JPH1164652A - Waveguide to the core of which fluorine is added and its production - Google Patents

Waveguide to the core of which fluorine is added and its production

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JPH1164652A
JPH1164652A JP22821697A JP22821697A JPH1164652A JP H1164652 A JPH1164652 A JP H1164652A JP 22821697 A JP22821697 A JP 22821697A JP 22821697 A JP22821697 A JP 22821697A JP H1164652 A JPH1164652 A JP H1164652A
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JP
Japan
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core
waveguide
fluorine
added
refractive index
Prior art date
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JP22821697A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsuyuki Imoto
克之 井本
Akihiro Hori
彰弘 堀
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Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
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Publication date
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Publication of JPH1164652A publication Critical patent/JPH1164652A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a waveguide which is formed by adding fluorine to a core having a waveguide of a high specific refractive index difference Δ, is substantially free of absorption peaks from a wavelength 1.3 μm band to a wavelength 1.6 μm band, is extremely low in loss and facilitate refractive index control and a process for producing the same. SOLUTION: When the fluorine is added into the core of an oxide co-added with at least one kind of additives to enhance the refractive index, the hydrogen of the OH group, Si-H group or N-H group and fluorine existing in the clad layer 21 and the core 22 react to form gaseous HF which may be released outside the core 22. Consequently, the core 22 substantially free of the OH group, Si-H group or N-H group may be embodied. As a result, the waveguide which is extremely low in loss is obtd. As the amt. of the fluorine to be added into the core 22 is larger, the effect is higher. If the fluorine is added into the intermediate layer and the clad layer 21 as well, the waveguide having the lower loss is obtd.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、コアにフッ素を添
加した導波路及びその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a waveguide having a core doped with fluorine and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】光デバイスの低コスト化、小型化をめざ
してコアとクラッド層との比屈折率差Δの大きい高Δ型
のガラス導波路の研究開発が活発になっている。
2. Description of the Related Art Research and development of a high Δ type glass waveguide having a large relative refractive index difference Δ between a core and a cladding layer has been actively conducted in order to reduce the cost and size of an optical device.

【0003】図10は本発明者らが先に提案した高Δ導
波路の概観斜視図である。
FIG. 10 is a schematic perspective view of a high Δ waveguide proposed by the present inventors.

【0004】同図に示す導波路は、基板1上に低屈折率
の下部クラッド層(SiO2 )2を形成し、その下部ク
ラッド層2上に略矩形断面形状の高屈折率コア層(Si
ONH)3を形成し、下部クラッド層2及びコア層3を
上部クラッド層(SiO2 )4で覆った構造を有してい
る。
In the waveguide shown in FIG. 1, a lower refractive index lower cladding layer (SiO 2 ) 2 is formed on a substrate 1, and a high refractive index core layer (Si) having a substantially rectangular cross section is formed on the lower cladding layer 2.
ONH) 3 and the lower clad layer 2 and the core layer 3 are covered with an upper clad layer (SiO 2 ) 4.

【0005】図10に示した高Δ導波路は、コア層3に
SiONHを用いているので、図11に示すように窒素
Nの含有量を制御することによって屈折率を非常に高く
することができるという利点がある。図11はSiOx
NyHz膜中の窒素含有量と屈折率との関係を示す図で
あり、横軸が窒素含有量を示し、左縦軸が屈折率を示し
ている。
In the high Δ waveguide shown in FIG. 10, since SiONH is used for the core layer 3, it is possible to make the refractive index extremely high by controlling the content of nitrogen N as shown in FIG. There is an advantage that you can. FIG. 11 shows SiOx
It is a figure which shows the relationship between the nitrogen content in a NyHz film | membrane, and a refractive index, and a horizontal axis | shaft shows nitrogen content and a left vertical axis | shaft shows a refractive index.

【0006】因みに、SiO2 にTiO2 、Al
2 3 、GeO2 或いはP2 5 等の屈折率制御用ドー
パントを添加した場合には、図12に示すように屈折率
を高くすることができない。図12は添加物濃度と屈折
率との関係を示す図であり、横軸が添加物濃度を示し、
縦軸が屈折率を示す。
[0006] By the way, TiO 2, Al on SiO 2
When a refractive index controlling dopant such as 2 O 3 , GeO 2 or P 2 O 5 is added, the refractive index cannot be increased as shown in FIG. FIG. 12 is a diagram showing the relationship between the additive concentration and the refractive index, where the horizontal axis represents the additive concentration,
The vertical axis indicates the refractive index.

【0007】次に図10に示した高Δ導波路のSiON
Hコア3、下部Siクラッド層2及び上部SiO2 クラ
ッド層4は、図13に示すプラズマCVD装置を用いて
形成される。図13は従来の導波路を製造するのに用い
られるプラズマCVD装置の概念図である。
Next, the SiON of the high Δ waveguide shown in FIG.
The H core 3, the lower Si cladding layer 2, and the upper SiO 2 cladding layer 4 are formed using a plasma CVD apparatus shown in FIG. FIG. 13 is a conceptual diagram of a plasma CVD apparatus used for manufacturing a conventional waveguide.

【0008】真空排気装置5によって真空排気される反
応容器6内に上部電極7と下部電極8とを対向配置させ
て両電極7,8間に高周波電源9により高周波電圧を印
加する。下部電極8上に基板1を配置し、下部電極8に
設けられたヒータ11に直流電源12から電圧を印加し
て150℃から450℃の範囲で加熱しておく。
An upper electrode 7 and a lower electrode 8 are arranged opposite to each other in a reaction vessel 6 which is evacuated by an evacuation apparatus 5, and a high frequency voltage is applied between the electrodes 7 and 8 by a high frequency power supply 9. The substrate 1 is disposed on the lower electrode 8, and a voltage is applied from a DC power supply 12 to a heater 11 provided on the lower electrode 8 to heat the heater 11 in a range of 150 ° C. to 450 ° C.

【0009】ついで両電極7,8間にArガス(矢印1
3方向)を流して両電極7,8間にプラズマ14を発生
させる。このような状態でガラス原料ガスを矢印15−
1方向から矢印15−2方向にプラズマ14中に流す。
また矢印13方向からもN2ガスをプラズマ14中に流
す。基板1上に下部SiO2 クラッド2(図10参照)
を形成するために矢印15−1方向からSiH4 ガス及
びO2 ガスを流す。
Next, Ar gas (arrow 1) is applied between the electrodes 7 and 8.
(In three directions) to generate a plasma 14 between the electrodes 7 and 8. In this state, the glass raw material gas is supplied by the arrow 15-.
It flows into the plasma 14 from one direction in the direction of arrow 15-2.
Also, N 2 gas flows into the plasma 14 from the direction of arrow 13. Lower SiO 2 cladding 2 on substrate 1 (see FIG. 10)
Is flowed from the direction of arrow 15-1 to form SiH 4 gas and O 2 gas.

【0010】基板1上に下部SiO2 クラッド2を形成
した後にSiONHコア3を形成するために矢印15−
1方向からSiH4 ガス、NH3 ガス及びO2 ガスを流
す。
After forming the lower SiO 2 cladding 2 on the substrate 1, arrows 15-
SiH 4 gas, NH 3 gas and O 2 gas are flowed from one direction.

【0011】SiONHコア3をフォトリソグラフィ及
びドライエッチングプロセスにより、略矩形断面形状に
パターニングする。その後、パターニングしたSiON
Hコア3の表面を上部SiO2 クラッド層4で覆うため
に下部SiO2 クラッド層2と同様に、矢印15−1方
向よりSiH4 及びO2 ガスを流す。
The SiONH core 3 is patterned into a substantially rectangular cross section by a photolithography and dry etching process. Then, patterned SiON
In order to cover the surface of the H core 3 with the upper SiO 2 cladding layer 4, SiH 4 and O 2 gas are flowed from the direction of arrow 15-1, similarly to the lower SiO 2 cladding layer 2.

【0012】次に図10に示した高Δ導波路の損失波長
特性について述べる。
Next, the loss wavelength characteristic of the high Δ waveguide shown in FIG. 10 will be described.

【0013】図14(a)、(b)は、図10に示した
高Δ導波路の波長と損失との関係を示す図であり、横軸
が波長、縦軸が損失を示す。
FIGS. 14A and 14B are diagrams showing the relationship between the wavelength and the loss of the high Δ waveguide shown in FIG. 10, wherein the horizontal axis represents the wavelength and the vertical axis represents the loss.

【0014】図14(a)は、コア3とクラッド層2,
4との比屈折率差Δが約2%、コア3のサイズが幅5μ
m、厚さ2.5μmの導波路の損失波長特性の測定結果
である。この損失は、高Δ導波路の伝搬損失(吸収損失
及び散乱損失)、高Δ導波路とシングルモードファイバ
との接続損失(導波路の入力側と出力側の2か所分)を
含んでいる。波長0.6μmから波長1.35μmにわ
たって非常に低損失であった。
FIG. 14A shows a core 3 and a cladding layer 2.
4 is about 2%, and the size of the core 3 is 5 μm in width.
9 shows measurement results of loss wavelength characteristics of a waveguide having a thickness of 2.5 μm and a thickness of 2.5 μm. This loss includes the propagation loss (absorption loss and scattering loss) of the high Δ waveguide, and the connection loss between the high Δ waveguide and the single mode fiber (two portions on the input side and the output side of the waveguide). . The loss was very low from a wavelength of 0.6 μm to a wavelength of 1.35 μm.

【0015】しかし、波長1.39μmにOH基による
吸収損失と波長1.5μm付近にSi−H基(或いはN
−H基)による吸収損失があった。
However, the absorption loss due to the OH group at a wavelength of 1.39 μm and the Si—H group (or N
-H group).

【0016】そこで、この高Δ導波路を1000℃で熱
処理した結果、図14(b)に示すように、波長1.3
9μm付近のOH基による吸収損失はほとんどなくなっ
た。
Then, as a result of heat-treating this high Δ waveguide at 1000 ° C., as shown in FIG.
The absorption loss due to the OH group near 9 μm was almost eliminated.

【0017】ただし、波長1.5μm付近の吸収損失は
低減させることができなかった。これは、この高Δ導波
路のコア3にはSiH4 とO2 とNH3 とN2 との反応
によるN成分及びH成分が含まれ、SiONHになって
いるために生じる吸収損失であると考えられる。
However, the absorption loss near the wavelength of 1.5 μm could not be reduced. This is an absorption loss caused by the fact that the core 3 of the high Δ waveguide contains N and H components due to the reaction between SiH 4 , O 2 , NH 3 and N 2, and becomes SiONH. Conceivable.

【0018】[0018]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
高Δ導波路には、前述したように、いくつかの問題があ
る。
However, the conventional high Δ waveguide has several problems as described above.

【0019】(1) SiONHコアには波長1.39μm
に吸収ピークを有するOH基による吸収損失と、波長
1.5μmに吸収ピークを有するSi−H基(或いはN
−H基)による吸収損失が含まれている。そのため、波
長1.3μmから波長1.6μmの範囲の通信用波長帯
での損失が大きい。波長1.39μmにおける吸収損失
は高Δ導波路を1000℃程度の温度で熱処理すること
により、低減させることができるが、波長1.5μm付
近の吸収損失は1300℃以上の高温熱処理を行わない
と低減させることができない。しかし、1300℃以上
の高温熱処理を行うと、高Δ導波路が軟化して反りが生
じたり、導波路端面が変形したりしてしまう。
(1) The wavelength of the SiONH core is 1.39 μm.
Absorption loss due to an OH group having an absorption peak at a wavelength of 1.5 nm and a Si—H group having an absorption peak at a wavelength of 1.5 μm (or N
-H group). Therefore, the loss is large in the communication wavelength band in the wavelength range of 1.3 μm to 1.6 μm. The absorption loss at a wavelength of 1.39 μm can be reduced by heat-treating the high Δ waveguide at a temperature of about 1000 ° C., but the absorption loss at a wavelength of about 1.5 μm needs to be subjected to a high-temperature heat treatment at 1300 ° C. or higher. It cannot be reduced. However, when a high-temperature heat treatment at 1300 ° C. or more is performed, the high Δ waveguide is softened and warped, or the end face of the waveguide is deformed.

【0020】(2) 下部SiO2 クラッド層及び上部Si
2 クラッド層内にもOH基が含まれており、これによ
る吸収損失が生じる。
(2) Lower SiO 2 cladding layer and upper Si
The O 2 cladding layer also contains OH groups, which causes absorption loss.

【0021】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、波長1.3μm帯から波長1.6μm帯にわたって
吸収ピークがほとんどなく、超低損失で、屈折率制御が
容易で、かつ、高比屈折率差Δの導波路を有するコアに
フッ素を添加した導波路及びその製造方法を提供するこ
とにある。
Therefore, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, and has almost no absorption peak in the wavelength band from 1.3 μm to 1.6 μm, ultra-low loss, easy control of the refractive index, and high resolution. An object of the present invention is to provide a waveguide in which fluorine is added to a core having a waveguide having a relative refractive index difference Δ and a method for manufacturing the same.

【0022】[0022]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明のコアにフッ素を添加した導波路は、基板上に
形成された低屈折率の中間層或いはクラッド層の中に略
矩形断面形状の高屈折率のコアが埋め込まれた導波路に
おいて、コアにフッ素と屈折率を高める添加物を少なく
とも1種類共添加した酸化物とを用いたものである。
According to the present invention, there is provided a waveguide in which a core is doped with fluorine to achieve the above object. The waveguide has a substantially rectangular cross section in a low refractive index intermediate layer or a cladding layer formed on a substrate. In a waveguide in which a high-refractive-index core having a shape is embedded, fluorine and an oxide obtained by co-adding at least one kind of an additive for increasing the refractive index are used in the core.

【0023】上記構成に加え本発明のコアにフッ素を添
加した導波路は、コア用の酸化物のベース材料としてS
iO2 或いはSiONを用いるのが好ましい。
In addition to the above structure, the waveguide of the present invention in which fluorine is added to the core is made of S as an oxide base material for the core.
Preferably, iO 2 or SiON is used.

【0024】上記構成に加え本発明のコアにフッ素を添
加した導波路は、中間層或いはクラッド層としてSiO
2 、フッ素を添加したSiO2 或いはこれらに屈折率制
御用添加物を少なくとも1種類添加したものを用いるの
が好ましい。
In addition to the above structure, the waveguide of the present invention in which fluorine is added to the core is made of SiO 2 as an intermediate layer or a cladding layer.
2. It is preferable to use SiO 2 to which fluorine has been added, or SiO 2 to which at least one type of additive for controlling the refractive index has been added.

【0025】上記構成に加え本発明のコアにフッ素を添
加した導波路は、コア内に共添加する高屈折率の添加物
として、GeO2 、P2 5 或いはTiO2 等の酸化物
を用いるのが好ましい。
In the waveguide of the present invention in which fluorine is added to the core in addition to the above-described structure, an oxide such as GeO 2 , P 2 O 5, or TiO 2 is used as a high-refractive-index additive co-doped in the core. Is preferred.

【0026】また、本発明のコアにフッ素を添加した導
波路の製造方法は、基板上に低屈折率の中間層或いはク
ラッド層を形成し、中間層或いはクラッド層の中に略矩
形断面形状の高屈折率のコアを埋め込む導波路の製造方
法において、コアにフッ素と屈折率を高める添加物を少
なくとも1種類共添加した酸化物を用いると共に導波路
を500℃から1350℃の温度範囲で熱処理するもの
である。
Further, according to the method of the present invention for producing a waveguide in which fluorine is added to a core, an intermediate layer or a clad layer having a low refractive index is formed on a substrate, and a substantially rectangular cross-sectional shape is formed in the intermediate layer or the clad layer. In a method of manufacturing a waveguide in which a core having a high refractive index is embedded, an oxide obtained by co-adding fluorine and at least one additive for increasing the refractive index to the core is used, and the waveguide is heat-treated in a temperature range of 500 ° C. to 1350 ° C. Things.

【0027】上記構成に加え本発明のコアにフッ素を添
加した導波路の製造方法は、中間層或いはクラッド層及
びコアを減圧プラズマCVD法によって形成するのが好
ましい。
In the method of manufacturing a waveguide of the present invention in which fluorine is added to the core in addition to the above structure, it is preferable that the intermediate layer or the cladding layer and the core are formed by low-pressure plasma CVD.

【0028】上記構成に加え本発明のコアにフッ素を添
加した導波路の製造方法は、クラッド層を火炎堆積法に
よって形成するのが好ましい。
In the method of manufacturing a waveguide of the present invention in which fluorine is added to the core in addition to the above structure, the cladding layer is preferably formed by a flame deposition method.

【0029】(1) ここで、従来のように減圧プラズマC
VD法によってクラッド及びコア層を形成すると、クラ
ッド及びコア層中にOH基、Si−H基或いはN−H基
が混入し、これらによる吸収損失が生じた。
(1) Here, the reduced pressure plasma C
When the clad and core layers were formed by the VD method, OH groups, Si-H groups, or NH groups were mixed into the clad and core layers, resulting in absorption loss.

【0030】そこで本発明によれば、屈折率を高める添
加物を少なくとも一種類共添加した酸化物のコア内にフ
ッ素を共添加すると、このフッ素がクラッド及びコア層
中に存在するOH基、Si−H基或いはN−H基の水素
と反応してHFガスとなり、コア外へ放出させることが
できる。その結果、OH基、Si−H基或いはN−H基
等の基がほとんどないコア層を実現することができる。
これにより、超低損失導波路を得ることができる。尚、
コア内へのフッ素の添加量が多い程低損失効果が大き
い。また、中間層やクラッド層にもフッ素を添加するこ
とにより、さらに低損失な導波路を得ることができる。
Therefore, according to the present invention, when fluorine is co-added to the core of an oxide to which at least one additive for increasing the refractive index is co-added, the fluorine is present in the OH group, Si It reacts with hydrogen of -H group or NH group to become HF gas, which can be released outside the core. As a result, a core layer having few groups such as an OH group, a Si—H group, and an NH group can be realized.
Thereby, an ultra-low loss waveguide can be obtained. still,
The greater the amount of fluorine added to the core, the greater the low loss effect. Further, by adding fluorine to the intermediate layer and the cladding layer, a waveguide with lower loss can be obtained.

【0031】(2) フッ素の添加された導波路を500℃
から1350℃の温度範囲で熱処理することにより、導
波路中に存在するOH基、Si−H基、N−H基とフッ
素との反応がより促進されてHFガスとなって導波路外
へ効率的に放出されるため、低損失化が容易となる。
(2) Fluorine-doped waveguide at 500 ° C.
To 1350 ° C., the reaction between the OH group, Si—H group, and N—H group present in the waveguide and the fluorine is further promoted to become HF gas to efficiently out of the waveguide. , The loss can be easily reduced.

【0032】(3) コアにフッ素を添加したSiONを用
いると、軟化温度をほとんど下げることなく高Δ導波路
を得ることができるので、クラッド層として厚膜化が容
易な火炎堆積法による膜を用いることができる。すなわ
ち、火炎堆積法は、スート状の多孔質膜を形成した後、
1350℃前後の高温で焼結してコア膜の透明ガラス化
を行うが、コアは高温にも耐え、変形を生じることがな
いので、光合分波回路、光結合・分離回路、光フィルタ
回路等の光学特性(波長分離特性、光アイソレーション
特性等)の優れた導波路部品を得ることができる。
(3) By using SiON to which fluorine is added for the core, a high Δ waveguide can be obtained without substantially lowering the softening temperature. Can be used. That is, the flame deposition method, after forming a soot-like porous film,
Although the core film is sintered at a high temperature of about 1350 ° C to make the core glass transparent, the core withstands high temperature and does not deform, so that an optical multiplexing / demultiplexing circuit, an optical coupling / separating circuit, an optical filter circuit, etc. A waveguide component having excellent optical characteristics (wavelength separation characteristics, optical isolation characteristics, etc.) can be obtained.

【0033】[0033]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて詳述する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

【0034】図1は本発明のコアにフッ素を添加した導
波路の一実施の形態を示す概観斜視図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view showing one embodiment of a waveguide in which fluorine is added to a core according to the present invention.

【0035】同図に示す導波路は、石英ガラス(或いは
Si)からなる基板20上に形成されたフッ素添加Si
2 クラッド層21内に矩形断面形状のフッ素添加Si
ONコア22が埋め込まれた構造を有している。
The waveguide shown in FIG. 1 is made of a fluorine-doped Si formed on a substrate 20 made of quartz glass (or Si).
Fluorine-doped Si having a rectangular cross section in the O 2 cladding layer 21
It has a structure in which the ON core 22 is embedded.

【0036】図2は図1に示した導波路に用いられるフ
ッ素添加SiO2 膜のフッ素濃度と屈折率との関係を示
す図であり、横軸がフッ素濃度を示し、縦軸が屈折率を
示している。
FIG. 2 is a graph showing the relationship between the fluorine concentration and the refractive index of the fluorine-added SiO 2 film used in the waveguide shown in FIG. 1, where the horizontal axis represents the fluorine concentration and the vertical axis represents the refractive index. Is shown.

【0037】図2よりフッ素は最大4.5%の濃度まで
添加できることが分かる。すなわち、比屈折率差Δがよ
り高い高Δ導波路を得ることができることと、OH基、
Si−H基、N−H基をより効果的に減少させることが
できる。コアのSiONHの窒素濃度と屈折率との関係
は前述した図11で表わされ、これにフッ素を添加する
と、屈折率は図11に表される値よりも低下してくる。
この低下の度合いは、フッ素濃度に略比例して低下する
ことが分かった。例えば窒素を5アトミック%添加した
SiONH膜にフッ素を2.7%添加すると、フッ素添
加SiONコアの屈折率は約1.475(波長0.63
μmでの値)となった。フッ素を2.7%添加したSi
2 クラッド層(屈折率1.444)と、フッ素を2.
7%添加したSiONコア(N:5アトミック%添加)
との比屈折率差Δが約2.1%の導波路(基板にはSi
2 基板を使用)を作製し、その後、1000℃で窒素
雰囲気により約3時間熱処理を施した。図3は図2に示
した導波路の波長と伝搬損失との関係を示す図であり、
横軸は波長を示し、縦軸は伝搬損失を示す。
FIG. 2 shows that fluorine can be added up to a concentration of 4.5%. That is, it is possible to obtain a high Δ waveguide having a higher relative refractive index difference Δ,
Si-H groups and N-H groups can be more effectively reduced. The relationship between the nitrogen concentration of SiONH of the core and the refractive index is shown in FIG. 11 described above, and when fluorine is added to the core, the refractive index becomes lower than the value shown in FIG.
It has been found that the degree of this decrease is substantially in proportion to the fluorine concentration. For example, if 2.7% of fluorine is added to a SiONH film to which 5 atomic% of nitrogen is added, the refractive index of the fluorine-added SiON core becomes about 1.475 (wavelength 0.63).
μm). Si with 2.7% fluorine added
O 2 clad layer (refractive index 1.444) and fluorine
7% added SiON core (N: 5 atomic% added)
And a waveguide having a relative refractive index difference Δ of about 2.1%
An O 2 substrate was used), and then heat-treated at 1000 ° C. in a nitrogen atmosphere for about 3 hours. FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the wavelength and the propagation loss of the waveguide shown in FIG.
The horizontal axis indicates the wavelength, and the vertical axis indicates the propagation loss.

【0038】同図から分かるようにOH基、Si−H
基、N−H基による吸収損失のない低損失導波路を実現
することができた。
As can be seen from the figure, OH groups, Si--H
And a low-loss waveguide having no absorption loss due to the NH group.

【0039】図4は本発明のコアにフッ素を添加した導
波路の他の実施の形態を示す概観斜視図である。尚、図
1に示した導波路と同様の部材には共通の符号を用い
た。
FIG. 4 is a schematic perspective view showing another embodiment of the waveguide in which fluorine is added to the core of the present invention. Note that the same members as those of the waveguide shown in FIG.

【0040】図1に示した導波路との相違点は、基板2
0上に形成されたフッ素添加SiO2 中間層23内にフ
ッ素添加SiONコア22が埋め込まれ、フッ素添加S
iO2 中間層23上にSiO2 クラッド層24を形成し
た点である。この導波路は、導波路中を伝搬するパワー
分布を広げることにより有効コア断面積を大きくし、非
線形効果(光パワーの増大に伴う光パワー変化による屈
折率の変化)を抑制するようにした導波路であり、特
に、高密度波長多重伝送用の光フィルタ、光合分波器等
の光回路を実現する上で有効である。
The difference from the waveguide shown in FIG.
The fluorinated SiON core 22 is embedded in the fluorinated SiO 2 intermediate layer 23 formed on the
The point is that the SiO 2 clad layer 24 is formed on the iO 2 intermediate layer 23. In this waveguide, the effective core area is increased by widening the power distribution propagating through the waveguide, and the nonlinear effect (the change in the refractive index due to the change in the optical power with the increase in the optical power) is suppressed. It is a wave path, and is particularly effective in realizing an optical circuit such as an optical filter for high-density wavelength division multiplexing transmission and an optical multiplexer / demultiplexer.

【0041】図5は本発明のコアにフッ素を添加した導
波路の他の実施の形態を示す概観斜視図である。
FIG. 5 is a schematic perspective view showing another embodiment of a waveguide in which fluorine is added to a core according to the present invention.

【0042】図4に示した導波路との相違点は、基板2
0上に形成されたSiO2 クラッド層24内に、フッ素
添加SiO2 中間層23で覆ったフッ素添加SiONコ
ア22が埋め込まれた点であり、屈折率分布がW型構造
を有している。このような導波路も図4に示した導波路
と同様な効果が得られる。
The difference from the waveguide shown in FIG.
This is the point where the fluorine-added SiON core 22 covered with the fluorine-added SiO 2 intermediate layer 23 is embedded in the SiO 2 clad layer 24 formed on the substrate 0, and has a W-type refractive index distribution. Such a waveguide has the same effect as the waveguide shown in FIG.

【0043】図6は本発明のコアにフッ素を添加した導
波路の他の実施の形態を示す概観斜視図である。
FIG. 6 is a schematic perspective view showing another embodiment of a waveguide in which fluorine is added to a core according to the present invention.

【0044】図5に示した導波路との相違点は、基板2
0上に形成されたフッ素添加SiO2 クラッド層21内
に、フッ素添加SiO2 −GeO2 コア25が埋め込ま
れた点である。このGeO2 は屈折率を高める添加物で
ある。尚、SiO2 にGeO2 を添加しても屈折率は図
12に示すようにそれ程高くすることはできない。ま
た、フッ素を添加すると、屈折率は低くなる。そこで、
フッ素添加SiO2 クラッド層21にはフッ素を高濃度
に添加したSiO2 を用いることにより高Δ化(Δ≧2
%)を図るようにしたものである。
The difference from the waveguide shown in FIG.
This is the point that the fluorine-added SiO 2 —GeO 2 core 25 is embedded in the fluorine-added SiO 2 clad layer 21 formed on the “0”. This GeO 2 is an additive that increases the refractive index. Incidentally, even if GeO 2 is added to SiO 2 , the refractive index cannot be so increased as shown in FIG. When fluorine is added, the refractive index decreases. Therefore,
By using SiO 2 to which fluorine is added at a high concentration for the fluorine-added SiO 2 cladding layer 21, the Δ is increased (Δ ≧ 2
%).

【0045】図7は本発明のコアにフッ素を添加した導
波路の他の実施の形態を示す概観斜視図である。
FIG. 7 is a schematic perspective view showing another embodiment of the waveguide in which fluorine is added to the core of the present invention.

【0046】図6に示した導波路との相違点は、コア内
への共添加物としてGeO2 の代わりにP2 5 を用い
た点である。
The difference from the waveguide shown in FIG. 6 is that P 2 O 5 is used instead of GeO 2 as a co-additive in the core.

【0047】このフッ素添加SiO2 −P2 5 コア2
6を用いた導波路の場合もフッ素添加SiO2 クラッド
層21にはフッ素を添加したSiO2 を用い、コア26
とフッ素添加SiO2 クラッド層21との比屈折率差Δ
を大きくとるように構成されている。
This fluorine-added SiO 2 —P 2 O 5 core 2
Also in the case of the waveguide using GaN, the fluorine-added SiO 2 cladding layer 21 is made of SiO 2 doped with fluorine, and the core 26
Relative refractive index difference Δ between the fluorine-added SiO 2 cladding layer 21 and
Is configured to be large.

【0048】図8は本発明のコアにフッ素を添加した導
波路の他の実施の形態を示す概観斜視図である。
FIG. 8 is a schematic perspective view showing another embodiment of the waveguide in which fluorine is added to the core of the present invention.

【0049】図7に示した導波路との相違点は、基板2
0上にSiO2 クラッド層27を形成し、SiO2 クラ
ッド層27の上にフッ素添加SiONコア22をパター
ン化し、パターン化した表面全体を覆うようにSiO2
クラッド層24を形成した構造を有する点であり、製作
しやすくなっている。
The difference from the waveguide shown in FIG.
The SiO 2 cladding layer 27 is formed on the 0, the fluorine-added SiON core 22 is patterned on the SiO 2 cladding layer 27, SiO 2 so as to cover the entire patterned surface
This has a structure in which the clad layer 24 is formed, and is easy to manufacture.

【0050】図9は本発明の導波路を製造するのに用い
られるプラズマCVD装置の概念図である。尚、図13
に示した部材と同様の部材には共通の符号を用いた。
FIG. 9 is a conceptual view of a plasma CVD apparatus used for manufacturing the waveguide of the present invention. Note that FIG.
The same reference numerals are used for members similar to those shown in FIG.

【0051】この装置は、反応容器6と、反応容器6を
真空排気する排気装置5と、反応容器6内の上部に水平
に配置された上部電極7と、上部電極7の下側に対向配
置された下部電極8と、両電極7,8間に接続された高
周波電源9と、下部電極8の下側に設けられたヒータ1
1と、ヒータ11に接続された直流電源12と、上部電
極7の下側に形成されたガス噴出口を介して反応容器6
内に所定のガスを供給するためのガス供給管28と、ガ
ス供給管28の周囲に設けられたヒータ29−1,29
−2と、ヒータ29−1,29−2にそれぞれ接続され
た直流電源30−1,30−2と、反応容器6内に直接
ガスを供給するガス供給管31とで構成されている。
This apparatus comprises a reaction vessel 6, an exhaust device 5 for evacuating the reaction vessel 6, an upper electrode 7 disposed horizontally above the reaction vessel 6, and an opposing arrangement below the upper electrode 7. Lower electrode 8, high-frequency power supply 9 connected between both electrodes 7, 8, and heater 1 provided below lower electrode 8.
1, a DC power supply 12 connected to a heater 11, and a reaction vessel 6 through a gas outlet formed below the upper electrode 7.
A gas supply pipe 28 for supplying a predetermined gas into the inside, and heaters 29-1 and 29 provided around the gas supply pipe 28
-2, DC power supplies 30-1 and 30-2 connected to the heaters 29-1 and 29-2, respectively, and a gas supply pipe 31 for directly supplying gas into the reaction vessel 6.

【0052】同図に示す装置により、基板20上にフッ
素添加SiO2 クラッド層21、フッ素添加SiO2
間層23、フッ素添加SiONコア22等の膜が形成さ
れる。
By using the apparatus shown in the figure, films such as a fluorine-added SiO 2 cladding layer 21, a fluorine-added SiO 2 intermediate layer 23, and a fluorine-added SiON core 22 are formed on a substrate 20.

【0053】反応容器6は排気装置5によって真空排気
される。下部電極8上に載置された基板20はヒータ1
1の通電によって100℃から500℃の温度範囲で加
熱される。上部電極7と下部電極8との間には高周波電
圧が印加される。上部電極7内には、矢印32−1方向
から矢印32−2方向に向ってガラス原料ガス、酸化性
ガス及び不活性ガス等が送り込まれる。また、矢印33
方向からも両電極7,8間にC2 6 (或いはCF4
のフッ素系ガス)を送り込むことができる。矢印32−
1方向から矢印32−2方向へ送り込まれるガスは、ヒ
ータ29−1,29−2に直流電圧を印加することによ
って加熱される。
The reaction vessel 6 is evacuated by the exhaust device 5. The substrate 20 placed on the lower electrode 8 is a heater 1
Heating is performed in the temperature range of 100 ° C. to 500 ° C. by the energization of 1. A high-frequency voltage is applied between the upper electrode 7 and the lower electrode 8. Glass source gas, oxidizing gas, inert gas, and the like are fed into the upper electrode 7 from the direction of the arrow 32-1 to the direction of the arrow 32-2. Arrow 33
C 2 F 6 (or a fluorine-based gas such as CF 4 ) can be fed between the electrodes 7 and 8 from the direction. Arrow 32-
The gas sent in the direction of arrow 32-2 from one direction is heated by applying a DC voltage to the heaters 29-1 and 29-2.

【0054】同図に示す装置で前述した膜を形成するに
は、まず真空排気されている反応容器6内に矢印32−
1方向からArガスを供給して両電極7,8間にプラズ
マ14を発生させる。ついで、矢印32−1方向から例
えばSiH4 ,O2 ,C2 6 ,Ar等のガスを流して
フッ素を添加したSiO2 膜を形成する。また、フッ素
を添加したSiONコア膜を形成するには、矢印32−
1方向からSiH4 ,O2 ,NH3 ,C2 6 ガスを流
して行う。さらにフッ素を添加したSiO2 −GeO2
コア膜を形成するには、矢印32−1方向からSi
4 ,GeH4 ,O2 ,C2 6 ,Arガスを流して行
う。尚、クラッド層の膜は減圧プラズマCVD法を用い
て形成する以外に火炎堆積法を用いてスート状の多孔質
膜を形成し、その後に上記膜を電気炉(温度1350℃
前後)中でHeガスを流しながら焼結し、透明化する方
法を用いることができる。
In order to form the above-mentioned film using the apparatus shown in FIG.
Ar gas is supplied from one direction to generate a plasma 14 between the electrodes 7 and 8. Next, a gas such as SiH 4 , O 2 , C 2 F 6 , Ar or the like is flowed from the direction of arrow 32-1 to form a SiO 2 film to which fluorine is added. To form a SiON core film to which fluorine has been added, arrows 32-
This is performed by flowing SiH 4 , O 2 , NH 3 , and C 2 F 6 gases from one direction. SiO 2 —GeO 2 further doped with fluorine
To form a core film, Si
H 4 , GeH 4 , O 2 , C 2 F 6 and Ar gas are flowed. The film of the clad layer is formed by using a flame deposition method to form a soot-like porous film in addition to the low pressure plasma CVD method.
A method of sintering while flowing He gas in (before and after) to make it transparent can be used.

【0055】以上において本発明によれば、以下のよう
な効果が得られる。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.

【0056】(1) 従来のように減圧プラズマCVD法に
よってクラッド層及びコアを形成すると、クラッド層及
びコア中にOH基、Si−H基或いはN−H基が混入
し、これらの基による吸収損失が生じるが、本発明のよ
うに屈折率を高める添加物を少なくとも1種類共添加し
た酸化物のコア内にフッ素を共添加すると、このフッ素
が基中の水素と反応してHFガスとなり、コア外へ放出
させることができる。その結果、OH基、Si−H基或
いはN−H基のほとんどないコア層を実現することがで
きる。これにより超低損失導波路を得ることができる。
コア内へのフッ素の添加量が多いほど効果が大きい。ま
た中間層やクラッド層にもフッ素が添加されているとさ
らに低損失な導波路を得ることができる。
(1) When a clad layer and a core are formed by a low pressure plasma CVD method as in the prior art, an OH group, a Si—H group, or an NH group is mixed in the clad layer and the core, and the absorption by these groups is caused. Although loss occurs, when fluorine is co-added in the core of the oxide in which at least one additive for increasing the refractive index is co-added as in the present invention, the fluorine reacts with hydrogen in the group to form HF gas, It can be released outside the core. As a result, a core layer having almost no OH group, Si—H group or N—H group can be realized. Thereby, an ultra-low-loss waveguide can be obtained.
The effect increases as the amount of fluorine added to the core increases. Further, when fluorine is added to the intermediate layer and the cladding layer, a waveguide with lower loss can be obtained.

【0057】(2) フッ素の添加された導波路を500℃
から1350℃の温度範囲で熱処理することにより、導
波路中のOH基、Si−H基、N−H基はフッ素との反
応がより促進されてHFガスとなって導波路外へ放出さ
れるため、低損失化が容易となる。
(2) Fluorine-doped waveguide at 500 ° C.
, The OH group, the Si-H group, and the NH group in the waveguide are further promoted to react with fluorine, and are released as HF gas outside the waveguide. Therefore, it is easy to reduce the loss.

【0058】(3) コアにフッ素を添加したSiONを用
いると、軟化温度をほとんど下げることなく高Δ導波路
を得ることができるので、クラッド層として厚膜化が容
易な火炎堆積法による膜を用いることができる。すなわ
ち、火炎堆積法は、スート状の多孔質膜を形成した後、
1350℃前後の高温で焼結して上記膜の透明ガラス化
を行うが、上記コアは上記高温にも耐え、変形を生じる
ことがないので、光合分波回路、光結合・分離回路、光
フィルタ回路等の光学特性(波長分離特性、光アイソレ
ーション特性等)の優れた導波路部品を得ることができ
る。
(3) When SiON with fluorine added to the core is used, a high Δ waveguide can be obtained without substantially lowering the softening temperature. Therefore, a film formed by the flame deposition method, which can be easily made thick, is used as the cladding layer. Can be used. That is, the flame deposition method, after forming a soot-like porous film,
The film is sintered at a high temperature of about 1350 ° C. to vitrify the film, but since the core withstands the high temperature and does not deform, the optical multiplexing / demultiplexing circuit, the optical coupling / separating circuit, the optical filter A waveguide component having excellent optical characteristics (wavelength separation characteristics, optical isolation characteristics, etc.) such as a circuit can be obtained.

【0059】[0059]

【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次のよう
な優れた効果を発揮する。
In summary, according to the present invention, the following excellent effects are exhibited.

【0060】コアにフッ素と屈折率を高める添加物を少
なくとも1種類共添加した酸化物とを用いることによ
り、波長1.3μm帯から波長1.6μm帯にわたって
吸収ピークがほとんどなく、超低損失で、屈折率制御が
容易で、かつ、高比屈折率差Δの導波路を有するコアに
フッ素を添加した導波路及びその製造方法の提供を実現
することができる。
By using fluorine and an oxide in which at least one additive for increasing the refractive index is co-added to the core, there is almost no absorption peak in the wavelength band of 1.3 μm to 1.6 μm, and the core has an extremely low loss. In addition, it is possible to provide a waveguide in which the refractive index is easily controlled and a core having a waveguide with a high relative refractive index difference Δ is doped with fluorine, and a method for manufacturing the same.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のコアにフッ素を添加した導波路の一実
施の形態を示す概観斜視図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view showing an embodiment of a waveguide in which fluorine is added to a core of the present invention.

【図2】図1に示した導波路に用いられるフッ素添加S
iO2 膜のフッ素濃度と屈折率との関係を示す図であ
る。
FIG. 2 shows a fluorine-doped S used for the waveguide shown in FIG.
FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the fluorine concentration and the refractive index of an iO 2 film.

【図3】図2に示した導波路の波長と伝搬損失との関係
を示す図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a relationship between a wavelength and a propagation loss of the waveguide illustrated in FIG. 2;

【図4】本発明のコアにフッ素を添加した導波路の他の
実施の形態を示す概観斜視図である。
FIG. 4 is a schematic perspective view showing another embodiment of a waveguide in which fluorine is added to a core according to the present invention.

【図5】本発明のコアにフッ素を添加した導波路の他の
実施の形態を示す概観斜視図である。
FIG. 5 is a schematic perspective view showing another embodiment of a waveguide in which fluorine is added to a core according to the present invention.

【図6】本発明のコアにフッ素を添加した導波路の他の
実施の形態を示す概観斜視図である。
FIG. 6 is a schematic perspective view showing another embodiment of a waveguide in which fluorine is added to a core according to the present invention.

【図7】本発明のコアにフッ素を添加した導波路の他の
実施の形態を示す概観斜視図である。
FIG. 7 is a schematic perspective view showing another embodiment of a waveguide in which fluorine is added to a core according to the present invention.

【図8】本発明のコアにフッ素を添加した導波路の他の
実施の形態を示す概観斜視図である。
FIG. 8 is a schematic perspective view showing another embodiment of a waveguide in which fluorine is added to a core according to the present invention.

【図9】本発明の導波路を製造するのに用いられるプラ
ズマCVD装置の概念図である。
FIG. 9 is a conceptual diagram of a plasma CVD apparatus used for manufacturing the waveguide of the present invention.

【図10】本発明者らが先に提案した高Δ導波路の概観
斜視図である。
FIG. 10 is a schematic perspective view of a high Δ waveguide proposed by the present inventors.

【図11】SiOxNyHz膜中の窒素含有量と屈折率
との関係を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing a relationship between a nitrogen content in a SiOxNyHz film and a refractive index.

【図12】添加物濃度と屈折率との関係を示す図であ
る。
FIG. 12 is a graph showing a relationship between an additive concentration and a refractive index.

【図13】従来の導波路を製造するのに用いられるプラ
ズマCVD装置の概念図である。
FIG. 13 is a conceptual diagram of a plasma CVD apparatus used for manufacturing a conventional waveguide.

【図14】(a)、(b)は、図10に示した高Δ導波
路の波長と損失との関係を示す図である。
FIGS. 14A and 14B are diagrams showing the relationship between the wavelength and the loss of the high Δ waveguide shown in FIG. 10;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20 基板 21 クラッド層(SiO2 クラッド層) 22 コア(フッ素添加SiONコア)Reference Signs List 20 substrate 21 clad layer (SiO 2 clad layer) 22 core (fluorine-added SiON core)

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に形成された低屈折率の中間層或
いはクラッド層の中に略矩形断面形状の高屈折率のコア
が埋め込まれた導波路において、該コアにフッ素と屈折
率を高める添加物を少なくとも1種類共添加した酸化物
とを用いたことを特徴とするコアにフッ素を添加した導
波路。
In a waveguide having a high refractive index core having a substantially rectangular cross section embedded in a low refractive index intermediate layer or a cladding layer formed on a substrate, the core increases the refractive index with fluorine. A waveguide in which fluorine is added to a core, wherein an oxide containing at least one additive is co-added.
【請求項2】 上記コア用の酸化物のベース材料として
SiO2 或いはSiONを用いた請求項1に記載のコア
にフッ素を添加した導波路。
2. The waveguide according to claim 1, wherein SiO 2 or SiON is used as a base material of the oxide for the core.
【請求項3】 中間層或いはクラッド層としてSi
2 、フッ素を添加したSiO2 或いはこれらに屈折率
制御用添加物を少なくとも1種類添加したものを用いた
請求項1又は2に記載のコアにフッ素を添加した導波
路。
3. An Si layer as an intermediate layer or a cladding layer.
3. The waveguide according to claim 1, wherein O 2 , SiO 2 to which fluorine is added, or a material obtained by adding at least one kind of an additive for controlling the refractive index to said SiO 2 is used.
【請求項4】 コア内に共添加する高屈折率の添加物と
して、GeO2 、P2 5 或いはTiO2 等の酸化物を
用いた請求項1から3のいずれかに記載のコアにフッ素
を添加した導波路。
4. The core according to claim 1, wherein an oxide such as GeO 2 , P 2 O 5 or TiO 2 is used as an additive having a high refractive index which is co-added in the core. A waveguide to which is added.
【請求項5】 基板上に低屈折率の中間層或いはクラッ
ド層を形成し、中間層或いはクラッド層の中に略矩形断
面形状の高屈折率のコアを埋め込む導波路の製造方法に
おいて、上記コアにフッ素と屈折率を高める添加物を少
なくとも1種類共添加した酸化物を用いると共に導波路
を500℃から1350℃の温度範囲で熱処理すること
を特徴とするコアにフッ素を添加した導波路の製造方
法。
5. A method of manufacturing a waveguide, comprising forming an intermediate layer or a clad layer having a low refractive index on a substrate and embedding a core having a substantially rectangular cross section and a high refractive index in the intermediate layer or the clad layer. Manufacturing an oxide in which a core is doped with fluorine by using an oxide obtained by co-adding at least one kind of an additive for increasing the refractive index with fluorine and heat treating the waveguide in a temperature range of 500 ° C. to 1350 ° C. Method.
【請求項6】 上記中間層或いはクラッド層及びコアを
減圧プラズマCVD法によって形成する請求項5に記載
のコアにフッ素を添加した導波路の製造方法。
6. The method according to claim 5, wherein the intermediate layer or the clad layer and the core are formed by a low pressure plasma CVD method.
【請求項7】 上記クラッド層を火炎堆積法によって形
成する請求項5又は6に記載のコアにフッ素を添加した
導波路の製造方法。
7. The method according to claim 5, wherein the cladding layer is formed by a flame deposition method.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120002924A1 (en) * 2010-07-02 2012-01-05 Oki Electric Industry Co., Ltd. Star coupler and optical multiplexer/demultiplexer

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