JPH1159038A - Card for semiconductor device - Google Patents

Card for semiconductor device

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JPH1159038A
JPH1159038A JP23082897A JP23082897A JPH1159038A JP H1159038 A JPH1159038 A JP H1159038A JP 23082897 A JP23082897 A JP 23082897A JP 23082897 A JP23082897 A JP 23082897A JP H1159038 A JPH1159038 A JP H1159038A
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JP
Japan
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frame
card
metal panel
semiconductor device
peripheral portion
Prior art date
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Application number
JP23082897A
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Japanese (ja)
Inventor
Kiyotaka Nishino
清隆 西野
Tomomi Morii
智美 森井
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Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPH1159038A publication Critical patent/JPH1159038A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To precisely control the dimension of a card in the thickness direction during its assembling by setting the thickness of a peripheral part, the depth of a step-down configured part, and the height of a projection part to allow the peripheral part to be situated in the card thickness direction at the outside of the surface of a metal panel in a state of the metal panel adhesion-fixed inside of the frame peripheral part. SOLUTION: This is used for receiving constituent parts of a module substrate 10 and metal panel 7 or the like. The frame 2 is for forming the outer configuration of a card main body 1, and formed into a reversed C-shape to be a three- sided surface of the card 1 to have beams crossed over inside for loading a module substrate 10 except the front side with a connector attached therewith. At the front side and rear side of the frame 2, a frame peripheral part 3 having a predetermined width is provided over its periphery, and at the inside of the peripheral part 3, a step-down configured part 5 is formed by being vertically stepped down by a predetermined depth from the peripheral part 3. The step- down configured part 5 has a surface spreading in parallel along the level surface part of the card.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、データ記憶媒体等
に利用する半導体装置カードに関する。
The present invention relates to a semiconductor device card used for a data storage medium or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】周知のように、近年、いわゆる半導体装
置カードが種々の分野で幅広く利用されつつあるが、こ
の半導体装置カードは、一般に、所定の電子部品等を組
み込んだモジュール基板などの内部部品を本体外形を構
成するフレーム内に配置した上で、それらの内部部品を
外部から印加される静電気又は衝撃等から電気的及び機
械的に保護するために、その表裏を一対の金属パネルで
覆って構成されている。この種の半導体装置カードの構
造として、従来では、図6及び図7に示すようなものが
知られている。図6は、金属パネルを取り付ける前のカ
ードの内部構造を示す斜視図であり、図7は、金属パネ
ルを取り付けた後の幅方向(図6のB−B線)に沿った
カードの断面説明図である。この半導体装置カード41
では、樹脂製のフレーム42によって本体外形が構成さ
れており、そのフレーム42の内側に、半導体回路を含
む所定の電子部品50a等を組み込んだモジュール基板
50が配置されている。そして、このモジュール基板5
0のフロント側の端部に、コネクタ49が取り付けられ
ている。このコネクタ49は、リード線51を介して、
はんだ付けにより、上記モジュール基板50に対して電
気的及び機械的に接続されている。
2. Description of the Related Art As is well known, in recent years, so-called semiconductor device cards have been widely used in various fields. In general, such semiconductor device cards generally include internal components such as module boards in which predetermined electronic components and the like are incorporated. Are placed in a frame constituting the outer shape of the main body, and in order to protect those internal components electrically and mechanically from static electricity or impact applied from the outside, the front and back are covered with a pair of metal panels. It is configured. As a structure of a semiconductor device card of this type, a structure as shown in FIGS. 6 and 7 is conventionally known. FIG. 6 is a perspective view showing the internal structure of the card before the metal panel is attached, and FIG. 7 is a cross-sectional view of the card along the width direction (the line BB in FIG. 6) after the metal panel is attached. FIG. This semiconductor device card 41
In the figure, the outer shape of the main body is constituted by a frame 42 made of resin, and a module substrate 50 incorporating predetermined electronic components 50a including a semiconductor circuit is arranged inside the frame 42. And this module substrate 5
A connector 49 is attached to the front end of the connector 0. This connector 49 is connected via a lead wire 51
It is electrically and mechanically connected to the module substrate 50 by soldering.

【0003】以上のような内部構造を備えた半導体装置
カード41の平面部は、この本体フレーム42内に収納
された電子部品50aを保護するために、表裏両側が、
一対の金属パネル47(図7参照)で覆われるようにな
っている。このため、この従来例では、上記フレーム4
2の周縁部43の内側で所定深さ段下げされた段下げ部
45が形成されており、この周縁部43の内側には、金
属パネル47が組み付けられる。すなわち、金属パネル
47は、その外周が上記フレーム周縁部43に取り囲ま
れ、その裏面が上記段下げ部45に当接するように、フ
レーム42に対して組付けられる。
The flat portion of the semiconductor device card 41 having the above-described internal structure has the front and back sides to protect the electronic components 50a housed in the body frame 42.
It is configured to be covered with a pair of metal panels 47 (see FIG. 7). Therefore, in this conventional example, the frame 4
A step-down portion 45 which is stepped down by a predetermined depth is formed inside the second peripheral portion 43, and a metal panel 47 is assembled inside this peripheral portion 43. That is, the metal panel 47 is assembled to the frame 42 such that the outer periphery is surrounded by the frame peripheral portion 43 and the back surface is in contact with the step-down portion 45.

【0004】この金属パネル47は、上記フレーム42
に対し、通常、例えばエポキシ系接着剤等の熱硬化性接
着剤で接着固定される。より詳細には、金属パネル47
と段下げ部45との間にシート状の接着剤46を介装し
た上で、半導体装置カードの表裏両側に緩衝材(不図
示)を介してカード外形に適合する加圧プレート(不図
示)をそれぞれ配置し、これを恒温槽等内で所定温度に
加熱・保持した状態で、加圧プレートにプレス等で圧力
を加えて接着剤を硬化させる、接着剤硬化処理が行われ
る。
[0004] The metal panel 47 is connected to the frame 42.
On the other hand, it is usually bonded and fixed with a thermosetting adhesive such as an epoxy adhesive. More specifically, the metal panel 47
A pressure plate (not shown) that fits the outer shape of the semiconductor device card is provided on both front and back sides of the semiconductor device card via a cushioning material (not shown) after a sheet-like adhesive 46 is interposed between the semiconductor device card and the step-down portion 45. Are arranged, and while these are heated and maintained at a predetermined temperature in a thermostat or the like, an adhesive is cured by applying pressure to the pressing plate with a press or the like to cure the adhesive.

【0005】しかし、前述したようなフレーム42の構
造では、この接着剤硬化処理工程において、所定の温度
条件下で上記緩衝材により表裏両側からカード平面部全
体に一定以上の圧力が加えられることによって、金属パ
ネル47と段下げ部45との間の接着剤46の厚みが変
化するので、表裏両金属パネル47,47間の寸法にば
らつきが生じる可能性がある。このような厚さ寸法のば
らつきが生じると、場合によっては、金属パネル47
が、部分的に若しくは全体的に、フレーム周縁部43よ
りも高くなるなど、カード厚さ方向の寸法精度を確保す
ることが難しくなり、適正なカード厚の管理が困難であ
った。
However, in the structure of the frame 42 as described above, in the adhesive curing treatment step, a predetermined pressure or more is applied to the entire card flat portion from both the front and back sides by the cushioning material under a predetermined temperature condition. Since the thickness of the adhesive 46 between the metal panel 47 and the stepped portion 45 changes, there is a possibility that the dimensions between the front and back metal panels 47, 47 may vary. If such a variation in the thickness dimension occurs, the metal panel 47
However, it has been difficult to secure dimensional accuracy in the card thickness direction, for example, partially or entirely higher than the frame peripheral portion 43, and it has been difficult to properly manage the card thickness.

【0006】このような問題に関連して、特開平4−1
61393号公報では、IC保護用のパネルとして絞り
成形された金属パネルを備えたICカードにおいて、パ
ネルに当接する凸部を上記段部に設け、この凸部の頂面
を上記ICの頂面より高い位置に設定するようにしたも
のが開示されている。かかる構成によれば、フレーム表
側の凸部が当接するパネル表面とフレーム裏側の凸部が
当接するパネルの表面間の寸法でカード厚が定まり、接
着剤の厚み変化の影響を回避できるので、カード厚の管
理が容易になる。
In connection with such a problem, Japanese Unexamined Patent Publication No.
In JP-A-61393, in an IC card provided with a metal panel drawn and formed as a panel for protecting an IC, a convex portion in contact with the panel is provided on the step portion, and a top surface of the convex portion is set to be higher than a top surface of the IC. There is disclosed an apparatus which is set at a high position. According to such a configuration, the card thickness is determined by the dimension between the panel surface where the projection on the front side of the frame abuts and the surface of the panel where the projection on the back side of the frame abuts, and the influence of the change in the thickness of the adhesive can be avoided. The thickness can be easily controlled.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術の場合、カード厚さは、あくまで、プレス加工等
で絞り成形された金属パネルの表面間の間隔で定まるた
め、絞り成形の加工精度の影響を受けるなど、カード厚
をより高精度に管理することは実際にはなかなかに困難
であった。
However, in the case of the above-mentioned prior art, the card thickness is determined only by the distance between the surfaces of the metal panel drawn and formed by press working or the like. As a result, it was actually difficult to control the card thickness with higher accuracy.

【0008】本発明は、上記諸問題に鑑みてなされたも
ので、カード組立時において、カード厚さ方向の寸法を
より高精度に管理することができる半導体装置カードを
提供することを目的とする。尚、本明細書において、
「半導体装置カード」とは、カード状もしくは平板状
で、半導体回路を含む電子回路あるいは電気回路を備え
たものを言い、例えば、ICカード、PCカード、モデ
ムカード、LANカードあるいは電子カードなど、種々
の他の異なる名称で呼ばれるカード類で、同様の基本構
成を備えたものもこれに含まれるものとする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a semiconductor device card capable of managing the dimension in the card thickness direction with higher accuracy at the time of assembling the card. . In this specification,
"Semiconductor device card" refers to a card-shaped or flat-plate-shaped one provided with an electronic circuit or an electric circuit including a semiconductor circuit, and includes, for example, an IC card, a PC card, a modem card, a LAN card or an electronic card. Cards called by other different names and having the same basic configuration are also included in this.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】このため、本願の第1の
発明は、本体外形を構成するフレームと、本体平面部の
表側及び裏側を覆うように該フレームに対して接着固定
される一対の金属パネルとを備え、該金属パネルがフラ
ット状に形成されている半導体装置カードであって、上
記フレーム表側及び裏側において、所定幅のフレーム周
縁部の内側に所定深さ段下げされた段下げ部が形成さ
れ、該段下げ部の内側に、所定高さの凸部が設けられて
おり、上記段下げ部に接着剤を適用するとともに、金属
パネルの接着面を上記凸部に当接させて、該金属パネル
を上記フレーム周縁部の内側に接着固定した状態で、上
記周縁部が金属パネル表面よりもカード厚さ方向におい
て外側に位置するように、上記周縁部の厚さ,段下げ部
の深さ及び凸部の高さが設定されていることを特徴とし
たものである。
For this reason, the first invention of the present application provides a frame constituting an outer shape of a main body and a pair of adhesively fixed to the frame so as to cover the front and back sides of a flat portion of the main body. A metal panel, and wherein the metal panel is formed in a flat shape, wherein the metal panel has a stepped portion which is stepped down by a predetermined depth inside a frame peripheral portion having a predetermined width on the front and back sides of the frame. Is formed, a convex portion having a predetermined height is provided inside the stepped portion, and an adhesive is applied to the stepped portion, and the adhesive surface of the metal panel is brought into contact with the convex portion. In a state where the metal panel is bonded and fixed to the inside of the frame peripheral portion, the thickness of the peripheral portion and the step-down portion are set such that the peripheral portion is located outside the metal panel surface in the card thickness direction. Depth and height of protrusion In which There was characterized in that it is set.

【0010】また、本願の第2の発明は、上記凸部がフ
レーム周縁部に沿って断続的に設けられていることを特
徴としたものである。
[0010] The second invention of the present application is characterized in that the convex portion is provided intermittently along the peripheral edge of the frame.

【0011】更に、本願の第3の発明は、上記凸部の少
なくとも外側の壁面がテーパ状に形成されていることを
特徴としたものである。
Further, the third invention of the present application is characterized in that at least the outer wall surface of the projection is formed in a tapered shape.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

実施の形態1.以下、この発明の実施の形態を、添付図
面を参照しながら詳細に説明する。図1は、本実施の形
態1に係る半導体装置カード1の内部構造を示す斜視図
である。この半導体装置カード1は、樹脂製のフレーム
2により本体外形を構成されており、そのフレーム2の
内側には、半導体回路を含む所定の電子部品10a等を
組み込んだモジュール基板10が配置されている。ま
た、半導体装置カード1のフロント側(図1における左
下側)には、この半導体装置カード1が使用される電子
機器との電気的な接続を得るための接続用コネクタ9が
取付けられている。このコネクタ9は、リード線11を
介して、はんだ付けにより、上記モジュール基板10に
対して電気的及び機械的に接続されている。そして、こ
のコネクタ9には、上記電子機器側の各種信号端子を含
む電極ピンを受け入れるための電極ピン挿入穴9aが複
数配列されている。以上のような内部構造を備えた半導
体装置カード1の平面部は、この本体に内蔵された電子
部品10aを外部から印加される静電気等から電気的に
保護するために、その表側及び裏側において、フラット
状に形成された一対の金属パネル7で覆われるようにな
っている(図2参照)。
Embodiment 1 FIG. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a perspective view showing the internal structure of the semiconductor device card 1 according to the first embodiment. The semiconductor device card 1 has a main body outer shape formed of a resin frame 2, and a module substrate 10 incorporating predetermined electronic components 10 a including a semiconductor circuit is arranged inside the frame 2. . On the front side (lower left side in FIG. 1) of the semiconductor device card 1, a connection connector 9 for obtaining an electrical connection with an electronic device using the semiconductor device card 1 is attached. The connector 9 is electrically and mechanically connected to the module substrate 10 via a lead wire 11 by soldering. The connector 9 has a plurality of electrode pin insertion holes 9a for receiving electrode pins including various signal terminals on the electronic device side. The flat portion of the semiconductor device card 1 having the above-described internal structure has a front side and a back side to electrically protect the electronic component 10a built in the main body from static electricity applied from the outside. It is configured to be covered by a pair of flat metal panels 7 (see FIG. 2).

【0013】本実施の形態では、上記モジュール基板1
0及び金属パネル7等の構成部品を受合うフレーム2と
して、図3に示すものが用いられる。このフレーム2
は、カード本体の外形を構成するものであって、上記コ
ネクタ9が取り付けられるフロント側(図3における左
下側)を除いて、カードの3側面をなすようにコ字状に
形成されており、その内側には、上記モジュール基板1
0を載置するための桟部2aが掛け渡されている。上記
フレーム2の表側及び裏側では、その周縁にわたって、
所定幅のフレーム周縁部3が設けられており、この周縁
部3の内側には、周縁部3から略垂直に所定深さ段下げ
された段下げ部5が形成されている。該段下げ部5は、
カード平面部に沿って平行に広がる面をなしている。ま
た、段下げ部5の内側には、上記フレーム周縁部3に沿
って、所定高さの凸部4が設けられている。該凸部4
は、フレーム2の周縁にわたって一続きに形成されてお
り、その内側の壁面はフレーム2の内壁と面一になって
いる。
In this embodiment, the module substrate 1
The frame 2 shown in FIG. 3 is used as a frame 2 for receiving components such as a metal panel 7 and a metal panel 7. This frame 2
, Which constitutes the outer shape of the card body, is formed in a U-shape so as to form three sides of the card except for a front side (lower left side in FIG. 3) to which the connector 9 is attached. Inside the module board 1
The crosspiece 2a on which the “0” is placed is stretched. On the front side and the back side of the frame 2, over the periphery thereof,
A frame peripheral portion 3 having a predetermined width is provided. Inside the peripheral portion 3, a step-down portion 5 is formed, which is stepped down from the peripheral portion 3 substantially vertically by a predetermined depth. The step-down portion 5
It has a surface that extends parallel to the card plane. In addition, a projection 4 having a predetermined height is provided inside the stepped portion 5 along the frame peripheral portion 3. The convex part 4
Are formed continuously over the periphery of the frame 2, and the inner wall surface is flush with the inner wall of the frame 2.

【0014】このフレーム2では、フレーム厚さ方向に
おいて、周縁部3が最も外側に位置し、フレーム厚さを
決定している。換言すれば、このフレーム2では、上記
凸部4の高さが、フレーム厚さ方向において、凸部4が
フレーム周縁部3よりも内側に位置するように設定され
ている。また、この凸部4の高さは、上記モジュール基
板10をフレーム内側の桟部2a上に載置した状態で、
凸部4がモジュール基板10上の電子部品10aよりも
外側に位置するように設定されている。以上のようなフ
レーム2の構造が、その表側及び裏側をそれぞれ覆う金
属パネル7が適合し得る領域を規定している。すなわ
ち、金属パネル7は、上記フレーム2に対して、その外
周がフレーム周縁部3に取り囲まれ、その裏面が上記凸
部4に当接するようにして組付けられる。
In the frame 2, the peripheral portion 3 is located at the outermost side in the frame thickness direction, and determines the frame thickness. In other words, in the frame 2, the height of the convex portion 4 is set such that the convex portion 4 is located inside the frame peripheral portion 3 in the frame thickness direction. In addition, the height of the convex portion 4 is determined in a state where the module substrate 10 is mounted on the cross section 2a inside the frame.
The projection 4 is set so as to be located outside the electronic component 10 a on the module substrate 10. The structure of the frame 2 as described above defines an area where the metal panel 7 covering the front side and the back side can be fitted. That is, the metal panel 7 is assembled to the frame 2 such that the outer periphery is surrounded by the frame peripheral portion 3, and the back surface of the metal panel 7 contacts the convex portion 4.

【0015】ところで、上記金属パネル7は、フレーム
2に対して、例えばエポキシ系接着剤等の熱硬化性接着
剤で接着固定される。本実施の形態では、この接着固定
に際して、上記フレーム2の段下げ部5に、シート状の
熱硬化性接着剤6を貼付けた上で、そのフレーム2に対
して、金属パネル7を組付ける。これによって、フレー
ム2に対する金属パネル7の組付け状態で、上記段下げ
部5と、それに対面する金属パネル7の接着面との間に
熱硬化性接着剤6が介装されることとなる。かかる熱硬
化性接着剤の場合、接着剤を硬化させて強固な接着力を
発現するためには、所定の温度条件下で、一定以上の加
圧力を加える接着剤硬化処理を行う必要がある。このた
め、半導体装置カード1の組立に際しては、上記のよう
に金属パネル7とフレーム2との間に接着剤6を介装し
た後、半導体装置カード1の表裏両側に緩衝材を介して
カード外形に適合する加圧プレートをそれぞれ配置し、
これを恒温槽等内で所定温度に加熱・保持した状態で、
加圧プレートにプレス等で圧力を加えて接着剤を硬化さ
せる、接着剤硬化処理工程が設けられている。
The metal panel 7 is fixed to the frame 2 by a thermosetting adhesive such as an epoxy adhesive. In this embodiment, at the time of this adhesive fixing, a sheet-like thermosetting adhesive 6 is attached to the step-down portion 5 of the frame 2, and then the metal panel 7 is attached to the frame 2. Thus, in a state where the metal panel 7 is attached to the frame 2, the thermosetting adhesive 6 is interposed between the stepped-down portion 5 and the bonding surface of the metal panel 7 facing the stepped portion. In the case of such a thermosetting adhesive, in order to harden the adhesive and develop a strong adhesive force, it is necessary to perform an adhesive curing process in which a predetermined pressure or more is applied under a predetermined temperature condition. Therefore, when assembling the semiconductor device card 1, the adhesive 6 is interposed between the metal panel 7 and the frame 2 as described above, and then the outer shape of the card is interposed on both the front and back sides of the semiconductor device card 1 through the cushioning material. Arrange the pressurizing plates conforming to
In a state where this is heated and maintained at a predetermined temperature in a constant temperature bath or the like,
An adhesive curing treatment step is provided, in which pressure is applied to the pressure plate by a press or the like to cure the adhesive.

【0016】前述したような接着剤硬化処理を用いて金
属パネル7を接着固定した後の半導体装置カード1が図
2に示されている。この完成品としての半導体装置カー
ド1において、上記金属パネル7は、フレーム2の段下
げ部5と、それに対面する金属パネル7の接着面との間
に介装された熱硬化性接着剤6によりフレーム2に対し
て接着固定されており、この状態で、金属パネル7の外
周はフレーム周縁部3に取り囲まれ、その裏面は凸部4
に当接している。
FIG. 2 shows the semiconductor device card 1 after the metal panel 7 is bonded and fixed using the above-described adhesive curing treatment. In the semiconductor device card 1 as a finished product, the metal panel 7 is formed by the thermosetting adhesive 6 interposed between the stepped portion 5 of the frame 2 and the bonding surface of the metal panel 7 facing the metal panel 7. In this state, the outer periphery of the metal panel 7 is surrounded by the frame peripheral portion 3, and the rear surface thereof is
Is in contact with

【0017】このように金属パネル7がフレーム2に対
して接着固定された状態で、上記フレーム周縁部3は、
カード厚さ方向において、金属パネル7の表面よりも外
側に位置している。本実施の形態では、このような位置
関係が得られるように、上記フレーム周縁部3の厚さ,
段下げ部5の深さ及び凸部4の高さが予め設定されてい
る。すなわち、フレーム2の表側及び裏側において、周
縁部3の高さ(つまり、段下げ部5の深さ)は、上記凸
部4の高さと金属パネル7の厚さとを合わせた値よりも
大きく設定されている。このように設定することによ
り、半導体装置カード1の厚さがフレーム周縁部3の厚
さよりも大きくなることはなく、カード厚の管理がフレ
ーム周縁部3の厚さのみによって行うことが可能とな
り、カードの厚さ方向の寸法精度を高めることができ
る。なお、この場合、凸部4の高さを調節することによ
って、フレーム2の段下げ部5とそれに対面する金属パ
ネル7の接着面との間に介装される接着剤6の厚さを調
整することができる。これにより、金属パネル7とフレ
ーム2の段下げ部5との間に働く接着力を高め、カード
品質の信頼性を向上させることができる。
In the state where the metal panel 7 is bonded and fixed to the frame 2, the frame peripheral portion 3 is
It is located outside the surface of the metal panel 7 in the card thickness direction. In the present embodiment, the thickness of the frame peripheral portion 3 is set so as to obtain such a positional relationship.
The depth of the stepped portion 5 and the height of the convex portion 4 are set in advance. That is, on the front side and the back side of the frame 2, the height of the peripheral portion 3 (that is, the depth of the stepped portion 5) is set to be larger than the sum of the height of the convex portion 4 and the thickness of the metal panel 7. Have been. With this setting, the thickness of the semiconductor device card 1 does not become larger than the thickness of the frame peripheral portion 3, and the card thickness can be managed only by the thickness of the frame peripheral portion 3, The dimensional accuracy in the thickness direction of the card can be improved. In this case, by adjusting the height of the convex portion 4, the thickness of the adhesive 6 interposed between the stepped portion 5 of the frame 2 and the bonding surface of the metal panel 7 facing the stepped portion 5 is adjusted. can do. Thereby, the adhesive force acting between the metal panel 7 and the stepped portion 5 of the frame 2 can be increased, and the reliability of the card quality can be improved.

【0018】また、この半導体装置カード1では、金属
パネル7がフレーム2に接着固定された状態で、上記凸
部4表面に対して、直接に(接着剤6を介さずに)当接
する。従って、凸部4の高さにより、金属パネル7の一
定したカード厚さ方向の位置設定を行うことができる。
この結果、表側及び裏側における両金属パネル7,7間
の寸法のばらつきをなくすることができる。更に、この
半導体装置カード1では、前述したように、凸部4の高
さが、フレーム厚さ方向において、凸部4がモジュール
基板10上の電子部品10aよりも外側に位置するよう
に設定されている。これにより、金属パネル7の裏面が
電子部品10aに接触することはなくなり、金属パネル
7側から電子部品10aに対して過渡の荷重が加わるこ
とが防止される。
Further, in the semiconductor device card 1, the metal panel 7 comes into direct contact with the surface of the convex portion 4 (without the adhesive 6) while the metal panel 7 is bonded and fixed to the frame 2. Therefore, the position of the metal panel 7 can be set at a constant position in the card thickness direction by the height of the projections 4.
As a result, it is possible to eliminate dimensional variations between the two metal panels 7 on the front side and the back side. Further, in the semiconductor device card 1, as described above, the height of the projection 4 is set such that the projection 4 is located outside the electronic component 10a on the module substrate 10 in the frame thickness direction. ing. Thereby, the back surface of the metal panel 7 does not contact the electronic component 10a, and a transient load is prevented from being applied to the electronic component 10a from the metal panel 7 side.

【0019】実施の形態2.図4に、本発明の実施の形
態2に係る半導体装置カード21を示す。尚、以下の説
明においては上記実施の形態1における場合と同じもの
には、同一の符号を付し、それ以上の説明は省略する。
この半導体装置カード21は、上記実施の形態1と同様
に、樹脂製のフレーム22により本体外形を構成されて
おり、このフレーム22の表側及び裏側において、所定
幅のフレーム周縁部23の内側に所定深さ段下げされた
段下げ部25が形成されている。この実施の形態では、
段下げ部25の内側に、カード平面部に水平な面をもつ
凸部24が、上記フレーム周縁部23に沿って断続的に
設けられている。これら周縁部23及び凸部24の高さ
は、半導体装置カード21の表側及び裏側を覆う金属パ
ネル(不図示)が、その裏面が凸部24に当接するよう
に、フレーム22に対して接着固定された状態で、上記
フレーム周縁部23が、カード厚さ方向において、金属
パネル表面よりも外側に位置するように設定されてい
る。このように設定することによって、半導体装置カー
ド21の厚さがフレーム周縁部23よりも大きくなるこ
とはなくなり、カード厚の管理が、そのフレーム周縁部
23のみによって行うことが可能となり、カード21の
厚さ方向の寸法精度を高めることができる。
Embodiment 2 FIG. 4 shows a semiconductor device card 21 according to the second embodiment of the present invention. In the following description, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and further description is omitted.
As in the first embodiment, the semiconductor device card 21 has a main body outer shape formed of a resin frame 22. On the front side and the back side of the frame 22, a predetermined width is provided inside a frame peripheral portion 23 having a predetermined width. A stepped portion 25 having a depth lowered is formed. In this embodiment,
Inside the stepped portion 25, a convex portion 24 having a surface horizontal to the card flat portion is provided intermittently along the frame peripheral portion 23. The height of the peripheral portion 23 and the height of the convex portion 24 is fixed to the frame 22 such that a metal panel (not shown) that covers the front and back sides of the semiconductor device card 21 contacts the convex portion 24 on the back surface. In this state, the frame peripheral portion 23 is set to be located outside the metal panel surface in the card thickness direction. With this setting, the thickness of the semiconductor device card 21 does not become larger than the frame peripheral portion 23, and the card thickness can be managed only by the frame peripheral portion 23. The dimensional accuracy in the thickness direction can be improved.

【0020】また、本実施の形態では、上記フレーム周
縁部23に沿って凸部24が断続的に配設されるため、
凸部が連続的に設けられた場合に比べて、隣合う凸部間
の空き分だけ段下げ部25が大きく、フレーム22及び
金属パネル間の接着面積が大きい。この結果、両者間に
働く接着力が増し、カード品質の信頼性を向上させるこ
とが可能となる。
Further, in this embodiment, since the convex portions 24 are intermittently arranged along the frame peripheral portion 23,
As compared with the case where the protrusions are provided continuously, the step-down portion 25 is larger by the space between the adjacent protrusions, and the bonding area between the frame 22 and the metal panel is larger. As a result, the adhesive force acting between them increases, and the reliability of the card quality can be improved.

【0021】実施の形態3.図5に、本発明の実施の形
態3に係る半導体装置カード31を示す。この半導体装
置カード31は、上記実施の形態1及び2と同様に、樹
脂製のフレーム32により本体外形を構成されており、
このフレーム32の表側及び裏側において、所定幅のフ
レーム周縁部33の内側に所定深さ段下げされた段下げ
部35が形成されている。この実施の形態では、段下げ
部35の内側に、上記フレーム周縁部33に沿って、外
側の壁面がテーパ状に形成された凸部34が設けられて
いる。これら周縁部33及び凸部34の高さは、半導体
装置カード31の表側及び裏側を覆う金属パネル37
が、その裏面が凸部34に当接するように、フレーム3
2に対して接着固定された状態で、上記フレーム周縁部
33が、カード厚さ方向において、金属パネル37の表
面よりも外側に位置するように設定されている。このよ
うに設定することにより、半導体装置カード31の厚さ
がフレーム周縁部33よりも大きくなることはなくな
り、カード厚の管理が、そのフレーム周縁部33のみに
よって行うことが可能となり、カード31の厚さ方向の
寸法精度を高めることができる。
Embodiment 3 FIG. 5 shows a semiconductor device card 31 according to Embodiment 3 of the present invention. The semiconductor device card 31 has a main body outer shape formed of a resin frame 32 as in the first and second embodiments.
On the front side and the back side of the frame 32, a step-down portion 35 having a predetermined depth is formed inside a frame peripheral portion 33 having a predetermined width. In this embodiment, a convex portion 34 having an outer wall surface formed in a tapered shape is provided inside the stepped portion 35 along the frame peripheral portion 33. The height of the peripheral portion 33 and the height of the convex portion 34 are determined by the metal panel 37 that covers the front and back sides of the semiconductor device card 31.
However, the frame 3 is so positioned that its back surface contacts the convex portion 34.
The frame peripheral portion 33 is set so as to be located outside the surface of the metal panel 37 in the card thickness direction in a state where the frame peripheral portion 33 is adhered and fixed to the metal panel 37. With this setting, the thickness of the semiconductor device card 31 does not become larger than the frame peripheral portion 33, and the card thickness can be managed only by the frame peripheral portion 33. The dimensional accuracy in the thickness direction can be improved.

【0022】また、本実施の形態では、凸部34の外側
壁面がテーパ状に形成されているため、金属パネル37
及び凸部34を互いにほぼ線接触させることが可能とな
る。その結果、金属パネル37の接着固定に際して、金
属パネル37とフレーム32の段下げ部35との間に介
装されるシート状の熱硬化性接着剤6が凸部34に重な
る場合にも、その接着剤の厚みに影響されることはな
く、予め設定された凸部34の高さに基づいて、金属パ
ネル37を適正に位置決めすることができる。すなわ
ち、このような凸部34の形状によれば、シート状の熱
硬化性接着剤6の貼付け精度を問題にすることなく、カ
ード31の組立を行うことができる。
In this embodiment, since the outer wall surface of the projection 34 is formed in a tapered shape, the metal panel 37 is formed.
And the convex portions 34 can be brought into substantially linear contact with each other. As a result, even when the sheet-shaped thermosetting adhesive 6 interposed between the metal panel 37 and the stepped-down portion 35 of the frame 32 overlaps with the convex portion 34 when the metal panel 37 is bonded and fixed, The metal panel 37 can be properly positioned based on the preset height of the convex portion 34 without being affected by the thickness of the adhesive. That is, according to the shape of the convex portion 34, the card 31 can be assembled without making the sticking accuracy of the sheet-like thermosetting adhesive 6 a problem.

【0023】尚、本発明は、以上の例示された実施態様
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
において、種々の改良あるいは設計上の変更が可能であ
ることは言うまでもない。
It should be noted that the present invention is not limited to the above-exemplified embodiment, and it is needless to say that various improvements or design changes can be made without departing from the gist of the present invention.

【0024】[0024]

【発明の効果】本願の請求項1の発明によれば、上記フ
レーム表側及び裏側において、所定幅のフレーム周縁部
の内側に所定深さ段下げされた段下げ部が形成され、該
段下げ部の内側に、所定高さの凸部が設けられており、
上記段下げ部に接着剤を適用するとともに、金属パネル
の接着面を上記凸部に当接させて、該金属パネルを上記
フレーム周縁部の内側に接着固定した状態で、上記周縁
部が金属パネル表面よりもカード厚さ方向において外側
に位置するように、上記周縁部の厚さ,段下げ部の深さ
及び凸部の高さが設定されているので、半導体装置カー
ドの厚さが、表側及び裏側のフレーム周縁部の厚さより
も大きくなることはなくなり、カード厚の管理がフレー
ム周縁部の厚さのみによって行うことが可能となり、カ
ードの厚さ方向の寸法精度を高めることができる。ま
た、金属パネルが凸部に対して直接に当接するので、凸
部の高さによって、金属パネルの一定したカード厚さ方
向の位置設定を行うことができる。更に、上記凸部の高
さを調節して、フレームの段下げ部とそれに対面する金
属パネルの接着面との間に介装される接着剤の厚みを制
御することによって、両者間に働く接着力を高めること
が可能となり、カード品質の信頼性を向上させることが
できる。
According to the first aspect of the present invention, a stepped portion having a predetermined depth is formed inside the peripheral portion of the frame having a predetermined width on the front side and the rear side of the frame. Inside, a convex portion of a predetermined height is provided,
An adhesive is applied to the step-down portion, and an adhesive surface of the metal panel is brought into contact with the convex portion so that the metal panel is adhered and fixed to the inside of the frame peripheral portion. The thickness of the peripheral portion, the depth of the step-down portion, and the height of the convex portion are set so as to be located outside in the card thickness direction from the front surface. The thickness of the card does not become larger than the thickness of the peripheral portion of the frame on the back side, and the card thickness can be managed only by the thickness of the peripheral portion of the frame, so that the dimensional accuracy in the thickness direction of the card can be improved. In addition, since the metal panel directly contacts the convex portion, the position of the metal panel in the direction of the card thickness can be set by the height of the convex portion. Further, by adjusting the height of the convex portion and controlling the thickness of the adhesive interposed between the stepped portion of the frame and the adhesive surface of the metal panel facing the stepped portion, the adhesive acting between the two is controlled. Power can be increased, and the reliability of card quality can be improved.

【0025】また、本願の請求項2の発明によれば、凸
部をフレーム周縁部に沿って断続的に設けて、フレーム
及び金属パネル間の接着面積を大きくし、両者間に働く
接着力を強化することが可能となる。これによって、カ
ード品質の信頼性を向上させることができる。
According to the invention of claim 2 of the present application, the convex portion is provided intermittently along the peripheral portion of the frame to increase the bonding area between the frame and the metal panel, and to reduce the adhesive force acting between the two. It is possible to strengthen. Thereby, the reliability of the card quality can be improved.

【0026】更に、本願の請求項3の発明によれば、凸
部が断面テーパ状に形成されているため、金属パネル及
び凸部を互いにほぼ線接触させることができ、金属パネ
ルの接着固定に際して、金属パネルとフレームの段下げ
部との間に介装されるシート状の熱硬化性接着剤が凸部
に重なる場合にも、その接着剤の厚みに影響されること
はなく、予め設定された凸部の高さに基づいて、金属パ
ネルを適切に位置決めすることができる。これによっ
て、シート状の熱硬化性接着剤の貼付け精度を問題にす
ることなく、カードの組立を行うことができる。
Further, according to the invention of claim 3 of the present application, since the convex portion is formed to have a tapered cross section, the metal panel and the convex portion can be brought into substantially linear contact with each other. Even when the sheet-like thermosetting adhesive interposed between the metal panel and the stepped-down portion of the frame overlaps with the convex portion, the thickness is not affected by the thickness of the adhesive and is set in advance. The metal panel can be appropriately positioned based on the height of the raised protrusion. This makes it possible to assemble the card without making the sticking accuracy of the sheet-like thermosetting adhesive a problem.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態1に係る半導体装置カー
ドの内部構造を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an internal structure of a semiconductor device card according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】 上記半導体装置カードの幅方向に沿った断面
説明図である。
FIG. 2 is an explanatory cross-sectional view along the width direction of the semiconductor device card.

【図3】 上記半導体装置カードの外形を構成するフレ
ームの斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view of a frame constituting an outer shape of the semiconductor device card.

【図4】 本発明の実施の形態2に係る半導体装置カー
ドの内部構造を示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing an internal structure of a semiconductor device card according to Embodiment 2 of the present invention.

【図5】 本発明の実施の形態3に係る半導体装置カー
ドの幅方向に沿った断面説明図である。
FIG. 5 is an explanatory sectional view along a width direction of a semiconductor device card according to a third embodiment of the present invention;

【図6】 従来の半導体装置カードの内部構造を示す斜
視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing the internal structure of a conventional semiconductor device card.

【図7】 従来の半導体装置カードの幅方向に沿った断
面説明図である。
FIG. 7 is an explanatory cross-sectional view along a width direction of a conventional semiconductor device card.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,21,31 半導体装置カード、2,22,32
フレーム、3,23,33 フレーム周縁部、4,2
4,34 凸部、5,25,35 段下げ部、7 金属
パネル
1,21,31 Semiconductor device card, 2,22,32
Frame, 3,23,33 Frame frame, 4,2
4,34 convex part, 5,25,35 step down part, 7 metal panel

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 本体外形を構成するフレームと、本体平
面部の表側及び裏側を覆うように該フレームに対して接
着固定される一対の金属パネルとを備え、該金属パネル
がフラット状に形成されている半導体装置カードであっ
て、 上記フレーム表側及び裏側において、所定幅のフレーム
周縁部の内側に所定深さ段下げされた段下げ部が形成さ
れ、該段下げ部の内側に、所定高さの凸部が設けられて
おり、 上記段下げ部に接着剤を適用するとともに金属パネルの
接着面を上記凸部に当接させて、該金属パネルを上記フ
レーム周縁部の内側に接着固定した状態で、上記周縁部
が金属パネル表面よりもカード厚さ方向において外側に
位置するように、上記周縁部の厚さ,段下げ部の深さ及
び凸部の高さが設定されていることを特徴とする半導体
装置カード。
1. A frame constituting an outer shape of a main body, and a pair of metal panels adhered and fixed to the frame so as to cover a front side and a back side of a plane portion of the main body, and the metal panel is formed in a flat shape. A semiconductor device card, wherein on the front and back sides of the frame, a stepped portion having a predetermined depth is formed inside a frame peripheral portion having a predetermined width, and a predetermined height is formed inside the stepped portion. A state in which an adhesive is applied to the step-down portion and the bonding surface of the metal panel is brought into contact with the protrusion, and the metal panel is bonded and fixed inside the frame peripheral portion. The thickness of the peripheral portion, the depth of the step-down portion, and the height of the convex portion are set so that the peripheral portion is located outside the metal panel surface in the card thickness direction. Semiconductor device De.
【請求項2】 上記凸部がフレーム周縁部に沿って断続
的に設けられていることを特徴とする請求項1記載の半
導体装置カード。
2. The semiconductor device card according to claim 1, wherein said convex portion is provided intermittently along a peripheral portion of the frame.
【請求項3】 上記凸部の少なくとも外側の壁面がテー
パ状に形成されていることを特徴とする請求項1又は2
に記載の半導体装置カード。
3. The device according to claim 1, wherein at least an outer wall surface of the convex portion is formed in a tapered shape.
A semiconductor device card according to claim 1.
JP23082897A 1997-08-27 1997-08-27 Card for semiconductor device Pending JPH1159038A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002030168A1 (en) * 2000-10-02 2002-04-11 Ubinetics Limited Pc card

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