JPH1168007A - Lead frame for semiconductor device and molding die - Google Patents
Lead frame for semiconductor device and molding dieInfo
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- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置搭載用
のリードフレームとモールド金型に関し、特に、金型に
樹脂の残滓を残さないリードフレームとモールド金型に
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead frame and a mold for mounting a semiconductor device, and more particularly to a lead frame and a mold that do not leave resin residue on the mold.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体チップを外部から保護するために
樹脂によるモールドの手法が広く用いられている。近
年、ロジック用、特にゲートアレイなどでは大型で多ピ
ンのパッケージ・サイズの大きなICが用いられるよう
になると、モールドの手法も、大型チップ、大型パッケ
ージに対応したものが必要になってくる。樹脂封止のモ
ールドの手法としては、1回で成形できる数量が多くコ
ストが廉価なトランスファ・モールドが主流である。ト
ランスファ・モールド法では1回で成形できる個数は、
数十個から数百個になり、生産性を向上する目的で、金
型サイズも大きくなってきた。2. Description of the Related Art A resin molding method is widely used to protect a semiconductor chip from the outside. In recent years, when a large-sized IC having a large number of pins and a large package size is used for a logic, particularly for a gate array, a molding method corresponding to a large chip and a large package is required. As a method of molding with resin, a transfer mold that is large in quantity that can be molded at one time and inexpensive is mainly used. In the transfer molding method, the number that can be molded at one time is
The number of molds has increased from several tens to several hundreds, and the size of the mold has been increased in order to improve productivity.
【0003】図3は、トランスファ・モールドを行う従
来の一般的なモールド装置の一例を示す側面図である。
この装置では、上下の金型6、7の間にフレームを挿入
して、上下金型のチェース25の間に樹脂を油圧プラン
ジャ23によって注入する。チェース25の中に入って
いるキャビティ10に樹脂が充填されて半導体装置の成
形が完了する仕組みである。上金型6の上下は可動盤2
2がガイド24に沿って上下することによって実行され
る。FIG. 3 is a side view showing an example of a conventional general molding apparatus for performing transfer molding.
In this device, a frame is inserted between the upper and lower molds 6 and 7, and resin is injected between the upper and lower mold chase 25 by the hydraulic plunger 23. This is a mechanism in which the resin is filled into the cavity 10 contained in the chase 25 and the molding of the semiconductor device is completed. The movable platen 2 above and below the upper die 6
2 is performed by moving up and down along the guide 24.
【0004】このようなモールド装置を用いたトランス
ファ・モールド工程は図4〜図10に示す次のような手
順で行われる。 1)金型の余熱 金型6、7は、予め金型の内部に設けられたヒータ26
によって加熱されている。A transfer molding process using such a molding apparatus is performed according to the following procedure shown in FIGS. 1) Preheating of the dies The dies 6 and 7 are provided with heaters 26 provided in advance in the dies.
Is heated by.
【0005】2)リードフレームのセット 上金型6を上げて、図4に示すようにボンディングされ
た半導体チップ9を搭載したリードフレーム1を下金型
7に設置し、上金型6を再び下げてリードフレーム1を
固定する。2) Setting of lead frame The upper die 6 is raised, and the lead frame 1 on which the bonded semiconductor chip 9 is mounted is placed on the lower die 7 as shown in FIG. Lower the lead frame 1 to fix it.
【0006】3)樹脂の投入 図5に示すように樹脂タブレット28を高周波プレヒー
タ27などで加熱し、樹脂粘度を下げてから図6のよう
に金型6、7内のポット11に投入する。樹脂は金型
6、7からも熱を与えられてさらに粘度が低下するよう
になる。3) Injecting the resin As shown in FIG. 5, the resin tablet 28 is heated by the high frequency preheater 27 or the like to lower the resin viscosity, and then is injected into the pot 11 in the dies 6 and 7 as shown in FIG. The resin is also heated by the molds 6 and 7 so that the viscosity is further reduced.
【0007】4)樹脂注入 図7に示すようにプランジャ23を下げて、樹脂をポッ
ト11からランナー4を経て各キャビティ10に注入す
る。この時の、金型6、7内に注入されている樹脂の透
視図を図10に示す。この時、注入中には圧力を加え
ず、樹脂がほぼキャビティ10内に充填されてから圧力
を加えるようにする。この段階では、樹脂が溶融してい
る際にエアを巻き込みやすい。巻き込んだエアと一緒
に、樹脂はランナー4を経てキャビティ10に注入され
る。しかし、圧力を加えると、エアは排出されたり小さ
くなったりする。4) Injecting resin As shown in FIG. 7, the plunger 23 is lowered, and the resin is injected from the pot 11 into each cavity 10 through the runner 4. FIG. 10 shows a perspective view of the resin injected into the molds 6 and 7 at this time. At this time, no pressure is applied during the injection, and the pressure is applied after the resin is substantially filled in the cavity 10. At this stage, when the resin is melted, air is easily entrained. The resin is injected into the cavity 10 via the runner 4 together with the entrained air. However, when pressure is applied, air is exhausted or reduced.
【0008】5)樹脂の硬化 樹脂が充填された状態で、数分間保持すると、樹脂は重
合して硬化する。生産性を上げるためには、この工程で
硬化時間をなるべく短くしてインデックスを上げるよう
にしたい。この硬化時間をきめるのは製品の信頼性と作
業性である。5) Curing of Resin When the resin is filled and held for several minutes, the resin polymerizes and cures. In order to increase the productivity, it is desirable to shorten the curing time in this step as much as possible to increase the index. It is product reliability and workability that determine the curing time.
【0009】6)半導体装置の取り出し 成形が終了すると図8に示すように上金型6を上げて、
半導体装置(IC)12とランナー4を取り出す。この
後、図9に示すようにIC12部分とランナー4やプラ
ンジャ下のカル13などの不要な部分を分離し、不要部
分を捨てる。6) Removal of the semiconductor device When the molding is completed, the upper mold 6 is raised as shown in FIG.
The semiconductor device (IC) 12 and the runner 4 are taken out. Thereafter, as shown in FIG. 9, the IC 12 is separated from unnecessary parts such as the runner 4 and the cull 13 under the plunger, and the unnecessary parts are discarded.
【0010】7)ファイナル・キュア 6)の段階ではまだ受合が十分ではなく、樹脂特性も安
定していないので、この後、数時間、高温加熱を行い、
反応を完成させる。一般には160°C〜180°C程
度の温度で数時間加熱する。[0010] 7) Final cure At the stage of 6), acceptance has not yet been completed and the resin properties have not been stabilized.
Complete the reaction. Generally, heating is performed at a temperature of about 160 ° C. to 180 ° C. for several hours.
【0011】以上に述べたように、従来、半導体のリー
ドフレーム1は、図11に示すように、半導体チップ9
を封止するための樹脂封止工程でランナー4を介してキ
ャビティ10内に封止されていた。さらに生産性を向上
するために、1つのリードフレーム1に複数の半導体チ
ップ9を搭載するように、図10や図12に示すよう
に、複数のキャビティ10、複数のランナー4に亙って
1つのリードフレーム1を封止するようにしている。As described above, conventionally, the semiconductor lead frame 1 is, as shown in FIG.
Was sealed in the cavity 10 via the runner 4 in a resin sealing step for sealing the resin. In order to further improve the productivity, a plurality of semiconductor chips 9 are mounted on one lead frame 1 so as to extend over a plurality of cavities 10 and a plurality of runners 4 as shown in FIGS. One lead frame 1 is sealed.
【0012】このような場合、従来のリードフレーム1
では、樹脂封止後、モールド金型からリードフレーム1
を取り出す場合に、図13に示すようにランナー4部分
で樹脂がモールド金型に残ってしまうという不具合が発
生する虞があった。もし、これに気付かずに作業が継続
されると、残ったランナー4が次サイクルでの樹脂封入
の際の樹脂封入経路の妨げになって、樹脂が封入されな
いキャビティ10が残ってしまうという問題が生じる。In such a case, the conventional lead frame 1
Then, after resin sealing, the lead frame 1
When taking out, there is a possibility that a problem may occur that the resin remains in the mold at the runner 4 as shown in FIG. If the work is continued without noticing this, there is a problem that the remaining runner 4 hinders the resin charging path at the time of resin charging in the next cycle, leaving a cavity 10 in which no resin is charged. Occurs.
【0013】[0013]
【発明が解決しようとする課題】上述のごとく、従来の
半導体装置搭載用のリードフレームとモールド金型を用
いて、半導体装置を形成するに際して、ランナー部分で
樹脂がモールド金型に残ってしまうという不具合が発生
し、生産性が損なわれるという問題を生じるおそれがあ
った。As described above, when a semiconductor device is formed using a conventional lead frame for mounting a semiconductor device and a mold, the resin remains in the mold at the runner portion. There is a possibility that a problem may occur and productivity may be impaired.
【0014】本発明は、比較的簡単な方法によって、樹
脂封止後、モールド金型からリードフレームを取り出し
た後でランナー部分に樹脂が残らないようにしたリード
フレームと、その様なリードフレームを実現するモール
ド金型の提供を目的とする。According to the present invention, there is provided a lead frame in which the resin is sealed, and after removing the lead frame from the mold, no resin remains on the runner portion. The aim is to provide a mold that can be realized.
【0015】[0015]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、半導体チップ搭載用のアイランド部、こ
のアイランド部をつなぐセクションバー部および半導体
チップ電極を外部に取り出すリード部を具備する半導体
装置用リードフレームにおいて、前記セクションバー部
に突起手段を設けたことを特徴とする。In order to achieve the above object, the present invention provides a semiconductor device having an island portion for mounting a semiconductor chip, a section bar portion connecting the island portion, and a lead portion for taking out a semiconductor chip electrode to the outside. In the device lead frame, a projection means is provided on the section bar portion.
【0016】また、半導体チップ搭載用のアイランド
部、このアイランド部をつなぐセクションバー部および
半導体チップ電極を外部に取り出すリード部を具備する
半導体装置用リードフレームを固定し、樹脂封止を実行
するためのモールド金型において、前記半導体装置用リ
ードフレームの前記セクションバー部に対応してプレス
手段を具備することを特徴とする。Also, a resin device lead frame having an island portion for mounting a semiconductor chip, a section bar portion connecting the island portion, and a lead portion for taking out a semiconductor chip electrode to the outside is fixed, and resin sealing is performed. In the above mold die, a press means is provided corresponding to the section bar portion of the semiconductor device lead frame.
【0017】[0017]
【発明の実施の形態】以下、本発明にかかるリードフレ
ームとモールド金型を添付図面を参照にして詳細に説明
する。図1は、本発明のリードフレームの一実施の形態
と樹脂封止後の半導体装置およびランナー部分を示す断
面図である。図1において、1はリードフレーム、2は
セクションバー、3は突起部、4はランナー部、12は
半導体装置である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a lead frame and a mold according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of a lead frame of the present invention, a semiconductor device after resin sealing, and a runner portion. In FIG. 1, 1 is a lead frame, 2 is a section bar, 3 is a projection, 4 is a runner, and 12 is a semiconductor device.
【0018】この構成によると、ランナー部4に突起部
3が入り込んだ形で樹脂が重合硬化するので、モールド
金型を開いた際にリードフレーム1とランナー部4が分
離せず、ランナー部4が金型内に残るような不都合を除
去することができる。突起部3の数はランナー部4に対
して1つあれば十分効果があげられるが、さらに複数の
突起部3を設けることで信頼性を高めることができる。
半導体装置12は最終的にランナー部4を除去して出荷
されるため、セクションバー2に突起部3があるかない
かが製品の品質に影響することはなく、取扱いはまった
く従来どうりで良い。According to this configuration, the resin is polymerized and cured in a form in which the protrusions 3 enter the runner portions 4, so that when the mold is opened, the lead frame 1 and the runner portions 4 are not separated, and the runner portions 4 are not separated. Inconveniences that remain in the mold can be eliminated. If the number of the protrusions 3 is one with respect to the runner portion 4, a sufficient effect can be obtained, but the reliability can be improved by further providing a plurality of protrusions 3.
The semiconductor device 12 is finally shipped after the runner portion 4 is removed. Therefore, whether or not the section bar 2 has the protrusion 3 does not affect the quality of the product, and the handling can be exactly the same as the conventional one.
【0019】図2は、本発明のモールド金型の一実施の
形態を示す断面図である。図2(a)において、1はリ
ードフレーム、2はセクションバー、5はモールド金
型、6は上金型、7は下金型、8はランナー接触面、8
−1はランナー接触面8に設けられた凸形状の突出刃部
である。FIG. 2 is a sectional view showing an embodiment of a mold according to the present invention. In FIG. 2A, 1 is a lead frame, 2 is a section bar, 5 is a mold, 6 is an upper mold, 7 is a lower mold, 8 is a runner contact surface, 8
-1 is a protruding protruding blade portion provided on the runner contact surface 8.
【0020】モールド金型5は半導体チップに樹脂封止
を行うためのもので、上金型6と下金型7から構成され
ている。樹脂封止に際しては、この上金型6を図2
(a)に示すようにいったん上げて、チップを搭載した
リードフレーム1を下金型7上に設置し、図2(b)の
ように上金型6を下げてリードフレーム1を固定するよ
うにする。すると、上金型6のランナー接触面8に設け
られた突出刃部8−1がセクションバー2をプレスし、
セクションバー2のランナー部4にあたる部分に突起部
3が自動的に形成される。したがってこの突起部3がラ
ンナー部4に入り込んだ形で樹脂が重合硬化し、モール
ド金型5を開いた際にリードフレーム1とランナー部4
が分離せず、ランナー部4が金型内に残るような不都合
を除去することができる。The molding die 5 is for sealing the semiconductor chip with resin, and comprises an upper die 6 and a lower die 7. At the time of resin sealing, this upper mold 6 is
As shown in FIG. 2A, the lead frame 1 on which the chip is mounted is mounted on the lower die 7 and the upper die 6 is lowered to fix the lead frame 1 as shown in FIG. 2B. To Then, the protruding blade portion 8-1 provided on the runner contact surface 8 of the upper die 6 presses the section bar 2, and
The projection 3 is automatically formed at a portion corresponding to the runner 4 of the section bar 2. Therefore, when the resin is polymerized and cured in a state where the projections 3 enter the runners 4, the lead frame 1 and the runners 4 are opened when the mold 5 is opened.
However, the inconvenience that the runner part 4 does not separate and the runner part 4 remains in the mold can be removed.
【0021】以上述べたように本発明のリードフレーム
によると、リードフレームのセクションバーの部分に突
起部を設けたので、ランナー部分の封止用の樹脂がこの
突起部を含んで硬化し、モールド金型を開いた際にラン
ナー部分の樹脂が金型に取り残される虞がなくなり、生
産性が向上する。また、本発明のモールド金型による
と、上金型のランナー接触面に突出刃部を設けたので、
樹脂モールド工程と同時にリードフレームのセクション
バーの部分に突起部を形成することができ、特別な工程
を設けることなく廉価に突起部を形成することができ
る。As described above, according to the lead frame of the present invention, since the protrusion is provided at the section bar of the lead frame, the resin for sealing the runner portion is cured including the protrusion, and When the mold is opened, there is no possibility that the resin in the runner portion is left in the mold, and the productivity is improved. According to the mold of the present invention, since the protruding blade portion is provided on the runner contact surface of the upper mold,
The projection can be formed on the section bar portion of the lead frame simultaneously with the resin molding step, and the projection can be formed at low cost without providing a special step.
【0022】以上の説明で、リードフレームのセクショ
ンバーの部分に突起部を設けるように説明したが、この
突起部に変えて、セクションバーに複数のディンプルを
設けたり、セクションバー部分とランナー部分を貫通す
る針金等をブラシ状に設けたり、セクションバーの部分
に小穴を設けてランナー部分の封止用の樹脂がこの小穴
を介してセクションバーの上面で硬化するような方法を
取るなど、セクションバーとランナー部分が分離しない
ような方法であればどのような方法を採ることも可能で
ある。In the above description, the projection is provided at the section bar portion of the lead frame. Instead of this projection, a plurality of dimples are provided on the section bar, or the section bar portion and the runner portion are connected. Section bar, such as a method of providing a penetrating wire or the like in a brush shape, or providing a small hole in the section bar part so that the resin for sealing the runner part hardens on the upper surface of the section bar through this small hole. Any method can be adopted as long as the method does not separate the runner portion from the runner portion.
【0023】[0023]
【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項1の
発明では、半導体装置用リードフレームにおいて、セク
ションバー部に突起手段を設けるようにした。このよう
に、セクションバー部に突起手段を設けたことで、この
突起手段がランナー部に食い込んで、ランナー部がリー
ドフレームから分離せず、モールド金型から容易に取り
出せるので、比較的簡単な方法によってモールド金型へ
のランナー残りや次の樹脂封入時の封入経路の妨げを防
止でき、半導体装置樹脂封入工程の歩留まりの向上に効
果がある。As described above, according to the first aspect of the present invention, in the lead frame for a semiconductor device, the projecting means is provided on the section bar portion. As described above, the provision of the projecting means on the section bar portion allows the projecting means to bite into the runner portion, and the runner portion is not separated from the lead frame and can be easily taken out of the mold. This can prevent the runner from remaining in the mold and hinder the encapsulation path at the time of encapsulating the next resin, which is effective in improving the yield of the semiconductor device resin encapsulation process.
【0024】また、本発明の請求項3の発明では、半導
体装置用リードフレームを固定し、樹脂封止を実行する
ためのモールド金型において、半導体装置用リードフレ
ームのセクションバー部に突起手段を形成するプレス手
段を設けるようにした。上金型のランナー接触面にプレ
ス手段である突出刃部を設けたので、樹脂モールド工程
と同時に自動的にリードフレームのセクションバーの部
分に突起部を形成することができ、特別な工程を設ける
ことなく廉価に突起部を形成することができる。According to a third aspect of the present invention, in a mold for fixing a semiconductor device lead frame and performing resin sealing, a projection means is provided on a section bar portion of the semiconductor device lead frame. Press means for forming is provided. Since a protruding blade portion, which is a pressing means, is provided on the runner contact surface of the upper mold, a protruding portion can be automatically formed on the section bar of the lead frame simultaneously with the resin molding process, and a special process is provided. The protruding portion can be formed at a low cost without the need.
【図1】本発明のリードフレームの一実施の形態と樹脂
封止後の半導体装置およびランナー部分を示す断面図。FIG. 1 is a cross-sectional view showing an embodiment of a lead frame of the present invention, a semiconductor device after resin sealing, and a runner portion.
【図2】本発明のモールド金型の一実施の形態を示す断
面図。FIG. 2 is a sectional view showing an embodiment of a mold according to the present invention.
【図3】従来の一般的なモールド装置の一例を示す側面
図。FIG. 3 is a side view showing an example of a conventional general molding apparatus.
【図4】モールド工程の手順を示す説明図。FIG. 4 is an explanatory view showing a procedure of a molding step.
【図5】モールド工程の手順を示す説明図。FIG. 5 is an explanatory view showing a procedure of a molding step.
【図6】モールド工程の手順を示す説明図。FIG. 6 is an explanatory diagram showing a procedure of a molding step.
【図7】モールド工程の手順を示す説明図。FIG. 7 is an explanatory view showing a procedure of a molding step.
【図8】モールド工程の手順を示す説明図。FIG. 8 is an explanatory view showing a procedure of a molding step.
【図9】モールド工程の手順を示す説明図。FIG. 9 is an explanatory view showing a procedure of a molding step.
【図10】金型内に注入される樹脂の状態を示す透視
図。FIG. 10 is a perspective view showing a state of a resin injected into a mold.
【図11】金型と半導体チップとランナーとキャビティ
の位置関係を示す図。FIG. 11 is a diagram showing a positional relationship among a mold, a semiconductor chip, a runner, and a cavity.
【図12】金型と半導体チップとランナーとキャビティ
の位置関係を示す図。FIG. 12 is a diagram showing a positional relationship among a mold, a semiconductor chip, a runner, and a cavity.
【図13】ランナー部分で樹脂がモールド金型に残って
しまう不具合を示す説明図。FIG. 13 is an explanatory view showing a problem that a resin remains in a mold at a runner portion.
1…リードフレーム、2…セクションバー、3…突起
部、4…ランナー部、5…モールド金型、6…上金型、
7…下金型、8…ランナー接触面、8−1…凸形状の突
出刃部、9…半導体チップ、10…キャビティ、11…
ポット、12…半導体装置、13…カル、21…固定
盤、22…可動盤、23…油圧プランジャ、24…ガイ
ド、25…チェース、26…ヒータ、27…高周波プリ
ヒータ、28…タブレット。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Lead frame, 2 ... Section bar, 3 ... Projection part, 4 ... Runner part, 5 ... Mold die, 6 ... Upper die,
7: Lower mold, 8: Runner contact surface, 8-1: Protruding protruding blade, 9: Semiconductor chip, 10: Cavity, 11 ...
Pot, 12: semiconductor device, 13: cull, 21: fixed plate, 22: movable plate, 23: hydraulic plunger, 24: guide, 25: chase, 26: heater, 27: high frequency preheater, 28: tablet.
Claims (3)
のアイランド部をつなぐセクションバー部および半導体
チップ電極を外部に取り出すリード部を具備する半導体
装置用リードフレームにおいて、 前記セクションバー部に突起手段を設けたことを特徴と
する半導体装置用リードフレーム。1. A semiconductor device lead frame comprising an island portion for mounting a semiconductor chip, a section bar portion connecting the island portion, and a lead portion for taking out a semiconductor chip electrode to the outside, wherein a projection means is provided on the section bar portion. A lead frame for a semiconductor device.
対するプレス加工によって形成されることを特徴とする
請求項1に記載の半導体装置用リードフレーム。2. The semiconductor device lead frame according to claim 1, wherein said projecting means is formed by press working on said section bar portion.
のアイランド部をつなぐセクションバー部および半導体
チップ電極を外部に取り出すリード部を具備する半導体
装置用リードフレームを固定し、この半導体装置用リー
ドフレームに樹脂封止を実行するためのモールド金型に
おいて、 前記半導体装置用リードフレームの前記セクションバー
部に対応してプレス手段を具備することを特徴とするモ
ールド金型。3. A semiconductor device lead frame having an island portion for mounting a semiconductor chip, a section bar portion connecting the island portion, and a lead portion for taking out a semiconductor chip electrode to the outside is fixed to the semiconductor device lead frame. What is claimed is: 1. A molding die for performing resin sealing, comprising: a pressing means corresponding to the section bar portion of the semiconductor device lead frame.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9223241A JPH1168007A (en) | 1997-08-20 | 1997-08-20 | Lead frame for semiconductor device and molding die |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9223241A JPH1168007A (en) | 1997-08-20 | 1997-08-20 | Lead frame for semiconductor device and molding die |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1168007A true JPH1168007A (en) | 1999-03-09 |
Family
ID=16795019
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9223241A Pending JPH1168007A (en) | 1997-08-20 | 1997-08-20 | Lead frame for semiconductor device and molding die |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1168007A (en) |
-
1997
- 1997-08-20 JP JP9223241A patent/JPH1168007A/en active Pending
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