JPH11506892A - 改良型3次元撮像装置 - Google Patents

改良型3次元撮像装置

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Abstract

(57)【要約】 複数の解像要素を含む被写体を撮像するための改良型3次元撮像装置は、該被写体に放射線を送る振幅変調放射線源(28)と、少なくとも1つの光電画像検出器(12,14,16)と、該被写体から反射された放射線(36)を検出するための、前記変調放射線源の周期の少なくとも3つの部分(37,38,39)の間に少なくとも1つの画像検出器を同期して動作可能とする手段と、放射された放射線と反射された放射線の間の位相角を計算するための手段(40)と、前記位相角を計算する手段に応答して、被写体の複数の要素相互間の距離を計算する手段(40)とを含む。

Description

【発明の詳細な説明】 改良型3次元撮像装置 発明の分野 本発明は、改良型3次元撮像装置に関する。 発明の背景 可視、および赤外撮像装置は、例えば、工業分野、輸送分野、宇宙、および環 境分野における商業的応用と同様に、監視、遠方観察、夜間視野、および誘導武 器制御に関する、基本的な情報を提供する軍事的応用分野のような多くの応用分 野で、有用である。従来の撮像装置は、しかしながら、一般に2次元撮像しか提 供せず、上記の多くの軍事および商業分野は、3次元撮像を望んでいた。これら 、および他の分野に対して、レーザ測距儀は、一点測距を提供することにより、 従来の2次元撮像器を強化するのに用いられてきた。しかしながら、これらの装 置の有用性には、一情景の中で多数の被写体を撮像することができない、という 制約がある。 走査ライダー装置は、一情景の中で多数の被写体を撮像、および測距すること ができるが、その応答時間は遅く、全景をラスタ走査するために取る時間によっ て制約されている。このように、これらの装置はリアルタイムの3次元撮像を提 供してはいない。他の3次元撮像装置は、多数の観察光景に多重カメラを必要と する立体視技術を利用している。これらの装置は、非常に多くのハードウェアを 必要とし、大変高価である。さらに、他の3次元撮像装置は、撮像すべき情景を 照明し、情景内の被写体の測距をなしとげるために反射光の強度データを利用し ている。しかしながら、情景照明のバラツキが、大きな問題である。また、多く の被写体は、その表面での反射率にバラツキがあり、異なる被写体は、異なる反 射率を有するので、測距の不正確さは当然である。 発明の要約 したがって、リアルタイムで3次元撮像を提供する改良された3次元撮像装置 を提供することが、本発明の目的である。 さらに、複合した情景中の多数の被写体を撮像することができるような3次元 撮像装置を提供することが、本発明の目的である。 さらに、立体視技術で要求されるような、多数の位置からよりも、むしろ単一 位置からの3次元撮像を提供するような3次元撮像装置を提供することが、本発 明の目的である。 さらに、測距函数を完成するために、光強度データに依存しないような3次元 撮像装置を提供することが、本発明の目的である。 さらに、従来の立体視装置よりも、より少ないハードウェアで、かつ費用も少 なくて済むような3次元撮像装置を提供することが、本発明の目的である。 本発明は、複数の解像可能な要素を含む被写体のリアルタイムの撮像を提供す ることができる改良型3次元撮像装置が、被写体に対して振幅変調した放射線を 当てることにより、また、振幅変調放射線周期の少なくとも3つの異なる部分の 間、被写体からの反射した放射線を検出することにより、また、放射線と反射さ れた放射線との間の位相角を計算することにより、および位相角から、被写体の 複数の解像可能な要素の距離を、他の被写体との間で互いに計算することにより 達成される、という事実から由来する。 本発明は、複数の解像可能な要素を含む被写体を撮像する、3次元撮像装置で あることを特徴とする。本装置は、被写体に放射線を放射するための振幅変調放 射線源と、少なくとも1個の光電画像検出器を有する。被写体から反射された放 射線を検出するための変調放射線周期の少なくとも3つの部分の間、少なくとも 1個の検出器を同期して動作可能にする手段がある。被写体の複数の要素の距離 を、他の被写体との間で互いに計算するために、位相角を計算する手段に応答す る、放射線と反射放射線との間の位相角を計算する手段がある。 好ましい実施例では、放射線源は、正弦波振幅変調放射線源であってもよい。 放射線源は、被写体を照射するレーザ光源を含んでもよい。該放射線源は、発光 ダイオードを含んでもよい。少なくとも1個の光電画像検出器は、CCD撮像器 であってもよい。同期して動作可能とする手段に応答して、前記変調放射線源の 各周期の少なくとも3つの部分の間に放射線を検出する手段を含む1つの光電画 像検出器があってもよい。3つの光電画像検出器があってもよく、同期して動作 可能とする手段は、振幅変調放射線源の各周期の少なくとも3つの部分の個々の 間、異なる検出器を動作可能にする手段を含んでもよい。少なくとも1個の検出 器は、振幅変調放射線源の各3分の1の周期で動作されてもよい。位相角計算手 段は、放射線と、複数の要素の各々から反射された、装置によって受光された放 射線との間の位相角を計算する手段を含んでもよい。さらに、少なくとも1つの 光電画像検出器に応答して、被写体から反射した、検出された放射線から被写体 の2次元反射画像を生成する手段を含んでもよい。さらに、距離の計算手段に応 答して、複数の要素相互間の距離の表示を生成する手段を含んでもよい。さらに 、距離の計算手段に応答して、複数の要素相互間の距離を含む被写体の3次元画 像の表示を生成する手段を含んでもよい。さらに、位相角の計算手段に応答して 、撮像装置に対する複数の要素の絶対距離を計算する手段を含んでもよい。絶対 距離を計算する手段は、第1の周波数で照射を行う前記振幅変調放射線源におい て、放射された放射線と、各複数の要素から反射されて装置により受取られた放 射線との間の第1の位相角組を計算する手段と、前記振幅変調放射線源の周波数 を第2の周波数に調整する手段と、第2の周波数における放射された放射線と、 各複数の要素から反射されて装置により受取られた放射線との間の第2の位相角 組を計算する手段と、第1および第2の位相角の組と第1および第2の周波数と に応答して、複数の要素の装置からの絶対距離を決定する手段とを含んでいても よい。前記絶対距離を計算する手段に応答して、前記複数の要素の撮像装置から の絶対距離の表示を生成する手段をさらに含んでもよい。前記絶対距離を計算す る手段および前記2次元反射画像を生成する手段に応答して、前記複数の解像要 素の撮像装置への絶対距離を含む、被写体の3次元画像の表示を生成する手段を さらに含んでもよい。装置と被写体の間の相対移動のために装置にもたらされた ドップラー効果を補償する手段をさらに含んでもよい。前記補償する手段は、複 数の連続する所定期間にわたって、放射された放射線と反射された放射線との間 の計算された位相角の平均値を繰返し求める手段を含んでもよい。求められたい ずれか2つの連続する計算された位相角の平均値の間に、変化があったかどうか を判定する手段と、同期して動作可能とする手段を調整する手段であって、前記 検出器の可動化の頻度を変化させて、前記計算された位相角の平均値を複数の連 続する所定時間にわたって等しくなるようにし、ドップラー効果を補償する調整 手段とをさらに含んでもよい。本発明は、また、複数の解像要素を有する被写体 を撮像する3次元撮像装置であることを特徴とする。本装置は、撮像される被写 体に照光するための正弦波振幅変調光源を含む。少なくとも1つの同期してゲー ト制御されるCCD撮像器と、被写体から反射された光を検出するための、前記 変調光源の正弦波期間の少なくとも3つの部分の間に、前記少なくとも1つのC CD撮像器を同期して動作可能とする手段とがある。放射光と反射光の間の位相 角を計算する手段がある。位相角を計算する手段に応答して、被写体の複数の要 素相互間の距離を計算する手段がある。前記距離を計算する手段に応答して、被 写体の複数の要素相互間の距離を表示する手段がある。 本発明はさらに、複数の解像可能な要素を有する被写体を撮像する3次元撮像 装置であることを特徴とする。本装置は、撮像される被写体に照光するための正 弦波振幅変調光源と、少なくとも1つの同期してゲート制御されるCCD撮像器 とを含む。被写体から反射された光を検出するための、前記変調光源の正弦波期 間の少なくとも3つの部分の間に、前記少なくとも1つのCCD撮像器を同期し て動作可能とする手段がある。前記少なくとも1つのCCD撮像器に応答して、 被写体から反射された検出光から、被写体の2次元反射画像を生成する手段があ る。放射光と反射光の間の位相角を計算する手段と、位相角を計算する手段に応 答して、被写体の複数の要素相互間の距離を計算する手段とがある。前記距離を 計算する手段と前記2次元反射画像を生成する手段とに応答して、被写体の複数 の要素相互間の距離を含む、被写体の3次元画像を生成する手段とがある。 本発明はさらに、複数の解像可能な要素を有する被写体を撮像する3次元撮像 装置であることを特徴とする。本装置は、撮像される被写体に放射線を放射する ための振幅変調放射線源を含む。少なくとも3つの光電画像検出器と、被写体か ら反射された放射線を検出するための、前記変調放射線源の周期の異なる部分の 間に、前記検出器を同期して動作可能とする手段とがある。放射された放射線と 反射された放射線の間の位相角を計算する手段と、位相角を計算する手段に応答 して、被写体の複数の要素相互間の距離を計算する手段とがある。 好適な実施例の開示 他の目的、特徴および利点は、下記の好ましい実施例の記述と、付帯する図面 から、当該技術分野の専門家に思い浮かぶであろう。 図1は、CCD撮像器をゲート制御するタイミング図を含む、本発明の3次元 撮像装置の概略図である。 図2Aは、図1の装置の光学ヘッドの概略図である。 図2Bは、図1の装置の光学ヘッドの代案の断面図である。 図2Cは、図1の装置の光学ヘッドの代案の断面図である。 図3は、図1の装置から放射され、そこで受光された光の軌跡である。 図4は、本発明による、撮像すべき被写体の表面に放射され、そこから反射さ れる光の側面図である。 図5は、図1に示した装置の詳細な系統ブロック図である。 図6は、図5の絶対距離変換回路の操作を説明する流れ図である。 図7は、本発明に従った被写体の3次元表示である。 図8は、図1の3つの同期ゲート制御CCD撮像器の1つの系統ブロック図で ある。 図9は、図2Cの同期ゲート制御CCD撮像器の系統ブロック図である。 図1に示すのは、3台の同じCCD撮像器12、14および16を含む、改良 された3次元撮像装置10である。対物レンズ18、20および22は、撮像す べき被写体26の表面から反射光24を受け取って、CCD撮像器12、14お よび16上に集束させる。被写体26から反射される光24は、光源28から発 せられ、光源28は、LDP4500Cレーザダイオード、ダイオード励起固体 レーザイリュミネータ(a diode pumped solid state laser illuminator)、ま たは発光ダイオード(LED)などのレーザダイオードイリュミネータなどであ り、正弦波発生器30によって例えば1MHzの高周波で正弦波変調されて、撮 像器視野を満たすために光ビーム32を発する。発光波長としては、通常808 nmのものが使用されるが、これはCCD撮像器12、14および16のピーク レスポンスに近いからである。撮像すべき被写体が1つしか示されていないが、 これは本発明に必要な制限ではなく、装置10の視野内に被写体が幾つあっても 、CCD画素の数が被写体を解像するのに十分であれば、撮像可能である。 正弦波発生器30によって駆動されるゲート回路34は、各CCD撮像器への 光24の入力をシャッターし、各撮像器は、正弦波変調された光32の各サイク ルのそれぞれ別の部分の間、電源を投入される。詳細は、図8を参照して後述す る。CCD撮像器12、14および16はまた、光学式シャッター12a、14 aおよび16aをCCD撮像器の前に配置することによってゲート制御されても よい。光学式シャッターは、例えば、ゲーテッドマイクロチャネルプレート撮像 器(gated microchannel plate imagers)、ゲーテッド近接集束イメージ倍増管 (gated proximity focused image intensifiers)、電子切換ポッケルス電池( electronically switched Pockel's cell)、液晶シャッター、または、メカニ カルシャッターで実現されてもよい。 回路34は、放射光32の変調周波数35と同期して、撮像器12、14およ び16をゲート制御し、各撮像器は、各フルサイクル36のそれぞれ異なる部分 の間、電源を投入されるか、または、開かれて、各サイクルの残余部分の間、電 源を切られるか、または、閉じられる。本実施例において、CCD撮像器12、 14および16は、それぞれ、1/30秒の各CCD画像フレーム時間につき、 非常に多くの回数、例えば1MHzの変調周波数なら約33,000回まで、正 弦波35の各サイクル36の120°(またはそれ以下)の部分37、38およ び39の間、電源を投入され、各サイクルの残余部分の間、電源を切られる。各 画像フレーム時間の最後に、各CCD画素からの平均強度レベルIR、Isおよび ITが、CCD撮像器から読み出され、表示装置42に与えられる。3台の 各CCD撮像器からの対応画素(すなわち、各CCD撮像器からの画素(1,1)) の強度レベルは合計され、平均画素強度レベル、または、IおよびJがXおよび Y画素の位置に対応するような各画素の反射レベルRUが、被写体26の2次元 反射画像を表示するために表示装置42に与えられる。強度レベルIR、ISおよ びITはまた、他の様々な外部アプリケーションに使用可能である。 また、各画像フレーム時間の最後に、CCD撮像器12、14および16の各 画素からの強度レベルIR.ISおよびITは、それぞれ、放射光32と、各画素 で受光された光24との間の位相角を求める3次元画像計算機40に与えられる 。位相角から、装置10から被写体26の各解像要素(すなわち、画素によって 撮像される被写体の各要素)までの光軸に沿う距離が算出される。例えば、各C CD撮像器の画素(1,1)は被写体26の同一の要素を解像し、したがって、 画素(1,1)から被写体26上の要素まで、1つの距離だけが、各撮像器の画 素(1,1)からの強度情報を用いて算出されることに注目されたい。装置10 から被写体26までの距離が変調周波数の波長の2分の1を越える場合、装置1 0から被写体26上の各解像要素までの距離は、相対変調λ/2の距離でしかな い。換言すれば、この情報は、装置10に関して、他の解像要素を基準とした各 解像要素の位置だけを示している。この相対距離情報は、各画像フレーム時間の 最後に、表示装置42に与えられる。装置10から解像される被写体26の各画 像要素までの絶対距離も、3次元画像計算機40によって計算し、表示装置42 に与えることが可能である。画像の第3の距離(相対的でも絶対的でも)は、2 次元反射画像と合成されて、表示装置42に、例えば、アイソメトリック表示と して表示される3次元像を形成する。 装置10から被写体26の各解像要素までの絶対距離を求めるために使用され る1つの方法は、変調周波数の一時的な調整を必要とし、それは、調整信号を線 41を介して正弦波発生器30に与えることによって達成される。このプロセス は、図6を参照して詳細に後述する。 3次元画像計算機40はまた、ドップラー効果を補償するが、このドップラー 効果は、CCD撮像器12、14および16へのオン/オフゲート信号の周波数 を、源変調周波数を基準として調整することによって、装置10と被写体6とが 相対的に移動するために起こる。このプロセスは、図5を参照して後述するが、 調整信号を線43を介してゲート回路34に与えることによって達成される。 図2Aにおいて、光学ヘッド44は、通常、対物レンズ18、20および22 を整列させ、光源28をレンズについてほぼ中央に置いて構成される。光学ヘッ ド44は、各CCD撮像器の対応画素が、被写体26の同一の要素から反射され る光24を受け取り、こうして、それぞれが被写体26の同一の要素を解像する ように構成されている。 図2Bにおいて、他の光学ヘッド44aは、入射する反射光24を受け取る対 物レンズ45を1つだけ有する。反射光24の3分の1は、24’で示すように 、部分的に透過するミラー46を通過して、CCD撮像器12上に集束され、一 方、入射光24の残りの3分の2は、24’’で示すように、ミラー46の表面 で反射され、部分的に透過するミラー48に向けられる。ミラー48は、残余光 の2分の1(24’’’)を、CCD撮像器14に通し、残余光の他の2分の1 (24’’’’)は、CCD撮像器16の表面上に反射される。この図では示さ れていないが、光源28は、対物レンズ45に近接して位置する。CCD撮像器 12、14および16の各対応画素はまた、被写体26から同じ反射光24を受 け取り、したがって、それぞれが、被写体26の同一の要素を解像する。 図2Cは、1つのCCD撮像器12’および対物レンズ12a’を用いる構成 を示しており、変調放射線(modulated radiation)のサイクルにつき、3つの サンプルを同時にゲート制御し、統合することが可能である。この機能を有する 撮像器は、コロラド州コロラド・スプリングスのD.Gardner of SMD,Inc.によ って製造されており、また、T.Sprigと、P.Seitzと、O.Vietzeと、F.Heitzg erとによる記事である,IEEE Journal of Quantum Electronics,Vol.31,No. 9,September 1995「The Lock-In CCD-Two-Dimensional Synchronous Detection of Light」に記載されており、全文を参照して本明細書中に取り入れられてい る。図1のゲート回路34は、図9を参照して以下に詳述されるように、ゲート 信号をCCD撮像器12’に与え、同期して撮像器12’をゲート制御し、サイ クル ごとに少なくとも3つのサンプルを得る。 図3の放射光32は、例えば1MHzの変調周波数で平均DC値IDC位の強度 レベルIVで変調される。CCD撮像器12、14および16の1画素によって 受け取られる、反射または後方に散乱する光24aは、角度φの位相でシフトし て示されている。この位相シフトは、装置10に関して、1画素によって解像さ れた、図1の被写体26の要素の距離を算出するために用いられる。他の画素に よって受光された反射光の位相シフトを求めることによって、装置10に関する 、要素間の相対オフセット距離が算出される。装置10に対する、被写体26の 解像要素の絶対距離も求められる。 平均DC値IDCや変調強度レベルIvは、光が被写体26に伝播され反射され るときに減衰するが、これらにかかわらず放射され受光される光間の位相角差φ を求めるために、受光される光24の強度レベルが、各画像フレーム時間中、放 射光32の変調周波数の各サイクルの少なくとも3つの部分の間、監視されなけ ればならない。このような監視は、少なくとも3台のCCD撮像器を用いて、ま たは、変調放射線のサイクルにつき、少なくとも3つのサンプルをゲート制御し 統合することが可能な1つのCCD撮像器を用いて行われる。各画像フレーム時 間の最後に、各サイクルの3つの部分の間、フレーム時間にわたって、累積され る光の強度レベルが、以下に述べるように、各画素位置で受光される光の位相角 を算出するために用いられる。 放射光32の変調周波数と同期して、0°から最大120°の角度まで、CC D撮像器12は、ゲートオンされて反射光24aを受け取っており、一方、CC D撮像器14および16は、ゲートオフされてこの周期中の反射光24aの受光 を妨げられる。120°で、CCD撮像器14は、同じサンプル周期間、ゲート オンされて反射光24aを受光しており、一方、CCD撮像器12および16は ゲートオフされてこの周期中の反射光の受光を妨げられる。240°で、CCD 撮像器16は、同じサンプル周期間、ゲートオンされて反射光24aを受光して おり、一方、CCD撮像器12および14はゲートオフされてこの周期中の反射 光の受光を妨げられる。こうして、放射光32の変調周波数と同期して光 24aを受光する1つのフルサイクルが完了する。別のゲート時間が用いられて もよいが、最適なゲート時間は、各サイクルの1/6、または、ゲートオンされ るCCD撮像器ごとに60°である。変調位相角を一意に定めるために、サイク ルごとに3つのサンプルが必要である。サンプル間の最適な間隔は、120°で ある。 このプロセスは、CCD撮像器の各画素中に累積された受光された光24に対 応する画素の信号IR、IS、ITが、各画素(I,J)における位相角差φが求 められる3次元画像計算機に与えられる場合、各画像フレーム時間の最後まで続 く。各画素(I,J)における算出された位相角φUから、装置10と被写体2 6の各解像要素との間の距離zUが算出される。装置10が被写体26から波長 の2分の1以上離れて位置している場合、算出された距離zUは相対変調λ/2の オフセット距離であり、絶対距離ではない。すなわち、これらの距離は、被写体 26の1つの要素が装置10から200メートル離れていて、他の要素が装置1 0から200.1メートル離れていることを示しているというよりも、むしろ、 例えば、被写体26の1つの解像要素は他の解像要素よりも装置10に10cm 近いことを示している。 放射光32の位相角は、通常0ラジアンに設定されており、したがって、各画 素位置において図1の受光された光24の算出された位相角φRCVは、次式によ って、各解像要素(すなわち、所定の画像位置で解像された被写体26上の要素 )の装置10までの距離zを算出するために、用いることができる。 2z=(c/fm)(φRCV/2π) (1) cは光速であり、fmは放射された光の変調周波数であり、φRCVは被写体26の 解像要素から反射された受光される光のラジアンでの位相角である。 被写体の個別の要素から装置10までの距離zUの算出は、図4の表面50を 参照して説明され、表面50は、装置10から、変調周波数の波長の2分の1よ りも大きい未知の距離をおいて位置する。こうして、式(1)によって各解像要 素ごとにzを計算することによって、変調周波数波長の2分の1と等しい距離を おいた位置にある任意の平面52からの相対変調λ/2の距離だけが求められる 。表面50上の要素54は、放射光55を受け取り、例えば、装置10の画素( I,1)によって受光されて解像される光56を反射する。装置10は、画素に よって受光される光の位相角φRCVI1を計算し、0ラジアンにする。表面50上 の要素58は、要素54よりも装置10に近い位置にあり、したがって、放射線 59が要素58上に当たるとき、要素58は光60を反射し、光60は、例えば 、装置10の画素(I,2)によって受光されて解像されたとき、3π/2ラジ アンに等しい位相角φRCVI2を有する。表面50上の要素62は、装置10に対 して、要素58よりもさらに近い位置にあり、放射光63を受光し、例えば、π ラジアンの位相角φRCVI3を有する、装置10の画素(I,3)によって受光さ れて解像される光64を反射する。表面50上の要素66は、装置10に最も近 い位置にあり、放射光67を受光し、例えば、π/2ラジアンの位相角φRCVI4を 有する、画素(I,4)によって受光されて解像された光68を反射する。距離 z11ないしZ14は、位相角φRCVI1ないしφRCVI4を式(1)に挿入することによ って計算される。要素66の距離z4は最も小さいので、被写体26に最も近く 、基準点に指定されている。より大きな値を有する全ての距離は、被写体26か らより遠い。例えば、距離z14ないしz11は、それぞれ、2、4、6および8c mであると計算される。したがって、要素66はゼロ点に指定され、他の要素は 、要素66の距離z14よりも、装置10から2、4および6cm遠い。 装置10は、図5において詳細に示されているように、3相クロック70をゲ ート回路34内に含み、3相クロック70は、CCD撮像器12、14および1 6と相互接続され、これらの撮像器を、それぞれ、放射光32の変調周波数の0 °、120°および240°で電源を投入し、被写体26から反射される光24 を集める。3相クロック70は、以下に操作を説明するデジタル制御位相シフタ 72と、外部クロック74とによって駆動され、外部クロック74の入力は、光 源28から放射される光32を変調する源30からの正弦波基準信号である。こ れらの撮像器は、電源が切られている間、反射光24を受光するが、光電子を集 め ることは妨げられる。通常1/30秒である各画像フレーム時間の最後に、各撮 像器12、14および16は、電源が投入されている間、各撮像器の各画素によ って受光された光量に対応する、各画素での強度信号IR、ISおよびITを出力 する。増幅器76は、3つの信号を合計し、各画素の反射像RUを線77を介し て表示装置42に提供する。 各画素に対する強度信号IR,ISおよびITは、アナログ/デジタル変換器7 8a〜cによって、それぞれデジタル値に変換され、該デジタル値はライン79 ,80および81を介して位相角計算機82に与えられ、該位相角計算機82は CCD撮像器の各画素で受取られた光の位相角を後述のようにして計算する。送 られてきた光32の各サイクルの3つの部分の間に、すなわち0°,120°お よび240°の間に、撮像器のゲート制御プロセスは、以下の形の3つのDCベ ースバンド画像を生み出す。 式中、IR,IS,ITの上のバーは画像フレーム時間(1/30秒)内における 時間平均を示し、φOは基準位相値である。3つのCCD撮像器12,14およ び16が等しいゲインまたは応答性を有するか、あるいはそうなるように調整さ れていると仮定すると、それぞれの式中のIDCおよびIVの項は等しくなる。3 つの数式を用いて、画素ごとのφUは、ライン79,80および81を介して供 給される、各撮像器12,14および16からの3つの画素ストリーム強度値IR ,ISおよびITを、3次元画像計算機40内の位相角計算機82に取込むこと によって求められる。位相角計算機82では、デジタル信号処理装置または均等 物などの、3相を90°離れた2相値にコンデンスする同相/直角位相変換回路 84によって、同相/直角位相変換計算が行われる。デジタル化された同相信号 (I)は下記式(3)に等しく、 I=IVCOS(φ+φO) (3) 該信号は画素毎に、ライン85を介して、デカルト−極座標変換回路86、たと えばRaytheon TMC 2330または他の高速位相処理装置などに供給される。デジタ ル化された直角位相信号(Q)は下記式(4)に等しく、 I=IVSIN(φ+φO) (4) 該信号もまた画素毎に、ライン87を介して、デカルト−極座標変換回路86に 供給される。位相角,φU=tan-1I/Qは、回路86においてCCD画像の 各画素について解析される。上記式(1)および角画素について決定された位相 角φUを用いて、CCD撮像器によって解像される被写体の各要素の相対的なオ フセット距離が、相対オフセット距離回路88において計算され、該回路88は 相対オフセット距離アルゴリズムを実行するデジタル信号処理装置とすることが できる。各画素の位置/解像要素の相対オフセット距離は表示装置42に供給さ れる。相対オフセット距離変換回路88からの相対距離情報は、表示装置42上 に3次元画像を表示するために使用されることができる。3次元画像表示装置は 、たとえばNuVision(SGS60 Stereotek),Dimension Technologies,Inc(DTI1100 C)などから市販されている。得られた3次元画像データは必ずしも可視表示装置 に提供される必要はない。このデータは高速の3次元画像データを要求するいか なる装置に提供されてもよい。 位相角信号φUは、絶対距離変換回路90によっても処理され、該回路90は 、たとえばデジタル信号処理装置であって、各解像点の装置10からの絶対距離 を決定する絶対距離変換アルゴリズムを実行し、被写体の装置10からの絶対距 離を含む情報を表示装置42に提供して、被写体の3次元画像を表示させる。 位相角および距離計算のどちらも、画像強度データが撮像器から読出されてい るCCD画像収集フレーム間の期間に実行される。したがって、装置10はリア ルタイムの3次元撮像を提供する。 ドップラー補償ループ92は、撮像装置10が、たとえばヘリコプタなどの移 動性の土台上に取付けられて、静止した被写体を撮像している場合や、あるいは 装置10が静止して被写体が移動するような場合に、ドップラー周波数変化を導 入するために使用される。加算器94は、期間tの間にn個の位相角を受取り、 相角を出力する。この信号は、撮像されている被写体が装置10に対して移動す ることによって生じるドップラー効果に起因する、たとえば時間t1とt0間で 号から差し引かれ、位相差信号が、ゲート回路34内のデジタル信号処理装置な どの、デジタル制御される位相シフタに与えられる。該ゲート回路34は、クロ ック70において3相クロック信号のタイミングを、必要に応じて増加または減 たとえば、装置10と撮影中の被写体とが、1秒間に10メートルの速さで相 対的に移動する場合、dφ/dtは1秒あたり10ラジアン、あるいは1.6H zとなる。したがって、ドップラー効果を補償するためには、クロック70にお ける3位相クロック信号の周波数を、たとえば1,000,000Hzから1,0 00,001.6Hzに上げることにより、dφ/dtが0になるようにする。 上述のように、装置10が撮影中の被写体から1波長以上離れている場合には 、被写体の各解像される要素に対して計算される距離ZUは、相対変調λ/2の 距離だけである。典型的な1MHzの変調周波数の場合、測定距離は150メー トルである。換言すると、撮影中の被写体が装置10から150メートル以内に ある限り、計算された距離ZUは、各解像要素の装置10からの絶対距離である 。しかしながら、被写体が装置10から150メートル以上のところにある場合 、距離ZUは相対変調λ/2の距離だけである。 絶対距離変換回路90は、図6のフローチャート100に従って動作し、撮像 される被写体上の各撮像点から装置10までの絶対距離を決定するために使用さ れる。回路90は、ステップ102において、初期変調周波数f1における各画 素に対する位相角φ1を計算する。ステップ104では、図5の絶対距離変換回 路90が、ライン97を伝わる信号によって、正弦波発生器30の出力をf2に 調整することにより、光源28の変調周波数を所定の増加分だけ変化させる。ス テップ106では、減少した変調周波数f2における位相角φ2が、各画素につい て計算される。ステップ108において、各画素に対する絶対距離ZABSが下記 の式に従って計算される。 上式中、cは光の速度であり、dφはφ2−φ1に等しく、dfはf2−f1に等し い。絶対距離変換回路90の絶対距離判定関数は、他の公知の手法によって達成 されてもよい。 図7の表示120は、本発明の装置10を用いて生成される被写体122の典 型的な3次元表示である。この表示において、被写体122の各解像要素の絶対 距離がZ軸に表示されている。このディスプレイは、被写体122の各解像要素 の相対オフセット距離のディスプレイでもある。 本発明による3次元撮像に必要とされる高速シャッタリングを実現するために 、CCD撮像器12,14および16は、同期してゲート制御される高速CCD 撮像器として作動するように構成される。撮像器の構成は、図8ではCCD撮像 器12についてのみ図示したが、撮像器14および16に関しても同様に構成さ れる。 CCD撮像器12は感光領域の複数の列を含むが、そのうちの2つ、130お よび132のみが示されている。各列は複数の画素130a〜bおよび132a 〜bを含んでいる。簡略化のため、それぞれの列に2つの画素を有する2つの列 だけのアレイを示しているが、本発明に使用される典型的なCCD撮像器は、た とえば、各列に512の画素を含む512列のアレイを含んでいる。各画素は、 領域134a〜bや136a〜bなどの感光領域を含む。それぞれの感光領域の 上方には、レンズ138a〜bや140a〜bなどのマイクロレンズが含まれ、 該レンズは各画素の有効感光面積を典型的には80%まで上昇させる。被写体か ら反射された、図1の光源からのCCD撮像器12へのフォトン入射が光電子を 発生し、該光電子はホトサイト134a〜bおよび136a〜bによって収集ま たは集積される。ホトサイトにおいて収集された光電子は、スイッチ142a〜 bおよび144a〜bによって、それぞれ蓄積井戸146a〜bおよび148a 〜b、あるいは光電子ドレイン150a〜bおよび152a〜bのいずれかに経 路づけられる。スイッチ142a〜bおよび144a〜bは、ゲート回路34に 由来する垂直シフトレジスタ154および156からの制御信号によって作動さ れる。 CCD撮像器12は、従来のCCD撮像器と同様に、1/30秒の画像フレー ム時間を有する。しかしながら、上述のように、図1の装置10は、CCD撮像 器12(ならびにCCD撮像器14および16)に入力される光が、各画像フレ ーム時間内に何度もゲート制御される必要がある。すなわち、装置10は、CC D撮像器12が、各1/30秒の画像フレーム時間の間に、何度もオン(反射光 24からの光電子を収集するため)/オフ(反射光24からの光電子の収集を阻 止するため)されることを要求する。したがって、CCD撮像器12が正弦波変 調光ビーム32の各サイクルごとに、反射光24からの光電子を収集するために ゲートオンされる場合、ゲート回路34が、垂直シフトレジスタ154および1 56を介して、ホトサイト134a〜bおよび136a〜bを蓄積井戸146a 〜bおよび148a〜bに相互接続し、その結果、光電子が収集され蓄積井戸に 蓄積される。そして、残りの各サイクルの間に、ゲート回路34は、垂直シフト レジスタ154および156を介して、ホトサイトを光電子ドレイン150a〜 bおよび152a〜bに相互接続し、その結果、ホトサイトからの光電子が除去 または流出され、蓄積井戸に収集されることが阻止される。この切換位置におい て、CCD撮像器12はゲートオフされ、CCD撮像器12に対する「シャッタ 」が効果的に閉じられる。スイッチが他方切換位置にあり、ホトサイトからの光 電子が蓄積井戸に経路づけられる場合、CCD撮像器12に対する「シャッタ」 は効果的に開かれる。 図1の例において、CCD撮像器12は、放射光32の変調周波数の各サイク ルの0°〜120°の間にゲートオン(シャッタが開かれる)され、サイクルの 残りの期間においてはゲートオフ(シャッタが閉じられる)される。いずれか1 つのCCD撮像器がゲート回路34によってゲートオンされる場合、他の2つ のCCD撮像器はこれに同期してゲートオフされる。電気的なシャッタ制御また はゲート制御は、約3MHzまでの範囲で行われる。したがって、CCD撮像器 12,14および16は、各撮像器について、1/30秒の画像フレーム時間の 間に約33,000のサンプルを取得し、蓄積井戸に蓄積するように、ゲートオ ンまたはゲートオフされることができる。 1/30秒のフレーム時間の最後に、その画像フレーム時間中に蓄積井戸14 6a〜bおよび148a〜bに蓄積されていた全ての光電子が、それぞれ垂直レ ジスタ154および156によって、蓄積井戸列158および160にシフトダ ウンされる。垂直シフトレジスタ154および156は、蓄積井戸の内容を水平 シフトレジスタ162および164に桁送りし、該水平シフトレジスタは増幅器 166を介して、画素ごとに直列反射画像IRを出力する。CCD撮像器12か らの出力は、増幅器76と位相角計算機82(図5)とに供給され、ここで、撮 像器14および16からの出力と共に、表示装置42上に2次元反射画像を表示 するために、あるいはCCD画像12,14および16の各画素に対する被写体 26からの反射光24の位相角を計算するために使用される。 CCD画像12,14および16は、十分に高い頻度で各CCD撮像器をオン またはオフできるようなゲート手段であれば、当業者自明の他の手段によってゲ ート制御されることができる。CCD撮像器のゲート制御の頻度が高ければ高い ほど、最小検出可能距離差が小さくなる。最小解像可能距離がより短い3次元撮 像器は、高い応用性をもつ。 また別のやり方として、単一のCCD撮像器、たとえば図2CのCCD撮像器 12'を使用する場合は、図9に示されるように構成する。本実施形態において 、各ホトサイトは3つの蓄積井戸に選択的に相互接続される。ホトサイト134 a’および134b’は、蓄積井戸146a’(R),146a’’(S),1 46a’’’(T)、および146b’(R),146b’’(S),146b ’’’(T)にそれぞれ選択的に相互接続される。ホトサイト136a’および 136b’は、蓄積井戸148a’(R),148a’’(S),148a’’ ’(T)、および148b’(R),148b’’(S),148b’’’(T )にそれぞ れ選択的に相互接続される。 ゲート回路34の制御下、垂直シフトレジスタ154’を介して、スイッチ1 42a’〜b’および144a’〜b’にゲート信号が与えられ、該スイッチは 、正弦波変調光ビーム32の各サイクルの収集時間部において、ホトサイトから の光電子を、3つの蓄積井戸(R,SおよびT)のうちの適切な1つに選択的に 経路づける。すなわち、正弦波変調光ビーム32の各サイクルの、たとえば最初 の1/3サイクルの間に、ホトサイト内に収集された光電子が、各画素の位置に 対する蓄積井戸Rに与えられる。次の1/3サイクルの間に、ゲート回路34’ は、垂直シフトレジスタ154’を介して、各スイッチに信号を与え、該各スイ ッチはホトサイトを蓄積井戸Sに相互接続して、これらの蓄積井戸がサイクルの 1/3の部分の間に光電予を収集するようにする。そして、最後の1/3サイク ルの間に、ゲート回路34は、そのサイクル部分の間にT蓄積井戸が光電子を収 集するように、ホトサイトをT蓄積井戸に相互接続する。1/30秒の画像フレ ーム時間の終了時、各画素の各蓄積井戸R,SおよびTには、多数のサイクルの 間に累積的に光電子が蓄積されており、光電子は、垂直シフトレジスタ154’ および156’の制御下に、蓄積井戸から対応する垂直シフトレジスタ列158 ’および160’に転送される。次に垂直シフトレジスタ154’および156 ’は、光電子を水平シフトレジスタ162’および164’に桁送りし、該水平 シフトレジスタは、増幅器166’を介して、3つの強度信号IR,IS,ITを 、画素ごとに直列的に出力する。各画素に対するこれらの強度信号IR,IS,IT は、図5の増幅器76およびライン79,80および81に与えられる。これ らの信号は、図5のように並列的ではなく、直列的に出力されるので、増幅器7 6およびライン79,80および81に並列入力を与えるために、当業者周知の いかなる処理を行うこともできる。 本発明の特徴はいくつかの図面にだけ示されているが、これは便宜上にすぎず 、それぞれの特徴は本発明に従ういずれかまたは全ての特徴と組合わせられるこ とができる。 請求の範囲を逸脱しない他の実施形態も当業者によって見出されるであろう。
【手続補正書】特許法第184条の4第4項 【提出日】1997年7月14日 【補正内容】 請求の範囲 1.複数の解像要素を含む被写体を撮像するための3次元撮像装置において、 該被写体に放射線(radiation)を送る振幅変調放射線源と、 少なくとも1つの光電画像検出器と、 該被写体から反射された放射線を検出するための、前記変調放射線源の周期の 少なくとも3つの部分の間に少なくとも1つの画像検出器を同期して動作可能と する手段と、 前記少なくとも1つの画像検出器によって検出された反射された放射線に応答 して、放射された放射線と反射された放射線の間の位相角を計算するための手段 と、 前記位相角を計算する手段に応答して、被写体の複数の要素相互間の距離を計 算する手段とを含むことを特徴とする3次元撮像装置。 2.前記放射線源は正弦波振幅変調放射線源であることを特徴とする請求項1 に記載の3次元撮像装置。 3.前記放射線源は被写体に放射するレーザ光源を含むことを特徴とする請求 項1に記載の3次元撮像装置。 4.前記放射線源は発光ダイオードを含むことを特徴とする請求項1に記載の 3次元撮像装置。 5.前記少なくとも1つの光電画像検出器は、CCD撮像器であることを特徴 とする請求項1記載の3次元撮像装置。 6.1つの光電画像検出器があり、該光電画像検出器は、前記振幅変調放射線 源の各周期の少なくとも3つの部分の間に、前記同期させるための手段に応答し て放射線を検出する手段を含むことを特徴とする請求項1記載の3次元撮像装置 。 7.少なくとも3つの光電画像検出器があり、前記同期して動作可能とする手 段は、前記振幅変調放射線源の各期間の少なくとも3つの部分の間に、異なる前 記検出器を動作可能とすることを特徴とする請求項1記載の3次元撮像装置。 8.前記少なくとも1つの検出器は、振幅変調放射線源の1/3周期毎に動作 可能とされることを特徴とする請求項1記載の3次元撮像装置。 9.前記位相角を計算する手段は、放射された放射線と、複数の要素のそれぞ れから反射されて装置により受取られた放射線の間の位相角を計算する手段を含 むことを特徴とする請求項1記載の3次元撮像装置。 10.前記少なくとも1つの光電画像検出器に応答して、被写体から反射された 検出放射線から、被写体の2次元反射画像を生成する手段をさらに含むことを特 徴とする請求項1記載の3次元撮像装置。 11.前記距離を計算する手段に応答して、前記複数の要素相互間の距離の表示 を生成する手段をさらに含むことを特徴とする請求項1記載の3次元撮像装置。 12.前記距離を計算する手段に応答して、複数の要素相互間の距離を含む被写 体の3次元画像の表示を生成する手段を更に含むことを特徴とする請求項10記載 の3次元撮像装置。 13.前記位相角を計算する手段に応答して、複数の要素と撮像装置との絶対距 離を計算する手段をさらに含むことを特徴とする請求項1または10記載の3次元 撮像装置。 14.前記絶対距離を計算する手段は、第1の周波数で照射を行う前記振幅変調 放射線源において、放射された放射線と、各複数の要素から反射されて装置によ り受取られた放射線との間の第1の位相角組を計算する手段と、前記振幅変調放 射線源の周波数を第2の周波数に調整する手段と、第2の周波数における放射さ れた放射線と、各複数の要素から反射されて装置により受取られた放射線との間 の第2の位相角組を計算する手段と、第1および第2の位相角の組と第1および 第2の周波数とに応答して、複数の要素の装置からの絶対距離を決定する手段と を含むことを特徴とする請求項13記載の3次元撮像装置。 15.前記絶対距離を計算する手段に応答して、前記複数の要素の撮像装置から の絶対距離の表示を生成する手段をさらに含むことを特徴とする請求項13記載の 3次元撮像装置。 16.前記絶対距離を計算する手段および前記2次元反射画像を生成する手段に 応答して、前記複数の解像要素の撮像装置への絶対距離を含む、被写体の3次元 画像の表示を生成する手段をさらに含むことを特徴とする請求項13記載の3次元 撮像装置。 17.装置と被写体の間の相対移動のために装置にもたらされたドップラー効果 を補償する手段をさらに含むことを特徴とする請求項1記載の3次元撮像装置。 18.前記補償する手段は、複数の連続する所定期間にわたって、放射された放 射線と反射された放射線との間の計算された位相角の平均値を繰返し求める手段 を含むことを特徴とする請求項17記載の3次元撮像装置。 19.求められたいずれか2つの連続する計算された位相角の平均値の間に、変 化があったかどうかを判定する手段と、同期して動作可能とする手段を調整する 手段であって、前記検出器の可動化の頻度を変化させて、前記計算された位相角 の平均値を複数の連続する所定時間にわたって等しくなるようにし、ドップラー 効果を補償する調整手段とをさらに含むことを特徴とする請求項18記載の3次元 撮像装置。 20.複数の解像要素を含む被写体を撮像するための3次元撮像装置において、 撮像される被写体に照光するための正弦波振幅変調光源と、 少なくとも1つの同期してゲート制御されるCCD撮像器と、 被写体から反射された光を検出するための、前記変調光源の正弦波期間の少な くとも3つの部分の間に、前記少なくとも1つのCCD撮像器を同期して動作可 能とする手段と、 放射光と反射光の間の位相角を計算する手段と、 位相角を計算する手段に応答して、被写体の複数の要素相互間の距離を計算す る手段と、 前記距離を計算する手段に応答して、被写体の複数の要素相互間の距離を表示 する手段とを含むことを特徴とする3次元撮像装置。 21.複数の解像要素を含む被写体を撮像するための3次元撮像装置において、 撮像される被写体に照光するための正弦波振幅変調光源と、 少なくとも1つの同期してゲート制御されるCCD撮像器と、 被写体から反射された光を検出するための、前記変調光源の正弦波期間の少な くとも3つの部分の間に、前記少なくとも1つのCCD撮像器を同期して動作可 能とする手段と、 前記少なくとも1つのCCD撮像器に応答して、被写体から反射された検出光 から、被写体の2次元反射画像を生成する手段と、 放射光と反射光の間の位相角を計算する手段と、 位相角を計算する手段に応答して、被写体の複数の要素相互間の距離を計算す る手段と、 前記距離を計算する手段と前記2次元反射画像を生成する手段とに応答して、 被写体の複数の要素相互間の距離を含む、被写体の3次元画像を生成する手段と を含むことを特徴とする3次元撮像装置。 22.複数の解像要素を含む被写体を撮像するための3次元撮像装置において、 撮像される被写体に放射線を放射するための振幅変調放射線源と、 少なくとも3つの光電画像検出器と、 被写体から反射された放射線を検出するための、前記変調放射線源の周期の異 なる部分の間に、前記検出器を同期して動作可能とする手段と、 放射された放射線と反射された放射線の間の位相角を計算する手段と、 位相角を計算する手段に応答して、被写体の複数の要素相互間の距離を計算す る手段とを含むことを特徴とする3次元撮像装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,IT,L U,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF ,CG,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE, SN,TD,TG),AP(KE,LS,MW,SD,S Z,UG),UA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD ,RU,TJ,TM),AL,AM,AT,AU,AZ ,BB,BG,BR,BY,CA,CH,CN,CZ, DE,DK,EE,ES,FI,GB,GE,HU,I L,IS,JP,KE,KG,KP,KR,KZ,LK ,LR,LS,LT,LU,LV,MD,MG,MK, MN,MW,MX,NO,NZ,PL,PT,RO,R U,SD,SE,SG,SI,SK,TJ,TM,TR ,TT,UA,UG,US,UZ,VN (72)発明者 ワインチェス,ゲールト アメリカ合衆国 マサチューセッツ州 02150 チェルシー コマンダント ロー ド シャープ404 160 (72)発明者 シェパード,オル アメリカ合衆国 マサチューセッツ州 02174 アーリントン バレンタイン ロ ード 99

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.複数の解像要素を含む被写体を撮像するための3次元撮像装置において、 該被写体に放射線(radiation)を送る振幅変調放射線源と、 少なくとも1つの光電画像検出器と、 該被写体から反射された放射線を検出するための、前記変調放射線源の周期の 少なくとも3つの部分の間に少なくとも1つの検出器を同期して動作可能とする 手段と、 放射された放射線と反射された放射線の間の位相角を計算するための手段と、 前記位相角を計算する手段に応答して、被写体の複数の要素相互間の距離を計 算する手段とを含むことを特徴とする3次元撮像装置。 2.前記放射線源は正弦波振幅変調放射線源であることを特徴とする請求項1 に記載の3次元撮像装置。 3.前記放射線源は被写体に放射するレーザ光源を含むことを特徴とする請求 項1に記載の3次元撮像装置。 4.前記放射線源は発光ダイオードを含むことを特徴とする請求項1に記載の 3次元撮像装置。 5.前記少なくとも1つの光電画像検出器は、CCD撮像器であることを特徴 とする請求項1記載の3次元撮像装置。 6.1つの光電画像検出器があり、該光電画像検出器は、前記振幅変調放射線 源の各周期の少なくとも3つの部分の間に、前記同期させるための手段に応答し て放射線を検出する手段を含むことを特徴とする請求項1記載の3次元撮像装置 。 7.少なくとも3つの光電画像検出器があり、前記同期して動作可能とする手 段は、前記振幅変調放射線源の各期間の少なくとも3つの部分の間に、異なる前 記検出器を動作可能とすることを特徴とする請求項1記載の3次元撮像装置。 8.前記少なくとも1つの検出器は、振幅変調放射線源の1/3周期毎に動作 可能とされることを特徴とする請求項1記載の3次元撮像装置。 9.前記位相角を計算する手段は、放射された放射線と、複数の要素のそれぞ れから反射されて装置により受取られた放射線の間の位相角を計算する手段を含 むことを特徴とする請求項1記載の3次元撮像装置。 10.前記少なくとも1つの光電画像検出器に応答して、被写体から反射された 検出放射線から、被写体の2次元反射画像を生成する手段をさらに含むことを特 徴とする請求項1記載の3次元撮像装置。 11.前記距離を計算する手段に応答して、前記複数の要素相互間の距離の表示 を生成する手段をさらに含むことを特徴とする請求項1記載の3次元撮像装置。 12.前記距離を計算する手段に応答して、複数の要素相互間の距離を含む被写 体の3次元画像の表示を生成する手段をさらに含むことを特徴とする請求項10記 載の3次元撮像装置。 13.前記位相角を計算する手段に応答して、複数の要素と撮像装置との絶対距 離を計算する手段をさらに含むことを特徴とする請求項1および10記載の3次元 撮像装置。 14.前記絶対距離を計算する手段は、第1の周波数で照射を行う前記振幅変調 放射線源において、放射された放射線と、各複数の要素から反射されて装置によ り受取られた放射線との間の第1の位相角組を計算する手段と、前記振幅変調放 射線源の周波数を第2の周波数に調整する手段と、第2の周波数における放射さ れた放射線と、各複数の要素から反射されて装置により受取られた放射線との間 の第2の位相角組を計算する手段と、第1および第2の位相角の組と第1および 第2の周波数とに応答して、複数の要素の装置からの絶対距離を決定する手段と を含むことを特徴とする請求項13記載の3次元撮像装置。 15.前記絶対距離を計算する手段に応答して、前記複数の要素の撮像装置から の絶対距離の表示を生成する手段をさらに含むことを特徴とする請求項13記載の 3次元撮像装置。 16.前記絶対距離を計算する手段および前記2次元反射画像を生成する手段に 応答して、前記複数の解像要素の撮像装置への絶対距離を含む、被写体の3次元 画像の表示を生成する手段をさらに含むことを特徴とする請求項13記載の3次元 撮像装置。 17.装置と被写体の間の相対移動のために装置にもたらされたドップラー効果 を補償する手段をさらに含むことを特徴とする請求項1記載の3次元撮像装置。 18.前記補償する手段は、複数の連続する所定期間にわたって、放射された放 射線と反射された放射線との間の計算された位相角の平均値を繰返し求める手段 を含むことを特徴とする請求項17記載の3次元撮像装置。 19.求められたいずれか2つの連続する計算された位相角の平均値の間に、変 化があったかどうかを判定する手段と、同期して動作可能とする手段を調整する 手段であって、前記検出器の可動化の頻度を変化させて、前記計算された位相角 の平均値を複数の連続する所定時間にわたって等しくなるようにし、ドップラー 効果を補償する調整手段とをさらに含むことを特徴とする請求項18記載の3次元 撮像装置。 20.複数の解像要素を含む被写体を撮像するための3次元撮像装置において、 撮像される被写体に照光するための正弦波振幅変調光源と、 少なくとも1つの同期してゲート制御されるCCD撮像器と、 被写体から反射された光を検出するための、前記変調光源の正弦波期間の少な くとも3つの部分の間に、前記少なくとも1つのCCD撮像器を同期して動作可 能とする手段と、 放射光と反射光の間の位相角を計算する手段と、 位相角を計算する手段に応答して、被写体の複数の要素相互間の距離を計算す る手段と、 前記距離を計算する手段に応答して、被写体の複数の要素相互間の距離を表示 する手段とを含むことを特徴とする3次元撮像装置。 21.複数の解像要素を含む被写体を撮像するための3次元撮像装置において、 撮像される被写体に照光するための正弦波振幅変調光源と、 少なくとも1つの同期してゲート制御されるCCD撮像器と、 被写体から反射された光を検出するための、前記変調光源の正弦波期間の少な くとも3つの部分の間に、前記少なくとも1つのCCD撮像器を同期して動作可 能とする手段と、 前記少なくとも1つのCCD撮像器に応答して、被写体から反射された検出光 から、被写体の2次元反射画像を生成する手段と、 放射光と反射光の間の位相角を計算する手段と、 位相角を計算する手段に応答して、被写体の複数の要素相互間の距離を計算す る手段と、 前記距離を計算する手段と前記2次元反射画像を生成する手段とに応答して、 被写体の複数の要素相互間の距離を含む、被写体の3次元画像を生成する手段と を含むことを特徴とする3次元撮像装置。 22.複数の解像要素を含む被写体を撮像するための3次元撮像装置において、 撮像される被写体に放射線を放射するための振幅変調放射線源と、 少なくとも3つの光電画像検出器と、 被写体から反射された放射線を検出するための、前記変調放射線源の周期の異 なる部分の間に、前記検出器を同期して動作可能とする手段と、 放射された放射線と反射された放射線の間の位相角を計算する手段と、 位相角を計算する手段に応答して、被写体の複数の要素相互間の距離を計算す る手段とを含むことを特徴とする3次元撮像装置。
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