circulating. The concentrations of DOP and DBP are several tens of ppt and BH respectively.
T and D5 were several ppt each.

【0052】図12のクリーンルーム90の雰囲気中と
保管庫91’内の雰囲気中のそれぞれに,洗浄直後の清
浄な酸化膜付きシリコンウェハ92を4時間だけ放置し
た後,シリコンウェハ表面のDOP,DBP,BHT,
D5による有機物表面汚染量を測定して比較し,有機物
表面汚染の防止効果を評価した。その結果を表3に示
す。
After leaving a clean silicon wafer 92 with an oxide film immediately after cleaning for only 4 hours in the atmosphere of the clean room 90 and the atmosphere of the storage 91 'in FIG. 12, the DOP, DBP , BHT,
The amount of organic substance surface contamination by D5 was measured and compared to evaluate the effect of preventing organic substance surface contamination. Table 3 shows the results.

【0053】[0053]

【表3】 [Table 3]

【0054】有機物表面汚染量の評価には,4インチの
p型シリコンウェハを用いた。ウェハ表面に付着した有
機物の分析・測定には,昇温ガス脱離装置とガスクロマ
トグラフ質量分析装置を組み合わせて用いた。また,ガ
スクロマトグラフに基づいて次のようにして表面汚染防
止率を求めた。
A 4-inch p-type silicon wafer was used to evaluate the amount of organic surface contamination. A combination of a heated gas desorption device and a gas chromatograph mass spectrometer was used to analyze and measure the organic substances attached to the wafer surface. In addition, the surface contamination prevention rate was determined as follows based on gas chromatography.

【0055】 表面汚染防止率 = (1−(B/A))×100 (%) A:クリーンルーム雰囲気中のウェハ表面から検出され
た汚染有機物質のピークの面積 B:保管庫雰囲気中のウェハ表面から検出された汚染有
機物質のピークの面積
Surface contamination prevention rate = (1- (B / A)) × 100 (%) A: Peak area of contaminated organic substance detected from wafer surface in clean room atmosphere B: Wafer surface in storage atmosphere Area of the peak of the pollutant organic substance detected from

【0056】表3から明かなことは,4種のガス状有機
汚染物DOP,DBP,BHT,D5のうち,DOP,
DBPの分子の大きさはいずれも8オングストロームよ
りも小さいため,有効細孔径が8オングストロームの合
成ゼオライトを備えた第1のフィルタ部11aによりほ
ぼ完全に除去された。しかし,BHT,D5の分子の大
きさはいずれも8オングストロームよりも大きいため,
有効細孔径が8オングストロームの合成ゼオライトを備
えた第1のフィルタ部11aでは除去されず,有効細孔
径が主として20オングストローム〜1000オングス
トロームに分布した活性白土を備えた第2のフィルタ部
11bによりほぼ完全に除去された。つまり,本発明の
空気浄化フィルタ11のように,合成ゼオライトを備え
た第1のフィルタ部11aと,該第1のフィルタ部11
aの上流側又は下流側に配されたガス状有機不純物を吸
着する性質を有し,かつ該合成ゼオライトの有効細孔径
よりも大きな有効細孔径を有する無機吸着剤を備えた第
2のフィルタ部11bの両方を使用して,クリーンルー
ムのような高度清浄装置雰囲気由来による有機物表面汚
染を完全に防止でき,合成ゼオライトを備えた第1のフ
ィルタ部11aのみの使用では,合成ゼオライトの細孔
径よりも大きな分子は吸着できないため,高度清浄装置
雰囲気由来による有機物表面汚染を完全に防止すること
はできない。このことは図11の測定結果でも明らかで
あった。
It is clear from Table 3 that among the four gaseous organic contaminants DOP, DBP, BHT and D5, DOP,
Since the molecular size of each of the DBPs was smaller than 8 Å, it was almost completely removed by the first filter portion 11a provided with the synthetic zeolite having an effective pore size of 8 Å. However, since the size of each molecule of BHT and D5 is larger than 8 Å,
It is not removed by the first filter portion 11a provided with the synthetic zeolite having an effective pore size of 8 Å, and is almost completely removed by the second filter portion 11b provided with activated clay whose effective pore size is mainly distributed in the range of 20 Å to 1000 Å. Was removed. That is, like the air purification filter 11 of the present invention, the first filter unit 11a provided with the synthetic zeolite and the first filter unit 11a
A second filter unit having an inorganic adsorbent having a property of adsorbing gaseous organic impurities disposed on the upstream side or the downstream side of a and having an effective pore diameter larger than the effective pore diameter of the synthetic zeolite. 11b can completely prevent surface contamination of organic matter due to the atmosphere of a highly purified device such as a clean room. When only the first filter section 11a provided with the synthetic zeolite is used, the pore size of the synthetic zeolite is smaller than that of the synthetic zeolite. Since large molecules cannot be adsorbed, it is not possible to completely prevent organic matter surface contamination from the atmosphere of a high-purity equipment. This was also apparent from the measurement results in FIG.

【0057】つぎに,本発明で撥水性合成ゼオライト,
好ましくは有効細孔径が7オングストローム以上のもの
を選択した理由を説明する。
Next, the water-repellent synthetic zeolite according to the present invention,
The reason why a material having an effective pore diameter of preferably 7 Å or more is preferably explained.

【0058】クリーンルームやクリーンベンチにおいて
有機物表面汚染の原因となる有機物について先に説明し
たが,クリーンルームやクリーンベンチの空気雰囲気中
においてハンドリングされるシリコンウェハには多少の
差はあっても表面に自然酸化膜が形成されており,した
がってそのウェハ表面は親水性である。また,同空気雰
囲気中においてハンドリングされるガラス基板も,ガラ
ス自体の物性により親水性であることはよく知られてい
る。このような自然酸化膜が形成されたシリコンウェハ
やガラス基板の親水性表面を汚染する空気雰囲気由来の
有機物は,親水性表面とよく馴染む親水基を有している
はずである。事実として,先に説明した表面汚染の原因
となる有機物は,炭素の二重結合やベンゼン環の化学構
造を有する高沸点・高分子の疎水性有機物であり疎水基
を有しているが,同時にこれらの有機物は清浄な親水性
表面の汚染原因となる親水基も有している。しかし,シ
リコンウェハやガラス基板の親水性の清浄表面が一旦こ
れらの有機物で汚染されると,汚染された表面部分は付
着有機物と同じ疎水性に変化する。疎水性に変化した表
面には前記疎水性有機物の疎水基が容易に結合するか
ら,有機物表面汚染が急速に進行して有機物の多分子層
が形成される。
Although organic substances causing surface contamination of organic substances in a clean room or a clean bench have been described above, the surface of a silicon wafer handled in an air atmosphere of a clean room or a clean bench has a natural oxidation on its surface even though there is some difference. A film has been formed, and therefore the wafer surface is hydrophilic. It is well known that glass substrates handled in the air atmosphere are also hydrophilic due to the physical properties of the glass itself. An organic substance derived from an air atmosphere that contaminates the hydrophilic surface of a silicon wafer or a glass substrate on which such a natural oxide film is formed should have a hydrophilic group that is well compatible with the hydrophilic surface. In fact, the organic substances that cause surface contamination described above are high-boiling, high-molecular-weight hydrophobic organic substances having a carbon double bond and a benzene ring chemical structure, and have a hydrophobic group. These organics also have hydrophilic groups that cause contamination of the clean hydrophilic surface. However, once the hydrophilic clean surface of the silicon wafer or glass substrate is contaminated with these organic substances, the contaminated surface portion changes to the same hydrophobicity as the attached organic substances. Since the hydrophobic group of the hydrophobic organic substance is easily bonded to the hydrophobic surface, the surface contamination of the organic substance rapidly progresses to form a multimolecular layer of the organic substance.

【0059】表面汚染の原因となる有機物は高沸点・高
分子の疎水性であり,疎水基を有していることから,こ
の疎水基と親和性があるという理由で撥水性ゼオライト
の選択が好ましい。しかし次善の選択として,これらの
表面汚染の原因となる有機物は親水基も同時に保有して
いるため,親水基と親和性がある親水性ゼオライトも利
用可能となる。ただし,撥水性ゼオライトを利用した場
合には,空気中の水分吸着量が活性炭や親水性ゼオライ
トに比べて少ないため,ゼオライト多孔質構造が有する
本来のガス状有機物の吸着容量が水分吸着によって目減
りすることがない。したがって,有機物の吸着素材とし
て撥水性ゼオライトを利用した場合,その寿命は同様の
多孔質構造を有する活性炭や親水性ゼオライトよりも長
くなる。一方,多孔質構造を有する活性炭や親水性ゼオ
ライトでは,空気中の水分吸着量が多いため,多孔質構
造本来の吸着容量が水分吸着によって大きく目減りして
しまい,水分吸着分を除いた残りの吸着容量分だけが有
機物の吸着に関与するため,その寿命も撥水性ゼオライ
トよりも短くなる。
Since organic substances causing surface contamination are high-boiling and high-molecular-weight hydrophobic and have a hydrophobic group, it is preferable to select a water-repellent zeolite because it has an affinity for the hydrophobic group. . However, as a second best option, these organic substances causing surface contamination also have hydrophilic groups at the same time, so that hydrophilic zeolites having affinity for hydrophilic groups can be used. However, when a water-repellent zeolite is used, the amount of water adsorbed in the air is smaller than that of activated carbon or hydrophilic zeolite, so the adsorption capacity of the original gaseous organic substance of the zeolite porous structure is reduced by water adsorption. Nothing. Therefore, when a water-repellent zeolite is used as an organic adsorbing material, its life is longer than that of activated carbon or hydrophilic zeolite having the same porous structure. On the other hand, activated carbon and hydrophilic zeolite having a porous structure have a large amount of water adsorbed in the air, so the original adsorption capacity of the porous structure is greatly reduced by water adsorption, and the remaining adsorbed amount excluding the water adsorbed component is removed. Since only the capacity is involved in the adsorption of organic substances, its life is shorter than that of the water-repellent zeolite.

【0060】ゼオライトの基本構成要素はシリカ(Si
2)とアルミナ(Al23)であるが,その含有重量
比SiO2/Al23を大きくしていくと,吸着特性は
親水性から疎水性へと大きく変化する。親水性ゼオライ
トではシリカ/アルミナ比は2〜5程度であり,撥水性
ゼオライトではシリカ/アルミナ比は20から無限大で
ある。先ほど,撥水性ゼオライトは親水性ゼオライトよ
りも有機物の吸着素材としての寿命が長いと述べた。し
かし,撥水性ゼオライトは親水性ゼオライトを原料とし
て酸処理による脱アルミニウム処理とその後の加熱乾燥
という工程を経て製造されるため,親水性ゼオライトよ
りも価格が高い。また,ゼオライトそのものの最大の用
途は洗剤用ビルダーであり,親水性ゼオライトが使用さ
れる。国内ではゼオライトの全需要の90%以上を洗剤
用ビルダーが占めている。ゼオライトの需要の伸びは,
海外(発展途上国)における無リン洗剤の需要増に支えら
れていることから,親水性ゼオライトには量産によるコ
ストダウンが容易であるのに対して,撥水性ゼオライト
のコストダウンは難しい。したがって,親水性ゼオライ
トの寿命が撥水性ゼオライトよりも短いからといって,
その対費用効果も親水性が撥水性よりも劣るということ
にはならない。ケミカルフィルタとしてのイニシャルコ
スト(濾材やケーシングを含む機器としてのケミカルフ
ィルタ全体の値段)と,ケミカルフィルタ濾材の寿命の
長さによって決まる交換頻度から割り出したランニング
コスト(交換濾材の値段)から,撥水性ゼオライトがよ
いか親水性ゼオライトがよいか総合的に判断すべきであ
る。
The basic component of zeolite is silica (Si
O 2 ) and alumina (Al 2 O 3 ). As the weight ratio of SiO 2 / Al 2 O 3 is increased, the adsorption characteristics greatly change from hydrophilic to hydrophobic. The silica / alumina ratio of the hydrophilic zeolite is about 2 to 5, and the silica / alumina ratio of the water-repellent zeolite is 20 to infinity. As mentioned earlier, water-repellent zeolites have a longer life span as organic sorbent materials than hydrophilic zeolites. However, since the water-repellent zeolite is manufactured using a hydrophilic zeolite as a raw material through a process of dealumination by acid treatment and subsequent heating and drying, the price is higher than that of the hydrophilic zeolite. The largest use of zeolite itself is as a detergent builder, and hydrophilic zeolites are used. In the country, detergent builders account for more than 90% of the total demand for zeolites. Zeolite demand growth is
Because of the growing demand for phosphorus-free detergents overseas (developing countries), it is easy to reduce the cost of hydrophilic zeolites by mass production, but it is difficult to reduce the cost of water-repellent zeolites. Therefore, just because the life of a hydrophilic zeolite is shorter than that of a water-repellent zeolite,
Its cost-effectiveness does not mean that hydrophilicity is inferior to water repellency. The water repellency is determined from the initial cost of the chemical filter (the price of the entire chemical filter as a device including the filter medium and casing) and the running cost (price of the replacement filter medium) determined from the replacement frequency determined by the longevity of the filter medium. It should be comprehensively determined whether zeolite or hydrophilic zeolite is good.

【0061】しかし,技術的な見地からは,吸着寿命が
長いという点において,撥水性ゼオライトの方が親水性
ゼオライトよりもより優れている。
However, from a technical point of view, the water-repellent zeolite is superior to the hydrophilic zeolite in that the adsorption life is long.

【0062】つぎに,合成ゼオライトの水の吸着特性に
ついて説明する。細孔径が8オングストロームの撥水性
合成ゼオライトと細孔径が10オングストロームの親水
性合成ゼオライトと活性炭について,25℃の雰囲気に
おいて測定した水の吸着等温線図を図13に示した。活
性炭に関しては,相対湿度が少し増加するだけで空気中
の水分吸着飽和量も急激に増加する。例えば,水分をほ
とんど吸着していない未使用の活性炭添着ケミカルフィ
ルタを相対湿度20%の雰囲気の容器内に保管してお
き,このケミカルフィルタを使用するため保管容器から
取り出していきなり相対湿度50%のクリーンルーム雰
囲気に曝されると,活性炭が空気中の水分を吸着飽和に
達するまで多量に吸着することになってしまう。相対湿
度20%(水分吸着飽和量0.046cc/g)と50
%(水分吸着飽和量0.12cc/g)における活性炭
の水分吸着飽和量の差は0.074cc/gにもなる。
一方,細孔径が8オングストロームの撥水性合成ゼオラ
イトは相対湿度20%(水分吸着飽和量0.026cc
/g)と50%(水分吸着飽和量0.034cc/g)
における水分吸着飽和量の差はわずか0.008cc/
gである。さらに,細孔径が10オングストロームの親
水性合成ゼオライトでは,相対湿度20%の水分吸着飽
和量は0.262cc/gとかなり多いが,相対湿度が
20%から50%に変化しても,水分吸着飽和量の増加
は0.02cc/gに過ぎず,活性炭の場合の増加量の
27%に過ぎない。
Next, the water adsorption characteristics of the synthetic zeolite will be described. FIG. 13 shows a water adsorption isotherm measured for a water-repellent synthetic zeolite having a pore size of 8 Å, a hydrophilic synthetic zeolite having a pore size of 10 Å, and activated carbon in an atmosphere at 25 ° C. With regard to activated carbon, even a small increase in the relative humidity causes a sudden increase in the amount of saturated water absorbed in the air. For example, an unused activated carbon-impregnated chemical filter that hardly adsorbs water is stored in a container having an atmosphere of 20% relative humidity, and the chemical filter is taken out of the storage container to use the filter at a relative humidity of 50%. When exposed to a clean room atmosphere, activated carbon will adsorb a large amount of moisture in the air until it reaches adsorption saturation. 20% relative humidity (0.046 cc / g of water adsorption saturation) and 50%
% (Saturation amount of water adsorption: 0.12 cc / g), the difference of the saturation amount of water adsorption of activated carbon is as high as 0.074 cc / g.
On the other hand, a water-repellent synthetic zeolite having a pore size of 8 angstroms has a relative humidity of 20% (water adsorption saturation amount 0.026 cc).
/ G) and 50% (water adsorption saturated amount 0.034cc / g)
The difference in the amount of water adsorption and saturation was only 0.008 cc /
g. Furthermore, in the case of a hydrophilic synthetic zeolite having a pore size of 10 angstroms, the saturated amount of water adsorption at a relative humidity of 20% is considerably large at 0.262 cc / g. The increase in saturation is only 0.02 cc / g, only 27% of the increase in activated carbon.

【0063】図13からも理解できるように,相対湿度
が20%以上の雰囲気で保管されていた未使用の合成ゼ
オライトを備えた空気浄化フィルタを相対湿度50%の
クリーンルーム雰囲気において使用を開始した場合,そ
の上流側において所定の相対湿度に調節しても,この空
気浄化フィルタに使用されている合成ゼオライトは,そ
れが疎水性か親水性であるかを問わず,空気中の水分を
ほとんど吸着しないので,ケミカルフィルタを備えた清
浄装置内の相対湿度が所定の値よりも低くなるという活
性炭を含んだケミカルフィルタの不具合はない。
As can be understood from FIG. 13, when an air purification filter provided with an unused synthetic zeolite stored in an atmosphere having a relative humidity of 20% or more is used in a clean room atmosphere with a relative humidity of 50%. Even if the relative humidity is adjusted upstream, the synthetic zeolite used in this air purification filter hardly adsorbs moisture in the air regardless of whether it is hydrophobic or hydrophilic. Therefore, there is no problem with the chemical filter containing activated carbon that the relative humidity in the cleaning device provided with the chemical filter becomes lower than a predetermined value.

【0064】活性炭を添着したケミカルフィルタのよう
に,使用先の雰囲気の温湿度を出荷前に調査し,その温
湿度に見合った水分をわざとケミカルフィルタの活性炭
に吸着又は脱着させて密封梱包の上出荷するという面倒
な作業は必要ない。なぜなら,相対湿度が20%以下の
雰囲気は通常の作業環境ではありえない超乾燥状態であ
り,通常の作業環境では数10%が普通であるから,合
成ゼオライトを備えた空気浄化フィルタには,活性炭を
添着したケミカルフィルタのように水分をわざわざ出荷
前に吸脱着する必要はなく,そのまま梱包して出荷でき
る。
As with a chemical filter to which activated carbon is impregnated, the temperature and humidity of the atmosphere at the place of use are investigated before shipment, and moisture corresponding to the temperature and humidity is deliberately adsorbed to or desorbed from the activated carbon of the chemical filter, and then sealed. There is no need for troublesome work of shipping. This is because an atmosphere having a relative humidity of 20% or less is in an ultra-dry state that cannot be achieved in a normal working environment, and is usually several tens of percent in a normal working environment. Therefore, activated carbon is used in an air purification filter provided with synthetic zeolite. It is not necessary to adsorb and desorb water before shipping as in the case of an attached chemical filter, and it can be packed and shipped as it is.

【0065】また,細孔径6オングストロームの親水性
および疎水性ゼオライト,細孔径8オングストロームの
親水性および疎水性ゼオライト,椰子殻を出発原料とす
る天然物系活性炭,石油ピッチを出発原料とする合成物
系活性炭の6種の吸着剤を対象に,クリーンルーム雰囲
気中(23℃,40%RH)に含まれる表面汚染の原因
となる微量有機物の吸着性能を比較した。それぞれの吸
着剤0.04gを断面積0.15cm2のカラムに充填
し,クリーンルームエアを3リットル/min通気し
た。実験条件を表4に示す。吸着剤通過後の3リットル
/minの空気は,容器自身からガス状有機不純物の発
生のない容積1リットルの容器の流入口に入り,流出口
から出ていく。この容器内に洗浄直後の有機物汚染のな
い酸化膜付きシリコンウェハ基板を20時間だけ放置し
て接触角を測定した。洗浄→20時間放置→接触角測定
→洗浄→20時間放置→接触角測定→・・・・)を連続
して繰り返し,各種吸着剤の吸着性能の経時劣化を測定
した。
In addition, hydrophilic and hydrophobic zeolites having a pore size of 6 Å, hydrophilic and hydrophobic zeolites having a pore size of 8 Å, natural activated carbon starting from coconut shell, and synthetic products starting from petroleum pitch For six types of adsorbents based on activated carbon, the adsorption performance of trace organic substances causing surface contamination contained in a clean room atmosphere (23 ° C., 40% RH) was compared. 0.04 g of each adsorbent was packed in a column having a cross section of 0.15 cm 2 , and clean room air was supplied at a rate of 3 L / min. Table 4 shows the experimental conditions. After passing through the adsorbent, the air at 3 liter / min enters from the container itself into the inlet of a 1-liter container without generation of gaseous organic impurities, and exits from the outlet. A silicon wafer substrate with an oxide film without organic contamination immediately after washing was left in this container for only 20 hours, and the contact angle was measured. Washing → leave for 20 hours → measurement of contact angle → washing → leave for 20 hours → measurement of contact angle →...) Was continuously repeated to measure the deterioration over time of the adsorption performance of various adsorbents.

【0066】[0066]

【表4】 [Table 4]

【0067】 各種吸着剤に対する接触角の変化を図1
4に示す。なお,ウェハ表面の洗浄直後の接触角の測定
値は約3°であった。図14において,曲線40は,洗
浄直後の有機物汚染のない酸化膜付きシリコンウェハを
吸着剤に通気する前のクリーンルームエアに曝した場合
であり,曲線41は,細孔径6オングストロームの親水
性ゼオライトを備えた吸着剤に通気後のクリーンルーム
エアに曝した場合であり,曲線42は,細孔径8オング
ストロームの親水性ゼオライトを備えた吸着剤に通気後
のクリーンルームエアに曝した場合であり,曲線45
は,細孔径6オングストロームの疎水性ゼオライトを備
えた吸着剤に通気後のクリーンルームエアに曝した場合
であり,曲線46は,細孔径8オングストロームの疎水
性ゼオライトを備えた吸着剤に通気後のクリーンルーム
エアに曝した場合であり,曲線43は,天然物系活性炭
を主成分とする吸着剤に通気後のクリーンルームエアに
曝した場合であり,曲線44は,合成物系活性炭を主成
分とする吸着剤に通気後のクリーンルームエアに曝した
場合である。
FIG. 1 shows the change in contact angle for various adsorbents.
It is shown in FIG. The measured value of the contact angle immediately after the cleaning of the wafer surface was about 3 °. In FIG. 14, a curve 40 shows a case where a silicon wafer with an oxide film without organic matter contamination immediately after cleaning was exposed to clean room air before ventilating the adsorbent, and a curve 41 shows a hydrophilic zeolite having a pore diameter of 6 Å. Curve 42 is the case where the air was exposed to the clean room air after passing through the adsorbent provided with the hydrophilic zeolite having a pore diameter of 8 Å.
The curve 46 represents the case where the adsorbent provided with the hydrophobic zeolite having the pore diameter of 6 Å was exposed to the clean room air after being ventilated. Curve 43 is the case when exposed to clean room air after ventilating the adsorbent mainly composed of natural product type activated carbon, and curve 43 is the case where it is exposed to clean room air mainly containing synthetic type activated carbon. In this case, the agent is exposed to clean room air after ventilation.

【0068】図14からつぎのようなことがわかる。 1.吸着性能は,曲線46(細孔径8オングストローム
の疎水性ゼオライト)>曲線42(細孔径8オングスト
ロームの親水性ゼオライト)>曲線43(天然物系活性
炭)>曲線45(細孔径6オングストロームの疎水性ゼ
オライト)>曲線41(細孔径6オングストロームの親
水性ゼオライト)>曲線44(合成物系活性炭)の順で
ある。特に合成物系活性炭が悪い。 2.細孔径6オングストロームの親水性ゼオライト(曲
線41)は通気時間が30時間を越えるあたりから,ま
た細孔径6オングストロームの疎水性ゼオライト(曲線
45)と天然物系活性炭(曲線43)は通気時間が50
時間を越えるあたりからそれぞれ吸着性能の低下が始ま
る。 3.細孔径8オングストロームの親水性ゼオライト(曲
線42)は通気時間が120時間まで,また細孔径8オ
ングストロームの疎水性ゼオライト(曲線46)と合成
物系活性炭(曲線44)は通気時間が200時間まで吸
着性能は低下しない。 4.吸着性能が低下しない使用初期において,細孔径6
オングストロームの親水性ゼオライト(曲線41)と細
孔径8オングストロームの親水性ゼオライト(曲線4
2)を比較すると,細孔径6オングストロームの親水性
ゼオライト(曲線41)が3゜→7.8゜の変化に対し
て,細孔径8オングストロームの親水性ゼオライト(曲
線42)は3゜→3.5゜の変化であった。同じく,吸
着性能が低下しない使用初期において,細孔径6オング
ストロームの疎水性ゼオライト(曲線45)と細孔径8
オングストロームの疎水性ゼオライト(曲線46)を比
較すると,細孔径6オングストロームの疎水性ゼオライ
ト(曲線45)が3゜→6.4゜の変化に対して,細孔
径8オングストロームの疎水性ゼオライト(曲線46)
は3゜→3.1゜の変化であった。細孔径8オングスト
ロームの親水性および疎水性ゼオライトはクリーンルー
ム雰囲気中に含まれる表面汚染の原因となる微量有機物
をほぼ完全に吸着除去できるのに対して,細孔径6オン
グストロームの親水性および疎水性ゼオライトは吸着除
去できずに通過してしまう表面汚染の原因となる微量有
機物があるということがわかる。 5.細孔径8オングストロームの親水性および疎水性ゼ
オライト(曲線42と46),および天然物系活性炭
(曲線43)の吸着性能は,細孔径6オングストローム
の親水性および疎水性ゼオライト(曲線41と45),
および合成物系活性炭(曲線44)の吸着性能よりもは
るかに良い。ゼオライトは,細孔径よりも大きな分子を
吸着することはできない。従って,細孔径8オングスト
ロームの親水性および疎水性ゼオライト(曲線42と4
6)でクリーンルーム雰囲気中に含まれる表面汚染の原
因となる微量有機物をほぼ完全に吸着除去できたという
ことは,図12の実験で対象としたクリーンルーム雰囲
気中に含まれていた表面汚染の原因となる大半の微量有
機物の分子サイズが8オングストローム以下であるとい
うことを示す。一方,細孔径6オングストロームの親水
性および疎水性ゼオライトは合成物系活性炭と比較する
とほぼ満足できる吸着性能があるものの,わずかに吸着
除去できずに通過する表面汚染の原因となる微量有機物
があり,この通過した微量有機物の分子サイズは6オン
グストローム以上8オングストローム以下であったとい
うことを示す。
The following can be seen from FIG. 1. The adsorption performance was as follows: Curve 46 (hydrophobic zeolite with a pore size of 8 Å)> Curve 42 (hydrophilic zeolite with a pore size of 8 Å)> Curve 43 (natural product activated carbon)> Curve 45 (hydrophobic zeolite with a pore size of 6 Å) )> Curve 41 (hydrophilic zeolite having a pore size of 6 Å)> curve 44 (synthetic activated carbon). Particularly, synthetic activated carbon is bad. 2. A hydrophilic zeolite with a pore size of 6 Å (curve 41) has an aeration time of over 30 hours, and a hydrophobic zeolite with a pore size of 6 Å (curve 45) and natural activated carbon (curve 43) have an aeration time of 50 hours.
Around the time, the adsorption performance starts to decrease. 3. Hydrophilic zeolite with a pore size of 8 Å (curve 42) adsorbs up to 120 hours, and hydrophobic zeolite with a pore size of 8 Å (curve 46) and synthetic activated carbon (curve 44) adsorb up to 200 hours. Performance does not decrease. 4. In the early stage of use when the adsorption performance does not decrease, the pore size is 6
Angstrom hydrophilic zeolite (curve 41) and 8 Å pore size hydrophilic zeolite (curve 4)
Comparing 2), the hydrophilic zeolite having a pore diameter of 6 Å (curve 41) changes from 3 ° to 7.8 ° while the hydrophilic zeolite having a pore diameter of 8 Å (curve 42) changes from 3 ° to 3. The change was 5%. Similarly, in the early stage of use where the adsorption performance does not decrease, a hydrophobic zeolite having a pore size of 6 Å (curve 45) and a pore size of 8
Comparing the hydrophobic zeolite of Angstrom (curve 46), the hydrophobic zeolite of 6 angstrom pore diameter (curve 45) changes the hydrophobic zeolite of 8 angstrom pore diameter (curve 46) against the change of 3 ゜ → 6.4 ゜. )
Was a change from 3 ゜ to 3.1 ゜. Hydrophilic and hydrophobic zeolites with a pore size of 8 Å can almost completely adsorb and remove trace organic substances that cause surface contamination contained in the clean room atmosphere, whereas hydrophilic and hydrophobic zeolites with a pore size of 6 Å are It can be seen that there is a trace amount of organic substances that cause surface contamination that cannot be removed by adsorption and pass through. 5. The adsorption performance of the hydrophilic and hydrophobic zeolites having a pore size of 8 Å (curves 42 and 46) and the activated carbon based on natural products (curve 43) was as follows: hydrophilic and hydrophobic zeolites having a pore size of 6 Å (curves 41 and 45),
And much better than the adsorption performance of synthetic activated carbon (curve 44). Zeolites cannot adsorb molecules larger than the pore size. Thus, hydrophilic and hydrophobic zeolites with a pore size of 8 Å (curves 42 and 4).
The fact that trace organic substances that cause surface contamination contained in the clean room atmosphere could be almost completely absorbed and removed in 6) means that the surface contamination contained in the clean room atmosphere targeted in the experiment of FIG. It shows that the molecular size of the majority of trace organics is less than 8 Å. On the other hand, hydrophilic and hydrophobic zeolites with a pore size of 6 angstroms have almost satisfactory adsorption performance as compared with synthetic activated carbon, but there are trace organic substances that can not be adsorbed and removed and cause surface contamination that passes through. This indicates that the molecular size of the trace organic matter passed through was 6 Å to 8 Å.

【0069】以上,本発明の好適な実施例について,L
SIやLCDの製造プロセス全般の高度清浄装置(いわ
ゆるクリーンルーム)に関して説明したが,本発明はか
かる実施例に限定されない。ミニエンバイロメントと称
する局所的な高度清浄装置やクリーンベンチやクリーン
チャンバや清浄な製品を保管するための各種ストッカな
ど様々な規模の高度清浄装置,空気浄化フィルタの処理
可能風量,循環風量と外気取り入れ空気量の割合,高度
清浄装置内部からのガス状有機不純物の発生の有無など
の処理環境に応じて多様な実施例が考えられる。
As described above, in the preferred embodiment of the present invention,
Although the description has been given of the advanced cleaning apparatus (so-called clean room) in the whole process of manufacturing SI and LCD, the present invention is not limited to such an embodiment. High-level cleaning equipment of various scales, such as a local high-level cleaning device called a mini-environment, a clean bench, a clean chamber, and various stockers for storing clean products, a processable air volume of the air purification filter, a circulating air volume, and outside air intake Various embodiments are conceivable depending on the processing environment such as the ratio of the amount of air and the presence or absence of gaseous organic impurities from inside the advanced cleaning device.

【0070】例えば,300mm直径シリコンウェハを
使用して256MbitDRAMや1GbitDRAM
の半導体製造が1999年頃から始まろうとしている。
このような半導体製造装置では,ウェハを該装置内のチ
ャンバに導入した後,反応プロセスを開始するまでの
間,不活性ガス供給装置から窒素やアルゴンの不活性ガ
スを送気して該チャンバ内に充満させる。この不活性ガ
スは極めて高純度の仕様であり,不活性ガス自体がウェ
ハの表面汚染を起こすことはない。しかし,不活性ガス
の供給をオンオフするために,不活性ガス供給装置とチ
ャンバの間にはバルブが設けられ,このバルブの構成素
材からウェハ表面汚染の原因となるガス状有機物が発生
する。本発明による空気浄化フィルタをバルブとチャン
バの間のガス流路に設けることによって,該空気浄化フ
ィルタは自身からのガス状有機汚染物を発生することな
く,バルブから発生する種々のガス状有機汚染物を除去
することで,ウェハの表面汚染の防止と品質向上に役立
った。
For example, using a 300 mm diameter silicon wafer, a 256 Mbit DRAM or a 1 Gbit DRAM
Semiconductor production is about to start around 1999.
In such a semiconductor manufacturing apparatus, an inert gas such as nitrogen or argon is supplied from an inert gas supply device until the reaction process is started after a wafer is introduced into the chamber in the apparatus and the wafer is introduced into the chamber. To fill. This inert gas has an extremely high purity specification, and the inert gas itself does not cause surface contamination of the wafer. However, in order to turn on and off the supply of the inert gas, a valve is provided between the inert gas supply device and the chamber, and gaseous organic substances that cause contamination of the wafer surface are generated from the constituent materials of the valve. By providing the air purifying filter according to the present invention in the gas flow path between the valve and the chamber, the air purifying filter does not generate any gaseous organic contaminants from itself, but can generate various gaseous organic contaminants generated from the valve. Removing the material helped to prevent surface contamination of the wafer and improve quality.

【0071】[0071]

【発明の効果】本発明によれば,以下のような効果を奏
する。 (1)清浄装置で取り扱う基板表面の汚染を防止するに
あたり,雰囲気中に含まれる基板表面汚染の原因となる
ガス状有機不純物を吸着・除去したことによって,半導
体やLCDの製造などに好適な基板表面の汚染の原因と
なるガス状有機不純物が除去された清浄空気を作り出す
ことができた。また,半導体やLCDの製造において,
この清浄空気を,基板表面が暴露される清浄装置の雰囲
気として利用することで,基板表面の有機物汚染を防止
することができた。 (2)(1)において,ガス状有機不純物を吸着・除去
するための吸着剤として合成ゼオライトを,またガス状
有機不純物を吸着・除去するための吸着剤として該合成
ゼオライトの有効細孔径よりも大きな有効細孔径を有す
る各種無機物を適宜に選択し,組み合わせることによっ
て,構成材料に可燃物を含まない空気浄化フィルタを提
供することができ,この空気浄化フィルタを用いて構築
された清浄装置は,従来の活性炭吸着剤やイオン交換繊
維の空気浄化フィルタを用いて構築された清浄装置に比
べて防災上,優れていた。また,基板表面汚染の原因と
なるガス状有機物を発生しない素材のみから構成される
空気浄化フィルタを提供することができ,この空気浄化
フィルタを用いて構築された清浄装置は,従来の活性炭
吸着剤やイオン交換繊維の空気浄化フィルタを用いて構
築された清浄装置に比べて,基板表面の有機物汚染をよ
り完全に防止することができた。
According to the present invention, the following effects can be obtained. (1) In preventing contamination of the substrate surface handled by the cleaning device, a substrate suitable for the production of semiconductors and LCDs, etc. by adsorbing and removing gaseous organic impurities that cause substrate surface contamination contained in the atmosphere. It was possible to produce clean air from which gaseous organic impurities causing surface contamination were removed. In the manufacture of semiconductors and LCDs,
By using this clean air as the atmosphere of a cleaning device to which the substrate surface is exposed, organic contamination of the substrate surface could be prevented. (2) In (1), the synthetic zeolite is used as an adsorbent for adsorbing / removing gaseous organic impurities, and the synthetic zeolite is used as an adsorbent for adsorbing / removing gaseous organic impurities. By appropriately selecting and combining various inorganic substances having a large effective pore diameter, it is possible to provide an air purifying filter containing no combustible materials in the constituent material, and a purifying device constructed using this air purifying filter is: It was superior in terms of disaster prevention in comparison with a cleaning device constructed using a conventional activated carbon adsorbent or an air exchange filter made of ion exchange fibers. In addition, it is possible to provide an air purification filter composed only of a material that does not generate gaseous organic substances that cause substrate surface contamination, and a cleaning device constructed using this air purification filter is a conventional activated carbon adsorbent. Organic contamination on the substrate surface could be more completely prevented as compared to a cleaning device constructed using an air purification filter made of ion exchange fibers.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態にかかる空気浄化フィルタ
の斜視であり,(a)は分解図,(b)は組立図をそれ
ぞれ示している。
FIG. 1 is a perspective view of an air purification filter according to an embodiment of the present invention, where (a) is an exploded view and (b) is an assembly view.

【図2】第1,2のフィルタ部の概略的な分解組立図で
ある。
FIG. 2 is a schematic exploded view of first and second filter units.

【図3】他の実施の形態にかかる空気浄化フィルタの分
解図である。
FIG. 3 is an exploded view of an air purification filter according to another embodiment.

【図4】他の実施の形態にかかる空気浄化フィルタの説
明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of an air purification filter according to another embodiment.

【図5】波形シートと薄板シートを積層した空気浄化フ
ィルタの部分拡大図である。
FIG. 5 is a partially enlarged view of an air purification filter obtained by laminating a corrugated sheet and a thin sheet.

【図6】山形シートと薄板シートを積層した空気浄化フ
ィルタの部分拡大図である。
FIG. 6 is a partially enlarged view of an air purification filter in which a chevron sheet and a thin sheet are laminated.

【図7】ケーシングを用いて構成した本発明の他の実施
の形態にかかる空気浄化フィルタを示し,(a)は
(b)のA−A断面,(b)は(a)のB−B断面であ
る。
FIGS. 7A and 7B show an air purification filter according to another embodiment of the present invention constituted by using a casing, wherein FIG. 7A is an AA cross section of FIG. It is a cross section.

【図8】ケミカルフィルタによる処理空気に曝されたウ
ェハ表面の接触角の経時変化を示すグラフである。
FIG. 8 is a graph showing a change with time of a contact angle of a wafer surface exposed to processing air by a chemical filter.

【図9】接触角と炭素付着量の関係を示すグラフであ
る。
FIG. 9 is a graph showing a relationship between a contact angle and a carbon deposition amount.

【図10】本発明による空気浄化フィルタをクリーンル
ーム内に置かれた保管庫の天井に取り付けた実施例の説
明図である。
FIG. 10 is an explanatory view of an embodiment in which the air purification filter according to the present invention is mounted on the ceiling of a storage placed in a clean room.

【図11】本発明による空気浄化フィルタの効果を示す
グラフである。
FIG. 11 is a graph showing the effect of the air purification filter according to the present invention.

【図12】本発明による空気浄化フィルタをクリーンル
ーム内に置かれた保管庫のクリーニングルームエアの取
り入れ口に取り付けた別の実施例の説明図である。
FIG. 12 is an explanatory view of another embodiment in which the air purifying filter according to the present invention is attached to a cleaning room air intake of a storage placed in a clean room.

【図13】合成ゼオライトと活性炭への水の吸着等温線
図である。
FIG. 13 is an adsorption isotherm of water adsorption on synthetic zeolite and activated carbon.

【図14】各種の吸着剤の表面汚染の原因となる微量有
機物の吸着性能を比較したグラフである。
FIG. 14 is a graph comparing the adsorption performance of trace amounts of organic substances that cause surface contamination of various adsorbents.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 空気浄化フィルタ 11a 第1のフィルタ部 11b 第2のフィルタ部 11 air purification filter 11a first filter section 11b second filter section

フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI B01J 20/12 B01J 20/12 Z 20/14 20/14 20/18 20/18 Z 20/32 20/32 Z Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI B01J 20/12 B01J 20/12 Z 20/14 20/14 20/18 20/18 Z 20/32 20/32 Z

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 合成ゼオライトを備えた通気性を有する
第1のフィルタ部の上流側又は下流側に隣接させて,ガ
ス状有機不純物を吸着する性質を有し,かつ前記合成ゼ
オライトの有効細孔径よりも大きな有効細孔径を有する
無機吸着剤を備えた通気性を有する第2のフィルタ部を
配置したことを特徴とする空気浄化フィルタ。
1. An adsorbent for adsorbing gaseous organic impurities, which is adjacent to an upstream or downstream side of a gas-permeable first filter section provided with a synthetic zeolite, and an effective pore diameter of the synthetic zeolite. An air purification filter, comprising a second filter portion having air permeability provided with an inorganic adsorbent having a larger effective pore diameter.
【請求項2】 前記第1のフィルタ部が,支持体の表面
に合成ゼオライトを固着させた構成であり,前記第2の
フィルタ部が,支持体の表面に前記無機吸着剤を固着さ
せた構成であることを特徴とする請求項1に記載の空気
浄化フィルタ。
2. A structure in which the first filter section has a synthetic zeolite fixed to the surface of a support, and the second filter section has the inorganic adsorbent fixed to the surface of a support. The air purification filter according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記第1のフィルタ部が,前記合成ゼオ
ライトを分散させた懸濁液に支持体を含浸させた後に乾
燥することで支持体表面に合成ゼオライトを固着させた
構成であり,前記第2のフィルタ部が,前記無機吸着剤
を分散させた懸濁液に支持体を含浸させた後に乾燥する
ことで支持体表面に無機吸着剤を固着させた構成である
ことを特徴とする請求項2に記載の空気浄化フィルタ。
3. A structure in which the first filter section is configured to impregnate a support with a suspension in which the synthetic zeolite is dispersed and then dry the suspension to fix the synthetic zeolite on the surface of the support. The second filter unit is configured to impregnate the support with a suspension in which the inorganic adsorbent is dispersed and then dry the suspension to fix the inorganic adsorbent on the surface of the support. Item 3. An air purification filter according to Item 2.
【請求項4】 前記第1のフィルタ部が,合成ゼオライ
トの粉末で形成したペレットを支持体に固着させた構成
であり,前記第2のフィルタ部が,前記無機吸着剤の粉
末で形成したペレットを支持体に固着させた構成である
ことを特徴とする請求項1に記載の空気浄化フィルタ。
4. A method according to claim 1, wherein the first filter section is formed by fixing a pellet formed of synthetic zeolite powder to a support, and the second filter section is formed of a pellet formed of the inorganic adsorbent powder. The air purification filter according to claim 1, wherein the filter is fixed to a support.
【請求項5】 通気性を有する支持体を,該支持体の通
気方向と交差する境界面を境にして2つの領域に分割
し,一方の領域において支持体の表面に合成ゼオライト
もしくは合成ゼオライトの粉末で形成したペレットを固
着させて第1のフィルタ部を形成し,他方の領域におい
て支持体の表面に無機吸着剤もしくは無機吸着剤の粉末
で形成したペレットを固着させて第2のフィルタ部を形
成したことを特徴とする請求項2,3又は4のいずれか
に記載の空気浄化フィルタ。
5. A support having air permeability is divided into two regions with a boundary surface intersecting with the direction of ventilation of the support as a boundary, and in one region, the surface of the support is made of synthetic zeolite or synthetic zeolite. The first filter portion is formed by fixing the pellets formed of the powder, and the second filter portion is formed by fixing the pellets formed of the inorganic adsorbent or the powder of the inorganic adsorbent on the surface of the support in the other region. The air purification filter according to claim 2, wherein the air purification filter is formed.
【請求項6】 前記支持体の表面に合成ゼオライトもし
くは合成ゼオライトの粉末で形成したペレットを固着さ
せるに際し,及び/又は,前記支持体の表面に無機吸着
剤もしくは無機吸着剤の粉末で形成したペレットを固着
させるに際し,タルク,カオリン鉱物,ベントナイト,
珪酸ソーダ,シリカ又はアルミナの少なくとも1種から
なる固着補助剤を使用することを特徴とする請求項2,
3,4又は5のいずれかに記載の空気浄化フィルタ。
6. A method for fixing a pellet formed of synthetic zeolite or a powder of synthetic zeolite on the surface of the support, and / or a pellet formed of an inorganic adsorbent or a powder of inorganic adsorbent on the surface of the support. Talc, kaolin mineral, bentonite,
3. A fixing aid comprising at least one of sodium silicate, silica and alumina.
The air purification filter according to any one of 3, 4, and 5.
【請求項7】 前記第2のフィルタ部の無機吸着剤が,
けいそう土,シリカ,アルミナ,シリカとアルミナの混
合物,珪酸アルミニウム,活性アルミナ,多孔質ガラ
ス,リボン状構造の含水珪酸マグネシウム質粘土鉱物,
活性白土,活性ベントナイトの少なくとも1種からなる
ことを特徴とする請求項1,2,3,4,5又は6のい
ずれかに記載の空気浄化フィルタ。
7. The inorganic adsorbent of the second filter section,
Diatomaceous earth, silica, alumina, mixture of silica and alumina, aluminum silicate, activated alumina, porous glass, hydrated magnesium silicate clay mineral with ribbon-like structure,
The air purification filter according to any one of claims 1, 2, 3, 4, 5, and 6, comprising at least one of activated clay and activated bentonite.
【請求項8】 前記合成ゼオライトの有効細孔径が7オ
ングストローム以上であり,かつ前記第2のフィルタ部
の無機吸着剤において,15〜300オングストローム
の範囲に分布する細孔の総容積が重量当たり0.2cc
/g以上であるか,又は該無機吸着剤の細孔の比表面積
が100m2/g以上であることを特徴とする請求項
1,2,3,4,5,6又は7のいずれかに記載の空気
浄化フィルタ。
8. The synthetic zeolite according to claim 1, wherein said synthetic zeolite has an effective pore diameter of at least 7 angstroms and said inorganic adsorbent of said second filter has a total volume of pores distributed in a range of 15 to 300 angstroms of 0 to 0 per weight. .2cc
/ G or more, or the specific surface area of the pores of the inorganic adsorbent is 100 m 2 / g or more, any one of claims 1, 2, 3, 4, 5, 6, and 7. An air purification filter according to any one of the preceding claims.
【請求項9】 前記支持体が,ハニカム構造体であるこ
とを特徴とする請求項2,3,4,5,6,7又は8の
いずれかに記載の空気浄化フィルタ。
9. The air purification filter according to claim 2, wherein the support is a honeycomb structure.
【請求項10】 前記ハニカム構造体が,無機繊維を必
須成分とする構造体であることを特徴とする請求項9に
記載の空気浄化フィルタ。
10. The air purification filter according to claim 9, wherein the honeycomb structure is a structure containing inorganic fibers as an essential component.
【請求項11】前記合成ゼオライトのペレットをケーシ
ング内に充填して前記第1のフィルタ部を構成し,前記
無機吸着剤のペレットを別のケーシング内に充填して前
記第2のフィルタ部を構成したことを特徴とする請求項
1に記載の空気浄化フィルタ。
11. The first filter portion is formed by filling the pellets of the synthetic zeolite into a casing, and the second filter portion is formed by filling the pellets of the inorganic adsorbent into another casing. The air purification filter according to claim 1, wherein:
【請求項12】 前記合成ゼオライトが撥水性であるこ
とを特徴とする請求項1,2,3,4,5,6,7,
8,9,10又は11のいずれかに記載の空気浄化フィ
ルタ。
12. The method according to claim 1, wherein said synthetic zeolite is water-repellent.
The air purification filter according to any one of 8, 9, 10, and 11.
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