JPH1152252A - Fluorescent microscope - Google Patents

Fluorescent microscope

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Publication number
JPH1152252A
JPH1152252A JP9224322A JP22432297A JPH1152252A JP H1152252 A JPH1152252 A JP H1152252A JP 9224322 A JP9224322 A JP 9224322A JP 22432297 A JP22432297 A JP 22432297A JP H1152252 A JPH1152252 A JP H1152252A
Authority
JP
Japan
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image
unit
light
fluorescence
scanning
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP9224322A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hidekazu Takenaka
秀和 竹中
Hiroyuki Hakozaki
博之 箱崎
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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Publication of JPH1152252A publication Critical patent/JPH1152252A/en
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  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a bright multiple fluorescent image without the positional deviation of a sample being multiply dyed by changing over dichroic mirrors. SOLUTION: In a fluorescent microscope provided with a light source 1 emitting an excited laser beam, plural dichroic mirrors 13 reflecting the excited laser beam, transmitting a fluorescent beam through and changeably provided in an optical path, an XY scanner 14 for scanning the excited laser beam on a sample in a two-dimensional manner, an objective lens 18 arranged between the XY scanner 14 and the sample and a monitor for observing the fluorescent light beam, a controller 50 for inputting the information as to the kinds of the dichroic mirrors arranged in the optical path at the time of accquiring an image, a memory 33 for storing the information on an image deviation in the dichroic mirrors at the time of accquiring the image and a computer 30 for reading out the information on the image deviation stored in the memory 33 based on the information from the controller 50 and controlling the XY scanner 14 so that the images obtained by the different kinds of the dichronic mirrors are superimposed, are provided.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は蛍光顕微鏡に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a fluorescence microscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の蛍光顕微鏡は、励起光を出射する
光源と、励起光を反射させるとともに、蛍光を透過さ
せ、光路中に切換え可能に設けられた複数のダイクロイ
ックミラーと、ダイクロイックミラーと試料との間に配
置された対物レンズと、ダイクロイックミラーを通過し
た蛍光を観察する観察装置とを備える。
2. Description of the Related Art A conventional fluorescence microscope is composed of a light source that emits excitation light, a plurality of dichroic mirrors that reflect excitation light, transmit fluorescence, and are switchably provided in an optical path, a dichroic mirror, and a sample. And an observation device for observing the fluorescence that has passed through the dichroic mirror.

【0003】従来、多重蛍光染色された試料を観察する
ために、使用されている蛍光色素毎にダイクロイックミ
ラーを切換えて画像を取得し、取得した複数の画像を重
ね合わせて多重蛍光画像を取得する方法や、異なる2波
長での励起が可能なデュアルバンドフィルタや3波長で
の励起が可能なトリプルバンドフィルタ等のいわゆるマ
ルチバンドフィルタを使用し、多重蛍光画像を一度に取
得する方法等が用いられている。
Conventionally, in order to observe a sample which has been subjected to multiple fluorescent staining, an image is obtained by switching a dichroic mirror for each fluorescent dye used, and a plurality of obtained images are superimposed to obtain a multiple fluorescent image. A method is used in which a so-called multi-band filter such as a dual band filter capable of excitation at two different wavelengths or a triple band filter capable of excitation at three wavelengths is used to acquire multiple fluorescent images at a time. ing.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記の蛍光色素毎にダ
イクロイックミラーを切り換える方法では、各ダイクロ
イックミラーの加工精度、取付精度等の機械的精度に起
因して少しずつミラーの反射角が変わるため、取得した
画像間にも位置ずれが生じてしまい、複数の画像を正確
に重ね合わせることができないという問題があった。
In the above-described method of switching dichroic mirrors for each fluorescent dye, the mirror reflection angle changes little by little due to mechanical accuracy such as processing accuracy and mounting accuracy of each dichroic mirror. There is also a problem that a displacement occurs between the acquired images, and a plurality of images cannot be accurately superimposed.

【0005】この問題を解決する方法として、取得した
各画像をコンピュータに取り込み、画像処理ソフトを用
いて操作者が目測で各画像のずれ量を補正することが考
えられる。
As a method for solving this problem, it is conceivable that each acquired image is taken into a computer, and an operator corrects the amount of displacement of each image by visual measurement using image processing software.

【0006】しかし、この作業は非常に手間のかかるも
のであるとともに、各画像に写し出された試料の形状も
全く同じものではないため、非常に困難な作業である。
[0006] However, this work is very troublesome because the shape of the sample shown in each image is not exactly the same as it is very time-consuming.

【0007】また、上記のマルチバンドフィルタを使用
して多重蛍光画像を一度に取得する方法では、透過波長
域と反射波長域とが交互に現れるため、透過できる波長
域が制限される。
[0007] In the method of obtaining a multiple fluorescence image at a time by using the above-mentioned multi-band filter, a transmission wavelength range and a reflection wavelength range appear alternately, so that the wavelength range that can be transmitted is limited.

【0008】図5はトリプルバンドフィルタの透過・反
射特性の一例を示す図、図6は蛍光色素FITCの吸収
度及び蛍光強度特性を示す図、図7は蛍光色素Cy3.
5の吸収度及び蛍光強度特性を示す図、図8は蛍光色素
Cy5の吸収度及び蛍光強度特性を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing an example of transmission / reflection characteristics of a triple band filter, FIG. 6 is a diagram showing absorption and fluorescence intensity characteristics of a fluorescent dye FITC, and FIG.
FIG. 8 shows the absorbance and fluorescence intensity characteristics of the fluorescent dye Cy5.

【0009】例えば、上記図5に示したトリプルバンド
フィルタを使用して蛍光色素FITC、Cy3.5、C
y5で三重染色した試料を観察する場合、トリプルバン
ドフィルタと試料から放出される蛍光との特性が完全に
は一致しないため、検出器で検出される蛍光が少なくな
ってしまう。
For example, using the triple band filter shown in FIG. 5, the fluorescent dyes FITC, Cy3.5, C
When observing a sample triple-stained with y5, the characteristics of the triple band filter and the fluorescence emitted from the sample do not completely match, so that the fluorescence detected by the detector decreases.

【0010】試料から放出される蛍光は微弱であるの
で、蛍光の減少によって観察装置で観察される試料の画
像が暗くなってしまう等の問題がある。
Since the fluorescence emitted from the sample is weak, there is a problem that the image of the sample observed by the observation device becomes dark due to the decrease in the fluorescence.

【0011】この問題はデュアルバンドフィルタであっ
ても同様に起きる。
This problem also occurs with a dual band filter.

【0012】また、デュアルバンドフィルタやトリプル
バンドフィルタは透過波長及び反射波長の組合せを細か
く指定して製造することが困難であるため、蛍光色素に
応じて最適のフィルタを入手することは難しく、場合に
よっては不可能になってしまう(例えば使用する試薬の
波長が非常に接近しているときには対応するフィルタを
製造できない)という問題がある。
[0012] Further, it is difficult to manufacture a dual band filter or a triple band filter by specifying a combination of transmission wavelength and reflection wavelength in detail, so that it is difficult to obtain an optimum filter according to a fluorescent dye. (For example, when the wavelengths of the reagents used are very close, a corresponding filter cannot be manufactured).

【0013】この発明はこのような事情に鑑みてなされ
たもので、その課題はダイクロイックミラーを切り換え
ることによって、多重染色した試料の位置ずれのないし
かも明るい多重蛍光画像を得ることが可能な蛍光顕微鏡
を提供することである。
The present invention has been made in view of such circumstances, and a problem thereof is to provide a fluorescent microscope capable of obtaining a bright multiple fluorescence image without displacement of a multiple-stained sample by switching dichroic mirrors. It is to provide.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
め請求項1記載の発明の蛍光顕微鏡は、励起光を発する
光源と、試料を載置するステージと、光路中に切換可能
に設けられ、前記光源からの励起光を反射するととも
に、前記試料からの蛍光を透過する複数の光分離手段
と、前記光分離手段を透過した蛍光の画像を得る観察手
段とを有する蛍光顕微鏡において、画像取得時に前記光
路に配置されている前記光分離手段の種類に関する情報
を入力する入力手段と、前記各光分離手段における画像
取得時の画像ずれ情報を記憶する記憶手段と、前記入力
手段からの情報に基づいて、前記記憶手段に記憶された
画像ずれ情報を読み出すとともに、異なる種類の前記光
分離手段によって得られる画像が重ね合わさるように前
記観察手段又は前記ステージを制御する制御手段とを有
することを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a fluorescence microscope comprising a light source for emitting excitation light, a stage on which a sample is mounted, and a switchable optical path. Obtaining an image by using a fluorescence microscope having a plurality of light separation units that reflect excitation light from the light source and transmit fluorescence from the sample, and observation units that obtain images of the fluorescence transmitted through the light separation unit. Input means for inputting information on the type of the light separating means arranged in the optical path, storage means for storing image shift information at the time of image acquisition in each of the light separating means, and information from the input means. Based on the information, the image shift information stored in the storage means is read, and the observation means or the scanning means is arranged so that images obtained by different types of light separation means are superimposed. And having a control means for controlling the over-di.

【0015】入力手段によって制御手段に入力された、
光分離手段の種類に応じた誤差等の情報を記憶してお
き、画像取得時、この情報に基づいて観察手段又はステ
ージを制御して取得画像のずれを補正する。
Input to the control means by the input means,
Information such as an error corresponding to the type of the light separating means is stored, and at the time of acquiring an image, the observation means or the stage is controlled based on this information to correct a shift of the acquired image.

【0016】請求項2記載の発明の蛍光顕微鏡は、励起
レーザ光を出射する光源と、前記励起レーザ光を反射さ
せるとともに、蛍光を透過させ、光路中に切換え可能に
設けられた複数の光分離手段と、前記励起レーザ光を試
料上で2次元走査する走査手段と、前記走査手段と試料
との間に配置された対物レンズと、前記光分離手段を透
過した蛍光の画像を得る観察手段とを備える蛍光顕微鏡
において、画像取得時に前記光路に配置されている前記
光分離手段の種類に関する情報を入力する入力手段と、
前記各光分離手段における画像取得時の画像ずれ情報を
記憶する記憶手段と、前記入力手段からの情報に基づい
て前記記憶手段に記憶された画像ずれ情報を読み出すと
ともに、異なる種類の前記光分離手段によって得られる
画像が重ね合わさるように前記走査手段を制御する制御
手段とを備えていることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a fluorescence microscope, comprising: a light source which emits an excitation laser beam; and a plurality of light separation means which reflect the excitation laser beam, transmit fluorescence, and are switchably provided in an optical path. Means, scanning means for two-dimensionally scanning the sample with the excitation laser light, an objective lens arranged between the scanning means and the sample, and observation means for obtaining an image of fluorescence transmitted through the light separating means. In a fluorescence microscope comprising, input means for inputting information on the type of the light separating means arranged in the optical path at the time of image acquisition,
A storage unit for storing image shift information at the time of image acquisition in each of the light separating units, and reading out the image shift information stored in the storage unit based on information from the input unit; And control means for controlling the scanning means so that the images obtained by the scanning are superimposed.

【0017】入力手段によって制御手段に入力された、
光分離手段の種類に応じた誤差等の情報を記憶してお
き、画像取得時、この情報に基づいて走査手段を制御し
て取得画像のずれを補正する。
Input to the control means by the input means,
Information such as an error corresponding to the type of the light separating means is stored, and at the time of acquiring an image, the scanning means is controlled based on this information to correct a deviation of the acquired image.

【0018】請求項3記載の発明の蛍光顕微鏡は、請求
項1又は2に記載の蛍光顕微鏡において、前記入力手段
は前記光路に配置される前記光分離手段の種類を識別す
る検出手段を備えることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the fluorescence microscope according to the first or second aspect, wherein the input means includes a detection means for identifying a type of the light separation means arranged in the optical path. It is characterized by.

【0019】光路に配置される光分離手段の種類を識別
する検出手段によって光分離手段の種類を識別する。
The type of the light separating means is identified by the detecting means for identifying the type of the light separating means arranged in the optical path.

【0020】請求項4記載の発明の蛍光顕微鏡は、請求
項2記載の蛍光顕微鏡において、前記走査手段は、ガル
バノ式走査ミラーを備え、前記制御手段は、前記記憶手
段に記憶されたずれ情報に基づいて、前記ガルバノ式走
査ミラーの反射角を制御するオフセット電圧を調整する
ことを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the fluorescence microscope according to the second aspect, wherein the scanning means includes a galvano-type scanning mirror, and the control means controls the shift information stored in the storage means. The offset voltage for controlling the reflection angle of the galvano-scanning mirror is adjusted based on the voltage.

【0021】記憶手段に記憶されたずれ情報に基づいて
ガルバノ式走査ミラーの反射角を制御するオフセット電
圧を調整するので、ガルバノ式走査ミラーをアナログ制
御して正確にずれ量を補正できる。
Since the offset voltage for controlling the reflection angle of the galvano scanning mirror is adjusted based on the displacement information stored in the storage means, the displacement can be accurately corrected by analog controlling the galvano scanning mirror.

【0022】請求項5記載の発明の蛍光顕微鏡は、請求
項1に記載の蛍光顕微鏡において、前記観察手段は、前
記光源からの光が前記試料に照射される領域から画像取
得領域を選択し、前記制御手段は、前記記憶手段に記憶
されたずれ情報に基づいて、前記観察手段による画像取
得を開始するタイミングを制御することを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the fluorescence microscope according to the first aspect, the observation means selects an image acquisition area from an area where the light from the light source irradiates the sample, The control unit controls a timing at which the observation unit starts acquiring an image based on the shift information stored in the storage unit.

【0023】光源からの光が試料に照射される領域から
実際に画像として取得する画像取得領域を選択し、記憶
手段に記憶されたずれ情報に基づいて、観察手段による
画像取得領域をずらす。
An image acquisition area to be actually acquired as an image is selected from an area where the light from the light source irradiates the sample, and the image acquisition area by the observation means is shifted based on the shift information stored in the storage means.

【0024】請求項6記載の発明の蛍光顕微鏡は、請求
項1に記載の蛍光顕微鏡において、前記制御手段は、前
記記憶手段に記憶されたずれ情報に基づいて、前記ステ
ージの位置を制御することを特徴とする。
According to a sixth aspect of the present invention, in the fluorescence microscope according to the first aspect, the control means controls the position of the stage based on the displacement information stored in the storage means. It is characterized by.

【0025】記憶手段に記憶したずれ情報に基づいて、
ステージを垂直方向及び水平方向にオフセットし、画像
を重ね合わせる。
Based on the shift information stored in the storage means,
The stage is offset vertically and horizontally and the images are superimposed.

【0026】請求項7記載の発明の蛍光顕微鏡は、請求
項1〜6のいずれかに記載の蛍光顕微鏡において、前記
対物レンズの1次像面に配置された図形パターンを更に
有し、前記観察手段は、前記各光分離手段毎の前記図形
パターンの画像を取得し、取得した画像の1つを基準と
して他の画像のずれ量を算出するとともに、ずれ情報と
して前記記憶手段に記憶させることを特徴とする。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided the fluorescent microscope according to any one of the first to sixth aspects, further comprising a graphic pattern arranged on a primary image plane of the objective lens. Means for obtaining an image of the figure pattern for each of the light separating means, calculating a shift amount of another image based on one of the obtained images, and storing the shift amount in the storage means as shift information. Features.

【0027】光分離手段毎のずれ量を図形パターンのず
れ量から算出して記憶し、画像取得時、記憶されたずれ
量に基づいて前記観察手段、ステージ又は走査手段を制
御する。
The shift amount of each light separating means is calculated from the shift amount of the graphic pattern and stored, and when the image is obtained, the observation means, the stage or the scanning means is controlled based on the stored shift amount.

【0028】[0028]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施形態を添付
図面に基づいて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

【0029】図1はこの発明の蛍光顕微鏡の一実施形態
である共焦点レーザ走査顕微鏡のブロック構成図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram of a confocal laser scanning microscope which is an embodiment of the fluorescence microscope of the present invention.

【0030】この共焦点レーザ走査顕微鏡は、レーザ光
源1と、共焦点レーザ走査顕微鏡本体(顕微鏡本体)1
0と、コンピュータ30とを備える。
This confocal laser scanning microscope comprises a laser light source 1 and a confocal laser scanning microscope main body (microscope main body) 1.
0 and a computer 30.

【0031】顕微鏡本体10は、励起フィルタ11と、
ビームエクスパンダ12と、ダイクロイックミラー(光
分離手段)13と、XYスキャナ(走査手段)14と、
スキャナドライバ15と、集光レンズ16と、図形パタ
ーンターゲット17と、対物レンズ18と、バリアフィ
ルタ19と、集光レンズ20と、ピンホール21と、検
出器22とを備える。
The microscope body 10 includes an excitation filter 11 and
A beam expander 12, a dichroic mirror (light separating means) 13, an XY scanner (scanning means) 14,
It includes a scanner driver 15, a condenser lens 16, a graphic pattern target 17, an objective lens 18, a barrier filter 19, a condenser lens 20, a pinhole 21, and a detector 22.

【0032】励起フィルタ11はレーザ光源1から出射
される所定の波長のレーザ光だけを通過させる特性を有
する。
The excitation filter 11 has a characteristic of passing only laser light of a predetermined wavelength emitted from the laser light source 1.

【0033】ビームエクスパンダ12はレンズ12a,
12bからなり、レーザ光を対物レンズの瞳面を満たす
大きさにする。
The beam expander 12 has lenses 12a,
12b, and the laser beam is sized to fill the pupil plane of the objective lens.

【0034】ダイクロイックミラー13はレーザ光を反
射させ、励起された試料が発する蛍光を透過させる。ダ
イクロイックミラー13は特性の異なる複数のダイクロ
イックミラーA,B,C…からなり、それぞれが光路中
に挿脱可能に設けられている。
The dichroic mirror 13 reflects the laser light and transmits the fluorescence emitted from the excited sample. The dichroic mirror 13 includes a plurality of dichroic mirrors A, B, C,... Having different characteristics, each of which is provided so as to be insertable into and removable from the optical path.

【0035】XYスキャナ14はガルバノ式走査ミラー
14A,14Bからなり、試料に入射するレーザ光を2
次元走査する。
The XY scanner 14 is composed of galvano-type scanning mirrors 14A and 14B.
Perform a dimensional scan.

【0036】スキャナドライバ15はガルバノ式走査ミ
ラー14A,14Bを駆動するガルバノメータドライバ
15A,15Bからなる。ガルバノメータドライバ15
A,15Bは後述する画像処理装置の信号に基づいてガ
ルバノ式走査ミラー14A,14Bの駆動を制御する。
The scanner driver 15 comprises galvanometer drivers 15A and 15B for driving the galvanometer scanning mirrors 14A and 14B. Galvanometer driver 15
A and 15B control the driving of the galvano scanning mirrors 14A and 14B based on signals from an image processing device described later.

【0037】図形パターンターゲット17は集光レンズ
16で形成される1次像面に、スライダ17Aによって
挿脱可能に配置される。
The graphic pattern target 17 is disposed on the primary image plane formed by the condenser lens 16 so as to be insertable and removable by a slider 17A.

【0038】対物レンズ18は図形パターンターゲット
17を通過したレーザ光を試料面23に集光させる。
The objective lens 18 focuses the laser light passing through the graphic pattern target 17 on the sample surface 23.

【0039】バリアフィルタ19はダイクロイックミラ
ー13で反射されず、透過したレーザ光をカットする。
The barrier filter 19 cuts the transmitted laser light which is not reflected by the dichroic mirror 13.

【0040】集光レンズ20はダイクロイックミラー1
3とバリアフィルタ19とを透過した蛍光を集光させ
る。
The condenser lens 20 is a dichroic mirror 1
The fluorescence transmitted through 3 and the barrier filter 19 is collected.

【0041】ピンホール21は対物レンズ18の焦点面
(試料面23)と共役な位置に設けられ、試料面23の
結像部で発した蛍光だけを通過させる。
The pinhole 21 is provided at a position conjugate with the focal plane (the sample surface 23) of the objective lens 18, and allows only the fluorescence emitted from the image forming portion of the sample surface 23 to pass therethrough.

【0042】検出器22はピンホール21を通過した蛍
光を検出し、入力した蛍光を光強度を表す信号に変換
し、モニタ(観察手段)40によって試料面23の画像
化を図る。
The detector 22 detects the fluorescence that has passed through the pinhole 21, converts the input fluorescence into a signal representing the light intensity, and uses the monitor (observing means) 40 to image the sample surface 23.

【0043】コンピュータ30は画像化のための画像処
理装置31、D/Aコンバータ32及びメモリ(記憶手
段)33を備える。画像処理ボードや演算回路、汎用I
/Oボード等で画像処理装置31が構成され、この画像
処理装置31には図形パターンターゲット17の図形の
位置ずれを定量化するための画像処理用ソフトウエアが
インストールされている。
The computer 30 includes an image processing device 31 for imaging, a D / A converter 32, and a memory (storage means) 33. Image processing board, arithmetic circuit, general-purpose I
An image processing device 31 is constituted by an / O board or the like, and image processing software for quantifying the positional displacement of the graphic of the graphic pattern target 17 is installed in the image processing device 31.

【0044】画像処理装置31は、ガルバノ式走査ミラ
ー14A,14Bの制御電圧に対する位置、及び制御電
圧の変化に対するガルバノ式走査ミラー14A,14B
の移動量を予め記憶しており、これに基づいて、図形パ
ターンターゲット17の画像ずれを補正するための制御
信号をD/Aコンバータ32を介してガルバノメータド
ライバ15A,15Bに出力し、ガルバノメータ制御信
号15a,15bのオフセット電圧を微調整する。
The image processing device 31 includes a position for the control voltage of the galvano-type scanning mirrors 14A and 14B, and a change in the control voltage for the galvano-type scanning mirrors 14A and 14B.
The control signal for correcting the image shift of the graphic pattern target 17 is output to the galvanometer drivers 15A and 15B via the D / A converter 32 based on the movement amount of the galvanometer control signal. Finely adjust the offset voltages of 15a and 15b.

【0045】コンピュータ30は光路中に配置されてい
るダイクロイックミラー13の種類を入力するコントロ
ーラ(入力手段)50を備える。このコントローラ50
は光路中に配置されているダイクロイックミラー13の
種類を識別するセンサ(検出手段)25を備える。
The computer 30 has a controller (input means) 50 for inputting the type of the dichroic mirror 13 arranged in the optical path. This controller 50
Is provided with a sensor (detection means) 25 for identifying the type of the dichroic mirror 13 arranged in the optical path.

【0046】図2は図形パターンターゲットのパターン
例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a pattern example of a graphic pattern target.

【0047】図形パターンターゲット17にはガラス平
板に後述する反射パターンが描かれている。
On the graphic pattern target 17, a reflection pattern described later is drawn on a glass flat plate.

【0048】図2(a)は中心付近に1つの点を配置し
た例を示し、この1つの点を基準としてX,Y方向のず
れ量を算出する。
FIG. 2A shows an example in which one point is arranged near the center, and the shift amount in the X and Y directions is calculated based on this one point.

【0049】図2(b)はグリッドパターンを配列した
例を示し、グリッドの交点のうちの数点を基準として
X,Y方向のずれ量を算出する。
FIG. 2B shows an example in which grid patterns are arranged, and the shift amounts in the X and Y directions are calculated based on several points among the intersections of the grid.

【0050】図2(c)は複数の点を格子状に配列した
例を示し、各点のうちの数点を基準としてX,Y方向の
ずれ量を算出する。
FIG. 2C shows an example in which a plurality of points are arranged in a grid pattern, and the amount of displacement in the X and Y directions is calculated with reference to several of the points.

【0051】図2(d)は十字を複数個格子状に配列し
た例を示し、十字の中心のうちの数点を基準としてX,
Y方向のずれ量を算出する。
FIG. 2D shows an example in which a plurality of crosses are arranged in a grid pattern.
The shift amount in the Y direction is calculated.

【0052】上記構成の共焦点レーザ走査顕微鏡の動作
を説明する。
The operation of the confocal laser scanning microscope having the above configuration will be described.

【0053】光源1から出射された励起レーザ光は、励
起フィルタ11を通過した後、ビームエクスパンダ12
に入射し、このビームエクスパンダ12で対物レンズ1
8の瞳面を満たせる大きさに拡大される。
The excitation laser light emitted from the light source 1 passes through the excitation filter 11 and then passes through the beam expander 12.
Incident on the objective lens 1 by the beam expander 12.
It is enlarged to a size that can satisfy the pupil plane of 8.

【0054】この励起レーザ光は、ダイクロイックミラ
ー13によって反射された後、XYスキャナ14によっ
て2次元的に振られ、集光レンズ16、図形パターンタ
ーゲット17及び対物レンズ18を介して試料面23上
に照射され、試料中の蛍光物質を励起して蛍光を発生さ
せる。
The excitation laser light is reflected by the dichroic mirror 13, is two-dimensionally shaken by the XY scanner 14, and is focused on the sample surface 23 via the condenser lens 16, the graphic pattern target 17 and the objective lens 18. Irradiation excites a fluorescent substance in the sample to generate fluorescence.

【0055】この蛍光は励起レーザ光とともに対物レン
ズ18、図形パターンターゲット17及び集光レンズ1
6からXYスキャナ14へと光路を逆行し、ダイクロイ
ックミラー13で励起レーザ光と分離される。
The fluorescence is supplied to the objective lens 18, the graphic pattern target 17 and the condenser lens 1 together with the excitation laser light.
The light travels backward from 6 to the XY scanner 14 and is separated from the excitation laser light by the dichroic mirror 13.

【0056】バリアフィルタ19でレーザ光がカットさ
れた蛍光は集光レンズ20で集光され、試料面23の所
定のスライス面の蛍光だけがピンホール21を通過す
る。その後、蛍光は検出器22で受光されて電気信号に
変換され、モニタ40で画像として表示される。
The fluorescent light whose laser light has been cut by the barrier filter 19 is collected by the condenser lens 20, and only the fluorescent light on a predetermined slice surface of the sample surface 23 passes through the pinhole 21. Thereafter, the fluorescent light is received by the detector 22, converted into an electric signal, and displayed on the monitor 40 as an image.

【0057】図3はコンピュータによる顕微鏡本体の制
御手順を説明するフローチャートである。なお、S1〜
S21は各ステップを示す。まず、図形パターンターゲ
ット17を用いて基準座標を算出し、記憶する工程につ
いて説明する。
FIG. 3 is a flowchart for explaining the control procedure of the microscope main body by the computer. In addition, S1
S21 indicates each step. First, a process of calculating and storing reference coordinates using the graphic pattern target 17 will be described.

【0058】操作者は、スライダ17Aを駆動して所定
の図形パターンターゲット17を一次像面に挿入する
(S1)。
The operator drives the slider 17A to insert the predetermined graphic pattern target 17 into the primary image plane (S1).

【0059】次に操作者は、任意のダイクロイックミラ
ーAを光路に設置する(S2)。
Next, the operator installs an arbitrary dichroic mirror A in the optical path (S2).

【0060】以下、S3〜S7はコンピュータ30によ
る制御フローである。
Hereinafter, S3 to S7 are control flows by the computer 30.

【0061】コンピュータ30は、このダイクロイック
ミラーAを用いて図形パターンターゲット17の画像を
取得する(S3)。
The computer 30 acquires an image of the graphic pattern target 17 using the dichroic mirror A (S3).

【0062】取得した画像を画像処理装置に入力する
(S4)。
The acquired image is input to the image processing device (S4).

【0063】図形パターンターゲットから任意の複数の
点を指定する(S5)。
An arbitrary plurality of points are designated from the graphic pattern target (S5).

【0064】指定した全ての点の位置情報(XY座標)
を算出する(S6)。
Position information (XY coordinates) of all designated points
Is calculated (S6).

【0065】このXY座標を基準座標としてメモリ33
に記憶させる(S7)。
The memory 33 uses the XY coordinates as reference coordinates.
(S7).

【0066】次に、この基準座標に基づいて上記ダイク
ロイックミラーA以外のダイクロイックミラーB,C…
のずれ量を算出し、記憶する工程について説明する。
Next, based on the reference coordinates, dichroic mirrors B, C,...
The process of calculating and storing the shift amount of the shift will be described.

【0067】操作者は、ダイクロイックミラーBを光路
に設置する(S8)。
The operator sets the dichroic mirror B on the optical path (S8).

【0068】以下、S9〜S13はコンピュータ30に
よる制御フローである。
Hereinafter, S9 to S13 are control flows by the computer 30.

【0069】コンピュータ30は、このダイクロイック
ミラーBを用いて図形パターンターゲット17の画像を
取得する(S9)。
The computer 30 acquires an image of the graphic pattern target 17 using the dichroic mirror B (S9).

【0070】取得した画像を画像処理装置に入力する
(S10)。
The acquired image is input to the image processing device (S10).

【0071】図形パターンターゲット17からダイクロ
イックミラーAと同じ複数の点を指定する(S11)。
The same plurality of points as the dichroic mirror A are designated from the graphic pattern target 17 (S11).

【0072】指定した全ての点の位置情報を算出する
(S12)。
The position information of all the designated points is calculated (S12).

【0073】この位置情報と基準座標とのずれ量を算出
し、メモリに記憶する(S13)。
The shift amount between the position information and the reference coordinates is calculated and stored in the memory (S13).

【0074】上記ステップ8〜ステップ13を他の全て
のダイクロイックミラー13C…に対して行う。
Steps 8 to 13 are performed for all the other dichroic mirrors 13C.

【0075】その後、スライダ17Aを駆動して図形パ
ターンターゲット17を1次像面から外す(S14)。
Thereafter, the slider 17A is driven to remove the graphic pattern target 17 from the primary image plane (S14).

【0076】次に、多重染色した試料を載置し、その多
重画像を取得する工程について説明する。
Next, the process of placing a multi-stained sample and obtaining a multi-image thereof will be described.

【0077】操作者は、ダイクロイックミラーAを光路
に設置する(S15)。
The operator sets the dichroic mirror A on the optical path (S15).

【0078】コンピュータ30は、試料の画像を取得す
る(S16)。
The computer 30 acquires an image of the sample (S16).

【0079】次に操作者は、ダイクロイックミラーBを
光路に設置する(S17)。
Next, the operator sets the dichroic mirror B on the optical path (S17).

【0080】コンピュータ30は、ダイクロイックミラ
ーBのダイクロイックミラーAとのずれ量をD/Aコン
バータ32でアナログ信号に変換し(S18)、ガルバ
ノメータドライバ15A,15Bに出力する(S1
9)。
The computer 30 converts the amount of deviation of the dichroic mirror B from the dichroic mirror A into an analog signal by the D / A converter 32 (S18) and outputs the analog signal to the galvanometer drivers 15A and 15B (S1).
9).

【0081】このアナログデータ信号に基づいてガルバ
ノメータドライバ15A,15Bはガルバノメータ制御
信号15a,15bのオフセット電圧を微調整し、ガル
バノ式走査ミラー14A,14Bの位置を補正する(S
20)。
Based on the analog data signal, the galvanometer drivers 15A and 15B finely adjust the offset voltage of the galvanometer control signals 15a and 15b to correct the positions of the galvanometer scanning mirrors 14A and 14B (S
20).

【0082】補正後、試料の画像を取得する(S2
1)。
After the correction, an image of the sample is obtained (S2
1).

【0083】上記ステップ17〜ステップ21を他の全
てのダイクロイックミラーC…に対して行う。
Steps 17 to 21 are performed for all the other dichroic mirrors C.

【0084】なお、ダイクロイックミラー13は、同じ
ダイクロイックミラーであれば、何度切り換えしても位
置ずれを起こさないので、予め全てのダイクロイックミ
ラー13に関して上記のようにずれ量を記憶しておけ
ば、ダイクロイックミラー13を切り換える度に、図形
パターンターゲット17を用いて位置ずれを補正してか
ら画像を取得する必要はない。
If the dichroic mirrors 13 are the same dichroic mirrors, no positional deviation occurs even if the dichroic mirrors are switched any number of times. Whenever the dichroic mirror 13 is switched, it is not necessary to correct the positional deviation using the graphic pattern target 17 and then acquire an image.

【0085】この実施形態によれば、ダイクロイックミ
ラー13を切り換えるだけで位置ずれのない画像を取得
することができる。しかも、蛍光色素毎に最適なダイク
ロイックミラー13を使用できるので、検出器22で検
出される蛍光量を増大でき、画像がマルチバンドフィル
タのように暗くなってしまうこともない。
According to this embodiment, it is possible to obtain an image with no positional displacement simply by switching the dichroic mirror 13. In addition, since the optimal dichroic mirror 13 can be used for each fluorescent dye, the amount of fluorescence detected by the detector 22 can be increased, and the image does not become dark like a multi-band filter.

【0086】図4は多重画像の取得方法(S15〜S2
1)の変形例を説明する図である。
FIG. 4 shows a method of acquiring a multiplex image (S15 to S2).
It is a figure explaining the modification of 1).

【0087】上記実施形態では画像毎にガルバノメータ
ドライバ15A,15Bを駆動して補正しながらずれの
ない画像を取得するようにしたが、この変形例では画像
取得時にはガルバノメータドライバ15A,15Bを駆
動せず、画像取得を開始するタイミングをずらす。
In the above-described embodiment, an image without deviation is acquired while driving and correcting the galvanometer drivers 15A and 15B for each image. In this modified example, the galvanometer drivers 15A and 15B are not driven at the time of image acquisition. The timing for starting the image acquisition is shifted.

【0088】すなわち、図4に示すようにメモリ33に
記憶したずれ量に基づいて垂直方向オフセットVo及び
水平方向オフセットHoを微調整し、各ダイクロイック
ミラー使用時に得た画像を重ね合わせるようにした。
That is, as shown in FIG. 4, the vertical offset Vo and the horizontal offset Ho are finely adjusted based on the shift amounts stored in the memory 33, and the images obtained when each dichroic mirror is used are superimposed.

【0089】図4において、領域A1はスキャン領域、
領域A2は画像取得領域、領域A3は垂直方向オフセッ
トVo及び水平方向オフセットHoをメモリ33に記憶
されたずれ量に応じて変更した後の領域である。
In FIG. 4, an area A1 is a scan area,
The area A2 is an image acquisition area, and the area A3 is an area after the vertical offset Vo and the horizontal offset Ho have been changed according to the shift amount stored in the memory 33.

【0090】この変形例によれば上記実施形態と同様の
効果を発揮することができるとともに、画像の重合せ処
理が省略され、処理時間を短縮することができる。
According to this modification, the same effects as those of the above embodiment can be obtained, and the processing for superimposing images can be omitted, and the processing time can be shortened.

【0091】また、多重画像の取得方法(S15〜S2
1)の更なる変形例を以下に説明する。
Further, a method of acquiring a multiplex image (S15 to S2)
A further modification of 1) will be described below.

【0092】上記実施形態ではガルバノメータドライバ
15A,15Bを駆動して画像ずれを補正したが、この
変形例ではステージ24の位置を移動して画像ずれを補
正する。
In the above embodiment, the image deviation is corrected by driving the galvanometer drivers 15A and 15B. In this modification, the position of the stage 24 is moved to correct the image deviation.

【0093】図1に示すように、画像処理装置31は、
各ダイクロイックミラーでの画像取得時に、メモリ33
に記憶したずれ量に基づいて、D/Aコンバータ32を
介してステージ駆動装置26に制御信号を送信する。
As shown in FIG. 1, the image processing device 31
When an image is acquired by each dichroic mirror, the memory 33
The control signal is transmitted to the stage driving device 26 via the D / A converter 32 based on the deviation amount stored in the stage.

【0094】ステージ駆動装置26はこの制御信号に応
じて、各ダイクロイックミラーでの画像取得時にステー
ジ位置を調整する。
The stage driving device 26 adjusts the stage position when acquiring an image with each dichroic mirror according to the control signal.

【0095】このステージ位置の調整により、各ダイク
ロイックミラーで得た画像のずれが正確に補正される。
By adjusting the stage position, the displacement of the image obtained by each dichroic mirror is accurately corrected.

【0096】この変形例によっても、上記実施形態と同
様の効果を発揮することができる。
According to this modification, the same effect as in the above embodiment can be exhibited.

【0097】更に、ステップ1〜ステップ14に示すよ
うに図形パターンターゲットを用いてずれ量を算出する
のではなく、各ダイクロイックミラー13の傾斜角の誤
差量を予め計測しておき、その計測値からずれ量を算出
し、これらのずれ量をコントローラ50を介してメモリ
33に記憶しておき、上記実施形態と同様にステップ1
5〜ステップ21によってずれのない画像を取得するよ
うにしてもよい。
Further, instead of calculating the shift amount using the graphic pattern target as shown in Steps 1 to 14, the error amount of the tilt angle of each dichroic mirror 13 is measured in advance, and the error is calculated from the measured value. The shift amounts are calculated, and these shift amounts are stored in the memory 33 via the controller 50.
5 to 21 may be used to obtain an image without any shift.

【0098】なお、上記実施形態では、図形パターンタ
ーゲット17を1次像面に設けたが、一定位置に保持で
きれば1次像面に限らず光路上の任意の位置に設けても
よく、例えば試料面23に設けることも可能である。
In the above embodiment, the graphic pattern target 17 is provided on the primary image plane. However, the graphic pattern target 17 may be provided at any position on the optical path as long as it can be held at a fixed position. It is also possible to provide it on the surface 23.

【0099】また、上記実施形態ではコンピュータを用
いソフトウェア処理を行う構成例を示したが、ランダム
ロジック回路を用いてガルバノメータドライバ15A,
15Bの駆動を制御するようにしてもよい。
In the above embodiment, an example of a configuration in which software processing is performed using a computer has been described. However, a galvanometer driver 15A,
The driving of 15B may be controlled.

【0100】また、本発明は上記実施形態及びその変形
例で示した共焦点レーザ走査顕微鏡に限るものではな
く、超高圧水銀灯やハロゲンランプ等を用いた通常の蛍
光顕微鏡に用いることができる。
The present invention is not limited to the confocal laser scanning microscope described in the above embodiment and its modifications, but can be used for ordinary fluorescent microscopes using an ultra-high pressure mercury lamp, a halogen lamp or the like.

【0101】この場合、XYスキャナが無いため、この
部材によるずれ補正はできないが、ステージの位置制御
によるずれ補正は可能である。
In this case, since there is no XY scanner, the displacement cannot be corrected by this member, but the displacement can be corrected by controlling the position of the stage.

【0102】また、観察手段としてCCDカメラを用い
た場合、図4に示すA1をCCDカメラの受光領域、A
2,A3を実際に画像として取得する画像取得領域とす
れば、この画像取得領域をずらすことにより、画像ずれ
を補正することができる。
When a CCD camera is used as the observation means, A1 shown in FIG.
Assuming that A2 and A3 are image acquisition areas to be actually acquired as images, image displacement can be corrected by shifting the image acquisition areas.

【0103】[0103]

【発明の効果】以上に説明したように請求項1に記載の
発明の蛍光顕微鏡によれば、入力手段によって制御手段
に入力された、光分離手段の種類に応じた誤差等の情報
を記憶しておき、画像取得時、この情報に基づいて観察
手段又はステージを制御して取得画像のずれを補正する
ので、ずれのないしかも明るい多重画像を得ることがで
きる。
As described above, according to the fluorescence microscope of the first aspect of the present invention, information such as an error according to the type of the light separating means, which is input to the control means by the input means, is stored. In addition, at the time of image acquisition, the observation means or the stage is controlled based on this information to correct the deviation of the acquired image, so that a bright and multiplexed image without any deviation can be obtained.

【0104】請求項2に記載の発明の蛍光顕微鏡によれ
ば、入力手段によって制御手段に入力された、光分離手
段の種類に応じた誤差等の情報を記憶しておき、画像取
得時、この情報に基づいて走査手段を制御して取得画像
のずれを補正するので、ずれのないしかも明るい多重画
像を得ることができる。
According to the fluorescence microscope of the second aspect of the present invention, information such as an error corresponding to the type of the light separating means, which is input to the control means by the input means, is stored. Since the deviation of the acquired image is corrected by controlling the scanning means based on the information, a bright and multiplexed image without deviation can be obtained.

【0105】請求項3に記載の発明の蛍光顕微鏡によれ
ば、光路に配置される光分離手段の種類を識別する検出
手段によって光分離手段の種類を容易に識別できる。
According to the fluorescence microscope of the third aspect of the invention, the type of the light separating means can be easily identified by the detecting means for identifying the type of the light separating means arranged in the optical path.

【0106】請求項4に記載の発明の蛍光顕微鏡によれ
ば、記憶手段に記憶されたずれ情報に基づいてガルバノ
式走査ミラーの反射角を制御するオフセット電圧を調整
するので、ガルバノ式走査ミラーをアナログ制御して正
確にずれ量を補正できる。
According to the fluorescence microscope of the fourth aspect of the present invention, the offset voltage for controlling the reflection angle of the galvano-type scanning mirror is adjusted based on the shift information stored in the storage means. Analog control can accurately correct the deviation amount.

【0107】請求項5に記載の発明の蛍光顕微鏡によれ
ば、光源からの光が試料に照射される領域から実際に画
像として取得する画像取得領域を選択し、記憶手段に記
憶されたずれ情報に基づいて、観察手段による画像取得
領域をずらすので、画像ずれが補正される。
According to the fluorescence microscope of the present invention, an image acquisition area to be actually acquired as an image is selected from an area where light from a light source irradiates the sample, and the shift information stored in the storage means is selected. , The image acquisition area by the observation means is shifted, so that the image shift is corrected.

【0108】請求項6に記載の発明の蛍光顕微鏡によれ
ば、記憶手段に記憶したずれ情報に基づいて、ステージ
を垂直方向及び水平方向にオフセットし、画像を重ね合
わせるので、画像ずれが補正される。
According to the fluorescence microscope of the present invention, since the stage is offset in the vertical and horizontal directions and the images are superimposed on the basis of the displacement information stored in the storage means, the image displacement is corrected. You.

【0109】請求項7に記載の発明の蛍光顕微鏡によれ
ば、光分離手段毎のずれ量を図形パターンのずれ量から
算出して記憶し、画像取得時、記憶されたずれ量に基づ
いて観察手段、ステージ又は走査手段を制御するので、
取得画像のずれが補正される。
According to the fluorescence microscope of the present invention, the shift amount of each light separating means is calculated from the shift amount of the graphic pattern and stored, and when acquiring an image, observation is performed based on the stored shift amount. Control means, stage or scanning means,
The displacement of the acquired image is corrected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1はこの発明の蛍光顕微鏡の一実施形態に係
る共焦点レーザ走査顕微鏡のブロック構成図である。
FIG. 1 is a block diagram of a confocal laser scanning microscope according to one embodiment of a fluorescence microscope of the present invention.

【図2】図2は図形パターンターゲットのパターン例を
示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a pattern example of a graphic pattern target;

【図3】図3はコンピュータによる顕微鏡本体の制御手
順を説明するフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart illustrating a control procedure of a microscope main body by a computer.

【図4】図4は多重画像の取得方法の変形例を説明する
図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a modification of the method of acquiring a multiplex image.

【図5】図5はトリプルバンドフィルタの透過・反射特
性の一例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating an example of transmission / reflection characteristics of a triple band filter.

【図6】図6は蛍光色素FITCの吸収度及び蛍光強度
特性を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing the absorbance and fluorescence intensity characteristics of the fluorescent dye FITC.

【図7】図7は蛍光色素Cy3.5の吸収度及び蛍光強
度特性を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing the absorbance and fluorescence intensity characteristics of a fluorescent dye Cy3.5.

【図8】図8は蛍光色素Cy5の吸収度及び蛍光強度特
性を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing the absorbance and fluorescence intensity characteristics of the fluorescent dye Cy5.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザ光源 13 ダイクロイックミラー(光分離手段) 14 XYスキャナ(走査手段) 14A,14B ガルバノ式走査ミラー 18 対物レンズ 25 センサ(検出手段) 30 コンピュータ(制御手段) 33 メモリ(記憶手段) 40 モニタ(観察手段) 50 コントローラ(入力手段) Reference Signs List 1 laser light source 13 dichroic mirror (light separating means) 14 XY scanner (scanning means) 14A, 14B galvano-type scanning mirror 18 objective lens 25 sensor (detecting means) 30 computer (control means) 33 memory (storage means) 40 monitor (observation) Means) 50 controller (input means)

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 励起光を発する光源と、 試料を載置するステージと、 光路中に切換可能に設けられ、前記光源からの励起光を
反射するとともに、前記試料からの蛍光を透過する複数
の光分離手段と、 前記光分離手段を透過した蛍光の画像を得る観察手段と
を有する蛍光顕微鏡において、 画像取得時に前記光路に配置されている前記光分離手段
の種類に関する情報を入力する入力手段と、 前記各光分離手段における画像取得時の画像ずれ情報を
記憶する記憶手段と、 前記入力手段からの情報に基づいて、前記記憶手段に記
憶された画像ずれ情報を読み出すとともに、異なる種類
の前記光分離手段によって得られる画像が重ね合わさる
ように前記観察手段又は前記ステージを制御する制御手
段と、を有することを特徴とする蛍光顕微鏡。
1. A light source that emits excitation light, a stage on which a sample is mounted, and a plurality of switches provided in a light path so as to be switchable and reflect excitation light from the light source and transmit fluorescence from the sample. In a fluorescence microscope having a light separating unit and an observation unit for obtaining an image of fluorescence transmitted through the light separating unit, an input unit for inputting information regarding a type of the light separating unit arranged in the optical path at the time of image acquisition. A storage unit for storing image shift information at the time of image acquisition in each of the light separating units; and reading out the image shift information stored in the storage unit based on information from the input unit; Control means for controlling the observation means or the stage so that images obtained by the separation means are superimposed on each other.
【請求項2】 励起レーザ光を出射する光源と、 前記励起レーザ光を反射させるとともに、蛍光を透過さ
せ、光路中に切換え可能に設けられた複数の光分離手段
と、 前記励起レーザ光を試料上で2次元走査する走査手段
と、 前記走査手段と試料との間に配置された対物レンズと、 前記光分離手段を透過した蛍光の画像を得る観察手段と
を備える蛍光顕微鏡において、 画像取得時に前記光路に配置されている前記光分離手段
の種類に関する情報を入力する入力手段と、 前記各光分離手段における画像取得時の画像ずれ情報を
記憶する記憶手段と、 前記入力手段からの情報に基づいて前記記憶手段に記憶
された画像ずれ情報を読み出すとともに、異なる種類の
前記光分離手段によって得られる画像が重ね合わさるよ
うに前記走査手段を制御する制御手段とを備えているこ
とを特徴とする蛍光顕微鏡。
2. A light source that emits an excitation laser beam, a plurality of light separating means that reflect the excitation laser beam, transmit fluorescence, and are switchably provided in an optical path; A fluorescence microscope comprising: a scanning unit that performs two-dimensional scanning on the scanning unit; an objective lens disposed between the scanning unit and the sample; and an observation unit that obtains an image of fluorescence transmitted through the light separation unit. Input means for inputting information about the type of the light separating means arranged in the light path; storage means for storing image shift information at the time of image acquisition in each of the light separating means; and information based on the information from the input means. Read out the image shift information stored in the storage means, and control the scanning means so that images obtained by different types of light separation means are superimposed. Fluorescence microscope, characterized in that a control means.
【請求項3】 前記入力手段は前記光路に配置される前
記光分離手段の種類を識別する検出手段を備えることを
特徴とする請求項1又は2に記載の蛍光顕微鏡。
3. The fluorescence microscope according to claim 1, wherein the input unit includes a detecting unit that identifies a type of the light separating unit disposed on the optical path.
【請求項4】 前記走査手段は、ガルバノ式走査ミラー
を備え、 前記制御手段は、前記記憶手段に記憶されたずれ情報に
基づいて、前記ガルバノ式走査ミラーの反射角を制御す
るオフセット電圧を調整することを特徴とする請求項2
に記載の蛍光顕微鏡。
4. The scanning unit includes a galvano-type scanning mirror, and the control unit adjusts an offset voltage for controlling a reflection angle of the galvano-type scanning mirror based on the shift information stored in the storage unit. 3. The method according to claim 2, wherein
The fluorescence microscope according to 1.
【請求項5】前記観察手段は、前記光源からの光が前記
試料に照射される領域から画像取得領域を選択し、 前記制御手段は、前記記憶手段に記憶されたずれ情報に
基づいて、前記観察手段による画像取得を開始するタイ
ミングを制御することを特徴とする請求項1に記載の蛍
光顕微鏡。
5. The observation means selects an image acquisition area from an area where light from the light source irradiates the sample, and the control means, based on shift information stored in the storage means, 2. The fluorescence microscope according to claim 1, wherein a timing at which an image acquisition by the observation means is started is controlled.
【請求項6】前記制御手段は、前記記憶手段に記憶され
たずれ情報に基づいて、前記ステージの位置を制御する
ことを特徴とする請求項1に記載の蛍光顕微鏡。
6. The fluorescence microscope according to claim 1, wherein said control means controls the position of said stage based on shift information stored in said storage means.
【請求項7】 前記対物レンズの1次像面に配置された
図形パターンを更に有し、 前記観察手段は、前記各光分離手段毎の前記図形パター
ンの画像を取得し、取得した画像の1つを基準として他
の画像のずれ量を算出するとともに、ずれ情報として前
記記憶手段に記憶させることを特徴とする請求項1〜6
のいずれかに記載の蛍光顕微鏡。
7. The apparatus according to claim 1, further comprising a graphic pattern arranged on a primary image plane of the objective lens, wherein the observation unit obtains an image of the graphic pattern for each of the light separating units, and obtains one of the obtained images. 7. A shift amount of another image is calculated on the basis of one of the images, and is stored in the storage unit as shift information.
The fluorescence microscope according to any one of the above.
JP9224322A 1997-08-06 1997-08-06 Fluorescent microscope Withdrawn JPH1152252A (en)

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Cited By (11)

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