JP4048597B2 - Optical disk device - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、バイフェーズ変調されたアドレス情報を周波数変調して得られる信号に対応したグルーブウォブルと、このグルーブウォブル内に配置され位相情報を有するマークとがプリフォーマットされた光ディスクを駆動する光ディスク装置に関する。詳しくは、データクロック信号とバイフェーズビットのオーバーサンプリング用のクロック信号の周波数を整数比の関係にし、データクロック信号からバイフェーズビットのオーバーサンプリング用のクロック信号を分周により生成することによって、データ系にPLL回路を1系統持つだけでアドレス情報の復調を行うことができ、構成が極めて簡単となるようにした光ディスク装置に係るものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、バイフェーズ変調されたアドレス情報ADMを周波数変調し、変調後の信号に対応してグルーブ部をウォブリングした状態とし、変調後の信号をグルーブウォブルとして記録してなる光磁気ディスクが提案されている。この場合、グルーブウォブルは、図27に示すように、例えばアドレス情報ADMの1ビット(バイフェーズ1ビット)当たり、“1”のときは4.25波(4.25周期のサイン波)となり、“0”のときは3.75波(3.75周期のサイン波)となっている。この場合、グルーブウォブルの振幅は、変調後の信号の周波数に拘わらずに一定とされている。そのため、図27に拡大して示すように、アドレス情報ADMの“1”および“0”の接合部に対応するグルーブウォブルの0クロス点の前後での傾きが変化したものとなる。
【0003】
図28は、グルーブウォブルの再生信号、つまりウォブル信号SWBよりアドレス情報ADMを得るための周波数復調回路300の従来例としての構成を示している。この周波数復調回路300は、直流カット用のコンデンサ301と、閾値=0として直流成分がカットされたウォブル信号SWBをパルス信号(2値信号)PWBに変換するコンパレータ302とを有している。
【0004】
また、周波数復調回路300は、PLL(phase-locked loop)回路303を構成する電圧制御発振器303aと、この電圧制御発振器303aの出力信号とコンパレータ302より出力されるパルス信号PWBとの位相比較を行うための位相比較器303bと、この位相比較器303bより出力される位相誤差信号の低域成分を取り出して電圧制御発振器303aに供給するための制御信号を得るローパスフィルタ303cとを有している。
【0005】
また、周波数復調回路300は、ローパスフィルタ303cの出力信号の低域成分を取り出すためのローパスフィルタ304と、直流カット用のコンデンサ305と、閾値=0として、直流成分がカットされたローパスフィルタ304の出力信号よりアドレス情報ADMを得るコンパレータ306とを有している。
【0006】
また、周波数復調回路300は、コンパレータ306より出力されるアドレス情報ADMの立ち上がりや立ち下がりのエッジを検出するエッジ検出器307と、このエッジ検出器307より出力されるエッジ検出信号をトリガ信号として所定幅のパルス信号を得るモノマルチバイブレータ308とを有している。
【0007】
また、周波数復調回路300は、PLL回路309を構成する電圧制御発振器309aと、この電圧制御発振器309aの出力信号とモノマルチバイブレータ308より出力されるパルス信号との位相比較を行うための位相比較器309bと、この位相比較器309bより出力される位相誤差信号の低域成分を取り出して電圧制御発振器309aに供給するための制御信号を得るローパスフィルタ309cとを有している。
【0008】
図28に示す周波数復調回路300の動作を説明する。ウォブル信号SWBはコンデンサ301を介してコンパレータ302に供給されてパルス信号(2値信号)PWBに変換される。上述したように、バイフェーズ変調後のアドレス情報ADMが周波数変調され、この変調後の信号が光磁気ディスクにグルーブウォブルとして記録されている。そのため、ウォブル信号SWBは、周波数変調後の信号と同じく、図29Aに示すように、アドレス情報ADMの1ビット(バイフェーズ1ビット)に対応して、“1”のときは4.25波を有し、“0”のときは3.75波を有するものとなっている。そのため、コンパレータ302からは、図29Bに示すように、パルス信号PWBが得られる。
【0009】
また、“1”に対応するウォブル信号SWBの周波数と“0”に対応するウォブル信号SWBの周波数とが異なることから、PLL回路303を構成するローパスフィルタ303cの出力信号は図29Cに示すようになり、従ってコンパレータ306からは図29Dに示すようにアドレス情報ADMが得られる。そして、このアドレス情報ADMのエッジがエッジ検出器307で検出され、そのエッジ検出信号がトリガ信号としてモノマルチバイブレータ308より出力されるパルス信号がPLL回路309に参照信号として供給される。したがって、PLL回路309を構成する電圧制御発振器309aからは、図29Eに示すようにアドレス情報ADMに同期したクロック信号ACKが得られる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
上述したように、図28に示す周波数復調回路300は、2系統のPLL回路303,309を持ち、複雑な構成となっている。
【0011】
そこで、この発明では、PLL回路をデータ系に1系統持つ簡単な構成でアドレス情報の復調処理を行うことができる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る光ディスク装置は、バイフェーズ変調されたアドレス情報を周波数変調して得られる信号に対応したグルーブウォブルと、このグルーブウォブル内に配置され位相情報を有するマークとがプリフォーマットされ、隣接する2つのマーク間のバイフェーズビット数がa(aは自然数)とされると共に、隣接する2つのマーク間のチャネルビット数がn(nは自然数)とされた光ディスクを駆動する光ディスク装置であって、クロックマークの再生信号の周波数をn逓倍することで第1のクロック信号を生成するクロック信号生成手段と、光ディスクからグルーブウォブルに対応したウォブル信号を再生するウォブル信号再生手段と、ウォブル信号に対して周波数復調をすることでアドレス情報を得る周波数復調手段とを備えるものである。そして、周波数復調手段は、上記バイフェーズビットのオーバーサンプリング値をs(sは自然数)クロックとして、第1のクロック信号生成手段から供給される第1のクロック信号を1/M(M=n/(a・s))に分周することで第2のクロック信号を生成するクロック信号生成部と、ウォブル信号を波形整形することで2値信号を得る波形整形部と、2値信号に対して第2のクロック信号を使用した処理をすることでアドレス情報を得る検波部とを有するものである。
【0013】
この発明において、第1のクロック信号(データクロック信号)と第2のクロック信号(バイフェーズビットのオーバーサンプリング用のクロック信号)の周波数を整数比の関係にすることにより、周波数復調手段において第1のクロック信号を分周して第2のクロック信号が生成される。そして、この第2のクロック信号を用いてウォブル信号再生手段で得られたウォブル信号に対して周波数復調をすることでアドレス情報が得られる。これにより、データ系にPLL回路を1系統持つだけでアドレス情報の復調を行うことができ、構成が極めて簡単となる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら、この発明の実施の形態について説明する。図1は、実施の形態としての光磁気ディスク装置10の構成を示している。
【0015】
まず、この光磁気ディスク装置10で駆動する光磁気ディスク11を説明する。図2は、光磁気ディスク11のセクタのレイアウトを示している。この光磁気ディスク11には内周側より外周側に向かってトラック0〜トラックnがスパイラル状に形成される。また、光磁気ディスク11はゾーニングされており、内周側のゾーンX1の各トラックには円周方向に0〜m1のセクタが含まれ、外周側のゾーンX2の各トラックには円周方向に0〜m2のセクタが含まれている。
【0016】
図3A〜Dは、セクタ(ウォブルアドレスフレーム)フォーマットを示している。光磁気ディスク11には、図3Aに示すように、半径方向にグルーブ部12Gとランド部12Lとが交互に形成され、グルーブ部12Gまたはランド部12Lのいずれか一方、または双方にデータが記録される。グルーブ部12Gの片側は、例えばバイフェーズ変調後のアドレス情報ADMに応じてウォブリングした状態とされている。
【0017】
この場合、アドレス情報ADMが周波数変調(FM)され、変調後の信号に対応するようにグルーブ部12Gがウォブリングされている。つまり、その変調後の信号がグルーブウォブルとして記録されている。なお、グルーブ部12Gの片側がウォブリングされることから、結果的にランド部12Lの片側もアドレス情報ADMに応じてウォブリングされた状態となっている。
【0018】
なお、アドレス情報ADMはバイフェーズ変調後のものであるが、アドレス情報にバイフェーズ変調を施してアドレス情報ADMを得て用いるのは、周知のようにDC成分の発生を防止するためである(DCフリー)。ここで、バイフェーズ変調を施す前のアドレス情報の1ビットは、バイフェーズ2ビットに対応している。
【0019】
グルーブウォブルは、図5に示すように、アドレス情報ADMの1ビット(バイフェーズ1ビット)当たり、“1”のときは4波(4周期のサイン波)となり、“0”のときは3波(3周期のサイン波)となっている。しかも、このグルーブウォブルの振幅は、変調後の信号の周波数に応じて変化するようにされ、図5に拡大して示すように、アドレス情報ADMの“1”および“0”の接合部に対応するグルーブウォブルの0クロス点の前後での傾きが変化しないようにされている。
【0020】
ここで、1セクタ(1ウォブルアドレスフレーム)の期間のグルーブウォブルは、バイフェーズ変調前のアドレス情報(データ)で、例えば42ビットのデータを有している。この42ビッのトデータは、図4に示すように、4ビットの同期信号データ、24ビットのフレームアドレスデータ、14ビットのCRC(cyclic redundancy check)コードで構成される。
【0021】
また、1セクタは、図3Bに示すように、例えば42セグメントで構成されている。各セグメントの境界位置には、図3Aに示すように、クロックマークCMがグルーブウォブルに多重化されてプリフォーマットされている。そして、図3Cに示すように、各セグメント内に60バイトのデータ領域が設けられると共に、各セグメントの境界位置に対応して6バイトの固定パターン領域が設けられている。データ書き込み時には、後述するようにデータ領域にはNRZIデータが記録されるが、固定パターン領域にはNRZIデータに同期した2Tの長さの固定パターン信号が記録される(Tはデータのビット間隔)。この固定パターン信号は、データ読み出し時におけるデータクロック信号の位相を制御するために使用される。
【0022】
ここで、光磁気ディスク11では、1セクタが42セグメントで構成され、各セグメントの境界位置にクロックマークCMがプリフォーマットされていることから、隣接するクロックマーク間のバイフェーズビット数aは2となる。また、光磁気ディスク11では、各セグメント内に60バイトのデータ領域が設けられると共に、各セグメントの境界位置に対応して6バイトの固定パターン領域が設けられることから、隣接するクロックマーク間のチャネルビット数nは528となる。
【0023】
また、図1に戻って、ディスク装置10は、光磁気ディスク11を回転駆動するためのスピンドルモータ13を有している。光磁気ディスク11は、記録時および再生時には角速度一定で回転駆動される。スピンドルモータ13の回転軸には、その回転速度を検出するための周波数発電機14が取り付けられている。
【0024】
また、ディスク装置10は、外部磁界発生用の磁気ヘッド15と、この磁気ヘッド15の磁界発生を制御する磁気ヘッドドライバ16と、半導体レーザ、対物レンズ、光検出器等から構成される光学ヘッド17と、この光学ヘッド17の半導体レーザの発光を制御するレーザドライバ18とを有している。磁気ヘッド15と光学ヘッド17は光磁気ディスク11を挟むように対向して配設されている。
【0025】
レーザドライバ18には、後述するサーボコントローラ41よりD/Aコンバータ19を介してレーザパワー制御信号SPCが供給され、光学ヘッド17の半導体レーザより出力されるレーザ光のパワーが、記録時には記録パワーPWとなり、再生時には記録パワーPWより低い再生パワーPRとなるように制御される。
【0026】
データ書き込み時(記録時)には、後述するように磁気ヘッドドライバ16に記録データDrおよび固定パターン信号SFPが供給され、磁気ヘッド15より記録データDrおよび固定パターン信号SFPに対応した磁界が発生され、光学ヘッド17からのレーザビーム(レーザ光)との共働により光磁気ディスク11のデータ領域に記録データDrが記録されると共に、この記録データDrが記録されるデータ領域に対応した固定パターン領域に固定パターン信号SFPが記録される。
【0027】
図6は、光学ヘッド17の光学系の構成を示している。光学ヘッド17は、レーザビームLBを得るための半導体レーザ31と、この半導体レーザ31より出力されるレーザビームLBを発散光より平行光に整形するためのコリメータレンズ32と、レーザビームを透過光と反射光の2つに分離するためのビームスプリッタ33と、レーザビームの光路を変更するための反射ミラー34と、レーザビームLBを光磁気ディスク11の記録面(記録膜)に照射するための対物レンズ35とを有している。
【0028】
また、光学ヘッド17は、ビームスプリッタ33の反射面33bで反射されて外部に出射されるレーザビームを偏光方向の違いによって3つのレーザビームに分離するためのウォラストンプリズム(偏光面検波プリズム)36と、このウォラストンプリズム36より出力される3つのレーザビーム(平行光)を集光させるための集光レンズ37と、この集光レンズ37より出射される3つのレーザビームが照射されるフォトディテクタ39と、集光レンズ37とフォトディテクタ39との間に配されるマルチレンズ38とを有している。
【0029】
マルチレンズ38は凹レンズおよび円筒レンズの組み合わせで構成される。円筒レンズを使用するのは、フォーカスエラー信号を周知の非点収差法で得るためである。フォトディテクタ39は、図7に示すように、4分割フォトダイオード部39mと、2個のフォトダイオード部39i,39jとで構成される。
【0030】
図8は、ウォラストンプリズム36の構成例を示している。このプリズム36は、1軸性結晶、例えば水晶よりなる直角プリズム36a,36bが接合されて構成されている。この場合、プリズム36bの光軸Axbはプリズム36aの光軸Axaに対して45゜だけ傾くように設定されている。
【0031】
このような構成において、水晶は入射光の偏光面に関連して2つの異なった屈折率を持っている。そのため、プリズム36aにその光軸Axaに対して45゜だけ傾いた偏光面Ppoを有する直線偏光Laを入射すると、図9に示すようにプリズム36aでは光軸Axaに垂直な偏光面を有する偏光成分Lb1および光軸Axaに平行な偏光面を有する偏光成分Lb2に分離される。さらに、プリズム36bでは、偏光成分Lb1が光軸Axbに平行な偏光面を有する偏光成分Lc1および光軸Axbに垂直な偏光面を有する偏光成分Lc2に分離されると共に、偏光成分Lb2が光軸Axbに平行な偏光面を有する偏光成分Lc3および光軸Axbに垂直な偏光面を有する偏光成分Lc4に分離される。
【0032】
ここで、偏光成分Lc1,Lc2はプリズム36aの光軸Axaに垂直な偏光面を有するものであり、それぞれの光量は直線偏光Laの1/4の量となる。一方、偏光成分Lc3,Lc4はプリズム36aの光軸Axaと平行な偏光面を有するものであり、それぞれの光量は直線偏光Laの1/4の量となる。そして、偏光成分Lc2,Lc3のプリズム36bからの出射角は等しく、結果としてプリズム36b、従ってウォラストンプリズム36からは3本のレーザビームLi,Lm,Ljが分離して得られることになる。
【0033】
図6に示す光学ヘッド17の光学系の動作を説明する。半導体レーザ31から放射される発散光としてのレーザビームLBは、コリメータレンズ32によって平行光に整形されてビームスプリッタ33に入射される。ビームスプリッタ33の多層膜33aを透過したレーザビームは反射ミラー34で直角に光路が変更され、対物レンズ35を介して光磁気ディスク11の記録面に照射される。
【0034】
また、光磁気ディスク11の記録面で反射されるレーザビームは対物レンズ35および反射ミラー34を介してビームスプリッタ33に入射される。そして、ビームスプリッタ33の多層膜33aで反射されたレーザビームLrは、さらにビームスプリッタ33の反射面33bで反射されて外部に出射され、ウォラストンプリズム36に入射される。
【0035】
このように光磁気ディスク11の記録面での反射に係るレーザビームLrがウォラストンプリズム36に入射されるが、上述せずも、光磁気ディスク11の記録面での偏光面の回転(カー回転)がなかった場合の偏光面が光軸Axaに対して45゜だけ傾くように設定されている(図8の直線偏光Laの偏光面Ppoと光軸Axaとの関係参照)。これにより、上述した直線偏光Laが入射される場合と同様に、ウォラストンプリズム36によってレーザビームLrより3本のレーザビームLi,Lm,Ljが分離して得られる。
【0036】
ここで、レーザビームLrの偏光面は光磁気ディスク11の記録膜の磁化の向きに従って時計方向または反時計方向にわずかに回転し、レーザビームLi,Ljの光量に光磁気ディスク11の記録膜の磁化の向きに従った大小関係が生じる。そのため、レーザビームLi,Ljの光量を検出し、その差をとることで光磁気記録されたデータ(信号)に対応する再生信号を得ることができる。なお、レーザビームLrの偏光面が回転してもレーザビームLmの光量は一定である。
【0037】
上述したようにウォラストンプリズム36より出射される3本のレーザビームLi,Lm,Ljは集光レンズ37およびマルチレンズ38を介してフォトディテクタ39に入射される。フォトディテクタ39を構成するフォトダイオード部39i,39m,39jには、図7に示すように、それぞれレーザビームLi,Lm,LjによるスポットSPi,SPm,SPjが形成される。
【0038】
この場合、4分割フォトダイオード部39mを構成する4個のフォトダイオードDa〜Ddの検出信号をそれぞれSa〜Sdとし、フォトダイオード部39i,39jを構成するフォトダイオードDi,Djの検出信号をSi,Sjとするとき、光学ヘッド17の増幅回路部(図示せず)で以下の演算が行われ、記録領域からの再生信号SMO、非点収差方式のフォーカスエラー信号SFEおよびプッシュプル信号SPPが生成される。
【0039】
SMO=Si−Sj
SFE=(Sa+Sc)−(Sb+Sd)
SPP=(Sa+Sb)−(Sc+Sd)
【0040】
図1に戻って、ディスク装置10は、CPU(central processing unit)を備えるサーボコントローラ41を有している。サーボコントローラ41には、光学ヘッド17で生成されるフォーカスエラー信号SFEがA/Dコンバータ42を介して供給される。また、光学ヘッド17で生成されるプッシュプル信号SPPは、プッシュプル法によるトラッキングエラー信号STEと、光磁気ディスク11のグルーブウォブルに対応したウォブル信号(FM信号)SWBと、光磁気ディスク11のクロックマークCMに対応したクロックマーク再生信号SCMとを含むものである。ここで、信号STE,SWB,SCMはそれぞれ異なる周波数帯域にある。したがって、プッシュプル信号SPPより、ローパスフィルタやバンドパスフィルタを使用して、信号STE,SWB,SCMをそれぞれ抽出することが可能である。
【0041】
サーボコントローラ41には、プッシュプル信号SPPよりローパスフィルタ43で抽出されたトラッキングエラー信号STEがA/Dコンバータ44を介して供給される。このサーボコントローラ41には、さらに上述した周波数発電機14より出力される周波数信号SFGが供給される。
【0042】
サーボコントローラ41の動作は、後述するシステムコントローラ51によって制御される。このサーボコントローラ41によって、トラッキングコイルやフォーカスコイル、さらには光学ヘッド17をラジアル方向に移動させるためのリニアモータを含むアクチュエータ45が制御され、トラッキングやフォーカスのサーボが行われ、また光学ヘッド17の半径方向(ラジアル方向)への移動が制御される。また、サーボコントローラ41によってスピンドルモータ13が制御され、上述したように記録時や再生時に光磁気ディスク11が角速度一定で回転するように制御される。
【0043】
また、ディスク装置10は、CPUを備えるシステムコントローラ51と、データバッファ52と、ホストコンピュータとの間でデータやコマンドの送受を行うためのSCSI(Small Computer System Interface)53とを有している。システムコントローラ51はシステム全体を制御するためのものである。
【0044】
また、ディスク装置10は、ホストコンピュータからSCSI53を通じて供給される書き込みデータに対して誤り訂正符号の付加を行うと共に、後述するデータ復調器59の出力データに対して誤り訂正を行うためのECC(error correction code)回路54と、このECC回路54で誤り訂正符号が付加された書き込みデータをNRZI(Non Return to Zero Inverted)データに変換して記録データDrを得ると共に、上述した固定パターン信号SFPを発生するデータ変調器55とを有している。
【0045】
また、ディスク装置10は、光学ヘッド17で生成される再生信号SMOの周波数特性を補償するためのイコライザ回路56と、このイコライザ回路56の出力信号をディジタル信号に変換するためのA/Dコンバータ57と、このA/Dコンバータ57の出力データに対してディジタル的にデータ識別処理をして再生データDpを得るデータ識別器58と、このデータ識別器58より出力される再生データDpに対してNRZI逆変換をして読み出しデータを得るためのデータ復調器59とを有している。データ識別器58は、2値化回路やビタビ復号器等で構成される。
【0046】
また、ディスク装置10は、光学ヘッド17で生成されるプッシュプル信号SPPに含まれるウォブル信号SWBよりフレーム同期信号FDおよびフレームアドレスデータFADを得るADIP(Address In Pre-groove)デコーダ60と、プッシュプル信号SPPに含まれるクロックマーク再生信号SCMおよび光磁気ディスク11の固定パターン領域に対応した再生信号SMOより、再生信号SCMの0クロス点のタイミングを示すパルス信号PCMおよびデータクロック信号DCKを得るデータクロック再生器70と、フレーム同期信号FD、フレームアドレスデータFAD、パルス信号PCMおよびデータクロック信号DCKを使用して、リードゲート信号やライトゲート信号等のシステム各部に必要なタイミング信号を発生するタイミング発生器90とを有している。フレームアドレスデータFADはサーボコントローラ41にも供給され、またデータクロック信号DCKはA/Dコンバータ57にサンプリングクロックとして供給される。
【0047】
図10は、ADIPデコーダ60の構成を示している。このADIPデコーダ60は、プッシュプル信号SPPよりウォブル信号SWBを抽出するためのバンドパスフィルタ61と、直流カット用のコンデンサ62と、閾値=0としてウォブル信号SWBをパルス信号(2値信号)PWBに変換するコンパレータ63とを有している。
【0048】
また、ADIPデコーダ60は、PLL回路64を構成する電圧制御発振器64aと、この電圧制御発振器64aより出力されるクロック信号CK24を1/24に分周する分周器64bと、コンパレータ63より出力されるパルス信号PWBと分周器64bの出力信号との位相比較を行うための位相比較器64cと、この位相比較器64cより出力される位相誤差信号の低域成分を取り出して電圧制御発振器64aに供給するための制御信号を得るローパスフィルタ64dとを有している。
【0049】
また、ADIPデコーダ60は、コンパレータ63より出力されるパルス信号PWBに対して電圧制御発振器64aより出力されるクロック信号CK24を使用した復調処理を行ってアドレス情報ADMを得ると共に、このアドレス情報ADMに同期したクロック信号ACKを得る検波回路67と、この検波回路67より出力されるアドレス情報ADMに対し、クロック信号ACKを使用して、同期検出、バイフェーズ復調、誤り検出などを行って、フレーム同期信号FDおよびフレームアドレスデータFADを得るアドレス変換器68とを有している。
【0050】
次に、図10に示すADIPデコーダ60の動作を説明する。プッシュプル信号SPPよりバンドパスフィルタ61でウォブル信号SWBが抽出される。そして、このウォブル信号SWBがコンデンサ62を介してコンパレータ63に供給されてパルス信号PWBに変換される。上述したように、光磁気ディスク11には、バイフェーズ変調後のアドレス情報ADMが周波数変調され、この変調後の信号がグルーブウォブルとして記録されている。そのため、ウォブル信号SWBは、周波数変調後の信号と同じく、図11Aに示すように、アドレス情報ADMの1ビット(バイフェーズ1ビット)に対応して、“1”のときは4波を有し、“0”のときは3波を有するものとなっている。そのため、コンパレータ63からは、図11Bに示すように、パルス信号(2値信号)PWBが得られる。なお、ウォブル信号SWBの振幅は、光磁気ディスク11のグルーブウォブルの振幅に比例したものとなる。
【0051】
ビット“1”に対応するウォブル信号SWBの周波数がfaであり、ビット“0”に対応するウォブル信号SWBの周波数がfbであるとき、電圧制御発振器64aの発振周波数は、fa,fbの公倍数の周波数(=6fa=8fb)近傍で変化するように設定されている。そのため、電圧制御発振器64aからは、図11Cに示すように、fc=6fa=8fbの周波数、従ってバイフェーズのビット周波数の24倍の周波数を持ち、パルス信号PWBに同期したクロック信号CK24が得られる。上述せずも、クロック信号CK24はバイフェーズビットのオーバーサンプリング用のクロック信号であって、バイフェーズビットのオーバーサンプリング値sは24クロックとなる。
【0052】
このクロック信号CK24を基準にすると、バイフェーズ1ビット=“1”に対応するパルス信号PWB(1周期分)は3クロック分の値“1”と3クロック分の値“0”とからなる6Tパターンを有し、バイフェーズ1ビット=“0”に対応するパルス信号PWBは4クロック分の値“1”と4クロック分の値“0”とからなる8Tパターンを有している。
【0053】
検波回路67は、パルス信号PWBより8Tパターンの連続を検出するときは、クロック信号ACK(図11Dに図示)に同期して次のバイフェーズ1ビット期間に“0”を出力し、一方パルス信号PWBより6Tパターンの連続を検出するときは、クロック信号ACKに同期して次のバイフェーズ1ビット期間に“1”を出力する。
【0054】
つまり、検波回路67ではパルス信号PWBに対して復調処理が行われ、この検波回路67からはクロック信号ACKと共に、このクロック信号ACKに同期してグルーブウォブルに対応したアドレス情報ADMが出力される(図11Eに図示)。なお、図11Fは、クロックマークCMの再生信号SCMを示している。
【0055】
このアドレス情報ADMは、アドレス変換器68に供給される。このアドレス変換器68では、アドレス情報ADMに対し、同期検出、バイフェーズ復調、誤り検出などが行われて、フレーム同期信号FDおよびフレームアドレスデータFADが得られる。これにより、アドレス変換器68からは、フレーム同期信号FDと共に、アドレス情報ADMより得られるフレームアドレスデータFADが出力される。
【0056】
図12は、検波回路67の構成を示している。この検波回路67は、クロック信号CK24を使用して、パルス信号PWBのパターン判別によりバイフェーズビット“1”および“0”の切れ目(変わり目)を検出し、バイフェーズのビット周期のクロック信号CKBPを得るためのバイフェーズ周期検出回路102と、このクロック信号CKBPがリセット信号として供給されると共に、クロック信号CK24がカウント用のクロック信号として供給される5ビットカウンタ103とを有している。
【0057】
また、検波回路67は、5ビットカウンタ103のカウント出力に基づいて、バイフェーズビット“0”用のウインドーパルスPW0と、バイフェーズビット“1”用のウインドーパルスPW1とを生成するウインドーパルス生成回路104を有している。ここで、ウインドーパルスPW0は、正規の8Tパターンのパルス信号PWBの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジにそれぞれ対応して出力されるパルスであり、バイフェーズ1ビット期間に6個のパルスが生成される。同様に、ウインドーパルスPW1は、正規の6Tパターンのパルス信号PWBの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジにそれぞれ対応して出力されるパルスであり、バイフェーズ1ビット期間に8個のパルスが生成される。
【0058】
また、検波回路67は、クロック信号CK24を使用して、パルス信号PWBの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジを検出し、エッジ検出パルスPeを出力するエッジ検出回路110を有している。
【0059】
図13は、エッジ検出回路110の構成を示している。このエッジ検出回路110は、クロック信号CK24で動作する2段構成のDフリップフロップ回路111,112と、エクスクルーシブ・オア回路113とから構成されている。パルス信号PWBはDフリップフロップ回路111のデータ端子Dに供給され、このDフリップフロップ回路111の非反転出力端子Qに得られる信号がDフリップフロップ回路112のデータ端子Dに供給される。そして、Dフリップフロップ回路111,112の非反転出力端子Qに得られる信号がエクスクルーシブ・オア回路113の入力側に供給され、このエクスクルーシブ・オア回路113の出力側よりエッジ検出パルスPeが出力される。
【0060】
また、図12に戻って、検波回路67は、ウインドーパルス生成回路104で生成されるウインドーパルスPW0,PW1をゲート信号としてエッジ検出パルスPeをゲートし、一致検出回路として機能するアンドゲート121,122と、アンドゲート121,122でそれぞれゲートされたエッジ検出パルスPeをカウントするエッジパルスカウンタ123,124と、前のバイフェーズ1ビット期間でカウントされたエッジパルスカウンタ123,124のカウント値x,yを比較し、次のバイフェーズ1ビット期間に、その比較結果に基づいたアドレス情報ADMを出力する比較回路125とを有している。
【0061】
ここで、エッジパルスカウンタ123,124には、それぞれバイフェーズのビット周期のクロック信号CKBPがリセット信号として供給される。また、このクロック信号CKBPは、比較回路125にもタイミング信号として供給される。比較回路125では、x>yのときはアドレス情報ADMとしてビット“0”が出力され、x<yのときはアドレス情報ADMとしてビット“1”が出力される。
【0062】
また、検波回路67は、クロック信号CK24を1/24に分周し、クロック信号CKBPを参照して、アドレス情報ADMに同期したクロック信号ACK(図11D参照)を出力する分周器126を有している。
【0063】
図12に示す検波回路67の動作を説明する。バイフェーズ周期検出回路102にパルス信号PWBおよびクロック信号CK24が供給され、バイフェーズのビット周期のクロック信号CKBPが得られる。また、5ビットカウンタ103には、このクロック信号CKBPがリセット信号として供給されると共に、クロック信号CK24がカウント用のクロック信号として供給される。これにより、5ビットカウンタ103では、バイフェーズの各ビット周期において、最初にリセットされ、その後にクロック信号CK24によるカウント動作が行われ、10進法で「0」〜「23」までカウントされることとなる。
【0064】
この5ビットカウンタ103のカウント出力はウインドーパルス生成回路104に供給され、5ビットカウンタ103のカウント出力に基づいて、バイフェーズビット“0”用のウインドーパルスPW0と、バイフェーズビット“1”用のウインドーパルスPW1とが生成され、それぞれアンドゲート121,122にゲート信号として供給される。
【0065】
一方、エッジ検出回路110にパルス信号PWBおよびクロック信号CK24が供給され、パルス信号PWBの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジが検出されてエッジ検出パルスPeが得られ、このエッジ検出パルスPeがそれぞれアンドゲート121,122に供給される。そして、アンドゲート121,122でゲートされたエッジ検出パルスPeは、それぞれエッジパルスカウンタ123,124に供給され、各バイフェーズ1ビット期間毎にカウントされる。
【0066】
そして、比較回路125では、前のバイフェーズ1ビット期間でカウントされたエッジパルスカウンタ123,124のカウント値x,yが比較され、次のバイフェーズ1ビット期間に、その比較結果に基づいたアドレス情報ADMが出力される。
【0067】
例えば、あるバイフェーズ1ビット期間のウォブル信号SWBが図14Aに示すようにバイフェーズビット“0”に対応するものであるとき、パルス信号(2値信号)PWBは図14Bに示すように8Tパターンが3回連続したものとなり、図14D,図14D′に示すようにエッジ検出パルスPeが得られる。図14Cは、クロック信号CK24を示している。
【0068】
そして、アンドゲート121に供給されるウインドーパルスPW0は図14Eに示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ123に供給される一致パルスとしてのゲート出力P00は図14Fに示すようになり、x=6となる。一方、アンドゲート122に供給されるウインドーパルスPW1は図14E′に示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ124に供給される一致パルスとしてのゲート出力P01は図14F′に示すようになり、y=2となる。したがって、比較回路125より、次のバイフェーズ1ビット期間に、アドレス情報ADMとして、ビット“0”が出力される。
【0069】
また、あるバイフェーズ1ビット期間のウォブル信号SWBが図15Aに示すようにバイフェーズビット“1”に対応するものであるとき、パルス信号(2値信号)PWBは図15Bに示すように6Tパターンが4回連続したものとなり、図15D,図15D′に示すようにエッジ検出パルスPeが得られる。図15Cは、クロック信号CK24を示している。
【0070】
そして、アンドゲート121に供給されるウインドーパルスPW0は図15Eに示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ123に供給されるゲート出力P00は図15Fに示すようになり、x=2となる。一方、アンドゲート122に供給されるウインドーパルスPW1は図15E′に示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ124に供給されるゲート出力P01は図15F′に示すようになり、y=8となる。したがって、比較回路125より、次のバイフェーズ1ビット期間に、アドレス情報ADMとして、ビット“1”が出力される。
【0071】
次に、光磁気ディスク11に傷などの欠陥(ディフェクト)がある場合であって、ウォブル信号SWBが変形している場合について説明する。
【0072】
例えば、あるバイフェーズ1ビット期間のウォブル信号SWBがバイフェーズビット“0”に対応するものであって、図16Aに示すようにディフェクトによる変形があるとき、パルス信号(2値信号)PWBは図16Bに示すように得られ、図16D,図16D′に示すようにエッジ検出パルスPeが得られる。図16Cは、クロック信号CK24を示している。
【0073】
そして、アンドゲート121に供給されるウインドーパルスPW0は図16Eに示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ123に供給されるゲート出力P00は図16Fに示すようになり、x=6となる。一方、アンドゲート122に供給されるウインドーパルスPW1は図16E′に示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ124に供給されるゲート出力P01は図16F′に示すようになり、y=3となる。したがって、比較回路125より、次のバイフェーズ1ビット期間に、アドレス情報ADMとして、ビット“0”が出力される。
【0074】
また、あるバイフェーズ1ビット期間のウォブル信号SWBがバイフェーズビット“1”に対応するものであって、図17Aに示すようにディフェクトによる変形があるとき、パルス信号(2値信号)PWBは図17Bに示すようになり、図17D,図17D′に示すようにエッジ検出パルスPeが得られる。図17Cは、クロック信号CK24を示している。
【0075】
そして、アンドゲート121に供給されるウインドーパルスPW0は図17Eに示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ123に供給されるゲート信号P00は図17Fに示すようになり、x=1となる。一方、アンドゲート122に供給されるウインドーパルスPW1は図17E′に示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ124に供給されるゲート出力P01は図17F′に示すようになり、y=6となる。したがって、比較回路125より、次のバイフェーズ1ビット期間に、アドレス情報ADMとして、ビット“1”が出力される。
【0076】
このように、図12に示す検波回路67では、ウォブル信号SWBに、図16Aおよび図17Aに示すようなディフェクトによる変形がある場合であっても、ウォブル信号SWBにディフェクトによる変形がない場合と同様に、良好にアドレス情報ADMを得ることができる。
【0077】
ところで、図16Aおよび図17Aに示すようなディフェクトによる変形がある場合には、上述したようにx,yの差が大きくなるので、x,yの大小のみによって、ビット“0”またはビット“1”と判定しても、正しくアドレス情報ADMを得ることができる。しかし、x,yの差があまりないときは、ビット“0”と判定すべきか、ビット“1”と判定すべきかが困難となる場合がある。
【0078】
例えば、あるバイフェーズ1ビット期間のウォブル信号SWBが図18Aに示すように変形したものであるとき、パルス信号(2値信号)PWBは図18Bに示すようになり、図18D(=図18E=図18E′)に示すようにエッジ検出パルスPeが得られる。図18Cは、クロック信号CK24を示している。
【0079】
そして、アンドゲート121に供給されるウインドーパルスPW0は図18Fに示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ123に供給されるゲート出力P00は図18Gに示すようになり、x=4となる。ビット“0”と仮定するならば、x=6となるはずである。
【0080】
一方、アンドゲート122に供給されるウインドーパルスPW1は図18F′に示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ124に供給されるゲート出力P01は図18G′に示すようになり、y=6となる。ビット“1”と仮定するならば、y=8となるはずである。
【0081】
したがって、単純な比較であると、x<yであることから、ビット“1”であると判定することとなる。しかし、本当にビット“1”であるとは即断できない。なぜならば、それぞれが本来検出されるべき数と比較すると、ともにカウントが2不足しているという点で同じ誤差を持っているからである。
【0082】
そこで、ウインドーについてさらに条件を加え、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとを分離して検出することによって、より正確な判定が可能になる。
【0083】
図19は、他の構成の検波回路67Aを示すものであり、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとを分離して検出するようにしたものである。この図19において、図12と対応する部分には同一符号を付して示している。
【0084】
この検波回路67Aは、クロック信号CK24を使用して、パルス信号PWBのパターン判別によりバイフェーズビット“1”および“0”の切れ目(変わり目)を検出し、バイフェーズのビット周期のクロック信号CKBPを得るためのバイフェーズ周期検出回路102と、このクロック信号CKBPがリセット信号として供給されると共に、クロック信号CK24がカウント用のクロック信号として供給される5ビットカウンタ103とを有している。
【0085】
また、検波回路67Aは、5ビットカウンタ103のカウント出力に基づいて、バイフェーズビット“0”用のウインドーパルスPW0u,PW0dと、バイフェーズビット“1”用のウインドーパルスPW1u,PW1dとを生成するウインドーパルス生成回路104Aを有している。
【0086】
ここで、ウインドーパルスPW0uは正規の8Tパターンのパルス信号PWBの立ち上がりエッジに対応して出力されるパルスであり、バイフェーズ1ビット期間に3個のパルスが生成される。ウインドーパルスPW0dは正規の8Tパターンのパルス信号PWBの立ち下がりエッジに対応して出力されるパルスであり、バイフェーズ1ビット期間に3個のパルスが生成される。
【0087】
ウインドーパルスPW1uは正規の6Tパターンのパルス信号PWBの立ち上がりエッジに対応して出力されるパルスであり、バイフェーズ1ビット期間に4個のパルスが生成される。ウインドーパルスPW1dは正規の6Tパターンのパルス信号PWBの立ち下がりエッジに対応して出力されるパルスであり、バイフェーズ1ビット期間に4個のパルスが生成される。
【0088】
また、検波回路67Aは、クロック信号CK24を使用して、パルス信号PWBの立ち上がりエッジを検出し、エッジ検出パルスPeuを出力する立ち上がりエッジ検出回路130と、同様にクロック信号CK24を使用して、パルス信号PWBの立ち下がりエッジを検出し、エッジ検出パルスPedを出力するエッジ検出回路140とを有している。
【0089】
図20は、立ち上がりエッジ検出回路130の構成を示している。このエッジ検出回路130は、クロック信号CK24で動作する2段構成のDフリップフロップ回路131,132と、アンド回路133とから構成されている。パルス信号PWBはDフリップフロップ回路131のデータ端子Dに供給され、このDフリップフロップ回路131の非反転出力端子Qに得られる信号がDフリップフロップ回路132のデータ端子Dに供給される。そして、Dフリップフロップ回路131の非反転出力端子Qに得られる信号とDフリップフロップ回路132の反転出力端子Qバーに得られる信号とがアンド回路133の入力側に供給され、このアンド回路133の出力側よりエッジ検出パルスPeuが出力される。
【0090】
また、図21は、立ち下がりエッジ検出回路140の構成を示している。このエッジ検出回路140は、クロック信号CK24で動作する2段構成のDフリップフロップ回路141,142と、アンド回路143とから構成されている。パルス信号PWBはDフリップフロップ回路141のデータ端子Dに供給され、このDフリップフロップ回路141の非反転出力端子Qに得られる信号がDフリップフロップ回路142のデータ端子Dに供給される。そして、Dフリップフロップ回路141の反転出力端子Qバーに得られる信号とDフリップフロップ回路142の非反転出力端子Qに得られる信号とがアンド回路143の入力側に供給され、このアンド回路143の出力側よりエッジ検出パルスPedが出力される。
【0091】
また、図19に戻って、検波回路67Aは、ウインドーパルス生成回路104Aで生成されるウインドーパルスPW0u,PW0dをゲート信号としてそれぞれエッジ検出パルスPeu,Pedをゲートし、一致検出回路として機能するアンドゲート151,152と、ウインドーパルス生成回路104Aで生成されるウインドーパルスPW1u,PW1dをゲート信号としてそれぞれエッジ検出パルスPeu,Pedをゲートし、一致検出回路として機能するアンドゲート153,154とを有している。
【0092】
また、検波回路67Aは、アンドゲート151,152でそれぞれゲートされたエッジ検出パルスPeu,Pedをカウントするエッジパルスカウンタ155,156と、アンドゲート153,154でそれぞれゲートされたエッジ検出パルスPeu,Pedをカウントするエッジパルスカウンタ157,158と、エッジパルスカウンタ155,156のカウント値を加算する加算器159と、エッジパルスカウンタ157,158のカウント値を加算する加算器160とを有している。
【0093】
また、検波回路67Aは、前のバイフェーズ1ビット期間でカウントされたエッジパルスカウンタ155,156のカウント値の合計値(加算器159の出力値)xと、同様に前のバイフェーズ1ビット期間でカウントされたエッジパルスカウンタ157,158のカウント値の合計値(加算器160の出力値)yとを比較し、次のバイフェーズ1ビット期間に、その比較結果に基づいたアドレス情報ADMを出力する比較回路161とを有している。
【0094】
ここで、エッジパルスカウンタ155〜158には、それぞれバイフェーズのビット周期のクロック信号CKBPがリセット信号として供給される。また、このクロック信号CKBPは、比較回路161にもタイミング信号として供給される。比較回路161では、x>yのときはアドレス情報ADMとしてビット“0”が出力され、x<yのときはアドレス情報ADMとしてビット“1”が出力される。
【0095】
また、検波回路67Aは、クロック信号CK24を1/24に分周し、クロック信号CKBPを参照して、アドレス情報ADMに同期したクロック信号ACK(図11D参照)を出力する分周器126を有している。
【0096】
図19に示す検波回路67Aの動作を説明する。バイフェーズ周期検出回路102にパルス信号PWBおよびクロック信号CK24が供給され、バイフェーズのビット周期のクロック信号CKBPが得られる。また、5ビットカウンタ103には、このクロック信号CKBPがリセット信号として供給されると共に、クロック信号CK24がカウント用のクロック信号として供給される。これにより、5ビットカウンタ103では、バイフェーズの各ビット周期において、最初にリセットされ、その後にクロック信号CK24によるカウント動作が行われ、10進法で「0」〜「23」までカウントされることとなる。
【0097】
この5ビットカウンタ103のカウント出力はウインドーパルス生成回路104Aに供給され、5ビットカウンタ103のカウント出力に基づいて、バイフェーズビット“0”用のウインドーパルスPW0u,PW0dと、バイフェーズビット“1”用のウインドーパルスPW1u,PW1dとが生成され、それぞれアンドゲート151〜154にゲート信号として供給される。
【0098】
一方、立ち上がりエッジ検出回路130にパルス信号PWBおよびクロック信号CK24が供給され、パルス信号PWBの立ち上がりエッジが検出されてエッジ検出パルスPeuが得られ、このエッジ検出パルスPeuがそれぞれアンドゲート151,153に供給される。同様に、立ち下がりエッジ検出回路140にパルス信号PWBおよびクロック信号CK24が供給され、パルス信号PWBの立ち下がりエッジが検出されてエッジ検出パルスPedが得られ、このエッジ検出パルスPedがそれぞれアンドゲート152,154に供給される。
【0099】
アンドゲート151,152でゲートされたエッジ検出パルスPeu,Pedはそれぞれエッジパルスカウンタ155,156に供給され、各バイフェーズ1ビット期間毎にカウントされる。同様に、アンドゲート153,154でゲートされたエッジ検出パルスPeu,Pedはそれぞれエッジパルスカウンタ157,158に供給され、各バイフェーズ1ビット期間毎にカウントされる。
【0100】
そして、比較回路161では、前のバイフェーズ1ビット期間でカウントされたエッジパルスカウンタ155,156のカウント値の合計値xと同様に前のバイフェーズ1ビット期間でカウントされたエッジパルスカウンタ157,158のカウント値の合計値yとが比較され、次のバイフェーズ1ビット期間に、その比較結果に基づいたアドレス情報ADMが出力される。
【0101】
図19に示す検波回路67Aで、あるバイフェーズ1ビット期間のウォブル信号SWBが図22A(=図18A)に示すように変形したものである場合について説明する。この場合、パルス信号(2値信号)PWBは図22Bに示すようになり、図22E(=図22E′)に示すように立ち上がりエッジに対応したエッジ検出パルスPeuが得られると共に、図22G(=図22G′)に示すように立ち下がりエッジに対応したエッジ検出パルスPedが得られる。図22Cはクロック信号CK24を示しており、図22Dはエッジ検出パルスPeu,Pedを合わせたエッジ検出パルスPeを示している。
【0102】
また、アンドゲート151,152に供給されるウインドーパルスPW0u,PWOdは図22F,Hに示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ155,156に供給される一致パルスとしてのゲート出力A0u,A0dは図22Iに示すようになり、x=1となる。一方、アンドゲート153,154に供給されるウインドーパルスPW1u,PW1dは図22F′,H′に示すように形成されているため、エッジパルスカウンタ157,158に供給される一致パルスとしてのゲート出力A1u,A1dは図22I′に示すようになり、y=6となる。この場合、x,yの差が十分に大きくなるので、その比較結果をそのまま利用しても、正しい検波結果となる。
【0103】
したがって、比較回路161では、x,yの比較結果がそのまま利用され、次のバイフェーズ1ビット期間に、アドレス情報ADMとして、ビット“1”が出力される。
【0104】
このように、ウインドーパルスだけでなく、パルス信号PWBのエッジ情報をも加味することにより、より正確な判定が可能になる利益がある。
【0105】
さて、図10に示すADIPデコーダ60は、PLL回路64を有するものであり、比較的複雑な回路構成となっている。
【0106】
ところで、上述したように、隣接するクロックマーク間のバイフェーズビット数aは2であり、隣接するクロックマーク間のチャネルビット数nは528であり、さらにバイフェーズビットのオーバーサンプリング値sは24クロックである。後述するように、データクロック再生器70では、クロックマークCMの再生信号SCMをn=528逓倍して、データクロック信号DCKが得られる。この場合、データクロック信号DCKの周波数と、バイフェーズビットのオーバーサンプリング用のクロック信号CK24の周波数とは、整数比の関係となっている。つまり、データクロック信号DCKの周波数をfdckとし、クロック信号CK24の周波数をf24とすると、fdck=11×f24となる。そこで、データクロック信号DCKを分周してクロック信号CK24を生成することが可能である。
【0107】
図23は、他の構成のADIPデコーダ60Aを示すものであり、データクロック信号DCKを分周してクロック信号CK24を得るものである。この図23において、図10と対応する部分には同一符号を付し、その詳細説明は省略する。
【0108】
このADIPデコーダ60Aは、データクロック再生器70で再生されるデータクロック信号DCKを、1/Mに分周して、バイフェーズビットのオーバーサンプリング用のクロック信号CK24を生成する分周器69を有している。ここで、M=n/(a・s)であり、本実施の形態では、M=528/(2・24)=11である。この分周器69で生成されるクロック信号CK24は検波回路67(67A)で使用される。図24A〜Cは、クロックマークCMの再生信号SCM、データクロック信号DCKおよびクロック信号CK24のタイミング関係を示している。
【0109】
図23に示すADIPデコーダ60Aのその他の構成は図10に示すADIPデコーダ60と同様である。したがって、詳細説明は省略するが、ADIPデコーダ60Aは、図10に示すADIPデコーダ60と同様に動作し、アドレス変換器68からは、フレームアドレスデータFADおよびフレーム同期信号FDが得られる。
【0110】
このように図23に示すADIPデコーダ60Aは、クロック信号CK24を得るのに、PLL回路を不要とでき、図10に示すADIPデコーダ60と比べて、さらに簡単な回路構成となる利益がある。
【0111】
また、図25は、データクロック再生器70の構成を示している。このデータクロック再生器70は、プッシュプル信号SPPよりクロックマーク再生信号SCMを抽出するためのバンドパスフィルタ71と、直流カット用のコンデンサ72と、クロックマーク再生信号SCMの0クロス点のタイミングを示すパルス信号PCMを得るエッジ検出器73とを有している。
【0112】
また、データクロック再生器70は、再生信号SMOの直流成分をカットするコンデンサ74と、閾値=0として再生信号SMOをパルス信号(2値信号)PMOに変換するコンパレータ75と、このパルス信号PMOからタイミング発生器90より供給される固定パターンゲート信号SGoを使用して光磁気ディスク11の固定パターン領域の再生信号SMOに対応するパルス信号PFPをゲートするアンド回路76とを有している。この場合、図3Dに示すように、固定パターンゲート信号SGoは、固定パターン領域の再生信号SMOが得られる期間で“1”となり、その他の期間では“0”となるものである。
【0113】
なお、タイミング発生器90には、上述したクロックマーク再生信号SCMの0クロス点のタイミングを示すパルス信号PCMが供給される。そして、タイミング発生器90では、このパルス信号PCMをタイミング基準とし、データクロック信号DCKをカウントすることで、固定パターンゲート信号SGoが生成される。
【0114】
また、データクロック再生器70は、PLL回路を構成する電圧制御発振器77と、この電圧制御発振器77より出力されるデータクロック信号DCKを1/N(ここでは、N=n=528)に分周する分周器78と、エッジ検出器73より出力されるパルス信号PCMと分周器78の出力信号との位相比較を行うための位相比較器79と、この位相比較器79より出力される位相誤差信号の低域成分を取り出すローパスフィルタ80とを有している。
【0115】
また、データクロック再生器70は、アンド回路76より出力されるパルス信号PFPと分周器78の出力信号との位相比較を行うための位相比較器81と、この位相比較器81より出力される位相誤差信号の高域成分を取り出すハイパスフィルタ82と、ローパスフィルタ80の出力信号と接続スイッチ83を介して供給されるハイパスフィルタ82の出力信号とを加算して電圧制御発振器77に供給する制御信号を得るための加算器84とを有している。接続スイッチ83にはシステムコントローラ51よりスイッチ制御信号SWが供給される。これにより、接続スイッチ83は、データ書き込み時(記録時)にはオフとされると共に、データ読み出し時(再生時)にはオンとされる。
【0116】
次に、図25に示すデータクロック再生器70の動作を説明する。プッシュプル信号SPPよりクロックマーク再生信号SCM(図26Aに図示)が抽出され、このクロックマーク再生信号SCMはコンデンサ72を介してエッジ検出器73に供給される。そして、エッジ検出器73よりクロックマーク再生信号SCMの0クロス点のタイミングを示すパルス信号PCM(図26Bに図示)が得られる。
【0117】
また、光学ヘッド17(図1参照)より出力される再生信号SMOはコンデンサ74を介してコンパレータ75に供給されてパルス信号(2値信号)PMOに変換される。そして、アンド回路76では、固定パターンゲート信号SGo(図26Cに図示)により、パルス信号PMOから光磁気ディスク11の固定パターン領域の再生信号SMOに対応するパルス信号(2値信号)PFP(図26Dに図示)が取り出される。
【0118】
そして、データ書き込み時(記録時)には、接続スイッチ83がオフとされることから、電圧制御発振器77、分周器78、位相比較器79およびローパスフィルタ80によってPLL回路が構成され、電圧制御発振器77には位相比較器79より出力される位相誤差信号がローパスフィルタ80を通じて制御信号として供給される。そのため、電圧制御発振器77からは、クロックマーク再生信号SCMが持つ位相情報によって位相が制御されたデータクロック信号DCKが得られる。
【0119】
また、データ読み出し時(再生時)には、接続スイッチ83がオンとされることから、電圧制御発振器77、分周器78、位相比較器79,81、ローパスフィルタ80およびハイパスフィルタによってPLL回路が構成され、電圧制御発振器77には位相比較器79より出力される位相誤差信号の低域成分と位相比較器81より出力される位相誤差信号の高域成分との加算信号が制御信号として供給される。そのため、電圧制御発振器77からは、クロックマーク再生信号SCMが持つ位相情報と固定パターン領域の再生信号SMOが持つ位相情報とによって位相が制御されたデータクロック信号DCKが得られる。なお、図26Eは、データクロック信号DCKを示している。
【0120】
次に、図1に示す光磁気ディスク装置10の動作を説明する。ホストコンピュータよりシステムコントローラ51にデータライトコマンドが供給される場合には、データ書き込み(記録)が行われる。この場合、SCSI53で受信されてデータバッファ52に格納されているホストコンピュータからの書き込みデータに対して、ECC回路54で誤り訂正符号の付加が行われ、さらにデータ変調器55でNRZIデータへの変換が行われる。そして、データ変調器55より磁気ヘッドドライバ16に記録データDrおよび固定パターン信号SFPが供給され、光磁気ディスク11のターゲット位置としてのデータ領域に記録データDrが記録されると共に、記録データDrが記録されるデータ領域に対応した固定パターン領域に固定パターン信号SFPが記録される。
【0121】
また、ホストコンピュータよりシステムコントローラ51にデータリードコマンドが供給される場合には、データ読み出し(再生)が行われる。この場合、光磁気ディスク11のターゲット位置としてのデータ領域およびそのデータ領域に対応した固定パターン領域より再生信号SMOが得られる。この再生信号SMOはイコライザ回路56で周波数特性が補償され、A/Dコンバータ57でデータクロック信号DCKを使用してディジタル信号に変換され、その後にデータ識別器58でデータの識別が行われて再生データDpが得られる。そして、この再生データDpに対して、データ復調器59でNRZI逆変換が行われ、さらにECC回路54で誤り訂正が行われて読み出しデータが得られる。そして、この読み出しデータはデータバッファ52に一旦格納され、その後に所定タイミングでSCSI53を介してホストコンピュータに送信される。
【0122】
なお、データ書き込みやデータ読み出しにおいて、磁気ヘッド15および光学ヘッド17はサーボコントローラ41によってターゲット位置にシークされる。この場合、ADIPデコーダ60より出力されるフレームアドレスデータFADを参照してシーク動作が行われる。また、データ書き込み時(記録時)には、データクロック再生器70よりクロックマーク再生信号SCMが持つ位相情報の低域成分によって位相が制御されたデータクロック信号DCKが得られ、このデータクロック信号DCKに同期してデータ書き込みが行われる。一方、データ読み出し時(再生時)には、データクロック再生器70よりクロックマーク再生信号SCMが持つ位相情報の低域成分と固定パターン領域の再生信号SMOが持つ位相情報の高域成分とによって位相が制御されたデータクロック信号DCKが得られ、このデータクロック信号DCKに同期してデータ読み出しが行われる。
【0123】
図1に示すディスク装置10においては、データ読み出し時(再生時)には、データクロック再生器70よりクロックマーク再生信号SCMが持つ位相情報と固定パターン領域の再生信号SMOが持つ位相情報とによって位相が制御されたデータクロック信号DCKを得るものであり(図25参照)、クロックマーク再生信号SCMの振幅が小さく、そのS/Nが悪くても、再生データに高精度に同期したクロック信号を得ることができ、データ読み出しの処理精度を上げることができる。
【0124】
また、光磁気ディスク11のグルーブウォブルの振幅が変調後の信号の周波数に応じて変化するようにされ、アドレス情報ADMの“1”および“0”の接合部に対応するグルーブウォブルの0クロス点の前後での傾きが変化しないようにされている(図5参照)。そのため、アドレス情報ADMの“1”および“0”の接合部に対応するウォブル信号SWBの時間軸方向のジッタを低減でき、ADIPデコーダ60(図10参照)でアドレス情報ADMを良好に得ることができる。本実施の形態においては、上述したように、アドレス情報ADMの“1”および“0”に対応するグルーブウォブルの波数がそれぞれ整数とされており、アドレス情報ADMの“1”および“0”に対応するグルーブウォブルの接合部は全て0クロス点となることから、特に有効である。
【0125】
また、ADIPデコーダ60では、アドレス情報ADMの“1”および“0”のデータにそれぞれ対応するウォブル信号SWBの周波数fa,fbの公倍数の周波数fc(=6fa=8fb)を持つクロック信号CK24を使用した復調処理でアドレス情報ADMを得るものである(図10参照)。そのため、PLL回路を1系統持つだけで構成でき、ADIPデコーダ60の構成が簡単となる利益がある。
【0126】
この場合、アドレス情報ADMの“1”および“0”に対応するグルーブウォブルの波数がそれぞれ整数とされており、アドレス情報ADMの“1”および“0”のデータにそれぞれ対応してコンパレータ63より出力されるパルス信号PWBは常に同じ形状となることから、検波回路67におけるクロック信号CK24を使用した復調処理を容易に行うことができる。
【0127】
また、データクロック信号DCKの周波数とバイフェーズビットのオーバーサンプリング用のクロック信号CK24の周波数とが整数比の関係にあり、データデータクロック信号DCKを分周してバイフェーズビットのオーバーサンプリング用のクロック信号CK24を得ることで、ADIPデコーダ60Aの構成をより簡単とできる(図23参照)。
【0128】
また、ADIPデコーダ60の検波回路67では、ウインドーパルスを使用してビット“0”とビット“1”の検波を行うものであるため、ウォブル信号SWBにディフェクトによる変形がある場合であっても、その変形がない場合と同様に、アドレス情報ADMを良好に得ることができる。
【0129】
なお、上述実施の形態においては、光磁気ディスク11のグルーブ部12Gの片側のみウォブリングした状態とされたものを示したが、グルーブ部12Gの両側がウォブリングされた状態であってもよい。
【0130】
また、上述実施の形態においては、グルーブ部12Gのウォブリングしている側にクロックマークCMがプリフォーマットされたものを示したが、ウォブリングしていない側にクロックマークCMがプリフォーマットされてもよく、さらには両側にクロックマークCMがプリフォーマットされていてもよい。
【0131】
また、上述実施の形態においては、アドレス情報ADMの“1”および“0”に対応するグルーブウォブルの波数がそれぞれ「4」、「3」としたが、これに限定されるものではない。
【0132】
また、上述実施の形態においては、記録領域の固定パターン領域がクロックマークCMの記録位置に1対1に対応して設けられているが、必ずしも対応させる必要はない。例えば、固定パターン領域の個数をクロックマークCMの個数より少なくしてもよい。
【0133】
また、上述実施の形態においては、光磁気ディスク11の固定パターン領域には2Tの固定パターン信号が記録されるものであったが、1Tあるいは3T以上の固定パターン信号が記録されるようにしてもよい。ただし、パターン間隔が短くなると、MTF(Modulation Transfer Function)によって再生信号SMOの振幅が小さく、S/Nが悪化したものとなる。逆に、パターン間隔が長くなると、位相比較のためのエッジ数を同じ数だけ得るためには、固定パターン領域を広くとる必要があり、データが記録されるデータ領域が狭くなる。
【0134】
また、上述実施の形態において、ADIPデコーダ60,60Aでは、アドレス情報ADMの“1”および“0”のデータにそれぞれ対応するウォブル信号SWBの周波数fa,fbの公倍数の周波数fc(=6fa=8fb)を持つクロック信号CK24を使用した復調処理を行うようにしたものであるが、周波数fa,fbのその他の公倍数の周波数を持つクロック信号を使用して同様の復調処理を行うことができる。
【0135】
【発明の効果】
この発明によれば、バイフェーズ変調されたアドレス情報を周波数変調して得られる信号に対応したグルーブウォブルと、このグルーブウォブル内に配置され位相情報を有するマークとがプリフォーマットされた光ディスクを駆動するものであって、データクロック信号とバイフェーズビットのオーバーサンプリング用のクロック信号の周波数を整数比の関係にし、データクロック信号(第1のクロック信号)からバイフェーズビットのオーバーサンプリング用のクロック信号(第2のクロック信号)を分周により生成するものである。そのため、データ系にPLL回路を1系統持つだけでアドレス情報の復調を行うことができ、構成が極めて簡単となる利益がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態としての光磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図2】光磁気ディスクのセクタのレイアウトを示す図である。
【図3】セクタ(ウォブルアドレスフレーム)フォーマットを説明するための図である。
【図4】バイフェーズ変調前の1セクタ(ウォブルアドレスフレーム)のアドレス情報を示す図である。
【図5】グルーブウォブルの構成例を示す図である。
【図6】光学ヘッドの光学系を示す図である。
【図7】光学ヘッドの光学系を構成するフォトディテクタの構成と、その上に形成されたスポットを示す図である。
【図8】光学ヘッドの光学系を構成するウォラストンプリズムの構成例を示す図である。
【図9】ウォラストンプリズムによる光線の分離状態を示す図である。
【図10】ADIPデコーダの構成を示すブロック図である。
【図11】ADIPデコーダの動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図12】検波回路の構成を示すブロック図である。
【図13】エッジ検出回路の構成を示すブロック図である。
【図14】検波回路の動作を説明するための波形図である。
【図15】検波回路の動作を説明するための波形図である。
【図16】検波回路の動作を説明するための波形図である。
【図17】検波回路の動作を説明するための波形図である。
【図18】検波回路の動作を説明するための波形図である。
【図19】検波回路の他の構成を示すブロック図である。
【図20】立ち上がりエッジ検出回路の構成を示すブロック図である。
【図21】立ち下がりエッジ検出回路の構成を示すブロック図である。
【図22】検波回路の動作を説明するための波形図である。
【図23】ADIPデコーダの他の構成を示すブロック図である。
【図24】ADIPデコーダで使用するクロックを説明するためのタイミングチャートである。
【図25】データクロック再生器の構成を示すブロック図である。
【図26】データクロック再生器の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図27】従来のグルーブウォブルの構成例を示す図である。
【図28】従来の周波数復調回路の構成を示すブロック図である。
【図29】周波数復調回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【符号の説明】
10・・・光磁気ディスク装置、11・・・光磁気ディスク、12G・・・グルーブ部、12L・・・ランド部、15・・・外部磁界発生用の磁気ヘッド、16・・・磁気ヘッドドライバ、17・・・光学ヘッド、18・・・レーザドライバ、41・・・サーボコントローラ、51・・・システムコントローラ、55・・・データ変調器、58・・・データ識別器、59・・・データ復調器、60,60A・・・ADIPデコーダ、64・・・PLL回路、67,67A・・・検波回路、68・・・アドレス変換器、69・・・分周器、70・・・データクロック再生器、90・・・タイミング発生器
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical disk apparatus for driving an optical disk in which a groove wobble corresponding to a signal obtained by frequency-modulating biphase-modulated address information and a mark which is arranged in the groove wobble and has phase information is preformatted. About. Specifically, the data clock signal and the bi-phase bit oversampling clock signal frequency are in an integer ratio relationship, and the bi-phase bit oversampling clock signal is generated from the data clock signal by frequency division. The present invention relates to an optical disk apparatus in which address information can be demodulated only by having one PLL circuit in the system, and the configuration is extremely simple.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, a magneto-optical disk has been proposed in which biphase-modulated address information ADM is frequency-modulated, the groove portion is wobbled in response to the modulated signal, and the modulated signal is recorded as groove wobble. Yes. In this case, as shown in FIG. 27, the groove wobble is, for example, 1 bit (biphase 1 bit) of the address information ADM, and when it is “1”, it becomes 4.25 waves (a sine wave of 4.25 period), When it is “0”, it is 3.75 waves (3.75 period sine wave). In this case, the amplitude of the groove wobble is constant regardless of the frequency of the modulated signal. For this reason, as shown in an enlarged view in FIG. 27, the inclination of the groove wobble corresponding to the junction of “1” and “0” of the address information ADM changes before and after the zero cross point.
[0003]
FIG. 28 shows a conventional configuration of a frequency demodulation circuit 300 for obtaining address information ADM from a groove wobble reproduction signal, that is, a wobble signal SWB. The frequency demodulating circuit 300 includes a direct current cut capacitor 301 and a comparator 302 that converts a wobble signal SWB having a direct current component cut with a threshold value = 0 into a pulse signal (binary signal) PWB.
[0004]
The frequency demodulating circuit 300 compares the phase of the voltage controlled oscillator 303a constituting a PLL (phase-locked loop) circuit 303 and the output signal of the voltage controlled oscillator 303a with the pulse signal PWB output from the comparator 302. And a low-pass filter 303c that extracts a low-frequency component of the phase error signal output from the phase comparator 303b and obtains a control signal for supply to the voltage controlled oscillator 303a.
[0005]
The frequency demodulation circuit 300 also includes a low-pass filter 304 for extracting a low-frequency component of the output signal of the low-pass filter 303c, a DC-cut capacitor 305, and a low-pass filter 304 with a DC component cut with a threshold value = 0. A comparator 306 for obtaining address information ADM from the output signal.
[0006]
The frequency demodulator circuit 300 also uses an edge detector 307 that detects rising and falling edges of the address information ADM output from the comparator 306 and an edge detection signal output from the edge detector 307 as a trigger signal. And a mono multivibrator 308 for obtaining a pulse signal having a width.
[0007]
Further, the frequency demodulating circuit 300 includes a voltage controlled oscillator 309a constituting the PLL circuit 309, and a phase comparator for performing phase comparison between the output signal of the voltage controlled oscillator 309a and the pulse signal output from the mono multivibrator 308. 309b, and a low-pass filter 309c that obtains a control signal for extracting a low-frequency component of the phase error signal output from the phase comparator 309b and supplying the low-frequency component to the voltage controlled oscillator 309a.
[0008]
The operation of the frequency demodulation circuit 300 shown in FIG. 28 will be described. The wobble signal SWB is supplied to the comparator 302 via the capacitor 301 and converted into a pulse signal (binary signal) PWB. As described above, the address information ADM after biphase modulation is frequency-modulated, and the modulated signal is recorded as a groove wobble on the magneto-optical disk. Therefore, the wobble signal SWB corresponds to 1 bit (biphase 1 bit) of the address information ADM, as shown in FIG. 29A, as in the signal after frequency modulation. When it is “0”, it has 3.75 waves. Therefore, the pulse signal PWB is obtained from the comparator 302 as shown in FIG. 29B.
[0009]
Since the frequency of the wobble signal SWB corresponding to “1” is different from the frequency of the wobble signal SWB corresponding to “0”, the output signal of the low-pass filter 303c constituting the PLL circuit 303 is as shown in FIG. 29C. Therefore, the address information ADM is obtained from the comparator 306 as shown in FIG. 29D. The edge of the address information ADM is detected by the edge detector 307, and the pulse signal output from the mono multivibrator 308 as a trigger signal is supplied to the PLL circuit 309 as a reference signal. Accordingly, a clock signal ACK synchronized with the address information ADM is obtained from the voltage controlled oscillator 309a constituting the PLL circuit 309 as shown in FIG. 29E.
[0010]
[Problems to be solved by the invention]
As described above, the frequency demodulating circuit 300 shown in FIG. 28 has two systems of PLL circuits 303 and 309 and has a complicated configuration.
[0011]
Therefore, an object of the present invention is to provide an optical disc apparatus capable of performing address information demodulation processing with a simple configuration having one PLL circuit in a data system.
[0012]
[Means for Solving the Problems]
In the optical disc apparatus according to the present invention, a groove wobble corresponding to a signal obtained by frequency modulating address information subjected to biphase modulation and a mark having phase information arranged in the groove wobble are preformatted and adjacent to each other. An optical disc apparatus for driving an optical disc in which the number of biphase bits between two marks is a (a is a natural number) and the number of channel bits between two adjacent marks is n (n is a natural number). A clock signal generating means for generating the first clock signal by multiplying the frequency of the reproduction signal of the clock mark by n, a wobble signal reproducing means for reproducing a wobble signal corresponding to the groove wobble from the optical disc, and a wobble signal Frequency demodulation means for obtaining address information by frequency demodulation It is. Then, the frequency demodulation means uses the oversampling value of the biphase bit as s (s is a natural number) clock, and uses the first clock signal supplied from the first clock signal generation means as 1 / M (M = n / (As), a clock signal generation unit that generates the second clock signal by dividing the frequency, a waveform shaping unit that obtains a binary signal by shaping the wobble signal, and a binary signal And a detector that obtains address information by performing processing using the second clock signal.
[0013]
In the present invention, the frequency demodulating means is configured so that the frequency of the first clock signal (data clock signal) and the second clock signal (bi-phase bit oversampling clock signal) are in an integer ratio relationship. The second clock signal is generated by dividing the clock signal. Then, address information is obtained by performing frequency demodulation on the wobble signal obtained by the wobble signal reproducing means using the second clock signal. As a result, the address information can be demodulated only by having one PLL circuit in the data system, and the configuration becomes extremely simple.
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration of a magneto-optical disk device 10 as an embodiment.
[0015]
First, the magneto-optical disk 11 driven by the magneto-optical disk apparatus 10 will be described. FIG. 2 shows a sector layout of the magneto-optical disk 11. On the magneto-optical disk 11, tracks 0 to n are formed in a spiral shape from the inner peripheral side toward the outer peripheral side. The magneto-optical disk 11 is zoned, and each track in the inner zone X1 includes 0 to m1 sectors in the circumferential direction, and each track in the outer zone Z2 in the circumferential direction. 0 to m2 sectors are included.
[0016]
3A to 3D show a sector (wobble address frame) format. As shown in FIG. 3A, grooves 12G and lands 12L are alternately formed on the magneto-optical disk 11 in the radial direction, and data is recorded in either or both of the grooves 12G and lands 12L. The One side of the groove portion 12G is in a wobbling state according to, for example, the address information ADM after biphase modulation.
[0017]
In this case, the address information ADM is frequency modulated (FM), and the groove section 12G is wobbled so as to correspond to the modulated signal. That is, the modulated signal is recorded as a groove wobble. Since one side of the groove portion 12G is wobbled, as a result, one side of the land portion 12L is also wobbled according to the address information ADM.
[0018]
Note that the address information ADM is after bi-phase modulation, but the address information ADM is obtained by using the bi-phase modulation for the address information in order to prevent the generation of DC components as is well known ( DC free). Here, 1 bit of the address information before performing biphase modulation corresponds to 2 bits of biphase.
[0019]
As shown in FIG. 5, the groove wobble is 4 waves (4 sine waves) when “1” and 3 waves per 1 bit (biphase 1 bit) of the address information ADM and “0”. (3 period sine wave). In addition, the amplitude of the groove wobble is changed in accordance with the frequency of the modulated signal, and corresponds to the junction of “1” and “0” of the address information ADM as shown in an enlarged view in FIG. The inclination of the groove wobble before and after the zero cross point is prevented from changing.
[0020]
Here, the groove wobble during one sector (one wobble address frame) is address information (data) before bi-phase modulation, and has 42-bit data, for example. As shown in FIG. 4, the 42-bit data includes 4-bit synchronization signal data, 24-bit frame address data, and a 14-bit CRC (cyclic redundancy check) code.
[0021]
Further, as shown in FIG. 3B, one sector is composed of, for example, 42 segments. As shown in FIG. 3A, a clock mark CM is multiplexed into a groove wobble and preformatted at the boundary position of each segment. As shown in FIG. 3C, a 60-byte data area is provided in each segment, and a 6-byte fixed pattern area is provided corresponding to the boundary position of each segment. At the time of data writing, as described later, NRZI data is recorded in the data area, but a fixed pattern signal having a length of 2T synchronized with the NRZI data is recorded in the fixed pattern area (T is a data bit interval). . This fixed pattern signal is used to control the phase of the data clock signal when reading data.
[0022]
Here, in the magneto-optical disk 11, one sector is composed of 42 segments, and the clock mark CM is preformatted at the boundary position of each segment, so the number of biphase bits a between adjacent clock marks is 2. Become. In the magneto-optical disk 11, a 60-byte data area is provided in each segment, and a 6-byte fixed pattern area is provided corresponding to the boundary position of each segment. The number of bits n is 528.
[0023]
Returning to FIG. 1, the disk device 10 has a spindle motor 13 for rotationally driving the magneto-optical disk 11. The magneto-optical disk 11 is rotationally driven at a constant angular velocity during recording and reproduction. A frequency generator 14 for detecting the rotation speed is attached to the rotation shaft of the spindle motor 13.
[0024]
Further, the disk device 10 includes an external magnetic field generating magnetic head 15, a magnetic head driver 16 for controlling the magnetic field generation of the magnetic head 15, and an optical head 17 including a semiconductor laser, an objective lens, a photodetector, and the like. And a laser driver 18 for controlling the light emission of the semiconductor laser of the optical head 17. The magnetic head 15 and the optical head 17 are arranged to face each other so as to sandwich the magneto-optical disk 11.
[0025]
The laser driver 18 is supplied with a laser power control signal SPC from a servo controller 41, which will be described later, via a D / A converter 19, and the power of the laser beam output from the semiconductor laser of the optical head 17 is the recording power PW during recording. Therefore, during reproduction, the reproduction power PR is controlled to be lower than the recording power PW.
[0026]
At the time of data writing (recording), the recording data Dr and the fixed pattern signal SFP are supplied to the magnetic head driver 16 as described later, and a magnetic field corresponding to the recording data Dr and the fixed pattern signal SFP is generated from the magnetic head 15. Recording data Dr is recorded in the data area of the magneto-optical disk 11 in cooperation with a laser beam (laser light) from the optical head 17, and a fixed pattern area corresponding to the data area in which the recording data Dr is recorded. The fixed pattern signal SFP is recorded in
[0027]
FIG. 6 shows the configuration of the optical system of the optical head 17. The optical head 17 includes a semiconductor laser 31 for obtaining a laser beam LB, a collimator lens 32 for shaping the laser beam LB output from the semiconductor laser 31 into parallel light from divergent light, and the laser beam as transmitted light. A beam splitter 33 for separating the reflected light into two, a reflection mirror 34 for changing the optical path of the laser beam, and an objective for irradiating the recording surface (recording film) of the magneto-optical disk 11 with the laser beam LB. And a lens 35.
[0028]
Further, the optical head 17 is a Wollaston prism (polarization plane detection prism) 36 for separating the laser beam reflected by the reflecting surface 33b of the beam splitter 33 and emitted to the outside into three laser beams according to the difference in polarization direction. A condensing lens 37 for condensing three laser beams (parallel light) output from the Wollaston prism 36, and a photodetector 39 irradiated with the three laser beams emitted from the condensing lens 37. And a multi-lens 38 disposed between the condenser lens 37 and the photodetector 39.
[0029]
The multi lens 38 is configured by a combination of a concave lens and a cylindrical lens. The cylindrical lens is used in order to obtain a focus error signal by a known astigmatism method. As shown in FIG. 7, the photodetector 39 includes a four-divided photodiode portion 39m and two photodiode portions 39i and 39j.
[0030]
FIG. 8 shows a configuration example of the Wollaston prism 36. The prism 36 is constituted by joining right-angle prisms 36a and 36b made of a uniaxial crystal, for example, quartz. In this case, the optical axis Axb of the prism 36b is set to be inclined by 45 ° with respect to the optical axis Axa of the prism 36a.
[0031]
In such a configuration, the quartz crystal has two different refractive indices relative to the plane of polarization of the incident light. Therefore, when linearly polarized light La having a polarization plane Ppo inclined by 45 ° with respect to the optical axis Axa is incident on the prism 36a, the prism 36a has a polarization component having a polarization plane perpendicular to the optical axis Axa as shown in FIG. It is separated into a polarization component Lb2 having a polarization plane parallel to Lb1 and the optical axis Axa. Further, in the prism 36b, the polarization component Lb1 is separated into a polarization component Lc1 having a polarization plane parallel to the optical axis Axb and a polarization component Lc2 having a polarization plane perpendicular to the optical axis Axb, and the polarization component Lb2 is separated from the optical axis Axb. Are separated into a polarization component Lc3 having a polarization plane parallel to and a polarization component Lc4 having a polarization plane perpendicular to the optical axis Axb.
[0032]
Here, the polarization components Lc1 and Lc2 have a polarization plane perpendicular to the optical axis Axa of the prism 36a, and the amount of each light is ¼ of the linearly polarized light La. On the other hand, the polarization components Lc3 and Lc4 have a polarization plane parallel to the optical axis Axa of the prism 36a, and the amount of each light is ¼ of the linearly polarized light La. The outgoing angles of the polarization components Lc2 and Lc3 from the prism 36b are equal, and as a result, the three laser beams Li, Lm, and Lj are obtained separately from the prism 36b and hence the Wollaston prism 36.
[0033]
The operation of the optical system of the optical head 17 shown in FIG. 6 will be described. The laser beam LB as diverging light emitted from the semiconductor laser 31 is shaped into parallel light by the collimator lens 32 and is incident on the beam splitter 33. The laser beam that has passed through the multilayer film 33 a of the beam splitter 33 has its optical path changed at right angles by the reflection mirror 34, and is irradiated onto the recording surface of the magneto-optical disk 11 through the objective lens 35.
[0034]
The laser beam reflected by the recording surface of the magneto-optical disk 11 is incident on the beam splitter 33 via the objective lens 35 and the reflection mirror 34. The laser beam Lr reflected by the multilayer film 33 a of the beam splitter 33 is further reflected by the reflecting surface 33 b of the beam splitter 33, is emitted to the outside, and enters the Wollaston prism 36.
[0035]
As described above, the laser beam Lr related to the reflection on the recording surface of the magneto-optical disk 11 is incident on the Wollaston prism 36, but the polarization plane rotation (Kerr rotation) on the recording surface of the magneto-optical disk 11 is not described above. ) Is set to be inclined by 45 ° with respect to the optical axis Axa (see the relationship between the polarization plane Ppo of the linearly polarized light La and the optical axis Axa in FIG. 8). As a result, the three laser beams Li, Lm, and Lj are obtained by separating the laser beam Lr from the laser beam Lr by the Wollaston prism 36 as in the case where the linearly polarized light La described above is incident.
[0036]
Here, the plane of polarization of the laser beam Lr is slightly rotated clockwise or counterclockwise according to the magnetization direction of the recording film of the magneto-optical disk 11, and the recording film of the magneto-optical disk 11 has a light quantity of the laser beams Li and Lj. A magnitude relationship occurs according to the direction of magnetization. Therefore, a reproduction signal corresponding to magneto-optically recorded data (signal) can be obtained by detecting the light amounts of the laser beams Li and Lj and taking the difference therebetween. Note that the amount of light of the laser beam Lm is constant even if the polarization plane of the laser beam Lr rotates.
[0037]
As described above, the three laser beams Li, Lm, and Lj emitted from the Wollaston prism 36 are incident on the photodetector 39 via the condenser lens 37 and the multi lens 38. As shown in FIG. 7, spots SPi, SPm, and SPj by laser beams Li, Lm, and Lj are formed in the photodiode portions 39i, 39m, and 39j that constitute the photodetector 39, respectively.
[0038]
In this case, the detection signals of the four photodiodes Da to Dd constituting the four-divided photodiode portion 39m are Sa to Sd, respectively, and the detection signals of the photodiodes Di and Dj constituting the photodiode portions 39i and 39j are Si, When Sj is set, an amplification circuit unit (not shown) of the optical head 17 performs the following calculation to generate a reproduction signal SMO, an astigmatism focus error signal SFE, and a push-pull signal SPP from the recording area. The
[0039]
SMO = Si-Sj
SFE = (Sa + Sc)-(Sb + Sd)
SPP = (Sa + Sb) − (Sc + Sd)
[0040]
Returning to FIG. 1, the disk device 10 has a servo controller 41 having a central processing unit (CPU). A focus error signal SFE generated by the optical head 17 is supplied to the servo controller 41 via the A / D converter 42. The push-pull signal SPP generated by the optical head 17 includes a tracking error signal STE by the push-pull method, a wobble signal (FM signal) SWB corresponding to the groove wobble of the magneto-optical disk 11, and a clock of the magneto-optical disk 11. And a clock mark reproduction signal SCM corresponding to the mark CM. Here, the signals STE, SWB, and SCM are in different frequency bands. Therefore, the signals STE, SWB, and SCM can be extracted from the push-pull signal SPP by using a low-pass filter and a band-pass filter, respectively.
[0041]
A tracking error signal STE extracted by the low pass filter 43 from the push-pull signal SPP is supplied to the servo controller 41 via the A / D converter 44. The servo controller 41 is further supplied with a frequency signal SFG output from the frequency generator 14 described above.
[0042]
The operation of the servo controller 41 is controlled by a system controller 51 described later. The servo controller 41 controls a tracking coil, a focus coil, and an actuator 45 including a linear motor for moving the optical head 17 in the radial direction to perform tracking and focusing servo, and the radius of the optical head 17. Movement in the direction (radial direction) is controlled. Further, the spindle motor 13 is controlled by the servo controller 41 so that the magneto-optical disk 11 rotates at a constant angular velocity during recording and reproduction as described above.
[0043]
The disk device 10 also includes a system controller 51 having a CPU, a data buffer 52, and a SCSI (Small Computer System Interface) 53 for transmitting and receiving data and commands to and from the host computer. The system controller 51 is for controlling the entire system.
[0044]
Further, the disk device 10 adds an error correction code to the write data supplied from the host computer via the SCSI 53, and also performs ECC (error) to perform error correction on the output data of the data demodulator 59 described later. correction code) circuit 54 and write data to which error correction code is added by the ECC circuit 54 are converted into NRZI (Non Return to Zero Inverted) data to obtain the recording data Dr, and the fixed pattern signal SFP described above is generated. And a data modulator 55.
[0045]
The disk device 10 also includes an equalizer circuit 56 for compensating the frequency characteristics of the reproduction signal SMO generated by the optical head 17, and an A / D converter 57 for converting the output signal of the equalizer circuit 56 into a digital signal. A data discriminator 58 that digitally performs data discrimination processing on the output data of the A / D converter 57 to obtain reproduction data Dp, and NRZI for the reproduction data Dp output from the data discriminator 58. And a data demodulator 59 for obtaining read data by performing inverse conversion. The data discriminator 58 is composed of a binarization circuit, a Viterbi decoder, and the like.
[0046]
The disk device 10 includes an ADIP (Address In Pre-groove) decoder 60 that obtains a frame synchronization signal FD and frame address data FAD from a wobble signal SWB included in a push-pull signal SPP generated by the optical head 17, and a push-pull. A data clock for obtaining a pulse signal PCM and a data clock signal DCK indicating the timing of the zero cross point of the reproduction signal SCM from the clock mark reproduction signal SCM included in the signal SPP and the reproduction signal SMO corresponding to the fixed pattern area of the magneto-optical disk 11 A timing generator that generates a timing signal necessary for each part of the system, such as a read gate signal and a write gate signal, using the regenerator 70 and the frame synchronization signal FD, the frame address data FAD, the pulse signal PCM, and the data clock signal DCK With 90 The The frame address data FAD is also supplied to the servo controller 41, and the data clock signal DCK is supplied to the A / D converter 57 as a sampling clock.
[0047]
FIG. 10 shows the configuration of the ADIP decoder 60. The ADIP decoder 60 includes a band-pass filter 61 for extracting the wobble signal SWB from the push-pull signal SPP, a DC cut capacitor 62, and sets the wobble signal SWB to a pulse signal (binary signal) PWB with threshold = 0. And a comparator 63 for conversion.
[0048]
The ADIP decoder 60 is output from a voltage controlled oscillator 64a constituting the PLL circuit 64, a frequency divider 64b that divides the clock signal CK24 output from the voltage controlled oscillator 64a by 1/24, and a comparator 63. The phase comparator 64c for comparing the phase of the pulse signal PWB and the output signal of the frequency divider 64b, and the low-frequency component of the phase error signal output from the phase comparator 64c are extracted to the voltage controlled oscillator 64a. A low-pass filter 64d for obtaining a control signal to be supplied.
[0049]
The ADIP decoder 60 performs demodulation processing using the clock signal CK24 output from the voltage controlled oscillator 64a on the pulse signal PWB output from the comparator 63 to obtain address information ADM. A detection circuit 67 for obtaining a synchronized clock signal ACK, and a frame synchronization by performing synchronization detection, biphase demodulation, error detection, etc. on the address information ADM output from the detection circuit 67 using the clock signal ACK. An address converter 68 for obtaining a signal FD and frame address data FAD.
[0050]
Next, the operation of the ADIP decoder 60 shown in FIG. 10 will be described. Push-pull signal S PP Thus, the band pass filter 61 extracts the wobble signal SWB. The wobble signal SWB is supplied to the comparator 63 via the capacitor 62 and converted into a pulse signal PWB. As described above, on the magneto-optical disk 11, the address information ADM after biphase modulation is frequency-modulated, and the modulated signal is recorded as a groove wobble. Therefore, the wobble signal SWB, like the signal after frequency modulation, has 4 waves when it is “1” corresponding to 1 bit (biphase 1 bit) of the address information ADM, as shown in FIG. 11A. , “0” has three waves. Therefore, a pulse signal (binary signal) PWB is obtained from the comparator 63 as shown in FIG. 11B. Note that the amplitude of the wobble signal SWB is proportional to the amplitude of the groove wobble of the magneto-optical disk 11.
[0051]
When the frequency of the wobble signal SWB corresponding to the bit “1” is fa and the frequency of the wobble signal SWB corresponding to the bit “0” is fb, the oscillation frequency of the voltage controlled oscillator 64a is a common multiple of fa and fb. It is set to change in the vicinity of the frequency (= 6fa = 8fb). Therefore, from the voltage controlled oscillator 64a, as shown in FIG. 11C, a clock signal CK24 having a frequency of fc = 6fa = 8fb, and thus 24 times the bit frequency of the biphase, and synchronized with the pulse signal PWB is obtained. . Although not described above, the clock signal CK24 is a clock signal for oversampling of the biphase bit, and the oversampling value s of the biphase bit is 24 clocks.
[0052]
Using this clock signal CK24 as a reference, the pulse signal PWB (for one cycle) corresponding to biphase 1 bit = “1” is 6T composed of a value “1” for three clocks and a value “0” for three clocks. The pulse signal PWB corresponding to the biphase 1 bit = “0” has an 8T pattern including a value “1” for 4 clocks and a value “0” for 4 clocks.
[0053]
When detecting a continuous 8T pattern from the pulse signal PWB, the detection circuit 67 outputs “0” in the next biphase 1-bit period in synchronization with the clock signal ACK (shown in FIG. 11D), while the pulse signal When detecting a continuous 6T pattern from the PWB, “1” is output in the next biphase 1-bit period in synchronization with the clock signal ACK.
[0054]
That is, the detection circuit 67 performs demodulation processing on the pulse signal PWB, and the detection circuit 67 outputs the address information ADM corresponding to the groove wobble in synchronization with the clock signal ACK. (Illustrated in FIG. 11E). FIG. 11F shows the reproduction signal SCM of the clock mark CM.
[0055]
This address information ADM is supplied to the address converter 68. The address converter 68 performs synchronization detection, biphase demodulation, error detection, and the like on the address information ADM to obtain a frame synchronization signal FD and frame address data FAD. As a result, the address converter 68 outputs frame address data FAD obtained from the address information ADM together with the frame synchronization signal FD.
[0056]
FIG. 12 shows the configuration of the detection circuit 67. The detection circuit 67 uses the clock signal CK24 to detect a break (change) between the biphase bits “1” and “0” by pattern determination of the pulse signal PWB, and generates the clock signal CKBP having a biphase bit period. It has a biphase period detection circuit 102 for obtaining, and a 5-bit counter 103 to which the clock signal CKBP is supplied as a reset signal and the clock signal CK24 is supplied as a clock signal for counting.
[0057]
The detection circuit 67 generates a window pulse PW0 for the biphase bit “0” and a window pulse PW1 for the biphase bit “1” based on the count output of the 5-bit counter 103. A pulse generation circuit 104 is included. Here, the window pulse PW0 is a pulse output corresponding to the rising edge and falling edge of the regular 8T pattern pulse signal PWB, and six pulses are generated in the biphase 1-bit period. . Similarly, the window pulse PW1 is a pulse output corresponding to the rising edge and the falling edge of the pulse signal PWB of the regular 6T pattern, and 8 pulses are generated in the biphase 1-bit period. .
[0058]
The detection circuit 67 includes an edge detection circuit 110 that detects the rising edge and the falling edge of the pulse signal PWB using the clock signal CK24 and outputs an edge detection pulse Pe.
[0059]
FIG. 13 shows the configuration of the edge detection circuit 110. The edge detection circuit 110 includes two-stage D flip-flop circuits 111 and 112 that operate in response to a clock signal CK24, and an exclusive OR circuit 113. The pulse signal PWB is supplied to the data terminal D of the D flip-flop circuit 111, and a signal obtained at the non-inverting output terminal Q of the D flip-flop circuit 111 is supplied to the data terminal D of the D flip-flop circuit 112. Then, the signal obtained at the non-inverting output terminal Q of the D flip-flop circuits 111 and 112 is supplied to the input side of the exclusive OR circuit 113, and the edge detection pulse Pe is output from the output side of the exclusive OR circuit 113. .
[0060]
Returning to FIG. 12, the detection circuit 67 gates the edge detection pulse Pe using the window pulses PW0 and PW1 generated by the window pulse generation circuit 104 as gate signals, and functions as a coincidence detection circuit 121. 122, edge pulse counters 123 and 124 that count edge detection pulses Pe gated by AND gates 121 and 122, respectively, and count values x of edge pulse counters 123 and 124 counted in the previous biphase 1-bit period , Y are compared, and in the next biphase 1-bit period, the comparator circuit 125 outputs address information ADM based on the comparison result.
[0061]
Here, each of the edge pulse counters 123 and 124 is supplied with a clock signal CKBP having a bi-phase bit period as a reset signal. The clock signal CKBP is also supplied to the comparison circuit 125 as a timing signal. The comparison circuit 125 outputs bit “0” as address information ADM when x> y, and outputs bit “1” as address information ADM when x <y.
[0062]
The detection circuit 67 has a frequency divider 126 that divides the clock signal CK24 by 1/24 and outputs the clock signal ACK (see FIG. 11D) synchronized with the address information ADM by referring to the clock signal CKBP. is doing.
[0063]
The operation of the detection circuit 67 shown in FIG. 12 will be described. A pulse signal PWB and a clock signal CK24 are supplied to the biphase cycle detection circuit 102, and a clock signal CKBP having a biphase bit cycle is obtained. The 5-bit counter 103 is supplied with the clock signal CKBP as a reset signal and the clock signal CK24 as a clock signal for counting. As a result, the 5-bit counter 103 is first reset in each bit period of the biphase, and after that, the count operation is performed by the clock signal CK24, and “0” to “23” is counted in the decimal system. It becomes.
[0064]
The count output of the 5-bit counter 103 is supplied to the window pulse generation circuit 104. Based on the count output of the 5-bit counter 103, the window pulse PW0 for the biphase bit “0” and the biphase bit “1” are output. Window pulse PW1 is generated and supplied to the AND gates 121 and 122 as gate signals, respectively.
[0065]
On the other hand, the pulse signal PWB and the clock signal CK24 are supplied to the edge detection circuit 110, the rising edge and the falling edge of the pulse signal PWB are detected, and the edge detection pulse Pe is obtained. , 122. The edge detection pulses Pe gated by the AND gates 121 and 122 are supplied to the edge pulse counters 123 and 124, respectively, and are counted for each biphase 1-bit period.
[0066]
Then, the comparison circuit 125 compares the count values x and y of the edge pulse counters 123 and 124 counted in the previous biphase 1 bit period, and in the next biphase 1 bit period, addresses based on the comparison result are compared. Information ADM is output.
[0067]
For example, when the wobble signal SWB in a certain biphase 1-bit period corresponds to the biphase bit “0” as shown in FIG. 14A, the pulse signal (binary signal) PWB has an 8T pattern as shown in FIG. 14B. Are continuous three times, and an edge detection pulse Pe is obtained as shown in FIGS. 14D and 14D ′. FIG. 14C shows the clock signal CK24.
[0068]
Since the window pulse PW0 supplied to the AND gate 121 is formed as shown in FIG. 14E, the gate output P00 as the coincidence pulse supplied to the edge pulse counter 123 is as shown in FIG. 14F. x = 6. On the other hand, since the window pulse PW1 supplied to the AND gate 122 is formed as shown in FIG. 14E ', the gate output P01 as the coincidence pulse supplied to the edge pulse counter 124 is shown in FIG. 14F'. And y = 2. Therefore, bit “0” is output from the comparison circuit 125 as the address information ADM in the next biphase 1-bit period.
[0069]
Further, when the wobble signal SWB in a certain biphase 1 bit period corresponds to the biphase bit “1” as shown in FIG. 15A, the pulse signal (binary signal) PWB has a 6T pattern as shown in FIG. 15B. Are continuous four times, and an edge detection pulse Pe is obtained as shown in FIGS. 15D and 15D ′. FIG. 15C shows the clock signal CK24.
[0070]
Since the window pulse PW0 supplied to the AND gate 121 is formed as shown in FIG. 15E, the gate output P00 supplied to the edge pulse counter 123 is as shown in FIG. 15F, and x = 2. Become. On the other hand, since the window pulse PW1 supplied to the AND gate 122 is formed as shown in FIG. 15E ', the gate output P01 supplied to the edge pulse counter 124 becomes as shown in FIG. 8 Therefore, bit “1” is output from the comparison circuit 125 as the address information ADM in the next biphase 1-bit period.
[0071]
Next, a case where the magneto-optical disk 11 has a defect such as a scratch and the wobble signal SWB is deformed will be described.
[0072]
For example, when the wobble signal SWB in a certain biphase 1 bit period corresponds to the biphase bit “0” and there is a deformation due to a defect as shown in FIG. 16A, the pulse signal (binary signal) PWB is 16B and an edge detection pulse Pe is obtained as shown in FIGS. 16D and 16D ′. FIG. 16C shows the clock signal CK24.
[0073]
Since the window pulse PW0 supplied to the AND gate 121 is formed as shown in FIG. 16E, the gate output P00 supplied to the edge pulse counter 123 is as shown in FIG. 16F, and x = 6. Become. On the other hand, since the window pulse PW1 supplied to the AND gate 122 is formed as shown in FIG. 16E ', the gate output P01 supplied to the edge pulse counter 124 becomes as shown in FIG. 3 Therefore, bit “0” is output from the comparison circuit 125 as the address information ADM in the next biphase 1-bit period.
[0074]
When the wobble signal SWB in a certain biphase 1 bit period corresponds to the biphase bit “1” and there is a deformation due to a defect as shown in FIG. 17A, the pulse signal (binary signal) PWB is The edge detection pulse Pe is obtained as shown in FIGS. 17D and 17D ′. FIG. 17C shows the clock signal CK24.
[0075]
Since the window pulse PW0 supplied to the AND gate 121 is formed as shown in FIG. 17E, the gate signal P00 supplied to the edge pulse counter 123 is as shown in FIG. 17F, and x = 1. Become. On the other hand, since the window pulse PW1 supplied to the AND gate 122 is formed as shown in FIG. 17E ', the gate output P01 supplied to the edge pulse counter 124 becomes as shown in FIG. 6 Therefore, bit “1” is output from the comparison circuit 125 as the address information ADM in the next biphase 1-bit period.
[0076]
As described above, in the detection circuit 67 shown in FIG. 12, even when the wobble signal SWB is deformed due to the defect as shown in FIGS. 16A and 17A, it is the same as when the wobble signal SWB is not deformed due to the defect. In addition, the address information ADM can be obtained satisfactorily.
[0077]
By the way, when there is a deformation due to a defect as shown in FIGS. 16A and 17A, the difference between x and y becomes large as described above. Therefore, the bit “0” or the bit “1” depends only on the magnitude of x and y. ", The address information ADM can be obtained correctly. However, when there is not much difference between x and y, it may be difficult to determine whether the bit is “0” or “1”.
[0078]
For example, when the wobble signal SWB in a certain biphase 1-bit period is modified as shown in FIG. 18A, the pulse signal (binary signal) PWB becomes as shown in FIG. 18B, and FIG. 18D (= FIG. 18E = As shown in FIG. 18E ′), an edge detection pulse Pe is obtained. FIG. 18C shows the clock signal CK24.
[0079]
Since the window pulse PW0 supplied to the AND gate 121 is formed as shown in FIG. 18F, the gate output P00 supplied to the edge pulse counter 123 is as shown in FIG. 18G, and x = 4. Become. Assuming bit “0”, x = 6.
[0080]
On the other hand, since the window pulse PW1 supplied to the AND gate 122 is formed as shown in FIG. 18F ', the gate output P01 supplied to the edge pulse counter 124 becomes as shown in FIG. 6 If bit “1” is assumed, then y = 8.
[0081]
Therefore, in the case of a simple comparison, x <y, so that it is determined that the bit is “1”. However, it cannot be immediately determined that the bit is really “1”. This is because each has the same error in that both counts are two shorts compared to the numbers that should be detected.
[0082]
Therefore, more accurate determination can be made by adding more conditions to the window and separating and detecting the rising edge and the falling edge.
[0083]
FIG. 19 shows a detection circuit 67A having another configuration, in which rising edges and falling edges are detected separately. In FIG. 19, parts corresponding to those in FIG.
[0084]
The detection circuit 67A uses the clock signal CK24 to detect a break (change) between the biphase bits “1” and “0” by pattern discrimination of the pulse signal PWB, and generates the clock signal CKBP having a biphase bit period. It has a biphase period detection circuit 102 for obtaining, and a 5-bit counter 103 to which the clock signal CKBP is supplied as a reset signal and the clock signal CK24 is supplied as a clock signal for counting.
[0085]
In addition, based on the count output of the 5-bit counter 103, the detection circuit 67A generates the window pulses PW0u and PW0d for the biphase bit “0” and the window pulses PW1u and PW1d for the biphase bit “1”. A window pulse generation circuit 104A for generation is provided.
[0086]
Here, the window pulse PW0u is a pulse output corresponding to the rising edge of the regular 8T pattern pulse signal PWB, and three pulses are generated in the biphase 1-bit period. The window pulse PW0d is a pulse output corresponding to the falling edge of the regular 8T pattern pulse signal PWB, and three pulses are generated in the biphase 1-bit period.
[0087]
The window pulse PW1u is a pulse output corresponding to the rising edge of the regular 6T pattern pulse signal PWB, and four pulses are generated in the biphase 1-bit period. The window pulse PW1d is a pulse output corresponding to the falling edge of the regular 6T pattern pulse signal PWB, and four pulses are generated in the biphase 1-bit period.
[0088]
The detection circuit 67A uses the clock signal CK24 to detect the rising edge of the pulse signal PWB and outputs the edge detection pulse Peu. Similarly, the detection circuit 67A uses the clock signal CK24 to generate a pulse. And an edge detection circuit 140 that detects a falling edge of the signal PWB and outputs an edge detection pulse Ped.
[0089]
FIG. 20 shows the configuration of the rising edge detection circuit 130. The edge detection circuit 130 includes two-stage D flip-flop circuits 131 and 132 that operate on the clock signal CK24, and an AND circuit 133. The pulse signal PWB is supplied to the data terminal D of the D flip-flop circuit 131, and the signal obtained at the non-inverting output terminal Q of the D flip-flop circuit 131 is supplied to the data terminal D of the D flip-flop circuit 132. The signal obtained at the non-inverting output terminal Q of the D flip-flop circuit 131 and the signal obtained at the inverting output terminal Q bar of the D flip-flop circuit 132 are supplied to the input side of the AND circuit 133. An edge detection pulse Peu is output from the output side.
[0090]
FIG. 21 shows the configuration of the falling edge detection circuit 140. The edge detection circuit 140 includes two-stage D flip-flop circuits 141 and 142 that operate with a clock signal CK24, and an AND circuit 143. The pulse signal PWB is supplied to the data terminal D of the D flip-flop circuit 141, and the signal obtained at the non-inverting output terminal Q of the D flip-flop circuit 141 is supplied to the data terminal D of the D flip-flop circuit 142. The signal obtained at the inverting output terminal Q bar of the D flip-flop circuit 141 and the signal obtained at the non-inverting output terminal Q of the D flip-flop circuit 142 are supplied to the input side of the AND circuit 143. An edge detection pulse Ped is output from the output side.
[0091]
Referring back to FIG. 19, the detection circuit 67A functions as a coincidence detection circuit by gating the edge detection pulses Peu and Ped using the window pulses PW0u and PW0d generated by the window pulse generation circuit 104A as gate signals. AND gates 151 and 152, and gate pulses PW1u and PW1d generated by the window pulse generation circuit 104A are used as gate signals to gate edge detection pulses Peu and Ped, respectively, and AND gates 153 and 154 functioning as coincidence detection circuits have.
[0092]
The detection circuit 67A also includes edge pulse counters 155 and 156 that count edge detection pulses Peu and Ped gated by AND gates 151 and 152, and edge detection pulses Peu and Ped gated by AND gates 153 and 154, respectively. Edge pulse counters 157 and 158, an adder 159 for adding the count values of the edge pulse counters 155 and 156, and an adder 160 for adding the count values of the edge pulse counters 157 and 158.
[0093]
In addition, the detection circuit 67A includes the total value of the count values of the edge pulse counters 155 and 156 (output value of the adder 159) x counted in the previous biphase 1 bit period, and similarly the previous biphase 1 bit period. Are compared with the total value (output value of the adder 160) y of the edge pulse counters 157 and 158 counted in step, and address information ADM based on the comparison result is output in the next biphase 1-bit period. And a comparison circuit 161.
[0094]
Here, each of the edge pulse counters 155 to 158 is supplied with a clock signal CKBP having a bi-phase bit period as a reset signal. The clock signal CKBP is also supplied to the comparison circuit 161 as a timing signal. The comparison circuit 161 outputs bit “0” as the address information ADM when x> y, and outputs bit “1” as the address information ADM when x <y.
[0095]
Further, the detection circuit 67A has a frequency divider 126 that divides the clock signal CK24 by 1/24 and outputs the clock signal ACK (see FIG. 11D) synchronized with the address information ADM by referring to the clock signal CKBP. is doing.
[0096]
The operation of the detection circuit 67A shown in FIG. 19 will be described. A pulse signal PWB and a clock signal CK24 are supplied to the biphase cycle detection circuit 102, and a clock signal CKBP having a biphase bit cycle is obtained. The 5-bit counter 103 is supplied with the clock signal CKBP as a reset signal and the clock signal CK24 as a clock signal for counting. As a result, the 5-bit counter 103 is first reset in each bit period of the biphase, and after that, the count operation is performed by the clock signal CK24, and “0” to “23” is counted in the decimal system. It becomes.
[0097]
The count output of the 5-bit counter 103 is supplied to the window pulse generation circuit 104A. Based on the count output of the 5-bit counter 103, the window pulses PW0u and PW0d for the biphase bit “0” and the biphase bit “ 1 ″ window pulses PW1u and PW1d are generated and supplied to the AND gates 151 to 154 as gate signals, respectively.
[0098]
On the other hand, the rising edge detection circuit 130 is supplied with the pulse signal PWB and the clock signal CK24, and the rising edge of the pulse signal PWB is detected to obtain the edge detection pulse Peu. Supplied. Similarly, the pulse signal PWB and the clock signal CK24 are supplied to the falling edge detection circuit 140, the falling edge of the pulse signal PWB is detected, and the edge detection pulse Ped is obtained. , 154.
[0099]
The edge detection pulses Peu and Ped gated by the AND gates 151 and 152 are supplied to the edge pulse counters 155 and 156, respectively, and counted for each biphase 1-bit period. Similarly, the edge detection pulses Peu and Ped gated by the AND gates 153 and 154 are supplied to the edge pulse counters 157 and 158, respectively, and counted for each biphase 1-bit period.
[0100]
Then, in the comparison circuit 161, the edge pulse counters 157, 157, 157, 157, 157, 157, 157, 157, which are counted in the previous biphase 1-bit period, are counted. The total value y of the count values of 158 is compared, and address information ADM based on the comparison result is output in the next biphase 1-bit period.
[0101]
In the detection circuit 67A shown in FIG. 19, a case where the wobble signal SWB in a certain biphase 1-bit period is modified as shown in FIG. 22A (= FIG. 18A) will be described. In this case, the pulse signal (binary signal) PWB is as shown in FIG. 22B, and an edge detection pulse Peu corresponding to the rising edge is obtained as shown in FIG. 22E (= FIG. 22E ′), and FIG. As shown in FIG. 22G ′), an edge detection pulse Ped corresponding to the falling edge is obtained. FIG. 22C shows the clock signal CK24, and FIG. 22D shows the edge detection pulse Pe that is a combination of the edge detection pulses Peu and Ped.
[0102]
Since the window pulses PW0u and PWOd supplied to the AND gates 151 and 152 are formed as shown in FIGS. 22F and 22H, the gate outputs A0u, A0d is as shown in FIG. 22I, and x = 1. On the other hand, since the window pulses PW1u and PW1d supplied to the AND gates 153 and 154 are formed as shown in FIGS. 22F 'and H', gate outputs as coincidence pulses supplied to the edge pulse counters 157 and 158 are provided. A1u and A1d are as shown in FIG. 22I ', and y = 6. In this case, since the difference between x and y is sufficiently large, even if the comparison result is used as it is, a correct detection result is obtained.
[0103]
Therefore, the comparison circuit 161 uses the comparison result of x and y as it is, and outputs bit “1” as the address information ADM in the next biphase 1-bit period.
[0104]
In this way, not only the window pulse but also the edge information of the pulse signal PWB is taken into account, so that there is an advantage that more accurate determination is possible.
[0105]
Now, the ADIP decoder 60 shown in FIG. 10 has a PLL circuit 64 and has a relatively complicated circuit configuration.
[0106]
Incidentally, as described above, the number of biphase bits a between adjacent clock marks is 2, the number of channel bits n between adjacent clock marks is 528, and the oversampling value s of the biphase bits is 24 clocks. It is. As will be described later, the data clock regenerator 70 multiplies the reproduction signal SCM of the clock mark CM by n = 528 to obtain the data clock signal DCK. In this case, the frequency of the data clock signal DCK and the frequency of the clock signal CK24 for bi-phase bit oversampling have an integer ratio relationship. That is, if the frequency of the data clock signal DCK is fdck and the frequency of the clock signal CK24 is f24, fdck = 11 × f24. Therefore, the clock signal CK24 can be generated by dividing the data clock signal DCK.
[0107]
FIG. 23 shows an ADIP decoder 60A having another configuration, which divides the data clock signal DCK to obtain the clock signal CK24. In FIG. 23, portions corresponding to those in FIG. 10 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.
[0108]
The ADIP decoder 60A has a frequency divider 69 that divides the data clock signal DCK reproduced by the data clock regenerator 70 by 1 / M to generate a clock signal CK24 for bi-phase bit oversampling. is doing. Here, M = n / (a · s), and in the present embodiment, M = 528 / (2 · 24) = 11. The clock signal CK24 generated by the frequency divider 69 is used by the detection circuit 67 (67A). 24A to 24C show the timing relationship between the reproduction signal SCM of the clock mark CM, the data clock signal DCK, and the clock signal CK24.
[0109]
Other configurations of the ADIP decoder 60A shown in FIG. 23 are the same as those of the ADIP decoder 60 shown in FIG. Therefore, although a detailed description is omitted, the ADIP decoder 60A operates in the same manner as the ADIP decoder 60 shown in FIG. 10, and the frame address data FAD and the frame synchronization signal FD are obtained from the address converter 68.
[0110]
As described above, the ADIP decoder 60A shown in FIG. 23 can eliminate the need for a PLL circuit to obtain the clock signal CK24, and has the advantage of a simpler circuit configuration than the ADIP decoder 60 shown in FIG.
[0111]
FIG. 25 shows the configuration of the data clock regenerator 70. The data clock regenerator 70 indicates the timing of the zero cross point of the band mark filter 71 for extracting the clock mark regenerated signal SCM from the push-pull signal SPP, the DC cut capacitor 72, and the clock mark regenerated signal SCM. And an edge detector 73 for obtaining a pulse signal PCM.
[0112]
The data clock regenerator 70 also includes a capacitor 74 that cuts the DC component of the regenerative signal SMO, a comparator 75 that converts the regenerative signal SMO into a pulse signal (binary signal) PMO with a threshold = 0, and the pulse signal PMO. An AND circuit 76 that gates the pulse signal PFP corresponding to the reproduction signal SMO of the fixed pattern area of the magneto-optical disk 11 using the fixed pattern gate signal SGo supplied from the timing generator 90. In this case, as shown in FIG. 3D, the fixed pattern gate signal SGo is “1” during a period in which the reproduction signal SMO of the fixed pattern region is obtained, and is “0” in other periods.
[0113]
The timing generator 90 is supplied with a pulse signal PCM indicating the timing of the zero cross point of the clock mark reproduction signal SCM described above. The timing generator 90 generates the fixed pattern gate signal SGo by counting the data clock signal DCK using the pulse signal PCM as a timing reference.
[0114]
The data clock regenerator 70 divides the voltage control oscillator 77 constituting the PLL circuit and the data clock signal DCK output from the voltage control oscillator 77 into 1 / N (here, N = n = 528). A frequency divider 78 for phase comparison, a phase comparator 79 for performing phase comparison between the pulse signal PCM output from the edge detector 73 and the output signal of the frequency divider 78, and a phase output from the phase comparator 79 A low-pass filter 80 for extracting a low-frequency component of the error signal.
[0115]
The data clock regenerator 70 also outputs a phase comparator 81 for comparing the phase of the pulse signal PFP output from the AND circuit 76 and the output signal of the frequency divider 78, and the phase comparator 81. A high-pass filter 82 that extracts a high-frequency component of the phase error signal, and a control signal that is supplied to the voltage-controlled oscillator 77 by adding the output signal of the low-pass filter 80 and the output signal of the high-pass filter 82 supplied via the connection switch 83 And an adder 84 for obtaining. The connection switch 83 is supplied with a switch control signal SW from the system controller 51. As a result, the connection switch 83 is turned off at the time of data writing (recording) and turned on at the time of data reading (reproduction).
[0116]
Next, the operation of the data clock regenerator 70 shown in FIG. 25 will be described. A clock mark reproduction signal SCM (shown in FIG. 26A) is extracted from the push-pull signal SPP, and this clock mark reproduction signal SCM is supplied to the edge detector 73 via the capacitor 72. Then, the edge detector 73 obtains a pulse signal PCM (shown in FIG. 26B) indicating the timing of the zero cross point of the clock mark reproduction signal SCM.
[0117]
The reproduction signal SMO output from the optical head 17 (see FIG. 1) is supplied to the comparator 75 via the capacitor 74 and converted into a pulse signal (binary signal) PMO. In the AND circuit 76, a pulse signal (binary signal) PFP (FIG. 26D) corresponding to the reproduction signal SMO of the fixed pattern area of the magneto-optical disk 11 from the pulse signal PMO by a fixed pattern gate signal SGo (shown in FIG. 26C). Is taken out).
[0118]
Since the connection switch 83 is turned off at the time of data writing (recording), the voltage-controlled oscillator 77, the frequency divider 78, the phase comparator 79, and the low-pass filter 80 constitute a PLL circuit for voltage control. The phase error signal output from the phase comparator 79 is supplied to the oscillator 77 through the low pass filter 80 as a control signal. For this reason, the voltage controlled oscillator 77 obtains the data clock signal DCK whose phase is controlled by the phase information of the clock mark reproduction signal SCM.
[0119]
Since the connection switch 83 is turned on at the time of data reading (reproduction), the PLL circuit is constituted by the voltage controlled oscillator 77, the frequency divider 78, the phase comparators 79 and 81, the low-pass filter 80, and the high-pass filter. The voltage control oscillator 77 is supplied with a control signal as an addition signal of the low frequency component of the phase error signal output from the phase comparator 79 and the high frequency component of the phase error signal output from the phase comparator 81. The Therefore, the voltage controlled oscillator 77 obtains the data clock signal DCK whose phase is controlled by the phase information of the clock mark reproduction signal SCM and the phase information of the reproduction signal SMO in the fixed pattern area. FIG. 26E shows the data clock signal DCK.
[0120]
Next, the operation of the magneto-optical disk device 10 shown in FIG. 1 will be described. When a data write command is supplied from the host computer to the system controller 51, data writing (recording) is performed. In this case, the ECC circuit 54 adds an error correction code to the write data from the host computer received by the SCSI 53 and stored in the data buffer 52, and further converted into NRZI data by the data modulator 55. Is done. Then, the recording data Dr and the fixed pattern signal SFP are supplied from the data modulator 55 to the magnetic head driver 16, and the recording data Dr is recorded in the data area as the target position of the magneto-optical disk 11, and the recording data Dr is recorded. The fixed pattern signal SFP is recorded in the fixed pattern area corresponding to the data area to be processed.
[0121]
When a data read command is supplied from the host computer to the system controller 51, data reading (reproduction) is performed. In this case, the reproduction signal SMO is obtained from the data area as the target position of the magneto-optical disk 11 and the fixed pattern area corresponding to the data area. The reproduction signal SMO is compensated for the frequency characteristic by the equalizer circuit 56, converted into a digital signal by the A / D converter 57 using the data clock signal DCK, and then the data is discriminated by the data discriminator 58 and reproduced. Data Dp is obtained. The reproduced data Dp is subjected to NRZI inverse conversion by the data demodulator 59 and further subjected to error correction by the ECC circuit 54 to obtain read data. The read data is temporarily stored in the data buffer 52 and then transmitted to the host computer via the SCSI 53 at a predetermined timing.
[0122]
In the data writing and data reading, the magnetic head 15 and the optical head 17 are sought to the target position by the servo controller 41. In this case, the seek operation is performed with reference to the frame address data FAD output from the ADIP decoder 60. At the time of data writing (recording), a data clock signal DCK whose phase is controlled by the low frequency component of the phase information of the clock mark reproduction signal SCM is obtained from the data clock regenerator 70, and this data clock signal DCK. Data writing is performed in synchronization with. On the other hand, at the time of data reading (reproduction), the phase is determined by the low frequency component of the phase information that the clock mark reproduction signal SCM has from the data clock regenerator 70 and the high frequency component of the phase information that the reproduction signal SMO of the fixed pattern region has. Is obtained, and data is read out in synchronization with the data clock signal DCK.
[0123]
In the disk device 10 shown in FIG. 1, at the time of data reading (reproduction), the phase is determined by the phase information held by the clock mark reproduction signal SCM and the phase information held by the reproduction signal SMO in the fixed pattern area from the data clock regenerator 70. Is obtained (see FIG. 25), and even if the amplitude of the clock mark reproduction signal SCM is small and the S / N is bad, a clock signal synchronized with the reproduction data is obtained with high accuracy. Therefore, the processing accuracy of data reading can be increased.
[0124]
Further, the amplitude of the groove wobble of the magneto-optical disk 11 is changed in accordance with the frequency of the modulated signal, and the zero cross point of the groove wobble corresponding to the junction of “1” and “0” of the address information ADM. The inclination before and after is not changed (see FIG. 5). Therefore, the jitter in the time axis direction of the wobble signal SWB corresponding to the junction of “1” and “0” of the address information ADM can be reduced, and the address information ADM can be obtained favorably by the ADIP decoder 60 (see FIG. 10). it can. In the present embodiment, as described above, the wave numbers of the groove wobbles corresponding to “1” and “0” of the address information ADM are respectively integers, and are set to “1” and “0” of the address information ADM. The joints of the corresponding groove wobbles are all effective because they are all zero cross points.
[0125]
Further, the ADIP decoder 60 uses a clock signal CK24 having a frequency fc (= 6fa = 8fb) which is a common multiple of the frequencies fa and fb of the wobble signal SWB corresponding to the data “1” and “0” of the address information ADM, respectively. The address information ADM is obtained by the demodulating process (see FIG. 10). Therefore, there is an advantage that the configuration can be configured with only one PLL circuit and the configuration of the ADIP decoder 60 is simplified.
[0126]
In this case, the wave number of the groove wobble corresponding to “1” and “0” of the address information ADM is an integer, and the comparator 63 corresponds to the data of “1” and “0” of the address information ADM, respectively. Since the output pulse signal PWB always has the same shape, demodulation processing using the clock signal CK24 in the detection circuit 67 can be easily performed.
[0127]
The frequency of the data clock signal DCK and the frequency of the clock signal CK24 for bi-phase bit oversampling are in an integer ratio, and the data data clock signal DCK is divided to generate a bi-phase bit oversampling clock. By obtaining the signal CK24, the configuration of the ADIP decoder 60A can be simplified (see FIG. 23).
[0128]
In addition, since the detection circuit 67 of the ADIP decoder 60 detects a bit “0” and a bit “1” using a window pulse, even if the wobble signal SWB is deformed due to a defect. The address information ADM can be obtained satisfactorily as in the case without the deformation.
[0129]
In the above-described embodiment, the wobbling state is shown only on one side of the groove portion 12G of the magneto-optical disk 11, but the wobbling may be performed on both sides of the groove portion 12G.
[0130]
In the above-described embodiment, the clock mark CM is preformatted on the wobbling side of the groove portion 12G. However, the clock mark CM may be preformatted on the non-wobbling side, Further, clock marks CM may be preformatted on both sides.
[0131]
In the above embodiment, the wave numbers of the groove wobble corresponding to “1” and “0” of the address information ADM are “4” and “3”, respectively, but the present invention is not limited to this.
[0132]
In the above-described embodiment, the fixed pattern area of the recording area is provided in one-to-one correspondence with the recording position of the clock mark CM. For example, the number of fixed pattern areas may be smaller than the number of clock marks CM.
[0133]
In the above embodiment, a fixed pattern signal of 2T is recorded in the fixed pattern area of the magneto-optical disk 11, but a fixed pattern signal of 1T or 3T or more may be recorded. Good. However, when the pattern interval is shortened, the amplitude of the reproduction signal SMO is small due to MTF (Modulation Transfer Function), and the S / N is deteriorated. Conversely, when the pattern interval is long, in order to obtain the same number of edges for phase comparison, the fixed pattern area needs to be widened, and the data area in which data is recorded becomes narrow.
[0134]
In the above-described embodiment, ADIP decoders 60 and 60A have frequencies fc (= 6fa = 8fb) which are common multiples of frequencies fa and fb of wobble signal SWB respectively corresponding to data “1” and “0” of address information ADM. However, similar demodulation processing can be performed using a clock signal having other common multiples of the frequencies fa and fb.
[0135]
【The invention's effect】
According to the present invention, an optical disc in which a groove wobble corresponding to a signal obtained by frequency-modulating biphase-modulated address information and a mark having phase information arranged in the groove wobble is pre-formatted is driven. The frequency of the data clock signal and the bi-phase bit oversampling clock signal are in an integer ratio relationship, and the bi-phase bit over-sampling clock signal (first clock signal) ( The second clock signal) is generated by frequency division. Therefore, the address information can be demodulated only by having one PLL circuit in the data system, and there is an advantage that the configuration becomes very simple.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a magneto-optical disk device as an embodiment.
FIG. 2 is a diagram showing a sector layout of a magneto-optical disk.
FIG. 3 is a diagram for explaining a sector (wobble address frame) format;
FIG. 4 is a diagram showing address information of one sector (wobble address frame) before bi-phase modulation.
FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration example of a groove wobble.
FIG. 6 is a diagram showing an optical system of the optical head.
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a photodetector that constitutes an optical system of an optical head and spots formed thereon.
FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration example of a Wollaston prism configuring an optical system of an optical head.
FIG. 9 is a diagram showing a state of separation of light rays by a Wollaston prism.
FIG. 10 is a block diagram showing a configuration of an ADIP decoder.
FIG. 11 is a timing chart for explaining the operation of the ADIP decoder.
FIG. 12 is a block diagram illustrating a configuration of a detection circuit.
FIG. 13 is a block diagram illustrating a configuration of an edge detection circuit.
FIG. 14 is a waveform diagram for explaining the operation of the detection circuit;
FIG. 15 is a waveform diagram for explaining the operation of the detection circuit;
FIG. 16 is a waveform diagram for explaining the operation of the detection circuit;
FIG. 17 is a waveform diagram for explaining the operation of the detection circuit;
FIG. 18 is a waveform diagram for explaining the operation of the detection circuit;
FIG. 19 is a block diagram showing another configuration of the detection circuit.
FIG. 20 is a block diagram illustrating a configuration of a rising edge detection circuit.
FIG. 21 is a block diagram showing a configuration of a falling edge detection circuit.
FIG. 22 is a waveform diagram for explaining the operation of the detection circuit;
FIG. 23 is a block diagram showing another configuration of the ADIP decoder.
FIG. 24 is a timing chart for explaining clocks used in the ADIP decoder.
FIG. 25 is a block diagram showing a configuration of a data clock regenerator.
FIG. 26 is a timing chart for explaining the operation of the data clock regenerator.
FIG. 27 is a diagram illustrating a configuration example of a conventional groove wobble.
FIG. 28 is a block diagram showing a configuration of a conventional frequency demodulation circuit.
FIG. 29 is a timing chart for explaining the operation of the frequency demodulation circuit;
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Magneto-optical disk apparatus, 11 ... Magneto-optical disk, 12G ... Groove part, 12L ... Land part, 15 ... Magnetic head for external magnetic field generation, 16 ... Magnetic head driver , 17 ... Optical head, 18 ... Laser driver, 41 ... Servo controller, 51 ... System controller, 55 ... Data modulator, 58 ... Data discriminator, 59 ... Data Demodulator, 60, 60A ... ADIP decoder, 64 ... PLL circuit, 67, 67A ... detector circuit, 68 ... address converter, 69 ... frequency divider, 70 ... data clock Regenerator, 90 ... Timing generator

Claims (2)

バイフェーズ変調されたアドレス情報を周波数変調して得られる信号に対応したグルーブウォブルと、このグルーブウォブル内に配置され位相情報を有するマークとがプリフォーマットされ、
隣接する2つの上記マーク間のバイフェーズビット数がa(aは自然数)とされると共に、上記隣接する2つのマーク間のチャネルビット数がn(nは自然数)とされた光ディスクを駆動する光ディスク装置であって、
上記クロックマークの再生信号の周波数をn逓倍することで第1のクロック信号を生成するクロック信号生成手段と、
上記光ディスクから、上記グルーブウォブルに対応したウォブル信号を再生するウォブル信号再生手段と、
上記ウォブル信号に対して周波数復調をすることで上記アドレス情報を得る周波数復調手段とを備え、
上記周波数復調手段は、
上記バイフェーズビットのオーバーサンプリング値をs(sは自然数)クロックとして、上記クロック信号生成手段から供給される第1のクロック信号を1/M(M=n/(a・s))に分周することで第2のクロック信号を生成するクロック信号生成部と、
上記ウォブル信号を波形整形することで2値信号を得る波形整形部と、
上記2値信号に対して上記第2のクロック信号を使用した処理をすることで上記アドレス情報を得る検波部とを有する
ことを特徴とする光ディスク装置。
A groove wobble corresponding to a signal obtained by frequency-modulating the bi-phase modulated address information and a mark having phase information arranged in the groove wobble are preformatted,
An optical disc for driving an optical disc in which the number of biphase bits between two adjacent marks is a (a is a natural number) and the number of channel bits between the two adjacent marks is n (n is a natural number) A device,
Clock signal generating means for generating a first clock signal by multiplying the frequency of the reproduction signal of the clock mark by n;
Wobble signal reproducing means for reproducing a wobble signal corresponding to the groove wobble from the optical disc;
Frequency demodulation means for obtaining the address information by performing frequency demodulation on the wobble signal,
The frequency demodulation means includes
Dividing the first clock signal supplied from the clock signal generating means to 1 / M (M = n / (a · s)), where the oversampling value of the biphase bit is s (s is a natural number) clock. A clock signal generation unit for generating a second clock signal,
A waveform shaping unit that obtains a binary signal by shaping the wobble signal;
An optical disc apparatus comprising: a detection unit that obtains the address information by processing the binary signal using the second clock signal.
上記グルーブウォブルに沿って上記光ディスク上に形成される記録トラックに対して情報信号を記録または再生する情報信号記録/再生手段をさらに備え、
上記情報信号記録/再生手段は、上記第1のクロック信号に基づいて上記情報信号を記録または再生する
ことを特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。
An information signal recording / reproducing means for recording or reproducing an information signal with respect to a recording track formed on the optical disc along the groove wobble;
2. The optical disc apparatus according to claim 1, wherein the information signal recording / reproducing means records or reproduces the information signal based on the first clock signal.
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