JPH1145519A - Frequency demodulation circuit and optical disk device having the same - Google Patents

Frequency demodulation circuit and optical disk device having the same

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JPH1145519A
JPH1145519A JP12509898A JP12509898A JPH1145519A JP H1145519 A JPH1145519 A JP H1145519A JP 12509898 A JP12509898 A JP 12509898A JP 12509898 A JP12509898 A JP 12509898A JP H1145519 A JPH1145519 A JP H1145519A
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JP
Japan
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signal
pulse
frequency
edge
coincidence
Prior art date
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Application number
JP12509898A
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Japanese (ja)
Inventor
Minoru Hida
実 飛田
Yoshikatsu Niwa
義勝 丹羽
Shinichi Nakao
進一 中尾
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To execute the demodulation processing of a frequency modulation signal a with simple constitution and to exactly demodulate digital data even if there is a deformation by a defect, etc., of a recording medium in the frequency modulation signal. SOLUTION: The address information ADM after bi-phase modulation is subjected to frequency modulation and is recorded as a groove wobble. A wobble signal SWB which is a reproducing signal of this groove wobble is modulated to a binary signal PWB. The wobble signal SWB has 4 waves at the time of a '1' and 3 waves at the time of a '0' in correspondence to the 1 bit (bi-phase 1 bit) of address information ADM. Demodulation processing is executed in a detecting circuit 67 by using a clock signal CK24 synchronized with the pulse signal PWB having a frequency of 24 times the bit frequency of the bi-phase. In this processing, the '1' and '0' are decided by utilizing the coincident number of the edge detection signal of the binary signal PWB and the window pulses relating to the patterns of the binary signals respectively corresponding to '1' and '0' of the digital data.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、周波数復調回路
およびそれを有する光ディスク装置に関する。詳しく
は、ディジタルデータの“1”および“0”のデータに
それぞれ対応する周波数変調信号の周波数の公倍数の周
波数を持つクロック信号に基づいた処理でディジタルデ
ータを復調すると共に、ウインドーパルスを利用して復
調処理を行うことによって、簡単な構成で周波数変調信
号の復調処理を行うと共に、周波数変調信号に記録媒体
のディフェクト等による変形があった場合にも正確にデ
ィジタルデータを復調できるようにした周波数復調回路
等に係るものである。
The present invention relates to a frequency demodulation circuit and an optical disk device having the same. More specifically, the digital data is demodulated by processing based on a clock signal having a frequency that is a common multiple of the frequency of the frequency modulation signal corresponding to the digital data "1" and "0", and window pulses are used. By performing demodulation processing, the frequency modulation signal can be demodulated with a simple configuration, and the digital data can be demodulated accurately even if the frequency modulation signal is deformed due to a defect in the recording medium or the like. It relates to a demodulation circuit and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、バイフェーズ変調されたアドレス
情報ADMを周波数変調し、変調後の信号に対応してグ
ルーブ部をウォブリングした状態とし、変調後の信号を
グルーブウォブルとして記録してなる光磁気ディスクが
提案されている。この場合、グルーブウォブルは、図2
7に示すように、例えばアドレス情報ADMの1ビット
(バイフェーズ1ビット)当たり、“1”のときは4.
25波(4.25周期のサイン波)となり、“0”のと
きは3.75波(3.75周期のサイン波)となってい
る。この場合、グルーブウォブルの振幅は、変調後の信
号の周波数に拘わらずに一定とされている。そのため、
図27に拡大して示すように、アドレス情報ADMの
“1”および“0”の接合部に対応するグルーブウォブ
ルの0クロス点の前後での傾きが変化したものとなる。
2. Description of the Related Art Conventionally, magneto-optical recording is performed by frequency-modulating bi-phase modulated address information ADM, wobbling a groove portion corresponding to the modulated signal, and recording the modulated signal as a groove wobble. Discs have been proposed. In this case, the groove wobble is
As shown in FIG. 7, for example, when one bit (bi-phase one bit) of the address information ADM is “1”, 4.
It becomes 25 waves (a sine wave with 4.25 cycles), and when it is "0", it becomes a 3.75 wave (a sine wave with 3.75 cycles). In this case, the amplitude of the groove wobble is constant regardless of the frequency of the modulated signal. for that reason,
As shown in an enlarged manner in FIG. 27, the inclination before and after the zero cross point of the groove wobble corresponding to the junction of “1” and “0” of the address information ADM changes.

【0003】図28は、グルーブウォブルの再生信号、
つまりウォブル信号SWBよりアドレス情報ADMを得る
ための周波数復調回路300の従来例としての構成を示
している。この周波数復調回路300は、直流カット用
のコンデンサ301と、閾値=0として直流成分がカッ
トされたウォブル信号SWBをパルス信号(2値信号)P
WBに変換するコンパレータ302とを有している。
FIG. 28 shows a reproduction signal of a groove wobble,
That is, a configuration as a conventional example of the frequency demodulation circuit 300 for obtaining the address information ADM from the wobble signal SWB is shown. The frequency demodulation circuit 300 converts the wobble signal SWB from which the DC component has been cut with the threshold = 0 as a pulse signal (binary signal) P
And a comparator 302 for converting to WB.

【0004】また、周波数復調回路300は、PLL
(phase-locked loop)回路303を構成する電圧制御
発振器303aと、この電圧制御発振器303aの出力
信号とコンパレータ302より出力されるパルス信号P
WBとの位相比較を行うための位相比較器303bと、こ
の位相比較器303bより出力される位相誤差信号の低
域成分を取り出して電圧制御発振器303aに供給する
ための制御信号を得るローパスフィルタ303cとを有
している。
Further, the frequency demodulation circuit 300 has a PLL
(Phase-locked loop) A voltage-controlled oscillator 303a constituting a circuit 303, an output signal of the voltage-controlled oscillator 303a, and a pulse signal P output from a comparator 302.
A phase comparator 303b for performing a phase comparison with the WB, and a low-pass filter 303c for extracting a low-frequency component of a phase error signal output from the phase comparator 303b and obtaining a control signal for supplying the voltage-controlled oscillator 303a And

【0005】また、周波数復調回路300は、ローパス
フィルタ303cの出力信号の低域成分を取り出すため
のローパスフィルタ304と、直流カット用のコンデン
サ305と、閾値=0として、直流成分がカットされた
ローパスフィルタ304の出力信号よりアドレス情報A
DMを得るコンパレータ306とを有している。
The frequency demodulation circuit 300 includes a low-pass filter 304 for extracting a low-frequency component of the output signal of the low-pass filter 303c, a DC cut capacitor 305, and a low-pass filter in which the DC component is cut by setting the threshold to 0. The address information A is obtained from the output signal of the filter 304.
And a comparator 306 for obtaining DM.

【0006】また、周波数復調回路300は、コンパレ
ータ306より出力されるアドレス情報ADMの立ち上
がりや立ち下がりのエッジを検出するエッジ検出器30
7と、このエッジ検出器307より出力されるエッジ検
出信号をトリガ信号として所定幅のパルス信号を得るモ
ノマルチバイブレータ308とを有している。
The frequency demodulation circuit 300 includes an edge detector 30 for detecting a rising edge or a falling edge of the address information ADM output from the comparator 306.
7 and a monomultivibrator 308 that obtains a pulse signal of a predetermined width using the edge detection signal output from the edge detector 307 as a trigger signal.

【0007】また、周波数復調回路300は、PLL回
路309を構成する電圧制御発振器309aと、この電
圧制御発振器309aの出力信号とモノマルチバイブレ
ータ308より出力されるパルス信号との位相比較を行
うための位相比較器309bと、この位相比較器309
bより出力される位相誤差信号の低域成分を取り出して
電圧制御発振器309aに供給するための制御信号を得
るローパスフィルタ309cとを有している。
The frequency demodulation circuit 300 compares the phase of a voltage control oscillator 309a constituting the PLL circuit 309 with the phase of the output signal of the voltage control oscillator 309a and the pulse signal output from the monomultivibrator 308. The phase comparator 309b and the phase comparator 309
and a low-pass filter 309c for obtaining a control signal for extracting a low-frequency component of the phase error signal output from b and supplying it to the voltage-controlled oscillator 309a.

【0008】図28に示す周波数復調回路300の動作
を説明する。ウォブル信号SWBはコンデンサ301を介
してコンパレータ302に供給されてパルス信号(2値
信号)PWBに変換される。上述したように、バイフェー
ズ変調後のアドレス情報ADMが周波数変調され、この
変調後の信号が光磁気ディスクにグルーブウォブルとし
て記録されている。そのため、ウォブル信号SWBは、周
波数変調後の信号と同じく、図29Aに示すように、ア
ドレス情報ADMの1ビット(バイフェーズ1ビット)
に対応して、“1”のときは4.25波を有し、“0”
のときは3.75波を有するものとなっている。そのた
め、コンパレータ302からは、図29Bに示すよう
に、パルス信号PWBが得られる。
The operation of the frequency demodulation circuit 300 shown in FIG. 28 will be described. The wobble signal SWB is supplied to a comparator 302 via a capacitor 301 and is converted into a pulse signal (binary signal) PWB. As described above, the address information ADM after the bi-phase modulation is frequency-modulated, and the signal after the modulation is recorded as a groove wobble on the magneto-optical disk. Therefore, as shown in FIG. 29A, the wobble signal SWB is, as shown in FIG. 29A, one bit (bi-phase one bit) of the address information ADM.
Corresponding to "1", it has 4.25 waves and "0"
In the case of, it has 3.75 waves. Therefore, a pulse signal PWB is obtained from the comparator 302 as shown in FIG. 29B.

【0009】また、“1”に対応するウォブル信号SWB
の周波数と“0”に対応するウォブル信号SWBの周波数
とが異なることから、PLL回路303を構成するロー
パスフィルタ303cの出力信号は図29Cに示すよう
になり、従ってコンパレータ306からは図29Dに示
すようにアドレス情報ADMが得られる。そして、この
アドレス情報ADMのエッジがエッジ検出器307で検
出され、そのエッジ検出信号がトリガ信号としてモノマ
ルチバイブレータ308より出力されるパルス信号がP
LL回路309に参照信号として供給される。したがっ
て、PLL回路309を構成する電圧制御発振器309
aからは、図29Eに示すようにアドレス情報ADMに
同期したクロック信号ACKが得られる。
A wobble signal SWB corresponding to "1"
Is different from the frequency of the wobble signal SWB corresponding to "0", the output signal of the low-pass filter 303c included in the PLL circuit 303 becomes as shown in FIG. 29C. Thus, the address information ADM is obtained. Then, the edge of the address information ADM is detected by the edge detector 307, and the edge detection signal is a pulse signal output from the monomultivibrator 308 as a trigger signal.
The reference signal is supplied to the LL circuit 309. Therefore, the voltage controlled oscillator 309 constituting the PLL circuit 309
From FIG. 29A, a clock signal ACK synchronized with the address information ADM is obtained as shown in FIG. 29E.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上述したように、図2
8に示す周波数復調回路300は、2系統のPLL回路
303,309を持ち、複雑な構成となっている。
As described above, FIG.
The frequency demodulation circuit 300 shown in FIG. 8 has two systems of PLL circuits 303 and 309 and has a complicated configuration.

【0011】そこで、この発明では、簡単な構成で周波
数変調信号の復調処理を行うと共に、周波数変調信号に
記録媒体のディフェクト等による変形があった場合にも
正確にディジタルデータを復調し得る周波数復調回路等
を提供することを目的とする。
Therefore, according to the present invention, a frequency demodulation signal can be demodulated with a simple configuration, and even when the frequency modulation signal is deformed due to a defect of a recording medium or the like, the frequency demodulation can be accurately demodulated. It is intended to provide a circuit or the like.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係る周
波数復調回路は、ディジタルデータを表す周波数変調信
号から2値信号を得る波形整形部と、ディジタルデータ
の“1”に対応する周波数変調信号の周波数とディジタ
ルデータの“0”に対応する周波数変調信号の周波数と
の公倍数の周波数を持つクロック信号を生成するクロッ
ク信号生成部と、上記2値信号に対して上記クロック信
号に基づいた処理をしてディジタルデータを得る検波部
とを備えるものである。そして、検波部は、上記2値信
号のエッジを検出してエッジ検出信号を出力するエッジ
検出部と、ディジタルデータの“1”および“0”に対
応する上記2値信号のパターンに係る第1および第2の
ウインドーパルスを生成するウインドーパルス生成部
と、第1のウインドーパルスの出力タイミングにエッジ
検出信号の出力タイミングが一致したとき第1の一致パ
ルスを出力する第1の一致検出部と、第2のウインドー
パルスの出力タイミングにエッジ検出信号の出力タイミ
ングが一致したとき第2の一致パルスを出力する第2の
一致検出部と、第1および第2の一致パルスのカウント
値からディジタルデータが“1”か“0”かを判定する
判定部とで構成されるものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a frequency demodulation circuit, comprising: a waveform shaping unit for obtaining a binary signal from a frequency modulation signal representing digital data; A clock signal generating unit for generating a clock signal having a frequency which is a common multiple of a frequency of a signal and a frequency of a frequency modulation signal corresponding to "0" of digital data, and a process based on the clock signal for the binary signal And a detector that obtains digital data by performing the following. The detection unit detects an edge of the binary signal and outputs an edge detection signal. The detection unit includes a first detection unit that detects an edge of the binary signal and outputs a first detection signal corresponding to digital data “1” and “0”. And a window pulse generation unit for generating a second window pulse, and a first coincidence detection for outputting a first coincidence pulse when the output timing of the edge detection signal coincides with the output timing of the first window pulse A second coincidence detection unit that outputs a second coincidence pulse when the output timing of the edge detection signal coincides with the output timing of the second window pulse, and a count value of the first and second coincidence pulses And a determination unit for determining whether the digital data is "1" or "0".

【0013】また、請求項4の発明に係る光ディスク装
置は、アドレス情報が周波数変調され、変調後の信号が
グルーブウォブルとして記録される光ディスクを駆動す
る光ディスク装置において、光ディスクからグルーブウ
ォブルに対応したウォブル信号を再生するウォブル信号
再生手段と、ウォブル信号に対して周波数復調をするこ
とでアドレス情報を得るものであって請求項1の発明の
周波数復調手段とを備えるものである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an optical disk drive for driving an optical disk in which address information is frequency-modulated and a signal after modulation is recorded as a groove wobble. It comprises a wobble signal reproducing means for reproducing a signal, and a frequency demodulating means for obtaining address information by frequency demodulating the wobble signal.

【0014】この発明において、ディジタルデータ、例
えばアドレス情報を周波数変調した信号が波形整形部で
整形されて2値信号に変換される。また、クロック信号
生成部、例えばPLL回路や分周器により、ディジタル
データの“1”に対応する周波数変調信号の周波数とデ
ィジタルデータの“0”に対応する周波数変調信号の周
波数との公倍数の周波数を持つクロック信号が生成され
る。
In the present invention, digital data, for example, a signal obtained by frequency-modulating address information is shaped by a waveform shaping unit and converted into a binary signal. Further, a frequency of a common multiple of the frequency of the frequency modulation signal corresponding to digital data “1” and the frequency of the frequency modulation signal corresponding to digital data “0” is generated by a clock signal generation unit, for example, a PLL circuit or a frequency divider. Is generated.

【0015】このクロック信号を基準にすると、ディジ
タルデータの“1”に対応する2値信号は第1のクロッ
ク分の“1”および“0”からなるパターンを有し、デ
ィジタルデータの“0”に対応する2値信号は第2のク
ロック分の“1”および“0”からなるパターンを有し
ている。検波部では、クロック信号に基づいた処理でデ
ィジタルデータが復調される。
On the basis of this clock signal, a binary signal corresponding to digital data "1" has a pattern consisting of "1" and "0" for the first clock, and digital data "0". Has a pattern consisting of "1" and "0" for the second clock. In the detector, digital data is demodulated by processing based on the clock signal.

【0016】この処理においては、2値信号のエッジが
検出されてエッジ検出信号が得られると共に、ディジタ
ルデータの“1”および“0”に対応する2値信号のパ
ターンに係る第1および第2のウインドーパルスが生成
され、エッジ検出信号の出力タイミングと第1および第
2のそれぞれのウインドーパルスの出力タイミングとの
一致数に基づいて、ディジタルデータが“1”か“0”
かの判定が行われる。
In this process, the edge of the binary signal is detected to obtain an edge detection signal, and the first and second patterns related to the binary signal pattern corresponding to digital data "1" and "0". Is generated, and the digital data is set to “1” or “0” based on the number of coincidences between the output timing of the edge detection signal and the output timings of the first and second window pulses.
Is determined.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、この
発明の実施の形態について説明する。図1は、実施の形
態としての光磁気ディスク装置10の構成を示してい
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration of a magneto-optical disk device 10 as an embodiment.

【0018】まず、この光磁気ディスク装置10で駆動
する光磁気ディスク11を説明する。図2は、光磁気デ
ィスク11のセクタのレイアウトを示している。この光
磁気ディスク11には内周側より外周側に向かってトラ
ック0〜トラックnがスパイラル状に形成される。ま
た、光磁気ディスク11はゾーニングされており、内周
側のゾーンX1の各トラックには円周方向に0〜m1の
セクタが含まれ、外周側のゾーンX2の各トラックには
円周方向に0〜m2のセクタが含まれている。
First, the magneto-optical disk 11 driven by the magneto-optical disk device 10 will be described. FIG. 2 shows a layout of sectors on the magneto-optical disk 11. Tracks 0 to n are spirally formed on the magneto-optical disk 11 from the inner circumference toward the outer circumference. The magneto-optical disk 11 is zoned. Each track in the inner zone X1 includes a sector of 0 to m1 in the circumferential direction, and each track in the outer zone X2 is in the circumferential direction. 0 to m2 sectors are included.

【0019】図3A〜Dは、セクタ(ウォブルアドレス
フレーム)フォーマットを示している。光磁気ディスク
11には、図3Aに示すように、半径方向にグルーブ部
12Gとランド部12Lとが交互に形成され、グルーブ
部12Gまたはランド部12Lのいずれか一方、または
双方にデータが記録される。グルーブ部12Gの片側
は、例えばバイフェーズ変調後のアドレス情報ADMに
応じてウォブリングした状態とされている。
3A to 3D show a sector (wobble address frame) format. As shown in FIG. 3A, groove portions 12G and land portions 12L are alternately formed in the radial direction on the magneto-optical disk 11, and data is recorded in one or both of the groove portions 12G and the land portions 12L. You. One side of the groove 12G is wobbled according to, for example, the address information ADM after the biphase modulation.

【0020】この場合、アドレス情報ADMが周波数変
調(FM)され、変調後の信号に対応するようにグルー
ブ部12Gがウォブリングされている。つまり、その変
調後の信号がグルーブウォブルとして記録されている。
なお、グルーブ部12Gの片側がウォブリングされるこ
とから、結果的にランド部12Lの片側もアドレス情報
ADMに応じてウォブリングされた状態となっている。
In this case, the address information ADM is frequency-modulated (FM), and the groove 12G is wobbled so as to correspond to the modulated signal. That is, the modulated signal is recorded as a groove wobble.
Since one side of the groove portion 12G is wobbled, one side of the land portion 12L is also wobbled in accordance with the address information ADM.

【0021】なお、アドレス情報ADMはバイフェーズ
変調後のものであるが、アドレス情報にバイフェーズ変
調を施してアドレス情報ADMを得て用いるのは、周知
のようにDC成分の発生を防止するためである(DCフ
リー)。ここで、バイフェーズ変調を施す前のアドレス
情報の1ビットは、バイフェーズ2ビットに対応してい
る。
The address information ADM is obtained after the bi-phase modulation. However, the use of the bi-phase modulation of the address information to obtain and use the address information ADM is to prevent generation of a DC component as is well known. (DC free). Here, one bit of the address information before performing the bi-phase modulation corresponds to two bits of the bi-phase modulation.

【0022】グルーブウォブルは、図5に示すように、
アドレス情報ADMの1ビット(バイフェーズ1ビッ
ト)当たり、“1”のときは4波(4周期のサイン波)
となり、“0”のときは3波(3周期のサイン波)とな
っている。しかも、このグルーブウォブルの振幅は、変
調後の信号の周波数に応じて変化するようにされ、図5
に拡大して示すように、アドレス情報ADMの“1”お
よび“0”の接合部に対応するグルーブウォブルの0ク
ロス点の前後での傾きが変化しないようにされている。
The groove wobble is, as shown in FIG.
For 1 bit of the address information ADM (1 bit of biphase), when it is “1”, 4 waves (4 cycle sine waves)
When "0", there are three waves (sine waves of three periods). In addition, the amplitude of the groove wobble is changed according to the frequency of the signal after modulation.
As shown in the enlarged view, the inclination before and after the zero cross point of the groove wobble corresponding to the junction of "1" and "0" of the address information ADM is not changed.

【0023】ここで、1セクタ(1ウォブルアドレスフ
レーム)の期間のグルーブウォブルは、バイフェーズ変
調前のアドレス情報(データ)で、例えば42ビットの
データを有している。この42ビッのトデータは、図4
に示すように、4ビットの同期信号データ、24ビット
のフレームアドレスデータ、14ビットのCRC(cycl
ic redundancy check)コードで構成される。
Here, the groove wobble in the period of one sector (one wobble address frame) is address information (data) before bi-phase modulation and has, for example, 42 bits of data. This 42-bit data is shown in FIG.
As shown in FIG. 7, 4-bit synchronization signal data, 24-bit frame address data, and 14-bit CRC (cycling)
ic redundancy check) code.

【0024】また、1セクタは、図3Bに示すように、
例えば42セグメントで構成されている。各セグメント
の境界位置には、図3Aに示すように、クロックマーク
CMがグルーブウォブルに多重化されてプリフォーマッ
トされている。そして、図3Cに示すように、各セグメ
ント内に60バイトのデータ領域が設けられると共に、
各セグメントの境界位置に対応して6バイトの固定パタ
ーン領域が設けられている。データ書き込み時には、後
述するようにデータ領域にはNRZIデータが記録され
るが、固定パターン領域にはNRZIデータに同期した
2Tの長さの固定パターン信号が記録される(Tはデー
タのビット間隔)。この固定パターン信号は、データ読
み出し時におけるデータクロック信号の位相を制御する
ために使用される。
As shown in FIG. 3B, one sector is
For example, it is composed of 42 segments. At the boundary position of each segment, as shown in FIG. 3A, a clock mark CM is multiplexed into a groove wobble and preformatted. As shown in FIG. 3C, a 60-byte data area is provided in each segment,
A fixed pattern area of 6 bytes is provided corresponding to the boundary position of each segment. At the time of data writing, NRZI data is recorded in the data area as described later, but a fixed pattern signal having a length of 2T synchronized with the NRZI data is recorded in the fixed pattern area (T is a data bit interval). . This fixed pattern signal is used to control the phase of the data clock signal when reading data.

【0025】ここで、光磁気ディスク11では、1セク
タが42セグメントで構成され、各セグメントの境界位
置にクロックマークCMがプリフォーマットされている
ことから、隣接するクロックマーク間のバイフェーズビ
ット数aは2となる。また、光磁気ディスク11では、
各セグメント内に60バイトのデータ領域が設けられる
と共に、各セグメントの境界位置に対応して6バイトの
固定パターン領域が設けられることから、隣接するクロ
ックマーク間のチャネルビット数nは528となる。
Here, in the magneto-optical disk 11, one sector is composed of 42 segments, and the clock mark CM is preformatted at the boundary position of each segment. Becomes 2. In the magneto-optical disk 11,
Since a 60-byte data area is provided in each segment and a 6-byte fixed pattern area is provided corresponding to the boundary position of each segment, the number of channel bits n between adjacent clock marks is 528.

【0026】また、図1に戻って、ディスク装置10
は、光磁気ディスク11を回転駆動するためのスピンド
ルモータ13を有している。光磁気ディスク11は、記
録時および再生時には角速度一定で回転駆動される。ス
ピンドルモータ13の回転軸には、その回転速度を検出
するための周波数発電機14が取り付けられている。
Returning to FIG. 1, the disk drive 10
Has a spindle motor 13 for driving the magneto-optical disk 11 to rotate. The magneto-optical disk 11 is driven to rotate at a constant angular velocity during recording and reproduction. A frequency generator 14 for detecting a rotation speed of the spindle motor 13 is attached to a rotation shaft of the spindle motor 13.

【0027】また、ディスク装置10は、外部磁界発生
用の磁気ヘッド15と、この磁気ヘッド15の磁界発生
を制御する磁気ヘッドドライバ16と、半導体レーザ、
対物レンズ、光検出器等から構成される光学ヘッド17
と、この光学ヘッド17の半導体レーザの発光を制御す
るレーザドライバ18とを有している。磁気ヘッド15
と光学ヘッド17は光磁気ディスク11を挟むように対
向して配設されている。
The disk drive 10 includes a magnetic head 15 for generating an external magnetic field, a magnetic head driver 16 for controlling the generation of a magnetic field of the magnetic head 15, a semiconductor laser,
Optical head 17 composed of an objective lens, a photodetector, etc.
And a laser driver 18 for controlling the light emission of the semiconductor laser of the optical head 17. Magnetic head 15
And the optical head 17 are arranged to face each other with the magneto-optical disk 11 therebetween.

【0028】レーザドライバ18には、後述するサーボ
コントローラ41よりD/Aコンバータ19を介してレ
ーザパワー制御信号SPCが供給され、光学ヘッド17の
半導体レーザより出力されるレーザ光のパワーが、記録
時には記録パワーPWとなり、再生時には記録パワーPW
より低い再生パワーPRとなるように制御される。
The laser driver 18 is supplied with a laser power control signal SPC from a servo controller 41 to be described later via a D / A converter 19, and the power of the laser beam output from the semiconductor laser of the optical head 17 is used during recording. It becomes the recording power PW, and at the time of reproduction, the recording power PW
It is controlled so as to have a lower reproduction power PR.

【0029】データ書き込み時(記録時)には、後述す
るように磁気ヘッドドライバ16に記録データDrおよ
び固定パターン信号SFPが供給され、磁気ヘッド15よ
り記録データDrおよび固定パターン信号SFPに対応し
た磁界が発生され、光学ヘッド17からのレーザビーム
(レーザ光)との共働により光磁気ディスク11のデー
タ領域に記録データDrが記録されると共に、この記録
データDrが記録されるデータ領域に対応した固定パタ
ーン領域に固定パターン信号SFPが記録される。
At the time of data writing (at the time of recording), the recording data Dr and the fixed pattern signal SFP are supplied to the magnetic head driver 16 as described later, and the magnetic head 15 supplies a magnetic field corresponding to the recording data Dr and the fixed pattern signal SFP. Is generated, the recording data Dr is recorded in the data area of the magneto-optical disk 11 in cooperation with the laser beam (laser light) from the optical head 17, and the recording area corresponds to the data area in which the recording data Dr is recorded. A fixed pattern signal SFP is recorded in the fixed pattern area.

【0030】図6は、光学ヘッド17の光学系の構成を
示している。光学ヘッド17は、レーザビームLBを得
るための半導体レーザ31と、この半導体レーザ31よ
り出力されるレーザビームLBを発散光より平行光に整
形するためのコリメータレンズ32と、レーザビームを
透過光と反射光の2つに分離するためのビームスプリッ
タ33と、レーザビームの光路を変更するための反射ミ
ラー34と、レーザビームLBを光磁気ディスク11の
記録面(記録膜)に照射するための対物レンズ35とを
有している。
FIG. 6 shows the configuration of the optical system of the optical head 17. The optical head 17 includes a semiconductor laser 31 for obtaining a laser beam LB, a collimator lens 32 for shaping the laser beam LB output from the semiconductor laser 31 into a parallel light from a divergent light, and a laser light for transmitting a laser beam. A beam splitter 33 for splitting the reflected light into two, a reflection mirror 34 for changing the optical path of the laser beam, and an objective for irradiating the recording surface (recording film) of the magneto-optical disk 11 with the laser beam LB. A lens 35.

【0031】また、光学ヘッド17は、ビームスプリッ
タ33の反射面33bで反射されて外部に出射されるレ
ーザビームを偏光方向の違いによって3つのレーザビー
ムに分離するためのウォラストンプリズム(偏光面検波
プリズム)36と、このウォラストンプリズム36より
出力される3つのレーザビーム(平行光)を集光させる
ための集光レンズ37と、この集光レンズ37より出射
される3つのレーザビームが照射されるフォトディテク
タ39と、集光レンズ37とフォトディテクタ39との
間に配されるマルチレンズ38とを有している。
The optical head 17 has a Wollaston prism (polarization plane detection) for separating the laser beam reflected by the reflection surface 33b of the beam splitter 33 and emitted to the outside into three laser beams depending on the polarization direction. (A prism) 36, a condenser lens 37 for condensing three laser beams (parallel light) output from the Wollaston prism 36, and three laser beams emitted from the condenser lens 37 are irradiated. And a multi-lens 38 disposed between the condenser lens 37 and the photodetector 39.

【0032】マルチレンズ38は凹レンズおよび円筒レ
ンズの組み合わせで構成される。円筒レンズを使用する
のは、フォーカスエラー信号を周知の非点収差法で得る
ためである。フォトディテクタ39は、図7に示すよう
に、4分割フォトダイオード部39mと、2個のフォト
ダイオード部39i,39jとで構成される。
The multi-lens 38 comprises a combination of a concave lens and a cylindrical lens. The use of the cylindrical lens is for obtaining the focus error signal by a well-known astigmatism method. As shown in FIG. 7, the photodetector 39 includes a four-division photodiode unit 39m and two photodiode units 39i and 39j.

【0033】図8は、ウォラストンプリズム36の構成
例を示している。このプリズム36は、1軸性結晶、例
えば水晶よりなる直角プリズム36a,36bが接合さ
れて構成されている。この場合、プリズム36bの光軸
Axbはプリズム36aの光軸Axaに対して45゜だけ傾
くように設定されている。
FIG. 8 shows a configuration example of the Wollaston prism 36. The prism 36 is configured by joining right-angle prisms 36a and 36b made of a uniaxial crystal, for example, quartz. In this case, the optical axis Axb of the prism 36b is set to be inclined by 45 ° with respect to the optical axis Axa of the prism 36a.

【0034】このような構成において、水晶は入射光の
偏光面に関連して2つの異なった屈折率を持っている。
そのため、プリズム36aにその光軸Axaに対して45
゜だけ傾いた偏光面Ppoを有する直線偏光Laを入射す
ると、図9に示すようにプリズム36aでは光軸Axaに
垂直な偏光面を有する偏光成分Lb1および光軸Axaに平
行な偏光面を有する偏光成分Lb2に分離される。さら
に、プリズム36bでは、偏光成分Lb1が光軸Axbに平
行な偏光面を有する偏光成分Lc1および光軸Axbに垂直
な偏光面を有する偏光成分Lc2に分離されると共に、偏
光成分Lb2が光軸Axbに平行な偏光面を有する偏光成分
Lc3および光軸Axbに垂直な偏光面を有する偏光成分L
c4に分離される。
In such a configuration, the quartz has two different refractive indices in relation to the plane of polarization of the incident light.
For this reason, the prism 36a has 45 degrees with respect to its optical axis Axa.
When linearly polarized light La having a polarization plane Ppo inclined by ゜ is incident, the prism 36a has a polarization component Lb1 having a polarization plane perpendicular to the optical axis Axa and a polarization component having a polarization plane parallel to the optical axis Axa, as shown in FIG. The component is separated into Lb2. Further, in the prism 36b, the polarization component Lb1 is separated into a polarization component Lc1 having a polarization plane parallel to the optical axis Axb and a polarization component Lc2 having a polarization plane perpendicular to the optical axis Axb. A polarization component Lc3 having a plane of polarization parallel to and a polarization component L having a plane of polarization perpendicular to the optical axis Axb
Separated into c4.

【0035】ここで、偏光成分Lc1,Lc2はプリズム3
6aの光軸Axaに垂直な偏光面を有するものであり、そ
れぞれの光量は直線偏光Laの1/4の量となる。一
方、偏光成分Lc3,Lc4はプリズム36aの光軸Axaと
平行な偏光面を有するものであり、それぞれの光量は直
線偏光Laの1/4の量となる。そして、偏光成分Lc
2,Lc3のプリズム36bからの出射角は等しく、結果
としてプリズム36b、従ってウォラストンプリズム3
6からは3本のレーザビームLi,Lm,Ljが分離し
て得られることになる。
Here, the polarization components Lc1 and Lc2 are
6a has a polarization plane perpendicular to the optical axis Axa, and the amount of each light is 1/4 of the linearly polarized light La. On the other hand, the polarization components Lc3 and Lc4 have a plane of polarization parallel to the optical axis Axa of the prism 36a, and the amount of each light is 1/4 that of the linearly polarized light La. And the polarization component Lc
2, Lc3 have the same exit angle from the prism 36b, and consequently the prism 36b, and thus the Wollaston prism 3
From No. 6, three laser beams Li, Lm and Lj are obtained separately.

【0036】図6に示す光学ヘッド17の光学系の動作
を説明する。半導体レーザ31から放射される発散光と
してのレーザビームLBは、コリメータレンズ32によ
って平行光に整形されてビームスプリッタ33に入射さ
れる。ビームスプリッタ33の多層膜33aを透過した
レーザビームは反射ミラー34で直角に光路が変更さ
れ、対物レンズ35を介して光磁気ディスク11の記録
面に照射される。
The operation of the optical system of the optical head 17 shown in FIG. 6 will be described. The laser beam LB as divergent light emitted from the semiconductor laser 31 is shaped into parallel light by the collimator lens 32 and is incident on the beam splitter 33. The optical path of the laser beam transmitted through the multilayer film 33 a of the beam splitter 33 is changed at a right angle by the reflection mirror 34, and is applied to the recording surface of the magneto-optical disk 11 via the objective lens 35.

【0037】また、光磁気ディスク11の記録面で反射
されるレーザビームは対物レンズ35および反射ミラー
34を介してビームスプリッタ33に入射される。そし
て、ビームスプリッタ33の多層膜33aで反射された
レーザビームLrは、さらにビームスプリッタ33の反
射面33bで反射されて外部に出射され、ウォラストン
プリズム36に入射される。
The laser beam reflected on the recording surface of the magneto-optical disk 11 is incident on the beam splitter 33 via the objective lens 35 and the reflection mirror 34. Then, the laser beam Lr reflected by the multilayer film 33a of the beam splitter 33 is further reflected by the reflection surface 33b of the beam splitter 33, emitted outside, and made incident on the Wollaston prism 36.

【0038】このように光磁気ディスク11の記録面で
の反射に係るレーザビームLrがウォラストンプリズム
36に入射されるが、上述せずも、光磁気ディスク11
の記録面での偏光面の回転(カー回転)がなかった場合
の偏光面が光軸Axaに対して45゜だけ傾くように設定
されている(図8の直線偏光Laの偏光面Ppoと光軸A
xaとの関係参照)。これにより、上述した直線偏光La
が入射される場合と同様に、ウォラストンプリズム36
によってレーザビームLrより3本のレーザビームL
i,Lm,Ljが分離して得られる。
As described above, the laser beam Lr related to the reflection on the recording surface of the magneto-optical disk 11 is incident on the Wollaston prism 36.
Is set to be inclined by 45 ° with respect to the optical axis Axa when there is no rotation (Kerr rotation) of the polarization plane on the recording surface of FIG. Axis A
xa). Thus, the linearly polarized light La
Is incident, the Wollaston prism 36
From the laser beam Lr to three laser beams L
i, Lm and Lj are obtained separately.

【0039】ここで、レーザビームLrの偏光面は光磁
気ディスク11の記録膜の磁化の向きに従って時計方向
または反時計方向にわずかに回転し、レーザビームL
i,Ljの光量に光磁気ディスク11の記録膜の磁化の
向きに従った大小関係が生じる。そのため、レーザビー
ムLi,Ljの光量を検出し、その差をとることで光磁
気記録されたデータ(信号)に対応する再生信号を得る
ことができる。なお、レーザビームLrの偏光面が回転
してもレーザビームLmの光量は一定である。
Here, the polarization plane of the laser beam Lr slightly rotates clockwise or counterclockwise according to the direction of magnetization of the recording film of the magneto-optical disk 11, and the laser beam Lr
A magnitude relationship is generated between the light amounts of i and Lj according to the direction of magnetization of the recording film of the magneto-optical disk 11. Therefore, a reproduction signal corresponding to magneto-optically recorded data (signal) can be obtained by detecting the light amounts of the laser beams Li and Lj and taking the difference. Note that the light amount of the laser beam Lm is constant even when the polarization plane of the laser beam Lr rotates.

【0040】上述したようにウォラストンプリズム36
より出射される3本のレーザビームLi,Lm,Ljは
集光レンズ37およびマルチレンズ38を介してフォト
ディテクタ39に入射される。フォトディテクタ39を
構成するフォトダイオード部39i,39m,39jに
は、図7に示すように、それぞれレーザビームLi,L
m,LjによるスポットSPi,SPm,SPjが形成
される。
As described above, the Wollaston prism 36
The three laser beams Li, Lm, Lj emitted from the laser beam enter a photodetector 39 via a condenser lens 37 and a multi-lens 38. As shown in FIG. 7, laser beams Li and L are respectively applied to photodiode portions 39i, 39m and 39j constituting the photodetector 39.
Spots SPi, SPm and SPj are formed by m and Lj.

【0041】この場合、4分割フォトダイオード部39
mを構成する4個のフォトダイオードDa〜Ddの検出
信号をそれぞれSa〜Sdとし、フォトダイオード部3
9i,39jを構成するフォトダイオードDi,Djの
検出信号をSi,Sjとするとき、光学ヘッド17の増
幅回路部(図示せず)で以下の演算が行われ、記録領域
からの再生信号SMO、非点収差方式のフォーカスエラー
信号SFEおよびプッシュプル信号SPPが生成される。
In this case, the four-division photodiode section 39
m, the detection signals of the four photodiodes Da to Dd are denoted by Sa to Sd, respectively.
When the detection signals of the photodiodes Di and Dj constituting 9i and 39j are Si and Sj, the following calculation is performed in the amplifier circuit unit (not shown) of the optical head 17, and the reproduction signals SMO and An astigmatic focus error signal SFE and a push-pull signal SPP are generated.

【0042】SMO=Si−Sj SFE=(Sa+Sc)−(Sb+Sd) SPP=(Sa+Sb)−(Sc+Sd)SMO = Si-Sj SFE = (Sa + Sc)-(Sb + Sd) SPP = (Sa + Sb)-(Sc + Sd)

【0043】図1に戻って、ディスク装置10は、CP
U(central processing unit)を備えるサーボコント
ローラ41を有している。サーボコントローラ41に
は、光学ヘッド17で生成されるフォーカスエラー信号
SFEがA/Dコンバータ42を介して供給される。ま
た、光学ヘッド17で生成されるプッシュプル信号SPP
は、プッシュプル法によるトラッキングエラー信号STE
と、光磁気ディスク11のグルーブウォブルに対応した
ウォブル信号(FM信号)SWBと、光磁気ディスク11
のクロックマークCMに対応したクロックマーク再生信
号SCMとを含むものである。ここで、信号STE,SWB,
SCMはそれぞれ異なる周波数帯域にある。したがって、
プッシュプル信号SPPより、ローパスフィルタやバンド
パスフィルタを使用して、信号STE,SWB,SCMをそれ
ぞれ抽出することが可能である。
Returning to FIG. 1, the disk device 10
A servo controller 41 having a U (central processing unit) is provided. The focus error signal SFE generated by the optical head 17 is supplied to the servo controller 41 via the A / D converter 42. Also, a push-pull signal SPP generated by the optical head 17
Is the tracking error signal STE by the push-pull method
A wobble signal (FM signal) SWB corresponding to the groove wobble of the magneto-optical disk 11;
And the clock mark reproduction signal SCM corresponding to the clock mark CM. Here, the signals STE, SWB,
The SCMs are in different frequency bands. Therefore,
From the push-pull signal SPP, signals STE, SWB, and SCM can be respectively extracted using a low-pass filter or a band-pass filter.

【0044】サーボコントローラ41には、プッシュプ
ル信号SPPよりローパスフィルタ43で抽出されたトラ
ッキングエラー信号STEがA/Dコンバータ44を介し
て供給される。このサーボコントローラ41には、さら
に上述した周波数発電機14より出力される周波数信号
SFGが供給される。
The tracking error signal STE extracted by the low-pass filter 43 from the push-pull signal SPP is supplied to the servo controller 41 via the A / D converter 44. The servo controller 41 is further supplied with a frequency signal SFG output from the frequency generator 14 described above.

【0045】サーボコントローラ41の動作は、後述す
るシステムコントローラ51によって制御される。この
サーボコントローラ41によって、トラッキングコイル
やフォーカスコイル、さらには光学ヘッド17をラジア
ル方向に移動させるためのリニアモータを含むアクチュ
エータ45が制御され、トラッキングやフォーカスのサ
ーボが行われ、また光学ヘッド17の半径方向(ラジア
ル方向)への移動が制御される。また、サーボコントロ
ーラ41によってスピンドルモータ13が制御され、上
述したように記録時や再生時に光磁気ディスク11が角
速度一定で回転するように制御される。
The operation of the servo controller 41 is controlled by a system controller 51 described later. The servo controller 41 controls an actuator 45 including a tracking coil, a focus coil, and a linear motor for moving the optical head 17 in the radial direction, performs tracking and focus servo, and controls the radius of the optical head 17. The movement in the direction (radial direction) is controlled. Further, the spindle motor 13 is controlled by the servo controller 41, so that the magneto-optical disk 11 is controlled to rotate at a constant angular velocity during recording and reproduction as described above.

【0046】また、ディスク装置10は、CPUを備え
るシステムコントローラ51と、データバッファ52
と、ホストコンピュータとの間でデータやコマンドの送
受を行うためのSCSI(Small Computer System Inte
rface)53とを有している。システムコントローラ5
1はシステム全体を制御するためのものである。
The disk device 10 includes a system controller 51 having a CPU and a data buffer 52.
(Small Computer System Interface) for sending and receiving data and commands to and from the host computer
rface) 53. System controller 5
1 is for controlling the whole system.

【0047】また、ディスク装置10は、ホストコンピ
ュータからSCSI53を通じて供給される書き込みデ
ータに対して誤り訂正符号の付加を行うと共に、後述す
るデータ復調器59の出力データに対して誤り訂正を行
うためのECC(error correction code)回路54
と、このECC回路54で誤り訂正符号が付加された書
き込みデータをNRZI(Non Return to Zero Inverte
d)データに変換して記録データDrを得ると共に、上
述した固定パターン信号SFPを発生するデータ変調器5
5とを有している。
The disk device 10 adds an error correction code to write data supplied from the host computer through the SCSI 53 and performs error correction on output data of a data demodulator 59 described later. ECC (error correction code) circuit 54
Then, the write data to which the error correction code is added by the ECC circuit 54 is transmitted to the NRZI (Non Return to Zero Inverte).
d) The data modulator 5 which converts the data into data to obtain the recording data Dr and generates the above-mentioned fixed pattern signal SFP.
5 is provided.

【0048】また、ディスク装置10は、光学ヘッド1
7で生成される再生信号SMOの周波数特性を補償するた
めのイコライザ回路56と、このイコライザ回路56の
出力信号をディジタル信号に変換するためのA/Dコン
バータ57と、このA/Dコンバータ57の出力データ
に対してディジタル的にデータ識別処理をして再生デー
タDpを得るデータ識別器58と、このデータ識別器5
8より出力される再生データDpに対してNRZI逆変
換をして読み出しデータを得るためのデータ復調器59
とを有している。データ識別器58は、2値化回路やビ
タビ復号器等で構成される。
Also, the disk device 10 includes the optical head 1
7, an equalizer circuit 56 for compensating for the frequency characteristics of the reproduced signal SMO, an A / D converter 57 for converting an output signal of the equalizer circuit 56 into a digital signal, and an A / D converter 57 A data discriminator 58 for digitally performing data discrimination processing on output data to obtain reproduction data Dp;
A data demodulator 59 for performing NRZI inverse conversion on the reproduction data Dp output from 8 to obtain read data
And The data discriminator 58 includes a binarizing circuit, a Viterbi decoder, and the like.

【0049】また、ディスク装置10は、光学ヘッド1
7で生成されるプッシュプル信号SPPに含まれるウォブ
ル信号SWBよりフレーム同期信号FDおよびフレームア
ドレスデータFADを得るADIP(Address In Pre-g
roove)デコーダ60と、プッシュプル信号SPPに含ま
れるクロックマーク再生信号SCMおよび光磁気ディスク
11の固定パターン領域に対応した再生信号SMOより、
再生信号SCMの0クロス点のタイミングを示すパルス信
号PCMおよびデータクロック信号DCKを得るデータク
ロック再生器70と、フレーム同期信号FD、フレーム
アドレスデータFAD、パルス信号PCMおよびデータク
ロック信号DCKを使用して、リードゲート信号やライ
トゲート信号等のシステム各部に必要なタイミング信号
を発生するタイミング発生器90とを有している。フレ
ームアドレスデータFADはサーボコントローラ41に
も供給され、またデータクロック信号DCKはA/Dコ
ンバータ57にサンプリングクロックとして供給され
る。
Also, the disk device 10 includes the optical head 1
7. An ADIP (Address In Pre-g) for obtaining the frame synchronization signal FD and the frame address data FAD from the wobble signal SWB included in the push-pull signal SPP generated in Step 7.
roove) The decoder 60 and the clock mark reproduction signal SCM included in the push-pull signal SPP and the reproduction signal SMO corresponding to the fixed pattern area of the magneto-optical disk 11
Using a data clock reproducer 70 for obtaining a pulse signal PCM and a data clock signal DCK indicating the timing of the 0 cross point of the reproduced signal SCM, and using a frame synchronization signal FD, frame address data FAD, a pulse signal PCM and a data clock signal DCK. And a timing generator 90 for generating a timing signal necessary for each part of the system such as a read gate signal and a write gate signal. The frame address data FAD is also supplied to the servo controller 41, and the data clock signal DCK is supplied to the A / D converter 57 as a sampling clock.

【0050】図10は、ADIPデコーダ60の構成を
示している。このADIPデコーダ60は、プッシュプ
ル信号SPPよりウォブル信号SWBを抽出するためのバン
ドパスフィルタ61と、直流カット用のコンデンサ62
と、閾値=0としてウォブル信号SWBをパルス信号(2
値信号)PWBに変換するコンパレータ63とを有してい
る。
FIG. 10 shows the configuration of the ADIP decoder 60. The ADIP decoder 60 includes a band-pass filter 61 for extracting the wobble signal SWB from the push-pull signal SPP, and a DC cut capacitor 62.
And the wobble signal SWB as a pulse signal (2
Value signal) PWB.

【0051】また、ADIPデコーダ60は、PLL回
路64を構成する電圧制御発振器64aと、この電圧制
御発振器64aより出力されるクロック信号CK24を1
/24に分周する分周器64bと、コンパレータ63よ
り出力されるパルス信号PWBと分周器64bの出力信号
との位相比較を行うための位相比較器64cと、この位
相比較器64cより出力される位相誤差信号の低域成分
を取り出して電圧制御発振器64aに供給するための制
御信号を得るローパスフィルタ64dとを有している。
The ADIP decoder 60 outputs a voltage controlled oscillator 64a constituting the PLL circuit 64 and a clock signal CK24 output from the voltage controlled oscillator 64a to one.
A frequency divider 64b that divides the frequency to / 24, a phase comparator 64c for comparing the phase of the pulse signal PWB output from the comparator 63 with the output signal of the frequency divider 64b, and an output from the phase comparator 64c. And a low-pass filter 64d for obtaining a control signal for extracting a low-frequency component of the phase error signal to be supplied to the voltage-controlled oscillator 64a.

【0052】また、ADIPデコーダ60は、コンパレ
ータ63より出力されるパルス信号PWBに対して電圧制
御発振器64aより出力されるクロック信号CK24を使
用した復調処理を行ってアドレス情報ADMを得ると共
に、このアドレス情報ADMに同期したクロック信号A
CKを得る検波回路67と、この検波回路67より出力
されるアドレス情報ADMに対し、クロック信号ACK
を使用して、同期検出、バイフェーズ復調、誤り検出な
どを行って、フレーム同期信号FDおよびフレームアド
レスデータFADを得るアドレス変換器68とを有して
いる。
The ADIP decoder 60 performs demodulation processing on the pulse signal PWB output from the comparator 63 using the clock signal CK24 output from the voltage controlled oscillator 64a to obtain address information ADM, and obtains this address. Clock signal A synchronized with information ADM
A detection circuit 67 for obtaining CK, and a clock signal ACK for the address information ADM output from the detection circuit 67
And an address converter 68 for performing synchronization detection, bi-phase demodulation, error detection, and the like to obtain a frame synchronization signal FD and frame address data FAD.

【0053】次に、図10に示すADIPデコーダ60
の動作を説明する。プッシュプル信号SPPよりバンドパ
スフィルタ61でウォブル信号SWBが抽出される。そし
て、このウォブル信号SWBがコンデンサ62を介してコ
ンパレータ63に供給されてパルス信号PWBに変換され
る。上述したように、光磁気ディスク11には、バイフ
ェーズ変調後のアドレス情報ADMが周波数変調され、
この変調後の信号がグルーブウォブルとして記録されて
いる。そのため、ウォブル信号SWBは、周波数変調後の
信号と同じく、図11Aに示すように、アドレス情報A
DMの1ビット(バイフェーズ1ビット)に対応して、
“1”のときは4波を有し、“0”のときは3波を有す
るものとなっている。そのため、コンパレータ63から
は、図11Bに示すように、パルス信号(2値信号)P
WBが得られる。なお、ウォブル信号SWBの振幅は、光磁
気ディスク11のグルーブウォブルの振幅に比例したも
のとなる。
Next, the ADIP decoder 60 shown in FIG.
Will be described. The wobble signal SWB is extracted from the push-pull signal SPP by the band pass filter 61. Then, the wobble signal SWB is supplied to the comparator 63 via the capacitor 62 and is converted into a pulse signal PWB. As described above, the address information ADM after the bi-phase modulation is frequency-modulated on the magneto-optical disk 11,
The modulated signal is recorded as a groove wobble. Therefore, the wobble signal SWB has the address information A as shown in FIG.
In correspondence with one bit of DM (one bit of biphase),
"1" has four waves, and "0" has three waves. Therefore, the comparator 63 outputs a pulse signal (binary signal) P as shown in FIG. 11B.
WB is obtained. Note that the amplitude of the wobble signal SWB is proportional to the amplitude of the groove wobble of the magneto-optical disk 11.

【0054】ビット“1”に対応するウォブル信号SWB
の周波数がfaであり、ビット“0”に対応するウォブ
ル信号SWBの周波数がfbであるとき、電圧制御発振器
64aの発振周波数は、fa,fbの公倍数の周波数
(=6fa=8fb)近傍で変化するように設定されて
いる。そのため、電圧制御発振器64aからは、図11
Cに示すように、fc=6fa=8fbの周波数、従っ
てバイフェーズのビット周波数の24倍の周波数を持
ち、パルス信号PWBに同期したクロック信号CK24が得
られる。上述せずも、クロック信号CK24はバイフェー
ズビットのオーバーサンプリング用のクロック信号であ
って、バイフェーズビットのオーバーサンプリング値s
は24クロックとなる。
Wobble signal SWB corresponding to bit "1"
Is fa and the frequency of the wobble signal SWB corresponding to bit "0" is fb, the oscillation frequency of the voltage-controlled oscillator 64a changes near a frequency that is a common multiple of fa and fb (= 6fa = 8fb). Is set to Therefore, the voltage-controlled oscillator 64a outputs the signal shown in FIG.
As shown in C, a clock signal CK24 having a frequency of fc = 6fa = 8fb, that is, 24 times the bi-phase bit frequency, and synchronized with the pulse signal PWB is obtained. Although not described above, the clock signal CK24 is a clock signal for oversampling of the biphase bit, and the oversampling value s of the biphase bit is
Is 24 clocks.

【0055】このクロック信号CK24を基準にすると、
バイフェーズ1ビット=“1”に対応するパルス信号P
WB(1周期分)は3クロック分の値“1”と3クロック
分の値“0”とからなる6Tパターンを有し、バイフェ
ーズ1ビット=“0”に対応するパルス信号PWBは4ク
ロック分の値“1”と4クロック分の値“0”とからな
る8Tパターンを有している。
With reference to this clock signal CK24,
Pulse signal P corresponding to bi-phase 1 bit = "1"
The WB (for one cycle) has a 6T pattern consisting of a value of "1" for three clocks and a value of "0" for three clocks, and the pulse signal PWB corresponding to one bit of bi-phase = "0" is four clocks. It has an 8T pattern consisting of a minute value "1" and a value "0" for four clocks.

【0056】検波回路67は、パルス信号PWBより8T
パターンの連続を検出するときは、クロック信号ACK
(図11Dに図示)に同期して次のバイフェーズ1ビッ
ト期間に“0”を出力し、一方パルス信号PWBより6T
パターンの連続を検出するときは、クロック信号ACK
に同期して次のバイフェーズ1ビット期間に“1”を出
力する。
The detection circuit 67 calculates 8T from the pulse signal PWB.
When detecting the continuation of the pattern, the clock signal ACK
11D, “0” is output in the next bi-phase 1 bit period, while 6T is output from the pulse signal PWB.
When detecting the continuation of the pattern, the clock signal ACK
And outputs "1" in the next bi-phase 1 bit period.

【0057】つまり、検波回路67ではパルス信号PWB
に対して復調処理が行われ、この検波回路67からはク
ロック信号ACKと共に、このクロック信号ACKに同
期してグルーブウォブルに対応したアドレス情報ADM
が出力される(図11Eに図示)。なお、図11Fは、
クロックマークCMの再生信号SCMを示している。
That is, in the detection circuit 67, the pulse signal PWB
A demodulation process is performed on the clock signal ACK from the detection circuit 67 and the address information ADM corresponding to the groove wobble in synchronization with the clock signal ACK.
Is output (shown in FIG. 11E). In addition, FIG.
The reproduction signal SCM of the clock mark CM is shown.

【0058】このアドレス情報ADMは、アドレス変換
器68に供給される。このアドレス変換器68では、ア
ドレス情報ADMに対し、同期検出、バイフェーズ復
調、誤り検出などが行われて、フレーム同期信号FDお
よびフレームアドレスデータFADが得られる。これに
より、アドレス変換器68からは、フレーム同期信号F
Dと共に、アドレス情報ADMより得られるフレームア
ドレスデータFADが出力される。
The address information ADM is supplied to the address converter 68. In the address converter 68, synchronization detection, biphase demodulation, error detection, and the like are performed on the address information ADM, and a frame synchronization signal FD and frame address data FAD are obtained. Thus, the address converter 68 outputs the frame synchronization signal F
Along with D, frame address data FAD obtained from the address information ADM is output.

【0059】図12は、検波回路67の構成を示してい
る。この検波回路67は、クロック信号CK24を使用し
て、パルス信号PWBのパターン判別によりバイフェーズ
ビット“1”および“0”の切れ目(変わり目)を検出
し、バイフェーズのビット周期のクロック信号CKBPを
得るためのバイフェーズ周期検出回路102と、このク
ロック信号CKBPがリセット信号として供給されると共
に、クロック信号CK24がカウント用のクロック信号と
して供給される5ビットカウンタ103とを有してい
る。
FIG. 12 shows the configuration of the detection circuit 67. Using the clock signal CK24, the detection circuit 67 detects a break (change) between the bi-phase bits "1" and "0" by determining the pattern of the pulse signal PWB, and generates a clock signal CKBP having a bi-phase bit cycle. A bi-phase cycle detection circuit 102 for obtaining the clock signal CKBP is supplied as a reset signal, and a 5-bit counter 103 is supplied with a clock signal CK24 as a clock signal for counting.

【0060】また、検波回路67は、5ビットカウンタ
103のカウント出力に基づいて、バイフェーズビット
“0”用のウインドーパルスPW0と、バイフェーズビッ
ト“1”用のウインドーパルスPW1とを生成するウイ
ンドーパルス生成回路104を有している。ここで、ウ
インドーパルスPW0は、正規の8Tパターンのパルス信
号PWBの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジにそ
れぞれ対応して出力されるパルスであり、バイフェーズ
1ビット期間に6個のパルスが生成される。同様に、ウ
インドーパルスPW1は、正規の6Tパターンのパルス信
号PWBの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジにそ
れぞれ対応して出力されるパルスであり、バイフェーズ
1ビット期間に8個のパルスが生成される。
The detection circuit 67 generates a window pulse PW0 for the biphase bit “0” and a window pulse PW1 for the biphase bit “1” based on the count output of the 5-bit counter 103. And a window pulse generating circuit 104. Here, the window pulse PW0 is a pulse output corresponding to the rising edge and the falling edge of the pulse signal PWB of the regular 8T pattern, and six pulses are generated in a biphase 1 bit period. . Similarly, the window pulse PW1 is a pulse output corresponding to the rising edge and the falling edge of the pulse signal PWB of the regular 6T pattern, and eight pulses are generated in the bi-phase 1 bit period. .

【0061】また、検波回路67は、クロック信号CK
24を使用して、パルス信号PWBの立ち上がりエッジおよ
び立ち下がりエッジを検出し、エッジ検出パルスPeを
出力するエッジ検出回路110を有している。
The detection circuit 67 outputs the clock signal CK
24, an edge detection circuit 110 that detects a rising edge and a falling edge of the pulse signal PWB and outputs an edge detection pulse Pe.

【0062】図13は、エッジ検出回路110の構成を
示している。このエッジ検出回路110は、クロック信
号CK24で動作する2段構成のDフリップフロップ回路
111,112と、エクスクルーシブ・オア回路113
とから構成されている。パルス信号PWBはDフリップフ
ロップ回路111のデータ端子Dに供給され、このDフ
リップフロップ回路111の非反転出力端子Qに得られ
る信号がDフリップフロップ回路112のデータ端子D
に供給される。そして、Dフリップフロップ回路11
1,112の非反転出力端子Qに得られる信号がエクス
クルーシブ・オア回路113の入力側に供給され、この
エクスクルーシブ・オア回路113の出力側よりエッジ
検出パルスPeが出力される。
FIG. 13 shows the configuration of the edge detection circuit 110. The edge detection circuit 110 includes two-stage D flip-flop circuits 111 and 112 operated by a clock signal CK24 and an exclusive OR circuit 113.
It is composed of The pulse signal PWB is supplied to the data terminal D of the D flip-flop circuit 111, and the signal obtained at the non-inverting output terminal Q of the D flip-flop circuit 111 is applied to the data terminal D of the D flip-flop circuit 112.
Supplied to Then, the D flip-flop circuit 11
Signals obtained at the non-inverting output terminals Q of the first and the 112 are supplied to the input side of the exclusive OR circuit 113, and the edge detection pulse Pe is output from the output side of the exclusive OR circuit 113.

【0063】また、図12に戻って、検波回路67は、
ウインドーパルス生成回路104で生成されるウインド
ーパルスPW0,PW1をゲート信号としてエッジ検出パル
スPeをゲートし、一致検出回路として機能するアンド
ゲート121,122と、アンドゲート121,122
でそれぞれゲートされたエッジ検出パルスPeをカウン
トするエッジパルスカウンタ123,124と、前のバ
イフェーズ1ビット期間でカウントされたエッジパルス
カウンタ123,124のカウント値x,yを比較し、
次のバイフェーズ1ビット期間に、その比較結果に基づ
いたアドレス情報ADMを出力する比較回路125とを
有している。
Returning to FIG. 12, the detection circuit 67
AND gates 121 and 122 function as a coincidence detection circuit by gating the edge detection pulse Pe using the window pulses PW0 and PW1 generated by the window pulse generation circuit 104 as gate signals, and AND gates 121 and 122.
Are compared with the edge pulse counters 123 and 124 for counting the edge detection pulses Pe respectively gated in the above, and the count values x and y of the edge pulse counters 123 and 124 counted in the previous bi-phase 1-bit period.
A comparison circuit 125 outputs address information ADM based on the comparison result in the next bi-phase 1 bit period.

【0064】ここで、エッジパルスカウンタ123,1
24には、それぞれバイフェーズのビット周期のクロッ
ク信号CKBPがリセット信号として供給される。また、
このクロック信号CKBPは、比較回路125にもタイミ
ング信号として供給される。比較回路125では、x>
yのときはアドレス情報ADMとしてビット“0”が出
力され、x<yのときはアドレス情報ADMとしてビッ
ト“1”が出力される。
Here, the edge pulse counters 123, 1
The clock signal CKBP having a bi-phase bit cycle is supplied to the reference signal 24 as a reset signal. Also,
This clock signal CKBP is also supplied to the comparison circuit 125 as a timing signal. In the comparison circuit 125, x>
When y, bit “0” is output as address information ADM, and when x <y, bit “1” is output as address information ADM.

【0065】また、検波回路67は、クロック信号CK
24を1/24に分周し、クロック信号CKBPを参照し
て、アドレス情報ADMに同期したクロック信号ACK
(図11D参照)を出力する分周器126を有してい
る。
The detection circuit 67 outputs the clock signal CK
24 is divided into 1/24, and the clock signal ACK synchronized with the address information ADM is referred to with reference to the clock signal CKBP.
(See FIG. 11D).

【0066】図12に示す検波回路67の動作を説明す
る。バイフェーズ周期検出回路102にパルス信号PWB
およびクロック信号CK24が供給され、バイフェーズの
ビット周期のクロック信号CKBPが得られる。また、5
ビットカウンタ103には、このクロック信号CKBPが
リセット信号として供給されると共に、クロック信号C
K24がカウント用のクロック信号として供給される。こ
れにより、5ビットカウンタ103では、バイフェーズ
の各ビット周期において、最初にリセットされ、その後
にクロック信号CK24によるカウント動作が行われ、1
0進法で「0」〜「23」までカウントされることとな
る。
The operation of the detection circuit 67 shown in FIG. 12 will be described. The pulse signal PWB is supplied to the biphase period detection circuit 102.
And a clock signal CK24, and a clock signal CKBP having a biphase bit cycle is obtained. Also, 5
The clock signal CKBP is supplied to the bit counter 103 as a reset signal, and the clock signal C
K24 is supplied as a clock signal for counting. As a result, the 5-bit counter 103 is reset first in each bit cycle of the bi-phase, and thereafter performs a counting operation using the clock signal CK24.
It is counted from "0" to "23" in the 0-ary system.

【0067】この5ビットカウンタ103のカウント出
力はウインドーパルス生成回路104に供給され、5ビ
ットカウンタ103のカウント出力に基づいて、バイフ
ェーズビット“0”用のウインドーパルスPW0と、バイ
フェーズビット“1”用のウインドーパルスPW1とが
生成され、それぞれアンドゲート121,122にゲー
ト信号として供給される。
The count output of the 5-bit counter 103 is supplied to a window pulse generating circuit 104, and based on the count output of the 5-bit counter 103, a window pulse PW0 for a bi-phase bit "0" and a bi-phase bit A window pulse PW1 for "1" is generated and supplied as a gate signal to AND gates 121 and 122, respectively.

【0068】一方、エッジ検出回路110にパルス信号
PWBおよびクロック信号CK24が供給され、パルス信号
PWBの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジが検出
されてエッジ検出パルスPeが得られ、このエッジ検出
パルスPeがそれぞれアンドゲート121,122に供
給される。そして、アンドゲート121,122でゲー
トされたエッジ検出パルスPeは、それぞれエッジパル
スカウンタ123,124に供給され、各バイフェーズ
1ビット期間毎にカウントされる。
On the other hand, the pulse signal PWB and the clock signal CK24 are supplied to the edge detection circuit 110, the rising edge and the falling edge of the pulse signal PWB are detected, and an edge detection pulse Pe is obtained. The signals are supplied to AND gates 121 and 122. Then, the edge detection pulses Pe gated by the AND gates 121 and 122 are supplied to edge pulse counters 123 and 124, respectively, and are counted in each biphase 1-bit period.

【0069】そして、比較回路125では、前のバイフ
ェーズ1ビット期間でカウントされたエッジパルスカウ
ンタ123,124のカウント値x,yが比較され、次
のバイフェーズ1ビット期間に、その比較結果に基づい
たアドレス情報ADMが出力される。
Then, the comparison circuit 125 compares the count values x and y of the edge pulse counters 123 and 124 counted in the previous bi-phase 1-bit period, and in the next bi-phase 1-bit period, The address information ADM based on the address information is output.

【0070】例えば、あるバイフェーズ1ビット期間の
ウォブル信号SWBが図14Aに示すようにバイフェーズ
ビット“0”に対応するものであるとき、パルス信号
(2値信号)PWBは図14Bに示すように8Tパターン
が3回連続したものとなり、図14D,図14D′に示
すようにエッジ検出パルスPeが得られる。図14C
は、クロック信号CK24を示している。
For example, when the wobble signal SWB in a certain bi-phase 1-bit period corresponds to a bi-phase bit "0" as shown in FIG.
The (binary signal) PWB is obtained by repeating the 8T pattern three times as shown in FIG. 14B, and an edge detection pulse Pe is obtained as shown in FIGS. 14D and 14D '. FIG. 14C
Indicates a clock signal CK24.

【0071】そして、アンドゲート121に供給される
ウインドーパルスPW0は図14Eに示すように形成され
ているため、エッジパルスカウンタ123に供給される
一致パルスとしてのゲート出力P00は図14Fに示すよ
うになり、x=6となる。一方、アンドゲート122に
供給されるウインドーパルスPW1は図14E′に示すよ
うに形成されているため、エッジパルスカウンタ124
に供給される一致パルスとしてのゲート出力P01は図1
4F′に示すようになり、y=2となる。したがって、
比較回路125より、次のバイフェーズ1ビット期間
に、アドレス情報ADMとして、ビット“0”が出力さ
れる。
Since the window pulse PW0 supplied to the AND gate 121 is formed as shown in FIG. 14E, the gate output P00 as a coincidence pulse supplied to the edge pulse counter 123 is as shown in FIG. 14F. And x = 6. On the other hand, the window pulse PW1 supplied to the AND gate 122 is formed as shown in FIG.
The gate output P01 as a coincidence pulse supplied to the
4F ', and y = 2. Therefore,
The comparison circuit 125 outputs bit “0” as the address information ADM in the next biphase 1 bit period.

【0072】また、あるバイフェーズ1ビット期間のウ
ォブル信号SWBが図15Aに示すようにバイフェーズビ
ット“1”に対応するものであるとき、パルス信号(2
値信号)PWBは図15Bに示すように6Tパターンが4
回連続したものとなり、図15D,図15D′に示すよ
うにエッジ検出パルスPeが得られる。図15Cは、ク
ロック信号CK24を示している。
When the wobble signal SWB in a certain bi-phase 1-bit period corresponds to the bi-phase bit "1" as shown in FIG. 15A, the pulse signal (2
Value signal) PWB is 4 for the 6T pattern as shown in FIG.
The edge detection pulse Pe is obtained as shown in FIGS. 15D and 15D ′. FIG. 15C shows the clock signal CK24.

【0073】そして、アンドゲート121に供給される
ウインドーパルスPW0は図15Eに示すように形成され
ているため、エッジパルスカウンタ123に供給される
ゲート出力P00は図15Fに示すようになり、x=2と
なる。一方、アンドゲート122に供給されるウインド
ーパルスPW1は図15E′に示すように形成されている
ため、エッジパルスカウンタ124に供給されるゲート
出力P01は図15F′に示すようになり、y=8とな
る。したがって、比較回路125より、次のバイフェー
ズ1ビット期間に、アドレス情報ADMとして、ビット
“1”が出力される。
Since the window pulse PW0 supplied to the AND gate 121 is formed as shown in FIG. 15E, the gate output P00 supplied to the edge pulse counter 123 becomes as shown in FIG. = 2. On the other hand, since the window pulse PW1 supplied to the AND gate 122 is formed as shown in FIG. 15E ', the gate output P01 supplied to the edge pulse counter 124 becomes as shown in FIG. It becomes 8. Therefore, bit “1” is output from comparison circuit 125 as address information ADM in the next biphase 1 bit period.

【0074】次に、光磁気ディスク11に傷などの欠陥
(ディフェクト)がある場合であって、ウォブル信号S
WBが変形している場合について説明する。
Next, in the case where the magneto-optical disk 11 has a defect (defect) such as a scratch, the wobble signal S
The case where the WB is deformed will be described.

【0075】例えば、あるバイフェーズ1ビット期間の
ウォブル信号SWBがバイフェーズビット“0”に対応す
るものであって、図16Aに示すようにディフェクトに
よる変形があるとき、パルス信号(2値信号)PWBは図
16Bに示すように得られ、図16D,図16D′に示
すようにエッジ検出パルスPeが得られる。図16C
は、クロック信号CK24を示している。
For example, when the wobble signal SWB in a certain bi-phase 1-bit period corresponds to the bi-phase bit "0" and there is a deformation due to a defect as shown in FIG. 16A, a pulse signal (binary signal) PWB is obtained as shown in FIG. 16B, and an edge detection pulse Pe is obtained as shown in FIGS. 16D and 16D '. FIG. 16C
Indicates a clock signal CK24.

【0076】そして、アンドゲート121に供給される
ウインドーパルスPW0は図16Eに示すように形成され
ているため、エッジパルスカウンタ123に供給される
ゲート出力P00は図16Fに示すようになり、x=6と
なる。一方、アンドゲート122に供給されるウインド
ーパルスPW1は図16E′に示すように形成されている
ため、エッジパルスカウンタ124に供給されるゲート
出力P01は図16F′に示すようになり、y=3とな
る。したがって、比較回路125より、次のバイフェー
ズ1ビット期間に、アドレス情報ADMとして、ビット
“0”が出力される。
Since the window pulse PW0 supplied to the AND gate 121 is formed as shown in FIG. 16E, the gate output P00 supplied to the edge pulse counter 123 becomes as shown in FIG. = 6. On the other hand, since the window pulse PW1 supplied to the AND gate 122 is formed as shown in FIG. 16E ', the gate output P01 supplied to the edge pulse counter 124 becomes as shown in FIG. It becomes 3. Therefore, bit “0” is output from comparison circuit 125 as address information ADM in the next biphase 1 bit period.

【0077】また、あるバイフェーズ1ビット期間のウ
ォブル信号SWBがバイフェーズビット“1”に対応する
ものであって、図17Aに示すようにディフェクトによ
る変形があるとき、パルス信号(2値信号)PWBは図1
7Bに示すようになり、図17D,図17D′に示すよ
うにエッジ検出パルスPeが得られる。図17Cは、ク
ロック信号CK24を示している。
When the wobble signal SWB in a certain bi-phase 1-bit period corresponds to the bi-phase bit "1" and there is a deformation due to a defect as shown in FIG. 17A, a pulse signal (binary signal) PWB Fig. 1
7B, and an edge detection pulse Pe is obtained as shown in FIGS. 17D and 17D '. FIG. 17C shows the clock signal CK24.

【0078】そして、アンドゲート121に供給される
ウインドーパルスPW0は図17Eに示すように形成され
ているため、エッジパルスカウンタ123に供給される
ゲート信号P00は図17Fに示すようになり、x=1と
なる。一方、アンドゲート122に供給されるウインド
ーパルスPW1は図17E′に示すように形成されている
ため、エッジパルスカウンタ124に供給されるゲート
出力P01は図17F′に示すようになり、y=6とな
る。したがって、比較回路125より、次のバイフェー
ズ1ビット期間に、アドレス情報ADMとして、ビット
“1”が出力される。
Since the window pulse PW0 supplied to the AND gate 121 is formed as shown in FIG. 17E, the gate signal P00 supplied to the edge pulse counter 123 becomes as shown in FIG. = 1. On the other hand, since the window pulse PW1 supplied to the AND gate 122 is formed as shown in FIG. 17E ', the gate output P01 supplied to the edge pulse counter 124 becomes as shown in FIG. It becomes 6. Therefore, bit “1” is output from comparison circuit 125 as address information ADM in the next biphase 1 bit period.

【0079】このように、図12に示す検波回路67で
は、ウォブル信号SWBに、図16Aおよび図17Aに示
すようなディフェクトによる変形がある場合であって
も、ウォブル信号SWBにディフェクトによる変形がない
場合と同様に、良好にアドレス情報ADMを得ることが
できる。
As described above, in the detection circuit 67 shown in FIG. 12, even if the wobble signal SWB is deformed due to a defect as shown in FIGS. 16A and 17A, the wobble signal SWB is not deformed due to the defect. As in the case, the address information ADM can be obtained well.

【0080】ところで、図16Aおよび図17Aに示す
ようなディフェクトによる変形がある場合には、上述し
たようにx,yの差が大きくなるので、x,yの大小の
みによって、ビット“0”またはビット“1”と判定し
ても、正しくアドレス情報ADMを得ることができる。
しかし、x,yの差があまりないときは、ビット“0”
と判定すべきか、ビット“1”と判定すべきかが困難と
なる場合がある。
By the way, when there is a deformation due to a defect as shown in FIGS. 16A and 17A, the difference between x and y becomes large as described above. Even if bit "1" is determined, address information ADM can be obtained correctly.
However, when there is not much difference between x and y, the bit “0”
It may be difficult to determine whether or not to determine the bit "1".

【0081】例えば、あるバイフェーズ1ビット期間の
ウォブル信号SWBが図18Aに示すように変形したもの
であるとき、パルス信号(2値信号)PWBは図18Bに
示すようになり、図18D(=図18E=図18E′)
に示すようにエッジ検出パルスPeが得られる。図18
Cは、クロック信号CK24を示している。
For example, when the wobble signal SWB in a certain biphase 1-bit period is modified as shown in FIG. 18A, the pulse signal (binary signal) PWB becomes as shown in FIG. 18B, and FIG. (FIG. 18E = FIG. 18E ')
As shown in the figure, an edge detection pulse Pe is obtained. FIG.
C indicates the clock signal CK24.

【0082】そして、アンドゲート121に供給される
ウインドーパルスPW0は図18Fに示すように形成され
ているため、エッジパルスカウンタ123に供給される
ゲート出力P00は図18Gに示すようになり、x=4と
なる。ビット“0”と仮定するならば、x=6となるは
ずである。
Since the window pulse PW0 supplied to the AND gate 121 is formed as shown in FIG. 18F, the gate output P00 supplied to the edge pulse counter 123 becomes as shown in FIG. = 4. Assuming bit "0", x = 6.

【0083】一方、アンドゲート122に供給されるウ
インドーパルスPW1は図18F′に示すように形成され
ているため、エッジパルスカウンタ124に供給される
ゲート出力P01は図18G′に示すようになり、y=6
となる。ビット“1”と仮定するならば、y=8となる
はずである。
On the other hand, since the window pulse PW1 supplied to the AND gate 122 is formed as shown in FIG. 18F ', the gate output P01 supplied to the edge pulse counter 124 becomes as shown in FIG. 18G'. , Y = 6
Becomes Assuming bit "1", y = 8.

【0084】したがって、単純な比較であると、x<y
であることから、ビット“1”であると判定することと
なる。しかし、本当にビット“1”であるとは即断でき
ない。なぜならば、それぞれが本来検出されるべき数と
比較すると、ともにカウントが2不足しているという点
で同じ誤差を持っているからである。
Therefore, for a simple comparison, x <y
Therefore, it is determined that the bit is “1”. However, it cannot be immediately determined that the bit is "1". This is because each of them has the same error in that the count is 2 short in comparison with the number to be detected.

【0085】そこで、ウインドーについてさらに条件を
加え、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとを分離し
て検出することによって、より正確な判定が可能にな
る。
Therefore, a more accurate determination can be made by further adding conditions to the window and detecting the rising edge and the falling edge separately.

【0086】図19は、他の構成の検波回路67Aを示
すものであり、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジと
を分離して検出するようにしたものである。この図19
において、図12と対応する部分には同一符号を付して
示している。
FIG. 19 shows a detection circuit 67A having another configuration, in which a rising edge and a falling edge are detected separately. This FIG.
In the figure, parts corresponding to those in FIG. 12 are denoted by the same reference numerals.

【0087】この検波回路67Aは、クロック信号CK
24を使用して、パルス信号PWBのパターン判別によりバ
イフェーズビット“1”および“0”の切れ目(変わり
目)を検出し、バイフェーズのビット周期のクロック信
号CKBPを得るためのバイフェーズ周期検出回路102
と、このクロック信号CKBPがリセット信号として供給
されると共に、クロック信号CK24がカウント用のクロ
ック信号として供給される5ビットカウンタ103とを
有している。
The detection circuit 67A outputs the clock signal CK
24, a biphase cycle detection circuit for detecting a break (change) between biphase bits "1" and "0" by pattern determination of the pulse signal PWB and obtaining a clock signal CKBP having a biphase bit cycle. 102
And a 5-bit counter 103 to which the clock signal CKBP is supplied as a reset signal and the clock signal CK24 is supplied as a clock signal for counting.

【0088】また、検波回路67Aは、5ビットカウン
タ103のカウント出力に基づいて、バイフェーズビッ
ト“0”用のウインドーパルスPW0u,PW0dと、バイフ
ェーズビット“1”用のウインドーパルスPW1u,PW1
dとを生成するウインドーパルス生成回路104Aを有
している。
Further, based on the count output of the 5-bit counter 103, the detection circuit 67A outputs the window pulses PW0u and PW0d for the bi-phase bit “0” and the window pulses PW1u and PW1u for the bi-phase bit “1”. PW1
and a window pulse generating circuit 104A for generating d and d.

【0089】ここで、ウインドーパルスPW0uは正規の
8Tパターンのパルス信号PWBの立ち上がりエッジに対
応して出力されるパルスであり、バイフェーズ1ビット
期間に3個のパルスが生成される。ウインドーパルスP
W0dは正規の8Tパターンのパルス信号PWBの立ち下が
りエッジに対応して出力されるパルスであり、バイフェ
ーズ1ビット期間に3個のパルスが生成される。
Here, the window pulse PW0u is a pulse that is output in response to the rising edge of the pulse signal PWB of the regular 8T pattern, and three pulses are generated in one biphase bit period. Window pulse P
W0d is a pulse that is output in response to the falling edge of the pulse signal PWB of the regular 8T pattern, and three pulses are generated in one biphase bit period.

【0090】ウインドーパルスPW1uは正規の6Tパタ
ーンのパルス信号PWBの立ち上がりエッジに対応して出
力されるパルスであり、バイフェーズ1ビット期間に4
個のパルスが生成される。ウインドーパルスPW1dは正
規の6Tパターンのパルス信号PWBの立ち下がりエッジ
に対応して出力されるパルスであり、バイフェーズ1ビ
ット期間に4個のパルスが生成される。
The window pulse PW1u is a pulse output in response to the rising edge of the pulse signal PWB of the regular 6T pattern, and is output during the biphase 1 bit period.
Pulses are generated. The window pulse PW1d is a pulse that is output in response to the falling edge of the pulse signal PWB of the regular 6T pattern, and four pulses are generated in one biphase bit period.

【0091】また、検波回路67Aは、クロック信号C
K24を使用して、パルス信号PWBの立ち上がりエッジを
検出し、エッジ検出パルスPeuを出力する立ち上がりエ
ッジ検出回路130と、同様にクロック信号CK24を使
用して、パルス信号PWBの立ち下がりエッジを検出し、
エッジ検出パルスPedを出力するエッジ検出回路140
とを有している。
The detection circuit 67A outputs the clock signal C
The rising edge detection circuit 130 detects the rising edge of the pulse signal PWB using K24 and outputs the edge detection pulse Peu, and similarly detects the falling edge of the pulse signal PWB using the clock signal CK24. ,
An edge detection circuit 140 that outputs an edge detection pulse Ped
And

【0092】図20は、立ち上がりエッジ検出回路13
0の構成を示している。このエッジ検出回路130は、
クロック信号CK24で動作する2段構成のDフリップフ
ロップ回路131,132と、アンド回路133とから
構成されている。パルス信号PWBはDフリップフロップ
回路131のデータ端子Dに供給され、このDフリップ
フロップ回路131の非反転出力端子Qに得られる信号
がDフリップフロップ回路132のデータ端子Dに供給
される。そして、Dフリップフロップ回路131の非反
転出力端子Qに得られる信号とDフリップフロップ回路
132の反転出力端子Qバーに得られる信号とがアンド
回路133の入力側に供給され、このアンド回路133
の出力側よりエッジ検出パルスPeuが出力される。
FIG. 20 shows the rising edge detection circuit 13.
0 is shown. This edge detection circuit 130
It is composed of two-stage D flip-flop circuits 131 and 132 operated by the clock signal CK24 and an AND circuit 133. The pulse signal PWB is supplied to the data terminal D of the D flip-flop circuit 131, and the signal obtained at the non-inverting output terminal Q of the D flip-flop circuit 131 is supplied to the data terminal D of the D flip-flop circuit 132. Then, the signal obtained at the non-inverted output terminal Q of the D flip-flop circuit 131 and the signal obtained at the inverted output terminal Q bar of the D flip-flop circuit 132 are supplied to the input side of the AND circuit 133.
Output an edge detection pulse Peu.

【0093】また、図21は、立ち下がりエッジ検出回
路140の構成を示している。このエッジ検出回路14
0は、クロック信号CK24で動作する2段構成のDフリ
ップフロップ回路141,142と、アンド回路143
とから構成されている。パルス信号PWBはDフリップフ
ロップ回路141のデータ端子Dに供給され、このDフ
リップフロップ回路141の非反転出力端子Qに得られ
る信号がDフリップフロップ回路142のデータ端子D
に供給される。そして、Dフリップフロップ回路141
の反転出力端子Qバーに得られる信号とDフリップフロ
ップ回路142の非反転出力端子Qに得られる信号とが
アンド回路143の入力側に供給され、このアンド回路
143の出力側よりエッジ検出パルスPedが出力され
る。
FIG. 21 shows the configuration of the falling edge detection circuit 140. This edge detection circuit 14
0 is a two-stage D flip-flop circuit 141, 142 operated by the clock signal CK24, and an AND circuit 143.
It is composed of The pulse signal PWB is supplied to the data terminal D of the D flip-flop circuit 141, and the signal obtained at the non-inverting output terminal Q of the D flip-flop circuit 141 is applied to the data terminal D of the D flip-flop circuit 142.
Supplied to Then, the D flip-flop circuit 141
And the signal obtained at the non-inverted output terminal Q of the D flip-flop circuit 142 are supplied to the input side of the AND circuit 143, and the edge detection pulse Ped is output from the output side of the AND circuit 143. Is output.

【0094】また、図19に戻って、検波回路67A
は、ウインドーパルス生成回路104Aで生成されるウ
インドーパルスPW0u,PW0dをゲート信号としてそれぞ
れエッジ検出パルスPeu,Pedをゲートし、一致検出回
路として機能するアンドゲート151,152と、ウイ
ンドーパルス生成回路104Aで生成されるウインドー
パルスPW1u,PW1dをゲート信号としてそれぞれエッジ
検出パルスPeu,Pedをゲートし、一致検出回路として
機能するアンドゲート153,154とを有している。
Returning to FIG. 19, the detection circuit 67A
Are AND gates 151 and 152 which gate edge detection pulses Peu and Ped, respectively, using the window pulses PW0u and PW0d generated by the window pulse generation circuit 104A as gate signals, and function as coincidence detection circuits; There are AND gates 153 and 154 that gate edge detection pulses Peu and Ped, respectively, using the window pulses PW1u and PW1d generated by the circuit 104A as gate signals and function as a coincidence detection circuit.

【0095】また、検波回路67Aは、アンドゲート1
51,152でそれぞれゲートされたエッジ検出パルス
Peu,Pedをカウントするエッジパルスカウンタ15
5,156と、アンドゲート153,154でそれぞれ
ゲートされたエッジ検出パルスPeu,Pedをカウントす
るエッジパルスカウンタ157,158と、エッジパル
スカウンタ155,156のカウント値を加算する加算
器159と、エッジパルスカウンタ157,158のカ
ウント値を加算する加算器160とを有している。
The detection circuit 67A includes an AND gate 1
An edge pulse counter 15 for counting the edge detection pulses Peu and Ped gated at 51 and 152, respectively.
5, 156; edge pulse counters 157, 158 for counting the edge detection pulses Peu, Ped gated by the AND gates 153, 154; an adder 159 for adding the count values of the edge pulse counters 155, 156; And an adder 160 for adding the count values of the pulse counters 157 and 158.

【0096】また、検波回路67Aは、前のバイフェー
ズ1ビット期間でカウントされたエッジパルスカウンタ
155,156のカウント値の合計値(加算器159の
出力値)xと、同様に前のバイフェーズ1ビット期間で
カウントされたエッジパルスカウンタ157,158の
カウント値の合計値(加算器160の出力値)yとを比
較し、次のバイフェーズ1ビット期間に、その比較結果
に基づいたアドレス情報ADMを出力する比較回路16
1とを有している。
The detection circuit 67A calculates the total value (the output value of the adder 159) x of the count values of the edge pulse counters 155 and 156 counted in the previous bi-phase 1-bit period, similarly to the previous bi-phase. The sum of the count values of the edge pulse counters 157 and 158 counted in one bit period (the output value of the adder 160) y is compared with the address information based on the comparison result in the next biphase one bit period. Comparison circuit 16 for outputting ADM
And 1.

【0097】ここで、エッジパルスカウンタ155〜1
58には、それぞれバイフェーズのビット周期のクロッ
ク信号CKBPがリセット信号として供給される。また、
このクロック信号CKBPは、比較回路161にもタイミ
ング信号として供給される。比較回路161では、x>
yのときはアドレス情報ADMとしてビット“0”が出
力され、x<yのときはアドレス情報ADMとしてビッ
ト“1”が出力される。
Here, the edge pulse counters 155 to 1
To 58, a clock signal CKBP having a bi-phase bit cycle is supplied as a reset signal. Also,
This clock signal CKBP is also supplied to the comparison circuit 161 as a timing signal. In the comparison circuit 161, x>
When y, bit “0” is output as address information ADM, and when x <y, bit “1” is output as address information ADM.

【0098】また、検波回路67Aは、クロック信号C
K24を1/24に分周し、クロック信号CKBPを参照し
て、アドレス情報ADMに同期したクロック信号ACK
(図11D参照)を出力する分周器126を有してい
る。
The detection circuit 67A outputs the clock signal C
K24 is divided into 1/24, and the clock signal ACK synchronized with the address information ADM is referred by referring to the clock signal CKBP.
(See FIG. 11D).

【0099】図19に示す検波回路67Aの動作を説明
する。バイフェーズ周期検出回路102にパルス信号P
WBおよびクロック信号CK24が供給され、バイフェーズ
のビット周期のクロック信号CKBPが得られる。また、
5ビットカウンタ103には、このクロック信号CKBP
がリセット信号として供給されると共に、クロック信号
CK24がカウント用のクロック信号として供給される。
これにより、5ビットカウンタ103では、バイフェー
ズの各ビット周期において、最初にリセットされ、その
後にクロック信号CK24によるカウント動作が行われ、
10進法で「0」〜「23」までカウントされることと
なる。
The operation of the detection circuit 67A shown in FIG. 19 will be described. The pulse signal P is supplied to the biphase period detection circuit 102.
WB and the clock signal CK24 are supplied, and a clock signal CKBP having a biphase bit cycle is obtained. Also,
The 5-bit counter 103 includes the clock signal CKBP
Is supplied as a reset signal, and a clock signal CK24 is supplied as a clock signal for counting.
Thereby, in the 5-bit counter 103, in each bit cycle of the bi-phase, the reset is performed first, and thereafter, the counting operation by the clock signal CK24 is performed.
It is counted from "0" to "23" in decimal notation.

【0100】この5ビットカウンタ103のカウント出
力はウインドーパルス生成回路104Aに供給され、5
ビットカウンタ103のカウント出力に基づいて、バイ
フェーズビット“0”用のウインドーパルスPW0u,PW
0dと、バイフェーズビット“1”用のウインドーパルス
PW1u,PW1dとが生成され、それぞれアンドゲート1
51〜154にゲート信号として供給される。
The count output of the 5-bit counter 103 is supplied to a window pulse generating circuit 104A,
Based on the count output of the bit counter 103, window pulses PW0u, PW for the bi-phase bit "0"
0d and window pulses PW1u and PW1d for the bi-phase bit “1” are generated, and
It is supplied to 51 to 154 as a gate signal.

【0101】一方、立ち上がりエッジ検出回路130に
パルス信号PWBおよびクロック信号CK24が供給され、
パルス信号PWBの立ち上がりエッジが検出されてエッジ
検出パルスPeuが得られ、このエッジ検出パルスPeuが
それぞれアンドゲート151,153に供給される。同
様に、立ち下がりエッジ検出回路140にパルス信号P
WBおよびクロック信号CK24が供給され、パルス信号P
WBの立ち下がりエッジが検出されてエッジ検出パルスP
edが得られ、このエッジ検出パルスPedがそれぞれアン
ドゲート152,154に供給される。
On the other hand, the pulse signal PWB and the clock signal CK24 are supplied to the rising edge detection circuit 130,
The rising edge of the pulse signal PWB is detected to obtain an edge detection pulse Peu, and the edge detection pulse Peu is supplied to the AND gates 151 and 153, respectively. Similarly, the pulse signal P is supplied to the falling edge detection circuit 140.
WB and the clock signal CK24 are supplied, and the pulse signal P
The falling edge of WB is detected and the edge detection pulse P
ed is obtained, and the edge detection pulse Ped is supplied to the AND gates 152 and 154, respectively.

【0102】アンドゲート151,152でゲートされ
たエッジ検出パルスPeu,Pedはそれぞれエッジパルス
カウンタ155,156に供給され、各バイフェーズ1
ビット期間毎にカウントされる。同様に、アンドゲート
153,154でゲートされたエッジ検出パルスPeu,
Pedはそれぞれエッジパルスカウンタ157,158に
供給され、各バイフェーズ1ビット期間毎にカウントさ
れる。
The edge detection pulses Peu and Ped gated by the AND gates 151 and 152 are supplied to edge pulse counters 155 and 156, respectively.
It is counted for each bit period. Similarly, edge detection pulses Peu, gated by AND gates 153, 154
Ped is supplied to edge pulse counters 157 and 158, respectively, and is counted in each biphase 1 bit period.

【0103】そして、比較回路161では、前のバイフ
ェーズ1ビット期間でカウントされたエッジパルスカウ
ンタ155,156のカウント値の合計値xと同様に前
のバイフェーズ1ビット期間でカウントされたエッジパ
ルスカウンタ157,158のカウント値の合計値yと
が比較され、次のバイフェーズ1ビット期間に、その比
較結果に基づいたアドレス情報ADMが出力される。
In the comparison circuit 161, similarly to the total value x of the count values of the edge pulse counters 155 and 156 counted in the previous bi-phase 1-bit period, the edge pulse counted in the previous bi-phase 1-bit period The total value y of the count values of the counters 157 and 158 is compared, and address information ADM based on the comparison result is output in the next biphase 1-bit period.

【0104】図19に示す検波回路67Aで、あるバイ
フェーズ1ビット期間のウォブル信号SWBが図22A
(=図18A)に示すように変形したものである場合に
ついて説明する。この場合、パルス信号(2値信号)PW
Bは図22Bに示すようになり、図22E(=図22
E′)に示すように立ち上がりエッジに対応したエッジ
検出パルスPeuが得られると共に、図22G(=図22
G′)に示すように立ち下がりエッジに対応したエッジ
検出パルスPedが得られる。図22Cはクロック信号C
K24を示しており、図22Dはエッジ検出パルスPeu,
Pedを合わせたエッジ検出パルスPeを示している。
In the detection circuit 67A shown in FIG. 19, the wobble signal SWB in a certain bi-phase 1-bit period is
A description will be given of a case where the image is deformed as shown in FIG. 18A. In this case, the pulse signal (binary signal) PW
B becomes as shown in FIG. 22B, and FIG.
E '), an edge detection pulse Peu corresponding to the rising edge is obtained, and FIG. 22G (= FIG. 22).
As shown in G '), an edge detection pulse Ped corresponding to the falling edge is obtained. FIG. 22C shows the clock signal C.
FIG. 22D shows an edge detection pulse Peu,
An edge detection pulse Pe obtained by adding Ped is shown.

【0105】また、アンドゲート151,152に供給
されるウインドーパルスPW0u,PWOdは図22F,Hに
示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ
155,156に供給される一致パルスとしてのゲート
出力A0u,A0dは図22Iに示すようになり、x=1と
なる。一方、アンドゲート153,154に供給される
ウインドーパルスPW1u,PW1dは図22F′,H′に示
すように形成されているため、エッジパルスカウンタ1
57,158に供給される一致パルスとしてのゲート出
力A1u,A1dは図22I′に示すようになり、y=6と
なる。この場合、x,yの差が十分に大きくなるので、
その比較結果をそのまま利用しても、正しい検波結果と
なる。
Since the window pulses PW0u and PWOd supplied to the AND gates 151 and 152 are formed as shown in FIGS. 22F and 22H, gates as coincidence pulses supplied to the edge pulse counters 155 and 156 are provided. The outputs A0u and A0d are as shown in FIG. 22I, and x = 1. On the other hand, the window pulses PW1u and PW1d supplied to the AND gates 153 and 154 are formed as shown in FIGS.
Gate outputs A1u and A1d as coincidence pulses supplied to 57 and 158 are as shown in FIG. 22I ', and y = 6. In this case, since the difference between x and y is sufficiently large,
Even if the comparison result is used as it is, a correct detection result is obtained.

【0106】したがって、比較回路161では、x,y
の比較結果がそのまま利用され、次のバイフェーズ1ビ
ット期間に、アドレス情報ADMとして、ビット“1”
が出力される。
Therefore, in comparison circuit 161, x, y
Is used as it is, and during the next biphase 1 bit period, the bit “1” is used as the address information ADM.
Is output.

【0107】このように、ウインドーパルスだけでな
く、パルス信号PWBのエッジ情報をも加味することによ
り、より正確な判定が可能になる利益がある。
As described above, by taking into account not only the window pulse but also the edge information of the pulse signal PWB, there is an advantage that a more accurate determination can be made.

【0108】さて、図10に示すADIPデコーダ60
は、PLL回路64を有するものであり、比較的複雑な
回路構成となっている。
Now, the ADIP decoder 60 shown in FIG.
Has a PLL circuit 64, and has a relatively complicated circuit configuration.

【0109】ところで、上述したように、隣接するクロ
ックマーク間のバイフェーズビット数aは2であり、隣
接するクロックマーク間のチャネルビット数nは528
であり、さらにバイフェーズビットのオーバーサンプリ
ング値sは24クロックである。後述するように、デー
タクロック再生器70では、クロックマークCMの再生
信号SCMをn=528逓倍して、データクロック信号D
CKが得られる。この場合、データクロック信号DCK
の周波数と、バイフェーズビットのオーバーサンプリン
グ用のクロック信号CK24の周波数とは、整数比の関係
となっている。つまり、データクロック信号DCKの周
波数をfdckとし、クロック信号CK24の周波数をf24
とすると、fdck=11×f24となる。そこで、データ
クロック信号DCKを分周してクロック信号CK24を生
成することが可能である。
As described above, the number a of bi-phase bits between adjacent clock marks is 2, and the number n of channel bits between adjacent clock marks is 528.
And the oversampling value s of the biphase bit is 24 clocks. As will be described later, the data clock regenerator 70 multiplies the reproduction signal SCM of the clock mark CM by n = 528 to obtain the data clock signal DCM.
CK is obtained. In this case, the data clock signal DCK
And the frequency of the bi-phase bit oversampling clock signal CK24 have an integer ratio relationship. That is, the frequency of the data clock signal DCK is fdck, and the frequency of the clock signal CK24 is f24.
Then, fdck = 11 × f24. Therefore, it is possible to generate the clock signal CK24 by dividing the frequency of the data clock signal DCK.

【0110】図23は、他の構成のADIPデコーダ6
0Aを示すものであり、データクロック信号DCKを分
周してクロック信号CK24を得るものである。この図2
3において、図10と対応する部分には同一符号を付
し、その詳細説明は省略する。
FIG. 23 shows an ADIP decoder 6 of another configuration.
0A indicates that the clock signal CK24 is obtained by dividing the frequency of the data clock signal DCK. This figure 2
In FIG. 3, portions corresponding to those in FIG. 10 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【0111】このADIPデコーダ60Aは、データク
ロック再生器70で再生されるデータクロック信号DC
Kを、1/Mに分周して、バイフェーズビットのオーバ
ーサンプリング用のクロック信号CK24を生成する分周
器69を有している。ここで、M=n/(a・s)であ
り、本実施の形態では、M=528/(2・24)=1
1である。この分周器69で生成されるクロック信号C
K24は検波回路67(67A)で使用される。図24A
〜Cは、クロックマークCMの再生信号SCM、データク
ロック信号DCKおよびクロック信号CK24のタイミン
グ関係を示している。
The ADIP decoder 60A outputs the data clock signal DC reproduced by the data clock reproducer 70.
A frequency divider 69 is provided to divide K by 1 / M to generate a clock signal CK24 for oversampling of bi-phase bits. Here, M = n / (a · s), and in the present embodiment, M = 528 / (2 · 24) = 1.
It is one. The clock signal C generated by the frequency divider 69
K24 is used in the detection circuit 67 (67A). FIG. 24A
C show the timing relationship between the reproduction signal SCM of the clock mark CM, the data clock signal DCK, and the clock signal CK24.

【0112】図23に示すADIPデコーダ60Aのそ
の他の構成は図10に示すADIPデコーダ60と同様
である。したがって、詳細説明は省略するが、ADIP
デコーダ60Aは、図10に示すADIPデコーダ60
と同様に動作し、アドレス変換器68からは、フレーム
アドレスデータFADおよびフレーム同期信号FDが得
られる。
The other structure of ADIP decoder 60A shown in FIG. 23 is the same as ADIP decoder 60 shown in FIG. Therefore, although detailed description is omitted, ADIP
The decoder 60A is the ADIP decoder 60 shown in FIG.
, And the address converter 68 obtains the frame address data FAD and the frame synchronization signal FD.

【0113】このように図23に示すADIPデコーダ
60Aは、クロック信号CK24を得るのに、PLL回路
を不要とでき、図10に示すADIPデコーダ60と比
べて、さらに簡単な回路構成となる利益がある。
As described above, the ADIP decoder 60A shown in FIG. 23 does not require a PLL circuit to obtain the clock signal CK24, and has the advantage of a simpler circuit configuration than the ADIP decoder 60 shown in FIG. is there.

【0114】また、図25は、データクロック再生器7
0の構成を示している。このデータクロック再生器70
は、プッシュプル信号SPPよりクロックマーク再生信号
SCMを抽出するためのバンドパスフィルタ71と、直流
カット用のコンデンサ72と、クロックマーク再生信号
SCMの0クロス点のタイミングを示すパルス信号PCMを
得るエッジ検出器73とを有している。
FIG. 25 shows a data clock regenerator 7.
0 is shown. This data clock regenerator 70
Is a band-pass filter 71 for extracting the clock mark reproduction signal SCM from the push-pull signal SPP, a DC cut capacitor 72, and an edge for obtaining a pulse signal PCM indicating the timing of the 0 cross point of the clock mark reproduction signal SCM. And a detector 73.

【0115】また、データクロック再生器70は、再生
信号SMOの直流成分をカットするコンデンサ74と、閾
値=0として再生信号SMOをパルス信号(2値信号)P
MOに変換するコンパレータ75と、このパルス信号PMO
からタイミング発生器90より供給される固定パターン
ゲート信号SGoを使用して光磁気ディスク11の固定
パターン領域の再生信号SMOに対応するパルス信号PFP
をゲートするアンド回路76とを有している。この場
合、図3Dに示すように、固定パターンゲート信号SG
oは、固定パターン領域の再生信号SMOが得られる期間
で“1”となり、その他の期間では“0”となるもので
ある。
The data clock regenerator 70 includes a capacitor 74 for cutting off the DC component of the reproduced signal SMO, and a pulse signal (binary signal) P
A comparator 75 for converting the pulse signal into a signal MO;
A pulse signal PFP corresponding to the reproduction signal SMO in the fixed pattern area of the magneto-optical disk 11 using the fixed pattern gate signal SGo supplied from the timing generator 90
And an AND circuit 76 that gates In this case, as shown in FIG. 3D, the fixed pattern gate signal SG
“o” is “1” during a period in which the reproduction signal SMO of the fixed pattern area is obtained, and “0” during other periods.

【0116】なお、タイミング発生器90には、上述し
たクロックマーク再生信号SCMの0クロス点のタイミン
グを示すパルス信号PCMが供給される。そして、タイミ
ング発生器90では、このパルス信号PCMをタイミング
基準とし、データクロック信号DCKをカウントするこ
とで、固定パターンゲート信号SGoが生成される。
The timing generator 90 is supplied with a pulse signal PCM indicating the timing of the 0 cross point of the clock mark reproduction signal SCM. The timing generator 90 generates the fixed pattern gate signal SGo by counting the data clock signal DCK using the pulse signal PCM as a timing reference.

【0117】また、データクロック再生器70は、PL
L回路を構成する電圧制御発振器77と、この電圧制御
発振器77より出力されるデータクロック信号DCKを
1/N(ここでは、N=n=528)に分周する分周器
78と、エッジ検出器73より出力されるパルス信号P
CMと分周器78の出力信号との位相比較を行うための位
相比較器79と、この位相比較器79より出力される位
相誤差信号の低域成分を取り出すローパスフィルタ80
とを有している。
Further, the data clock regenerator 70 has a PL
A voltage-controlled oscillator 77 constituting an L circuit; a frequency divider 78 for dividing the data clock signal DCK output from the voltage-controlled oscillator 77 into 1 / N (here, N = n = 528); Pulse signal P output from the detector 73
A phase comparator 79 for comparing the phase of the output signal of the frequency divider 78 with the CM, and a low-pass filter 80 for extracting a low-frequency component of the phase error signal output from the phase comparator 79
And

【0118】また、データクロック再生器70は、アン
ド回路76より出力されるパルス信号PFPと分周器78
の出力信号との位相比較を行うための位相比較器81
と、この位相比較器81より出力される位相誤差信号の
高域成分を取り出すハイパスフィルタ82と、ローパス
フィルタ80の出力信号と接続スイッチ83を介して供
給されるハイパスフィルタ82の出力信号とを加算して
電圧制御発振器77に供給する制御信号を得るための加
算器84とを有している。接続スイッチ83にはシステ
ムコントローラ51よりスイッチ制御信号SWが供給さ
れる。これにより、接続スイッチ83は、データ書き込
み時(記録時)にはオフとされると共に、データ読み出
し時(再生時)にはオンとされる。
The data clock regenerator 70 outputs the pulse signal PFP output from the AND circuit 76 and the frequency divider 78
Phase comparator 81 for comparing the phase with the output signal of
And a high-pass filter 82 for extracting a high-frequency component of the phase error signal output from the phase comparator 81, an output signal of the low-pass filter 80, and an output signal of the high-pass filter 82 supplied via the connection switch 83. And an adder 84 for obtaining a control signal to be supplied to the voltage controlled oscillator 77. The connection switch 83 is supplied with a switch control signal SW from the system controller 51. As a result, the connection switch 83 is turned off at the time of data writing (at the time of recording) and turned on at the time of data reading (at the time of reproduction).

【0119】次に、図25に示すデータクロック再生器
70の動作を説明する。プッシュプル信号SPPよりクロ
ックマーク再生信号SCM(図26Aに図示)が抽出さ
れ、このクロックマーク再生信号SCMはコンデンサ72
を介してエッジ検出器73に供給される。そして、エッ
ジ検出器73よりクロックマーク再生信号SCMの0クロ
ス点のタイミングを示すパルス信号PCM(図26Bに図
示)が得られる。
Next, the operation of the data clock regenerator 70 shown in FIG. 25 will be described. A clock mark reproduction signal SCM (shown in FIG. 26A) is extracted from the push-pull signal SPP.
Is supplied to the edge detector 73 via Then, a pulse signal PCM (shown in FIG. 26B) indicating the timing of the 0 cross point of the clock mark reproduction signal SCM is obtained from the edge detector 73.

【0120】また、光学ヘッド17(図1参照)より出
力される再生信号SMOはコンデンサ74を介してコンパ
レータ75に供給されてパルス信号(2値信号)PMOに
変換される。そして、アンド回路76では、固定パター
ンゲート信号SGo(図26Cに図示)により、パルス
信号PMOから光磁気ディスク11の固定パターン領域の
再生信号SMOに対応するパルス信号(2値信号)PFP
(図26Dに図示)が取り出される。
The reproduced signal SMO output from the optical head 17 (see FIG. 1) is supplied to a comparator 75 via a capacitor 74 and converted into a pulse signal (binary signal) PMO. Then, in the AND circuit 76, the pulse signal (binary signal) PFP corresponding to the reproduction signal SMO in the fixed pattern area of the magneto-optical disk 11 is converted from the pulse signal PMO by the fixed pattern gate signal SGo (shown in FIG. 26C).
(Illustrated in FIG. 26D).

【0121】そして、データ書き込み時(記録時)に
は、接続スイッチ83がオフとされることから、電圧制
御発振器77、分周器78、位相比較器79およびロー
パスフィルタ80によってPLL回路が構成され、電圧
制御発振器77には位相比較器79より出力される位相
誤差信号がローパスフィルタ80を通じて制御信号とし
て供給される。そのため、電圧制御発振器77からは、
クロックマーク再生信号SCMが持つ位相情報によって位
相が制御されたデータクロック信号DCKが得られる。
At the time of data writing (at the time of recording), the connection switch 83 is turned off, so that the voltage-controlled oscillator 77, the frequency divider 78, the phase comparator 79, and the low-pass filter 80 constitute a PLL circuit. The phase error signal output from the phase comparator 79 is supplied to the voltage controlled oscillator 77 as a control signal through a low-pass filter 80. Therefore, from the voltage controlled oscillator 77,
A data clock signal DCK whose phase is controlled by the phase information of the clock mark reproduction signal SCM is obtained.

【0122】また、データ読み出し時(再生時)には、
接続スイッチ83がオンとされることから、電圧制御発
振器77、分周器78、位相比較器79,81、ローパ
スフィルタ80およびハイパスフィルタによってPLL
回路が構成され、電圧制御発振器77には位相比較器7
9より出力される位相誤差信号の低域成分と位相比較器
81より出力される位相誤差信号の高域成分との加算信
号が制御信号として供給される。そのため、電圧制御発
振器77からは、クロックマーク再生信号SCMが持つ位
相情報と固定パターン領域の再生信号SMOが持つ位相情
報とによって位相が制御されたデータクロック信号DC
Kが得られる。なお、図26Eは、データクロック信号
DCKを示している。
At the time of data reading (at the time of reproduction),
Since the connection switch 83 is turned on, the PLL is controlled by the voltage controlled oscillator 77, the frequency divider 78, the phase comparators 79 and 81, the low-pass filter 80, and the high-pass filter.
The voltage control oscillator 77 includes a phase comparator 7
An addition signal of the low-frequency component of the phase error signal output from 9 and the high-frequency component of the phase error signal output from the phase comparator 81 is supplied as a control signal. Therefore, from the voltage controlled oscillator 77, the data clock signal DC whose phase is controlled by the phase information of the clock mark reproduction signal SCM and the phase information of the reproduction signal SMO in the fixed pattern area.
K is obtained. FIG. 26E shows the data clock signal DCK.

【0123】次に、図1に示す光磁気ディスク装置10
の動作を説明する。ホストコンピュータよりシステムコ
ントローラ51にデータライトコマンドが供給される場
合には、データ書き込み(記録)が行われる。この場
合、SCSI53で受信されてデータバッファ52に格
納されているホストコンピュータからの書き込みデータ
に対して、ECC回路54で誤り訂正符号の付加が行わ
れ、さらにデータ変調器55でNRZIデータへの変換
が行われる。そして、データ変調器55より磁気ヘッド
ドライバ16に記録データDrおよび固定パターン信号
SFPが供給され、光磁気ディスク11のターゲット位置
としてのデータ領域に記録データDrが記録されると共
に、記録データDrが記録されるデータ領域に対応した
固定パターン領域に固定パターン信号SFPが記録され
る。
Next, the magneto-optical disk drive 10 shown in FIG.
Will be described. When a data write command is supplied from the host computer to the system controller 51, data writing (recording) is performed. In this case, the ECC circuit 54 adds an error correction code to the write data from the host computer received by the SCSI 53 and stored in the data buffer 52, and further converted by the data modulator 55 into NRZI data. Is performed. Then, the recording data Dr and the fixed pattern signal SFP are supplied from the data modulator 55 to the magnetic head driver 16, and the recording data Dr is recorded in the data area as the target position of the magneto-optical disk 11, and the recording data Dr is recorded. The fixed pattern signal SFP is recorded in a fixed pattern area corresponding to the data area to be processed.

【0124】また、ホストコンピュータよりシステムコ
ントローラ51にデータリードコマンドが供給される場
合には、データ読み出し(再生)が行われる。この場
合、光磁気ディスク11のターゲット位置としてのデー
タ領域およびそのデータ領域に対応した固定パターン領
域より再生信号SMOが得られる。この再生信号SMOはイ
コライザ回路56で周波数特性が補償され、A/Dコン
バータ57でデータクロック信号DCKを使用してディ
ジタル信号に変換され、その後にデータ識別器58でデ
ータの識別が行われて再生データDpが得られる。そし
て、この再生データDpに対して、データ復調器59で
NRZI逆変換が行われ、さらにECC回路54で誤り
訂正が行われて読み出しデータが得られる。そして、こ
の読み出しデータはデータバッファ52に一旦格納さ
れ、その後に所定タイミングでSCSI53を介してホ
ストコンピュータに送信される。
When a data read command is supplied from the host computer to the system controller 51, data reading (reproduction) is performed. In this case, the reproduction signal SMO is obtained from the data area as the target position on the magneto-optical disk 11 and the fixed pattern area corresponding to the data area. The frequency characteristics of the reproduced signal SMO are compensated for by an equalizer circuit 56, converted into a digital signal using a data clock signal DCK by an A / D converter 57, and thereafter, data is discriminated by a data discriminator 58 to be reproduced. Data Dp is obtained. Then, the reproduced data Dp is subjected to NRZI inverse conversion in the data demodulator 59, and error correction is further performed in the ECC circuit 54 to obtain read data. Then, the read data is temporarily stored in the data buffer 52, and thereafter transmitted to the host computer via the SCSI 53 at a predetermined timing.

【0125】なお、データ書き込みやデータ読み出しに
おいて、磁気ヘッド15および光学ヘッド17はサーボ
コントローラ41によってターゲット位置にシークされ
る。この場合、ADIPデコーダ60より出力されるフ
レームアドレスデータFADを参照してシーク動作が行
われる。また、データ書き込み時(記録時)には、デー
タクロック再生器70よりクロックマーク再生信号SCM
が持つ位相情報の低域成分によって位相が制御されたデ
ータクロック信号DCKが得られ、このデータクロック
信号DCKに同期してデータ書き込みが行われる。一
方、データ読み出し時(再生時)には、データクロック
再生器70よりクロックマーク再生信号SCMが持つ位相
情報の低域成分と固定パターン領域の再生信号SMOが持
つ位相情報の高域成分とによって位相が制御されたデー
タクロック信号DCKが得られ、このデータクロック信
号DCKに同期してデータ読み出しが行われる。
In writing and reading data, the magnetic head 15 and the optical head 17 are sought to the target position by the servo controller 41. In this case, the seek operation is performed with reference to the frame address data FAD output from the ADIP decoder 60. At the time of writing data (at the time of recording), the data clock reproducer 70 outputs the clock mark reproduced signal SCM.
As a result, a data clock signal DCK whose phase is controlled by the low-frequency component of the phase information held by is obtained, and data is written in synchronization with the data clock signal DCK. On the other hand, at the time of data reading (at the time of reproduction), the phase of the low-frequency component of the phase information of the clock mark reproduction signal SCM and the high-frequency component of the phase information of the reproduction signal SMO of the fixed pattern area are output from the data clock reproducer 70. Is obtained, and data is read out in synchronization with the data clock signal DCK.

【0126】図1に示すディスク装置10においては、
データ読み出し時(再生時)には、データクロック再生
器70よりクロックマーク再生信号SCMが持つ位相情報
と固定パターン領域の再生信号SMOが持つ位相情報とに
よって位相が制御されたデータクロック信号DCKを得
るものであり(図25参照)、クロックマーク再生信号
SCMの振幅が小さく、そのS/Nが悪くても、再生デー
タに高精度に同期したクロック信号を得ることができ、
データ読み出しの処理精度を上げることができる。
In the disk device 10 shown in FIG.
At the time of data reading (at the time of reproduction), the data clock reproducer 70 obtains a data clock signal DCK whose phase is controlled by the phase information of the clock mark reproduction signal SCM and the phase information of the reproduction signal SMO of the fixed pattern area. (See FIG. 25), and even if the amplitude of the clock mark reproduction signal SCM is small and the S / N is poor, a clock signal synchronized with the reproduction data with high accuracy can be obtained.
The processing accuracy of data reading can be improved.

【0127】また、光磁気ディスク11のグルーブウォ
ブルの振幅が変調後の信号の周波数に応じて変化するよ
うにされ、アドレス情報ADMの“1”および“0”の
接合部に対応するグルーブウォブルの0クロス点の前後
での傾きが変化しないようにされている(図5参照)。
そのため、アドレス情報ADMの“1”および“0”の
接合部に対応するウォブル信号SWBの時間軸方向のジッ
タを低減でき、ADIPデコーダ60(図10参照)で
アドレス情報ADMを良好に得ることができる。本実施
の形態においては、上述したように、アドレス情報AD
Mの“1”および“0”に対応するグルーブウォブルの
波数がそれぞれ整数とされており、アドレス情報ADM
の“1”および“0”に対応するグルーブウォブルの接
合部は全て0クロス点となることから、特に有効であ
る。
Further, the amplitude of the groove wobble of the magneto-optical disk 11 is changed according to the frequency of the signal after modulation, and the amplitude of the groove wobble corresponding to the junction of "1" and "0" of the address information ADM. The inclination before and after the zero cross point does not change (see FIG. 5).
Therefore, the jitter in the time axis direction of the wobble signal SWB corresponding to the junction of "1" and "0" of the address information ADM can be reduced, and the ADIP decoder 60 (see FIG. 10) can obtain the address information ADM in a satisfactory manner. it can. In the present embodiment, as described above, the address information AD
The wave numbers of the groove wobbles corresponding to “1” and “0” of M are integers, respectively.
This is particularly effective because the junctions of the groove wobbles corresponding to "1" and "0" are all zero cross points.

【0128】また、ADIPデコーダ60では、アドレ
ス情報ADMの“1”および“0”のデータにそれぞれ
対応するウォブル信号SWBの周波数fa,fbの公倍数
の周波数fc(=6fa=8fb)を持つクロック信号
CK24を使用した復調処理でアドレス情報ADMを得る
ものである(図10参照)。そのため、PLL回路を1
系統持つだけで構成でき、ADIPデコーダ60の構成
が簡単となる利益がある。
In the ADIP decoder 60, a clock signal having a frequency fc (= 6fa = 8fb) which is a common multiple of the frequencies fa and fb of the wobble signal SWB corresponding to the data "1" and "0" of the address information ADM, respectively. The address information ADM is obtained by a demodulation process using CK24 (see FIG. 10). Therefore, if the PLL circuit is 1
There is an advantage that the configuration can be realized only by having a system and the configuration of the ADIP decoder 60 is simplified.

【0129】この場合、アドレス情報ADMの“1”お
よび“0”に対応するグルーブウォブルの波数がそれぞ
れ整数とされており、アドレス情報ADMの“1”およ
び“0”のデータにそれぞれ対応してコンパレータ63
より出力されるパルス信号PWBは常に同じ形状となるこ
とから、検波回路67におけるクロック信号CK24を使
用した復調処理を容易に行うことができる。
In this case, the wave numbers of the groove wobbles corresponding to "1" and "0" of the address information ADM are respectively integers, and correspond to the data "1" and "0" of the address information ADM, respectively. Comparator 63
Since the output pulse signal PWB always has the same shape, demodulation processing using the clock signal CK24 in the detection circuit 67 can be easily performed.

【0130】また、データクロック信号DCKの周波数
とバイフェーズビットのオーバーサンプリング用のクロ
ック信号CK24の周波数とが整数比の関係にあり、デー
タデータクロック信号DCKを分周してバイフェーズビ
ットのオーバーサンプリング用のクロック信号CK24を
得ることで、ADIPデコーダ60A(図23参照)の
構成をより簡単とできる(図23参照)。
Also, the frequency of the data clock signal DCK and the frequency of the clock signal CK24 for oversampling the biphase bit are in an integer ratio, and the frequency of the data clock signal DCK is divided to oversample the biphase bit. By obtaining the clock signal CK24 for use, the configuration of the ADIP decoder 60A (see FIG. 23) can be simplified (see FIG. 23).

【0131】また、ADIPデコーダ60の検波回路6
7では、ウインドーパルスを使用してビット“0”とビ
ット“1”の検波を行うものであるため、ウォブル信号
SWBにディフェクトによる変形がある場合であっても、
その変形がない場合と同様に、アドレス情報ADMを良
好に得ることができる。
The detection circuit 6 of the ADIP decoder 60
In No. 7, since the detection of the bit “0” and the bit “1” is performed using the window pulse, even if the wobble signal SWB is deformed due to the defect,
As in the case where there is no deformation, the address information ADM can be obtained well.

【0132】なお、上述実施の形態においては、光磁気
ディスク11のグルーブ部12Gの片側のみウォブリン
グした状態とされたものを示したが、グルーブ部12G
の両側がウォブリングされた状態であってもよい。
In the above-described embodiment, the case where only one side of the groove portion 12G of the magneto-optical disk 11 is wobbled is shown.
May be wobbled on both sides.

【0133】また、この実施の形態においては、グルー
ブ部12Gのウォブリングしている側にクロックマーク
CMがプリフォーマットされたものを示したが、ウォブ
リングしていない側にクロックマークCMがプリフォー
マットされてもよく、さらに両側にクロックマークCM
がプリフォーマットされていてもよい。
In this embodiment, the clock mark CM is preformatted on the wobbled side of the groove portion 12G. However, the clock mark CM is preformatted on the non-wobbled side. Also, the clock mark CM on both sides
May be preformatted.

【0134】また、上述実施の形態においては、アドレ
ス情報ADMの“1”および“0”に対応するグルーブ
ウォブルの波数がそれぞれ「4」、「3」としたが、こ
れに限定されるものではない。
In the above-described embodiment, the wave numbers of the groove wobbles corresponding to "1" and "0" of the address information ADM are "4" and "3", respectively. Absent.

【0135】また、上述実施の形態においては、記録領
域の固定パターン領域がクロックマークCMの記録位置
に1対1に対応して設けられているが、必ずしも対応さ
せる必要はない。例えば、固定パターン領域の個数をク
ロックマークCMの個数より少なくしてもよい。
In the above-described embodiment, the fixed pattern area of the recording area is provided in one-to-one correspondence with the recording position of the clock mark CM, but it is not always necessary to make it correspond. For example, the number of fixed pattern areas may be smaller than the number of clock marks CM.

【0136】また、上述実施の形態においては、光磁気
ディスク11の固定パターン領域には2Tの固定パター
ン信号が記録されるものであったが、1Tあるいは3T
以上の固定パターン信号が記録されるようにしてもよ
い。ただし、パターン間隔が短くなると、MTF(Modu
lation Transfer Function)によって再生信号SMOの振
幅が小さく、S/Nが悪化したものとなる。逆に、パタ
ーン間隔が長くなると、位相比較のためのエッジ数を同
じ数だけ得るためには、固定パターン領域を広くとる必
要があり、データが記録されるデータ領域が狭くなる。
In the above-described embodiment, the fixed pattern signal of 2T is recorded in the fixed pattern area of the magneto-optical disk 11. However, 1T or 3T is recorded.
The above fixed pattern signal may be recorded. However, when the pattern interval becomes short, the MTF (Modu
(Translation Transfer Function) causes the amplitude of the reproduced signal SMO to be small and the S / N to be deteriorated. Conversely, when the pattern interval becomes longer, in order to obtain the same number of edges for phase comparison, it is necessary to increase the fixed pattern area, and the data area in which data is recorded becomes narrower.

【0137】また、上述実施の形態において、ADIP
デコーダ60,60Aでは、アドレス情報ADMの
“1”および“0”のデータにそれぞれ対応するウォブ
ル信号SWBの周波数fa,fbの公倍数の周波数fc
(=6fa=8fb)を持つクロック信号CK24を使用
した復調処理を行うようにしたものであるが、周波数f
a,fbのその他の公倍数の周波数を持つクロック信号
を使用して同様の復調処理を行うことができる。
In the above embodiment, the ADIP
In the decoders 60 and 60A, the frequency fc of a common multiple of the frequencies fa and fb of the wobble signal SWB corresponding to the data "1" and "0" of the address information ADM, respectively.
(= 6fa = 8fb), the demodulation process using the clock signal CK24 having the frequency f
Similar demodulation processing can be performed using clock signals having other common multiple frequencies of a and fb.

【0138】[0138]

【発明の効果】この発明によれば、ディジタルデータ、
例えばアドレス情報の“1”および“0”のデータにそ
れぞれ対応する周波数変調信号の周波数の公倍数の周波
数を持つクロック信号に基づいた復調処理でディジタル
データを得るものであり、簡単な構成で周波数変調信号
の復調処理を行うことができる。
According to the present invention, digital data,
For example, digital data is obtained by a demodulation process based on a clock signal having a frequency which is a common multiple of the frequency of the frequency modulation signal corresponding to the data "1" and "0" of the address information. Signal demodulation can be performed.

【0139】また、復調処理において、2値信号のエッ
ジが検出されてエッジ検出信号を得ると共に、ディジタ
ルデータの“1”および“0”に対応する2値信号のパ
ターンに係る第1および第2のウインドーパルスを生成
し、エッジ検出信号の出力タイミングと第1および第2
のそれぞれのウインドーパルスの出力タイミングとの一
致数に基づいてディジタルデータの“1”,“0”の判
定を行うものであり、周波数変調信号に記録媒体のディ
フェクト等による変形があった場合にも正確にディジタ
ルデータを復調できる。この場合、2値信号のエッジ情
報をも加味することで、さらに正確な判定が可能とな
る。
In the demodulation processing, the edge of the binary signal is detected to obtain an edge detection signal, and the first and second patterns related to the binary signal patterns corresponding to the digital data “1” and “0”. And the output timing of the edge detection signal and the first and second
Of digital data "1" or "0" based on the number of coincidences with the output timings of the respective window pulses. When the frequency modulation signal is deformed due to a defect of the recording medium or the like, Can accurately demodulate digital data. In this case, a more accurate determination can be made by taking into account the edge information of the binary signal.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施の形態としての光磁気ディスク装置の構成
を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a magneto-optical disk device as an embodiment.

【図2】光磁気ディスクのセクタのレイアウトを示す図
である。
FIG. 2 is a diagram showing a layout of sectors of a magneto-optical disk.

【図3】セクタ(ウォブルアドレスフレーム)フォーマ
ットを説明するための図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining a sector (wobble address frame) format.

【図4】バイフェーズ変調前の1セクタ(ウォブルアド
レスフレーム)のアドレス情報を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing address information of one sector (wobble address frame) before bi-phase modulation.

【図5】グルーブウォブルの構成例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a configuration example of a groove wobble.

【図6】光学ヘッドの光学系を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an optical system of the optical head.

【図7】光学ヘッドの光学系を構成するフォトディテク
タの構成と、その上に形成されたスポットを示す図であ
る。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a photodetector constituting an optical system of the optical head and a spot formed thereon.

【図8】光学ヘッドの光学系を構成するウォラストンプ
リズムの構成例を示す図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration example of a Wollaston prism constituting the optical system of the optical head.

【図9】ウォラストンプリズムによる光線の分離状態を
示す図である。
FIG. 9 is a diagram illustrating a state of separation of light rays by a Wollaston prism.

【図10】ADIPデコーダの構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 10 is a block diagram illustrating a configuration of an ADIP decoder.

【図11】ADIPデコーダの動作を説明するためのタ
イミングチャートである。
FIG. 11 is a timing chart for explaining the operation of the ADIP decoder.

【図12】検波回路の構成を示すブロック図である。FIG. 12 is a block diagram illustrating a configuration of a detection circuit.

【図13】エッジ検出回路の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 13 is a block diagram illustrating a configuration of an edge detection circuit.

【図14】検波回路の動作を説明するための波形図であ
る。
FIG. 14 is a waveform chart for explaining the operation of the detection circuit.

【図15】検波回路の動作を説明するための波形図であ
る。
FIG. 15 is a waveform chart for explaining the operation of the detection circuit.

【図16】検波回路の動作を説明するための波形図であ
る。
FIG. 16 is a waveform chart for explaining the operation of the detection circuit.

【図17】検波回路の動作を説明するための波形図であ
る。
FIG. 17 is a waveform chart for explaining the operation of the detection circuit.

【図18】検波回路の動作を説明するための波形図であ
る。
FIG. 18 is a waveform chart for explaining the operation of the detection circuit.

【図19】検波回路の他の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 19 is a block diagram illustrating another configuration of the detection circuit.

【図20】立ち上がりエッジ検出回路の構成を示すブロ
ック図である。
FIG. 20 is a block diagram illustrating a configuration of a rising edge detection circuit.

【図21】立ち下がりエッジ検出回路の構成を示すブロ
ック図である。
FIG. 21 is a block diagram illustrating a configuration of a falling edge detection circuit.

【図22】検波回路の動作を説明するための波形図であ
る。
FIG. 22 is a waveform chart for explaining the operation of the detection circuit.

【図23】ADIPデコーダの他の構成を示すブロック
図である。
FIG. 23 is a block diagram showing another configuration of the ADIP decoder.

【図24】ADIPデコーダで使用するクロックを説明
するためのタイミングチャートである。
FIG. 24 is a timing chart for explaining a clock used in the ADIP decoder.

【図25】データクロック再生器の構成を示すブロック
図である。
FIG. 25 is a block diagram showing a configuration of a data clock regenerator.

【図26】データクロック再生器の動作を説明するため
のタイミングチャートである。
FIG. 26 is a timing chart for explaining the operation of the data clock regenerator.

【図27】従来のグルーブウォブルの構成例を示す図で
ある。
FIG. 27 is a diagram showing a configuration example of a conventional groove wobble.

【図28】従来の周波数復調回路の構成を示すブロック
図である。
FIG. 28 is a block diagram illustrating a configuration of a conventional frequency demodulation circuit.

【図29】周波数復調回路の動作を説明するためのタイ
ミングチャートである。
FIG. 29 is a timing chart for explaining the operation of the frequency demodulation circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10・・・光磁気ディスク装置、11・・・光磁気ディ
スク、12G・・・グルーブ部、12L・・・ランド
部、15・・・外部磁界発生用の磁気ヘッド、16・・
・磁気ヘッドドライバ、17・・・光学ヘッド、18・
・・レーザドライバ、41・・・サーボコントローラ、
51・・・システムコントローラ、55・・・データ変
調器、58・・・データ識別器、59・・・データ復調
器、60,60A・・・ADIPデコーダ、64・・・
PLL回路、67,67A・・・検波回路、68・・・
アドレス変換器、69・・・分周器、70・・・データ
クロック再生器、90・・・タイミング発生器
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Magneto-optical disk device, 11 ... Magneto-optical disk, 12G ... Groove part, 12L ... Land part, 15 ... Magnetic head for generating an external magnetic field, 16 ...
・ Magnetic head driver, 17 ・ ・ ・ Optical head, 18 ・
..Laser drivers, 41 ... servo controllers,
51: System controller, 55: Data modulator, 58: Data discriminator, 59: Data demodulator, 60, 60A: ADIP decoder, 64:
PLL circuit, 67, 67A ... detection circuit, 68 ...
Address converter, 69: frequency divider, 70: data clock regenerator, 90: timing generator

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ディジタルデータを表す周波数変調信号
から2値信号を得る波形整形部と、 上記ディジタルデータの“1”に対応する上記周波数変
調信号の周波数と、上記ディジタルデータの“0”に対
応する上記周波数変調信号の周波数との公倍数の周波数
を持つクロック信号を生成するクロック信号生成部と、 上記2値信号に対して上記クロック信号に基づいた処理
をして上記ディジタルデータを得る検波部とを備え、 上記検波部は、 上記2値信号のエッジを検出してエッジ検出信号を出力
するエッジ検出部と、 上記ディジタルデータの“1”および“0”に対応する
上記2値信号のパターンに係る第1および第2のウイン
ドーパルスを生成するウインドーパルス生成部と、 上記第1のウインドーパルスの出力タイミングに上記エ
ッジ検出信号の出力タイミングが一致したとき第1の一
致パルスを出力する第1の一致検出部と、 上記第2のウインドーパルスの出力タイミングに上記エ
ッジ検出信号の出力タイミングが一致したとき第2の一
致パルスを出力する第2の一致検出部と、 上記第1および第2の一致パルスのカウント値から上記
ディジタルデータが“1”か“0”かを判定する判定部
とで構成されることを特徴とする周波数復調回路。
1. A waveform shaping unit for obtaining a binary signal from a frequency modulation signal representing digital data, a frequency of the frequency modulation signal corresponding to "1" of the digital data, and a frequency corresponding to "0" of the digital data. A clock signal generation unit that generates a clock signal having a frequency that is a common multiple of the frequency of the frequency modulation signal, and a detection unit that obtains the digital data by processing the binary signal based on the clock signal. An edge detection unit that detects an edge of the binary signal and outputs an edge detection signal; and a detection unit that detects an edge of the binary signal and outputs an edge detection signal. A window pulse generator that generates the first and second window pulses; and the edge of the output timing of the first window pulse. A first coincidence detection unit that outputs a first coincidence pulse when the output timing of the detection signal coincides, and a second coincidence detection unit that outputs the first coincidence pulse when the output timing of the edge detection signal coincides with the output timing of the second window pulse A second coincidence detection unit that outputs a coincidence pulse; and a determination unit that determines whether the digital data is “1” or “0” based on the count values of the first and second coincidence pulses. Characteristic frequency demodulation circuit.
【請求項2】 上記ウインドーパルス生成部は、上記第
1のウインドーパルスを、上記2値信号の立ち上がりエ
ッジに関する第3のウインドーパルスと、上記2値信号
の立ち下がりエッジに関する第4のウインドーパルスと
に分離すると共に、上記第2のウインドーパルスを、上
記2値信号の立ち上がりエッジに関する第5のウインド
ーパルスと、上記2値信号の立ち下がりエッジに関する
第6のウインドーパルスとに分離するパルス分離部を有
し、 上記エッジ検出部は、上記エッジ検出信号を、立ち上が
りエッジに関する第1のエッジ検出信号と、立ち下がり
エッジに関する第2のエッジ検出信号とに分離する信号
分離部を有し、 上記第1の一致検出部は、上記第3のウインドーパルス
の出力タイミングに上記第1のエッジ検出信号の出力タ
イミングが一致したとき上記第1の一致パルスを出力す
ると共に、上記第4のウインドーパルスの出力タイミン
グに上記第2のエッジ検出信号の出力タイミングが一致
したとき上記第1の一致パルスを出力し、 上記第2の一致検出部は、上記第5のウインドーパルス
の出力タイミングに上記第1のエッジ検出信号の出力タ
イミングが一致したとき上記第2の一致パルスを出力す
ると共に、上記第6のウインドーパルスの出力タイミン
グに上記第2のエッジ検出信号の出力タイミングが一致
したとき上記第2の一致パルスを出力することを特徴と
する請求項1に記載の周波数復調回路。
2. The method according to claim 1, wherein the window pulse generation unit converts the first window pulse into a third window pulse relating to a rising edge of the binary signal and a fourth window pulse relating to a falling edge of the binary signal. And separating the second window pulse into a fifth window pulse relating to a rising edge of the binary signal and a sixth window pulse relating to a falling edge of the binary signal. A signal separation unit that separates the edge detection signal into a first edge detection signal related to a rising edge and a second edge detection signal related to a falling edge. Wherein the first coincidence detection unit outputs the first edge detection signal at an output timing of the third window pulse. The first coincidence pulse is output when the timing matches, and the first coincidence pulse is output when the output timing of the second edge detection signal coincides with the output timing of the fourth window pulse. The second coincidence detection unit outputs the second coincidence pulse when the output timing of the first edge detection signal coincides with the output timing of the fifth window pulse, and outputs the sixth coincidence pulse. 2. The frequency demodulation circuit according to claim 1, wherein the second coincidence pulse is output when the output timing of the second edge detection signal coincides with the output timing of the window pulse.
【請求項3】 上記ディジタルデータの“1”および
“0”のデータに対応する上記周波数変調信号の波数が
それぞれ整数であることを特徴とする請求項1に記載の
周波数復調回路。
3. The frequency demodulation circuit according to claim 1, wherein the wave numbers of the frequency modulation signals corresponding to the digital data “1” and “0” are integers, respectively.
【請求項4】 アドレス情報が周波数変調され、変調後
の信号がグルーブウォブルとして記録される光ディスク
を駆動する光ディスク装置において、 上記光ディスクから上記グルーブウォブルに対応したウ
ォブル信号を再生するウォブル信号再生手段と、 上記ウォブル信号に対して周波数復調をすることで上記
アドレス情報を得る周波数復調手段とを備え、 上記周波数復調手段は、 ディジタルデータを表す周波数変調信号から2値信号を
得る波形整形部と、 上記ディジタルデータの“1”に対応する上記周波数変
調信号の周波数と、上記ディジタルデータの“0”に対
応する上記周波数変調信号の周波数との公倍数の周波数
を持つクロック信号を生成するクロック信号生成部と、 上記2値信号に対して上記クロック信号に基づいた処理
をして上記ディジタルデータを得る検波部とを有し、 上記検波部は、 上記2値信号のエッジを検出してエッジ検出信号を出力
するエッジ検出部と、 上記ディジタルデータの“1”および“0”に対応する
2値信号のパターンに係る第1および第2のウインドー
パルスを生成するウインドーパルス生成部と、 上記第1のウインドーパルスの出力タイミングに上記エ
ッジ検出信号の出力タイミングが一致したとき第1の一
致パルスを出力する第1の一致検出部と、 上記第2のウインドーパルスの出力タイミングに上記エ
ッジ検出信号の出力タイミングが一致したとき第2の一
致パルスを出力する第2の一致検出部と、 上記第1および第2の一致パルスのカウント値から上記
ディジタルデータが“1”か“0”かを判定する判定部
とで構成されることを特徴とする光ディスク装置。
4. An optical disk drive for driving an optical disk in which address information is frequency-modulated and a signal after modulation is recorded as a groove wobble, wobble signal reproducing means for reproducing a wobble signal corresponding to the groove wobble from the optical disk. Frequency demodulation means for frequency-demodulating the wobble signal to obtain the address information, the frequency demodulation means comprising: a waveform shaping section for obtaining a binary signal from a frequency modulation signal representing digital data; A clock signal generation unit that generates a clock signal having a frequency that is a common multiple of the frequency of the frequency modulation signal corresponding to “1” of the digital data and the frequency of the frequency modulation signal corresponding to “0” of the digital data; Subjecting the binary signal to processing based on the clock signal. A detector for detecting the edge of the binary signal and outputting an edge detection signal; and "1" and "0" of the digital data. A window pulse generating unit for generating first and second window pulses according to a pattern of a binary signal corresponding to the above, and an output timing of the edge detection signal coincides with an output timing of the first window pulse. A first coincidence detection unit that outputs a first coincidence pulse, and a second coincidence pulse that outputs a second coincidence pulse when the output timing of the edge detection signal matches the output timing of the second window pulse. A coincidence detection unit; and a determination unit for determining whether the digital data is “1” or “0” from the count values of the first and second coincidence pulses. Optical disc apparatus according to claim.
【請求項5】 上記ウインドーパルス生成部は、上記第
1のウインドーパルスを、上記2値信号の立ち上がりエ
ッジに関する第3のウインドーパルスと、上記2値信号
の立ち下がりエッジに関する第4のウインドーパルスと
に分離すると共に、上記第2のウインドーパルスを、上
記2値信号の立ち上がりエッジに関する第5のウインド
ーパルスと、上記2値信号の立ち下がりエッジに関する
第6のウインドーパルスとに分離するパルス分離部を有
し、 上記エッジ検出部は、上記エッジ検出信号を、立ち上が
りエッジに関する第1のエッジ検出信号と、立ち下がり
エッジに関する第2のエッジ検出信号とに分離する信号
分離部を有し、 上記第1の一致検出部は、上記第3のウインドーパルス
の出力タイミングに上記第1のエッジ検出信号の出力タ
イミングが一致したとき上記第1の一致パルスを出力す
ると共に、上記第4のウインドーパルスの出力タイミン
グに上記第2のエッジ検出信号の出力タイミングが一致
したとき上記第1の一致パルスを出力し、 上記第2の一致検出部は、上記第5のウインドーパルス
の出力タイミングに上記第1のエッジ検出信号の出力タ
イミングが一致したとき上記第2の一致パルスを出力す
ると共に、上記第6のウインドーパルスの出力タイミン
グに上記第2のエッジ検出信号の出力タイミングが一致
したとき上記第2の一致パルスを出力することを特徴と
する請求項4に記載の光ディスク装置。
5. The method according to claim 5, wherein the window pulse generating unit converts the first window pulse into a third window pulse relating to a rising edge of the binary signal and a fourth window pulse relating to a falling edge of the binary signal. And separating the second window pulse into a fifth window pulse relating to a rising edge of the binary signal and a sixth window pulse relating to a falling edge of the binary signal. A signal separation unit that separates the edge detection signal into a first edge detection signal related to a rising edge and a second edge detection signal related to a falling edge. Wherein the first coincidence detection unit outputs the first edge detection signal at an output timing of the third window pulse. The first coincidence pulse is output when the timing matches, and the first coincidence pulse is output when the output timing of the second edge detection signal coincides with the output timing of the fourth window pulse. The second coincidence detection unit outputs the second coincidence pulse when the output timing of the first edge detection signal coincides with the output timing of the fifth window pulse, and outputs the sixth coincidence pulse. 5. The optical disk device according to claim 4, wherein the second coincidence pulse is output when the output timing of the second edge detection signal coincides with the output timing of the window pulse.
【請求項6】 上記アドレス情報の“1”および“0”
のデータに対応する上記グルーブウォブルの波数がそれ
ぞれ整数であることを特徴とする請求項4に記載の光デ
ィスク装置。
6. The address information “1” and “0”
5. The optical disk device according to claim 4, wherein the wave numbers of the groove wobbles corresponding to the data of (a) and (b) are integers, respectively.
【請求項7】 上記アドレス情報はバイフェーズ変調さ
れた後の信号であることを特徴とする請求項4に記載の
光ディスク装置。
7. The optical disk device according to claim 4, wherein the address information is a signal after bi-phase modulation.
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100513327B1 (en) * 2001-12-21 2005-09-07 엘지전자 주식회사 Apparatus and method for modulating and demodulating wobble signal on optical disc
KR100513337B1 (en) * 2001-11-17 2005-09-07 엘지전자 주식회사 Apparatus and method for modulating and demodulating wobble signal on optical disc
KR100719401B1 (en) 2005-02-23 2007-05-17 후지쯔 가부시끼가이샤 Method and apparatus for demodulating wap of optical disc
US7242658B2 (en) 2003-01-21 2007-07-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus to generate a bit clock and a method of generating the bit clock
US7272087B2 (en) 2003-06-26 2007-09-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Circuit and method for detecting address in pre-groove (ADIP) signal in wobble detection system of optical disc apparatus
US9312451B2 (en) 2011-09-14 2016-04-12 Express Imaging Systems, Llc Apparatus, method to enhance color contrast in phosphor-based solid state lights
US9961731B2 (en) 2015-12-08 2018-05-01 Express Imaging Systems, Llc Luminaire with transmissive filter and adjustable illumination pattern
US10544917B2 (en) 2016-08-24 2020-01-28 Express Imaging Systems, Llc Shade and wavelength converter for solid state luminaires

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100513337B1 (en) * 2001-11-17 2005-09-07 엘지전자 주식회사 Apparatus and method for modulating and demodulating wobble signal on optical disc
KR100513327B1 (en) * 2001-12-21 2005-09-07 엘지전자 주식회사 Apparatus and method for modulating and demodulating wobble signal on optical disc
US7242658B2 (en) 2003-01-21 2007-07-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus to generate a bit clock and a method of generating the bit clock
US7272087B2 (en) 2003-06-26 2007-09-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Circuit and method for detecting address in pre-groove (ADIP) signal in wobble detection system of optical disc apparatus
US7522492B2 (en) 2003-06-26 2009-04-21 Samsung Electronics Co., Ltd. Circuit and method for detecting address in pre-groove (ADIP) signal in wobble detection system of optical disc apparatus
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