JPH1166752A - Optical disk device and memory rearranging circuit - Google Patents

Optical disk device and memory rearranging circuit

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Publication number
JPH1166752A
JPH1166752A JP22849697A JP22849697A JPH1166752A JP H1166752 A JPH1166752 A JP H1166752A JP 22849697 A JP22849697 A JP 22849697A JP 22849697 A JP22849697 A JP 22849697A JP H1166752 A JPH1166752 A JP H1166752A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
memory
register
defect
storing
Prior art date
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Pending
Application number
JP22849697A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Michio Suzuki
道夫 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP22849697A priority Critical patent/JPH1166752A/en
Publication of JPH1166752A publication Critical patent/JPH1166752A/en
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  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten a processing time and reduce an memory capacity by reloading the defective data of the memory address unit with the register storing contents based on a memory storing defective data in order of address containing number data in no particular order, plural registers selectively storing defective data of an arbitrary address, and a comparison result of the storage contents in the registers. SOLUTION: Registers 41, 42 store one unit of defective data read from a defective data table 21a. A register comparison judgement part 43 compares the stored data in the registers 41, 42 and judges which sector number is younger, and outputs the result to a read/write control part 44. The read/write control part 44, based on a rearrangement start signal from a control part and the judgment from the register comparison judgement part 43, starts rearranging the data stored in the defective data table 21a, outputs a control signal to an address generation part 33, and outputs control signals A, B to the registers 41, 42.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、光ディスクに対
してデータを記録したり、光ディスクに記録されている
データを再生する光ディスク装置と、この光ディスク装
置に用いられるメモリデータ並び替え回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disk device for recording data on an optical disk and reproducing data recorded on the optical disk, and a memory data rearranging circuit used in the optical disk device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、光学ヘッドに搭載された半導体レ
ーザ発振器から出力されるレーザ光により、記録トラッ
クを有する光ディスクにデータを記録したり、あるいは
光ディスクに記録されているデータを再生する光ディス
ク装置が実用化されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known an optical disk apparatus that records data on an optical disk having a recording track or reproduces data recorded on the optical disk by using a laser beam output from a semiconductor laser oscillator mounted on an optical head. Has been put to practical use.

【0003】このような光ディスク装置では、光ディス
ク内に記録された欠陥セクタに対応する欠陥データ等が
再生されてメモリに記憶され、このメモリに記憶された
欠陥データに基づいて、欠陥セクタを利用せずにデータ
の記録が行われるようになっている。このメモリに記憶
される欠陥データに対して、光ディスク装置のCPUが
扱い易いようにセクタ番号の若い順に整理されて記憶す
る並び替え処理が行われるようになっている。
In such an optical disk apparatus, defective data or the like corresponding to a defective sector recorded on the optical disk is reproduced and stored in a memory, and the defective sector is used based on the defective data stored in the memory. The data is recorded without any data. The defect data stored in the memory is subjected to a rearrangement process of organizing and storing the defect data in ascending order of the sector numbers so that the CPU of the optical disk device can easily handle the data.

【0004】このような従来の技術では、光ディスク内
に記録された欠陥データ等をセクタ番号の若い順に整理
するのに、光ディスクから一旦メモリに欠陥データを取
り込んだ後、CPU等でソフト的に欠陥データを読み取
り、並び替え用の別のメモリに格納する方法をとってい
た。
In such a conventional technique, defect data and the like recorded on the optical disk are arranged in ascending order of the sector number. Data was read and stored in another memory for sorting.

【0005】この方法では並び替えの処理時間及びメモ
リ容量が大きくなり、効率の良い処理ではなかった。こ
のため、処理時間の短縮を含めたメモリ容量の縮小化が
課題になっている。
In this method, the processing time and the memory capacity for rearranging are increased, and the processing is not efficient. For this reason, reduction in memory capacity, including reduction in processing time, has become an issue.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】この発明は、光ディス
クから再生した欠陥データに対する並び替えの処理時間
の短縮及びメモリ容量の縮小化が課題になっているもの
で、光ディスクから再生した欠陥データに対する並び替
えの処理時間の短縮及びメモリ容量の縮小化ができる光
ディスク装置およびメモリデータ並び替え回路を提供す
ることを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to reduce the processing time and the memory capacity for rearranging defective data reproduced from an optical disk. It is an object of the present invention to provide an optical disk device and a memory data rearranging circuit capable of shortening the processing time for rearranging and reducing the memory capacity.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この発明の光ディスク装
置は、光ディスクの所定エリアに記録されている順不同
の番号データを含む欠陥データを読出す読出手段、この
読出手段により読出された欠陥データをアドレス順に記
憶するメモリ、このメモリの任意のアドレスの欠陥デー
タがそれぞれ選択的に記憶される複数のレジスタ、これ
らの複数のレジスタの記憶内容を比較する比較手段、お
よびこの比較手段の比較結果に基づいて上記レジスタの
記憶内容で上記メモリのアドレス単位の欠陥データを書
換える書換手段から構成される。
SUMMARY OF THE INVENTION An optical disk apparatus according to the present invention comprises: a reading means for reading defective data including random number data recorded in a predetermined area of an optical disk; and addressing the defective data read by the reading means to an address. A memory for sequentially storing, a plurality of registers for selectively storing defective data at arbitrary addresses in the memory, a comparing means for comparing the storage contents of the plurality of registers, and a comparison result of the comparing means. Rewriting means for rewriting the defective data in the address unit of the memory with the contents stored in the register.

【0008】この発明のメモリデータ並び替え回路は、
順不同の番号データを含む欠陥データをアドレス順に記
憶するメモリ、このメモリの任意のアドレスの欠陥デー
タがそれぞれ選択的に記憶される複数のレジスタ、これ
らの複数のレジスタの記憶内容を比較する比較手段、お
よびこの比較手段の比較結果に基づいて上記レジスタの
記憶内容で上記メモリのアドレス単位の欠陥データを書
換える書換手段から構成される。
[0008] The memory data rearranging circuit of the present invention comprises:
A memory for storing defective data including random number data in order of addresses, a plurality of registers for selectively storing defective data at arbitrary addresses in the memory, a comparing means for comparing the stored contents of the plurality of registers, And rewriting means for rewriting defective data in address units of the memory with the contents stored in the register based on the comparison result of the comparing means.

【0009】この発明の光ディスク装置は、光ディスク
の所定エリアに記録されている順不同の番号データを含
む欠陥データを読出す読出手段、この読出手段により読
出された欠陥データをアドレス順に記憶するメモリ、1
単位の番号データを含む欠陥データがそれぞれ記憶され
る第1、第2のレジスタ、上記第1のレジスタに記憶さ
れた欠陥データの番号データと上記第2のレジスタに記
憶された欠陥データの番号データとを比較することによ
り、それらの番号データが同一かいずれか一方が大きい
ことを判定する判定手段、上記読出手段により読出され
た欠陥データの上記メモリへの記憶後、上記メモリの任
意のアドレスの欠陥データを選択的に上記第1、第2の
レジスタに記憶する記憶手段、およびこの記憶手段によ
る欠陥データの記憶後、上記判定手段による判定結果に
基づいて上記第1、あるいは第2のレジスタの記憶内容
で上記メモリのアドレス単位の欠陥データを書換える書
換手段から構成される。
An optical disc apparatus according to the present invention comprises: a reading means for reading defect data including random number data recorded in a predetermined area of an optical disc; a memory for storing defect data read by the reading means in address order;
First and second registers respectively storing defect data including unit number data, number data of defect data stored in the first register, and number data of defect data stored in the second register And determining whether the number data is the same or one of them is larger by storing the defective data read out by the reading means in the memory, and then storing the defective data in an arbitrary address of the memory. Storage means for selectively storing the defect data in the first and second registers; and, after storing the defect data by the storage means, the first or second register is stored in the first or second register based on the determination result by the determination means. Rewriting means for rewriting the defective data in the memory in address units with the stored contents.

【0010】この発明のメモリデータ並び替え回路は、
1単位の番号データを含む欠陥データがそれぞれ記憶さ
れる第1、第2のレジスタ、複数のアドレスのそれぞれ
に欠陥データが記憶されるメモリ、上記第1のレジスタ
に記憶された欠陥データの番号データと上記第2のレジ
スタに記憶された欠陥データの番号データとを比較する
ことにより、それらの番号データが同一かいずれか一方
が大きいことを判定する判定手段、部から供給される番
号データの順番が順不同な欠陥データを上記メモリのア
ドレス順に順次記憶する第1の記憶手段、この第1の記
憶手段による欠陥データの記憶後、上記メモリの任意の
アドレスの欠陥データを選択的に上記第1、第2のレジ
スタに記憶する第2の記憶手段、およびこの第2の記憶
手段による欠陥データの記憶後、上記判定手段による判
定結果に基づいて上記第1、あるいは第2のレジスタの
記憶内容で上記メモリのアドレス単位の欠陥データを書
換える書換手段から構成される。
[0010] The memory data rearranging circuit of the present invention comprises:
First and second registers each storing defect data including one unit of number data, memory storing defect data at each of a plurality of addresses, number data of defect data stored in the first register Comparing the number data of the defect data stored in the second register with the number data of the defect data stored in the second register to determine whether the number data is the same or one of them is larger. A first storage unit for sequentially storing defect data in random order in the address of the memory, and after the storage of the defect data by the first storage unit, the defect data at an arbitrary address in the memory is selectively stored in the first memory. The second storage means for storing the data in the second register, and after storing the defect data by the second storage means, based on the determination result by the determination means, Serial first, or consists of rewriting means for a storage content of the second register rewrite the defect data of the address unit of the memory.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施の形態を示す光ディスク装置を説明する。図1は、
光ディスク装置10を示すものである。この光ディスク
装置10は記録媒体としての光ディスク(DVD−RA
M)1に対し集束光を用いてデータ(データ)の記録、
あるいは記録されているデータの再生を行うものであ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an optical disk device showing an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG.
1 shows an optical disk device 10. The optical disk device 10 is an optical disk (DVD-RA) as a recording medium.
M) Recording of data using a focused light for 1;
Alternatively, the recorded data is reproduced.

【0012】上記光ディスク1は、例えばガラスあるい
はプラスチックス等で円形に形成された基板の表面に金
属被膜層がドーナツ型にコーティングされて構成され、
同心円状あるいはスパイラル状のグルーブおよびランド
の両方を用いてデータの記録あるいは記録されているデ
ータの再生が行われ、マスタリング工程で記録マークに
より所定間隔ごとにアドレスデータが記録されている相
変化形で書換え形のディスクである。
The optical disk 1 is formed by coating a metal film layer in a donut shape on the surface of a substrate formed in a circle of, for example, glass or plastics.
Data recording or reproduction of recorded data is performed using both concentric or spiral grooves and lands, and in a phase change form where address data is recorded at predetermined intervals by recording marks in a mastering process. This is a rewritable disk.

【0013】上記光ディスク1は、図2、図3に示すよ
うに、リードインエリア2、データエリア3、リードア
ウトエリア4が構成されている。リードインエリア2
は、複数のトラックからなるエンボスデータゾーン5と
複数のトラックからなる書換え可能なデータゾーン6と
からなる。エンボスデータゾーン5には、リファレンス
シグナルやコントロールデータが製造時に記録されてい
る。書換え可能なデータゾーン6は、ガードトラック用
のゾーン、ディスクテスト用のゾーン、ドライブテスト
用のゾーン、ディスク識別データ用のゾーン、および欠
陥管理エリアとしての欠陥管理ゾーン6aにより構成さ
れている。
The optical disk 1 has a lead-in area 2, a data area 3, and a lead-out area 4, as shown in FIGS. Lead-in area 2
Consists of an emboss data zone 5 composed of a plurality of tracks and a rewritable data zone 6 composed of a plurality of tracks. In the emboss data zone 5, reference signals and control data are recorded at the time of manufacturing. The rewritable data zone 6 includes a guard track zone, a disk test zone, a drive test zone, a disk identification data zone, and a defect management zone 6a as a defect management area.

【0014】欠陥管理ゾーン6aには、初期欠陥や二次
欠陥により生じた欠陥セクタのセクタ番号などからなる
4バイト単位の欠陥データが記録されている。この欠陥
データ内には、欠陥セクタのセクタ番号に対応する代替
セクタのセクタ番号が付与されるようにしても良い。こ
の欠陥管理ゾーン6aにおける欠陥データが記録されて
いる順番は必ずしもセクタ番号順とはなっていない。
In the defect management zone 6a, 4-byte defect data including the sector number of a defective sector caused by an initial defect or a secondary defect is recorded. In the defect data, a sector number of an alternative sector corresponding to the sector number of the defective sector may be added. The order in which defect data is recorded in the defect management zone 6a is not always in the order of sector numbers.

【0015】初期欠陥は、製造時あるいは光ディスクの
使用開始時にダミーデータを記録して、再生した際のエ
ラー数やエラーライン数等により決定し、二次欠陥はデ
ータ記録時に再生したデータのエラー数やエラーライン
数等により決定するようになっている。
The initial defect is determined by recording the dummy data at the time of manufacture or at the start of use of the optical disk, and is determined by the number of errors and the number of error lines at the time of reproduction. And the number of error lines.

【0016】データエリア3は、半径方向に複数のトラ
ックからなる複数たとえば24のゾーン3a、…3xに
より構成されている。リードアウトエリア4は、複数の
トラックからなり、上記書換え可能なデータゾーン6と
同様に、書換え可能なデータゾーンであり、データゾー
ン6の記録内容と同じものが記録できるようになってい
る。
The data area 3 is composed of a plurality of, for example, 24 zones 3a,. The lead-out area 4 is composed of a plurality of tracks, and is a rewritable data zone, like the rewritable data zone 6, so that the same recorded contents as the data zone 6 can be recorded.

【0017】上記光ディスク1は、図3に示すように、
内側から順に、リードインエリア2のエンボスデータゾ
ーン5と書換え可能なデータゾーン6、データエリア3
のゾーン3a、…3x、およびリードアウトエリア4の
データゾーンからなり、それぞれのゾーンに対するクロ
ック信号は同一であり、各ゾーンに対する光ディスク1
の回転数(速度)と1トラックずつのセクタ数とがそれ
ぞれ異なったものとなっている。
As shown in FIG. 3, the optical disc 1
Data zone 6 and data area 3 which are rewritable with emboss data zone 5 of lead-in area 2 in order from the inside
, 3x, and the data zone of the lead-out area 4, and the clock signal for each zone is the same.
And the number of sectors for each track is different.

【0018】データエリア3のゾーン3a、…3xで
は、光ディスク1の内周側から外周側に向かうのにした
がって、回転数(速度)遅くなり、1トラックずつのセ
クタ数が増加するようになっている。
In the zones 3a,..., 3x of the data area 3, the number of revolutions (speed) decreases and the number of sectors per track increases from the inner circumference to the outer circumference of the optical disc 1. I have.

【0019】上記各ゾーン3a、…3x、4、5、6に
対する、回転数としての速度データと1トラックずつの
セクタ数との関係は、後述する半導体メモリ21の対応
テーブルに記録されている。
The relationship between the speed data as the number of revolutions and the number of sectors per track for each of the zones 3a,... 3x, 4, 5, and 6 is recorded in a correspondence table of the semiconductor memory 21 described later.

【0020】上記データエリア3のゾーン3a、…3x
のトラックには、図2、図3に示すように、データの記
録の単位としてのECC(error correction code )ブ
ロックデータ単位(たとえば38688バイト)ごと
に、あらかじめデータが記録されている。
.. 3x of the data area 3
As shown in FIGS. 2 and 3, data is recorded in advance in each track in units of ECC (error correction code) block data (for example, 38688 bytes) as a unit of data recording.

【0021】各ゾーン3a、…3xは、それぞれユーザ
エリアと欠陥セクタに対する代替えセクタからなるスペ
アエリアとから構成されている。スペアエリアは対応す
るユーザエリアの外周側に設けられている。
Each of the zones 3a,... 3x is composed of a user area and a spare area composed of a substitute sector for a defective sector. The spare area is provided on the outer peripheral side of the corresponding user area.

【0022】ECCブロックは、2Kバイトのデータが
記録される16個のセクタからなり、図4に示すよう
に、各セクタごとにアドレスデータとしての4バイト
(32ビット)構成のセクタID(識別データ)1〜I
D16が2バイト構成のエラー検出コード(IED:I
Dエラーディテクションコード)とともにメインデータ
(セクタデータ)に付与され、ECCブロックに記録さ
れるデータを再生するためのエラー訂正コードとしての
横方向のECC(error correction code )1と縦方向
のECC2が記録されるようになっている。このECC
1、2は、光ディスク1の欠陥によりデータが再生でき
なくなることを防止するために冗長語としてデータに付
与されるエラー訂正コードである。
The ECC block is composed of 16 sectors in which 2K bytes of data are recorded. As shown in FIG. 4, each sector has a 4-byte (32-bit) sector ID (identification data) as address data. ) 1-I
D16 is a 2-byte error detection code (IED: I
D error detection code) along with a horizontal ECC (error correction code) 1 and a vertical ECC 2 as an error correction code for reproducing data recorded in an ECC block. It is to be recorded. This ECC
Numerals 1 and 2 are error correction codes added to data as redundant words in order to prevent data from being unable to be reproduced due to a defect of the optical disk 1.

【0023】各セクタは、172バイトで12行のデー
タにより構成され、各行ごとに10バイト構成の横方向
のECC1が付与されているとともに、182バイト構
成の1行分の縦方向のECC2が付与されている。これ
により、後述するエラー訂正回路32は、横方向のEC
C1を用いて各ラインごとのエラー訂正処理を行うとと
もに、縦方向のECC2を用いて各列ごとのエラー訂正
処理を行うようになっている。
Each sector is composed of 12 rows of data of 172 bytes, and a horizontal ECC 1 of 10 bytes is provided for each row, and a vertical ECC 2 of one row of 182 bytes is provided for each row. Have been. As a result, the error correction circuit 32, which will be described later,
The error correction process for each line is performed using C1, and the error correction process is performed for each column using ECC2 in the vertical direction.

【0024】上記ECCブロックが光ディスク1に記録
される際には、図5に示すように、各セクタの所定のデ
ータ量ごと(所定データ長さ間隔ごとたとえば91バイ
ト:1456チャネルビットごと)にデータを再生する
際にバイト同期を取るための同期コード(2バイト:3
2チャネルビット)が付与されている。
When the ECC block is recorded on the optical disk 1, as shown in FIG. 5, data is written for each predetermined data amount (each predetermined data length interval, for example, 91 bytes: 1456 channel bits) in each sector. Synchronization code (2 bytes: 3
2 channel bits).

【0025】各セクタは、図6に示すように、第0フレ
ームから第25フレームの26個のフレームから構成さ
れ、各フレームごとに付与されている同期コード(フレ
ーム同期信号)が、フレーム番号を特定するための特定
コード(1バイト:16チャネルビット)と、各フレー
ム共通の共通コード(1バイト:16チャネルビット)
とから構成されている。
As shown in FIG. 6, each sector is composed of 26 frames from the 0th frame to the 25th frame, and the synchronization code (frame synchronization signal) assigned to each frame indicates the frame number. Specific code for specifying (1 byte: 16 channel bits) and common code common to each frame (1 byte: 16 channel bits)
It is composed of

【0026】すなわち、図6に示すように、第0フレー
ムはSY0、第2、第10、第18フレームはSY1、
第4、第12、第20フレームはSY2、第6、第1
4、第22フレームはSY3、第8、第16、第24フ
レームはSY4、第1、第3、第5、第7、第9フレー
ムはSY5、第11、第13、第15、第17フレーム
はSY6、第19、第21、第23、第25フレームは
SY7となっている。
That is, as shown in FIG. 6, the zeroth frame is SY0, the second, tenth, and eighteenth frames are SY1,
The fourth, twelfth and twentieth frames are SY2, sixth and first frames.
The 4th and 22nd frames are SY3, the 8th, 16th and 24th frames are SY4, the 1st, 3rd, 5th, 7th and 9th frames are SY5, the 11th, 13th, 15th and 17th frames Is SY6, and the 19th, 21st, 23rd, and 25th frames are SY7.

【0027】上記データエリア3のゾーン3a、…3x
のトラックには、図2に示すように、各セクタごとに、
それぞれアドレス等が記録されているヘッダ部11、…
があらかじめプリフォーマッティングされている。
.. 3x of the data area 3
As shown in FIG. 2, each track has
A header section 11 in which addresses and the like are recorded, respectively.
Are pre-formatted in advance.

【0028】上記1セクタごとのフォーマットが、図7
に示されている。図7において、1セクタは、2697
バイト(bytes)で構成され、128バイトのヘッダ領域
(ヘッダ部11に対応)11、2バイトのミラー領域
7、2567バイトの記録領域8から構成されている。
The format for each sector is shown in FIG.
Is shown in In FIG. 7, one sector is 2697
It is composed of 128 bytes of header area (corresponding to the header part 11), 2 bytes of mirror area 7, and 2567 bytes of recording area 8.

【0029】上記セクタに記録されるチャネルビット
は、8ビットのデータを16ビットのチャネルビットに
8−16コード変調された形式になっている。ヘッダ領
域11は、光ディスク1を製造する際に所定のデータが
記録されているエリアである。このヘッダ領域11は、
4つのヘッダ1領域、ヘッダ2領域、ヘッダ3領域、ヘ
ッダ4領域により構成されている。
The channel bits recorded in the sector have a format in which 8-bit data is modulated into 16-bit channel bits by 8-16 code. The header area 11 is an area where predetermined data is recorded when the optical disc 1 is manufactured. This header area 11
It is composed of four header 1 areas, two header areas, three header areas, and four header areas.

【0030】ヘッダ1領域〜ヘッダ4領域は、46バイ
トあるいは18バイトで構成され、36バイトあるいは
8バイトの同期コード部VFO(Variable Frequency O
scillator )、3バイトのアドレスマークAM(Addres
s Mark)、4バイトのアドレス部PID(Position Ide
ntifier )、2バイトの誤り検出コードIED(ID Err
or Detection Code)、1バイトのポストアンブルPA
(Postambles)により構成されている。
The header 1 area to the header 4 area are composed of 46 bytes or 18 bytes, and a 36-byte or 8-byte synchronization code part VFO (Variable Frequency O).
scillator), 3-byte address mark AM (Addres
s Mark), 4-byte address part PID (Position Ide)
ntifier), 2-byte error detection code IED (ID Err
or Detection Code) 1 byte postamble PA
(Postambles).

【0031】さらに、図1を用いて光ディスク装置10
について説明する。 光ディスク装置10の基本機能 光ディスク装置10では、光ディスク1上の所定位置に
集光スポットを用いて新規データの記録あるいは書き換
え(データの消去も含む)を行う。
Further, an optical disk device 10 will be described with reference to FIG.
Will be described. Basic Functions of Optical Disc Apparatus 10 In the optical disc apparatus 10, new data is recorded or rewritten (including data erasure) using a converging spot at a predetermined position on the optical disc 1.

【0032】さらに、光ディスク装置10では、光ディ
スク1上の所定位置から集光スポットを用いてすでに記
録されているデータの再生を行う。 光ディスク装置10の基本機能達成手段 上記の基本機能を達成する手段として光ディスク装置1
0では次の3点がある。
Further, the optical disk device 10 reproduces the already recorded data from a predetermined position on the optical disk 1 by using a converging spot. Means for Achieving Basic Functions of Optical Disk Apparatus 10 As means for achieving the above basic functions, the optical disk apparatus 1
At 0, there are the following three points.

【0033】光ディスク1上のトラック(図示して無
い)に沿って集光スポットをトレース(追従)させる。
光ディスク1に照射する集光スポットの光量を変化させ
てデータの記録/再生/消去の切り替えを行う。
The focused spot is traced (followed) along a track (not shown) on the optical disc 1.
The recording / reproducing / erasing of data is switched by changing the light amount of the converging spot irradiated on the optical disc 1.

【0034】外部から与えられる記録信号dを高密度か
つ低エラー率で記録するために最適な信号に変換する。 光学ヘッド12による信号検出 光学ヘッド12は基本的には図示して無いが光源である
半導体レーザ素子と光検出器と対物レンズから構成され
ている。
The recording signal d supplied from the outside is converted into an optimum signal for recording at a high density and a low error rate. Signal Detection by Optical Head 12 The optical head 12 basically includes a semiconductor laser element as a light source, a photodetector, and an objective lens, not shown.

【0035】半導体レーザ素子から発光されたレーザ光
は対物レンズにより光ディスク1上に集光される。光デ
ィスク1の光反射膜もしくは光反射性記録膜で反射され
たレーザ光は光検出器により光電変換される。
The laser light emitted from the semiconductor laser device is focused on the optical disk 1 by the objective lens. The laser light reflected by the light reflection film or the light reflection recording film of the optical disc 1 is photoelectrically converted by a photodetector.

【0036】光検出器で得られた検出電流はアンプ13
により電流−電圧変換されて検出信号となる。この検出
信号はフォーカス・トラックエラー検出回路14あるい
は2値化回路15で処理される。一般的には光検出器は
複数の光検出領域に分割され、各光検出領域に照射され
る光量変化を個々に検出している。この個々の検出信号
に対してフォーカス・トラックエラー検出回路14で和
・差の演算を行いフォーカスずれとトラックずれの検出
を行う。光ディスク1の光反射膜もしくは光反射性記録
膜からの反射光量変化を検出して光ディスク1上の信号
を再生する。
The detection current obtained by the photodetector is
The current-to-voltage conversion results in a detection signal. This detection signal is processed by the focus / track error detection circuit 14 or the binarization circuit 15. Generally, a photodetector is divided into a plurality of photodetection areas, and individually detects a change in the amount of light applied to each photodetection area. The focus / track error detection circuit 14 calculates the sum / difference of the individual detection signals to detect a focus shift and a track shift. A signal on the optical disk 1 is reproduced by detecting a change in the amount of light reflected from the light reflecting film or the light reflective recording film of the optical disk 1.

【0037】フォーカスずれ検出方法 フォーカスずれ量を光学的に検出する方法としては、非
点収差法あるいはナイフエッジ法がある。
Defocus Detection Method As a method of optically detecting the amount of defocus, there is an astigmatism method or a knife edge method.

【0038】非点収差法は、光ディスク1の光反射膜も
しくは光反射性記録膜で反射されたレーザ光の検出光路
に図示して無いが非点収差を発生させる光学素子を配置
し、光検出器上に照射されるレーザ光の形状変化を検出
する方法。光検出領域は対角線状に4分割されている。
各検出領域から得られる検出信号に対し、フォーカス・
トラックエラー検出回路14内で対角和間の差を取って
フォーカスエラー検出信号を得る。
In the astigmatism method, an optical element (not shown) for generating astigmatism is arranged in a detection optical path of laser light reflected by a light reflection film or a light reflection recording film of the optical disk 1, and light detection is performed. A method for detecting a change in the shape of laser light applied to a vessel. The light detection area is divided into four diagonally.
Focusing on the detection signal obtained from each detection area
The difference between the diagonal sums is obtained in the track error detection circuit 14 to obtain a focus error detection signal.

【0039】ナイフエッジ法は、光ディスク1で反射さ
れたレーザ光に対して非対称に一部を遮光するナイフエ
ッジを配置する方法。光検出領域は2分割され、各検出
領域から得られる検出信号間の差を取ってフォーカスエ
ラー検出信号を得る。
The knife edge method is a method of disposing a knife edge that asymmetrically shields a part of a laser beam reflected by the optical disk 1. The light detection area is divided into two parts, and a difference between detection signals obtained from each detection area is obtained to obtain a focus error detection signal.

【0040】トラックずれ検出方法 光ディスク1はスパイラル状または同心円状のトラック
を有し、トラック上にデータが記録される。このトラッ
クに沿って集光スポットをトレースさせてデータの再生
もしくは記録/消去を行う。安定して集光スポットをト
ラックに沿ってトレースさせるため、トラックと集光ス
ポットの相対的位置ずれを光学的に検出する必要があ
る。
Track deviation detection method The optical disc 1 has spiral or concentric tracks, and data is recorded on the tracks. Data is reproduced or recorded / erased by tracing the focused spot along the track. In order to stably trace the focused spot along the track, it is necessary to optically detect the relative displacement between the track and the focused spot.

【0041】トラックずれ検出方法としては一般に、D
PD( Differential Phase Detection )法、あるいはプ
ッシュ−プル法、あるいはツイン−スポット法がある。
DPD法は、光ディスク1の光反射膜もしくは光反射性
記録膜で反射されたレーザ光の光検出器上での強度分布
変化を検出する。光検出領域は対角線状に4分割されて
いる。各検出領域から得られる検出信号に対し、フォー
カス・トラックエラー検出回路14内で対角和間の差を
取ってトラックエラー検出信号を得る。
As a method of detecting track deviation, generally, D
There are a PD (Differential Phase Detection) method, a push-pull method, and a twin-spot method.
The DPD method detects a change in intensity distribution of a laser beam reflected by a light reflection film or a light reflection recording film of the optical disc 1 on a photodetector. The light detection area is divided into four diagonally. The difference between the diagonal sums of the detection signals obtained from the respective detection areas in the focus / track error detection circuit 14 is obtained to obtain a track error detection signal.

【0042】プッシュ−プル法は、光ディスク1で反射
されたレーザ光の光検出器上での強度分布変化を検出す
る。光検出領域は2分割され、各検出領域から得られる
検出信号間の差を取ってトラックエラー検出信号を得
る。
The push-pull method detects a change in intensity distribution of a laser beam reflected by the optical disk 1 on a photodetector. The light detection area is divided into two parts, and a track error detection signal is obtained by taking the difference between the detection signals obtained from each detection area.

【0043】ツイン−スポット法は、半導体レーザ素子
と光ディスク1間の送光系に回折素子などを配置して光
を複数に波面分割し、光ディスク1上に照射する±1次
回折光の反射光量変化を検出する。再生信号検出用の光
検出領域とは別に+1次回折光の反射光量と−1次回折
光の反射光量を個々に検出する光検出領域を配置し、そ
れぞれの検出信号の差を取ってトラックエラー検出信号
を得る。
In the twin-spot method, a diffractive element or the like is arranged in a light transmission system between the semiconductor laser element and the optical disk 1 to divide the light into a plurality of wavefronts, and a change in the amount of reflected ± 1st-order diffracted light applied to the optical disk 1 Is detected. A light detection area for individually detecting the reflected light amount of the + 1st-order diffracted light and the reflected light amount of the -1st-order diffracted light is arranged separately from the light detection area for detecting the reproduction signal. Get.

【0044】対物レンズアクチュエータ構造 半導体レーザ素子から発光されたレーザ光を光ディスク
1上に集光させる対物レンズ(図示されて無い)は対物
レンズアクチュエータ駆動回路16の出力電流に応じて
2軸方向に移動可能な構造になっている。この対物レン
ズの移動方向は、フォーカスずれ補正用に光ディスク1
に対する垂直方向に移動し、トラックずれ補正用に光デ
ィスク1の半径方向に移動する。図示して無いが対物レ
ンズの移動機構を対物レンズアクチュエータと呼ぶ。
Objective Lens Actuator Structure An objective lens (not shown) for focusing the laser light emitted from the semiconductor laser element on the optical disk 1 moves in two axial directions according to the output current of the objective lens actuator drive circuit 16. It has a possible structure. The moving direction of the objective lens is determined by the optical disc 1
, And in the radial direction of the optical disc 1 for track deviation correction. Although not shown, the moving mechanism of the objective lens is called an objective lens actuator.

【0045】対物レンズアクチュエータ構造としては、
軸摺動方式、あるいは4本ワイアー方式が多く使われて
いる。いずれの方式も永久磁石とコイルを持ち、ブレー
ドに連結したコイルに電流を流す事によりブレードを移
動させる構造になっている。
As the objective lens actuator structure,
A shaft sliding method or a four-wire method is often used. Both types have a structure in which a permanent magnet and a coil are provided, and the blade is moved by passing a current through a coil connected to the blade.

【0046】軸摺動方式は、中心軸(シャフト)に沿っ
て対物レンズと一体のブレードが移動する方式で、ブレ
ードが中心軸に沿った方向に移動してフォーカスずれ補
正を行い、中心軸を基準としたブレードの回転運動によ
りトラックずれ補正を行う方法である。
The axis sliding method is a method in which a blade integrated with the objective lens moves along a central axis (shaft). The blade moves in a direction along the central axis to perform defocus correction, and moves the central axis. This is a method in which track deviation is corrected by the rotation of the blade as a reference.

【0047】4本ワイアー方式は、対物レンズ一体のブ
レードが固定系に対し4本のワイヤで連結されており、
ワイアーの弾性変形を利用してブレードを2軸方向に移
動させる方法である。
In the four-wire system, a blade integrated with an objective lens is connected to a fixed system by four wires.
This is a method of moving a blade in two axial directions by utilizing elastic deformation of wires.

【0048】光ディスク1の回転制御系 スピンドルモータ17の駆動力によって回転する回転テ
ーブル18上に光ディスク1を装着する。
Rotation control system of optical disk 1 The optical disk 1 is mounted on a rotating table 18 which is rotated by the driving force of a spindle motor 17.

【0049】光ディスク1の回転数は光ディスク1から
得られる再生信号によって検出する。すなわちアンプ1
3出力の検出信号(アナログ信号)は2値化回路15で
デジタル信号に変換され、この信号からPLL回路19
により一定周期信号(基準クロック信号)を発生させ
る。回転速度検出回路20ではこの信号を用いて光ディ
スク1の回転数を検出し、その値を出力する。
The rotation speed of the optical disk 1 is detected based on a reproduction signal obtained from the optical disk 1. That is, the amplifier 1
The three-output detection signal (analog signal) is converted into a digital signal by the binarization circuit 15, and this signal is converted into a PLL circuit 19
Generates a constant period signal (reference clock signal). The rotation speed detection circuit 20 detects the number of rotations of the optical disc 1 using this signal and outputs the value.

【0050】光ディスク1上で再生あるいは記録/消去
する半径位置に対応した回転数の対応テーブルは半導体
メモリ21にあらかじめ記録して有る。再生位置もしく
は記録/消去位置が決まると、制御部22は半導体メモ
リ21のデータを参照して光ディスク1の目標回転数を
設定し、その値をスピンドルモータ駆動回路23に通知
する。
A correspondence table of the number of rotations corresponding to the radial position to be reproduced or recorded / erased on the optical disk 1 is recorded in the semiconductor memory 21 in advance. When the reproducing position or the recording / erasing position is determined, the control unit 22 sets the target rotation speed of the optical disc 1 with reference to the data in the semiconductor memory 21 and notifies the spindle motor driving circuit 23 of the value.

【0051】スピンドルモータ駆動回路23では、この
目標回転数と回転速度検出回路20の出力信号(現状で
の回転数)との差を求め、その結果に応じた駆動電流を
スピンドルモータ17に与えてスピンドルモータ17の
回転数が一定になるように制御する。回転速度検出回路
20の出力信号は光ディスク1の回転数に対応した周波
数を有するパルス信号で、スピンドルモータ駆動回路2
3ではこの信号の周波数とパルス位相の両方に対して制
御する。
The spindle motor drive circuit 23 calculates the difference between the target rotation speed and the output signal of the rotation speed detection circuit 20 (current rotation speed), and supplies a drive current according to the result to the spindle motor 17. Control is performed so that the rotation speed of the spindle motor 17 is constant. The output signal of the rotation speed detection circuit 20 is a pulse signal having a frequency corresponding to the rotation speed of the optical disc 1,
In 3, control is performed on both the frequency and the pulse phase of this signal.

【0052】光学ヘッド移動機構 光ディスク1の半径方向に光学ヘッド12を移動させる
ため光学ヘッド移動機構(送りモータ)24を持ってい
る。
Optical Head Moving Mechanism An optical head moving mechanism (feed motor) 24 for moving the optical head 12 in the radial direction of the optical disk 1 is provided.

【0053】光学ヘッド12を移動させるガイド機構と
して棒状のガイドシャフトを利用する場合が多く、この
ガイドシャフトと光学ヘッド12の一部に取り付けられ
たブッシュ間の摩擦を利用して光学ヘッド12が移動す
る。それ以外に回転運動を使用して摩擦力を軽減させた
ベアリングを用いる方法も有る。
In many cases, a rod-shaped guide shaft is used as a guide mechanism for moving the optical head 12, and the optical head 12 is moved by utilizing friction between the guide shaft and a bush attached to a part of the optical head 12. I do. In addition, there is a method of using a bearing in which a frictional force is reduced by using a rotary motion.

【0054】光学ヘッド12を移動させる駆動力伝達方
法は図示して無いが固定系にピニオン(回転ギヤ)の付
いた回転モータを配置し、ピニオンとかみ合う直線状の
ギヤであるラックを光学ヘッド12の側面に配置して回
転モータの回転運動を光学ヘッド12の直線運動に変換
している。それ以外の駆動力伝達方法としては固定系に
永久磁石を配置し、光学ヘッド12に配置したコイルに
電流を流して直線的方向に移動させるリニアモータ方式
を使う場合もある。
Although a driving force transmitting method for moving the optical head 12 is not shown, a rotating motor having a pinion (rotating gear) is arranged in a fixed system, and a rack, which is a linear gear meshing with the pinion, is attached to the optical head 12. And converts the rotary motion of the rotary motor into a linear motion of the optical head 12. As another driving force transmission method, a linear motor system in which a permanent magnet is arranged in a fixed system and current flows in a coil arranged in the optical head 12 to move the coil in a linear direction may be used.

【0055】回転モータ、リニアモータいずれの方式で
も基本的には送りモータに電流を流して光学ヘッド12
移動用の駆動力を発生させている。この駆動用電流は送
りモータ駆動回路25から供給される。
In both the rotary motor and the linear motor, basically, a current is supplied to the feed motor to
A driving force for movement is generated. This drive current is supplied from the feed motor drive circuit 25.

【0056】集光スポットトレース制御 フォーカスずれ補正あるいはトラックずれ補正を行うた
め、フォーカス・トラックエラー検出回路14の出力信
号(検出信号)に応じて光学ヘッド12内の対物レンズ
アクチュエータ(図示して無い)に駆動電流を供給する
回路が対物レンズアクチュエータ駆動回路16である。
高い周波数領域まて対物レンズ移動を高速応答させるた
め、対物レンズアクチュエータの周波数特性に合わせた
特性改善用の位相補償回路を内部に有している。
Focused Spot Trace Control In order to perform focus shift correction or track shift correction, an objective lens actuator (not shown) in the optical head 12 according to an output signal (detection signal) of the focus / track error detection circuit 14. The objective lens actuator drive circuit 16 supplies a drive current to the actuator.
A phase compensating circuit for improving characteristics in accordance with the frequency characteristics of the objective lens actuator is provided inside in order to make the movement of the objective lens respond quickly at a high frequency range.

【0057】対物レンズアクチュエータ駆動回路16で
は制御部22の命令に応じて、フォーカス/トラックず
れ補正動作(フォーカス/トラックループ)のオン/オ
フ処理、光ディスク1の垂直方向(フォーカス方向)へ
対物レンズを低速で移動させる処理(フォーカス/トラ
ックループオフ時に実行)、キックパルスを用いて光デ
ィスク1の半径方向(トラックを横切る方向)にわずか
に動かして、集光スポットを隣のトラックへ移動させる
処理を行う。
The objective lens actuator drive circuit 16 turns on / off the focus / track deviation correction operation (focus / track loop) in accordance with a command from the control unit 22, and moves the objective lens in the vertical direction (focus direction) of the optical disk 1. A process of moving at a low speed (executed when the focus / track loop is off) and a process of moving the focused spot to an adjacent track by slightly moving the optical disc 1 in a radial direction (a direction crossing the track) using a kick pulse. .

【0058】再生と記録/消去のレーザ光量切り替え処
理 再生と記録/消去の切り替えは光ディスク1上に照射す
る集光スポットの光量を変化させて行う。
Switching of laser light quantity for reproduction and recording / erasing Switching between reproduction and recording / erasing is performed by changing the light quantity of a condensed spot irradiated onto the optical disc 1.

【0059】相変化方式を用いた光ディスク1に対して
は一般的に [記録時の光量]>[消去時の光量]>[再生時の光
量] の関係が成り立ち、光磁気方式を用いた光ディスク1に
対しては一般的に [記録時の光量] [消去時の光量]>[再生時の光
量] の関係が有る。光磁気方式の場合には記録/消去時には
光ディスク1に加える外部磁場(図示して無い)の極性
を変えて記録と消去の処理を制御している。
For the optical disk 1 using the phase change method, generally, the relationship of [light amount at the time of recording]> [light amount at the time of erasing]> [light amount at the time of reproduction] holds, and the optical disk using the magneto-optical method In general, there is a relationship of [light quantity at the time of recording] [light quantity at the time of erasing]> [light quantity at the time of reproduction] for 1. In the case of the magneto-optical method, the recording and erasing processes are controlled by changing the polarity of an external magnetic field (not shown) applied to the optical disk 1 during recording / erasing.

【0060】データ再生時には光ディスク1上には一定
の光量を連続的に照射している。新たなデータを記録す
る場合には、この再生時の光量の上にパルス状の断続的
光量を上乗せする。半導体レーザ素子が大きな光量でパ
ルス発光した時に光ディスク1の光反射性記録膜が局所
的に光学的変化もしくは形状変化を起こし、記録マーク
が形成される。すでに記録されている領域の上に重ね書
きする場合も同様に半導体レーザ素子をパルス発光させ
る。
At the time of data reproduction, the optical disk 1 is continuously irradiated with a constant light amount. When recording new data, a pulsed intermittent light amount is added to the light amount at the time of reproduction. When the semiconductor laser element emits a pulse with a large amount of light, the light-reflective recording film of the optical disk 1 locally undergoes an optical change or shape change, and a recording mark is formed. Similarly, when overwriting an area already recorded, the semiconductor laser element is caused to emit pulse light.

【0061】すでに記録されているデータを消去する場
合には、再生時よりも大きな一定光量を連続照射する。
連続的にデータを消去する場合にはセクター単位など特
定周期毎に照射光量を再生時に戻し、消去処理と平行し
て間欠的にデータ再生を行う。間欠的に消去するトラッ
クのトラック番号やアドレスを再生し、消去トラックの
誤りが無い事を確認しながら消去処理を行っている。
When erasing already recorded data, a constant light amount larger than that at the time of reproduction is continuously irradiated.
In the case where data is continuously erased, the irradiation light amount is returned at the time of reproduction in a specific cycle such as a sector unit, and data is intermittently reproduced in parallel with the erasing process. The track number and address of the track to be intermittently erased are reproduced, and the erasing process is performed while confirming that there is no error in the erased track.

【0062】レーザ発光制御 図示して無いが光学ヘッド12内には半導体レーザ素子
の発光量を検出するための光検出器を内蔵している。半
導体レーザ駆動回路26ではその光検出器出力(半導体
レーザ素子発光量の検出信号)と記録/再生/消去制御
波形発生回路27から与えられる発光基準信号との差を
取り、その結果に基付き半導体レーザへの駆動電流をフ
ィードバックしている。
Laser Light Emission Control Although not shown, the optical head 12 has a built-in photodetector for detecting the light emission amount of the semiconductor laser element. The semiconductor laser driving circuit 26 calculates the difference between the photodetector output (detection signal of the light emission amount of the semiconductor laser element) and the light emission reference signal given from the recording / reproducing / erasing control waveform generation circuit 27, and based on the result, The drive current to the laser is fed back.

【0063】起動制御 光ディスク1を回転テーブル18上に装着し、起動制御
を開始すると、以下の手順に従って処理が行われる。 1)制御部22からスピンドルモータ駆動回路23に目
標回転数が伝えられ、スピンドルモータ駆動回路23か
らスピンドルモータ17に駆動電流が供給されてスピン
ドルモータ17の回転が開始する。 2)同時に制御部22から送りモータ駆動回路25に対
してコマンド(実行命令)が出され、送りモータ駆動回
路25から光学ヘッド駆動機構(送りモータ)24に駆
動電流が供給されて光学ヘッド12が光ディスク1の最
内周位置に移動する。光ディスク1のデータが記録され
ている領域を越えてさらに内周部に光学ヘッド12が来
ている事を確認する。 3)スピンドルモータ17が目標回転数に到達すると、
そのステータス(状況報告)が制御部22に出される。 4)制御部22から記録/再生/消去制御波形発生回路
27に送られた再生光量信号に合わせて半導体レーザ駆
動回路26から光学ヘッド12内の半導体レーザ素子に
電流が供給されてレーザ発光を開始する。
Activation Control When the optical disk 1 is mounted on the turntable 18 and activation control is started, processing is performed according to the following procedure. 1) The target rotation speed is transmitted from the control unit 22 to the spindle motor drive circuit 23, and a drive current is supplied from the spindle motor drive circuit 23 to the spindle motor 17, so that the spindle motor 17 starts rotating. 2) At the same time, a command (execution command) is issued from the control unit 22 to the feed motor drive circuit 25, and a drive current is supplied from the feed motor drive circuit 25 to the optical head drive mechanism (feed motor) 24 so that the optical head 12 The optical disk 1 moves to the innermost position. It is confirmed that the optical head 12 is located further inward of the optical disk 1 than the area where the data is recorded. 3) When the spindle motor 17 reaches the target rotation speed,
The status (status report) is sent to the control unit 22. 4) A current is supplied from the semiconductor laser driving circuit 26 to the semiconductor laser element in the optical head 12 according to the reproduced light amount signal sent from the control unit 22 to the recording / reproducing / erasing control waveform generation circuit 27, and laser emission is started. I do.

【0064】光ディスク1の種類によって再生時の最適
照射光量が異なる。起動時にはそのうちの最も照射光量
の低い値に設定する。 5)制御部22からのコマンドに従って光学ヘッド12
内の対物レンズ(図示して無い)を光ディスク1から最
も遠ざけた位置にずらし、ゆっくりと対物レンズを光デ
ィスク1に近付けるよう対物レンズアクチュエータ駆動
回路16が制御する。 6)同時にフォーカス・トラックエラー検出回路14で
フォーカスずれ量をモニターし、焦点が合った位置近傍
に対物レンズが来た時ステータスを出して制御部22に
通知する。 7)制御部22ではその通知をもらうと、対物レンズア
クチュエータ駆動回路16に対してフォーカスループを
オンにするようコマンドを出す。 8)制御部22はフォーカスループをオンにしたまま送
りモータ駆動回路25にコマンドを出して光学ヘッド1
2をゆっくり光ディスク1の外周部方向へ移動させる。 9)同時に光学ヘッド12からの再生信号をモニタし、
光学ヘッド12が光ディスク1上の記録領域に到達した
ら光学ヘッド12の移動を止め、対物レンズアクチュエ
ータ駆動回路16に対してトラックループをオンさせる
コマンドを出す。 10)光ディスク1の内周部に記録されている“再生時
の最適光量”と“記録/消去時の最適光量”を再生し、
そのデータが制御部22を経由して半導体メモリ21に
記録される。 11)さらに制御部22ではその“再生時の最適光量”
に合わせた信号を記録/再生/消去制御波形発生回路2
7に送り、再生時の半導体レーザ素子の発光量を再設定
する。 12)光ディスク1に記録されている“記録/消去時の
最適光量”に合わせて記録/消去時の半導体レーザ素子
の発光量が設定される。
The optimum irradiation light amount at the time of reproduction differs depending on the type of the optical disk 1. At the time of startup, it is set to the value with the lowest irradiation light amount. 5) The optical head 12 according to a command from the control unit 22
The objective lens (not shown) is shifted to the position farthest from the optical disc 1 and the objective lens actuator drive circuit 16 controls the objective lens to approach the optical disc 1 slowly. 6) At the same time, the focus / track error detection circuit 14 monitors the amount of defocus, and outputs a status to the control unit 22 when the objective lens comes near the focused position. 7) Upon receiving the notification, the control unit 22 issues a command to the objective lens actuator drive circuit 16 to turn on the focus loop. 8) The control unit 22 issues a command to the feed motor drive circuit 25 while keeping the focus loop on, and
2 is slowly moved toward the outer peripheral portion of the optical disc 1. 9) At the same time, monitor the reproduction signal from the optical head 12,
When the optical head 12 reaches the recording area on the optical disc 1, the movement of the optical head 12 is stopped, and a command to turn on the track loop is issued to the objective lens actuator drive circuit 16. 10) Reproduce the “optimum light quantity at the time of reproduction” and “optimum light quantity at the time of recording / erasing” recorded on the inner peripheral portion of the optical disc 1,
The data is recorded in the semiconductor memory 21 via the control unit 22. 11) Further, the control unit 22 sets the "optimum light amount during reproduction".
Recording / reproducing / erasing control waveform generation circuit 2
7, the light emission amount of the semiconductor laser element at the time of reproduction is reset. 12) The light emission amount of the semiconductor laser element at the time of recording / erasing is set according to the “optimum light amount at the time of recording / erasing” recorded on the optical disc 1.

【0065】光ディスク1上のアクセス先データの再生 光ディスク1上のどの場所にどのような内容のデータが
記録されているかに付いてのデータは光ディスク1の種
類により異なり、一般的には光ディスク1内のディレク
トリ管理領域かまたはナビゲーションパックなどに記録
して有る。
Reproduction of Access Destination Data on Optical Disk 1 Data on what kind of data is recorded at which location on optical disk 1 differs depending on the type of optical disk 1. Recorded in the directory management area or the navigation pack.

【0066】ディレクトリ管理領域は、光ディスク1の
内周領域もしくは外周領域にまとまって記録して有る。
ナビゲーションパックは、MPEG2のPS(プログラ
ム ストリーム)のデータ構造に準拠したVOBS( ビ
デオ オブジェクト セット) の中に含まれ、次の映像
がどこに記録して有るかのデータが記録されている。
The directory management area is recorded collectively in the inner circumference area or the outer circumference area of the optical disc 1.
The navigation pack is included in a VOBS (Video Object Set) conforming to the data structure of the PS (Program Stream) of MPEG2, and records data on where the next video is recorded.

【0067】特定のデータを再生あるいは記録/消去し
たい場合には、まず上記の領域内のデータを再生し、そ
こで得られたデータからアクセス先を決定する。 粗アクセス制御 制御部22ではアクセス先の半径位置を計算で求め、現
状の光学ヘッド12位置との間の距離を割り出す。
When it is desired to reproduce or record / delete specific data, the data in the above-mentioned area is reproduced first, and the access destination is determined from the obtained data. Rough access control The control unit 22 calculates the radius position of the access destination by calculation, and calculates the distance from the current position of the optical head 12.

【0068】光学ヘッド12の移動距離に対して最も短
時間で到達出来る速度曲線データが事前に半導体メモリ
21内に記録されている。制御部22はそのデータを読
み取り、その速度曲線に従って以下の方法で光学ヘッド
12の移動制御を行う。
The speed curve data which can be reached in the shortest time with respect to the moving distance of the optical head 12 is recorded in the semiconductor memory 21 in advance. The control unit 22 reads the data and controls the movement of the optical head 12 according to the speed curve in the following manner.

【0069】制御部22から対物レンズアクチュエータ
駆動回路16に対してコマンドを出してトラックループ
をオフした後、送りモータ駆動回路25を制御して光学
ヘッド12の移動を開始させる。
After the control unit 22 issues a command to the objective lens actuator drive circuit 16 to turn off the track loop, the feed motor drive circuit 25 is controlled to start the movement of the optical head 12.

【0070】集光スポットが光ディスク1上のトラック
を横切ると、フォーカス・トラックエラー検出回路14
内でトラックエラー検出信号が発生する。このトラック
エラー検出信号を用いて光ディスク1に対する集光スポ
ットの相対速度が検出できる。
When the focused spot crosses a track on the optical disc 1, the focus / track error detection circuit 14
A track error detection signal is generated within the frame. Using this track error detection signal, the relative speed of the focused spot with respect to the optical disc 1 can be detected.

【0071】送りモータ駆動回路25では、このフォー
カス・トラックエラー検出回路14から得られる集光ス
ポットの相対速度と制御部22から逐一送られる目標速
度データとの差を演算し、その結果を光学ヘッド駆動機
構(送りモータ)24への駆動電流にフィードバックか
けながら光学ヘッド12を移動させる。
The feed motor drive circuit 25 calculates the difference between the relative speed of the condensed spot obtained from the focus / track error detection circuit 14 and the target speed data sent one by one from the control unit 22, and uses the result as an optical head. The optical head 12 is moved while applying feedback to the drive current to the drive mechanism (feed motor) 24.

【0072】上記「光学ヘッド移動機構」に記述したよ
うにガイドシャフトとブッシュあるいはベアリング間に
は常に摩擦力が働いている。光学ヘッド12が高速に移
動している時は動摩擦が働くが、移動開始時と停止直前
には光学ヘッド12の移動速度が遅いため静止摩擦が働
く。この時には相対的摩擦力が増加しているので(特に
停止直前には)制御部22からのコマンドに応じて光学
ヘッド駆動機構(送りモータ)24に供給する電流の増
幅率(ゲイン)を増加させる。
As described in the above "optical head moving mechanism", frictional force always acts between the guide shaft and the bush or bearing. When the optical head 12 is moving at high speed, kinetic friction acts. However, at the start of movement and immediately before the stop, static friction acts because the moving speed of the optical head 12 is slow. At this time, since the relative frictional force has increased (particularly immediately before the stop), the amplification factor (gain) of the current supplied to the optical head drive mechanism (feed motor) 24 in response to a command from the control unit 22 is increased. .

【0073】密アクセス制御 光学ヘッド12が目標位置に到達すると制御部22から
対物レンズアクチュエータ駆動回路16にコマンドを出
してトラックループをオンさせる。
Fine Access Control When the optical head 12 reaches the target position, the control unit 22 issues a command to the objective lens actuator drive circuit 16 to turn on the track loop.

【0074】集光スポットは光ディスク1上のトラック
に沿ってトレースしながらその部分のアドレスもしくは
トラック番号を再生する。そこでのアドレスもしくはト
ラック番号から現在の集光スポット位置を割り出し、到
達目標位置からの誤差トラック数を制御部22内で計算
し、集光スポットの移動に必要なトラック数を対物レン
ズアクチュエータ駆動回路16に通知する。
The focused spot reproduces the address or track number of that portion while tracing along the track on the optical disc 1. The current focused spot position is calculated from the address or the track number, the number of error tracks from the target position is calculated in the control unit 22, and the number of tracks required for moving the focused spot is determined by the objective lens actuator drive circuit 16. Notify.

【0075】対物レンズアクチュエータ駆動回路16内
で1組キックパルスを発生させると対物レンズは光ディ
スク1の半径方向にわずかに動いて、集光スポットが隣
のトラックへ移動する。
When one set of kick pulses is generated in the objective lens actuator drive circuit 16, the objective lens slightly moves in the radial direction of the optical disk 1, and the focused spot moves to an adjacent track.

【0076】対物レンズアクチュエータ駆動回路16内
では一時的にトラックループをオフさせ、制御部22か
らのデータに合わせた回数のキックパルスを発生させた
後、再びトラックループをオンさせる。
The track loop is temporarily turned off in the objective lens actuator drive circuit 16, a kick pulse is generated a number of times corresponding to the data from the control unit 22, and then the track loop is turned on again.

【0077】密アクセス終了後、制御部22は集光スポ
ットがトレースしている位置のデータ(アドレスもしく
はトラック番号)を再生し、目標トラックにアクセスし
ている事を確認する。
After the end of the fine access, the control unit 22 reproduces the data (address or track number) at the position traced by the focused spot and confirms that the target track is being accessed.

【0078】連続記録/再生/消去制御 フォーカス・トラックエラー検出回路14から出力され
るトラックエラー検出信号は送りモータ駆動回路25に
入力されている。上述した“起動制御時”と“アクセス
制御時”には送りモータ駆動回路25内ではトラックエ
ラー検出信号を使用しないように制御部22により制御
されている。
Continuous Recording / Reproduction / Erase Control A track error detection signal output from the focus / track error detection circuit 14 is input to a feed motor drive circuit 25. The control unit 22 controls the feed motor drive circuit 25 so as not to use the track error detection signal during the “start control” and the “access control” described above.

【0079】アクセスにより集光スポットが目標トラッ
クに到達した事を確認した後、制御部22からのコマン
ドにより送りモータ駆動回路25を経由してトラックエ
ラー検出信号の一部が光学ヘッド駆動機構(送りモー
タ)24への駆動電流として供給される。連続に再生も
しくは記録/消去処理を行っている期間中、この制御は
継続される。
After confirming that the focused spot has reached the target track by the access, a part of the track error detection signal is transmitted by the command from the control unit 22 via the feed motor drive circuit 25 to the optical head drive mechanism (feed Motor 24). This control is continued during the period in which the reproduction or the recording / erasing process is continuously performed.

【0080】光ディスク1の中心位置は回転テーブル1
8の中心位置とわずかにずれた偏心を持って装着されて
いる。トラックエラー検出信号の一部を駆動電流として
供給すると、偏心に合わせて光学ヘッド12全体が微動
する。
The center position of the optical disk 1 is
8 is mounted with an eccentricity slightly shifted from the center position. When a part of the track error detection signal is supplied as a drive current, the entire optical head 12 slightly moves in accordance with the eccentricity.

【0081】また長時間連続して再生もしくは記録/消
去処理を行うと、集光スポット位置が徐々に外周方向も
しくは内周方向に移動する。トラックエラー検出信号の
一部を光学ヘッド移動機構(送りモータ)24への駆動
電流として供給した場合には、それに合わせて光学ヘッ
ド12が徐々に外周方向もしくは内周方向に移動する。
When the reproduction or recording / erasing process is performed continuously for a long time, the position of the focused spot gradually moves in the outer circumferential direction or the inner circumferential direction. When a part of the track error detection signal is supplied as a drive current to the optical head moving mechanism (feed motor) 24, the optical head 12 gradually moves in the outer circumferential direction or the inner circumferential direction accordingly.

【0082】このようにして対物レンズアクチュエータ
のトラックずれ補正の負担を軽減し、トラックループを
安定化出来る。 終了制御 一連の処理が完了し、動作を終了させる場合には以下の
手順に従って処理が行われる。 1)制御部22から対物レンズアクチュエータ駆動回路
16に対してトラックループをオフさせるコマンドが出
される。 2)制御部22から対物レンズアクチュエータ駆動回路
16に対してフォーカスループをオフさせるコマンドが
出される。 3)制御部22から記録/再生/消去制御波形発生回路
27に対して半導体レーザ素子の発光を停止させるコマ
ンドが出される。 4)スピンドルモータ駆動回路23に対して基準回転数
として0を通知する。
In this way, the burden of correcting the track shift of the objective lens actuator can be reduced, and the track loop can be stabilized. Termination Control When a series of processing is completed and the operation is terminated, the processing is performed according to the following procedure. 1) The control unit 22 issues a command to the objective lens actuator drive circuit 16 to turn off the track loop. 2) The control unit 22 issues a command to the objective lens actuator drive circuit 16 to turn off the focus loop. 3) The control unit 22 issues a command to the recording / reproduction / erase control waveform generation circuit 27 to stop light emission of the semiconductor laser device. 4) Notify the spindle motor drive circuit 23 of 0 as the reference rotation speed.

【0083】光ディスク1に記録される信号形式光ディ
スク1上に記録する信号に対して、 (1) 光ディスク1上の欠陥に起因する記録データエラー
の訂正を可能とする (2) 再生信号の直流成分を0にして再生処理回路の簡素
化を図る (3) 光ディスク1に対して出来るだけ高密度にデータを
記録する との要求を満足するため光ディスク装置10では“エラ
ー訂正機能の付加”“記録データに対する信号変換(信
号の変復調)”を行っている。
Signal Format Recorded on Optical Disk 1 For a signal recorded on optical disk 1, (1) correction of a recording data error caused by a defect on optical disk 1 is enabled (2) DC component of reproduced signal (3) In order to satisfy the requirement of recording data on the optical disc 1 as high density as possible, the optical disc apparatus 10 needs to add “error correction function”, “record data”. Signal conversion (modulation / demodulation of a signal).

【0084】ECC( Error Correction Code ) 付加処
理 光ディスク1に記録したいデータが生信号の形で記録信
号dとしてデータ入出力インターフェース部30に入力
される。この記録信号dはそのまま半導体メモリ21に
記録され、その後ECCエンコーディング回路29で以
下のようにECCの付加処理を実行する。
ECC (Error Correction Code) Addition Processing Data to be recorded on the optical disc 1 is input to the data input / output interface unit 30 as a recording signal d in the form of a raw signal. This recording signal d is recorded in the semiconductor memory 21 as it is, and then the ECC encoding circuit 29 performs the following ECC addition processing.

【0085】以下に積符号を用いたECC付加方法の実
施例について説明する。記録信号dは半導体メモリ21
内で172バイト毎に1行ずつ順次並べ、192行で1
組のECCブロックとする。この“行: 172×列: 1
92バイト”で構成される1組のECCブロック内の生
信号( 記録信号d) に対し、172バイトの1行毎に1
0バイトの内符号PIを計算して半導体メモリ21内に
追加記録する。さらにバイト単位の1列毎に16バイト
の外符号POを計算して半導体メモリ21内に追加記録
する。
An embodiment of an ECC adding method using a product code will be described below. The recording signal d is stored in the semiconductor memory 21
One line at a time every 172 bytes in the
A set of ECC blocks. This "row: 172 x column: 1
For each raw signal (recording signal d) in a set of ECC blocks consisting of
The inner code PI of 0 bytes is calculated and additionally recorded in the semiconductor memory 21. Further, a 16-byte outer code PO is calculated for each column in byte units and additionally recorded in the semiconductor memory 21.

【0086】光ディスク1に記録する実施例としては内
符号PIを含めた12行と外符号PO分1行の合計23
66バイト ( 2366=(12+1)×(172+10)) を単位として光ディスク1の1セクタ内に記録する。
As an embodiment for recording on the optical disc 1, a total of 23 lines including 12 lines including the inner code PI and 1 line for the outer code PO
It is recorded in one sector of the optical disc 1 in units of 66 bytes (2366 = (12 + 1) × (172 + 10)).

【0087】ECCエンコーディング回路29では内符
号PIと外符号POの付加が完了すると、半導体メモリ
21から1セクタ分の2366はバイトずつの信号を読
み取り、変調回路28へ転送する。
When the addition of the inner code PI and the outer code PO is completed in the ECC encoding circuit 29, the one-sector sector 2366 reads a byte-by-byte signal from the semiconductor memory 21 and transfers it to the modulation circuit 28.

【0088】信号変調 再生信号の直流成分( DSV:Disital Sum Value )
を0に近付け、光ディスク1に対して高密度にデータを
記録するため、信号形式の変換である信号変調を変調回
路28内で行う。
Signal modulation DC component of reproduction signal (DSV: Digital Sum Value)
Is approached 0, and signal modulation, which is a conversion of the signal format, is performed in the modulation circuit 28 in order to record data on the optical disc 1 at high density.

【0089】元の信号と変調後の信号との間の関係を示
す変換テーブルを変調回路28と復調回路31内部で持
っている。ECCエンコーディング回路29から転送さ
れた信号を変調方式に従って複数ビット毎に区切り、変
換テーブルを参照しながら別の信号(コード)に変換す
る。
A conversion table indicating the relationship between the original signal and the modulated signal is provided in the modulation circuit 28 and the demodulation circuit 31. The signal transferred from the ECC encoding circuit 29 is divided into a plurality of bits according to the modulation method, and converted into another signal (code) while referring to a conversion table.

【0090】例えば変調方式として8/16変調( R
LL( 2, 10) コード)を用いた場合には、変換テー
ブルが2種類存在し、変調後の直流成分( DSV:Dis
italSum Value )が0に近付くように逐一参照用変換
テーブルを切り替えている。
For example, 8/16 modulation (R
When the LL (2, 10) code is used, there are two types of conversion tables, and the DC component (DSV: Dis
The reference conversion table is switched one by one so that italSum Value) approaches zero.

【0091】記録波形発生 光ディスク1に記録マークを記録する場合、一般的には
記録方式として ○マーク長記録方式:記録マークの前端位置と後端末位
置に“1”が来る。と ○マーク間記録方式:記録マークの中心位置が“1”の
位置と一致する。 の2種類存在する。
Recording Waveform Generation When recording a recording mark on the optical disk 1, a recording method is generally as follows: mark length recording method: "1" comes at the front end position and the rear terminal position of the recording mark. And ○ mark recording method: the center position of the recording mark matches the position of “1”. There are two types.

【0092】またマーク長記録を行った場合、長い記録
マークを形成する必要が有る。この場合、一定期間記録
光量を照射し続けると光ディスク1の光反射性記録膜の
蓄熱効果により後部のみ幅が広い“雨だれ”形状の記録
マークが形成される。この弊害を除去するため、長さの
長い記録マークを形成する場合には複数の記録パルスに
分割したり、記録波形を階段状に変化させている。
When mark length recording is performed, it is necessary to form a long recording mark. In this case, if the recording light amount is continuously irradiated for a certain period, a "raindrop" recording mark having a wide width only at the rear portion is formed due to the heat storage effect of the light reflective recording film of the optical disk 1. In order to eliminate this adverse effect, when forming a long recording mark, the recording mark is divided into a plurality of recording pulses or the recording waveform is changed stepwise.

【0093】記録/再生/消去制御波形発生回路27内
では変調回路28から送られて来た記録信号に応じて上
記のような記録波形を作成し、半導体レーザ駆動回路2
6に伝達している。
In the recording / reproducing / erasing control waveform generating circuit 27, the above-mentioned recording waveform is created in accordance with the recording signal sent from the modulation circuit 28, and the semiconductor laser driving circuit 2
6.

【0094】2値化・PLL回路 “光学ヘッドによる信号検出”で記述したように光ディ
スク1の光反射膜もしくは光反射性記録膜からの反射光
量変化を検出して光ディスク1上の信号を再生する。ア
ンプ13で得られた信号はアナログ波形をしている。2
値化回路15ではその信号をコンパレーターを用いて
“1”と“0”からなる2値のデジタル信号に変換す
る。
Binarization / PLL Circuit As described in "Signal Detection by Optical Head", a signal on the optical disk 1 is reproduced by detecting a change in the amount of light reflected from the light reflecting film or the light reflective recording film of the optical disk 1. . The signal obtained by the amplifier 13 has an analog waveform. 2
The value conversion circuit 15 converts the signal into a binary digital signal consisting of "1" and "0" using a comparator.

【0095】ここから得られた再生信号からPLL回路
19でデータ再生時の基準信号を取り出している。PL
L回路19は周波数可変の発振器を内蔵している。その
発振器から出力されるパルス信号(基準クロック)と2
値化回路15出力信号間の周波数と位相の比較を行い、
その結果を発振器出力にフィードバックしている。
A reference signal at the time of data reproduction is extracted by the PLL circuit 19 from the obtained reproduction signal. PL
The L circuit 19 has a built-in variable frequency oscillator. The pulse signal (reference clock) output from the oscillator and 2
Compare the frequency and phase between the output signals of the digitizing circuit 15,
The result is fed back to the oscillator output.

【0096】信号の復調 変調された信号と復調後の信号との間の関係を示す変換
テーブルを復調回路31内部で持っている。PLL回路
19で得られた基準クロックに合わせて変換テーブルを
参照しながら信号を元の信号に戻す。戻した(復調し
た)信号は半導体メモリ21に記録される。
Demodulation of Signal The demodulation circuit 31 has a conversion table indicating the relationship between the modulated signal and the demodulated signal. The signal is returned to the original signal while referring to the conversion table in accordance with the reference clock obtained by the PLL circuit 19. The returned (demodulated) signal is recorded in the semiconductor memory 21.

【0097】エラー訂正処理 半導体メモリ21に保存された信号に対し、内符号PI
と外符号POを用いてエラー訂正回路32ではエラー箇
所を検出し、エラー箇所のポインタフラグを立てる。
Error Correction Processing The signal stored in the semiconductor memory 21 is subjected to an inner code PI
The error correction circuit 32 detects the error location using the outer code PO and sets an error location pointer flag.

【0098】その後、半導体メモリ21から信号を読み
出しながらエラーポインタフラグに合わせて逐次エラー
箇所の信号を訂正し、内符号PIと外符号POをはずし
てデータ入出力インターフェース部30へ転送する。
Thereafter, while reading the signal from the semiconductor memory 21, the signal at the error location is sequentially corrected in accordance with the error pointer flag, and the inner code PI and the outer code PO are removed and transferred to the data input / output interface unit 30.

【0099】ECCエンコーディング回路29から送ら
れて来た信号をデータ入出力インターフェース部30か
ら再生信号cとして出力する。上記半導体メモリ21に
は、光ディスク1の欠陥管理ゾーン6aに記録されてい
る欠陥データが記憶される欠陥データテーブル21aが
設けられている。この欠陥データテーブル21aには、
上記光ディスク1が光ディスク装置10に装填された
際、光ディスク1の欠陥管理ゾーン6aに記録されてい
る欠陥データが再生されて記憶されるようになってい
る。
The signal sent from the ECC encoding circuit 29 is output from the data input / output interface unit 30 as a reproduction signal c. The semiconductor memory 21 is provided with a defect data table 21a for storing defect data recorded in the defect management zone 6a of the optical disc 1. In this defect data table 21a,
When the optical disk 1 is loaded into the optical disk device 10, the defect data recorded in the defect management zone 6a of the optical disk 1 is reproduced and stored.

【0100】この欠陥管理ゾーン6aから再生された欠
陥データは一旦そのままアドレス発生部33から順次発
生されるアドレスに基づいて記憶され、その後、アドレ
ス発生部33から順次発生されるアドレスと並び替え処
理部34の制御に基づいて、セクタ番号の若い順に並び
替える並び替え処理が行われるようになっている。
The defect data reproduced from the defect management zone 6a is temporarily stored as it is based on the addresses sequentially generated from the address generation unit 33, and thereafter, the addresses sequentially generated from the address generation unit 33 and the rearrangement processing unit Based on the control of 34, a rearrangement process for rearranging the sectors in ascending order of the sector numbers is performed.

【0101】制御部22は、光ディスク1の装填時、光
ディスク1の欠陥管理ゾーン6aに記録されている欠陥
データを上記各部を制御して再生し、復調回路3により
復調された欠陥データを欠陥データテーブル21aに書
き込む形式にして半導体メモリ21に供給するようにな
っている。また、この際、制御部22は、アドレス発生
部33に対してアドレス発生を開始する信号を出す。さ
らに、制御部22は、この光ディスク1の欠陥管理ゾー
ン6aに記録されている欠陥データの欠陥データテーブ
ル21aへ書き込みが終了した際、制御部22は、並び
替えスタート信号を後述するリード/ライトコントロー
ル部44に供給するようになっている。
When the optical disc 1 is loaded, the control section 22 controls the above sections to reproduce the defect data recorded in the defect management zone 6a of the optical disc 1 and reproduces the defect data demodulated by the demodulation circuit 3 into the defect data. The data is supplied to the semiconductor memory 21 in a format to be written in the table 21a. At this time, the control unit 22 sends a signal to the address generation unit 33 to start address generation. Further, when the control unit 22 finishes writing the defect data recorded in the defect management zone 6a of the optical disc 1 to the defect data table 21a, the control unit 22 sends a rearrangement start signal to a read / write control described later. The power is supplied to the section 44.

【0102】アドレス発生部33は、再生された1単位
の欠陥データ(4バイト)が半導体メモリ21に供給さ
れるごとにカウントアップすることにより、半導体メモ
リ21の欠陥データテーブル21aの書き込む位置を指
定するアドレスを発生するものである。
The address generation unit 33 specifies the writing position of the defect data table 21a of the semiconductor memory 21 by counting up each time one unit of reproduced defect data (4 bytes) is supplied to the semiconductor memory 21. Address to be generated.

【0103】また、アドレス発生部33は、欠陥データ
の並び替え処理を行う際、後述するリード/ライトコン
トロール部44からの制御信号に応じて、半導体メモリ
21の欠陥データテーブル21aの読出し位置、あるい
は書込み位置を指定するアドレスを発生するものであ
る。すなわち、後述する図11でのN=N+1、M=M
+1に該当する処理動作を行う。
When performing the reordering process of the defect data, the address generating unit 33 reads the defect data table 21a of the semiconductor memory 21 in accordance with a control signal from a read / write control unit 44 described later, or An address for designating a write position is generated. That is, N = N + 1 and M = M in FIG.
The processing operation corresponding to +1 is performed.

【0104】並び替え処理部34は、図8に示すよう
に、レジスタ41、レジスタ42、レジスタ比較判定部
43、およびリード/ライトコントロール部44により
構成されている。
As shown in FIG. 8, the rearrangement processing section 34 includes a register 41, a register 42, a register comparison / determination section 43, and a read / write control section 44.

【0105】レジスタ41、レジスタ42は、それぞれ
4バイトのレジスタであり、リード/ライトコントロー
ル部44からのコントロール信号に基づいて、半導体メ
モリ21の欠陥データテーブル21aから読み出された
1単位の欠陥データを記憶したり、記憶されている欠陥
データを半導体メモリ21の欠陥データテーブル21
a、レジスタ比較判定部43へ出力するものである。
Each of the registers 41 and 42 is a 4-byte register. One unit of defect data read from the defect data table 21a of the semiconductor memory 21 based on a control signal from the read / write control unit 44. Is stored in the defect data table 21 of the semiconductor memory 21.
a, which is output to the register comparison / determination unit 43.

【0106】レジスタ比較判定部43は、レジスタ41
の欠陥データと、レジスタ42の欠陥データとを比較
し、どちらのセクタ番号が若いか否かを判定するもので
あり、この判定結果としての判定信号はリード/ライト
コントロール部44に出力されるようになっている。
The register comparison / judgment section 43 includes a register 41
Is compared with the defective data in the register 42 to determine which sector number is younger. A determination signal as a result of this determination is output to the read / write controller 44. It has become.

【0107】リード/ライトコントロール部44は、制
御部22からの並び替えスタート信号とレジスタ比較判
定部43からの判定結果とに基づいて、半導体メモリ2
1の欠陥データテーブル21aに格納されたデータを並
び替える動作を開始し、半導体メモリ21の欠陥データ
テーブル21aに対するリード/ライト信号を出力する
とともに、アドレス発生部33に制御信号を出力し、レ
ジスタ41、42にもそれぞれコントロール信号A、B
を出力するようになっている。
The read / write control unit 44 controls the semiconductor memory 2 based on the rearrangement start signal from the control unit 22 and the determination result from the register comparison determination unit 43.
1 starts the operation of rearranging the data stored in the defective data table 21a, outputs a read / write signal to the defective data table 21a of the semiconductor memory 21, outputs a control signal to the address generator 33, and , 42 also have control signals A, B, respectively.
Is output.

【0108】この図8の構成内のコントロール信号Aは
図9、図10内の(1) 、(4) 動作欠陥データテーブル2
1aからレジスタ41ヘのリード及び(3) 動作のレジス
タ41から欠陥データテーブル21aへライトのコント
ロールを行う。また、コントロール信号Bは図9、図1
0内の(2) 動作欠陥データテーブル21aからレジスタ
42へのリード、(5) 動作レジスタ42から欠陥データ
テーブル21aへのライトをコントロールする。
The control signal A in the configuration of FIG. 8 corresponds to (1) and (4) of the operation defect data table 2 in FIGS.
Control of reading from the register 1a to the register 41 and writing from the register 41 of (3) operation to the defect data table 21a are performed. The control signal B is shown in FIGS.
It controls (2) reading from the operation defect data table 21a to the register 42, and (5) writing from the operation register 42 to the defect data table 21a.

【0109】次に、上記のような構成において、2つの
レジスタ41、42を用いて、欠陥データテーブル21
aに記憶されている欠陥データの並び替えを、図9、図
10に示す欠陥データ並び替え処理ルーチン(レジスタ
リード/ライト手順)と、図11に示すフローチャート
を用いて説明する。
Next, in the above configuration, the defect data table 21 is created by using the two registers 41 and 42.
The rearrangement of the defect data stored in “a” will be described with reference to a defect data rearrangement processing routine (register read / write procedure) shown in FIGS. 9 and 10 and a flowchart shown in FIG.

【0110】この場合、欠陥データテーブル21aのメ
モリNo,R1〜R13には光ディスク1の欠陥管理エ
リアから再生した欠陥データが入っていることを前提に
データの並び替えの説明をする。
In this case, the data rearrangement will be described on the assumption that the memory Nos. R1 to R13 of the defect data table 21a contain the defect data reproduced from the defect management area of the optical disk 1.

【0111】本来、メモリNo,R2からのデータ処理
開始となるが、説明用の図9、図10の動作は並び替え
処理途中でメモリNo,R12の欠陥データが下から3
番目のデータ値になると仮定した場合の処理動作です。
Originally, the data processing is started from the memory No. R2. However, the operation shown in FIGS. 9 and 10 for explanation is such that the defective data in the memory No.
This is the processing operation when it is assumed that the data value becomes the third data value.

【0112】処理手順は、メモリNo,R12の欠陥デ
ータをレジスタ41に格納した後、メモリNo,R1の
欠陥データをレジスタ42に格納してレジスタ41の欠
陥データと比較する。比較した結果、レジスタ41>レ
ジスタ42の場合、メモリNo,R2の欠陥データをレ
ジスタ42に入れ替えてまたレジスタ41とデータ比較
を行う。メモリNo,R3の欠陥データをレジスタ42
に入れレジスタ41とデータ比較した時、レジスタ41
<レジスタ42になったことによりレジスタ41の欠陥
データをメモリNo,R3に上書きする。上書き後、レ
ジスタ41にメモリNo,R4を入れ替えて、レジスタ
42の欠陥データをメモリNo,R4に上書き後メモリ
No,R5の欠陥データをレジスタ42に入れる。次ぎ
にレジスタ41の欠陥データをメモリNo,R5に上書
きした後メモリNo,R6のデータをレジスタ41に入
れる。今度はレジスタ42によるメモリNo,R6、N
o,7の上書き、読み込みと行い、レジスタ41、レジ
スタ42交互に欠陥データテーブル21aに上書き読み
出しをして、欠陥データテーブル21aの欠陥データを
1つ上のアドレスに移して、メモリNo,12までデー
タシフト処理を行う。
In the processing procedure, after the defective data of the memory No. and R12 are stored in the register 41, the defective data of the memory No. and R1 are stored in the register 42 and compared with the defective data of the register 41. As a result of the comparison, if the register 41 is larger than the register 42, the defective data in the memory No. R2 is replaced with the register 42 and the data is compared with the register 41 again. The defective data of the memory No. R3 is stored in the register 42.
When the data is compared with the register 41,
<By becoming the register 42, the defective data of the register 41 is overwritten on the memory No. R3. After the overwriting, the memory numbers R4 and R4 are replaced in the register 41, and the defective data in the memory No. R4 and the defective data in the memory numbers R5 after the overwriting are stored in the register 42. Next, after the defective data of the register 41 is overwritten on the memory No. R5, the data of the memory No. R6 is put into the register 41. This time, the memory No., R6, N
The overwriting and reading of o and 7 are performed, and the register 41 and the register 42 are alternately overwritten and read to the defect data table 21a, and the defect data of the defect data table 21a is moved to the next higher address. Perform data shift processing.

【0113】データシフト処理終了後、次ぎのメモリN
o,R13の欠陥データをレジスタ41に入れて、前記
処理のようにメモリNo,R1の欠陥データからレジス
タ42に入れて、レジスタ41とレジスタ42の比較を
してレジスタ41に入っているメモリNo,13の欠陥
データの上書きする先を探しだし、欠陥データテーブル
21a内のデータシフト処理を行う。
After the end of the data shift processing, the next memory N
o, the defective data of R13 is stored in the register 41, and the defective data of the memory No. R1 is stored in the register 42 as in the above-described processing. , 13 are searched, and data shift processing in the defect data table 21a is performed.

【0114】もし、最初にレジスタ41に入れた欠陥デ
ータテーブル21aのアドレス(メモリNo,R12)
までデータ比較の結果がレジスタ41>レジスタ42に
なった場合はそのアドレスへのレジスタ41のデータに
よる上書きは行わずに、次ぎの更新したアドレスの欠陥
データをレジスタ41に入れ替えて、また上記のメモリ
No,R1からのデータ比較処理を行う。このような欠
陥データの並び替え処理を欠陥データの最後のデータま
で行った後、データ並び替え処理を終了する。
If the address (memory No., R12) of the defect data table 21a first entered in the register 41,
If the result of the data comparison becomes register 41> register 42, the address is not overwritten by the data in the register 41, and the defective data at the next updated address is replaced by the register 41. Data comparison processing from No and R1 is performed. After such defective data rearrangement processing is performed up to the last data of the defective data, the data rearrangement processing ends.

【0115】欠陥データの最後のデータは、並び替えす
る前に予め最後の位置を調べて(カウンタ等により)最
大メモリNo,としてプリセットするようになってい
る。図11に示すフローチャートにおいて、最大メモリ
No=NE;欠陥データテーブルの最終メモリナンバー
となっている。
The last data of the defective data is preset as the maximum memory No. by checking the last position beforehand (by a counter or the like) before rearrangement. In the flowchart shown in FIG. 11, the maximum memory No = NE; the last memory number of the defect data table.

【0116】上記図11のフローチートにおける要部に
ついて説明する。すなわち、リード/ライトコントロー
ル部44は並び替えスタート信号が入ると、欠陥データ
テーブル21aに格納された欠陥データを並び替える動
作を開始する。
The main part of the flow chart shown in FIG. 11 will be described. That is, when the rearrangement start signal is input, the read / write control unit 44 starts the operation of rearranging the defect data stored in the defect data table 21a.

【0117】まず、欠陥データテーブル21aにリード
信号を出しレジスタ41/レジスタ42に欠陥データテ
ーブル21aの欠陥にデータを入れ、図11内の判定部
分の該当する動作をレジスタ比較判定部43で行い、判
定結果の判定信号によりリード/ライトコントロール部
44は図11内のレジスタ41→メモリNo,R
(N)、レジスタ41←メモリNo,R(N)、レジス
タ42→メモリNo,R(N)、レジスタ42←メモリ
No,R(N)に該当する動作のコントロールを行うた
めに、リード/ライト信号を出して、レジスタ41及び
レジスタ42のデータを欠陥データテーブル21aに書
き込みを行ったり、欠陥データテーブル21aからレジ
スタ41又はレジスタ42にデータを取り込むことを行
う。
First, a read signal is output to the defect data table 21a, data is input to the register 41 / register 42 for the defect in the defect data table 21a, and the corresponding operation of the judgment portion in FIG. The read / write control unit 44 determines from the register 41 in FIG.
(N), register 41 ← memory No, R (N), register 42 → memory No, R (N), register 42 ← read / write to control operations corresponding to memory No, R (N) By issuing a signal, the data of the register 41 and the register 42 are written into the defect data table 21a, and the data is taken into the register 41 or the register 42 from the defect data table 21a.

【0118】上記動作説明でレジスタ41とレジスタ4
2のデータ比較で、レジスタ41に入れた欠陥データテ
ーブル21aからの欠陥データのアドレス(メモリN
o,R12)までデータ比較の結果がレジスタ41>レ
ジスタ42になった場合に対応する場所はデータ比較検
出でレジスタ41=レジスタ42である。これはレジス
タ41に入れた欠陥データテーブル21aからの欠陥デ
ータのアドレス(メモリNo,R12)にレジスタ42
へ入れるサーチデータが達したことで得られる結果であ
るため。
In the above description of operation, register 41 and register 4
In the data comparison of No. 2, the address of the defective data from the defective data table 21a stored in the register 41 (memory N
(o, R12) The location corresponding to the case where the result of the data comparison becomes register 41> register 42 is register 41 = register 42 upon detection of data comparison. This is because the address of the defective data (memory No., R12) from the defective data table 21a stored in the register 41 is stored in the register 42.
This is because the result is obtained by reaching the search data to be entered.

【0119】上記の実施形態では、欠陥データの入って
いるメモリ領域の最後のNo,の位置を検出するため
に、並び替えする前に予め最後の位置を調べて最大メモ
リNo,としてプリセットする場合について説明した
が、これに限らず、欠陥データの最後の次ぎのデータに
予め指定した欠陥データとして存在しない値(オール
1)を書き込み、そのデータを検出することでデータ並
び替え処理を終了するようにする。
In the above-described embodiment, in order to detect the position of the last No. in the memory area containing the defective data, the last position is checked before sorting and preset as the maximum memory No. However, the present invention is not limited to this, and a value (all 1) that does not exist as pre-specified defect data is written to the next data after the defect data, and the data rearrangement process is terminated by detecting the data. To

【0120】この場合、フローチャートのEN=Mの部
分が前記欠陥データとして存在しないデータNDD=レ
ジスタ42又はNDD=レジスタ41となる。(図12
に示すフローチャート参照) また、上記の実施形態ではレジスタ41及びレジスタ4
2に入れたデータを4バイト分すべて比較するようにな
っているが、実施の際にはレジスタ41及びレジスタ4
2に入れたデータの一部を除くデータの比較であっても
良い。
In this case, the portion of EN = M in the flowchart is the data NDD = register 42 or NDD = register 41 that does not exist as the defect data. (FIG. 12
In the above embodiment, the register 41 and the register 4
2 is compared with all the data of 4 bytes.
The comparison of the data except for a part of the data put in 2 may be performed.

【0121】この場合、図13に示すように、右側の3
バイトが比較され、レジスタ41、42が3バイト構成
となる。上記したように、複数バイト(4バイト)から
成るレジスタ41/レジスタ42を有し、光ディスク1
内の欠陥データエリア6aに記録された欠陥データ等を
整理するために一旦欠陥データテーブル21a(半導体
メモリ21)に格納した後この欠陥データテーブル21
a内の欠陥データを予め指定されたアドレス(指定され
た領域内の最小値の次ぎのアドレス値:No,R2)か
ら順番に上記欠陥データテーブル21aに入れ込む欠陥
データとして上記レジスタ41に入れ、レジスタ42は
前記レジスタ41に一旦データを入れた毎、上記欠陥デ
ータテーブル21aに欠陥データを入れ込む位置を探す
ために上記欠陥データテーブル21aの頭から順にデー
タを取り込みレジスタ41の欠陥データと比較してい
く。上記比較した結果、レジスタ41の欠陥データのセ
クタ値がレジスタ42の欠陥データのセクタ値より小さ
くなった(レジスタ41<レジスタ42)時にレジスタ
42に取り込んだ上記欠陥データテーブル21aの欠陥
データのアドレスにレジスタ41の欠陥データを上書き
をした後、上記欠陥データテーブル21aに入れ込む次
ぎの欠陥データをレジスタ41に入れて、上記レジスタ
42との比較、上記欠陥データテーブル21aへの上書
きを行っていき、欠陥データが格納されている上記欠陥
データテーブル21a領域内の最大アドレスの欠陥デー
タを上記レジスタ41に入れて上記上書きを行うまでの
データ比較、データ値の小さい順に指定ブロック内の最
小アドレスからデータ並び替えを行うことを特徴として
いる。
In this case, as shown in FIG.
The bytes are compared, and the registers 41 and 42 have a 3-byte configuration. As described above, the optical disk 1 has the register 41 / register 42 composed of a plurality of bytes (4 bytes).
Is stored in a defect data table 21a (semiconductor memory 21) in order to sort defect data and the like recorded in the defect data area 6a in the
The defect data in a is entered in the register 41 as defect data to be sequentially entered in the defect data table 21a from a pre-designated address (address value next to the minimum value in the designated area: No, R2), The register 42 fetches data in order from the beginning of the defect data table 21a and searches for the position where the defect data is to be inserted into the defect data table 21a, and compares the data with the defect data of the register 41 every time data is once entered into the register 41. To go. As a result of the comparison, when the sector value of the defective data of the register 41 becomes smaller than the sector value of the defective data of the register 42 (register 41 <register 42), the address of the defective data in the defective data table 21a taken into the register 42 After overwriting the defect data in the register 41, the next defect data to be inserted into the defect data table 21a is input into the register 41, and the next defect data is compared with the register 42 and overwritten on the defect data table 21a. The defect data at the maximum address in the defect data table 21a area where the defect data is stored is stored in the register 41 and data comparison is performed until the overwriting is performed. The data is arranged from the smallest address in the designated block in ascending order of the data value. It is characterized by performing replacement.

【0122】これにより、欠陥データを入れた半導体メ
モリの欠陥データテーブル上で並び替え処理を行うた
め、並び替え用の別のメモリを有する必要がなく、しか
も別メモリ動作のためのアドレス生成等の処理がなくな
り、さらにデータ処理においてデータの移動が1ステッ
プシフト動作のため、操作が容易となり、並び替え処理
時間の短縮ができる。
As a result, since the rearrangement process is performed on the defect data table of the semiconductor memory in which the defect data has been stored, it is not necessary to have another memory for rearrangement, and furthermore, it is necessary to generate an address for another memory operation. Since the processing is eliminated and the data is moved in the data processing by one-step shift operation, the operation becomes easy and the time required for the rearrangement processing can be reduced.

【0123】[0123]

【発明の効果】以上詳述したように、この発明によれ
ば、光ディスクから再生した欠陥データに対する並び替
えの処理時間の短縮及びメモリ容量の縮小化ができる光
ディスク装置およびメモリデータ並び替え回路を提供す
ることを目的としている。
As described above in detail, according to the present invention, an optical disk apparatus and a memory data rearranging circuit capable of shortening the processing time for rearranging defective data reproduced from an optical disk and reducing the memory capacity are provided. It is intended to be.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は、この発明の一実施例に係る光ディスク
装置の概略構成を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of an optical disk device according to an embodiment of the present invention.

【図2】光ディスクの概略構成を示す平面図。FIG. 2 is a plan view showing a schematic configuration of an optical disc.

【図3】光ディスクの概略構成を示す図。FIG. 3 is a diagram showing a schematic configuration of an optical disc.

【図4】光ディスクのECCブロックの構成を説明する
ための図。
FIG. 4 is a diagram for explaining a configuration of an ECC block of the optical disc.

【図5】光ディスクのECCブロックの構成を説明する
ための図。
FIG. 5 is a diagram for explaining a configuration of an ECC block of the optical disc.

【図6】ECCブロックの各セクタの構成を説明するた
めの図。
FIG. 6 is a diagram for explaining a configuration of each sector of an ECC block.

【図7】ECCブロックのセクタフォーマットを示す
図。
FIG. 7 is a diagram showing a sector format of an ECC block.

【図8】並び替え処理部とその周辺回路とを説明するた
めのブロック図。
FIG. 8 is a block diagram for explaining a rearrangement processing unit and its peripheral circuits.

【図9】欠陥データ並び替え処理ルーチンを説明するた
めの図。
FIG. 9 is a view for explaining a defect data rearrangement processing routine;

【図10】欠陥データ並び替え処理ルーチンを説明する
ための図。
FIG. 10 is a view for explaining a defect data rearrangement processing routine;

【図11】欠陥データ並び替え処理を説明するためのフ
ローチャート。
FIG. 11 is a flowchart illustrating a defect data rearranging process.

【図12】欠陥データ並び替え処理を説明するためのフ
ローチャート。
FIG. 12 is a flowchart illustrating a defect data rearranging process.

【図13】欠陥データ並び替え処理ルーチンを説明する
ための図。
FIG. 13 is a view for explaining a defect data rearrangement processing routine;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…光ディスク 10…光ディスク装置 21…半導体メモリ 21a…欠陥データテーブル 22…制御部 33…アドレス発生部 34…並び替え処理部 41、42…レジスタ 43…レジスタ比較判定部 44…欠陥データテーブル DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Optical disk 10 ... Optical disk apparatus 21 ... Semiconductor memory 21a ... Defect data table 22 ... Control part 33 ... Address generation part 34 ... Rearrangement processing part 41, 42 ... Register 43 ... Register comparison determination part 44 ... Defect data table

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光ディスクの所定エリアに記録されてい
る順不同の番号データを含む欠陥データを読出す読出手
段と、 この読出手段により読出された欠陥データをアドレス順
に記憶するメモリと、 このメモリの任意のアドレスの欠陥データがそれぞれ選
択的に記憶される複数のレジスタと、 これらの複数のレジスタの記憶内容を比較する比較手段
と、 この比較手段の比較結果に基づいて上記レジスタの記憶
内容で上記メモリのアドレス単位の欠陥データを書換え
る書換手段と、 を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
1. A reading means for reading defect data including random number data recorded in a predetermined area of an optical disk, a memory for storing defect data read by the reading means in address order, and an optional memory of the memory. A plurality of registers each of which selectively stores defect data of the address; a comparing means for comparing the stored contents of the plurality of registers; and Rewriting means for rewriting defect data in address units.
【請求項2】 順不同の番号データを含む欠陥データを
アドレス順に記憶するメモリと、 このメモリの任意のアドレスの欠陥データがそれぞれ選
択的に記憶される複数のレジスタと、 これらの複数のレジスタの記憶内容を比較する比較手段
と、 この比較手段の比較結果に基づいて上記レジスタの記憶
内容で上記メモリのアドレス単位の欠陥データを書換え
る書換手段と、 を具備したことを特徴とするメモリデータの並び替え回
路。
2. A memory for storing defective data including random number data in order of addresses, a plurality of registers for selectively storing defective data at an arbitrary address of the memory, and storing the plurality of registers. A sequence of memory data, comprising: comparing means for comparing contents; and rewriting means for rewriting defective data in address units of the memory with the contents stored in the register based on a comparison result of the comparing means. Replacement circuit.
【請求項3】 光ディスクの所定エリアに記録されてい
る順不同の番号データを含む欠陥データを読出す読出手
段と、 この読出手段により読出された欠陥データをアドレス順
に記憶するメモリと、 1単位の番号データを含む欠陥データがそれぞれ記憶さ
れる第1、第2のレジスタと、 上記第1のレジスタに記憶された欠陥データの番号デー
タと上記第2のレジスタに記憶された欠陥データの番号
データとを比較することにより、それらの番号データが
同一かいずれか一方が大きいことを判定する判定手段
と、 上記読出手段により読出された欠陥データの上記メモリ
への記憶後、上記メモリの任意のアドレスの欠陥データ
を選択的に上記第1、第2のレジスタに記憶する記憶手
段と、 この記憶手段による欠陥データの記憶後、上記判定手段
による判定結果に基づいて上記第1、あるいは第2のレ
ジスタの記憶内容で上記メモリのアドレス単位の欠陥デ
ータを書換える書換手段と、 を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
3. A reading means for reading defect data including random number data recorded in a predetermined area of an optical disk, a memory for storing defect data read by the reading means in address order, a unit number First and second registers respectively storing defect data including data; number data of defect data stored in the first register; and number data of defect data stored in the second register. Comparing means for judging that the number data is the same or one of them is larger; and storing the defective data read by the reading means in the memory, and then determining whether the defect data at an arbitrary address in the memory is sufficient. A storage unit for selectively storing data in the first and second registers; and a storage unit for storing the defect data by the storage unit. That determination based on the result of the optical disk apparatus characterized by comprising a rewriting means for rewriting the defect data of the address unit of the memory in the storage contents of said first or second register.
【請求項4】 1単位の番号データを含む欠陥データが
それぞれ記憶される第1、第2のレジスタと、 複数のアドレスのそれぞれに欠陥データが記憶されるメ
モリと、 上記第1のレジスタに記憶された欠陥データの番号デー
タと上記第2のレジスタに記憶された欠陥データの番号
データとを比較することにより、それらの番号データが
同一かいずれか一方が大きいことを判定する判定手段
と、 外部から供給される番号データの順番が順不同な欠陥デ
ータを上記メモリのアドレス順に順次記憶する第1の記
憶手段と、 この第1の記憶手段による欠陥データの記憶後、上記メ
モリの任意のアドレスの欠陥データを選択的に上記第
1、第2のレジスタに記憶する第2の記憶手段と、 この第2の記憶手段による欠陥データの記憶後、上記判
定手段による判定結果に基づいて上記第1、あるいは第
2のレジスタの記憶内容で上記メモリのアドレス単位の
欠陥データを書換える書換手段と、 を具備したことを特徴とするメモリデータの並び替え回
路。
4. A first and a second register for storing defect data including one unit of number data, a memory for storing defect data at each of a plurality of addresses, and a storage for the first register. Comparing the number data of the defect data with the number data of the defect data stored in the second register to determine whether the number data is the same or any one of them is larger; Storage means for sequentially storing defect data in the order of the number data supplied from the memory in the order of addresses of the memory; after the storage of the defect data by the first storage means, a defect at an arbitrary address of the memory A second storage unit for selectively storing data in the first and second registers; and a storage unit for storing the defect data by the second storage unit. That the judgment result of the first on the basis of, or the second register rearrangement circuit of the memory data, characterized by comprising a rewriting means for rewriting the defect data of the address unit of the memory in the storage content, a.
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